WO2001029785A1 - Detecteur de pieces de monnaie - Google Patents

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WO2001029785A1
WO2001029785A1 PCT/JP2000/002109 JP0002109W WO0129785A1 WO 2001029785 A1 WO2001029785 A1 WO 2001029785A1 JP 0002109 W JP0002109 W JP 0002109W WO 0129785 A1 WO0129785 A1 WO 0129785A1
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WO
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eddy current
coin
frequency
coil
current coil
Prior art date
Application number
PCT/JP2000/002109
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English (en)
French (fr)
Inventor
Larry J. House
Richard J. Davis
Original Assignee
Japan Tobacco Inc.
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Publication date
Application filed by Japan Tobacco Inc. filed Critical Japan Tobacco Inc.
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    • GPHYSICS
    • G07CHECKING-DEVICES
    • G07DHANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
    • G07D5/00Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
    • G07D5/005Testing the surface pattern, e.g. relief
    • GPHYSICS
    • G07CHECKING-DEVICES
    • G07DHANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
    • G07D5/00Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
    • G07D5/08Testing the magnetic or electric properties

Definitions

  • the present invention uses a plurality of eddy current coils to generate an eddy current in a coin, and examines the material of the punching pattern ⁇ coin on the coin surface from the impedance of each of the eddy current coils changed by the eddy current.
  • the present invention relates to a coin identification device for determining the type and truth of the coin. Background art
  • Vending machines and automatic money handling machines incorporate a coin identification device that determines the type of coin and its authenticity as a pre-processing device for calculating the amount of input.
  • This type of coin discriminating device exclusively measures the outer diameter, thickness and weight of the coin, and determines the outer diameter, thickness, and It is configured to judge the type of coin and its authenticity by comparing each with the weight, and reject false coins.
  • unhandled coins that have similar characteristics (outside diameter, thickness, weight, etc.) of regular coins to be handled, such as coins from other countries. There is.
  • the present invention provides a coin identification device that can easily and accurately identify the type and authenticity of a coin by focusing on the unevenness information formed by the punched pattern on the coin surface.
  • a coin identification device that can easily and accurately identify the type and authenticity of a coin by focusing on the unevenness information formed by the punched pattern on the coin surface.
  • the present invention when a magnetic field is applied to a coin using an eddy current coil, the eddy current generated in the coin due to the magnetic field changes depending on the material, thickness, etc. of the coin. Pay attention to the change in the impedance of
  • the coin identification device uses an eddy current coil as described in claim 1 to sequentially identify the type of the coin and its authenticity over the entire area of the coin, as described in claim 1. While locally applying a high-frequency magnetic field, the impedance of the eddy current coil, which changes under the influence of the eddy current generated in the coin by the high-frequency magnetic field, is measured to obtain information on the unevenness of the punching pattern on the coin surface.
  • a low frequency magnetic field is applied to the coin using the eddy current coil, and the impedance of the eddy current coil, which changes under the influence of the eddy current generated in the coin by the low frequency magnetic field, is measured, and It is characterized in that information on the material is obtained and coins are identified according to the information.
  • information on the unevenness of the punching pattern on the coin surface is obtained from the impedance of each eddy current coil when a plurality of eddy current coils are driven at a high frequency, and the eddy current when a specific eddy current coil is driven at a low frequency.
  • a coin discriminating apparatus that can obtain the information on the material of the coin from the impedance of the coil, thereby simplifying the type and authenticity of the coin and enabling highly accurate discrimination.
  • a plurality of eddy current coils that are two-dimensionally arranged and arranged opposite to the coin surface are driven at a high frequency, and the eddy current coils are driven at a low frequency.
  • the impedance of the eddy current coil which changes under the influence of the eddy current generated in the coin in synchronization with the driving of the eddy current coil, is detected.
  • the material of the coin is determined by comparing the impedance of the eddy current coil when the eddy current coil is driven at a low frequency with the impedance previously obtained for a regular coin.
  • the impedance of each eddy current coil when the eddy current coil is driven at a high frequency is obtained as feature information representing information on the unevenness of the punched pattern on the coin surface.
  • the coin type is identified by comparing it with the feature information.
  • a histogram showing the distribution of impedance is created as feature information representing the unevenness information of the punched pattern on the coin surface, and this histogram is compared with the above-mentioned histogram of a regular coin obtained in advance to determine the type of coin. It is characterized by identifying.
  • the plurality of eddy current coils are implemented as a coil array arranged in a square lattice on a plane or as a coil array having a predetermined geometric arrangement.
  • the high frequency driving means drives all the eddy current coils constituting the coil array in high frequency in order to scan the entire area of the coin, and the low frequency driving means lowers only a specific eddy current coil in the coil array. It is configured to be frequency driven.
  • a specific eddy current coil driven at a low frequency is set as a predetermined number of eddy current coils arranged substantially at the center of a plurality of eddy current coils forming a coil array.
  • the eddy current coil driven at a low frequency may be a dedicated eddy current coil independent of the above-mentioned coil array in which the coil array is provided side by side with respect to a plurality of eddy current coils or is provided in an overlapping manner.
  • the coin identification device is further provided with coin diameter measuring means for measuring the diameter of the coin from the impedance of each eddy current coil when the eddy current coil is driven at a predetermined frequency.
  • the eddy current coil is provided with a coin thickness measuring means for measuring the thickness of the coin from the impedance of each eddy current coil when the eddy current coil is driven at a predetermined frequency.
  • a coin identification device according to the present invention The apparatus comprises image processing means for capturing, as a two-dimensional or three-dimensional image, unevenness information of a punched pattern on the coil surface from the impedance of each eddy current coil when the eddy current coil is driven at a high frequency. Is done.
  • the high frequency driving means is configured to generate a high frequency electromagnetic field by driving an eddy current coil at a frequency of about 700 kHz to 1 MHz, for example, to generate an eddy current near the surface of the coin.
  • the low-frequency driving means generates a low-frequency electromagnetic field by driving, for example, an eddy current coil at a frequency of about 10 kHz to 100 kHz to generate an eddy current inside the coin. It is configured as follows.
  • the high-frequency driving means and the low-frequency driving means are realized as a voltage-controlled oscillator in which the oscillation frequency is variably controlled by a control voltage applied from the outside, and the eddy current coil is formed by switching the control voltage.
  • the driving frequency is switched to function as high-frequency driving means or low-frequency driving means.
  • the plurality of eddy current coils according to the present invention are selectively driven to oscillate by receiving an output from a voltage controlled oscillator via a multiplexer, and the multiplexer scans the eddy current coil driven for oscillation at high speed. It is composed of
  • an eddy current coil driven at low frequency can be provided separately from a plurality of eddy current coils driven at high frequency.
  • the eddy current coil is selectively driven at a plurality of frequencies near 100 kHz, or It is desirable to continuously change the driving frequency of the eddy current coil in a frequency range of about Hz to 700 kHz, and apply the low-frequency electromagnetic field generated thereby to a plurality of portions of the coin.
  • FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of a coil array incorporated in a coin identification device according to an embodiment of the present invention, and an arrangement configuration of a coil array incorporated in the coin identification device and an eddy current coil for low frequency driving.
  • Fig. 2 is a diagram showing the configuration of a planar coil (eddy current coil) that constitutes the coil array shown in Fig. 1.
  • FIG. 3 is a front view showing an internal structure of a coin identification device according to an embodiment of the present invention, in which a part of a sensing unit is cut away.
  • Figure 4 is a plan view of the sensing unit as viewed from above.
  • Fig. 5 is a side view of the sensing unit viewed from the direction of movement of the coin.
  • FIG. 6 is a diagram showing an arrangement example of eddy current coils with respect to coins according to another embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is an overall schematic configuration diagram of a coin identification device according to an embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a diagram schematically showing a relationship between an eddy current coil in the coin identification device and a coin to which an AC magnetic field is locally applied by the eddy current coil.
  • FIG. 9 is a diagram showing an example of a schematic processing procedure of coin identification processing executed by a microprocessor.
  • FIG. 10 is a diagram showing an example of a table storing information of coins used for coin identification processing.
  • FIG. 11 is a diagram showing an example of an impedance histogram showing a distribution of irregularities formed by a coin punching pattern.
  • FIG. 1A shows a schematic configuration of a coil array 1 incorporated in a coin identification device according to this embodiment.
  • the coil array 1 is configured by forming a plurality (m ⁇ n) of eddy current coils 2 in a square lattice arrangement (matrix arrangement) of m rows ⁇ n columns on a plane.
  • the coil array 1 is a predetermined insulating substrate having a size larger than the outer diameter of a coin to be handled, for example, about 3 mm ⁇ 50 mm. 3
  • a spiral coil with an outer diameter of about 2 mm to 5 mm as shown in Fig. 2 is used as the eddy current coil 2, and a plurality of planar coils (eddy current coil 2) are arranged in a predetermined arrangement pitch Px, Py (For example, about 6 mm).
  • a pair of lead terminals 2a and 2b of each of these eddy current coils 2 are connected in common for each row and column, and are used as a lead terminal 4a for row selection and a lead terminal 4b for column selection in the coil array 1. Derived. By specifying one of these lead terminals 4a for row selection and one of the lead terminals 4b for column selection at the same time, energizing between these lead terminals 4a and 4b One of the eddy current coils 2 in the coil array 1 is alternatively designated and driven.
  • the plurality of eddy current coils 2 constituting the coil array 1 are used for locally applying a high-frequency magnetic field to the coin as described later.
  • a specific eddy current coil 2 in a plurality of eddy current coils 2 arranged in a matrix for example, four eddy current coils 2 X arranged in a substantially central portion are used to apply a low-frequency magnetic field to a coin. Is also used.
  • the eddy current coil 2 (2x) is energized and driven by an alternating current of a predetermined frequency to generate a magnetic field (high-frequency magnetic field or low-frequency magnetic field), and this magnetic field (AC magnetic field) is locally applied to the coin. Accordingly, the coin has a role of generating an eddy current according to the material, thickness, and the like of the coin.
