WO2003041134A1 - Dispositif optique d'eclairage, dispositif d'exposition et procede d'exposition - Google Patents

Dispositif optique d'eclairage, dispositif d'exposition et procede d'exposition Download PDF

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WO2003041134A1
WO2003041134A1 PCT/JP2002/011406 JP0211406W WO03041134A1 WO 2003041134 A1 WO2003041134 A1 WO 2003041134A1 JP 0211406 W JP0211406 W JP 0211406W WO 03041134 A1 WO03041134 A1 WO 03041134A1
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WO
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light beam
optical device
light
illumination optical
light source
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Application number
PCT/JP2002/011406
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English (en)
French (fr)
Inventor
Yuji Kudo
Original Assignee
Nikon Corporation
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
Application filed by Nikon Corporation filed Critical Nikon Corporation
Publication of WO2003041134A1 publication Critical patent/WO2003041134A1/ja

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • G03F7/70075Homogenization of illumination intensity in the mask plane by using an integrator, e.g. fly's eye lens, facet mirror or glass rod, by using a diffusing optical element or by beam deflection

Definitions

  • the present invention relates to an illumination optical apparatus, an exposure apparatus, and an exposure method, and more particularly to an illumination optical apparatus suitable for an exposure apparatus for manufacturing micro devices such as a semiconductor device, an imaging device, a liquid crystal display device, and a thin-film magnetic head in a lithography process.
  • micro devices such as a semiconductor device, an imaging device, a liquid crystal display device, and a thin-film magnetic head in a lithography process.
  • a light beam emitted from a light source forms a secondary light source as a substantial surface light source composed of a large number of light sources via a fly-eye lens as an optical integrator. I do.
  • the light beam from the secondary light source is restricted via an aperture stop arranged near the rear focal plane of the fly-eye lens, and then enters the capacitor lens.
  • the light beam condensed by the condenser lens illuminates the mask on which a predetermined pattern is formed in a superimposed manner.
  • the light transmitted through the mask pattern forms an image on the wafer via the projection optical system.
  • the mask pattern is projected and exposed (transferred) on the wafer. Since the pattern formed on the mask is highly integrated, it is indispensable to obtain a uniform illuminance distribution on the wafer in order to accurately transfer this fine pattern onto the wafer.
  • ⁇ value aperture stop diameter ⁇ pupil diameter of the projection optical system
  • a technique of changing the maximum value of the illumination optical system has attracted attention. Attention has also been focused on a technology that forms an annular or quadrupole secondary light source on the rear focal plane of the fly-eye lens to improve the depth of focus and resolution of the projection optical system.
  • an ordinary light source based on a circular secondary light source is used.
  • the cross-sectional shape of the luminous flux incident on one point on the mask that is the surface to be irradiated is They have the same positional relationship in two orthogonal directions on the mask.
  • the illumination conditions are the same in two orthogonal directions on the surface to be irradiated.
  • the present invention has been made in view of the above-described problems, and provides an illumination optical device capable of realizing different illumination conditions in two orthogonal directions on a surface to be illuminated according to a simple configuration. With the goal.
  • the present invention provides an illumination optical device capable of realizing different illumination conditions in two directions orthogonal to each other on a surface to be illuminated, and on an optically sensitive substrate under illumination conditions optimal for a mask.
  • An object of the present invention is to provide an exposure apparatus and an exposure method capable of faithfully transferring a mask pattern.
  • a first invention of the present invention provides an internal reflection type optical integrator for forming a secondary light source having a predetermined light amount distribution based on a light flux from a light source,
  • an illumination optical device that illuminates an irradiation surface with a light beam through an integrator
  • an illumination optical device comprising: a light beam decentering unit that decenters a position of a light beam on a surface with respect to an optical axis as a whole.
  • the illumination optical device according to the first aspect, and a projection optical system for projecting and exposing a pattern of a mask disposed on the surface to be irradiated to a photosensitive substrate.
  • An exposure apparatus is provided.
  • the mask is illuminated via the illumination optical device of the first invention, and An exposure method comprising projecting and exposing an image of a pattern formed on the mask to a photosensitive substrate.
  • a method of illuminating a mask on which a pattern is formed and projecting and exposing an image of the pattern on the illuminated mask onto a photosensitive substrate.
  • a third step of guiding a light beam through the optical illuminator to the mask
  • the first step in order to change the angular distribution of the light beam incident on the optical integrator and change the light amount distribution of the secondary light source, the position of the light beam on a predetermined surface with respect to the optical axis
  • a projection exposure method including a step of decentering as a whole.
  • FIG. 1 is a view schematically showing a configuration of an exposure apparatus provided with an illumination optical device according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram schematically showing an example of the internal configuration of the light beam shaping system shown in FIG.
  • FIG. 3 is a diagram schematically showing an internal configuration of the angle distribution detector shown in FIG.
  • FIG. 4 is a diagram illustrating characteristics of a rod-type integrator.
  • 5A to 5C are diagrams showing a relationship between a circular light beam formed on a predetermined surface and a secondary light source formed on a pupil plane of the pre-illumination system.
  • 6A to 6C are diagrams showing the relationship between a dipole-shaped light beam formed on a predetermined surface and a secondary light source formed on a pupil plane of the illumination optical system.
  • FIG. 7A and 7B are diagrams showing the relationship between a quadrupole light beam formed on a predetermined surface and a secondary light source formed on a pupil plane of the illumination optical system.
  • 8A to 8C are views showing a modification of the light beam decentering means.
  • FIG. 9 is a diagram schematically showing a configuration of a modified example of the embodiment of FIG.
  • FIG. 10 is a flowchart of a method for obtaining a semiconductor device.
  • FIG. 11 is a flow chart of a method for obtaining a liquid crystal display element.
  • the internal reflection type optical integrator repeats internal reflection a number of times inside the incident light beam even if the angular distribution of the incident light beam is asymmetrical with respect to the optical axis. It has the characteristic that the angle distribution changes to an angle distribution symmetric with respect to the optical axis.
  • a light beam decentering means for totally decentering the position of the light beam on a predetermined surface with respect to the optical axis is provided.
  • the angle distribution of the light beam incident on the internal reflection type optical integrator is changed, and the light amount distribution of the secondary light source is changed.
  • the luminous flux formed on the predetermined surface is entirely decentered with respect to the optical axis based on the action of the luminous flux decentering means, and as a result, the internal reflection type optical integrator is realized.
  • the illumination optical device of the present invention different illumination conditions can be realized in two orthogonal directions on the surface to be illuminated according to a simple configuration.
  • the exposure apparatus incorporating the illumination optical apparatus of the present invention and the exposure method using the illumination optical apparatus of the present invention provide illumination capable of realizing different illumination conditions in two orthogonal directions on the surface to be irradiated.
  • a mask pattern can be faithfully transferred onto a photosensitive substrate under optimal illumination conditions for the mask.
  • an excellent microdevice can be manufactured by using the exposure apparatus and the exposure method of the present invention that can faithfully transfer a mask pattern onto a photosensitive substrate.
  • FIG. 1 is a view schematically showing a configuration of an exposure apparatus provided with an illumination optical device according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram schematically showing an example of an internal configuration of the light beam shaping system shown in FIG.
  • the exposure apparatus shown in Fig. 1 is a light source 1 for supplying exposure light (illumination light), for example, a KrF excimer laser light source that supplies light with a wavelength of 248 nm or a wavelength of 193 nm.
  • An ArF excimer laser that supplies a single light source.
  • the nearly parallel light beam emitted from the light source 1 is used to shape the light beam from the light source 1 into a light beam having a desired shape (quadrupole, dipole, circular, etc.) and size according to the required lighting conditions.
  • the light enters the light beam shaping system 2. More specifically, the light beam shaping system 2 includes a predetermined surface 4 that has an optically almost Fourier transform relationship with respect to the incident surface 6 a of the subsequent internal reflection type optical integrator 6 (ie, the rod-type integrator) 6. In addition, it has a function of causing a light beam having a desired shape and size to enter.
  • the light beam shaping of the light beam shaping system 2 is controlled by a first drive system 21 that operates based on a command from the control system 20.
  • substantially parallel light flux emitted from the light source 1 a pair of Shirindo helical lens 3 0 a and 3 0 b consisting beam expander one 3 0 0 c each cylindrical lens incident on 3 a and 3 0b has a negative refractive power and a positive refractive power in the plane of FIG. Therefore, the light beam incident on the beam expander 130 is enlarged in the paper of FIG. 2 and shaped into a light beam having a predetermined rectangular cross section.
  • the microlens array 31 is an optical element including a large number of regular hexagonal microlenses having positive refracting power arranged vertically and horizontally and densely.
  • a microlens array is formed by, for example, performing etching processing on a parallel flat glass plate to form a microlens group.
  • the number of microlenses forming the microlens array 31 is shown to be much smaller than the actual number for clarity.
  • the light beam incident on the microlens array 31 is two-dimensional by a large number of microlenses. Each light source (focus point) is formed on the back focal plane of each microlens. Light beams from a number of light sources formed on the rear focal plane of the microlens array 31 become divergent light beams each having a regular hexagonal cross section and enter the afocal zoom lens 32.
  • the afocal zoom lens 32 is configured to be able to continuously change magnification within a predetermined range while maintaining an afocal system (a non-focus optical system).
  • the light beam passing through the afocal zoom lens 32 is incident on, for example, a four-pole diffractive optical element (DOE) 33a.
  • DOE diffractive optical element
  • the divergent light beams from the respective light sources formed on the rear focal plane of the microlens array 31 converge on the diffraction surface of the diffractive optical element 33a while maintaining a regular hexagonal cross section. That is, the afocal zoom lens 32 optically couples the rear focal plane of the microlens array 31 and the diffractive surface of the diffractive optical element 33a.
  • the numerical aperture of the light beam condensed on one point on the diffraction surface of the diffractive optical element 33a changes depending on the magnification of the afocal zoom lens 32.
  • the diffractive optical element is formed by forming a step having a pitch of about the wavelength of exposure light (illumination light) on a glass substrate, and has an action of diffracting an incident light beam to a desired angle.
  • the quadrupole diffractive optical element 33a converts the incident light beam into a quadrupole light beam centered on the optical axis AX.
  • the light beam having passed through the diffractive optical element 33a enters the zoom lens 34.
  • the aforementioned predetermined surface 4 is positioned near the rear focal plane of the zoom lens 34.
  • the light beam passing through the diffractive optical element 33a forms a quadrupole light beam around the optical axis AX on the rear focal plane of the zoom lens 34, and thus on the predetermined surface 4.
  • the magnification of the afocal zoom lens 32 changes, the height position (center position of the light beam of each pole) from the optical axis of the light beam of each pole constituting the quadrupole light beam changes. Only the magnitude of the luminous flux at each pole changes. Also, when the focal length of the zoom lens 34 changes, the entire quadrupole light beam expands or contracts in a similar manner.
  • the diffractive optical element 33a is configured to be freely detachable with respect to the illumination optical path, and is switchable between a dipole optical element 33b for a two pole and a diffractive optical element 33c for a circle. It is configured. Therefore, a dipole-shaped luminous flux is formed on the predetermined surface 4 by setting the diffractive optical element 33 b for the two poles in the illumination optical path instead of the diffractive optical element 33 a.
  • the magnification of the afocal zoom lens 32 changes, the height position (center position of the light beam of each pole) from the optical axis of the light beam of each pole constituting the dipole light beam does not change. However, only the magnitude of the luminous flux of each pole changes.
  • the entire dipole luminous flux expands or contracts similarly.
