WO1999054775A1 - Procede de production d'un dispositif de modulation de lumiere et d'un projecteur - Google Patents

Procede de production d'un dispositif de modulation de lumiere et d'un projecteur Download PDF

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WO1999054775A1
WO1999054775A1 PCT/JP1998/001787 JP9801787W WO9954775A1 WO 1999054775 A1 WO1999054775 A1 WO 1999054775A1 JP 9801787 W JP9801787 W JP 9801787W WO 9954775 A1 WO9954775 A1 WO 9954775A1
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light
thin film
modulation device
light modulation
electrode
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PCT/JP1998/001787
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Osamu Yokoyama
Tatsuya Shimoda
Satoru Miyashita
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Seiko Epson Corporation
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    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N5/00Details of television systems
    • H04N5/74Projection arrangements for image reproduction, e.g. using eidophor
    • H04N5/7416Projection arrangements for image reproduction, e.g. using eidophor involving the use of a spatial light modulator, e.g. a light valve, controlled by a video signal
    • H04N5/7458Projection arrangements for image reproduction, e.g. using eidophor involving the use of a spatial light modulator, e.g. a light valve, controlled by a video signal the modulator being an array of deformable mirrors, e.g. digital micromirror device [DMD]

Definitions

  • the present invention relates to a light modulation device used for a projector or the like, and more particularly, to a technique for manufacturing a light modulation device capable of preventing diffuse reflection of a reflection mirror.
  • U.S. Pat. No. 4,441,791 discloses a method for manufacturing a reflective mirror film and the structure of a light modulation device using the reflective mirror film.
  • a reflecting mirror film was formed by first forming a nitrocellulose film by flowing it on the water surface, pulling it up with a screen on a mesh, and then depositing a metal film.
  • this technology does not form a reflective mirror film on a hard substrate, so it is difficult to attach a thin reflective mirror film to an appropriate position on the drive element substrate without physical deformation. It is considered to be.
  • the reflective mirror film is attached to the drive element substrate while it is loose, the amount of light reflected in unnecessary directions increases when modulating the illumination light, and the contrast between the modulated light and the unmodulated light is increased. This causes a problem that the light use efficiency decreases.
  • Japanese Patent Laid-Open Publication No. Hei 6-310066 discloses that a mirror array is provided on a glass substrate, a resin layer is formed, and then the resin layer is peeled off from the substrate together with the mirror array. Is disclosed.
  • the technology disclosed in this document is a technology for bonding a light reflecting film to an actuator array. In order to operate the actuator array, the driving element A further step of bonding the sub-substrate to the factory array is required. Therefore, there is a problem that the process of manufacturing the light modulation device is complicated.
  • a light modulation device by forming a reflection mirror on a substrate such as silicon and then removing the deformed portion of the reflection mirror by etching in a window shape.
  • the light modulation device having a simple structure can be provided without forming the reflection mirror in a loose shape. According to the light modulation device manufactured in this manner, the illumination light required for display enters from the window provided on the silicon substrate, is reflected by the reflection mirror, and exits again from the window.
  • the substrate In a configuration in which a window is provided in the substrate, light is incident and emitted through the window provided in the substrate, so that part of the reflected light is blocked or irregularly reflected by the side wall of the window.
  • the substrate must have a certain thickness (about 10) so that it can be handled easily and safely in the manufacturing process. Therefore, the height of the side walls is arbitrarily low, that is, the substrate cannot be thinned. No As a minimum, the substrate needs to be about 100 m thick.
  • the side wall of the window is twice as high as the width.
  • a considerable part of the light reflected at the peripheral portion of the reflecting mirror is blocked or reflected by the side wall, that is, a so-called irregular reflection state is obtained.
  • a first object of the present invention is to eliminate irregular reflection and to make it easy to deform without slack.
  • An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a light modulation device capable of performing light modulation with high light use efficiency by including a step of forming a reflection mirror.
  • a second object of the present invention is to provide a projecting device that can obtain a bright, well-contrast projected image by providing a reflective mirror that is free from irregular reflection and easy to deform without slack.
  • a reflective mirror layer that forms a reflective mirror layer that can reflect light with a piezoelectric material (for example, a ferroelectric or paraelectric piezoelectric ceramic) on the release layer formed in the release layer forming step.
  • a piezoelectric material for example, a ferroelectric or paraelectric piezoelectric ceramic
  • the driving substrate provided with active elements (such as thin film transistors) corresponding to the pixel area and the reflective mirror layer laminated on the heat-resistant substrate are electrically connected corresponding to each pixel area (for example, active The output of the device is connected to the second electrode thin film)
  • the reflection mirror layer may have another layer other than the piezoelectric layer.
  • the piezoelectric layer may have a plurality of laminated structures.
  • the reflecting mirror single-layer forming step includes a step of forming a first electrode thin film on the release layer, a step of forming a piezoelectric thin film on the first electrode thin film, and a step of forming a first thin film on the piezoelectric thin film.
  • the first electrode thin film is formed of a material having light reflectivity.
  • the first electrode thin film and the second electrode thin film is formed of a material having light reflectivity. Is also good.
  • the second electrode thin film and the piezoelectric thin film are electrically isolated in pixel region units, and are patterned (other (A square, polygonal or circular shape so as to be separated from the electrode). Specifically, in the step of patterning the second electrode thin film and the piezoelectric thin film, the second electrode thin film and the piezoelectric thin film are patterned into a polygon. In addition, the second electrode thin film and the piezoelectric thin film are formed in a circular shape.
  • a connection electrode (for example, a pattern formed of gold and formed in a bank shape) is provided on one of the drive substrate and the reflection mirror layer. And a step of electrically connecting the drive substrate and the reflection mirror layer by the connection electrode. Specifically, in the connection step, a connection electrode is formed of gold.
  • a projector that solves the second problem is a projector provided with a light modulation device manufactured by the manufacturing method of the present invention
  • an illumination optical system that emits illumination light substantially parallelized from a direction substantially perpendicular to the light modulation device
  • a light-blocking optical system that blocks either reflected light from a pixel region driven by an active element or a pixel region that is not driven in a light modulation device; andc) an image of light that has passed through the light-blocking optical system.
  • a display optical system that forms a display image by using a projector.
  • FIG. 1 shows a method (part 1) for manufacturing a light modulation device according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 A method of manufacturing a light modulation device according to the first embodiment of the present invention (part 2).
  • FIG. 3 is a perspective view of a light modulation device manufactured by the manufacturing method according to the first embodiment.
  • FIG. 4 is a structural diagram of an optical system of a projector using the light modulation device of the first embodiment.
  • FIG. 5 A part of the method for manufacturing the light modulation device according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 shows a part of a method for manufacturing an optical modulation device according to the third embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is a structural diagram of an optical system of a projector according to a fourth embodiment.
  • the first embodiment of the present invention relates to a method for manufacturing a light modulation device used in a project for projecting an image on a screen.
  • FIGS. 1 and 2 show structural diagrams of the substrate in each step of the manufacturing method according to the first embodiment. These structural diagrams are cross-sectional views of a manufacturing process in which a part of a large number of pixels formed on one substrate is enlarged.
  • a release layer (light absorbing layer) 11 is formed on a substrate 1 °. It is assumed that the substrate 10 is capable of transmitting irradiation light 12 (described later) which will be described later.
  • the transmittance of the irradiation light is preferably 10% or more. This is because the lower the transmittance, the greater the attenuation of irradiation light.
  • the substrate 10 needs to be a material having heat resistance and high reliability in strength. In this embodiment, Since the entire substrate must be kept in a high-temperature environment in the metallurgical process (Fig. 1 (C)), the substrate must not be denatured at this temperature. For these reasons, quartz glass is used in this embodiment.
  • the thickness of the substrate 10 is 0.1 mn! About 5 mm, preferably about 0.5 mm to 1.5 mm. If the substrate is too thick, the attenuation of irradiation light will increase, and if it is too thin, the strength of the substrate will decrease.
  • the peeling layer 11 absorbs the irradiation light 12 and causes peeling in the layer and at the interface.
  • the peeling layer 11 is made of a material that loses or reduces the bonding force between atoms or molecules of the constituent material by irradiation light, causes abrasion or the like, and causes peeling.
  • amorphous silicon (a-Si) or polycrystalline silicon can be used as the composition of such a peeling layer 11.
  • Amorphous silicon is preferable as a material for the peeling layer because it withstands heat of about 900 ° C. in the thermal annealing step of the present embodiment and shows a high absorptance to a constant irradiation light.
  • an oxide or a metal that can withstand heat generated when the piezoelectric film is thermally annealed and that can be separated by concentrating the energy of illumination light can be used as a material of the separation layer.