  • the eddy current generated in the coin acts on the eddy current coil 2 (2x) to cause a change in the impedance of the eddy current coil 2 (2x) as described later.
  • Coil 2 (2x) functions as a sensor to detect the change in impedance as a feature of the coin. As shown in FIGS.
  • the coil array 1 including the plurality of eddy current coils 2 is arranged along a guide 11 that forms a passage for the coin 10 as shown in a schematic configuration of a sensing unit in the coin identification device. Placed.
  • Fig. 3 is a front view showing the internal structure of the sensing part with a part cut away.
  • FIG. 5 is a side view of the sensing unit as viewed from the direction in which the coin 10 moves.
  • the sensing unit is configured by providing two coil arrays 1 in parallel with the guide 11 forming the passage of the coin 10 interposed therebetween. These coil arrays 1
  • the coins 10 are arranged so as to face the front and back surfaces of the coin 10 which moves while rolling on the arrangement surface of the eddy current coil 2 while being guided by the guide 11.
  • the coil array 1 is placed close to the front and back surfaces of the coin 10 with the uneven punched pattern formed with a small gap, and the magnetic field generated by the eddy current coil 2 is sufficiently stronger than the coil 10 The effect of the eddy current generated on the coin 10
  • a sensing unit is provided in a passage in which the coin 10 is moved while rolling, but a sensing unit is provided in a passage ⁇ in which the coin 10 is moved while sliding, and in a falling passage of the coin 10. It is also possible to provide. It is of course possible to cover the surface of the coil array 1 on which the eddy current coil 2 is formed with a protective film and use the coil is array 1 itself as a part of a guide 11 for forming a coin passage.
  • an eddy current coil for applying a low-frequency magnetic field to the coin 10 is different from a plurality of eddy current coils 2 provided as a coil array 1 and driven at a high frequency, for example, as shown in FIG. 1 (b).
  • an eddy current coil for applying a low-frequency magnetic field can be realized as a dedicated eddy current coil 2 y provided on the coil array 1.
  • the eddy current coil 2y for driving at a low frequency has a large diameter of about 10 coins. As shown in Fig. 6 (a) and (b), these eddy current coils 2, 2x, 2y
  • the coins may be arranged along the passage so as to face the coin 10 respectively.
  • the coin identification device that detects the signature and identifies the type of the coin 10 is schematically configured as shown in FIG.
  • This coin identification device operates the controller 22 under the control of the microprocessor 21, drives each eddy current coil 2 of the coil array 1 as described below, and distinguishes the coin 10 from the coin 1. It is detected as the impedance of each eddy current coil 2 that changes with 0. Then, the type of the coin 10 and its authenticity are determined in accordance with the detected impedance of each eddy current coil 2.
  • the controller 22 drives the multiplexer 23 to select a plurality of eddy current coils 2 of the coil array 1 in order, and outputs the selected eddy current coil 2 from the voltage controlled oscillator (VCO) 24.
  • the eddy current coil 2 is driven by applying an alternating current of a predetermined frequency.
  • the multiplexer 23 sequentially and cyclically selects one of the lead terminals 4 b for selecting a column of the coil array 1 in accordance with a clock signal CLK having a predetermined number of cycles issued from the controller 22, for example.
  • the output (AC current) of 4 is applied to the plurality of eddy current coils 2 for each row.
  • the multiplexer 23 selectively grounds one of the lead terminals 4 a for selecting a row of the coil array 1, and each time the selection of the lead terminal 4 b for selecting a column is completed, a row to be grounded is selected.
  • the selection lead terminal 4a is sequentially switched.
  • the terminal voltage (amplitude or phase) of the eddy current coil 2 which is selected and driven by the multiplexer 23 is, for example, the voltage selectively applied to the lead terminal 4 b for selecting a column of the coil array 1. It is detected as an output (AC voltage) from the controlled oscillator 24 via the amplifier 25.
  • the amplifier 25 converts the change in the impedance of the eddy current coil 2 into a signal (voltage control) for driving the eddy current coil 2.
  • the output of the type oscillator 24) detects the change in amplitude or phase.
  • the amplitude Z phase detector 26 samples the output of the amplifier 25 in synchronization with the operation timing of the multiplexer 23 by the controller 22, that is, in synchronization with the selection operation of the eddy current coil 2, The amplitude and phase are detected and used for data collection and storage by the microprocessor 21.
  • the controller 22 receives a command from the microprocessor 21 when the coin 10 is guided to the above-described sensing unit, and for example, firstly, a multiplexer so that all the eddy current coils 2 of the coil array 1 are sequentially energized and driven. Control the operation of 2 and 3. At this time, the controller 22 sends the voltage-controlled oscillator 24 a
  • a control voltage of 101 is applied to cause the voltage controlled oscillator 24 to oscillate at a frequency of 70 OKHz or more, preferably about 1 MHz.
  • a frequency of 70 OKHz or more preferably about 1 MHz.
  • all the eddy current coils 2 are sequentially driven at a high frequency of about 1 MHz.
  • the controller 22 controls the operation of the multiplexers 23 so that only the specific eddy current coils 2 X described above are sequentially energized. I do.
  • the controller 22 applies a second control voltage to the voltage-controlled oscillator 24 to change the voltage-controlled oscillator 24 to a frequency of about 100 kHz to about 700 kHz. To oscillate.
  • the specific eddy current coil 2X is sequentially driven at a low frequency of about 100 kHz to 700 kHz. Therefore, the voltage controlled oscillator 24
  • a high frequency driving means for driving the eddy current coil 2 at a high frequency
  • a low frequency driving means for driving the eddy current coil 2 at a low frequency.
  • a specific eddy current coil 2 X is driven in advance at a low frequency, and another eddy current coil 2 is preset to be driven at a high frequency.
  • the scanning over the entire area of the coil array 1 may be completed by sequentially driving the eddy current coil 2 (2x) only once.
  • each eddy current coil 2 (2x) when the eddy current coil 2 (2x) is energized and driven while changing the driving conditions is changed by the coin 10 in the eddy current coil 2 (2x).
  • the information indicating the impedance of x) is sequentially detected via the amplifier 25 and the amplitude Z-phase detector 26. That is, the amplifier 25 is used as an impedance measuring means for the eddy current coil 2 (2x).
  • Fig. 8 shows one eddy current coil 2 that receives the output from the voltage controlled oscillator 24 and is selectively energized and driven by the operation of the multiplexer 23.
  • 4 schematically shows a relationship with a coin 10 to which is added.
  • an eddy current I c is generated at a portion where the AC electromagnetic field of the coin 10 crosses.
  • the magnitude of the eddy current I c changes depending on the material and thickness (resistivity) of the coin 10.
  • the magnetic flux generated by the eddy current Ic acts to cancel the AC magnetic flux generated by the eddy current coil 2.
  • the effect of the magnetic flux generated by the eddy current I c on the eddy current coil 2 is such that the shorter the distance d between the eddy current coil 2 and the surface of the coin 10 is, the stronger the effect is, and the lower the impedance of the eddy current coil 2 is. large.
  • the amplifier 25 detects such a change in the impedance of the eddy current coil 2 by the eddy current
  • the impedance of the eddy current coil 2 is detected by detecting the change in the amplitude of the signal for driving the coil 2.
  • the impedance of the eddy current coil 2 that changes under the influence of the eddy current generated in the coin 10 is not only the material of the coin 10, but also the unevenness due to the punching pattern on the surface of the coin 10. Distance d
  • a high frequency of, for example, about 1 MHz is generated so as to generate an eddy current on the surface of the coin 10 having the uneven surface forming the punching pattern.
  • the eddy current coil 2 may be driven at. If an eddy current Ic is generated on the surface of the coin 10 in this manner, the influence of the eddy current Ic is due to the eddy current Ic due to the distance d between the coin 10 and the eddy current coil 2 that changes due to the unevenness of the surface of the coin 10. It acts greatly on the coil 2 and greatly changes the impedance of the eddy current coil 2.
  • the driving frequency of the eddy current coil 2 may be set as low as about 10 kHz to 100 kHz. If the eddy current Ic is generated inside the coin 10 as described above, the eddy current Ic is generated inside the coin 10 with almost no influence of the change in the distance d from the eddy current coil 2 due to the unevenness of the surface. Only the influence of the magnitude of the eddy current I c thus exerted on the eddy current coil 2. Moreover, it occurs inside the coin 10
  • the driving condition (driving frequency) of the eddy current coil 2 set by controlling the operation of the voltage-controlled oscillator 24 is determined based on such knowledge.
  • FIG. 9 shows an example of a schematic processing procedure of the microprocessor 21. This process is started by detecting the input of the coin 10 using various coin detection sensors (not shown) incorporated in the coin passage [Step S1]. When the input of the coin 10 to be identified is detected, the microprocessor 21 starts the controller 22 and first operates the voltage-controlled oscillator 24 at a high frequency [Step S 2]. At the same time, the operation of the multiplexer 23 is controlled to sequentially drive all the eddy current coils 2 of the coil array 1 at a high frequency [Step S 3].
  • the amplitude Z-phase detector 26 is driven in synchronization with the high-frequency driving of these eddy current coils 2, and the impedance of the eddy current coil 2 measured via the amplifier 25 is sequentially detected. Hold [Step S 4].
  • the impedance of each eddy current coil 2 measured in this way is sequentially stored in an internal memory (not shown) of the microprocessor 21 [Step S5].
  • the detection processing of the unevenness information on the surface of the coin 10 by the high-frequency driving of the coil 2 ends. Thereafter, the microprocessor 21 first activates the voltage-controlled oscillator 24 at a low frequency 20 [Step S 6] and controls the operation of the multiplexer 23 to specify the identified eddy current coil in the coil array 1.