  • the entire dipole luminous flux expands or contracts similarly.
  • the beam expander 30, the micro lens array 31, the afocal zoom lens 32, the diffractive optical elements (33 a, 33 b, 33 c) and the zoom lens 34 are A light beam shaping system 2 for shaping the light beam from the light source 1 into a light beam having a desired shape (quadrupole, dipole, circular, etc.) and size and making the light incident on a predetermined surface 4.
  • a desired shape quadrature, dipole, circular, etc.
  • the internal configuration of the light beam shaping system 2 shown in FIG. 2 is an example.
  • a spherical lens, a cylindrical lens, a conical lens, a pyramidal lens, a diffractive optical element, a microlens array, a fly-eye lens Various modifications are possible as an optical system including optical elements such as a zoom lens, a prism, and an axicon.
  • the light beam shaped via the light beam shaping system 2 is incident on a parallel plane plate 3 as a light beam decentering means.
  • the plane-parallel plate 3 is configured to be tiltable with respect to the optical axis AX in the plane of FIG. 1 and in the plane perpendicular to the plane of FIG. Therefore, in a state where the plane-parallel plate 3 is not inclined with respect to the optical axis AX, a quadrupolar (dipolar or circular) light beam is formed on the predetermined surface 4 around the optical axis AX.
  • the position of the quadrupolar (dipolar or circular) light beam on the predetermined surface 4 is along the vertical direction in the figure. Decentered with respect to the optical axis AX.
  • the parallel plane plate 3 is the first When tilted with respect to the optical axis AX in a plane perpendicular to the plane of the paper in the figure, the position of the quadrupolar (dipolar or circular) light beam on the predetermined plane 4 will be Along the optical axis AX.
  • the eccentricity of the luminous flux of the parallel plane plate 3 is controlled by a second drive system 22 that operates based on a command from the control system 20. The detailed operation and effect of the plane-parallel plate 3 as the light beam decentering means will be described later.
  • the light beam thus shaped via the light beam shaping system 2 is incident on the rod-type integrator 6 via the parallel plane plate 3 and the condenser lens 5.
  • the condenser lens 5 as an input lens has a front focal position substantially coincident with a rear focal position (that is, a position of the predetermined surface 4) of the zoom lens 34 of the light beam shaping system 2 and a rear focal position. Is arranged so as to almost coincide with the position of the incident surface 6a of the rod-type integrator 6.
  • the rod-type integrator 6 is an internal reflection type glass rod made of an optical material such as quartz glass or fluorite. Then, a number of light source images corresponding to the number of internal reflections are formed along a plane parallel to the rod incident surface 6a. Here, most of the light source images formed are virtual images, but only the light source image at the center (focus point) is a real image. That is, the light beam incident on the rod-type integrator 6 is split in the angular direction by internal reflection, and a large number of light source images are formed along a plane passing through the focal point and parallel to the incident surface 6a.
  • the imaging optical system 7 is a relay optical system that arranges the exit surface 6b of the rod-type integral lens 6 and the mask 8 almost optically conjugate, and is configured as a bilateral telecentric optical system. In this way, the imaging optical system 7 forms a rectangular image of the exit surface 6b of the rod-type integrator 6 on the mask 8.
  • the pupil plane of the imaging optical system 7 (and thus the pupil plane of the illumination optical system) 7 c
  • a secondary light source having a predetermined light amount distribution is formed.
  • the light beam transmitted through the pattern of the mask 8 passes through the projection optical system 9 and passes through the photosensitive substrate.
  • An image of a mask pattern is formed on a certain wafer 10.
  • the mask 8 is held on a mask stage 8a that can move two-dimensionally in a plane orthogonal to the optical axis AX of the projection optical system 9.
  • the wafer 10 is held on a wafer stage 10 a which can move two-dimensionally in a plane orthogonal to the optical axis AX of the projection optical system 9.
  • scanning exposure is performed according to the so-called step-and-scan method. That is, by performing scan exposure while synchronously moving the mask 8 and the wafer 10 at a speed ratio corresponding to the projection magnification of the projection optical system 9 along the scan direction, each exposure region ( In the shot area, the pattern of the mask 8 is transferred over a wider range than the effective exposure range of the projection optical system 9 in a stationary state.
  • the scanning direction coincides with the short side direction of the rectangular illumination area (exposure area) formed on the mask 8 and the wafer 10.
  • the projection magnification of the projection optical system 9 is negative, the mask 8 and the wafer 10 move in directions opposite to each other during scanning exposure.
  • the exposure apparatus of the present embodiment is provided with an angle distribution detector 11 as measuring means for measuring the angle distribution of a light beam incident on a predetermined point on the wafer 10.
  • the output of the angle distribution detector 11 is supplied to the control system 20.
  • the control system 20 is supplied with information including exposure parameters (for example, pupil shape conditions of illumination light, exposure amount, NA of the projection optical system, etc.) input from an input system 19 such as a keyboard. .
  • FIG. 3 is a diagram schematically showing an internal configuration of the angle distribution detector shown in FIG.
  • a pinhole P is provided on the upper surface of the holder 41 of the angular distribution detector (luminance distribution measuring device) 11.
  • the pinhole P is formed at the same height position as the image plane W 0 of the projection optical system 9 (the surface on which the surface of the wafer 10 is to be set during exposure).
  • the luminous flux transmitted through the pinhole P is condensed by an fs in 0 lens (42 a, 42 b, 42 c) as a condensing optical system, and then is applied to an imaging element 43 such as a CCD. Reach.
  • the front side (projection optical system side) of the focusing optical system (42a, 42b, 42c) The focal plane is set so that the plane coincides with the image plane WO, and the focal plane on the rear side (imaging element side) coincides with the imaging plane of the imaging element 43.
  • an image of the secondary light source formed on the pupil plane 7c of the illumination optical system (and, consequently, a secondary light source image formed on the pupil plane of the projection optical system 9) is provided on the imaging surface of the image sensor 43. Is reformed.
  • the angle distribution detector 11 calculates the light amount distribution of the secondary light source image formed on the pupil plane of the projection optical system 9, and eventually the illumination optical system. Measure the light intensity distribution of the secondary light source formed on the pupil plane 7c of the system, and measure the angular distribution of the light beam incident on a predetermined point on the wafer 10 (position of the pinhole P). be able to.
  • the angle distribution detector 11 reference can be made to, for example, JP-A-2000-19012.
  • a pupil illuminance distribution measuring device disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-65623 can be used.
  • US Patents include Source Metrology Instruments (SMI), available from Litel Instruments Inc. of San Diego, California, United States of America. It is also possible to use the light source measuring device disclosed in Japanese Patent Publication No. 6,356, 345.
  • SI Source Metrology Instruments
  • FIG. 4 is a diagram for explaining the characteristics of the rod-type integré.
  • orthogonal coordinate systems ( ⁇ , ⁇ ) with the optical axis AX as the origin are set so as to geometrically correspond to each other. I have.
  • the ⁇ axis and the 0 axis are set so as to correspond to the long side and the short side of a rod-shaped integré having a rectangular cross section.
  • light from a light beam 45 formed eccentrically in the ⁇ -axis direction and the 0-axis direction from the optical axis ⁇ ⁇ on the predetermined surface 4 passes through a light-collecting lens 5 (not shown in FIG. 4) through a rod. It is incident on the entrance surface 6a of the mold integrator 6.
  • the light emitted from the emission surface 6b becomes the front group 7a of the imaging optical system 7 (in FIG. 4, (Not shown), on the pupil plane 7c of the illumination optical system, four light beams 46a, 46b, 46c, and 4c decentered from the optical axis AX in the ⁇ axis direction and the 0 axis direction. 6 A quadrupole light beam consisting of d is formed. At this time, a large number of light source images formed by internal reflection at the rod-shaped integray 6 are arranged at each pole.
  • the light beam 46 a is a light beam geometrically corresponding to the light beam 45 on the predetermined surface 4.
  • the light flux 46 b is a light flux obtained by inverting the light flux 46 a geometrically corresponding to the light flux 45 with respect to the ⁇ axis.
  • the light flux 46 c is a light flux obtained by inverting the light flux 46 a geometrically corresponding to the light flux 45 with respect to the axis.
  • the luminous flux 46 d is a luminous flux obtained by inverting the luminous flux 46 a geometrically corresponding to the luminous flux 45 with respect to the ⁇ axis and inverting with respect to the ⁇ axis.
  • the internal light beam is repeatedly reflected inside many times, and the emitted light beam is repeated. Changes to an angular distribution symmetrical about the ⁇ axis and the 0 axis.
  • the luminous flux formed on the predetermined surface 4 is decentered as a whole with respect to the optical axis ⁇ ⁇ , and consequently the rod-type integrator 6
  • a secondary light source having various light quantity distributions is formed by making the angular distribution of the light beam incident on the optical axis asymmetric about the ⁇ axis or the 0 axis (eccentric about the ⁇ axis or the 0 axis).
  • FIGS. 5A to 5C are diagrams showing a relationship between a circular light beam formed on a predetermined surface and a secondary light source formed on a pupil plane of the illumination optical system.
  • one circular light beam 51 centered on the optical axis AX is formed on the predetermined surface 4 by installing the circular diffractive optical element 33 c in the light beam shaping system 2 in the illumination light path.
  • the center of the light beam 51 is slightly eccentric in the + ⁇ axis direction from the optical axis AX due to the light beam eccentric action of the parallel plane plate 3.
  • the circular luminous flux 51a slightly decentered in the + ⁇ -axis direction from the optical axis AX due to the action of the rod-type integr
  • a secondary light source composed of a circular light beam 5 lb slightly decentered in the ⁇ -axis direction, that is, a secondary light source having a shape extending along the ⁇ -axis direction is formed.
  • one circular light beam 5 2 centered on the optical axis AX is set on the predetermined surface 4 by installing the circular diffractive optical element 33 c in the light beam path in the light beam shaping system 2. Is formed, and the center of the light beam 52 is decentered from the optical axis AX by the same distance in the + ⁇ axis direction and the 10 axis direction by the light beam eccentric action of the parallel plane plate 3.
  • the pupil plane 7 c of the illumination optical system has a circular luminous flux 52 a decentered by the same distance from the optical axis AX in the + ⁇ axis direction and the ⁇ 0 axis direction by the action of the rod-type integrator 6.
  • a secondary light source is formed.
  • the light beam 52 of FIG. 5B is further decentered in the S-axis direction by the light beam decentering action of the parallel plane plate 3 to obtain a circular light beam 53.
  • the pupil plane 7c of the illumination optical system has a circular luminous flux 53a formed at a position geometrically corresponding to the luminous flux 53 by the action of the rod-type integrate 6, and a luminous flux 5a.
  • 3a is obtained by inverting 3a with respect to the ⁇ axis
  • the circular light beam 5 3b obtained by inverting the light beam 5 3a with respect to the 0 axis is obtained.
  • a quadrupole secondary light source consisting of a circular light beam 53d obtained by inverting about the ⁇ axis and inverting about the 0 axis, i.e., the light flux of each pole 53a-5
  • a quadrupole secondary light source is formed in which the rectangle obtained by connecting the 3d centers is elongated along the ⁇ -axis direction.
  • This secondary light source has a quadrupole light quantity distribution in which the position coordinates in the ⁇ axis direction and the position coordinates in the ⁇ axis direction are different.
  • FIG. 6A to 6C are diagrams showing the relationship between a dipole-shaped light beam formed on a predetermined surface and a secondary light source formed on a pupil plane of the illumination optical system.