  • the refractive index of titanium oxide is sufficiently higher than that of a substrate made of quartz, it is considered that light confinement occurs due to its film thickness and energy can be concentrated. Therefore, when the release layer is formed to a thickness that allows light to be confined in accordance with the wavelength of the irradiation light, it is considered that titanium oxide can be used as a material for the release layer.
  • the thickness of the release layer 11 is preferably about 10 nm to 20 m, and more preferably about 40 nm to 2. If the thickness of the release layer is too large, the uniformity of the formed film thickness will be lost, causing unevenness in the release. If the thickness of the release layer is too large, the power of the irradiation light required for the release This is because it is necessary to increase the (light amount) and it takes time to remove the residue of the peeling layer left after the peeling.
  • the method for forming the release layer 11 may be any method that can form the release layer with a uniform thickness, and can be appropriately selected according to various conditions such as the composition and thickness of the release layer. When the composition of the release layer is amorphous silicon, the film is preferably formed by a CVD method. For a film having another composition, a general thin film forming method such as a sputtering method or an evaporation method can be used.
  • an intermediate layer may be provided on the release layer 11.
  • the intermediate layer functions as a protective layer that insulates the transferred layer during production or use, for example, and functions as a barrier layer that prevents migration of components.
  • the composition of the intermediate layer can be appropriately selected according to the purpose.
  • an intermediate layer formed between the amorphous silicon in configured peel layer and the transfer layer include silicon oxide, such as S I_ ⁇ 2.
  • Examples of the composition of the other intermediate layer include metals such as Au, W, Ta,? O, Cr, and? I or alloys containing these as main components.
  • the thickness of the intermediate layer is appropriately determined according to the purpose of forming the intermediate layer.
  • the intermediate layer is preferably about 10 nm to 5 nm, and more preferably about 40 nm to 1 m.
  • various methods described for the release layer can be applied.
  • the intermediate layer may be formed as a single layer, or may be formed as two or more layers using a plurality of materials having the same or different compositions.
  • a transparent dielectric film 309 made of silicon dioxide is provided as an intermediate layer.
  • Piezoelectric layer formation (FIG. 1 (b)): On the release layer 11, a piezoelectric layer (reflection mirror layer) 3 in which a common electrode film 300 and a piezoelectric film 301 are laminated is formed. However, the mirror electrode film 302 of the piezoelectric layer 3 is formed after the thermal annealing step in order to prevent deterioration of characteristics due to thermal annealing.
  • the composition of the common electrode film 300 is preferably a material that is conductive, hardly changes in characteristics for a long time, and has high resistance to heat in the manufacturing process, for example, a metal such as Pt.
  • the piezoelectric film 301 a material whose shape expands and contracts by application of a voltage is used. strength Preferably dielectric piezoelectric ceramic, lead zirconate titanate (P b (Z r, T i) ⁇ 3: PZT), lead lanthanum titanate ((P b, L a) T I_ ⁇ 3), di Rukoniumu acid lead lanthanum ((Pb, La) Z r 0 3: PLZT) or magnesium Umuniobu zirconium titanate (Pb (Mg, N b) (Z r, T i) ⁇ 3: PMN - PZT) using such I do.
  • the piezoelectric film is formed by a sputtering method and a sol-gel method.
  • the thickness of the piezoelectric film can be variously changed depending on the required volume change, but a piezoelectric film having a thickness of about 0.8 can be formed.
  • a pattern of the common electrode may be formed by using a known pattern forming technique.
  • Fig. 1 (c) Thermal annealing process: Next, an annealing process is performed to form a crystal structure that functions as a piezoelectric body.
  • the piezoelectric layer 3 formed on the substrate 10 is placed in a furnace, and the entire substrate is heated.
  • Pattern formation (FIG. 1 (d): After the thermal annealing process, a mirror electrode film 302 is formed on the piezoelectric film 301.
  • the composition of the mirror electrode film 302 is preferably one that is conductive, hardly changes in characteristics over time, and has high resistance to heat in the manufacturing process. If the temperature is low, use a metal thin film such as Pt, Ti, Al, and Ag.
  • a known pattern forming technique for example, a photolithography method is applied to the mirror electrode film 302 to form a pattern. That is, a desired electrode pattern is formed by performing processes such as resist coating, masking, exposure, development, and etching. The electrode portion left in each pixel in this pattern formation becomes a mirror element 307 which is a reflection mirror.
  • the mirror element 307 is formed into a shape and an area capable of sufficiently reflecting illumination light as a reflection mirror.
  • the electrode area on the mirror electrode film 302 side of the mirror element 307 is patterned so as to be smaller than the electrode area on the common electrode film 300 side.
  • a voltage is applied to the piezoelectric film 301 to perform polarization processing in a direction perpendicular to the film.
  • the deformation direction of the mirror element 307 will be described.
  • the piezoelectric film contracts in-plane according to the polarization direction and the direction of the applied electric field.
  • the common electrode film 300 is physically constrained by the bumps 308, and the mirror electrode film 302 is not constrained except for a part. Therefore, the mirror element 307 including the piezoelectric film is deformed so as to protrude upward in FIG. 2 (g).
  • the bumps 30 serving as electrode connection portions for making an electrical connection with the mirror electrode connection thick film 207 (described later) provided on the drain electrode of the thin film transistor 205 are formed. 8 is formed.
  • the bump 308 is formed on a part of the mirror element 307. Since the bump 308 is connected to the drain of the thin film transistor with a very small area, it is preferable that the bump 308 be formed of a material having a low contact resistance and a surface that does not easily oxidize, for example, gold (Au).
  • Au gold
  • a metal film may be formed on the mirror electrode film before forming the gold bump.
  • the distance between the piezoelectric layer 3 and the thin film transistor substrate 2 needs to be such that heat generated by the irradiation of the irradiation light 12 is not easily conducted to the thin film transistor 205. Therefore, the height of the bump 308 from the mirror electrode film 302 is set so that the sum of this height and the height of the mirror electrode connection thick film 207 satisfies this condition.
  • the thin film transistor (TFT) substrate 2 has an array structure of thin film transistors frequently used in ordinary liquid crystal display devices.
  • the manufacturing process is also based on the conventional method. That is, the thin-film transistor substrate 2 is composed of a thin-film transistor 205, a signal driver 201, a scanning driver circuit 203, and a wiring 202 for each pixel region on the substrate 200 such as glass or quartz. , 204 are formed.
  • each thin film transistor block Transistor element
  • the drain electrode 206 of the thin-film transistor 205 has a mirror electrode connection thick film electrically connected to the bump 308 of the piezoelectric layer 3. It is formed with a thickness of about 2 mm by the method.
  • the thin film transistor substrate 2 and the piezoelectric layer 3 laminated on the substrate 10 are pressed and connected to each other.
  • Thermocompression bonding is carried out in a heated environment to ensure the pressure bonding.
  • the bonding between the bump 308 and the mirror electrode connecting thick film 207 is alloyed by this pressure bonding, so that the connection resistance can be reduced and the connection strength can be increased.
  • Irradiation step (FIG. 2 (f): After the thin film transistor substrate 2 and the piezoelectric layer 3 are connected, light 12 is irradiated from the back side of the substrate 10 toward the release layer 11. Light 1 2
  • any light may be used as long as it effectively causes the peeling layer 11 to peel off in the layer or at the interface.
  • laser light is preferable because it easily causes abrasion.
  • excimer laser light having a wavelength of 248 nm or 308 nm is used.
  • the type and wavelength of the laser beam may be wavelength-dependent or cause gas release, vaporization, sublimation, etc., when causing abrasion in the release layer 11.
  • the decision is made in consideration of whether or not 20 phase changes are caused to cause separation.
  • the energy density of the irradiated laser beam is about 10 to 500 OmJ / cm 2 in the case of excimer laser light, and the irradiation time is about 1 to 100 nsec, preferably about 10 to 100 nsec. It is about 10 O nsec. If the energy density is too low or the irradiation time is too short, sufficient abrasion cannot be produced. On the other hand
  • the release layer 11 In addition to adversely affecting the electric conductor layer 3, the thin film transistor 205 may be destroyed.
  • the incident angle at the time of irradiation may not be vertical as long as the irradiation light 12 is irradiated with uniform intensity. Further, in order to irradiate the entire area of the peeling layer 11, the irradiation light may be divided into a plurality of times or the same portion may be irradiated two or more times. Further, the type of laser light, its wavelength, and the like may be changed depending on the region to be irradiated.
  • FIG. 3 is a perspective view illustrating the structure of a light modulation device manufactured by the above-described manufacturing method.
