TWI789875B - 顯示裝置 - Google Patents

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Abstract

本發明實施例關於一種顯示裝置，隨著利用設置在閘極線路斷開點所在的像素上的驅動電壓線路及驅動電壓線路連接圖樣來修復閘極線路的斷開，可輕易地修復閘極線路的斷開，同時最少化額外的元件配置。此外，透過使修復點所在的像素變暗並連接相鄰之待被驅動的像素，可修復閘極線路的斷開缺陷，同時避免因閘極線路之斷開及修復所造成之影像異常。

Description

顯示裝置
本發明的實施例關於一種顯示裝置。
資訊社會的成長促使用於顯示影像之顯示裝置的需求增加及各種類型的顯示裝置的使用，例如液晶顯示裝置、有機發光顯示裝置等。
顯示裝置例如可包含顯示面板，顯示面板上設有閘極線路、多個資料線路及多個子像素。再者，顯示裝置可包含閘極驅動電路、資料驅動電路及控制器。閘極驅動電路驅動閘極線路，資料驅動電路驅動資料線路，且控制器控制閘極驅動電路及資料驅動電路。
如上所述，在顯示設備中，可以設置有提供用於驅動子像素之訊號或電壓的各種訊號線路，如閘極線路及資料線路。
設置於顯示面板中的訊號線路在製造過程中可被斷開，顯示面板的缺陷可能因訊號線路的斷開而發生。因此，需要有效地修復設置於顯示面板中之訊號線路且可避免因修復而產生之影像異常的方法。
本發明的實施例提供一種顯示裝置，其具有能輕易修復設置於顯示面板中之閘極線路之斷開缺陷的結構。
本發明的實施例提供一種顯示裝置及其驅動方法，能避免設置於顯示面板中的閘極線路因斷開缺陷及修復所造成之顯示面板的影像異常。
在一方面中，本發明的實施例提供一種顯示裝置，顯示裝置包含多個閘極線路、多個驅動電壓線路及多個驅動電壓線路連接圖樣。這些驅動電壓線路跨越這些閘極線路，這些驅動電壓線路連接圖樣跨越這些驅動電壓線路，且在這些驅動電壓線路中的至少二者之間彼此分離。
顯示裝置可包含多個修復圖樣，這些修復圖樣位於這些驅動電壓線路中相鄰的二者之間。
各個修復圖樣可包含重疊於這些驅動電壓線路連接圖樣之其中一者之一部分的一第一部及重疊於這些驅動電壓線路連接圖樣之另一者之一部分的一第二部。
各個修復圖樣的第一部或第二部可電性連接重疊的驅動電壓線路連接圖樣。
此外，這些修復圖樣中之至少一者所包含的第一部可電性連接重疊的驅動電壓線路連接圖樣，且第二部可電性連接重疊的驅動電壓線路連接圖樣。
這些驅動電壓線路連接圖樣之至少一者可電性分離於驅動電壓線路。且，這些驅動電壓線路連接圖樣之至少一者可電性連接這些閘極線路的其中一者。
這些閘極線路之至少一者可在這些驅動電壓線路中相鄰的二者之間分離。且，提供至這些閘極線路之至少一者的一掃描訊號可通過這些驅動電壓線路連接圖樣之至少一者及這些修復圖樣之至少一者。
在另一方面，本發明的實施例提供一種顯示裝置，顯示裝飾包含多個閘極線路、多個驅動電壓線路及多個驅動電壓線路連接圖樣。這些驅動電壓線路與這些閘極線路設置在不同的層上。這些驅動電壓線路連接圖樣與這些閘極線路設置在相同的層上，且跨越這些驅動電壓線路的至少一者。
這些閘極線路的至少一者可在這些驅動電壓線路中相鄰的二者之間被分離，且可透過這些驅動電壓線路連接圖樣的至少一者電性連接。
這些閘極線路的至少一者可透過從這些驅動電壓線路之至少一者切斷的部分電性連接於驅動電壓線路連接圖樣。
根據本發明各種實施例，藉由利用驅動電壓線路及驅動電壓線路連接圖樣修復被斷開的閘極線路，可在不用配置用於修復閘極線路之單獨的線路的情況下，輕易地修復閘極線路的斷開缺陷。
根據本發明各種實施例，藉由使閘極線路之斷開點所在的像素變暗並電性連接相鄰之待被驅動的像素，可避免因閘極線路之斷開及修復所造成之影像異常。
以上關於本發明內容的說明及以下實施方式的說明係用以示範與解釋本發明的原理，並且提供本發明的專利申請範圍更進一步的解釋。
在以下本發明實施例或示例的描述中，將參考圖式，其示出了可以實施的具體實施例或示例，其中相同的標號及符號可以用來表示相同或相似的部件，即使它們在不同的圖式中顯示。在後續之本發明實施例或示例的描述中，若與本文有關的習知功能或配置的詳細描述非必要地模糊了本發明一些實施例中的要旨時，將省略其詳細描述。當說明書中有使用「包括」、「具有」及「包含」時，除非同時使用「僅」，應可理解還可具有或包含其他的部件。除非有特別限定，以下所用之單數形式的用語也可包括複數形式。