  • the light beam shaping system 2 by setting the dipole diffractive optical element 33b in the illumination optical path, two circular shapes are arranged on the predetermined surface 4 in the 0-axis direction with the optical axis AX as the center. While forming the light beams 54a and 54b, the center of the light beams 54a and 54b is slightly eccentric in the + ⁇ axis direction from the optical axis AX by the light beam eccentric action of the parallel plane plate 3. .
  • the pupil plane 7 c of the illumination optical system has a circular luminous flux 55 a formed at a position geometrically corresponding to the luminous flux 54 a and 54 b by the action of the rod-type integrator 6.
  • Secondary light source consisting of the circular light beams 55c and 55d obtained by inverting the light beams 55a and 55b with respect to the 0 axis, that is, the light beam of each pole is ⁇
  • a dipole secondary light source having a shape extending along the axial direction is formed.
  • the luminous fluxes 54a and 54b in FIG. 6A are further decentered in the + ⁇ -axis direction by the luminous flux eccentricity of the parallel plane plate 3, and a pair of circular luminous fluxes 56a and Has gained 5 6 b.
  • the pupil plane 7 c of the illumination optical system has a circular luminous flux 57 7 formed at a position geometrically corresponding to the luminous flux 56 a and 56 b by the action of the rod-type integrator 6.
  • a quadrupole secondary light source having a rectangular shape obtained by connecting the centers of the luminous fluxes 57a to 57d is elongated along the ⁇ -axis direction.
  • the luminous fluxes 56 a and 56 b in FIG. 6B are further decentered in the ⁇ 0 axis direction by the luminous flux eccentricity of the parallel plane plate 3 to form a pair of circular luminous fluxes 58 a and Five
  • the pupil plane 7 c of the illumination optical system has a circular luminous flux 59 9 formed at a position geometrically corresponding to the luminous flux 58 a and 58 b by the action of the rod-type integrator 6. a and 59 b, the circular light beams 59 c and 59 d obtained by inverting the light beams 59 a and 59 b about the 0 axis, and the light beams 59 a and 59 b with respect to the axis.
  • Circular luminous flux 5 9 f and 5 9 e obtained by inversion and luminous flux 5
  • a quadrupole secondary light source is formed, which has a shape extending along the axis and a rectangle obtained by connecting the centers of the light beams of the respective poles has an elongated shape along the 0-axis direction.
  • FIG. 7A and 7B are diagrams showing the relationship between a quadrupole light beam formed on a predetermined surface and a secondary light source formed on a pupil plane of the illumination optical system.
  • a four-pole diffractive optical element 33 a is provided in the illumination light path, so that four circular light beams 60 a centered on the optical axis AX on the predetermined surface 4.
  • 60 b, 60 c, and 60 d are formed, and the centers of the light beams 60 a to 60 d are eccentric in the ⁇ 0 axis direction by the light beam eccentricity of the parallel plane plate 3.
  • the rod-type integrator 6 converts the circular light beams 6 la to 61 d formed at positions geometrically corresponding to the light beams 60 a to 60 d and the light beams 60 a to 60 d into the ⁇ axis.
  • a secondary light source consisting of circular light beams 61 f, 61 e, 61 h, and 61 g obtained by inversion with respect to, that is, a quadrupole having a shape in which the light beam of each pole extends along the 0-axis direction A secondary light source is formed.
  • the light beam shaping system 2 forms four trapezoidal shapes (strictly speaking, a ring-shaped light beam is cut off by a pair of straight lines passing through the optical axis AX) on the predetermined surface 4.
  • Light beams 62a, 62b, 62c, and 62d are formed.
  • the centers of the light beams 62a to 62d are decentered in the 10-axis direction by the light beam decentering action of the parallel plane plate 3.
  • circular luminous fluxes 63a to 63d formed at positions geometrically corresponding to the luminous fluxes 62a to 62d by the action of the rod-type integrator 6
  • a secondary light source consisting of circular light beams 63 f, 63 e, 63 h, and 63 g obtained by inverting the light beams 62 a to 62 d about the ⁇ axis, that is, the light beam of each pole is in the 0-axis direction.
  • a quadrupole secondary light source having a shape extending along is formed.
  • the configuration of the light beam shaping system 2 necessary to form four trapezoidal light beams 62a to 62d around the optical axis AX is described in, for example, JP-A-2000-58441. Can be referred to. Also, based on a configuration in which the pair of V-groove axicons (15, 16) is omitted from FIG. 29 of Japanese Patent Application No. 2001_7 4240, four trapezoidal luminous fluxes 62a to 62d centered on the optical axis AX Can also be formed.
  • control system 20 information on various masks to be sequentially exposed according to the step-and-scan method is input to the control system 20 via an input system 19 such as a keyboard.
  • the control system 20 controls the input from the input system 19 in order to realize the optimum illumination conditions (the light intensity distribution of the secondary light source formed on the pupil plane 7c of the illumination optical system) for various mask patterns.
  • an appropriate control signal is supplied to the first drive system 21 and the second drive system 22.
  • the first drive system 21 positions a desired diffractive optical element (33a to 33c) in the illumination optical path in the light beam shaping system 2 based on a command from the control system 20.
  • a desired diffractive optical element 33a to 33c
  • the magnification of the afocal zoom lens 32 or the focal length of the zoom lens 34 is adjusted as necessary.
  • the second drive system 22 tilts the parallel plane plate 3 as a light flux eccentric means in a desired direction with respect to the optical axis AX by a desired angle based on a command from the control system 20.
  • a secondary light source having a desired light amount distribution is formed on the pupil plane 7c of the illumination optical system, and the luminous flux from this secondary light source illuminates the mask 8 (wafer 10), which is the surface to be illuminated, with the exposure ) Is done.
  • the angle distribution detector 11 measures the angular distribution of a light beam incident on a predetermined point on the wafer 10 based on a command from the control system 20 as necessary.
  • the control system 20 controls the secondary light source formed on the pupil plane 7 c of the illumination optical system so that the angular distribution of the light beam incident on a predetermined point on the wafer 10 becomes a desired angular distribution.
  • the parallel plane plate 3 or the light beam shaping system 2 is controlled based on the output of the angle distribution detector 11 so that the light amount distribution of the light beam becomes a desired light amount distribution.
  • the control system 20 controls the light beam shaping system 2 via the first drive system 21 or the light via the second drive system 22 according to the type of the mask 8 (the type of pattern).
  • the parallel flat plate 3 as a bundle eccentric means is controlled.
  • the rod-type integrator 6 repeats internal reflection many times inside the rod. Thereby, there is a characteristic that the angular distribution of the emitted light beam changes to an angular distribution symmetric with respect to the ⁇ axis and the 0 axis (with respect to the optical axis AX).
  • the rod-type integrator 6 based on the action of the parallel flat plate 3 as the light beam eccentric means, the light beam formed on the predetermined surface 4 is shifted with respect to the optical axis AX.
  • the eccentricity of the illumination optical system, and thus the angle distribution of the light beam incident on the rod-shaped integre 6 is asymmetrical with respect to the ⁇ -axis or ⁇ -axis. Is formed.
  • the illumination optical device of the present embodiment according to a simple configuration, different illumination conditions in two directions orthogonal to each other on the surface to be illuminated (the mask surface and, consequently, the wafer surface). Can be realized. Further, the exposure apparatus incorporating the illumination optical device of the present embodiment and the exposure method using the illumination optical device of the present embodiment realize different illumination conditions in two orthogonal directions on the surface to be irradiated. A good exposure can be performed under the optimum illumination conditions for the mask 8 using an illumination optical device that can perform the above.
  • the parallel plane plate 3 configured to be tiltable with respect to the optical axis AX is used as the light beam eccentric means.
  • the present invention is not limited to this. Modifications are possible.
  • 8A to 8C are diagrams showing modified examples of the light beam decentering means. Referring to FIG. 8A, in the optical path between the condenser lens 5 and the rod-type integrator 6, a pair of deflection prisms 81a and 81 rotatable around the optical axis AX are respectively provided.
  • the light beam decentering means 81 constituted by 1b is disposed.
  • the angular distribution of the light beam incident on the rod-type integrator 6 changes according to the relative rotation angle between the deflection prisms 81a and 81b, and the position of the light beam on the predetermined surface 4 is thus changed to the optical axis AX.
  • a state optically equivalent to decentering the whole is obtained.
  • the condenser lens 5 is configured to be eccentric (shiftable) with respect to the optical axis AX, and the eccentric condenser lens 5 constitutes the light beam eccentric means 82.
  • the angular distribution of the luminous flux incident on the rod-type integrator 6 changes according to the amount of eccentricity of the condenser lens 5, and thus the position of the luminous flux on the predetermined surface 4 is totally decentered with respect to the optical axis AX.
  • An optically equivalent state is obtained.
  • the condenser lens 5 is composed of a plurality of lens components
  • the light beam decentering means may be composed of at least one decenterable lens component.
  • a rotating mirror 83 arranged at a position optically substantially common to the incident surface of the rod-type integrator 6 constitutes a light beam decentering means.
  • the angular distribution of the light beam incident on the rod-type integrator 6 changes according to the rotation angle of the rotating mirror 83, and thus the position of the light beam on the predetermined surface 4 is totally eccentric with respect to the optical axis AX. Can be done.
  • a quadrupole secondary light source ( 5 9 a-5 9 h) is formed.
  • FIG. 7A based on the quadrupolar light flux 60 a to 60 d formed on the predetermined surface 4, a quadrupolar secondary beam similar to FIG. A light source (61a-6lh) is formed.
  • the four luminous fluxes 46a to 46d shown in FIG. 4 are not necessarily related to the optical axis AX. It is not symmetric. Therefore, based on the quadrupolar light beam formed on the predetermined surface 4 rather than based on the dipole light beam formed on the predetermined surface 4, for example, the deformation as shown in FIG. It is possible to accurately form a quadrupole secondary light source having an appropriate light quantity distribution.
  • FIG. 9 is a diagram schematically showing a configuration of a modified example of the embodiment of FIG.
  • the modification of FIG. 9 has a configuration similar to that of the embodiment of FIG.
  • the first point is that a microlens array as a wavefront splitting optical lens is provided in the optical path between the rod-type integrator 6 and the imaging optical system 7. This is basically different from the embodiment shown in the drawings.
  • a modified example will be described focusing on differences from the embodiment of FIG.
  • the light beam having passed through the rod-type integrator 6 has a predetermined light amount distribution on the entrance surface of the microlens array (or fly-eye lens) 92 via the relay lens 91.
  • the light beam incident on the microlens array 92 is two-dimensionally split by a large number of microlenses, and the light intensity on the side focal plane (the exit surface or in the vicinity thereof) is substantially the same as the light beam incident on the microlens array 92. A distribution is formed.
  • the light beam having passed through the microlens array 92 receives the condensing operation of the condenser lens 93, and then illuminates the mask blind 94 as an illumination field stop in a superimposed manner.
  • the light beam passing through the rectangular opening (light transmitting portion) of the mask blind 94 receives the light-condensing action of the imaging optical system 7 and then illuminates the mask 8 in a superimposed manner.
  • the light flux transmitted through the pattern of the mask 9 forms an image of the mask pattern on the wafer 10 via the projection optical system 9.
  • the illumination optical device is used.
  • the mask (reticle) is illuminated (illumination step), and the transfer pattern formed on the mask is exposed on a photosensitive substrate using a projection optical system (exposure step), thereby producing a micro device (semiconductor element, imaging device).
  • a micro device semiconductor element, imaging device.