  • the piezoelectric layer 3 and the thin film transistor (TFT) substrate 2 are illustrated separately for convenience of explanation.
  • the light modulation device according to the present embodiment is a thin film transistor in which a piezoelectric layer 3 on which a mirror element 307 is arranged and a thin film transistor element 208 for driving each mirror element are arranged. It has a structure in which the substrate 2 is electrically connected.
  • the piezoelectric layer 3 includes a common electrode film 300, a piezoelectric film 301, and a mirror electrode film 302 formed by the manufacturing method according to the present embodiment. Further, FIG. 3 shows a case where a transparent dielectric film 309 is provided as the intermediate layer in the peeling step, which also has a function of protecting the piezoelectric layer 3.
  • a signal driver circuit 201 and a scan driver circuit 203 are formed on the thin film transistor substrate 2.
  • the signal driver circuit 201 is configured to be able to supply a switching signal based on on-off information in the horizontal direction (X-axis direction) of an image to the source of each thin film transistor 205 via the wiring 202. ing. Scanning dora
  • the driver circuit 203 transmits a switching signal based on on / off information in the vertical direction (Y-axis direction) of an image supplied from the display device to the gate of each thin film transistor 205, and outputs the switching signal to the gate of the thin film transistor 205. It is configured to be able to be supplied via 4.
  • the driving voltage generated at the drain electrode 206 of the thin film transistor 205 is supplied to the mirror electrode film 302 of each mirror element 307 via the mirror electrode connection thick film 207.
  • the piezoelectric film 301 shrinks in the in-plane direction, and the mirror element is deformed upward in FIG. That is, in the mirror element 307 to which the driving voltage is supplied, the reflection surface is a convex mirror, and the focal point is on the back surface of the mirror element 307. Therefore, the incident illumination light 304 becomes reflected light 300 having light spread by reflection by the convex mirror. On the other hand, in the mirror element 307 to which no drive voltage is supplied, the reflected light 306 is reflected in parallel because the reflecting surface is a plane mirror.
  • a projector using the light modulation device needs to be configured according to the mode of the deformation of the light modulation device.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view of a configuration diagram of a projector using the light modulation device (when deformed convexly) manufactured by the manufacturing method of the present embodiment.
  • a metal halide lamp which is a light source 41
  • a parabolic reflector 42 converted into a substantially parallel light beam, and deflected by a half mirror 43.
  • the light enters the light modulation device 44 according to the present embodiment.
  • the reflected light 30 6 is parallel, so that the light is condensed by the lens 45 via the light mirror 43 and becomes minute. It is incident on Mira 1 4 6. Since the reflecting surface has a constant angle with respect to the optical axis, the incident light Are all reflected and do not reach screen 49.
  • the reflected light 310 becomes divergent light such that light is emitted from the focal point 48 of the convex mirror. Therefore, this light passes through the lens 45, passes around the micro mirror 46, and forms an image on the screen 49 via the projection lens 47. That is, the irradiation light 105 is modulated in accordance with the image signal supplied to the light modulation device 44, and a display corresponding to the image signal is performed on the screen 49.
  • the reflected light 306 is not scattered, and the projected image becomes darker or the position of another pixel is reduced. Is not projected.
  • the piezoelectric layer is formed on the substrate via the release layer, the light incident surface of the mirror element after the substrate has been released at the release layer has a partition wall. There is no obstacle that blocks light. Therefore, the projected image can be brightened because it is not scattered by an obstacle. Also, there is no scattering due to obstacles, so there is no reduction in contrast. In addition, since the thermal annealing process for the piezoelectric layer can be performed before connecting to the thin film transistor substrate, there is no adverse effect on the thin film transistor and the like.
  • the second embodiment of the present invention provides a pattern forming method and a connection method different from the first embodiment.
  • FIG. 5 shows a part of the method of manufacturing the light modulation device according to the second embodiment.
  • the separation step (FIG. 2 (g)) from the release layer formation step (FIG. 1 (a)) to the thermal annealing step (FIG. 1 (c)) and the irradiation step (FIG. 2 (f)) The steps up to) are the same as those in the first embodiment, and a description thereof will not be repeated.
  • Pattern forming step (FIG. 5 (d)): The pattern formation on the mirror electrode film 302 is the same as in the first embodiment.
  • Mirror electrode film 302 After the formation of the evening, instead of the bump 308 of the first embodiment, a part of the mirror element 307 is connected to the drain electrode of the thin film transistor 205 for electrical connection with the drain electrode.
  • a film 310 is formed.
  • the drain electrode connection thick film 310 is formed by a known technique such as a plating method.
  • the metal relating to the plating a material which has a low contact resistance and whose surface is hardly oxidized, for example, gold (Au) is preferable.
  • the height of the drain electrode connection thick film 310 is set equal to the distance (described above) required between the piezoelectric layer 3 and the thin film transistor substrate 2.
  • the drain electrode 206 of the transistor element on the thin film transistor substrate 2 is electrically connected to the drain electrode connection thick film 310 formed on the mirror electrode 302. .
  • the thin film transistor (TFT) substrate 2 used in this embodiment is not provided with the mirror-electrode connection thick film 207 in the first embodiment.
  • the connection between the thin film transistor substrate 2 and the piezoelectric layer 3 laminated on the substrate 10 is made in the same manner as in the first embodiment.
  • the third embodiment of the present invention is different from the second embodiment in that a connection thick film is provided only on the thin film transistor substrate side.
  • FIG. 6 shows a part of a method of manufacturing the light modulation device according to the third embodiment.
  • the separation step (FIG. 2 (g)) from the release layer forming step (FIG. 1 (a)) to the thermal annealing step (FIG. 1 (c)) and the irradiation step (FIG. 2 (f)) ) are the same as those in the first embodiment, and thus description thereof is omitted.
  • Pattern forming step (FIG. 6 (d)): The pattern formation on the mirror electrode film 302 is the same as in the first embodiment. However, no bump 308 is provided on the mirror electrode 302 of the mirror element 307.
  • Connection Step (FIG. 6 (e)): In this embodiment, the drain electrode 206 of the transistor element 205 of the thin film transistor substrate 2 is electrically connected to the mirror element 307 by the following steps. A mirror-electrode connection thick film 210 is formed. This mirror electrode connection thick film 210 is higher in height than the mirror-electrode connection thick film 207 of the first embodiment. 5 This height is made equal to the required distance between the piezoelectric layer 3 and the thin film transistor substrate 2 (described above). The method of forming the thick film is the same as in the first embodiment.
  • This invention relates to a configuration of a projector that uses a light modulating device that deforms in a concave shape instead of the display device that uses a light modulating device that deforms in a convex shape shown in the first embodiment.
  • FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating the configuration of the projector. This figure shows a cross section of the optical component cut along the optical axis of the irradiation light.
  • the display device of the present embodiment includes a light modulation device 60, a light source 61, a reflector 62, a converging lens 63, is a small mirror 64, a collimating lens 65, and a projection lens.
  • the lens 6 is provided.
  • the light modulation device 60 the light modulation devices manufactured in the first to third embodiments can be applied. However, when viewed from the light incident side, the mirror element must have a structure that deforms concavely. The reflection surface of the light modulation device 60 is deformed into a concave shape by applying a voltage. Therefore, the reflected light reflected by the deformed mirror element 602 becomes
  • the illumination light 18 emitted from the light source 61 is reflected by the reflector 62 and is condensed by the converging lens 63 at the position of the minute mirror 64. Since the minute mirrors 64 are arranged at an angle of 45 ° with respect to the optical axis, the illumination light 18 enters the collimating lens 65 while diverging. Kolime
  • the overnight lens 65 converts this illumination light 18 into parallel light, and converts it into a light modulation device 60. Inject vertically.
  • the undeformed mirror 6001 has a flat reflecting surface, so that the reflected light 1991 returns to the collimating lens 65 as parallel light. Then, the light is condensed and reflected by the micro mirror 64 and cannot reach the projection lens 66. Therefore, the pixel is not displayed on the screen 67.
  • the size of the reflecting surface of the micromirror 64 is such that all reflected light 191 from the light modulation device 60 can be shielded when all mirror elements work as a flat mirror without deformation. Minimum size.
  • the deformed mirror 602 functions as a concave mirror
  • the reflected light 192 is incident on the collimating lens 65 via the focal point 603.
  • the reflected light 192 is converted into substantially parallel light by the collimator lens 65, and although part of the light is shielded by the micromirror 64, the light passing around the micromirror 64 is projected by the projection lens 66. And form a statue on screen 6-7.
  • the display on screen 67 is black.
  • the reflected light 192 from the mirror element 602 selected according to the image to be displayed is projected on the screen 67, so that an image is displayed on the screen 67 in a white color on a black background. Will be.