在描述本發明之元件時，可能會採用「第一」、「第二」、「A」、「B」、「(a)」及「(b)」等用語。這些用語並非用來界定元件的本質、順序、次序或數量等，而僅用於將對應的元件從其他元件中區分出來。
在表示第一元件「連接或耦合」或「接觸或重疊」至第二元件時，應解釋為不僅第一元件可直接「連接或耦合」或「接觸或重疊」至第二元件，第三元件也可中置於第一元件與第二元件之間，或第一元件及第二元件也可透過第四元件彼此「連接或耦合」或「接觸或重疊」。於此，第二元件可以被包含在彼此「連接或耦合」或「接觸或重疊」的兩個或更多個元件中的至少一個中。
當使用「之後」、「隨後」、「下一步」、「之前」等時間相關術語來描述元件或配置的過程或操作，或操作、處理或製造方法中的流程或步驟時，除非「直接」或「立即」之術語一起使用，這些術語可用於描述非連續或非連續的過程或操作。
此外，當提及任何尺寸、相對尺寸等時，應考慮元件或特徵的數值或相應資訊（例如，程度、範圍等）包括容許偏差或誤差範圍。即使未敘明相關描述，容許偏差或誤差範圍也可能由各種因素（例如，工藝因素、內部或外部影響、干擾等）引起。 此外，術語「可」完全包含術語「可以」的所有含義。
圖1為繪示包含於根據本發明之實施例之顯示裝置100中之配置的示意圖。根據本發明所有實施例之顯示裝置100的所有元件為有效地耦合及配置。
參閱圖1，顯示裝置100可包含一顯示面板110。顯示面板110包含一主動區域AA及一非主動區域NA。主動區域AA設有多個子像素SP，且非主動區域NA設有訊號線路或驅動電路且位於主動區域AA之外。顯示裝置100可包含用於驅動顯示面板110的一控制器140、一資料驅動電路130及一閘極驅動電路120。
多個閘極線路GL及多個資料線路DL可配置於顯示面板110上。再者，除了閘極線路GL及資料線路DL之外，被提供有各種訊號或電壓的電壓線路也可設置於顯示面板110上。
子像素SP可位於閘極線路GL與資料線路DL彼此交會的區域中。子像素SP可包含多個電路元件，且二或更多個子像素SP可構成一個像素。
閘極驅動電路120由控制器140所控制。閘極驅動電路120可依序輸出掃描訊號至配置於顯示面板110上的這些閘極線路GL，從而控制這些子像素SP的驅動時序(driving timing)。
閘極驅動電路120可包含一或多個閘極驅動積體電路GDIC。
根據驅動方法，閘極驅動電路120可僅位於顯示面板110的一側，或可位於顯示面板110的二側。閘極驅動電路120可實施為設置於顯示面板110的邊框區域(bezel area)上的板內閘極(gate in panel，GIP)型式。
資料驅動電路130可接收來自控制器140的影像資料且將影像資料轉換為類比資料電壓Vdata。資料驅動電路130根據透過閘極線路GL施加掃描訊號的時序將類比資料電壓Vdata輸出至各個資料線路DL，使得各個子像素SP發出根據影像資料之亮度的光。
資料驅動電路130可包含一或多個源極驅動積體電路SDIC。
根據驅動方法，資料驅動電路130可僅位於顯示面板110的一側，或可位於顯示面板110的二側。
控制器140提供各種控制訊號至閘極驅動電路120及資料驅動電路130，且控制閘極驅動電路120及資料驅動電路130的運作。
控制器140可允許閘極驅動電路120根據在每個幀(frame)中實施的時序輸出掃描訊號。控制器140可將從外部接收的資料訊號轉換以符合在資料驅動電路130中使用的資料訊號格式，且接著將被轉換的影像資料輸出至資料驅動電路130。
控制器140從外部(例如，主機系統)接收各種時序訊號以及影像資料，時序訊號包含一垂直同步訊號VSYNC、一水平同步訊號HSYNC、一輸入資料致能訊號DE(input data enable signal)、一時脈訊號CLK(clock signal)等。
控制器140可利用從外部接收的各種時序訊號產生各種控制訊號，且可將控制訊號輸出至閘極驅動電路120及資料驅動電路130。
舉例來說，為了控制閘極驅動電路120，控制器140可輸出各種閘極控制訊號GCS。閘極控制訊號GCS包含一閘極起始脈衝GSP(gate start pulse)、一閘極偏移時脈GSC(gate shift clock)、一閘極輸出致能訊號GOE(gate output enable signal)等。