  • Devices, liquid crystal display devices, thin-film magnetic heads, etc. an example of a method for obtaining a semiconductor device as a micro device by forming a predetermined circuit pattern on a wafer or the like as a photosensitive substrate using the exposure apparatus of the above-described embodiment will be described with reference to FIG. This will be described with reference to a flowchart.
  • a metal film is deposited on one lot of wafers.
  • a photoresist is applied on the metal film on the wafer of the lot.
  • the image of the pattern on the mask is sequentially exposed to each shot area on the one-lot wafer through the projection optical system. Transcribed.
  • the photoresist on the one lot of wafers is developed, and then in step 304, etching is performed on the one lot of wafers using the resist pattern as a mask. Accordingly, a circuit pattern corresponding to the pattern on the mask is formed in each shot area on each wafer.
  • a device such as a semiconductor element is manufactured by forming a circuit pattern of the upper layer and the like. According to the above-described semiconductor device manufacturing method, a semiconductor device having an extremely fine circuit pattern can be obtained with good throughput.
  • a liquid crystal display element as a micro device can be obtained by forming a predetermined pattern (circuit pattern, electrode pattern, etc.) on a plate (glass substrate).
  • a so-called light beam is used to transfer and expose a pattern of a mask onto a photosensitive substrate (eg, a glass substrate coated with a resist) using the exposure apparatus of the above-described embodiment.
  • a lithography process is performed.
  • a predetermined pattern including a large number of electrodes and the like is formed on the photosensitive substrate.
  • the exposed substrate goes through each process such as development process, etching process and resist stripping process. Accordingly, a predetermined pattern is formed on the substrate, and the process proceeds to the next color filter forming step 402.
  • a large number of sets of three dots corresponding to R (Red), G (Green) and B (Blue) are arranged in a matrix, or R, A color filter is formed by arranging a plurality of sets of G and B stripe filters in the horizontal scanning line direction.
  • a cell assembling step 403 is performed.
  • a liquid crystal panel e.g., using the substrate having the predetermined pattern obtained in the pattern forming step 401 and the color filter obtained in the color filter forming step 402).
  • Liquid crystal cell Liquid crystal cell
  • a liquid crystal is interposed between the substrate having the predetermined pattern obtained in the pattern forming step 401 and the color filter obtained in the color filter forming step 402. Inject to manufacture liquid crystal panels (liquid crystal cells).
  • a module assembling step 404 components such as an electric circuit and a pack light for performing a display operation of the assembled liquid crystal panel (liquid crystal cell) are attached to complete a liquid crystal display element.
  • components such as an electric circuit and a pack light for performing a display operation of the assembled liquid crystal panel (liquid crystal cell) are attached to complete a liquid crystal display element.
  • a KrF excimer laser (wavelength: 248 nm) or an ArF excimer laser (wavelength: 193 nm) is used as a light source.
  • the present invention is not limited to this, and the present invention can be applied to other appropriate light sources including, for example, an ultra-high pressure mercury lamp and an X-ray light source.
  • the present invention is applied to the exposure apparatus that performs scanning exposure via the projection optical system.
  • the present invention can also be applied to an exposure apparatus (of a step-and-repeat method) for performing exposure.
  • the luminous flux formed on the predetermined surface is entirely decentered with respect to the optical axis based on the function of the luminous flux decentering means, and as a result, the internal reflection type A secondary light source having various light quantity distributions on the pupil plane of the illumination optical system is formed by making the angular distribution of the light beam incident on the optical integrée asymmetric with respect to the optical axis.
  • the illumination optical device of the present invention different illumination conditions can be realized in two orthogonal directions on the surface to be illuminated according to a simple configuration.
  • the illumination capable of realizing different illumination conditions in two orthogonal directions on the surface to be illuminated.
  • a mask pattern can be faithfully transferred onto a photosensitive substrate under optimal illumination conditions for a mask.
  • a good microdevice can be manufactured by using the exposure apparatus and the exposure method of the present invention capable of faithfully transferring a mask pattern onto a photosensitive substrate.

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Description

明 細 書 照明光学装置、 露光装置および露光方法 技術分野
本発明は照明光学装置、 露光装置および露光方法に関し、 特に半導体素子、 撮 像素子、 液晶表示素子、 薄膜磁気ヘッド等のマイクロデバイスをリソグラフィー 工程で製造するための露光装置に好適な照明光学装置に関する。 背景技術
この種の典型的な露光装置においては、 光源から射出された光束が、 ォプティ カルインテグレー夕としてのフライアイレンズを介して、 多数の光源からなる実 質的な面光源としての二次光源を形成する。 二次光源からの光束は、 フライアイ レンズの後側焦点面の近傍に配置された開口絞りを介して制限された後、 コンデ ンサ一レンズに入射する。
コンデンサーレンズにより集光された光束は、 所定のパ夕一ンが形成されたマ スクを重畳的に照明する。 マスクのパターンを透過した光は、 投影光学系を介し てウェハ上に結像する。 こうして、 ウェハ上には、 マスクパターンが投影露光 (転写) される。 なお、 マスクに形成されたパターンは高集積化されており、 こ の微細パターンをウェハ上に正確に転写するにはウェハ上において均一な照度分 布を得ることが不可欠である。