  • Step S7 Only 2X is sequentially driven at high frequency [Step S7]. Then, the amplitude Z-phase detector 26 is driven in synchronization with the low-frequency driving of these eddy current coils 2 X, and the impedance of the eddy current coil 2 measured via the amplifier 25 is sequentially detected. ⁇ Hold [Step 25 S 8]. The impedance of each eddy current coil 2X measured in this way is sequentially stored in an internal memory (not shown) provided in the microprocessor 21. Yes [Step S 9]. With the above processing, the detection processing of the information on the material of the coin 10 by the low frequency driving of the eddy current coil 2 is completed.
  • the microprocessor 21 starts the coin 10 discrimination process according to the impedance of each eddy current coil 2 (2x) stored in the memory as described above.
  • this identification process for example, first, the impedance of each eddy current coil 2 driven at a high frequency is discriminated by a predetermined threshold value, and the eddy current coil 2 having no change in impedance and the arrangement position of the eddy current coil 2 on the coil array 1 [Step S 10].
  • the eddy current coil 2 facing the coin 10 at the time of impedance measurement is determined, and the outer shape (overall size) of the coin 10 is examined.
  • the maximum diameter is measured as the outer diameter of the coin 10 [Step S11]. Then, according to the outer diameter, a type candidate of the coin 10 is selected by referring to a table prepared in the microprocessor 21 in advance, for example, as shown in FIG. 10 [Step S12].
  • the table contains information on the outer diameter and thickness of a plurality of types of coins (regular coins) to be handled (identified), as well as information on the material (impedance of the eddy current coil that changes depending on the material), Asperity information of punched patterns (information of impedance that changes due to unevenness) and the like are described in advance as reference data.
  • the type of the coin considered to correspond to the coin 10 is selected as a candidate according to the measured outline (outer diameter) of the coin 10. If no applicable type candidate is found [Step S13], the coin 10 is rejected as a non-coin (a fake coin) to be handled [Step S14].
  • the impedance of the eddy current coil 2 detected by driving the specific eddy current coil 2 X described above at a low frequency is stored in a memory. Read out, and this impedance is The matching process is performed with the material information (impedance of the eddy current coil that changes depending on the material) of the applicable type described in the table [Step S15].
  • the material information impedance of the eddy current coil that changes depending on the material
  • Step S16 it is determined whether or not the type candidate selected based on the outer diameter of the coin 10 as described above has consistency 10 in terms of its material as well. If no matching is found in the impedance matching process and the material of the coin 10 is different from the material of the coin to be handled, the coin 10 is rejected as a counterfeit coin [Step S14].
  • an identification process based on the unevenness information formed by the punching pattern on the surface of the coin 10 is executed.
  • This process is started by reading out the impedance of each eddy current coil 2 required when a plurality of eddy current coils 2 are driven at a high frequency, and creating a histogram thereof [Step S17].
  • This histogram divides the impedance of each eddy current coil 2 into a plurality of preset 20 levels according to the size, and counts the number of eddy current coils 2 having the impedance of the size for each level.
  • the impedance distribution is represented by creating a histogram with the impedance divided into a plurality of levels on the horizontal axis and the number of eddy current coils 2 on the vertical axis.
  • the impedance of each eddy current coil 225 obtained when the eddy current coil 2 is driven at a high frequency varies depending on the distance d between the uneven surface on the surface of the coin 10 and the eddy current coil 2 as described above.
  • the unevenness of the surface of coin 10 This shows a punching pattern of IN10. Therefore, the impedance divided into a plurality of levels as described above indicates the difference in the distance d, and thus the degree of irregularities on the surface of the coin 10. Therefore, the above-described histogram shows the distribution of the unevenness on the surface on which the punching pattern of the coin 10 is formed.
  • Such a histogram is subjected to matching processing with the unevenness information of the punching pattern of the coin to be handled which is registered in advance in the table (histogram of the impedance that changes due to the unevenness), particularly, the histogram of the type candidate obtained as described above. [Step S 18], thereby determining the consistency of the punched pattern of the coin 10 [Step S 19].
  • the candidate type determined as described above is determined as the type of the coin 10 [step S20]. If the histogram matching fails, the punching pattern is judged to be inaccurate, that is, it is different from the coin to be handled, and the coin 10 is returned. [Step SI 4].
  • the matching process of the punching pattern on the front surface of the coin 10 using the impedance histogram described above is detected by the two coil arrays 1 arranged on both sides (front and back) of the coin 10 respectively.
  • the information (impedance) is preferably executed for each of the punched patterns on the front and back sides of the coin 10.
  • the material of the coin 10 As a change in the impedance of the eddy current coil 2 (2x), the material of the coin 10, the outer diameter of the coin 10, and the unevenness information formed by the punching pattern on the surface are detected.
  • the coin identification device that determines the type of the coin 10 and its authenticity based on such information, unlike the device that optically detects the information on the surface of the coin 10, dust and the like adhering to the coin surface can be prevented. It can be easily and accurately identified without being affected by dirt.
  • the impedance itself of the eddy current coil 2 (2x) which changes under the influence of the eddy current generated in the coin 10 due to the AC magnetic field applied from the eddy current coil 2 (2x), is represented by the characteristic information of the coin 10.
  • the configuration of the sensing unit is very simple. Therefore, when detecting the unevenness information formed by the punched pattern on the front and back surfaces of the coin 10, it is only necessary to provide the two coil arrays 1 on both sides of the coin 10, so that the configuration is simple.
  • the impedance is detected as a change in the impedance of the eddy current coil 2 showing the irregularities formed by the punching pattern on the surface of the coin 10, and the histogram showing the distribution of this impedance is plotted on the horizontal axis with the impedance value on each axis.
  • the features of the punch pattern formed by the unevenness of the surface of the coin 10 are captured. Since the histogram is subjected to the matching process, identification (collation) based on the features of the punched pattern on the surface of the coin 10 is easy, and the identification accuracy can be sufficiently increased.
  • using such a histogram eliminates the need for complicated processing such as rotating the information indicating the punched pattern and aligning the direction of the pattern, thereby greatly simplifying the identification processing and reducing the processing time. There are advantages such as that it can be achieved.
  • the present invention is not limited to the embodiment described above.
  • the front and back surfaces of the coin 10 and two coil arrays 1 opposed to each other are disposed on both sides thereof.
  • the thickness t of the coin may be measured, and the thickness t may be compared with the thickness information of the coin registered in the table to assist the identification process of the coin.
  • the information of the punched pattern of the coin 10 is used as an impedance histogram indicating the unevenness and used for the identification process.
  • the detection position may be perceived as a two-dimensional image image developed as planar coordinates to perform the identification processing.
  • the unevenness information (impedance) in each part of the coin 10 formed by the punched pattern is taken as the distance (height) to the eddy current coil 2 and the detected position is taken as three-dimensional data developed as plane coordinates. It can also be used for identification processing.
  • the driving frequency is stepwisely set within a predetermined frequency range (for example, 10 kHz to 700 kHz).
  • a predetermined frequency range for example, 10 kHz to 700 kHz.
  • the impedance is measured at each frequency by changing the impedance continuously in a predetermined frequency range, and the material of the coin 10 is determined by capturing a change pattern depending on the frequency of the impedance. It is also possible.
  • the oscillation frequency of the variable voltage oscillator 24 may be variably controlled under the control of the controller 22.
  • the eddy current coils 2x and 2y may be driven at a high frequency but also the impedance at a low frequency. Furthermore, the drive frequency of the eddy current coils 2 x and 2 y is scanned from low frequency to high frequency, and the thickness of the coin 10 is focused on the relationship between the measured impedance and the drive frequency at that time. It is also possible to ask for.
  • the number of the eddy current coils 2 to be incorporated as the coil array 1, the arrangement pitch thereof, and the arrangement pattern thereof may be determined in accordance with the specification of the coin to be handled. Various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Industrial applicability
  • a high frequency magnetic field is applied to a coin by driving an eddy current coil at a high frequency, and information on the unevenness of a punched pattern on the coin surface is obtained from the impedance of each eddy current coil at that time. Since information on the material of the coin is obtained from the impedance of the eddy current coil when driven at a low frequency to determine the type and authenticity of the coin, it is possible to easily and accurately identify the coin. Therefore, it is possible to provide a coin identification device capable of accurately identifying the type and authenticity of a coin without being affected by dust, dirt, and the like attached to the coin surface.