  • a rotating disk-shaped filter which is painted in three colors of red, green, and blue, is inserted between the reflector 62 and the converging lens 63 as is conventionally known.
  • Projection lens 6 The projection display and video camera Various display devices such as a camera viewfinder or a head mount display can be configured.
  • the light modulation device of the present invention which has no diffuse reflection and has good light use efficiency is provided, and there is no element for attenuating light unlike a half mirror. A good projected image can be obtained.
  • the present invention is not limited to the above embodiments of the present invention, but can be applied in various modifications.
  • the structure, composition, and film thickness of the piezoelectric film are not limited to those described above, and may be formed to have another structure.
  • Whether or not to form a transparent dielectric film that also serves as an intermediate layer when protecting and peeling the piezoelectric layer can be arbitrarily determined according to the properties of the piezoelectric body.
  • the transparent protective film on the surface of the common electrode film may be formed again after the step of removing the substrate is completed.
  • the shape of the mirror element 307 may be various shapes such as a polygon, a circle, and an ellipse in addition to a square as shown in FIG. That is, the electrode shape can be changed by performing masking so as to have an arbitrary electrode shape and performing electrode patterning.
  • the arrangement of the mirror element 307 may be a one-dimensional arrangement in which mirror elements are arranged in a line in addition to the two-dimensional arrangement shown in FIG.
  • the optical configuration of the projector device is not limited to those shown in FIGS. 4 and 7, and it is possible to project an image using reflected light having different light states depending on whether pixels are valid or invalid.
  • the present invention can be applied to such a configuration.
  • substrate used as a base at the time of forming a reflective mirror layer is peeled off and only a reflective mirror layer is left, it is provided with a board
  • the reflection mirror since the reflection mirror is formed on the substrate, the reflection mirror can be formed so that the mirror surface does not loosen during normal operation.
  • the substrate that hinders the deformation of the reflection mirror is peeled off, a light modulation device with a high pixel density can be manufactured.
  • the light modulation device manufactured by the manufacturing method has high light use efficiency, and a projector using the light modulation device can obtain a bright and well-contrast projected image.
  • a release layer and a reflection mirror layer are formed on a heat-resistant substrate having heat resistance, a pattern is formed on the reflection mirror layer, and the driving substrate and the reflection mirror are formed.
  • the heat-resistant substrate is separated by peeling off the release layer in an irradiation separation step. Therefore, by these steps, an optical modulation device can be manufactured without adversely affecting the driving substrate due to heat generated during the formation of the reflective mirror layer.

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Description

明細書
光変調デバイスの製造方法およびプロジェクタ
技術分野
本発明は、 プロジヱク夕 (projector)等に用いられる光変調デバイスに係り、 特に、 反射ミラーの乱反射を防止可能な光変調デバィスの製造技術に関する。 背景技術
従来、 反射ミラーにより光変調を行う光変調デバイスは、 反射ミラーと駆動 基板とを互いに貼り合わせることにより製造されていた。 例えば米国特許 4 , 4 4 1, 7 9 1号には、 反射ミラ一膜の製造方法とその反射ミラー膜を使用し た光変調デバイスの構造が開示されている。 この文献によれば、 反射ミラー膜 は、 まずニトロセルロース膜を水面に流して形成し網目上のスクリーンでこれ を引き上げてから金属膜を蒸着することにより製造されていた。 しかしこの技 術では硬い基板上に反射ミラ一膜が形成されているのではないために、 物理的 に変形させること無く薄い反射ミラー膜を駆動素子基板の適正な位置に貼り付 けることが困難であると考えられる。 反射ミラー膜が弛んだ状態のまま駆動素 子基板に貼り付けられると、 照明光を変調する場合に不要は方向へ反射される 光が増加し、 変調光と非変調光とのコン トラス トが低下するとともに、 光の利 用効率が低下するという問題を生じさせる。
また特開平 6— 3 0 1 0 6 6号公報には、 ガラス基板上にミラ一アレーを設 け、 さらに樹脂層を形成した後、 基板からミラーアレーごと樹脂層を剥離して ァクチユエ一夕基板と貼り合わせる技術が開示されている。 しかし、 この文献 に開示されている技術は、 光を反射する膜をァクチユエ一夕アレイに貼り合わ せるための技術である。 ァクチユエ一夕アレイを ϋ動させるためには、 駆動素 子基板をァクチユエ一夕アレイに貼り合わせる工程がさらに必要になる。 よつ て光変調デバイスを製造するプロセスが複雑化するという問題点がある。