そこで、 フライアイレンズの後側焦点面に円形状の二次光源を形成し、 その大 きさを変化させて照明のコヒ一レンシィ σ ( σ値 =開口絞り径 Ζ投影光学系の瞳 径、 あるいはひ値=照明光学系の射出側開口数 Ζ投影光学系の入射側開口数) を 変化させる技術が注目されている。 また、 フライアイレンズの後側焦点面に輪帯 状や 4極状の二次光源を形成し、 投影光学系の焦点深度や解像力を向上させる技 術が注目されている。
しかしながら、 上述のような従来技術では、 円形状の二次光源に基づく通常の 円形照明の場合も、 輪帯状や 4極状の二次光源に基づく変形照明 (輪帯照明や 4 極照明) の場合も、 被照射面であるマスク上の一点に入射する光束の断面形状が マスク上の直交する二方向に関して同じ位置関係にある。 換言すると、 従来技術 では、 被照射面上の直交する二方向で照明条件が同じである。 その結果、 マスク パターンに方向性がある場合、 マスク上の直交する二方向で最適な照明条件を実 現することができない。 発明の開示
本発明は、 前述の課題に鑑みてなされたものであり、 簡易な構成にしたがって、 被照射面上の直交する二方向で互いに異なる照明条件を実現することのできる照 明光学装置を提供することを目的とする。
また、 本発明は、 被照射面上の直交する二方向で互いに異なる照明条件を実現 することのできる照明光学装置を用いて、 マスクに最適な照明条件のもとで、 感 光性基板上にマスクパターンを忠実に転写することのできる露光装置および露光 方法を提供することを目的とする。
前記課題を解決するために、 本発明の第 1発明では、 光源からの光束に基づい て所定の光量分布の二次的光源を形成するための内面反射型のォプティカルイン テグレ一タを備え、 該オプティカルインテグレ一タを介した光束によって被照射 面を照明する照明光学装置において、
前記光源と前記オプティカルインテグレー夕との間の光路中に配置されて、 前 記オプティカルインテグレ一夕に入射する光束の角度分布を変化させて前記二次 的光源の光量分布を変化させるために、 所定面における光束の位置を光軸に対し て全体的に偏心させる光束偏心手段を備えていることを特徴とする照明光学装置 を提供する。
本発明の第 2発明では、 第 1発明の照明光学装置と、 前記被照射面に配置され たマスクのパターンを感光性基板に投影露光するための投影光学系とを備えてい ることを特徴とする露光装置を提供する。
本発明の第 3発明では、 第 1発明の照明光学装置を介してマスクを照明し、 照 明された前記マスクに形成されたパターンの像を感光性基板上に投影露光するこ とを特徴とする露光方法を提供する。
本発明の第 4発明では、 パターンが形成されたマスクを照明し、 照明されたマ スク上のパターンの像を感光性基板上に投影露光する方法において、
光源からの光束を内面反射型のォプティカルインテグレ一夕へ導く第 1工程と、 該内面反射型のオプティカルインテグレー夕によって、 所定の光量分布の二次 的光源を形成する第 2工程と、
前記オプティカルィンテグレー夕を介した光束を前記マスクへ導く第 3工程と を備え、
前記第 1工程は、 前記ォプティカルインテグレー夕へ入射する光束の角度分布 を変化させて前記二次的光源の光量分布を変化させるために、 所定面における光 束の位置を光軸に対して全体的に偏心させる工程を備えることを特徴とする投影 露光方法を提供する。 図面の簡単な説明
第 1図は、 本発明の実施形態にかかる照明光学装置を備えた露光装置の構成を 概略的に示す図である。
第 2図は、 第 1図に示す光束整形系の内部構成の一例を概略的に示す図である。 第 3図は、 第 1図に示す角度分布検出器の内部構成を概略的に示す図である。 第 4図は、 ロッド型インテグレー夕の特性を説明する図である。
第 5 A図〜第 5 C図は、 所定面上に形成される円形状の光束と照明先学系の瞳 面上に形成される二次的光源との関係を示す図である。
第 6 A図〜第 6 C図は、 所定面上に形成される 2極状の光束と照明光学系の瞳 面上に形成される二次的光源との関係を示す図である。
第 7 A図および第 7 B図は、 所定面上に形成される 4極状の光束と照明光学系 の瞳面上に形成される二次的光源との関係を示す図である。
第 8 A図〜第 8 C図は、 光束偏心手段の変形例を示す図である。
第 9図は、 第 1図の実施形態の変形例の構成を概略的に示す図である。 第 1 0図は、 半導体デバイスを得る際の手法のフロ 一チャートである,
第 1 1図は、 >液晶表示素子を得る際の手法のフロー チャートである, 発明を実施するための最良の形態
内面反射型のォプティカルインテグレ一タは、 入射光束の角度分布が光軸に関 して非対称であっても、 その内部で多数回に亘つて内面反射を繰り返すことによ り、 射出光束の角度分布が光軸に関して対称な角度分布に変化するという特性を 有する。 本発明では、 内面反射型オプティカルインテグレー夕の上述の特性を利 用するために、 所定面における光束の位置を光軸に対して全体的に偏心させる光 束偏心手段を備えている。
そして、 この光束偏心手段の作用により、 内面反射型オプティカルインテグレ 一夕に入射する光束の角度分布を変化させて、 二次的光源の光量分布を変化させ ている。 その結果、 本発明では、 光束偏心手段の作用に基づいて、 所定面上に形 成される光束を光軸に対して全体的に偏心させることにより、 ひいては内面反射 型ォプティカルインテグレー夕への入射光束の角度分布を光軸に関して非対称に することにより、 照明光学系の瞳面上において様々な光量分布を有する二次的光 源を形成する。
こうして、 本発明の照明光学装置では、 簡易な構成にしたがって、 被照射面上 の直交する二方向で互いに異なる照明条件を実現することができる。 また、 本発 明の照明光学装置が組み込まれた露光装置および本発明の照明光学装置を用いた 露光方法では、 被照射面上の直交する二方向で互いに異なる照明条件を実現する ことのできる照明光学装置を用いて、 マスクに最適な照明条件のもとで、 感光性 基板上にマスクパターンを忠実に転写することができる。 さらに、 感光性基板上 にマスクパターンを忠実に転写することのできる本発明の露光装置および露光方 法を用いて、 良好なマイクロデバイスを製造することができる。
本発明の実施形態を、 添付図面に基づいて説明する。 第 1図は、 本発明の実施形態にかかる照明光学装置を備えた露光装置の構成を 概略的に示す図である。 また、 第 2図は、 第 1図に示す光束整形系の内部構成の 一例を概略的に示す図である。 第 1図の露光装置は、 露光光 (照明光) を供給す るための光源 1として、 たとえば波長が 2 4 8 n mの光を供給する K r Fエキシ マレーザー光源、 または波長が 1 9 3 n mの光を供給する A r Fエキシマレ一ザ 一光源を備えている。
光源 1から射出されたほぼ平行光束は、 所要の照明条件に応じて光源 1からの 光束を所望の形状 (4極状、 2極状、 円形状など) および大きさを有する光束に 整形するための光束整形系 2に入射する。 具体的には、 光束整形系 2は、 後続の 内面反射型のオプティカルインテグレー夕 (すなわちロッド型インテグレ一夕) 6の入射面 6 aに対して光学的にほぼフーリエ変換の関係にある所定面 4に、 所 望の形状および大きさを有する光束を入射させる機能を有する。 光束整形系 2の 光束整形は、 制御系 2 0からの指令に基づいて動作する第 1駆動系 2 1によって 制御される。
第 2図を参照すると、 光源 1から射出されたほぼ平行光束は、 一対のシリンド リカルレンズ 3 0 aおよび 3 0 bからなるビームエキスパンダ一 3 0に入射する c 各シリンドリカルレンズ 3 0 aおよび 3 0 bは、 第 2図の紙面内において負の屈 折力および正の屈折力をそれぞれ有する。 したがって、 ビームエキスパンダ一 3 0に入射した光束は、 第 2図の紙面内において拡大され、 所定の矩形状の断面を 有する光束に整形される。
ビームエキスパンダー 3 0を介したほぼ平行な光束は、 マイクロレンズアレイ 3 1に入射する。 マイクロレンズアレイ 3 1は、 縦横に且つ稠密に配列された多 数の正六角形状の正屈折力を有する微小レンズからなる光学素子である。 一般に、 マイクロレンズアレイは、 たとえば平行平面ガラス板にェツチング処理を施して 微小レンズ群を形成することによって構成される。 なお、 第 2図では、 図面の明 瞭化のために、 マイクロレンズアレイ 3 1を構成する微小レンズの数を実際より も非常に少なく表示している。
マイクロレンズアレイ 3 1に入射した光束は多数の微小レンズにより二次元的 に分割され、 各微小レンズの後側焦点面にはそれぞれ 1つの光源 (集光点) が形 成される。 マイクロレンズアレイ 3 1の後側焦点面に形成された多数の光源から の光束は、 それぞれ正六角形状の断面を有する発散光束となって、 ァフォーカル ズームレンズ 3 2に入射する。 ァフォーカルズームレンズ 3 2は、 ァフォーカル 系 (無焦点光学系) を維持しながら所定の範囲で倍率を連続的に変化させること ができるように構成されている。
ァフォーカルズームレンズ 3 2を介した光束は、 たとえば 4極用の回折光学素 子 (D O E ) 3 3 aに入射する。 このとき、 マイクロレンズアレイ 3 1の後側焦 点面に形成された各光源からの発散光束は、 正六角形状の断面を維持したまま、 回折光学素子 3 3 aの回折面上に収束する。 すなわち、 ァフォーカルズームレン ズ 3 2は、 マイクロレンズアレイ 3 1の後側焦点面と回折光学素子 3 3 aの回折 面とを光学的に共役に結んでいる。 そして、 回折光学素子 3 3 aの回折面上の一 点に集光する光束の開口数は、 ァフォーカルズームレンズ 3 2の倍率に依存して 変化する。
回折光学素子は、 ガラス基板に露光光 (照明光) の波長程度のピッチを有する 段差を形成することによって構成され、 入射光束を所望の角度に回折する作用を 有する。 具体的には、 4極用の回折光学素子 3 3 aは、 入射した光束を、 光軸 A Xを中心とした 4極状の光束に変換する。 回折光学素子 3 3 aを介した光束は、 ズームレンズ 3 4に入射する。 ズ一ムレンズ 3 4の後側焦点面の近傍には、 前述 した所定面 4が位置決めされている。
したがって、 回折光学素子 3 3 aを介した光束は、 ズームレンズ 3 4の後側焦 点面に、 ひいては所定面 4に、 光軸 A Xを中心とした 4極状の光束を形成する。 ここで、 ァフォーカルズームレンズ 3 2の倍率が変化すると、 4極状の光束を構 成する各極の光束の光軸からの高さ位置 (各極の光束の中心位置) が変化するこ となく、 各極の光束の大きさだけが変化する。 また、 ズームレンズ 3 4の焦点距 離が変化すると、 4極状の光束の全体が相似的に拡大または縮小する。
なお、 回折光学素子 3 3 aは、 照明光路に対して揷脱自在に構成され、 且つ 2 極用の回折光学素子 3 3 bや円形用の回折光学素子 3 3 cなどと切り換え可能に 構成されている。 したがって、 回折光学素子 3 3 aに代えて 2極用の回折光学素 子 3 3 bを照明光路中に設定することにより、 所定面 4に 2極状の光束が形成さ れる。 ここで、 ァフォーカルズームレンズ 3 2の倍率が変化すると、 2極状の光 束を構成する各極の光束の光軸からの高さ位置 (各極の光束の中心位置) が変化 することなく、 各極の光束の大きさだけが変化する。 また、 ズームレンズ 3 4の 焦点距離が変化すると、 2極状の光束の全体が相似的に拡大または縮小する。 また、 マイクロレンズアレイ 3 1を照明光路から退避させるとともに、 円形用 の回折光学素子 3 3 cを照明光路中に設定することにより、 所定面 4に円形状の 光束が形成される。 ここで、 ァフォーカルズームレンズ 3 2の倍率またはズーム レンズ 3 4の焦点距離が変化すると、 円形状の光束の全体が相似的に拡大または 縮小する。
以上のように、 ビームエキスパンダ一 3 0、 マイクロレンズアレイ 3 1、 ァフ ォ一カルズームレンズ 3 2、 回折光学素子 ( 3 3 a , 3 3 b , 3 3 c ) およびズ ームレンズ 3 4は、 光源 1からの光束を所望の形状 (4極状、 2極状、 円形状な ど) および大きさを有する光束に整形して所定面 4に入射させるための光束整形 系 2を構成している。 なお、 第 2図に示す光束整形系 2の内部構成は例示的であ り、 たとえば、 球面レンズ、 円筒面レンズ、 円錐面レンズ、 角錐面レンズ、 回折 光学素子、 マイクロレンズアレイ、 フライアイレンズ、 ズームレンズ、 プリズム、 アキシコン系などの光学素子を含む光学系として様々な変形例が可能である。 再び第 1図を参照すると、 光束整形系 2を介して整形された光束は、 光束偏心 手段としての平行平面板 3に入射する。 ここで、 平行平面板 3は、 第 1図の紙面 内および第 1図の紙面に直交する面内において光軸 A Xに対して傾斜可能に構成 されている。 したがって、 平行平面板 3が光軸 A Xに対して傾斜していない状態 では、 4極状 (2極状または円形状) の光束が所定面 4において光軸 A Xを中心 として形成される。