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Description

明 細 書
コイン識別装置 技術分野
本発明は、 複数の渦電流コイルを用いてコインに渦電流を生起させ、 この渦 電流により変化する上記各渦電流コイルのインピーダンスから、 コイン表面に おける打抜模様ゃコィンの材質等を調べて該コィンの種別や真偽を判定するコ イン識別装置に関する。 背景技術
自動販売機や自動金銭処理機 (ATM) 等には、 投入金額を計算する上での 前処理装置として、 コィンの種別やその真偽を判定するコィン識別装置が組み 込まれる。 この種のコイン識別装置は、 専ら、 コインの外径やその厚み、 重さ を計測し、 予め求められている正規のコイン (取り扱い対象とする複数種のコ イン) の外径、 厚み、 および重さとそれぞれ比較することでコインの種別とそ の真偽を判定し、 また偽貨についてはリジェクトするように構成されている。 しかし数多くのコインの中には、 取り扱い対象とする正規のコインの特徴 (外径、 厚み、 重さ等) に似た取り扱い対象外のコイン、 例えば他国のコイン があり、 これを誤認識する虞がある。
そこでコイン表面における打抜模様がなす凹凸情報を画像として検出し、 こ の画像の特徴を認識処理してその種別を識別することが試みられている。 しか しコィン表面に付着した埃や汚れが原因となって、 コィン表面の打抜模様の特 徵自体を精度良く検出することが困難な場合がある。 更にはコイン表面の打抜 模様がなす画像の特徴を、 取り扱い対象とする正規のコインの打抜模様によつ て示される画像の特徴と比較する場合、 処理対象画像を回転処理した上でマツ チング処理したり、 適宜、 フーリエ変換を施す等の処理が必要となる。 これ故、 コインの識別に要する処理が複雑であり、 多大な処理時間を要すると言う不具 合がある。 発明の開示
本発明は、 コイン表面における打抜模様がなす凹凸情報に着目して、 その種 別や真偽を簡易に、 しかも精度良く識別することのできるコイン識別装置を提 供する。 特に本発明は渦電流コイルを用いてコインに磁界を加えたとき、 この 磁界によりコインに生じる渦電流が該コインの材質や厚み等によって変化し、 この渦電流の影響を受けて該渦電流コイルのインピーダンスが変化することに 着目している。
そこで本発明に係るコィン識別装置は、 コィンの種別やその真偽を簡易にし て高精度に識別するべく、 請求の範囲 1に記載するように渦電流コイルを用い てコィンの全域に亘つて順次局所的に高周波磁界を加えながら、 この高周波磁 界によってコィンに生じる渦電流の影響を受けて変化する前記渦電流コィルの インピーダンスを計測して、 コイン表面における打抜模様の凹凸情報を得、 一 方、 前記渦電流コイルを用いてコインに低周波磁界を加え、 この低周波磁界に よってコィンに生じる渦電流の影響を受けて変化する前記渦電流コイルのィン ピーダンスを計測して、 コインの材質に関する情報を得、 これらの情報に従つ てコインを識別するようにしたことを特徴としている。
即ち、 本発明は複数の渦電流コイルを高周波駆動したときの各渦電流コイル のインピーダンスからコイン表面における打抜模様の凹凸情報を得、 また特定 の渦電流コイルを低周波駆動したときの渦電流コイルのインピーダンスからコ ィンの材質に関する情報を得ることで、 コィンの種類や真偽を簡易にして高精 度に識別し得るようにしたコイン識別装置を提供する。
より具体的には、 2次元配列されてコイン表面に対向配置される複数の渦電 流コイルを高周波駆動し、 また前記渦電流コイルを低周波駆動して、 これらの 渦電流コイルの駆動に同期して前記コインに生じる渦電流の影響を受けて変化 する前記渦電流コイルのインピーダンスを検出する。 そして前記渦電流コイル を低周波駆動したときの前記渦電流コイルのインピーダンスと、 正規のコィン について予め求められている上記インピーダンスとを比較して該コインの材質 を判定する。 また前記渦電流コイルを高周波駆動したときの各渦電流コイルの インピーダンスを、 コィン表面における打抜模様の凹凸情報を表す特徴情報と して求め、 この特徴情報と予め求められている正規のコインの特徴情報とを比 較してコインの種別を識別する。 特にインピーダンスの分布を示すヒストダラ ムを、 コイン表面における打抜模様の凹凸情報を表す特徴情報として作成し、 このヒストグラムと予め求められている正規のコインの上記ヒストグラムとを 比較してコィンの種別を識別することを特徴としている。
本発明の好ましい態様は、 前記複数の渦電流コイルは、 平面上に方形状の格 子をなして配列されたコイルアレイとして、 或いは所定の幾何学的配列をなす コイルアレイとして実現される。 また前記高周波駆動手段は、 前記コイルァレ ィを構成する全ての渦電流コイルを順に高周波駆動してコィンの全域を走査し、 前記低周波駆動手段は前記コイルアレイ中の特定の渦電流コイルだけを低周波 駆動するように構成される。 例えば低周波駆動される特定の渦電流コイルは、 コイルアレイをなす複数の渦電流コイル中の略中央部に配列された所定個数の 渦電流コイルとして設定される。 尚、 低周波駆動される渦電流コイルを、 コィ ルアレイを複数の渦電流コイルの側部に並べて設けた、 或いは重ねて設けた前 記コイルアレイとは独立した専用の渦電流コイルとしても良い。
また本発明に係るコイン識別装置は、 更に前記渦電流コイルを所定の周波数 で駆動したときの各渦電流コイルのインピーダンスからコィンの直径を計測す るコイン径計測手段を備えて構成される。 更には前記渦電流コイルを所定の周 波数で駆動したときの各渦電流コイルのインピーダンスからコインの厚みを計 測するコイン厚計測手段を備えて構成される。 また本発明に係るコイン識別装 置は、 前記渦電流コイルを高周波駆動したときの各渦電流コィルのィンビーダ ンスから、 コイル表面における打抜模様の凹凸情報を 2次元または 3次元ィメ —ジとして捉えるイメージ処理手段を備えて構成される。
尚、 前記高周波駆動手段はコインの表面近傍に渦電流を生起するべく、 例え ば渦電流コイルを 7 0 0 k H z〜l MHz程度の周波数で駆動して高周波電磁 界を発生させるように構成され、 また前記低周波駆動手段はコインの内部に渦 電流を生起するべく、 例えば渦電流コイルを 1 0 k Hz〜l 0 0 k Hz程度の周 波数で駆動して低周波電磁界を発生させるように構成される。
具体的には前記高周波駆動手段および低周波駆動手段は、 外部から加えられ る制御電圧により発振周波数が可変制御される電圧制御型発振器として実現さ れ、 上記制御電圧を切り替えることにより渦電流コィルを駆動する周波数を切 り替えて、 高周波駆動手段または低周波駆動手段として機能する。
また本発明に係る複数の渦電流コイルは、 マルチプレクサを介して電圧制御 型発振器からの出力を択一的に受けて発振駆動され、 上記マルチプレクサは発 振駆動する渦電流コイルを高速に走査するように構成される。
尚、 低周波駆動される渦電流コイルを、 高周波駆動される複数の渦電流コィ ルとは別に設けることも可能である。 また渦電流コイルを低周波駆動してコィ ンの材質を調べるに際しては、 例えば 1 0 0 k Hz近傍の複数種の周波数で前 記渦電流コイルを選択的に駆動して、 或いは 1 0 0 k Hz〜7 0 0 k Hz程度の 周波数範囲で前記渦電流コイルの駆動周波数を連続的に変化させ、 これによつ て発生させた低周波電磁界をコインの複数の部位に加えることが望ましい。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の一実施形態に係るコイン識別装置に組み込まれるコイルァ レイの概略構成、 およびコイン識別装置に組み込まれるコイルアレイと低周波 駆動用の渦電流コィルとの配列構成を示す図。 図 2は、 図 1に示すコイルアレイを構成する平面コイル (渦電流コイル) の 構成を示す図。
図 3は、 本発明の一実施例に係るコイン識別装置におけるセンシング部の一 部を破断してその内部構造を示した正面図。
図 4は、 センシング部を上方から見た平面図。
図 5は、 センシング部をコィンの移動方向から見た側面図。
図 6は、 本発明の別の実施形態における渦電流コイルのコインに対する配置 例を示す図。
図 7は、 本発明の一実施形態に係るコィン識別装置の全体的な概略構成図。 図 8は、 コイン識別装置における渦電流コイルと、 この渦電流コイルにより 局部的に交流磁界が加えられるコインとの関係を模式的に示す図。
図 9は、 マイクロプロセッサにおいて実行されるコィン識別処理の概略的な 処理手順の一例を示す図。
図 1 0は、 コイン識別処理に用いられるコインの情報を格納したテーブルの 例を示す図。
図 1 1は、 コインの打抜模様がなす凹凸の分布を表すインピーダンスのヒス トグラムの例を示す図。 発明を実施するための最良の形態
以下、 図面を参照して本発明の実施形態に係るコイン識別装置について説明 する。
図 1 ( a )はこの実施形態に係るコイン識別装置に組み込まれるコイルアレイ 1の概略構成を示している。 このコイルアレイ 1は、 複数 (m X n個) の渦電 流コイル 2を平面上に m行 X n列の方形状の格子配列 (マトリックス配列) を なして構成される。 具体的にはコイルアレイ 1は、 取り扱い対象とするコイン の外径より大きい、 例えば 3 O mm x 5 0 mm程度の大きさの所定の絶縁基板 3上に、 図 2に示すような外径 2 mm〜 5 mm程度の渦巻き状の平面コイルを 渦電流コイル 2として、 複数個の平面コイル (渦電流コイル 2 ) を所定の配列 ピッチ Px, Py (例えば 6 mm程度) で形成したプリント回路基板として実現 される。
これらの各渦電流コイル 2の一対のリード端子 2 a , 2 bは、 行および列毎 にそれぞれ共通接続されてコィルァレイ 1における行選択用のリード端子 4 a および列選択用のリード端子 4 bとして導出される。 これらの行選択用のリー ド端子 4 aの 1つを指定し、 同時に列選択用のリード端子 4 bの 1つを指定し て、 これらのリード端子 4 a , 4 b間を通電することで、 コイルアレイ 1中の 1つの渦電流コイル 2が択一的に指定されて駆動される。
尚、 コイルアレイ 1を構成する複数の渦電流コイル 2は、 後述するようにコ ィンに対して局部的に高周波磁界を印加する為に用いられる。 またマトリック ス配列された複数の渦電流コイル 2中の特定の渦電流コィル 2、 例えば略中央 部に配列された 4つの渦電流コイル 2 Xは、 コインに対して低周波磁界を印加 する為にも用いられる。