これらの問題を回避するためには、 シリコン等の基板上に反射ミラーを形成 した後、 反射ミラ一の変形部分を窓状にエツチング等で取り除いて光変調デバ イスを製造することが好ましいと考えられる。 すなわち反射ミラーが弛んだ形 状で形成されることもなく、 単純な構造の光変調デバイスを提供できる。 この ようにして製造した光変調デバイスによれば、 表示に必要な照明光はシリコン 基板に設けられた窓から入射し、 反射ミラーにより反射され再び窓から射出さ れる。
しかしながら、 このような光変調デバイスを考案したとしても、 光が乱反射 し投写画像の明るさゃコントラス 卜の低下をもたらすという問題点が生ずる。 基板に窓を設ける構成では、 光の入射および射出が基板に設けられた窓を通し て行われるために、 反射光の一部が窓の側壁により遮られたり乱反射されたり する。 製造工程における取り扱いを容易にかつ安全に行えるように、 基板には 一定の膜厚 ( 1 0 程度) が必要とされるため、 側壁の高さを無闇に低く、 すなわち基板を薄くするわけにもいかない。 最低限基板は 1 0 0 m程度の厚 みが必要であるため、 例えば窓の幅が 5 0 mである光変調デバイスでは窓の 側壁が幅の二倍の高さとなってしまう。 これでは反射ミラーの周辺部分で反射 された光の相当部分が側壁に遮られたり反射したりする、 いわゆる乱反射状態 となる。 乱反射された光に基づいて画像を表示すると、 光の量が不足するため 投影画像の明るさが足りなくなったり、 他の画素からの光が混入するためコン トラス 卜が低下したりする。 発明の概要
本発明の第 1の課題は、 乱反射がなく、 また弛みが無く変形しやすいように 反射ミラーを形成する工程を備えることにより、 光の利用効率が高い光変調が 可能な光変調デバイスの製造方法を提供することである。
本発明の第 2の課題は、 乱反射が無く、 また弛みが無く変形しやすい反射ミ ラ一を備えることにより、 明るくコン トラス 卜のよい投影画像が得られるプロ ジェク夕を提供することである。
上記第 1の課題を解決する発明は、
a ) 耐熱性を有する耐熱性基板に、 照射光の照射により剥離を生ずる剥離層を 形成する剥離層形成工程と、
b ) 剥離層形成工程により形成された剥離層上に圧電体 (例えば強誘電性また は常誘電性の圧電性セラミックス) によって光を反射可能に構成された反射ミ ラ一層を形成する反射ミラー層形成工程と、
c ) 能動素子 (薄膜トランジスタなど) が画素領域に対応させて設けられた駆 動基板と耐熱性基板に積層された反射ミラー層とを、 画素領域単位に対応させ て電気的に接続する (例えば能動素子の出力が第 2の電極薄膜に接続されてい る) 接続工程と、
d ) 剥離層に対し、 耐熱性基板側から光を照射して当該剥離層に剥離を生じ耐 熱性基板を分離する照射分離工程と、 を備えた光変調デバイスの製造方法であ る。
なお、 反射ミラー層は、 上記圧電体層の他の層が形成されていてもよい。 圧 電体層が複数の積層構造を備えていてもよい。
例えば上記反射ミラ一層形成工程は、 剥離層上に第 1の電極薄膜を形成する 工程と、 第 1の電極薄膜上に圧電体薄膜を形成する工程と、 圧電体薄膜上に第
2の電極薄膜を形成する工程と、 により構成される。 ここで、 第 1の電極薄膜 を光反射性のある材料で形成することは好ましい。 なお、 第 1の電極薄膜また は第 2の電極薄膜のうち少なくとも一方の膜を光反射性のある材料で形成して もよい。
また上記反射ミラー層形成工程は、 第 2の電極薄膜を形成する工程の後に、 当該第 2の電極薄膜および圧電体薄膜を画素領域単位に電気的に独立させてパ 夕一ン化 (他の電極と分離されるように方形、 多角形または円形に形成) する 工程をさらに備えていてもよい。 具体的には、 上記第 2の電極薄膜および圧電 体薄膜をパターン化する工程は、 当該第 2の電極薄膜および圧電体薄膜を多角 形にパターン化する。 また当該第 2の電極薄膜および圧電体薄膜を円形にパ夕 また上記接続工程は、 駆動基板または反射ミラ一層のいずれか一方に接続用 電極 (例えば金をパターン化して土手状に形成したものを用いる) を設けるェ 程と、 当該接続用電極により駆動基板と反射ミラー層とを電気的に接続するェ 程と、 を備える。 具体的には、 上記接続工程では、 金により接続用電極を形成 する。
上記第 2の課題を解決するプロジェクタは、 本発明の製造方法により製造し た光変調デバイスを備えたプロジェク夕であって、
a ) 光変調デバィスに略垂直な方向から略平行化された照明光を照射する照明 光学系と、
b ) 光変調デバイスにおいて能動素子により駆動されている画素領域からの反 射光または駆動されていない画素領域のいずれか一方を遮光する遮光光学系と、 c ) 遮光光学系を通過した光を結像して表示像を形成する表示光学系と、 を備 えたことを特徴とするプロジェクタである。 図面の簡単な説明
第 1図 : 本発明の実施の第 1形態における光変調デバイスの製造方法 (その 1 ) である。 第 2図 : 本発明の実施の第 1形態における光変調デバイスの製造方法 (その 2 ) である。
第 3図 :第 1形態の製造方法により製造された光変調デバイスの斜視図であ る。
第 4図 :第 1形態の光変調デバイスを用いたプロジェクタの光学系の構造図 である。
第 5図 : 本発明の実施の第 2形態における光変調デバイスの製造方法の一部 である。
第 6図 : 本発明の実施の第 3形態における光変調デバイスの製造方法の一部 である。
第 7図 :第 4形態のプロジェクタの光学系の構造図である。 発明を実施するための最良の形態
次に本発明の好適な実施の形態を、 図面を参照して説明する。
(第 1形態)
本発明の実施の第 1形態は、 スクリーンに画像を投写するプロジヱク夕に使 用される光変調デバイスの製造方法に関する。
第 1図および第 2図に、 本第 1形態の製造方法の各工程における基板の構造 図を示す。 これらの構造図は一つの基板上に多数形成する画素のうち一部を拡 大して示した製造工程の断面図である。
剥離層形成工程 (第 1図(a) ) : まず基板 1 ◦に剥離層 (光吸収層) 1 1を 形成する。 基板 1 0は、 内部を後述する照射光 1 2 (後述) が透過可能なもの とする。 照射光の透過率は 1 0 %以上であることが好ましい。 透過率が低すき ると照射光の減衰が大きくなるからである。 また基板 1 0は耐熱性がありかつ 強度における高い信頼性を備えた材料である必要がある。 本形態では、 熱ァニ —ル工程 (第 1図(C ) ) において基板全体を高温環境下におく必要があるため、 この温度に対し変性を生じないものである必要がある。 これらのことから、 本 形態では石英ガラスを用いる。 基板 1 0の厚さは、 0 . 1 m n!〜 5 m m程度、 好ましくは、 0 . 5 m m〜 l . 5 m m程度とする。 基板が厚すぎると照射光の 減衰が多くなり、 薄すぎると基板の強度が低下するからである。
剥離層 1 1は、 照射光 1 2を吸収し、 当該層内や界面において剥離を生ずるも のである。 すなわち剥離層 1 1は照射光により、 構成物質の原子間または分子間 の結合力が消失または減少し、 アブレーシヨン (ablation) 等を生じ、 剥離を生 ずる材料で構成される。 このような剥離層 1 1の組成としては、 非晶質シリコン ( a— S i )または多結晶シリコンを用いることができる。 非晶質シリコンは、 本 実施形態の熱ァニール工程において 9 0 0 °C程度の熱に耐え、 しかも一定の照射 光に対して高い吸収率を示すため、 剥離層の材料として好ましいからである。 そ のほかに、 圧電膜を熱ァニールする際の熱に耐え、 かつ、 照明光のエネルギー集 中によって剥離させることができる酸化物や金属などを剥離層の材料として使用 することができる。 例えば、 酸化チタンは、 石英で構成された基板より十分に屈 折率が高い場合には、 その膜厚により光の閉じ込めが生じエネルギー集中が可能 になると考えられる。 したがって、 照射光の波長に合わせて光の閉じ込めが可能 となる厚みに剥離層を形成する場合には、 酸化チタンを剥離層の材料として使用 可能と考えられる。
剥離層 1 1の厚さとしては、 1 0 n m ~ 2 0 m程度であるのが好ましく、 4 0 n m〜 2 程度であるのがさらに好ましい。 剥離層の厚みが簿すぎると、 形 成された膜厚の均一性が失われて剥離にむらが生ずるからであり、 剥離層の厚み が厚すぎると、 剥離に必要とされる照射光のパワー (光量) を大きくする必要が あったり、 また、 剥離後に残された剥離層の残渣を除去するのに時間を要したり するからである。 剥離層 1 1の形成方法は、均一な厚みで剥離層を形成可能な方法であればよく、 剥離層の組成や厚み等の諸条件に応じて適宜選択することが可能である。 剥離層 の組成が非晶質シリコンの場合には C V D法により成膜するのが好ましい。 この 他の組成の膜についてはスパッ夕リング法や蒸着法など一般的な薄膜形成方法を 用いることができる。