閘極起始脈衝GSP控制構成閘極驅動電路120的閘極驅動積體電路GDIC之一或多者的運作起始時序。作為普遍輸入至閘極驅動積體電路GDIC之一或多者之時脈訊號的閘極偏移時脈GSC控制掃描訊號的偏移時序。閘極輸出致能訊號GOE於閘極驅動積體電路GDIC之一或多者上指定時序資訊。
此外，為了控制資料驅動電路130，控制器140可輸出各種資料控制訊號DCS。資料控制訊號DCS包含一源極起始脈衝SSP(source start pulse)、一源極取樣時脈SSC(source sampling clock)、一源極輸出致能訊號SOE(source output enable signal)等。
源極起始脈衝SSP控制構成資料驅動電路130之源極驅動積體電路SDIC之一或多者的資料取樣起始時序。源極取樣時脈SSC是一種用於在相對應的源極驅動積體電路SDIC中控制取樣資料的時序的時脈訊號。源極輸出致能訊號SOE控制資料驅動電路130的輸出時序。
顯示裝置100可更包含一電源管理積體電路。電源管理積體電路用於將各種電壓或電流提供至顯示面板110、閘極驅動電路120、資料驅動電路130等，或控制待被提供於顯示面板110、閘極驅動電路120、資料驅動電路130等上的各種電壓或電流。
用於驅動子像素SP的各種電路元件可設置於各個子像素SP。
圖2繪示包含於根據本發明之實施例之顯示裝置100中的子像素SP之電路結構之示例的示意圖。
參閱圖2，各個子像素SP可包含一發光元件ED及一驅動電晶體DRT。驅動電晶體DRT驅動發光元件ED。發光元件ED例如可為有機發光二極體(organic light-emitting diode，OLED)，但並以此為限。
子像素SP可包含驅動電晶體DRT以外的至少一電晶體。子像素SP例如可包含一切換電晶體SWT(switching transistor)，切換電晶體SWT電性連接於一第一節點N1與資料線路DL之間。子像素SP可包含一感測電晶體SENT(sensing transistor)，感測電晶體SENT電性連接於一第二節點N2與一參考電壓線路RVL之間。
圖2所示的示例說明了驅動電晶體DRT、切換電晶體SWT及感測電晶體SENT為N型的狀況，但在一些情況中，至少一電晶體可為P型。
子像素SP可包含一電容Cstg，電容Cstg電性連接於第一節點N1與第二節點N2之間。
發光元件ED可包含一第一電極(例如，陽極或陰極)、一發光層及一第二電極(例如，陰極或陽極)。
發光元件ED的第一電極可電性連接於第二節點N2。基電壓Vss可被施加於發光元件ED的第二電極。基電壓Vss可為低電位驅動電壓。
驅動電晶體DRT可透過將驅動電流提供至發光元件ED而驅動發光元件ED。
驅動電晶體DRT的閘極節點可電性連接於第一節點N1。驅動電晶體DRT的源極節點或汲極節點(drain node)可電性連接於第二節點N2。驅動電晶體DRT的汲極節點或源極節點可電性連接於第三節點N3。
第三節點N3可電性連接提供驅動電壓Vdd的驅動電壓線路DVL。驅動電壓Vdd可為高電位驅動電壓。
驅動電晶體DRT可由第一節點N1的電壓控制。驅動電晶體DRT可由施加於第一節點N1的電壓關閉或開啟，且可控制提供至發光元件ED的驅動電流。
切換電晶體SWT可由透過第一閘極線路GL1提供的掃描訊號所控制，且可控制資料電壓Vdata向第一節點N1的提供情形。
感測電晶體SENT可由透過第二閘極線路GL2提供的掃描訊號所控制，且可控制參考電壓Vref向第二節點N2的提供情形。
在一些情況中，切換電晶體SWT及感測電晶體SENT可由相同的閘極線路GL控制。
根據切換電晶體SWT及感測電晶體SENT的驅動，施加至第一節點N1及第二節點N2的電壓可以被控制，且透過驅動電晶體DRT提供的驅動電流可以被控制。
並且，電容Cstg可電性連接於第一節點N1與第二節點N2之間，且可在一個幀的期間內維持對應於影像資料的資料電壓Vdata。
此電容Cstg可非為存在於第一節點N1與第二節點N2之間之內部電容的寄生電容，但可為位於第一節點N1與第二節點N2之間特意設計的外部電容。
圖2所示之子像素SP的電路結構為用於描述的示例，子像素SP可以由除了感測電晶體SENT之外的其他二個電晶體及一個電容構成。或者，在一些情況中，子像素SP可更包含一或多個電晶體或一或多個電容。