渦電流コイル 2 ( 2 x) は、 所定の周波数の交流電流により通電駆動されて 磁界 (高周波磁界または低周波磁界) を発生し、 この磁界 (交流磁界) をコィ ンに局部的に印加することで該コィンにその材質や厚み等に応じた渦電流を生 起する役割を担う。 そしてコインに生じた渦電流が、 後述するように渦電流コ ィル 2 ( 2 x) に作用して該渦電流コイル 2 ( 2 x) のインピーダンスに変化 をもたらすことを利用して、 渦電流コイル 2 ( 2 x) はそのインピーダンスの 変化をコインの特徴として検出する為のセンサ部として機能する役割を担う。 このような複数の渦電流コイル 2を備えたコイルアレイ 1は、 図 3〜図 5に コイン識別装置におけるセンシング部の概略構成を示すように、 コイン 1 0の 通路を形成するガイド 1 1に沿って配置される。 ちなみに図 3はセンシング部 の一部を破断してその内部構造を示した正面図、 図 4はセンシング部を上方か ら見た平面図、 図 5はセンシング部をコイン 1 0の移動方向から見た側面図で ある。
即ち、 センシング部は、 コイン 1 0の通路を形成するガイド 1 1を挟んで 2 つのコイルアレイ 1を平行に設けて構成される。 これらのコイルアレイ 1は、
5 その渦電流コイル 2の配列面を、 ガイド 1 1に導かれて転動しながら移動する コイン 1 0の表裏面にそれぞれ平行に対峙するように配置される。 特にコイル アレイ 1は、 コイン 1 0の凹凸状の打抜模様が形成された表裏面にそれぞれ微 小な間隙を隔てて近接配置され、 渦電流コイル 2の発生磁界がコイル 1 0に十 分強く作用し、 またコイン 1 0に生じた渦電流の影響が当該渦電流コイル 2に
10 十分強く作用するように設定される。
尚、 ここではコイン 1 0を転動させながら移動させる通路にセンシング部を 設ける例について示しているが、 コイン 1 0を横滑りさせながら移動させる通 路ゃ、 コイン 1 0の落下通路にセンシング部を設けることも可能である。 また コイルアレイ 1における渦電流コイル 2の形成面を保護膜で覆い、 このコイル i s アレイ 1自体をコィンの通路を形成するガイド 1 1の一部として用いることも 勿論可能である。
ところでコイン 1 0に対して低周波磁界を印加する為の渦電流コイルを、 コ ィルアレイ 1をなして設けられて高周波駆動される複数の渦電流コイル 2とは 別に、 例えば図 1 (b)に示すようにコイルアレイ 1に並べて設けた専用の渦電
20 流コイル 2 yとして実現することも可能である。 また或いは低周波磁界を印加 する為の渦電流コイルを、 コイルアレイ 1に重ねて設けた専用の渦電流コイル 2 yとして実現することも可能である。 この場合、 低周波駆動用の渦電流コィ ル 2 yとしては、 コイン 1 0の径程度の大径のものとすることが好ましい。 ま た図 6 ( a) ( b)にそれぞれ示すように、 これらの渦電流コイル 2, 2 x, 2 yを
25 それぞれコイン 1 0に対峙するように、 その通路に沿って配置すれば良い。
さて上述したコイルアレイ 1の各渦電流コイル 2を駆動してコイン 1 0の特 徴を検出して該コイン 1 0の種別を識別するコイン識別装置は、 概略的には図 7に示すように構成される。 このコイン識別装置は、 マイクロプロセッサ 2 1 の制御の下でコントローラ 2 2を作動させ、 以下に説明するようにコイルァレ ィ 1の各渦電流コイル 2を駆動し、 コイン 1 0の特徴を該コイン 1 0によって 変化する各渦電流コイル 2のインピーダンスとして検出する。 そして検出した 各渦電流コイル 2のインピーダンスに従ってコィン 1 0の種別やその真偽を判 定するように構成される。
即ち、 コントローラ 2 2はマルチプレクサ 2 3を駆動してコイルアレイ 1の 複数の渦電流コィル 2を順に選択しながら、 選択した渦電流コィル 2に電圧制 御型発振器 (V C O) 2 4から出力される所定周波数の交流電流を加えること で該渦電流コイル 2を駆動する。 マルチプレクサ 2 3は、 例えばコントローラ 2 2から発せられる所定周期数のクロック信号 C L Kに従って、 コイルアレイ 1の列選択用のリード端子 4 bの 1つを順次巡回的に選択して電圧制御型発振 器 2 4の出力 (交流電流) を複数の渦電流コイル 2に対して列毎に印加する。 同時にマルチプレクサ 2 3は、 コイルアレイ 1の行選択用のリード端子 4 a の 1つを選択的に接地すると共に、 上記列選択用のリード端子 4 bの選択が一 巡する毎に、 接地する行選択用のリード端子 4 aを順次切り替える。 このよう なマルチプレクサ 2 3によるコイルアレイ 1の行および列の選択動作により、 マトリックス配列された複数の渦電流コイル 2の 1つが順に選択されて電圧制 御型発振器 2 4により通電駆動される。 つまり複数の渦電流コイル 2の通電駆 動が、 その配列に従って 2次元的に走査される。
またマルチプレクサ 2 3によって選択されて通電駆動される渦電流コイル 2 の端子間電圧 (振幅またはその位相) は、 例えばコイルアレイ 1の列選択用の リ一ド端子 4 bに選択的に加えられる電圧制御型発振器 2 4からの出力 (交流 電圧) として増幅器 2 5を介して検出される。 この増幅器 2 5は、 渦電流コィ ル 2のインピーダンスの変化を、 該渦電流コイル 2を駆動する信号 (電圧制御 型発振器 2 4の出力) の振幅または位相の変化として検出する役割を担う。 そ して振幅 Z位相検出器 2 6は、 前記コントローラ 2 2によるマルチプレクサ 2 3の動作タイミングに同期して、 即ち、 渦電流コイル 2の選択動作に同期して 増幅器 2 5の出力をサンプリングし、 その振幅や位相を検出してマイクロプロ 5 セッサ 2 1によるデータ収集とその記憶に供する。
ちなみにコントローラ 2 2は前述したセンシング部にコイン 1 0が導かれた とき、 マイクロプロセッサ 2 1からの指令を受けて、 例えば先ずコイルアレイ 1の全ての渦電流コイル 2を順に通電駆動するようにマルチプレクサ 2 3の作 動を制御する。 この際、 コントローラ 2 2は電圧制御型発振器 2 4に対して第
10 1の制御電圧を印加して、 該電圧制御型発振器 2 4を 7 0 O KH z以上の周波 数、 好ましくは 1 MHz程度の周波数で発振動作させる。 これによつて全ての 渦電流コイル 2が 1 MHz程度の周波数で順次高周波駆動される。
そして全ての渦電流コィル 2の高周波駆動が終了したときには、 コント口一 ラ 2 2は、 今度は前述した特定の渦電流コイル 2 Xだけを順次通電駆動するよ t s うにマルチプレクサ 2 3の作動を制御する。 そしてこのとき、 コントローラ 2 2は電圧制御型発振器 2 4に対して第 2の制御電圧を印加して、 該電圧制御型 発振器 2 4を 1 0 0 k Hz〜 7 0 0 k H z程度の周波数で発振動作させる。 こ れによって特定の渦電流コイル 2 Xだけが 1 0 0 k Hz〜7 0 0 k H z程度の 周波数で順次低周波駆動される。 従って電圧制御型発振器 2 4はコントローラ
20 2 2と協働して、 渦電流コイル 2を高周波駆動する高周波駆動手段、 および渦 電流コイル 2を低周波駆動する低周波駆動手段として選択的に機能する。 尚、 渦電流コイル 2を順に選択しながら高周波駆動している過程において、 前述した特定の渦電流コイル 2 Xが選択されたとき、 これに同期して電圧制御 型発振器 2 4の作動を制御して該渦電流コイル 2 Xを低周波駆動するようにし
25 ても良い。 つまり特定の渦電流コイル 2 Xを低周波駆動し、 他の渦電流コイル 2を高周波駆動するように予め設定しておき、 コイルアレイ 1が有する複数の 渦電流コイル 2 ( 2 x ) を、 順次 1回だけ駆動することでコイルアレイ 1の全 域に亘る走査を完了するようにしても良い。
このようにして駆動条件を変えながら各渦電流コイル 2 ( 2 x ) を通電駆動 したときの各渦電流コイル 2 ( 2 x) の発振振幅が、 コイン 1 0によって変化 した渦電流コイル 2 ( 2 x) のインピーダンスを示す情報として、 増幅器 2 5 および振幅 Z位相検出器 2 6を介して順に検出される。 つまり増幅器 2 5は、 渦電流コイル 2 ( 2 x ) に対するインピーダンス計測手段として用いられてい る。
ここでコイン 1 0によって変化する渦電流コイル 2 ( 2 x ) のインピーダン スについて説明する。
図 8は電圧制御型発振器 2 4からの出力を受け、 マルチプレクサ 2 3の作動 の下で選択的に通電駆動される 1つの渦電流コイル 2と、 この渦電流コイル 2 により局部的に交流電磁界が加えられるコイン 1 0との関係を模式的に示して いる。 渦電流コイル 2が発生した交流電磁界 Ψがコイン 1 0に加えられると、 コイン 1 0の交流電磁界が横切る部位に渦電流 I cが発生する。 この渦電流 I c の大きさはコイン 1 0の材質や厚み (抵抗率) によって変化する。 またこの渦 電流 I cが発生する磁束は、 渦電流コイル 2が発生する交流磁束を打ち消すよ うに作用する。 この為、 渦電流コイル 2を駆動する電流が一定であっても、 渦 電流コイル 2が実質的に発生する磁束が減らされることになるので、 該渦電流 コイル 2のインダクタンス、 つまりインピーダンス Zが減少することになる。 換言すれば渦電流コイル 2からコイン 1 0に交流磁界を加えて該コイン 1 0 に渦電流を生起すると, この渦電流の影響を受けて渦電流コイル 2のインピー ダンスが低下する。 しかも渦電流 I cが発生する磁束が渦電流コイル 2に及ぼ す影響は、 渦電流コイル 2とコイン 1 0の表面との距離 dが短い程強く作用し、 渦電流コイル 2のインピーダンスの低下が大きい。
増幅器 2 5はこのような渦電流コイル 2のインピーダンスの変化を、 渦電流 コイル 2を駆動する信号の振幅の変化として捉えることで、 該渦電流コイル 2 のインピーダンスを検出する。 特にコイン 1 0に生じた渦電流の影響を受けて 変化する渦電流コイル 2のインピーダンスは、 コイン 1 0の材質のみならず、 コイン 1 0の表面の打抜模様による凹凸、 ひいては渦電流コイル 2との距離 d
5 の変化に依存するので、 このインピーダンスを検出することによりコイン 1 0 の特徴を抽出することが可能となる。
ちなみに渦電流コイル 2が発生する交流電磁界の周波数が高いほど、 コイン 1 0の表面に近い領域に渦電流が発生し、 逆に交流電磁界の周波数が低くなる とコイン 1 0の内部に磁界が浸透してその内部に渦電流が発生し易くなる。 従