なお第 1図および第 2図には図示しないが、 剥離層 1 1の上に中間層を設けて もよい。 中間層は、 例えば製造時または使用時において被転写層を断熱する保護 層として成分の移行 (マイグレーション) を阻止するバリア層として機能するも のである。 この中間層の組成は、 その目的に応じて適宜選択されえる。 例えば非 晶質シリコンで構成された剥離層と被転写層との間に形成される中間層の場合に は、 S i〇 2等の酸化珪素が挙げられる。 他の中間層の組成としては、 例えば A u、 W , T a , Μ ο, C r , Τ iまたはこれらを主成分とする合金のような金属 が挙げられる。 中間層の厚みは、 その形成目的に応じて適宜決定される。通常は、 1 0 n m〜 5 程度であるのが好ましく、 4 0 n m〜 1 m程度であるのがよ り好ましい。 中間層の形成方法としては、 前記剥離層で説明した各種の方法が適 用可能である。 中間層は、 一層で形成する他、 同一または異なる組成を有する複 数の材料を用いて二層以上形成することもできる。 第 3図では、 中間層として二 酸化珪素により透明誘電体膜 3 0 9を設けてある。
圧電体層形成 (第 1図 (b ) ) : 剥離層 1 1の上に、 共通電極膜 3 0 0と圧 電膜 3 0 1を積層した圧電体層 (反射ミラ一層) 3を形成する。 ただし圧電体 層 3のうちミラー電極膜 3 0 2は、 熱ァニールによる特性劣化を防止するため に、 熱ァニール工程の後に形成される。 共通電極膜 3 0 0の組成は、 導電性が あって特性が絰年変化しにく く、製造工程における熱に対する耐性が高いもの、 例えば P t等の金属が好ましい。
圧電膜 3 0 1 としては、 電圧の印加により形状が伸縮する素材を用いる。 強 誘電性の圧電性セラミックスが好ましく、 ジルコニウム酸チタン酸鉛 (P b ( Z r、 T i) 〇 3 : P Z T)、 チタン酸鉛ランタン ((P b, L a) T i〇3)、 ジ ルコニゥム酸鉛ランタン ((Pb, La) Z r 03 : P L Z T) またはマグネシ ゥムニオブ酸ジルコニウム酸チタン酸鉛 (Pb (Mg、 N b) (Z r、 T i) 〇 3 : P M N - P Z T ) 等を使用する。 圧電膜の形成方法は、 スパッ夕法ゃゾル ゲル法による。 圧電膜の厚みは、 必要とされる体積変化の大きさによって種々 に変更可能であるが、 0. 8 程度の厚みの圧電膜を形成することができる。 なお共通電極膜 300の形成後、 公知のパターン形成技術を用いて、 共通電 極のパターン形成を行ってもよい。
熱ァニール工程 (第 1図 (c)) : 次に圧電体として機能する結晶構造を形 成するために熱ァニール (Anneal) 処理を行う。 基板 10の上に形成した圧電 体層 3を炉に入れ、 基板全体を加熱する。
パターン形成 (第 1図 ( d)): 熱ァニール処理の後、 ミラ一電極膜 302 が圧電膜 30 1の上に形成される。 ミラ一電極膜 302の組成は、 導電性があ つて、 特性が経年変化しにく く、 製造工程における熱に対する耐性が高いもの が好ましい。 冽えば、 P t、 T i、 Al、 A g等の金属薄膜を用いる。
ミラー電極膜 302に対しては公知のパターン形成技術、 例えばフォ ト リソ グラフィ法を適用して、 パターン形成を行う。 すなわちレジス ト塗布、 マスク、 露光、 現像、 およびエッチング等の処理を行って、 所望の電極パターンを形成 する。 このパターン形成において各画素に残される電極部分が、 反射ミラーで あるミラー要素 307となる。 ミラー要素 307は、 反射ミラ一として十分に 照明光を反射できるような形状および面積に成形する。 ミラー要素 307のミ ラー電極膜 302側の電極面積は、 共通電極膜 300側の電極面積より小さく なるようにパターン形成する。 ミラ一電極膜 302のパターン形成後には圧電 膜 30 1に電圧を印加して膜に垂直な方向に分極処理を行っておく。 ミラー要素 3 0 7の変形方向について説明する。 上記のような分極処理がさ れた圧電膜に駆動電圧を印加すると、 分極方向と印加電界の方向にしたがって 圧電膜が面内に収縮する。 このとき共通電極膜 3 0 0はバンプ 3 0 8で物理的 に拘束され、 ミラ一電極膜 3 0 2は一部を除いて拘束されていない。このため、 圧電膜を含むミラー要素 3 0 7は、 第 2図 ( g ) において上側に凸になるよう に変形する。
ミラー電極膜 3 0 2に対するパターン形成後、 薄膜トランジスタ 2 0 5のド レイン電極に設けられたミラー電極接続厚膜 2 0 7 (後述) との電気的な接続 を行う電極接続部であるバンプ 3 0 8の形成を行う。 バンプ 3 0 8はミラ一要 素 3 0 7の一部に形成される。 バンプ 3 0 8は極少ない面積で薄膜トランジス 夕のドレイ ンに接続されることになるため、 接触抵抗が少なく、 表面が酸化し にくい素材、 例えば、 金 (A u ) で形成することが好ましい。 またバンプ 3 0 8とミラ一電極膜 3 0 2 との密着性を向上させるために、 ミラ一電極膜上に金 属膜を一層形成してから金のバンプを形成してもよい。 圧電体層 3と薄膜トラ ンジス夕基板 2との距離は、 照射光 1 2の照射による熱が薄膜トランジスタ 2 0 5に伝導しにくい距離にする必要がある。 したがって、 バンプ 3 0 8のミラ 一電極膜 3 0 2からの高さは、 この高さとミラー電極接続厚膜 2 0 7の高さと の合計が、 この条件を満たすように設定する。
接続工程 (第 2図 ( e ) ) : 次いで薄膜トランジスタ基板 2と基板 1 0に形 成された圧電体層 3とを電気的に接続する。 薄膜トランジスタ ( T F T ) 基板 2は、 通常の液晶ディスプレイ装置に頻繁に用いられている薄膜トランジスタ の配列構造を備える。 その製造工程も従来の方法に基づく。 すなわち、 薄膜ト ランジス夕基板 2は、 ガラスや石英等の基板 2 0 0上の画素領域ごとに、 薄膜 トランジスタ 2 0 5、 信号ドライバ 2 ◦ 1、 走査ドライバ回路 2 0 3および配 線 2 0 2、 2 0 4が形成されている。 さらに、 各薄膜トランジスタのブロック (トランジスタ要素) 2 0 8のうち、 薄膜トランジスタ 2 0 5のドレイン電極 2 0 6には、 圧電体層 3のバンプ 3 0 8に電気的に接続されるミラー電極接続厚 膜 2 0 7力 メヅキ法等により 2 ◦ m程度の厚みで形成される。
薄膜トランジスタ基板 2と基板 1 0に積層された圧電体層 3とは、圧着され、 5 互いに接続される。 圧着を確実に行うため、 加熱された環境化で熱圧着がされ る。 この圧着により、 バンプ 3 0 8とミラ一電極接続厚膜 2 0 7との接合部は 合金化するので、 接続抵抗を少なく し、 接続強度を上げることができる。
照射工程 (第 2図 ( f ) ) : 薄膜トランジスタ基板 2と圧電体層 3とを接続 したら、 光 1 2を基板 1 0の裏側から剥離層 1 1に向けて照射する。光 1 2は、
1 0 基板 1 0を透過し、 剥離層 1 1にスポッ ト 1 3として照射される。 これにより、 基板 1 0と剥離層 1 1との界面において、あるいは剥離層 1 1の層内において、 原子間あるいは分子間の結合力が減少あるいは消滅する。 光 1 2の照射時、 剥 離層 1 1の組成にはアブレ一シヨンが生じ、 また、 剥離層 1 1内部のガスの放 出、 光 1 2による融解、 蒸散等の相変化が生じていると推測される。
i s 光 1 2としては、 剥離層 1 1に効率良く層内剥離または界面剥離を生じさせ るものであればよい。 特に、 アブレーシヨンを生じさせやすいという点で、 レ 一ザ光が好ましい。 例えば、 波長 2 4 8 nmまたは 3 0 8 nmのエキシマーレ一ザ ( exc imer laser) 光を用いる。 レーザ光の種類や波長は、 剥離層 1 1にアブレ ーシヨンを生じさせるに際し、 波長依存性があるか、 ガス放出、 気化、 昇華等
20 の相変化を生じさせて分離させるか等を考慮して決める。
また、照射されるレーザ光のエネルギー密度は、 エキシマーレ一ザ光の場合、 1 0〜 5 0 0 O mJ/cm2程度、 照射時間は、 1〜 1 0 0 0 nsec 程度、 好ましくは 1 0〜 1 0 O nsec 程度とする。 エネルギー密度が低過ぎたり照射時間が短か過 ぎたりすると、 十分なアブレ一シヨンを生じさせることができない。 一方でェ
25 ネルギー密度が高過ぎたり照射時間が長過ぎたりすると、 剥離層 1 1および圧 電体層 3に悪影響を与える他、 薄膜トランジス夕 2 0 5を破壊するおそれがあ る。 また照射光 1 2は均一な強度で照射しさえすれば、 照射時の入射角は垂直 でなく ともよい。 また剥離層 1 1の全領域に照射するためには、 複数回に分け て照射光を照射したり、 同一箇所に二回以上照射してもよい。 さらに、 照射す る領域に応じてレーザ光の種類、 その波長等を異ならせてもよい。