しかしながら、 平行平面板 3が第 1図の紙面内において光軸 A Xに対して傾斜 すると、 所定面 4における 4極状 (2極状または円形状) の光束の位置が図中鉛 直方向に沿って光軸 A Xに対して全体的に偏心する。 また、 平行平面板 3が第 1 図の紙面に直交する面内において光軸 A Xに対して傾斜すると、 所定面 4におけ る 4極状 (2極状または円形状) の光束の位置が第 1図の紙面に直交する方向に 沿って光軸 A Xに対して全体的に偏心する。 平行平面板 3の光束偏心は、 制御系 2 0からの指令に基づいて動作する第 2駆動系 2 2によって制御される。 光束偏 心手段としての平行平面板 3の詳細な作用効果については後述する。
こうして、 光束整形系 2を介して整形された光束は、 平行平面板 3および集光 レンズ 5を介して、 ロッド型インテグレ一タ 6に入射する。 ここで、 インプット レンズとしての集光レンズ 5は、 その前側焦点位置が光束整形系 2のズームレン ズ 3 4の後側焦点位置 (すなわち所定面 4の位置) とほぼ一致し且つその後側焦 点位置がロッド型インテグレー夕 6の入射面 6 aの位置とほぼ一致するように配 置されている。
ロッド型インテグレ一タ 6は、 石英ガラスや蛍石のような光学材料からなる内 面反射型のガラスロッドであり、 内部と外部との境界面すなわち内面での全反射 を利用して集光点を通りロッド入射面 6 aに平行な面に沿って内面反射数に応じ た数の光源像を形成する。 ここで、 形成される光源像のほとんどは虚像であるが、 中心 (集光点) の光源像のみが実像となる。 すなわち、 ロッド型インテグレ一夕 6に入射した光束は内面反射により角度方向に分割され、 集光点を通りその入射 面 6 aに平行な面に沿って多数の光源像が形成される。
こうして、 口ッド型ィンテグレータ 6によりその入射側に形成された多数の光 源像からの光束は、 その射出面 6 bにおいて重畳された後、 結像光学系 7を介し て、 所定のパターンが形成されたマスク 8を照明する。 結像光学系 7は、 ロッド 型ィンテグレ一夕 6の射出面 6 bとマスク 8とを光学的にほぼ共役に配置するリ レー光学系であって、 両側テレセントリックな光学系として構成されている。 こ うして、 結像光学系 7は、 ロッド型インテグレー夕 6の射出面 6 bの矩形像をマ スク 8上に形成することになる。 そして、 結像光学系 7の前群 7 aと後群 7 と の間の光路中において、 結像光学系 7の瞳面 (ひいては照明光学系の瞳面) 7 c には、 多数の光源からなり所定の光量分布を有する二次的光源が形成される。 マスク 8のパターンを透過した光束は、 投影光学系 9を介して、 感光性基板で あるウェハ 1 0上にマスクパターンの像を形成する。 なお、 マスク 8は、 投影光 学系 9の光軸 A Xと直交する平面内において二次元的に移動可能なマスクステー ジ 8 a上に保持されている。 また、 ウェハ 1 0は、 投影光学系 9の光軸 A Xと直 交する平面内において二次元的に移動可能なウェハステージ 1 0 a上に保持され ている。
こうして、 いわゆるステップ ·アンド ·スキャン方式にしたがって、 走査露光 (スキャン露光) が行われる。 すなわち、 マスク 8およびウェハ 1 0を投影光学 系 9の投影倍率に応じた速度比率でスキャン方向に沿って同期的に移動させなが らスキャン露光を行うことにより、 ウェハ 1 0の各露光領域 (ショット領域) に は、 静止状態での投影光学系 9の有効露光範囲よりも広い範囲に亘つてマスク 8 のパターンが転写される。 ここで、 走査方向は、 マスク 8およびウェハ 1 0上に 形成される矩形状の照明領域 (露光領域) の短辺方向に一致している。 また、 投 影光学系 9の投影倍率が負の場合、 走査露光に際してマスク 8とウェハ 1 0とは 互いに逆向きに移動することになる。
なお、 本実施形態の露光装置には、 ウェハ 1 0上の所定の一点に入射する光束 の角度分布を計測するための計測手段として角度分布検出器 1 1が設けられてい る。 角度分布検出器 1 1の出力は、 制御系 2 0に供給される。 また、 制御系 2 0 には、 たとえばキーボードのような入力系 1 9から入力された露光パラメータ (たとえば照明光の瞳形状条件、 露光量、 投影光学系の N Aなど) を含む情報が 供給される。
第 3図は、 第 1図に示す角度分布検出器の内部構成を概略的に示す図である。 第 3図を参照すると、 角度分布検出器 (輝度分布計測装置) 1 1のホルダ一 4 1 の上面には、 ピンホール Pが設けられている。 ピンホール Pは、 投影光学系 9の 像面 W 0 (露光に際してウェハ 1 0の表面が設置されるべき面) と同じ高さ位置 に形成されている。 ピンホール Pを透過した光束は、 集光光学系としての f s in 0 レンズ (4 2 a, 4 2 b , 4 2 c ) の集光作用を受けた後、 C C D等の撮 像素子 4 3に達する。
ここで、 集光光学系 (4 2 a, 4 2 b , 4 2 c ) の前側 (投影光学系側) 焦点 面が像面 W Oと一致し、 その後側 (撮像素子側) 焦点面が撮像素子 4 3の撮像面 と一致するように設定されている。 その結果、 撮像素子 4 3の撮像面には、 照明 光学系の瞳面 7 cに形成された二次的光源 (ひいては投影光学系 9の瞳面に形成 された二次的光源像) の像が再形成される。
こうして、 角度分布検出器 1 1では、 この二次的光源像の光量分布情報に基づ いて、 投影光学系 9の瞳面に形成された二次的光源像の光量分布を、 ひいては照 明光学系の瞳面 7 cに形成された二次的光源の光量分布を計測するとともに、 ゥ ェハ 1 0上の所定の一点 (ピンホール Pの位置) に入射する光束の角度分布を計 測することができる。 なお、 角度分布検出器 1 1の更に詳細な構成については、 たとえば特開 2 0 0 0 - 1 9 0 1 2号公報を参照することができる。
なお、 本実施形態の角度分布検出器 1 1として、 たとえば特開平 3— 6 5 6 2 3号公報に開示された瞳照度分布測定器を用いることも可能である。 また、 ァメ リカ合衆国カリフォルニア州サン ·ディエゴのライテル ·インストウルメント · インコーポレイテッ ド (L i tel Ins trument s Inc. ) より入手可能な S M I (Source Metro l ogy Ins t rument:商標) や、 米国特許第 6, 3 5 6 , 3 4 5号 公報に開示された光源測定装置を用いることも可能である。
第 4図は、 ロッド型インテグレ一夕の特性を説明する図である。 第 4図を参照 すると、 所定面 4および照明光学系の瞳面 7 cにおいて、 光軸 A Xを原点とした 直交座標系 ( Φ、 Θ ) が、 互いに幾何学的に対応するように設定されている。 こ こで、 Φ軸および 0軸は、 矩形状の断面を有するロッド型インテグレ一夕の長辺 および短辺に対応するように設定されている。 そして、 所定面 4上において光軸 Α Χから φ軸方向および 0軸方向に偏心して形成された光束 4 5からの光が、 集 光レンズ 5 (第 4図では不図示) を介して、 ロッド型インテグレー夕 6の入射面 6 aに入射している。
この場合、 ロッド型インテグレータ 6の内部で多数回に亘つて内面反射を繰り 返すことにより、 その射出面 6 bから射出された光は、 結像光学系 7の前群 7 a (第 4図ではともに不図示) を介して、 照明光学系の瞳面 7 c上に、 光軸 A Xか ら Φ軸方向および 0軸方向に偏心した 4つの光束 4 6 a, 4 6 b , 4 6 c, 4 6 dからなる 4極状の光束を形成する。 このとき、 各々の極には、 ロッド型インテ グレー夕 6での内面反射によって形成された多数の光源像が並んでいる。
ここで、 光束 4 6 aは、 所定面 4上の光束 4 5に幾何学的に対応した光束であ る。 また、 光束 4 6 bは、 光束 4 5に幾何学的に対応した光束 4 6 aを φ軸に関 して反転して得られる光束である。 さらに、 光束 4 6 cは、 光束 4 5に幾何学的 に対応した光束 4 6 aを 軸に関して反転して得られる光束である。 また、 光束 4 6 dは、 光束 4 5に幾何学的に対応した光束 4 6 aを φ軸に関して反転し且つ Θ軸に関して反転して得られる光束である。
以上のように、 ロッド型インテグレー夕 6では、 入射光束の角度分布が Φ軸ま たは 0軸に関して非対称であっても、 その内部で多数回に亘つて内面反射を繰り 返すことにより、 射出光束の角度分布は Φ軸および 0軸に関して対称な角度分布 に変化する。 本実施形態では、 上述のロッド型インテグレ一タ 6の特性を利用し、 所定面 4上に形成される光束を光軸 Α Χに対して全体的に偏心させることにより、 ひいてはロッド型ィンテグレー夕 6への入射光束の角度分布を φ軸または 0軸に 関して非対称にする (φ軸または 0軸に関して偏心させる) ことにより、 様々な 光量分布を有する二次的光源を形成する。
第 5 Α図〜第 5 C図は、 所定面上に形成される円形状の光束と照明光学系の瞳 面上に形成される二次的光源との関係を示す図である。 第 5 A図では、 光束整形 系 2において円形用の回折光学素子 3 3 cを照明光路に設置することにより所定 面 4に光軸 A Xを中心とした 1つの円形状の光束 5 1を形成するとともに、 平行 平面板 3の光束偏心作用により光束 5 1の中心を光軸 A Xから + Φ軸方向に僅か に偏心させている。 その結果、 照明光学系の瞳面 7 cには、 ロッド型インテグレ 一夕 6の作用により、 光軸 AXから + Φ軸方向に僅かに偏心した円形状の光束 5 1 aと光軸 A Xから一 φ軸方向に僅かに偏心した円形状の光束 5 l bとからなる 二次的光源、 すなわち Φ軸方向に沿って延びた形状を有する二次的光源が形成さ れる。
第 5 B図では、 光束整形系 2において円形用の回折光学素子 3 3 cを照明光路 に設置することにより所定面 4に光軸 A Xを中心とした 1つの円形状の光束 5 2 を形成するとともに、 平行平面板 3の光束偏心作用により光束 5 2の中心を光軸 AXから + Φ軸方向および一 0軸方向に同じ距離だけ偏心させている。 その結果、 照明光学系の瞳面 7 cには、 ロッド型インテグレー夕 6の作用により、 光軸 A X から + Φ軸方向および— 0軸方向に同じ距離だけ偏心した円形状の光束 5 2 aと、 光軸 A Xから + Φ軸方向および + 0軸方向に同じ距離だけ偏心した円形状の光束 5 2 bと、 光軸 A Xから一 φ軸方向および— 0軸方向に同じ距離だけ偏心した円 形状の光束 5 2 cと、 光軸 A Xから一 φ軸方向および + 0軸方向に同じ距離だけ 偏心した円形状の光束 5 2 dとからなる二次的光源、 すなわち光軸 A Xに関して 対称な 4極状の二次的光源が形成される。
第 5 C図では、 平行平面板 3の光束偏心作用により、 第 5 B図の光束 5 2を一 S軸方向にさらに偏.心させて円形状の光束 5 3を得ている。 その結果、 照明光学 系の瞳面 7 cには、 ロッド型インテグレ一夕 6の作用により、 光束 5 3に幾何学 的に対応した位置に形成された円形状の光束 5 3 aと、 光束 5 3 aを φ軸に関し て反転して得られた円形状の光束 5 3 bと、 光束 5 3 aを 0軸に関して反転して 得られた円形状の光束 5 3 cと、 光束 5 3 aを φ軸に関して反転し且つ 0軸に関 して反転して得られた円形状の光束 5 3 dとからなる 4極状の二次的光源、 すな わち各極の光束 5 3 a〜5 3 dの中心を結んで得られる四角形が Θ軸方向に沿つ て細長い形状を有する 4極状の二次的光源が形成される。 この二次的光源は、 Φ 軸方向での位置座標と Θ軸方向での位置座標とが異なる 4極状の光量分布を有す る。
第 6 A図〜第 6 C図は、 所定面上に形成される 2極状の光束と照明光学系の瞳 面上に形成される二次的光源との関係を示す図である。 第 6 A図では、 光束整形 系 2において 2極用の回折光学素子 3 3 bを照明光路に設置することにより所定 面 4に光軸 A Xを中心として 0軸方向に並んだ 2つの円形状の光束 5 4 aおよび 5 4 bを形成するとともに、 平行平面板 3の光束偏心作用により光束 5 4 aおよ び 5 4 bの中心を光軸 A Xから + Φ軸方向に僅かに偏心させている。 その結果、 照明光学系の瞳面 7 cには、 ロッド型インテグレー夕 6の作用により、 光束 5 4 aおよび 5 4 bに幾何学的に対応した位置に形成された円形状の光束 5 5 aおよ び 5 5 bと、 光束 5 5 aおよび 5 5 bを 0軸に関して反転して得られた円形状の 光束 5 5 cおよび 5 5 dとからなる二次的光源、 すなわち各極の光束が Φ軸方向 に沿って延びた形状を有する 2極状の二次的光源が形成される。