設置於顯示面板110的二或更多個子像素SP可構成一個像素。依據構成一個像素的子像素SP，設置於顯示面板110中的各種訊號線路及電壓線路的配置結構可為多樣的。
圖3繪示包含於根據本發明之實施例之顯示裝置100中的子像素SP及訊號線路之連接結構之示例的示意圖。
參閱圖3，圖3繪示相鄰的六個子像素SP1、SP2、SP3、SP4、SP5、SP6的電路結構的示例，且圖3繪示四個子像素SP2、SP3、SP4、SP5構成一個像素的示例。
各個子像素SP可包含供驅動電晶體DRT及電容Cstg所設置的一電路區域。各個子像素SP可包含供發光元件ED所設置的一發光區域。發光區域可至少為子像素SP內之電路區域以外之區域的一部分區域。
第一閘極線路GL1及第二閘極線路GL2可用來控制設置於同一列(row)之子像素SP的驅動。
例如可為了子像素SP設置將資料電壓Vdata提供至子像素SP的資料線路DL。且，二個資料線路DL可為相鄰的。
舉例來說，將資料電壓Vdata提供至第二子像素SP2的資料線路DL及將資料電壓Vdata提供至第三子像素SP3的資料線路DL可位於第二子像素SP2與第三子像素SP3之間。
驅動電壓線路DVL、參考電壓線路RVL可位於這些子像素SP之間未設有資料線路DL的區域。因此，驅動電壓線路DVL、參考電壓線路RVL可與資料線路DL設置於同一層，且可最小化因各種電壓線路的設置所造成的厚度增加。
各個驅動電壓線路DVL與參考電壓線路RVL可將電壓提供至在跨越電壓線路之方向上相鄰的二或更多個子像素SP。
舉例來說，設置於第三子像素SP3與第四子像素SP4之間的參考電壓線路RVL可經由參考電壓線路連接圖樣RVL_CP電性連接於設置在第二子像素SP2、第三子像素SP3、第四子像素SP4及第五子像素SP5上的感測電晶體SENT。
參考電壓線路連接圖樣RVL_CP與參考電壓線路RVL可設置在不同的層上。
參考電壓線路RVL可透過參考電壓線路連接圖樣RVL_CP將參考電壓Vref提供至四個子像素SP2、SP3、SP4、SP5。
類似於參考電壓線路RVL，驅動電壓線路DVL可將驅動電壓Vdd提供至位於驅動電壓線路DVL之二側的四個子像素SP。
舉例來說，位於第一子像素SP1與第二子像素SP2之間的驅動電壓線路DVL可透過驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP電性連接於第一子像素SP1、第二子像素SP2及第三子像素SP3。 再者，驅動電壓線路DVL可電性連接於位於第一子像素SP1之一側的子像素SP。
位於第五子像素SP5與第六子像素SP6之間的驅動電壓線路DVL可將驅動電壓Vdd提供至位於驅動電壓線路DVL之二側的四個子像素SP。
驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP於與驅動電壓線路DVL可設置不同的層上。
如同上述，驅動電壓線路DVL或參考電壓線路RVL可透過驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP或參考電壓線路連接圖樣RVL_CP將驅動子像素SP所需的驅動電壓Vdd或參考電壓Vref提供至多個子像素SP。
再者，在設置於子像素SP上的閘極線路GL被斷開的情況下，驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP或參考電壓線路連接圖樣RVL_CP可用來修復閘極線路GL。
圖4為繪示修復根據本發明之實施例的顯示裝置100所包含之子像素SP及訊號線路之連接結構中之閘極線路GL之缺陷的結構之示例的示意圖。
參閱圖4，圖4示出第一閘極線路GL1於設置於子像素SP上之這些閘極線路GL之中被斷開的示例(如閘極線路開口GL open)。
在第一閘極線路GL1被斷開的點位於第三子像素SP3的情況下，與第三子像素SP3構成一個像素的第二子像素SP2、第四子像素SP4及第五子像素SP5可以變暗。再者，在一些情況中，位於像素之二側的第一子像素SP1與第六子像素SP6可變暗。
子像素SP可透過切斷連接設置於子像素SP上的訊號線與電晶體之間的部分而變暗。
舉例來說，切換電晶體SWT與資料線路DL之間的部分可被切斷。感測電晶體SENT與參考電壓線路RVL之間的部分可被切斷。驅動電晶體DRT與驅動電壓線路DVL之間的部分可被切斷。