分離工程 (第 2図 ( g ) ) : 光を照射した後、 基板 1 0を圧電体層 3から引 き離すように力を加えると、 剥離層 1 1において基板 1 0が分離される。 圧電 体層 3の共通電極層 3 0 0側には、 剥離層 1 1の残渣が付着しているので、 洗 浄、 エッチング、 アツシング、 研磨等の方法を用いてこれを除去する。 なお分 離した基板 1は、 石英等の高価な材料を用いているので、 新たな光変調デバィ スの製造のために再利用される。
第 3図に上述したような製造方法により製造された光変調デバィスの構造を 説明する斜視図を示す。 構造の理解を容易にするため、 説明の便宜上、 圧電体 層 3と薄膜トランジスタ (T F T ) 基板 2を分離して図示してある。 第 3図に 示すように、 本形態における光変調デバイスは、 ミラー要素 3 0 7が配列され た圧電体層 3と、 各ミラ一要素を駆動する薄膜トランジスタ要素 2 0 8が配置 された簿膜トランジスタ基板 2とが、 電気的に接続された構造となっている。 圧電体層 3は、 本形態における製造方法により形成された共通電極膜 3 0 0、 圧電膜 3 0 1およびミラー電極膜 3 0 2で構成されている。 さらに第 3図では 圧電体層 3を保護する機能も兼ねる、 剥離工程の前記中間層としての透明誘電 体膜 3 0 9を設けた場合を示している。
薄膜トランジスタ基板 2には、 信号ドライバ回路 2 0 1および走査ドライバ 回路 2 0 3が形成されている。信号ドライバ回路 2 0 1は、 画像の水平方向 (X 軸方向) のオン ■オフ情報に基づくスィ ツチング信号を、 各薄膜トランジスタ 2 0 5のソースへ、 配線 2 0 2を介して供給可能に構成されている。 走査ドラ ィバ回路 2 0 3は、 表示装置から供給される画像の垂直方向 (Y軸方向) のォ ン · オフ情報に基づくスィ ツチング信号を、 各薄膜トランジスタ 2 0 5のゲ一 卜へ、 配線 2 0 4を介して供給可能に構成されている。 薄膜トランジスタ 2 0 5のドレイン電極 2 0 6に生じた駆動電圧は、 ミラ一電極接続厚膜 2 0 7を介 して各ミラ一要素 3 0 7のミラ一電極膜 3 0 2に供給される。
上記光変調デバイスの構成において、 薄膜トランジスタ 2 0 5から駆動電圧 が供給されると、 これに対応するミラー要素 3 0 7のミラ一電極膜 3 0 2およ び共通電極膜 3 0 0間に電位差が生じ、 圧電膜 3 0 1が面内方向に縮んで、 ミ ラー要素は第 3図上方に変形する。 すなわち、 駆動電圧が供給されているミラ 一要素 3 0 7では反射面が凸面鏡となり、 その焦点はミラー要素 3 0 7の裏面 になる。 このため入射した照明光 3 0 5は、 この凸面鏡による反射により広が つた光を有する反射光 3 0 6となる。 一方、 駆動電圧が供給されていないミラ 一要素 3 0 7では、 反射面が平面鏡となっているため反射光 3 0 6は平行に反 射される。 ただしミラ一要素が凸状に変形するか凹状に変形するかは圧電膜の 分極方向と印加される電界の方向とに依存する。 したがって当該光変調デバィ スを用いたプロジェクタは、 光変調デバイスの変形の態様に併せて構成する必 要がある。
第 4図に、 本形態の製造方法により製造された光変調デバイス (凸状に変形 する場合) を用いたプロジェクタの構成図を断面で示す。第 4図に示すように、 光源 4 1であるメタルハライ ドランプから出た光は放物面形状のリ フレクタ 4 2で反射され、 ほぼ平行な光線に変換され、 ハーフ ミ ラー 4 3で偏向され、 本 形態に係る光変調デバィス 4 4に入射する。 光変調デバィス 4 4の駆動電圧が 供給されていないミラ一要素 4 4 1では、 反射光 3 0 6が平行であるため、 ハ —フミラ一 4 3を介してレンズ 4 5で集光され、 微小ミラ一 4 6に入射する。 微小ミラー 4 6は、 反射面が光軸に対し一定角を有しているため、 入射した光 はすべて反射され、 スクリーン 4 9に到達しない。
—方、 駆動電圧が供給され変形しているミラー 4 4 2では、 反射光 3 0 6が 凸面鏡の焦点 4 8から光が射出されるような発散する光となる。 よって、 この 光はレンズ 4 5を通り、 微小ミラー 4 6の周囲を通過し、 投写レンズ 4 7を介 し、 スクリーン 4 9に像を結ぶ。 すなわち光変調デバイス 4 4に供給される画 像信号に応じて照射光 3 0 5が変調され、 スクリーン 4 9に画像信号に応じた 表示が行われる。 このとき照明光 3 0 5の入射する面には、 隔壁や基板が存在 しないため、 反射光 3 0 6が散乱されることがなく、 投影される画像が暗くな つたり、 他の画素の位置に投写されたりすることがない。
上記のように、 本第 1形態によれば、 基板上に剥離層を介して圧電体層を形 成したので、 剥離層において基板を剥離した後のミラー要素における光の入射 面には、 隔壁等の光を遮断する障害物が存在しない。 したがって、 障害物によ り散乱されることがないため、 投影される画像を明るくすることができる。 ま た、 障害物による散乱がないため、 コントラス 卜が低下することもない。 また、 圧電体層に対する熱ァニール処理を、 薄膜トランジスタ基板と接続する前に行 えるので、 薄膜トランジス夕等に悪影響を与えることがない。
(第 2形態)
本発明の実施の第 2形態は、 第 1形態と異なるパターン形成方法および接続 方法を提供するものである。
第 5図に、 本第 2形態における光変調デバイスの製造方法の一部を示す。 本 形態において剥離層形成工程 (第 1図(a ) ) から熱ァニール工程 (第 1図(c ) ) まで、 および照射工程 (第 2図(f ) ) から分離工程 (第 2図(g ) ) までは、 前記 第 1形態と同様なので説明を省略する。
パターン形成工程 (第 5図 (d ) ) : ミラー電極膜 3 0 2に対するパターン 形成に関しては、 前記第 1形態と同様である。 ミラー電極膜 3 0 2に対するパ 夕一ン形成後、 薄膜トランジスタ 2 0 5のドレイ ン電極との電気的な接続のた め、 第 1形態のバンプ 3 0 8の代わりに、 ミラ一要素 3 0 7の一部に ドレイン 電極接続厚膜 3 1 0の形成を行う。 ドレイ ン電極接続厚膜 3 1 0は、 メツキ法 等の公知の技術により形成される。 メ ツキに係る金属としては、 接触抵抗が少 なく、 表面が酸化しにくい素材、 例えば、 金 (A u ) が好ましい。 ドレイ ン電 極接続厚膜 3 1 0の高さは、 圧電体層 3と薄膜トランジスタ基板 2 との間に必 要な距離 (前述) に等しくする。
接続工程 (第 5図 ( e ) ) : 薄膜トランジスタ基板 2における トランジスタ 要素のドレイン電極 2 0 6とミラー電極 3 0 2上に形成されたドレイン電極接 続厚膜 3 1 0とを電気的に接続する。 本形態で用いる薄膜トランジスタ ( T F T ) 基板 2には、 第 1形態におけるミラ一電極接続厚膜 2 0 7を設けない。 薄 膜トランジスタ基板 2 と基板 1 0に積層された圧電体層 3との接続は、 前記第 1形態と同様に行われる。
本第 2形態によれば、 圧電体層 3に接続厚膜を設けることによつても、 本発 明の効果を備えた製造方法による光変調デバイスを提供できる。
(第 3形態)
本発明の実施の第 3形態は、 第 2形態とは異なり、 薄膜トランジスタ基板側 にのみ接続厚膜を設けるものである。
第 6図に、 本第 3形態における光変調デバイスの製造方法の一部を示す。 本 形態において剥離層形成工程 (第 1図(a) ) から熱ァニール工程 (第 1図(c ) ) まで、 および照射工程 (第 2図(f ) ) から分離工程 (第 2図(g) ) までは、 前記 第 1形態と同様なのでその説明を省略する。
パターン形成工程 (第 6図 ( d ) ) : ミラ一電極膜 3 0 2に対するパターン 形成に関しては、 前記第 1形態と同様である。 ただしミラー要素 3 0 7のミラ 一電極 3 0 2にはバンプ 3 0 8を設けない。 接続工程 (第 6図 ( e ) ) : 本形態では、 薄膜トランジスタ基板 2の卜ラン ジス夕要素 2 0 5における ドレイン電極 2 0 6に、 ミラ一要素 3 0 7との電気 的な接続のため、 ミラ一電極接続厚膜 2 1 0の形成を行う。 このミラー電極接 続厚膜 2 1 0は、 第 1形態のミラ一電極接続厚膜 2 0 7よりその高さが高い。 5 この高さは、 圧電体層 3と薄膜トランジスタ基板 2との間に必要な距離 (前述) に等しくする。 厚膜の形成方法については、 第 1形態と同様である。
本第 3形態によれば、 薄膜トランジス夕基板にのみ接続厚膜を設けることに よっても、 本発明の効果を備えた製造方法による光変調デバイスを提供できる。 (第 4形態)
10 前記第 1形態で示した、 凸状に変形する光変調デバイスを用いた表示装置に代 り、 凹状に変形する光変調デバイスを用いたプロジェクタの構成に関する。