第 6 B図では、 平行平面板 3の光束偏心作用により、 第 6 A図の光束 5 4 aお よび 5 4 bを + Φ軸方向にさらに偏心させて一対の円形状の光束 5 6 aおよび 5 6 bを得ている。 その結果、 照明光学系の瞳面 7 cには、 ロッド型インテグレー 夕 6の作用により、 光束 5 6 aおよび 5 6 bに幾何学的に対応した位置に形成さ れた円形状の光束 5 7 aおよび 5 7 bと、 光束 5 7 aおよび 5 7 bを 0軸に関し て反転して得られた円形状の光束 5 7 cおよび 5 7 dとからなる二次的光源、 す なわち各極の光束 5 7 a〜5 7 dの中心を結んで得られる四角形が Θ軸方向に沿 つて細長い形状を有する 4極状の二次的光源が形成される。
第 6 C図では、 平行平面板 3の光束偏心作用により、 第 6 B図の光束 5 6 aお よび 5 6 bを— 0軸方向にさらに偏心させて一対の円形状の光束 5 8 aおよび 5
8 bを得ている。 その結果、 照明光学系の瞳面 7 cには、 ロッド型インテグレー 夕 6の作用により、 光束 5 8 aおよび 5 8 bに幾何学的に対応した位置に形成さ れた円形状の光束 5 9 aおよび 5 9 bと、 光束 5 9 aおよび 5 9 bを 0軸に関し て反転して得られた円形状の光束 5 9 cおよび 5 9 dと、 光束 5 9 aおよび 5 9 bを 軸に関して反転して得られた円形状の光束 5 9 fおよび 5 9 eと、 光束 5
9 aおよび 5 9 bを 0軸に関して反転し且つ φ軸に関して反転して得られた円形 状の光束 5 9 hおよび 5 9 gとからなる二次的光源、 すなわち各極の光束が 0軸 方向に沿って延びた形状を有し且つ各極の光束の中心を結んで得られる四角形が 0軸方向に沿って細長い形状を有する 4極状の二次的光源が形成される。
第 7 A図および第 7 B図は、 所定面上に形成される 4極状の光束と照明光学系 の瞳面上に形成される二次的光源との関係を示す図である。 第 7 A図では、 光束 整形系 2において 4極用の回折光学素子 3 3 aを照明光路に設置することにより 所定面 4に光軸 A Xを中心とした 4つの円形状の光束 6 0 a, 6 0 b , 6 0 c , 6 0 dを形成するとともに、 平行平面板 3の光束偏心作用により光束 6 0 a〜6 0 dの中心を— 0軸方向に偏心させている。 その結果、 照明光学系の瞳面 7 cに は、 ロッド型インテグレ一タ 6の作用により、 光束 60 a〜60 dに幾何学的に 対応した位置に形成された円形状の光束 6 l a〜61 dと、 光束 60 a〜60 d を φ軸に関して反転して得られた円形状の光束 61 f , 61 e, 61 h, 61 g とからなる二次的光源、 すなわち各極の光束が 0軸方向に沿って延びた形状を有 する 4極状の二次的光源が形成される。
第 7 B図では、 光束整形系 2により、 所定面 4に光軸 AXを中心とした 4つの 台形状 (厳密には光軸 AXを通る一対の直線で輪帯状の光束を切り取った形状) の光束 62 a, 62 b, 62 c, 62 dを形成している。 次いで、 平行平面板 3 の光束偏心作用により光束 62 a〜62 dの中心を一 0軸方向に偏心させている。 その結果、 照明光学系の瞳面 7 cには、 ロッド型インテグレー夕 6の作用により、 光束 62 a〜 62 dに幾何学的に対応した位置に形成された円形状の光束 63 a 〜63 dと、 光束 62 a〜62 dを φ軸に関して反転して得られた円形状の光束 63 f , 63 e, 63 h, 63 gとからなる二次的光源、 すなわち各極の光束が 0軸方向に沿って延びた形状を有する 4極状の二次的光源が形成される。
なお、 第 7B図に示すような、 光軸 AXを中心とした 4つの台形状の光束 62 a〜62 dを形成するのに必要な光束整形系 2の構成については、 たとえば特開 2000- 58441号公報を参照することができる。 また、 特願 2001 _ 7 4240号の図 29から一対の V溝アキシコン系 ( 15, 16) を省略した構成 に基づいて、 光軸 AXを中心とした 4つの台形状の光束 62 a〜62 dを形成す ることもできる。
本実施形態では、 たとえばステップ ·アンド ·スキヤン方式にしたがつて順次 露光すべき各種のマスクに関する情報などが、 キーボードなどの入力系 19を介 して制御系 20に入力される。 制御系 20は、 各種のマスクのパターンに最適な 照明条件 (照明光学系の瞳面 7 cに形成される二次的光源の光量分布) を実現す るために、 入力系 19からの入力に応答して第 1駆動系 21および第 2駆動系 2 2に適当な制御信号を供給する。
すなわち、 第 1駆動系 21は、 制御系 20からの指令に基づいて、 光束整形系 2において、 所望の回折光学素子 (33 a〜33 c) を照明光路中に位置決めす る。 また、 光束整形系 2において、 必要に応じてァフォーカルズームレンズ 3 2 の倍率またはズームレンズ 3 4の焦点距離を調整する。 さらに、 第 2駆動系 2 2 は、 制御系 2 0からの指令に基づいて、 光束偏心手段としての平行平面板 3を光 軸 A Xに対して所望の方向に所望の角度だけ傾斜させる。 こうして、 照明光学系 の瞳面 7 cにおいて所望の光量分布の二次的光源が形成され、 この二次的光源か らの光束によって被照射面であるマスク 8 (ウェハ 1 0 ) が照明 (露光) される。 本実施形態では、 必要に応じて、 角度分布検出器 1 1が制御系 2 0からの指令 に基づいて、 ウェハ 1 0上の所定の一点に入射する光束の角度分布を計測する。 そして、 制御系 2 0は、 ウェハ 1 0上の所定の一点に入射する光束の角度分布が 所望の角度分布になるように、 ひいては照明光学系の瞳面 7 cに形成される二次 的光源の光量分布が所望の光量分布になるように、 角度分布検出器 1 1の出力に 基づいて、 平行平面板 3または光束整形系 2を制御する。
また、 マスク 8を交換すると、 そのパターンに応じて照明条件 (照明光学系の 瞳面 7 cに形成される二次的光源の光量分布) を変化させる必要が生じることが ある。 この場合、 制御系 2 0は、 マスク 8の種類 (パターンの種類) に応じて、 第 1駆動系 2 1を介して光束整形系 2を制御したり、 第 2駆動系 2 2を介して光 束偏心手段としての平行平面板 3を制御したりする。
以上のように、 ロッド型インテグレ一タ 6は、 入射光束の角度分布が Φ軸また は S軸に関して (光軸 A Xに関して) 非対称であっても、 その内部で多数回に亘 つて内面反射を繰り返すことにより、 射出光束の角度分布が Ψ軸および 0軸 (光 軸 A Xに関して) に関して対称な角度分布に変化するという特性を有する。 本実 施形態では、 ロッド型インテグレータ 6の上述の特性を利用し、 光束偏心手段と しての平行平面板 3の作用に基づいて、 所定面 4上に形成される光束を光軸 A X に対して全体的に偏心させることにより、 ひいてはロッド型ィンテグレ一夕 6へ の入射光束の角度分布を Ψ軸または Θ軸に関して非対称にすることにより、 照明 光学系の瞳面 7 c上において様々な光量分布を有する二次的光源を形成する。
こうして、 本実施形態の照明光学装置では、 簡易な構成にしたがって、 被照射 面 (マスク面ひいてはウェハ面) 上の直交する二方向で互いに異なる照明条件を 実現することができる。 また、 本実施形態の照明光学装置が組み込まれた露光装 置および本実施形態の照明光学装置を用いた露光方法では、 被照射面上の直交す る二方向で互いに異なる照明条件を実現することのできる照明光学装置を用いて、 マスク 8に最適な照明条件のもとで良好な露光を行うことができる。
なお、 上述の実施形態では、 光束偏心手段として光軸 AXに対して傾斜可能に 構成された平行平面板 3を用いているが、 これに限定されることなく、 光束偏心 手段の構成について様々な変形例が可能である。 第 8 A図〜第 8 C図は、 光束偏 心手段の変形例を示す図である。 第 8 A図を参照すると、 集光レンズ 5とロッド 型インテグレ一タ 6との間の光路中に、 光軸 A Xを中心としてそれぞれ回転可能 に構成された一対の偏角プリズム 8 1 aと 8 1 bとで構成された光束偏心手段 8 1が配置されている。 この場合、 偏角プリズム 8 1 aと 8 1 bとの相対回転角に 応じて、 ロッド型インテグレー夕 6への入射光束の角度分布が変化し、 ひいては 所定面 4における光束の位置を光軸 A Xに対して全体的に偏心させることと光学 的に等価な状態が得られる。
第 8 B図を参照すると、 集光レンズ 5が光軸 A Xに対して偏心可能 (シフト可 能) に構成されており、 この偏心可能な集光レンズ 5が光束偏心手段 8 2を構成 している。 この場合、 集光レンズ 5の偏心量に応じて、 ロッド型インテグレ一タ 6への入射光束の角度分布が変化し、 ひいては所定面 4における光束の位置を光 軸 A Xに対して全体的に偏心させることと光学的に等価な状態が得られる。 なお、 集光レンズ 5が複数のレンズ成分から構成される場合、 少なくとも 1つの偏心可 能なレンズ成分で光束偏心手段を構成することもできる。
第 8 C図を参照すると、 ロッド型インテグレータ 6の入射面と光学的にほぼ共 役な位置に配置された回転ミラ一 8 3が光束偏心手段を構成している。 この場合、 回転ミラ一 8 3の回転角度に応じて、 ロッド型インテグレータ 6への入射光束の 角度分布が変化し、 ひいては所定面 4における光束の位置を光軸 A Xに対して全 体的に偏心させることができる。
また、 上述の実施形態では、 第 6 C図に示すように、 所定面 4上に形成された 2極状の光束 5 8 aおよび 5 8 bに基づいて、 4極状の二次的光源 (5 9 a〜5 9 h ) が形成される。 また、 第 7 A図に示すように、 所定面 4上に形成された 4 極状の光束 6 0 a〜6 0 dに基づいて、 第 6 C図と同じような 4極状の二次的光 源 (6 1 a〜6 l h ) が形成される。
ところで、 実際のロッド型インテグレータ 6では、 内面反射回数が有限であり、 その製造誤差を回避することができないため、 第 4図に示す 4つの光束 4 6 a〜 4 6 dが光軸 A Xに関して必ずしも対称にはならない。 したがって、 所定面 4上 に形成された 2極状の光束に基づくよりも、 所定面 4上に形成された 4極状の光 束に基づく方が、 たとえば第 7 A図に示すような変形的な光量分布を有する 4極 状の二次的光源を正確に形成することができる。
第 9図は、 第 1図の実施形態の変形例の構成を概略的に示す図である。 第 9図 の変形例は、 第 1図の実施形態と類似の構成を有する。 しかしながら、 変形例で は、 ロッド型インテグレー夕 6と結像光学系 7との間の光路中に、 波面分割型の オプティカルィンテグレ一夕としてのマイクロレンズアレイが付設されている点 が第 1図の実施形態と基本的に相違する。 以下、 第 1図の実施形態との相違点に 着目して、 変形例を説明する。
第 9図の変形例では、 ロッド型インテグレ一タ 6を介した光束が、 リレーレン ズ 9 1を介してマイクロレンズアレイ (またはフライアイレンズ) 9 2の入射面 に、 所定の光量分布を有する二次的光源を形成する。 マイクロレンズアレイ 9 2 に入射した光束は多数の微小レンズにより二次元的に分割され、 その後側焦点面 (射出面またはその近傍) にはマイクロレンズアレイ 9 2への入射光束とほぼ同 じ光強度分布が形成される。
マイクロレンズアレイ 9 2を介した光束は、 コンデンサーレンズ 9 3の集光作 用を受けた後、 照明視野絞りとしてのマスクブラインド 9 4を重畳的に照明する。 マスクブラインド 9 4の矩形状の開口部 (光透過部) を介した光束は、 結像光学 系 7の集光作用を受けた後、 マスク 8を重畳的に照明する。 マスク 9のパターン を透過した光束は、 投影光学系 9を介して、 ウェハ 1 0上にマスクパターンの像 を形成する。
上述の実施形態 (変形例を含む) にかかる露光装置では、 照明光学装置によつ てマスク (レチクル) を照明し (照明工程)、 投影光学系を用いてマスクに形成 された転写用のパターンを感光性基板に露光する (露光工程) ことにより、 マイ クロデバイス (半導体素子、 撮像素子、 液晶表示素子、 薄膜磁気ヘッド等) を製 造することができる。 以下、 上述の実施形態の露光装置を用いて感光性基板とし てのウェハ等に所定の回路パターンを形成することによって、 マイクロデバイス としての半導体デバイスを得る際の手法の一例につき第 1 0図のフローチャート を参照して説明する。