10 つてコイル表面の打抜模様をなす凹凸の情報を検出する場合には、 打抜模様を なす凹凸面を有するコイン 1 0の表面に渦電流を生起するように、 例えば 1 M Hz程度の高周波にて渦電流コイル 2を駆動するようにすれば良い。 このよう にしてコィン 1 0の表面に渦電流 I cを生起すれば、 コイン 1 0の表面の凹凸 によって変化する渦電流コイル 2との距離 dによって、 上記渦電流 I cの影響 i s が渦電流コイル 2に大きく作用し、 該渦電流コイル 2のインピーダンスを大き く変化させる。 この結果、 渦電流コイル 2のインピーダンスの変化から、 コィ ン 1 0の表面の打抜模様がなす凹凸を効果的に検出することが可能となる。 逆にコイン 1 0の材質の情報を検出する場合には、 その材質によって渦電流 I cが大きく変化するようにコイン 1 0の内部において渦電流を発生させるベ
20 く、 例えば渦電流コイル 2の駆動周波数を 1 0 k H z〜l 0 0 k Hz程度と低 く設定するようにすれば良い。 このようにコイン 1 0の内部に渦電流 I cを発 生させれば、 その表面の凹凸による渦電流コイル 2との距離 dの変化の影響を 殆ど受けることなく、 コイン 1 0の内部に発生した渦電流 I cの大きさの影響 だけが渦電流コイル 2に及ぶことになる。 しかもコイン 1 0の内部に発生する
25 渦電流 I cの大きさは、 コイン 1 0の材質に大きく左右されるので、 渦電流コ ィル 2のインピーダンスの変化から、 コイン 1 0の材質に関する情報を得るこ とが可能となる。 前述した如く電圧制御型発振器 2 4の作動を制御して設定さ れる渦電流コイル 2の駆動条件 (駆動周波数) は、 このような知見に基づいて 定められている。
次にマイクロプロセッサ 2 1により実行されるコイン識別処理について説明
5 する。
図 9はマイクロプ pセッサ 2 1の概略的な処理手順の一例を示している。 こ の処理は、 コイン通路に組み込まれる種々のコイン検出センサ (図示せず) を 用いてコイン 1 0の入力を検出することから開始される [ステップ S 1 ] 。 識 別対象とするコイン 1 0の入力が検出されると、 マイクロプロセッサ 2 1はコ 10 ン卜ローラ 2 2を起動し、 先ず電圧制御型発振器 2 4を高周波数で作動させる [ステップ S 2 ] と共に、 マルチプレクサ 2 3の作動を制御してコイルアレイ 1の全ての渦電流コイル 2を順に高周波駆動する [ステップ S 3 ] 。 そしてこ れらの渦電流コイル 2の高周波駆動に同期して振幅 Z位相検出器 2 6を駆動し、 増幅器 2 5を介して計測される渦電流コイル 2のインピーダンスを順次検出し、 i s サンプル ·ホールドする [ステップ S 4 ] 。 このようにして計測された各渦電 流コイル 2のインピーダンスは、 マイクロプロセッサ 2 1が備えた内部メモリ (図示せず) に順次格納され [ステップ S 5 ] 、 これによつて複数の渦電流コ ィル 2の高周波駆動によるコイン 1 0の表面の凹凸情報の検出処理が終了する。 その後、 マイクロプロセッサ 2 1は、 先ず電圧制御型発振器 2 4を低周波数 20 で作動させる [ステップ S 6 ] と共に、 マルチプレクサ 2 3の作動を制御して コイルアレイ 1の中の特定された渦電流コイル 2 Xだけを順に高周波駆動する [ステップ S 7 ] 。 そしてこれらの渦電流コイル 2 Xの低周波駆動に同期して 振幅 Z位相検出器 2 6を駆動し、 増幅器 2 5を介して計測される渦電流コイル 2のインピーダンスを順次検出し、 これをサンプル ·ホールドする [ステップ 25 S 8 ] 。 このようにして計測された各渦電流コイル 2 Xのインピーダンスにつ いても、 マイクロプロセッサ 2 1が備えた内部メモリ (図示せず) に順次格納 する [ステップ S 9 ] 。 以上の処理によって渦電流コイル 2の低周波駆動によ るコイン 1 0の材質に関する情報の検出処理が終了する。
しかる後、 マイクロプロセッサ 2 1はその内部処理として、 前述した如くメ モリに格納した各渦電流コイル 2 ( 2 x) のインピーダンスに従い、 コイン 1 0の識別処理を開始する。 この識別処理は、 例えば先ず高周波駆動された各渦 電流コイル 2のインピーダンスを所定の閾値で弁別し、 インピーダンスの変化 のない渦電流コイル 2と、 該渦電流コイル 2のコイルアレイ 1上における配列 位置とを調べる [ステップ S 1 0 ] 。 そしてインピーダンス変化のない渦電流 コイル 2の位置情報から、 逆にインピーダンス計測時にコイン 1 0に対峙して いた渦電流コイル 2を求めて該コイン 1 0の外郭 (全体的な大きさ) を調べ、 その最大径をコイン 1 0の外径として計測する [ステップ S 1 1 ] 。 そしてこ の外径に従い、 予めマイクロプロセッサ 2 1に準備されている、 例えば図 1 0 に示すようなテーブルを参照してコイン 1 0の種別候補を選定する [ステップ S 1 2 ] 。
即ち、 テーブルには、 取り扱い対象 (識別対象) とする複数種のコイン (正 規のコイン) の外径や肉厚の情報、 更には材質の情報 (材質により変化する渦 電流コイルのインピーダンス) 、 打抜模様の凹凸情報 (凹凸によって変化する インピーダンスの情報) 等が、 予め基準データとして記述されている。 このよ うなテーブルを参照することで、 計測されたコイン 1 0の外郭 (外径) に従つ て該コイン 1 0が該当すると考えられるコインの種別をその候補として選定す る。 尚、 該当する種別候補が見出されなかった場合には [ステップ S 1 3 ] 、 当該コイン 1 0を取り扱い対象とするコインでない (偽貨) としてリジェクト する [ステップ S 1 4 ] 。
さて上述した如くしてコィン 1 0に対する種別候補が求められたならば、 次 に前述した特定の渦電流コイル 2 Xを低周波駆動して検出された該渦電流コィ ル 2のインピーダンスをメモリから読み出し、 このインピーダンスを前記テ一 ブルに記述されている該当種別候補の材質の情報 (材質により変化する渦電流 コイルのインピーダンス) とマッチング処理する [ステップ S 1 5 ] 。 この場 合、 テーブルに記述されたコイン 1 0の材質の情報を示す渦電流コイルのイン ピーダンスの求め方に応じて、 例えば特定された 4個の渦電流コイル 2 Xの各
5 インピーダンスの総和、 或いは各インピーダンスの平均を計測インピーダンス として求め、 この計測ィンピ一ダンスをテーブルに記述されたィンピーダンス と比較する。
そしてこのインピーダンスのマッチング処理により、 前述した如くコイン 1 0の外径を基準として選択した種別候補が、 その材質の点でも整合性がとれて 10 いるか否かを判定する [ステップ S 1 6 ] 。 尚、 このインピーダンスのマッチ ング処理においてその整合性が見出されず、 コイン 1 0の材質が取り扱い対象 とするコインの材質と異なる場合には、 これを偽貨としてリジェクトする [ス テツプ S 1 4 ] 。
上述した材質についてのマッチング処理において、 種別候補との整合性が確 i s 認されたならば、 次にコイン 1 0の表面の打抜模様がなす凹凸情報に基づく識 別処理を実行する。 この処理は、 複数の渦電流コイル 2を高周波駆動した際に 求められる各渦電流コイル 2のインピーダンスを読み出し、 そのヒストグラム を作成することから開始される [ステップ S 1 7 ] 。 このヒストグラムは、 各 渦電流コイル 2のインピーダンスを、 その大きさに応じて予め設定した複数の 20 レベルに区分けし、 各レベル毎にその大きさのインピーダンスを有する渦電流 コイル 2の数を計数することによって作成される。 そして複数のレベルに区画 したインピーダンスを横軸とし、 渦電流コイル 2の数を縦軸とするヒス卜ダラ ムを作成することで、 インピーダンスの分布を表す。
ちなみに渦電流コイル 2を高周波駆動した際に求められる各渦電流コイル 2 25 のインピーダンスは、 前述したようにコイン 1 0の表面における凹凸面と渦電 流コイル 2との距離 dによって変化する。 しかもコイン 1 0の表面の凹凸はコ イン 1 0の打抜模様を示すものである。 これ故、 上述したように複数のレベル に区画されたインピーダンスは、 上記距離 dの違い、 ひいてはコイン 1 0の表 面の凹凸の程度を示す。 従って上述したヒストグラムは、 コイン 1 0の打抜模 様が形成された表面の凹凸の分布状況を示すものとなる。
このようなヒストグラムを、 テーブルに予め登録された取り扱い対象とする コィンの打抜模様の凹凸情報 (凹凸によって変化するインピーダンスのヒスト グラム) 、 特に前述した如く求められた種別候補のヒストグラムとマッチング 処理し [ステップ S 1 8 ] 、 これによつてコイン 1 0の打抜模様の整合性を判 定する [ステップ S 1 9 ] 。
ちなみに種別の異なるコイン 1 0の打抜模様が似ていても、 一般的にその打 抜模様がなす凹凸の具合が、 コインの種別によって大きく異なり、 またコイン 1 0の表面全域における凹凸の分布状況にも大きな違いがある。 特にコイン 1 0の重みを調整するべく、 その表面に穴を穿いて変造したような場合、 コイン 1 0の打抜模様自体が大きく変形される上、 凹凸の分布状況が大幅に変化する。 即ち、 外径や打抜模様が似ている 2種類のコインであっても、 例えば図 1 1 に示すように、 取り扱い対象とするコイン表面の凹凸の分布 (ヒストグラム
A) に比較して、 取り扱い対象外のコイン表面の凹凸の分布 (ヒストグラム
B ) は、 そのピーク位置や拡がりの幅、 偏差等において顕著な差異を持つ。 従 つて凹凸の分布を示すヒストグラムを比較すれば、 コイン 1 0の表面に形成さ れた打抜模様がなす凹凸の状態、 つまり打抜模様の特徴を効果的に判定するこ とが可能となる。
そこでこのようなヒストグラムのマッチング処理により、 打抜模様が示す凹 凸情報の整合性が確認されたとき、 前述した如く求められた候補種別を、 当該 コイン 1 0の種別であるとして確定する [ステップ S 2 0 ] 。 またヒストグラ ムのマッチングに失敗した場合には、 その打抜模様が不的確であるとして、 つ まり取り扱い対象とするコインのものとは異なるとして、 そのコイン 1 0をリ ジェクトする [ステップ S I 4 ] 。
尚、 上述したインピーダンスのヒストグラムによるコイン 1 0の表面の打抜 模様のマッチング処理については、 コイン 1 0の両面 (表裏面) にそれぞれ対 向配置された 2つのコイルアレイ 1にてそれぞれ検出される情報 (インピーダ ンス) について、 コイン 1 0の表面および裏面の各打抜模様に対してそれぞれ 実行することが好ましい。