第 7図に、 本プロジェクタの構成を説明する断面図を示す。 この図は照射光の 光軸に沿って光学部品を切断した断面を示す。 第 7図に示すように、 本形態の表 示装置は、 光変調デバイス 6 0、 光源 6 1、 リフレクタ 6 2、 収束レンズ 6 3、 i s 微小ミラ一 6 4、 コリメ一夕レンズ 6 5および投影レンズ 6 6を備える。 光変調 デバイス 6 0は、 第 1形態乃至第 3形態で製造された光変調デバイスを適用でき る。 ただし光の入射側からみて、 ミラー要素が凹状に変形するような構造となつ ていることを要する。 光変調デバイス 6 0は、 電圧の印加により反射面が凹状に 変形する。 したがって、 変形しているミラー要素 6 0 2で反射された反射光は、
20 光変調デバィス 6 0からみてコリメ一夕レンズ側に焦点 6 0 3がある。
次に本形態の表示装置における光変調の作用について説明する。 光源 6 1から 出た照明光 1 8は、 リフレク夕' 6 2で反射され、 収束レンズ 6 3で微小ミラ一 6 4の位置に集光される。 微小ミラ一 6 4は光軸に対して 4 5 ° 傾いて配置されて いるので、 照明光 1 8は発散しながらコリメ一夕レンズ 6 5に入射する。 コリメ
25 一夕レンズ 6 5は、 この照明光 1 8を平行な光に変換し、 光変調デバイス 6 0に 垂直に入射させる。
光変調デバイス 6 0を構成するミラー要素のうち変形していないミラ一 6 0 1 は反射面が平坦であるため、 その反射光 1 9 1は平行光のままコリメ一夕レンズ 6 5に戻る。 そして微小ミラー 6 4に集光され反射され、 投影レンズ 6 6には到 5 達することができない。 したがって、 スクリーン 6 7にはその画素が表示されな い。 微小ミラ一 6 4の反射面の大きさは、 全てのミラ一要素が変形していない平 面鏡として働くときの光変調デバイス 6 0からの反射光 1 9 1をすベて遮光でき る程度の最小限の大きさとする。
一方変形しているミラー 6 0 2は凹面鏡として働くので、その反射光 1 9 2は、 1 0 焦点 6 0 3を経てコリメ一夕レンズ 6 5に入射する。 この反射光 1 9 2は、 コリ メータレンズ 6 5によりほぼ平行な光に変換され、 一部は微小ミラー 6 4に遮蔽 されるものの、 微小ミラー 6 4の周囲を通過する光は投影レンズ 6 6に達しスク リーン 6 7に像を結ぶ。
以上の構成により、 光変調デバイス 6 0を構成する全てのミラー要素が変形し i s ていない場合には、 すべての反射光 1 9 1が微小ミラ一 6 4で反射されスクリ一 ン 6 7に達しないため、 スクリーン 6 7上の表示は黒色となる。 一方、 表示した い画像に従って選択されたミラ一要素 6 0 2からの反射光 1 9 2は、 スクリーン 6 7に投影されるので、 スクリーン 6 7上には黒地に白い色で画像が表示される ことになる。
また、 カラー表示を行なうには、 従来から知られているように、 リフレクタ 6 2 と収束レンズ 6 3との間に赤、 緑、 青の 3色に塗り分けられた回転する円盤型 フィルターを挿入する構成、 あるいは、 光変調デバイス 6 0を構成するミラー要 素の表面にそれぞれ赤、 緑、 青のカラーフィルタ一層を形成する構成、 などが応 用できる。
25 投影レンズ 6 6の機能によって、 プロジェクシヨンディスプレイやビデオカメ ラのビューファインダ一、 あるいはへッ ドマゥン トディスプレイなど種々の表示 装置を構成することができる。
上述したように、 本第 4形態によれば、 乱反射がなく、 光の利用効率がよい本 発明の光変調デバイスを備え、 またハーフミラーのように光を減衰させる要素も ないので、 明るくコン トラス トのよい投影画像が得られる。
(その他の変形例)
本発明は、 上述した発明の実施の各形態に限定されず、 種々に変形して適用 が可能である。 例えば、 圧電体膜の構造、 組成、 膜厚に関しては上記形態に限 らず、 他の構造等となるよう形成してもよい。 圧電体層の保護と剥離の際の中 間層を兼ねる透明誘電体膜を形成するか否かは、 圧電体の性質に応じて任意に 定めることができる。 なお、 共通電極膜の表面の透明保護膜は、 基板を剥離す る工程が終了した後で改めて形成してもよい。
また、 ミラ一要素 3 0 7の形状は、 第 3図に示すように方形の他に、 多角形、 円形および楕円等の種々の形状が考えられる。 すなわち任意の電極形状になる ようにマスクをして電極のパ夕一ニングを行うことで、 電極形状を変更可能で ある。
さらに、 ミラ一要素 3 0 7の配列としては、 第 3図に示す二次元的配列の他 に、 ミラー要素が一列に並んだ一次元的配列にしてもよい。
さらにまた、 プロジェクタ装置の光学的構成に関しては、 第 4図および第 7 図に限定されることなく、 画素が有効か無効かに応じ光の状態が異なる反射光 を用いて、 画像の投影が可能な構成であれば本発明の適用が可能である。 産業上の利用可能性
本発明の光変調デバイスの製造方法によれば、 反射ミラー層を形成するとき の土台となる基板が剥離され、 反射ミラー層のみが残されるので、 基板を備え た場合に生ずる反射光の遮断、 乱反射がない光変調デバイスを製造できる。 ま た反射ミラーの形成は基板上で行われるので定常時に鏡面に弛みが生じないよ うに反射ミラーを形成できる。 また反射ミラーの変形を妨げるような基板は剥 離してしまうので、 画素密度の高い光変調デバイスを製造できる。 当該製造方 法によって製造される光変調デバイスは光の利用効率がよく、 当該光変調デバ イスを用いたプロジェクタでは、 明るく、 コントラス トのよい投射画像を得る ことができる。
また、 本発明の光変調デバイスの製造方法によれば、 耐熱性を有する耐熱性 基板に、 剥離層、 反射ミラー層が形成され、 反射ミラー層に対してパターンが 形成され、 駆動基板と反射ミラー層とが接続された後、 照射分離工程により、 剥離層に剥離を生じさせて耐熱性基板を分離する。 したがって、 これら工程に より、 駆動基板に反射ミラ一層形成時の熱による悪影響を及ぼすことなく光変 調デバイスが製造できる。
本発明のプロジェクタによれば、 乱反射が無く、 また弛みが無く変形しやす い反射ミラーを備えているので、 明るくコントラス 卜のよい投影画像が得られ る。

Claims

請求の範囲
1 . 耐熱性を有する耐熱性基板に、 照射光の照射により剥離を生ずる剥離層 を形成する剥離層形成工程と、
5 前記剥離層形成工程により形成された剥離層上に圧電体によって光を反射可 能に構成された反射ミラー層を形成する反射ミラー層形成工程と、
能動素子が画素領域に対応させて設けられた駆動基板と前記耐熱性基板に積 層された前記反射ミラー層とを、 画素領域単位に対応させて電気的に接続する 接続工程と、
1 0 前記剥離層に対し、 前記耐熱性基板側から光を照射して当該剥離層に剥離を 生じ前記耐熱性基板を分離する照射分離工程と、 を備えた光変調デバイスの製 造方法。
2 . 前記反射ミラー層形成工程は、 前記剥離層上に第 1の電極薄膜を形成す る工程と、 前記第 1の電極薄膜上に圧電体薄膜を形成する工程と、 前記圧電体 i s 薄膜上に第 2の電極薄膜を形成する工程と、 により構成される請求の範囲第 1 項に記載の光変調デバイスの製造方法。
3 . 前記第 1の電極薄膜または前記第 2の電極薄膜のうち少なく とも一方の 電極薄膜を光反射性のある材料で形成する請求の範囲第 2項に記載の光変調デ パイスの製造方法。
2 4 . 前記反射ミラ一層形成工程は、 前記第 2の電極薄膜を形成する工程の後 に、 当該第 2の電極薄膜および前記圧電体薄膜を画素領域単位に電気的に独立 させてパターン化する工程をさらに備える請求の範囲第 2項に記載の光変調デ バイスの製造方法。
5 . 前記第 2の電極薄膜および前記圧電体薄膜をパターン化する工程は、 当 25 該第 2の電極薄膜を多角形にパターン化する請求の範囲第 4項に記載の光変調 デバイスの製造方法。
6 . 前記第 2の電極薄膜および前記圧電体薄膜をパターン化する工程は、 当 該第 2の電極薄膜を円形にパターン化する請求の範囲第 4項に記載の光変調デ バイスの製造方法。
5 7 . 前記接続工程は、 前記駆動基板または前記反射ミラー層のいずれか一方 に接続用電極を設ける工程と、 当該接続用電極により前記駆動基板と前記反射 ミラー層とを電気的に接続する工程と、 を備える請求の範囲第 1項に記載の光 変調デバイスの製造方法。
8 - 前記接続工程は、 前記駆動基板および前記反射ミラー層の双方に接続用 1 0 電極を設ける工程と、 これらの接続用電極により前記駆動基板と前記反射ミラ 一層とを互いに電気的に接続する工程と、 を備える請求の範囲第 1項に記載の 光変調デバイスの製造方法。
9 . 前記接続工程は、 金により前記接続用電極を形成する請求の範囲第 7項 または第 8項に記載の光変調デバイスの製造方法。
i s 1 0 . 請求項 1に記載の製造方法で製造された光変調デバイスを備えたプロ ジェク夕であって、
前記光変調デバイスに略垂直な方向から略平行化された照明光を照射する照 明光学系と、 前記光変調デバイスにおいて前記能動素子により駆動されている 画素領域からの反射光または駆動されていない画素領域のいずれか一方を遮光 2 する遮光光学系と、 前記遮光光学系を通過した光を結像して表示像を形成する 表示光学系と、 を備えたことを特徴とするプロジェクタ。
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