先ず、 第 1 0図のステップ 3 0 1において、 1ロットのウェハ上に金属膜が蒸 着される。 次のステップ 3 0 2において、 その 1ロットのウェハ上の金属膜上に フォトレジストが塗布される。 その後、 ステップ 3 0 3において、 上述の実施形 態の露光装置を用いて、 マスク上のパターンの像がその投影光学系を介して、 そ の 1ロッ卜のウェハ上の各ショット領域に順次露光転写される。 その後、 ステツ プ 3 0 4において、 その 1ロットのウェハ上のフォトレジストの現像が行われた 後、 ステップ 3 0 5において、 その 1ロットのウェハ上でレジストパタ一ンをマ スクとしてエッチングを行うことによって、 マスク上のパターンに対応する回路 パターンが、 各ウェハ上の各ショット領域に形成される。 その後、 更に上のレイ ャの回路パターンの形成等を行うことによって、 半導体素子等のデバイスが製造 される。 上述の半導体デバイス製造方法によれば、 極めて微細な回路パターンを 有する半導体デバイスをスループット良く得ることができる。
また、 上述の実施形態の露光装置では、 プレート (ガラス基板) 上に所定のパ タ一ン (回路パターン、 電極パターン等) を形成することによって、 マイクロデ バイスとしての液晶表示素子を得ることもできる。 以下、 第 1 1図のフロ一チヤ —トを参照して、 このときの手法の一例につき説明する。 第 1 1図において、 パ ターン形成工程 4 0 1では、 上述の実施形態の露光装置を用いてマスクのパター ンを感光性基板 (レジストが塗布されたガラス基板等) に転写露光する、 所謂光 リソグラフィー工程が実行される。 この光リソグラフィ一工程によって、 感光性 基板上には多数の電極等を含む所定パターンが形成される。 その後、 露光された 基板は、 現像工程、 エッチング工程、 レジスト剥離工程等の各工程を経ることに よって、 基板上に所定のパターンが形成され、 次のカラ一フィルタ一形成工程 4 0 2へ移行する。
次に、 カラーフィル夕一形成工程 4 0 2では、 R (Red) , G (Green) , B (Blue) に対応した 3つのドットの組がマトリックス状に多数配列されたり、 ま たは R、 G、 Bの 3本のストライプのフィルターの組を複数水平走査線方向に配 列したカラーフィルタ一を形成する。 そして、 カラーフィルター形成工程 4 0 2 の後に、 セル組み立て工程 4 0 3が実行される。 セル組み立て工程 4 0 3では、 パターン形成工程 4 0 1にて得られた所定パターンを有する基板、 およびカラー フィルタ一形成工程 4 0 2にて得られたカラ一フィルタ一等を用いて液晶パネル (液晶セル) を組み立てる。 セル組み立て工程 4 0 3では、 例えば、 パターン形 成工程 4 0 1にて得られた所定パターンを有する基板とカラーフィルタ一形成ェ 程 4 0 2にて得られたカラーフィルターとの間に液晶を注入して、 液晶パネル (液晶セル) を製造する。
その後、 モジュール組み立て工程 4 0 4にて、 組み立てられた液晶パネル (液 晶セル) の表示動作を行わせる電気回路、 パックライト等の各部品を取り付けて 液晶表示素子として完成させる。 上述の液晶表示素子の製造方法によれば、 極め て微細な回路パターンを有する液晶表示素子をスループット良く得ることができ る。
なお、 上述の実施形態およびその変形例では、 光源として K r Fエキシマレ一 ザ一 (波長: 2 4 8 n m) や A r Fエキシマレ一ザ一 (波長: 1 9 3 n m) を用 いているが、 これに限定されることなく、 たとえば超高圧水銀ランプや X線光源 などを含む他の適当な光源に対して本発明を適用することもできる。
また、 上述の実施形態およびその変形例では、 投影光学系を介して走査露光す る露光装置に本発明を適用しているが、 これに限定されることなく、 投影光学系 を介して一括的に露光する (ステップ'アンド · リピート方式の) 露光装置にも 本発明を適用することもできる。
さらに、 上述の実施形態およびその変形例では、 照明光学装置を備えた投影露 光装置を例にとって本発明を説明したが、 マスク以外の被照射面を照明するため の一般的な照明光学装置に本発明を適用することができることは明らかである。 産業上の利用の可能性
以上説明したように、 本発明の照明光学装置では、 光束偏心手段の作用に基づ いて、 所定面上に形成される光束を光軸に対して全体的に偏心させることにより、 ひいては内面反射型ォプティカルインテグレ一夕への入射光束の角度分布を光軸 に関して非対称にすることにより、 照明光学系の瞳面上において様々な光量分布 を有する二次的光源を形成する。 その結果、 本発明の照明光学装置では、 簡易な 構成にしたがって、 被照射面上の直交する二方向で互いに異なる照明条件を実現 することができる。
また、 本発明の照明光学装置が組み込まれた露光装置および本発明の照明光学 装置を用いた露光方法では、 被照射面上の直交する二方向で互いに異なる照明条 件を実現することのできる照明光学装置を用いて、 マスクに最適な照明条件のも とで、 感光性基板上にマスクパターンを忠実に転写することができる。 さらに、 感光性基板上にマスクパターンを忠実に転写することのできる本発明の露光装置 および露光方法を用いて、 良好なマイクロデバィスを製造することができる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 光源からの光束に基づいて所定の光量分布の二次的光源を形成するための 内面反射型のォプティカルインテグレ一夕を備え、 該ォプティカルインテグレー 夕を介した光束によって被照射面を照明する照明光学装置において、
前記光源と前記ォプティカルインテグレー夕との間の光路中に配置されて、 前 記オプティカルィンテグレ一夕に入射する光束の角度分布を変化させて前記二次 的光源の光量分布を変化させるために、 所定面における光束の位置を光軸に対し て全体的に偏心させる光束偏心手段を備えていることを特徴とする照明光学装置。
2 . 請求の範囲第 1項に記載の照明光学装置において、
前記二次的光源は、 前記光軸から離れた位置で光量の高くなる光量分布を有す ることを特徴とする照明光学装置。
3 . 請求の範囲第 1項または第 2項に記載の照明光学装置において、
前記二次的光源は、 前記二次的光源が形成される面内での前記光軸を原点とし た座標系において、 第 1方向での位置座標と該第 1方向と直交する第 2方向での 位置座標とが異なる 4極状の光量分布を有することを特徴とする照明光学装置。
4 . 請求の範囲第 3項に記載の照明光学装置において、
4極状の光量分布を有する前記二次的光源のそれぞれの極は、 前記第 1方向で の大きさと前記第 2方向での大きさとが互いに異なる形状を有することを特徴と する照明光学装置。
5 . 請求の範囲第 1項乃至第 4項のいずれか 1項に記載の照明光学装置におい て、
前記所定面は、 前記オプティカルインテグレー夕の入射面に対して光学的にほ ぼフーリエ変換の関係にある面であることを特徴とする照明光学装置。
6 . 請求の範囲第 1項乃至第 5項のいずれか 1項に記載の照明光学装置におい て、
前記光束偏心手段は、 前記光軸に対して傾斜可能に構成された平行平面板を有 することを特徴とする照明光学装置。
7 . 請求の範囲第 1項乃至第 5項のいずれか 1項に記載の照明光学装置におい て、
前記光束偏心手段は、 前記光軸を中心としてそれぞれ回転可能に構成された一 対の偏角プリズムを有することを特徴とする照明光学装置。
8 . 請求の範囲第 1項乃至第 5項のいずれか 1項に記載の照明光学装置におい て、
前記所定面を介した光束を前記オプティカルインテグレ一夕の入射面またはそ の近傍に集光させる集光レンズをさらに備え、
前記光束偏心手段は、 前記光軸に対して偏心可能に構成された前記集光レンズ を有することを特徴とする照明光学装置。
9 . 請求の範囲第 1項乃至第 5項のいずれか 1項に記載の照明光学装置におい て、
前記光束偏心手段は、 前記オプティカルインテグレー夕の入射面と光学的にほ ぼ共役な位置に配置された回転ミラーを有することを特徴とする照明光学装置。
1 0 . 請求の範囲第 1項乃至第 9項のいずれか 1項に記載の照明光学装置にお いて、
前記光源と前記光束偏心手段との間の光路中に配置されて、 前記光源からの光 束を所望の光強度分布を有する光束に整形するための光束整形手段をさらに備え ていることを特徴とする照明光学装置。
1 1 . 請求の範囲第 1項乃至第 9項のいずれか 1項に記載の照明光学装置にお いて、
前記被照射面上の所定の一点に入射する光束の角度分布を計測するための計測 手段をさらに備えていることを特徴とする照明光学装置。
1 2 . 請求の範囲第 1 1項に記載の照明光学装置において、
前記計測手段の出力に基づいて前記光束偏心手段を制御するための制御系をさ らに備えていることを特徴とする照明光学装置。
1 3 . 請求の範囲第 1項乃至第 1 2項のいずれか 1項に記載の照明光学装置に おいて、
前記光束偏心手段は、 前記照明中には前記光束を移動させないことを特徴とす る照明光学装置。
1 4 . 請求の範囲第 1項乃至第 1 3項のいずれか 1項に記載の照明光学装置と、 前記被照射面に配置されたマスクのパターンを感光性基板に投影露光するための 投影光学系とを備えていることを特徴とする露光装置。
1 5 . 請求の範囲第 1 4項に記載の露光装置において、
前記マスクの種類に応じて前記光束偏心手段を制御するための制御系をさらに 備えていることを特徴とする露光装置。
1 6 . 請求の範囲第 1項乃至第 1 3項のいずれか 1項に記載の照明光学装置を 介してマスクを照明し、 照明された前記マスクに形成されたパターンの像を感光 性基板上に投影露光することを特徴とする露光方法。
1 7 . 請求の範囲第 1 6項に記載の露光方法において、 前記マスクの種類に応じて前記光束偏心手段を制御することを特徴とする露光 方法。
1 8 . パターンが形成されたマスクを照明し、 照明されたマスク上のパターン の像を感光性基板上に投影露光する方法において、
光源からの光束を内面反射型のォプティカルインテグレー夕へ導く第 1工程と、 該内面反射型のオプティカルインテグレー夕によって、 所定の光量分布の二次 的光源を形成する第 2工程と、
前記オプティカルインテグレー夕を介した光束を前記マスクへ導く第 3工程と を備え、
前記第 1工程は、 前記ォプティカルインテグレー夕へ入射する光束の角度分布 を変化させて前記二次的光源の光量分布を変化させるために、 所定面における光 束の位置を光軸に対して全体的に偏心させる工程を備えることを特徴とする投影 露光方法。
1 9 . 請求の範囲第 1 8項に記載の投影露光方法において、
前記二次的光源は、 前記光軸から離れた位置で光量の高くなる光量分布を有す ることを特徴とする投影露光方法。
2 0 . 請求の範囲第 1 8項または第 1 9項に記載の投影露光方法において、 前記二次的光源は、 前記二次的光源が形成される面内での前記光軸を原点とし た座標系において、 第 1方向での位置座標と該第 1方向と直交する第 2方向での 位置座標とが異なる 4極状の光量分布を有することを特徴とする投影露光方法。
2 1 . 請求の範囲第 2 0項に記載の投影露光方法において、
4極状の光量分布を有する前記二次的光源のそれぞれの極は、 前記第 1方向で の大きさと前記第 2方向での大きさとが互いに異なる形状を有することを特徴と する投影露光方法。
2 2 . 請求の範囲第 1 8項乃至第 2 1項のいずれか 1項に記載の投影露光方法 において、
前記所定面は、 前記オプティカルインテグレー夕の入射面に対して光学的にほ ぼフ一リェ変換の関係にある面であることを特徴とする投影露光方法。
2 3 . 請求の範囲第 1 8項乃至第 2 2項のいずれか 1項に記載の投影露光方法 において、
前記被照射面上の所定の一点に入射する光束の角度分布を計測する工程をさら に備えていることを特徴とする投影露光方法。
2 . 請求の範囲第 2 3項に記載の投影露光方法において、
前記所定面における光束の位置を光軸に対して全体的に偏心させる工程は、 前 記計測工程により得られた計測結果に基づいて偏心を制御する工程をさらに備え ていることを特徴とする投影露光方法。
2 5 . 請求の範囲第 1 8項乃至第 2 4項のいずれか 1項に記載の投影露光方法 において、
前記所定面における光束の位置を光軸に対して全体的に偏心させる工程では、 前記照明中には前記光束を移動させないことを特徴とする投影露光方法。
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