かくしてこのようにして渦電流コイル 2 ( 2 x ) のインピーダンスの変化と して、 コイン 1 0の材質やコイン 1 0の外径、 更にはその表面の打抜模様がな す凹凸情報を検出し、 これらの情報に従ってコイン 1 0の種別やその真偽を判 定するコィン識別装置によれば、 光学的にコィン 1 0の表面の情報を検出する ものと異なって、 コイン表面に付着した埃や汚れに左右されることなく、 簡易 に、 且つ精度良くその識別を行い得る。 しかも渦電流コイル 2 ( 2 x ) から加 えた交流磁界によりコイン 1 0に生じる渦電流の影響を受けて変化する該渦電 流コイル 2 ( 2 x ) のインピーダンス自体を、 コイン 1 0の特徴情報として検 出するので、 交流磁界発生用のコイルとセンシング用のコイルとを別個に設け る必要がなく、 センシング部の構成が非常に簡単である。 従ってコイン 1 0の 表裏面の打抜模様がなす凹凸情報をそれぞれ検出するに際しても、 2つのコィ ルアレイ 1をコイン 1 0の両面にそれぞれ設けるだけで良いので、 その構成が 簡単である。
また渦電流コイル 2を高周波駆動することでコイン 1 0の表面部に渦電流を 生起させ、 そのときの渦電流コイル 2のインピーダンスの変化から凹凸情報を 検出し、 また渦電流コイル 2 Xを低周波駆動することでコイン 1 0の内部に渦 電流を生起させ、 そのときの渦電流コイル 2 Xのインピーダンスの変化からコ イン 1 0の材質に関する情報を得るので、 例えば渦電流コイル 2 ( 2 x ) の駆 動条件を変えるだけでコィン 1 0の異なる性質の特徴をそれぞれ効果的に検出 することができる。 更にはコィン 1 0の表面の打抜模様がなす凹凸を示す渦電流コイル 2のイン ピ一ダンスの変化として検出し、 このインピーダンスの分布を示すヒストグラ ムを、 インピーダンス値を横軸とし、 各インピーダンス値を得た渦電流コイル 2の数を縦軸として作成することで、 コイン 1 0の表面の凹凸がなす打抜模様 の特徴を捉えている。 そしてこのヒストグラムをマッチング処理するので、 コ イン 1 0の表面の打抜模様の特徴に基づく識別 (照合) が容易であり、 しかも その識別精度を十分に高くし得る。 またこのようなヒストグラムを用いること により、 打抜模様を示す情報を回転させて模様の方向を揃える等の煩雑な処理 が不要となるので、 識別処理の大幅な簡素化と、 処理所要時間の短縮化を図る こととができる等の利点がある。
尚、 本発明は上述した実施形態に限定されるものではない。 例えば渦電流コ ィル 2を高周波駆動して求められるコイン 1 0の表面の凹凸情報から、 図 5に 示すようにコイン 1 0の表裏面と、 その両側に対向配置された 2つのコイルァ レイ 1 (渦電流コイル 2 ) との平均的な離間距離 d avel , d ave2をそれぞれ求 め、 これらのコイルアレイ 1間の対向距離 Dとから (t = D— d avel— d ave2) としてコイン 1 0の厚み tを計測し、 この厚み tをテーブルに登録され ているコィンの厚み情報と比較照合して、 コィンの識別処理を補助するように しても良い。
また実施形態においては、 コイン 1 0の打抜模様の情報を、 凹凸を示すイン ピーダンスのヒストグラムとして捉えて識別処理に用いたが、 打抜模様が形成 するコイン 1 0の各部における凹凸情報 (インピーダンス) を輝度情報とし、 その検出位置を平面座標として展開した 2次元画像ィメージとして捉えて識別 処理するようにしても良い。 或いは打抜模様が形成するコイン 1 0の各部にお ける凹凸情報 (インピーダンス) を渦電流コイル 2との距離 (高さ) とし、 そ の検出位置を平面座標として展開した 3次元的データとして捉えて識別処理に 用いることも可能である。 更には渦電流コイル 2 xを低周波駆動してコイン 1 0の材質に関する情報を 得るに際し、 その駆動周波数を所定の周波数範囲 (例えば 1 0 k H z〜7 0 0 k Hz) において段階的に変えて、 或いは所定の周波数範囲において連続的に 変化させて各周波数毎にそのインピーダンスを計測し、 このインピーダンスの 周波数に依存する変化パターンを捉えてコイン 1 0の材質を判定するように構 成することも可能である。 この場合には、 渦電流コイル 2 Xを低周波駆動する 際、 コントローラ 2 2の制御の下で電圧可変型発振器 2 4の発振周波数を可変 制御するようにすれば良い。
またコイン 1 0の厚みを求めるに際し、 渦電流コイル 2 x, 2 yを高周波駆 動することのみならず、 低周波駆動したときのインピーダンスに着目しても良 い。 更には渦電流コイル 2 x, 2 yの駆動周波数を、 低周波域から高周波行き に亘つて走査し、 計測されたインピーダンスとそのときの駆動周波数との関係 等に着目してコイン 1 0の厚みを求めるようにすることも可能である。
またコイルアレイ 1として組み込む渦電流コイル 2の数や、 その配列ピッチ、 更にはその配列パターン等は、 取り扱い対象とするコインの仕様に応じて定め れば良いものであり、 要は本発明はその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して 実施することができる。 産業上の利用可能性
本発明によれば、 渦電流コイルを高周波駆動してコインに高周波磁界を加え、 そのときの各渦電流コイルのインピーダンスからコイン表面における打抜模様 の凹凸情報を得、 また特定の渦電流コイルを低周波駆動したときの渦電流コィ ルのィンピーダンスからコィンの材質に関する情報を得てコインの種類や真偽 を識別するので、 簡易にして高精度にコインを識別することができる。 これ故、 コイン表面に付着した埃や汚れ等の影響を受けることなく高精度にコインの種 別や真偽を識別しうるコィン識別装置を提供することができる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 2次元配列されてコイン表面に対向配置される複数の渦電流コイルと、 これらの渦電流コイルを高周波駆動し、 前記コインに局所的に高周波磁界を 加えて渦電流を生起する高周波駆動手段と、
前記渦電流コイルを低周波駆動し、 前記コインに低周波磁界を加えて渦電流 を生起する低周波駆動手段と、
前記コィンに磁界を加えた渦電流コイルの、 該コィンに生じる渦電流に起因 して変化するインピーダンスを検出するインピーダンス計測手段と、
前記渦電流コイルを低周波駆動したときの該渦電流コイルのインピーダンス と、 正規のコインについて予め求められている上記インピーダンスの標準値と を比較して該コィンの材質を判定する材質判定手段と、
前記渦電流コイルを高周波駆動したときの各渦電流コイルのインピーダンス から、 コイン表面における打抜模様の凹凸情報を求める特徴抽出手段と、 この特徴抽出手段にて求められた打抜模様の凹凸情報と、 予め求められてい る正規のコインの打抜模様の凹凸情報とを比較してコインの種別を識別する模 様判定手段と
を具備したことを特徴とするコィン識別装置。
2 . 前記特徴抽出手段は、 前記渦電流コイルを高周波駆動したときの各渦電 流コイルのインピーダンスから、 該インピーダンスの分布を示すヒストグラム を、 コイン表面における打抜模様の凹凸情報を表す特徴情報として作成するヒ ストグラム作成手段からなることを特徴とする請求の範囲 1に記載のコィン識 別装置。
3 . 前記複数の渦電流コイルは、 平面上に方形状の格子をなして或いは所定 の幾何学的配列をなしてコイルアレイを形成し、
前記高周波駆動手段は、 前記コイルアレイを構成する全ての渦電流コイルを 順に高周波駆動してコィンの全域を走査し、 前記低周波駆動手段は前記コイル ァレイ中の特定の渦電流コイルだけを低周波駆動することを特徴とする請求の 範囲 1に記載のコィン識別装置。
4. 前記低周波駆動される特定の渦電流コイルは、 コイルアレイをなす複数 の渦電流コイル中の略中央部に配列された所定個数の渦電流コイルからなるこ とを特徴とする請求の範囲 3に記載のコィン識別装置。
5. 前記複数の渦電流コイルは、 コイルアレイを形成して設けられて高周波 駆動される複数の渦電流コイルと、 このコイルアレイの側部に並べて設けられ て低周波駆動される渦電流コイルとからなることを特徴とする請求の範囲 1に 記載のコイン識別装置。
6. 前記複数の渦電流コイルは、 コイルアレイを形成して設けられて高周波 駆動される複数の渦電流コイルと、 このコイルアレイに重ねて設けられて低周 波駆動される渦電流コイルとからなることを特徴とする請求の範囲 1に記載の コイン識別装置。
7. 請求の範囲 1に記載のコイン識別装置であって、
更に前記渦電流コイルを高周波駆動したときの各渦電流コイルのインピーダ ンスからコインの直径を計測するコイン径計測手段を備えることを特徴とする コイン識別装置。
8. 請求の範囲 1に記載のコイン識別装置であって、
更に前記渦電流コィルを所定の周波数で駆動したときの各渦電流コィルのィ ンピ一ダンスからコインの厚みを計測するコイン厚計測手段を備える特徴とす るコイン識別装置。
9. 請求の範囲 1に記載のコィン識別装置であって、
更に前記渦電流コイルを高周波駆動したときの各渦電流コイルのインピーダ ンスから、 コィル表面における打抜模様の凹凸情報を 2次元または 3次元ィメ ージとして捉えるイメージ処理手段を備えることを特徴とするコイン識別装置。
1 0. 前記高周波駆動手段は、 7 0 0 k H z〜 1 MHz程度の周波数で前記 渦電流コイルを駆動して高周波電磁界を発生させ、 前記低周波駆動手段は、 1 0 k H z〜l 0 0 k Hz程度の周波数で前記渦電流コイルを駆動して低周波電 磁界を発生させることを特徴とする請求の範囲 1に記載のコイン識別装置。
1 1 . 前記高周波駆動手段および低周波駆動手段は、 外部から加えられる制 御電圧により発振周波数が可変制御される電圧制御型発振器からなり、 上記制御電圧を切り替えることにより渦電流コイルを駆動する周波数を切り 替えて、 高周波駆動手段または低周波駆動手段として機能することを特徴とす る請求の範囲 1に記載のコイン識別装置。
1 2. 前記複数の渦電流コイルは、 マルチプレクサを介して電圧制御型発振 器からの出力を択一的に受けて発振駆動され、
上記マルチプレクサは、 電圧制御型発振器の出力を加える渦電流コイルを高 速に走査することを特徴とする請求の範囲 1に記載のコイン識別装置。
1 3. 前記低周波駆動される渦電流コイルは、 高周波駆動される複数の渦電 流コイルとは別に設けられることを特徵とする請求の範囲 1に記載のコイン識 別装置。
1 4. 前記低周波駆動手段は、 1 0 0 k Hz近傍の複数種の周波数で前記渦 電流コイルを選択的に駆動して、 或いは 1 0 0 k Hz近傍の周波数範囲で前記 渦電流コイルの駆動周波数を連続的に変化させて、 コインの複数の部位に加え る低周波電磁界を発生させることを特徴とする請求の範囲 1に記載のコイン識 別装置。
1 5. 前記複数の渦電流コイルは、 平面上にマトリックス配列されてコイル アレイをなし、 コインの表裏面にそれぞれ対向配置されることを特徴とする請 求の範囲 1に記載のコィン識別装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003041021A1 (en) * 2001-11-05 2003-05-15 Scan Coin Industries Ab Coin discriminator where frequencies of eddy currents are measured
US7490709B2 (en) 2001-03-22 2009-02-17 Scan Coin Industries Ab Coin discriminating device and method, and a coin handling machine including such a device and method
US7584833B2 (en) 2003-09-24 2009-09-08 Scancoin Industries Ab Coin discriminators

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6907977B1 (en) * 2000-01-28 2005-06-21 Cashcode Company Inc. Capacitance sensor for coin evaluation
JP2002109596A (ja) * 2000-09-28 2002-04-12 Nippon Conlux Co Ltd 貨幣識別方法及び装置
WO2002067209A2 (en) * 2001-02-20 2002-08-29 Cubic Corporation Inductive coin sensor with position correction
EP1439499A1 (en) * 2003-01-20 2004-07-21 IPM International SA Method and device to recognize coins in a validation unit
JP2004227133A (ja) * 2003-01-21 2004-08-12 Internatl Currency Technologies Corp 硬貨受け取り器の検出装置
US20050224313A1 (en) * 2004-01-26 2005-10-13 Cubic Corporation Robust noncontact media processor
EP2071525A1 (en) * 2007-12-07 2009-06-17 ACS Solutions Switzerland AG Coin verifier
CN101286248B (zh) * 2008-05-22 2010-06-02 中钞长城金融设备控股有限公司 硬币磁电特性参数动态多频检测方法及检测仪
AT509885B1 (de) * 2010-12-28 2011-12-15 Novotech Elektronik Gmbh Vorrichtung und verfahren zur münzerkennung
TWI423174B (zh) * 2011-02-01 2014-01-11 Int Currency Tech Coin detection device
WO2013138152A1 (en) * 2012-03-14 2013-09-19 Mei, Inc. Coin sensor
US20140182996A1 (en) * 2012-08-13 2014-07-03 Keith Itzhak Bartfeld Silver Coin Keeper
CN103295312B (zh) * 2013-05-31 2015-07-15 深圳市九洲电器有限公司 一种电子钱包
US9449451B2 (en) * 2013-10-14 2016-09-20 Michael J. Hall Coin identifier
JP6425878B2 (ja) * 2013-10-18 2018-11-21 株式会社日本コンラックス 硬貨処理装置
CN103617669B (zh) * 2013-11-05 2016-08-17 无锡乐尔科技有限公司 一种硬币检测装置
CN104134269B (zh) * 2014-06-23 2017-07-07 江苏多维科技有限公司 一种硬币检测系统
US9508208B1 (en) 2014-07-25 2016-11-29 Cummins Allison Corp. Systems, methods and devices for processing coins with linear array of coin imaging sensors
JP6352124B2 (ja) * 2014-09-16 2018-07-04 株式会社日本コンラックス 硬貨処理装置
JP6277350B2 (ja) * 2014-12-16 2018-02-14 旭精工株式会社 硬貨識別装置
CN105809810A (zh) * 2014-12-31 2016-07-27 聚龙股份有限公司 一种硬币检测系统及方法
TWI579577B (zh) 2015-06-29 2017-04-21 謝振傑 基於磁特性檢測技術的檢測方法、造影方法與相關裝置
US10181234B2 (en) 2016-10-18 2019-01-15 Cummins-Allison Corp. Coin sorting head and coin processing system using the same
US10679449B2 (en) 2016-10-18 2020-06-09 Cummins-Allison Corp. Coin sorting head and coin processing system using the same
JP6834419B2 (ja) * 2016-11-30 2021-02-24 富士電機株式会社 硬貨識別装置
CN107918968A (zh) * 2017-10-27 2018-04-17 广州畅阳电子科技有限公司 一种硬币识别装置及识别方法
CN107909707A (zh) * 2017-10-27 2018-04-13 广州畅阳电子科技有限公司 一种硬币识别算法及系统
JP6992445B2 (ja) * 2017-11-27 2022-01-13 富士電機株式会社 硬貨検知用アンテナおよび硬貨処理装置
US20200027299A1 (en) * 2018-07-17 2020-01-23 Revolution Retail Systems Llc Metal detection systems and methods

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10162189A (ja) * 1996-11-27 1998-06-19 Canon Electron Inc 硬貨識別装置
JPH11175793A (ja) * 1997-12-16 1999-07-02 Sankyo Seiki Mfg Co Ltd 表面形状検出用センサ
JPH11250305A (ja) * 1998-02-26 1999-09-17 Nippon Conlux Co Ltd コインの真贋性を検査する方法及び装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3870137A (en) * 1972-02-23 1975-03-11 Little Inc A Method and apparatus for coin selection utilizing inductive sensors
GB8500220D0 (en) * 1985-01-04 1985-02-13 Coin Controls Discriminating between metallic articles
GB9117849D0 (en) * 1991-08-19 1991-10-09 Coin Controls Coin discrimination apparatus
JP3031525B2 (ja) * 1995-01-27 2000-04-10 旭精工株式会社 電子式の硬貨選別装置
JPH1151905A (ja) * 1997-08-04 1999-02-26 Tokyo Gas Co Ltd 渦流探傷装置用探傷コイルアレイおよび該探傷コイルアレイを用いた渦流探傷方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10162189A (ja) * 1996-11-27 1998-06-19 Canon Electron Inc 硬貨識別装置
JPH11175793A (ja) * 1997-12-16 1999-07-02 Sankyo Seiki Mfg Co Ltd 表面形状検出用センサ
JPH11250305A (ja) * 1998-02-26 1999-09-17 Nippon Conlux Co Ltd コインの真贋性を検査する方法及び装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7490709B2 (en) 2001-03-22 2009-02-17 Scan Coin Industries Ab Coin discriminating device and method, and a coin handling machine including such a device and method
WO2003041021A1 (en) * 2001-11-05 2003-05-15 Scan Coin Industries Ab Coin discriminator where frequencies of eddy currents are measured
US7537099B2 (en) 2001-11-05 2009-05-26 Scan Coin Industries Ab Coin discriminator where frequencies of eddy currents are measured
US7584833B2 (en) 2003-09-24 2009-09-08 Scancoin Industries Ab Coin discriminators

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