子像素SP可變暗，且閘極線路GL的修復可以透過使用設置於變暗之子像素SP上的驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP來執行。
舉例來說，重疊於被斷開的第一閘極線路GL1的驅動電壓線路DVL可以在二個點位被切斷。且，從驅動電壓線路DVL切斷的部分可以與第一閘極線路GL1焊接。
驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP之設置於第二子像素SP2與第三子像素SP3上的部分可從驅動電壓線路DVL被切斷。再者，驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP之設置於第四子像素SP4與第五子像素SP5上的部分可從驅動電壓線路DVL被切斷。
驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP的切斷部可為電性連接於驅動電壓線路DVL的切斷部的狀態。
驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP的切斷部可與位於變暗之子像素SP上的修復圖樣RP焊接。
設置在第一閘極線路GL1被斷開之點所在的子像素SP上的驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP可透過修復圖樣RP電性連接。
被斷開的第一閘極線路GL1可電性連接來自驅動電壓線路DVL的切斷部、電性連接來自驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP的切斷部及修復圖樣RP。第一閘極線路GL1的斷開缺陷可透過設置於子像素SP上的電壓線路的一部分被修復。
因此，透過第一閘極線路GL1提供的掃描訊號可經由通過來自驅動電壓線路DVL的切斷部、設置於變暗之子像素SP上的修復圖樣RP及來自驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP的切斷部而被提供。
再者，在第二閘極線路GL2發生斷開的情況下，第二閘極線路GL2可經由相似的方法修復。
如上所述，在閘極線路GL被斷開的情況下，隨著透過使用設置於子像素SP上之電壓線路的一部分修復閘極線路GL的斷開，閘極線路GL的斷開缺陷可輕易地被修復，同時透過最少化用於修復之分離元件(separated component)的設置來防止子像素SP的開孔率(aperture ratio)減少。
修復圖樣RP與驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP可設置於不同的層上。
修復圖樣RP與參考電壓線路RVL可設置於不同的層上。或者，修復圖樣RP與參考電壓線路RVL可設置於相同的層上。
圖5為繪示根據本發明之實施例之顯示裝置100所包含之用於修復閘極線路GL之修復圖樣RP設置於子像素SP上之結構之示例的示意圖。
參閱圖5，資料線路DL、驅動電壓線路DVL及參考電壓線路RVL可透過使用遮光金屬LS(light-shielding metal)來實施。閘極線路GL、驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP及參考電壓線路連接圖樣RVL_CP可透過使用閘極金屬GAT(gate metal)來實施。
圖5繪示閘極金屬GAT位於遮光金屬LS之上的示例。即，圖5繪示閘極線路GL位於資料線路DL之上的示例，但在一些情況中，本發明的實施例可應用於資料線路DL位於閘極線路GL之上的結構。
主動層ACT可設置於供遮光金屬LS所設置的層與供閘極金屬GAT所設置的層之間。
主動層ACT可作為切換電晶體SWT、感測電晶體SENT及驅動電晶體DRT的通道。此外，主動層ACT可作為驅動電晶體DRT的閘極電極，且可作為電容Cstg.
切換電晶體SWT可透過第一接觸孔CH1電性連接資料線路DL。切換電晶體SWT可透過第二接觸孔CH2電性連接驅動電晶體DRT的閘極電極。
感測電晶體SENT可透過第三接觸孔CH3電性連接參考電壓線路連接圖樣RVL_CP。感測電晶體SENT可透過第四接觸孔CH4電性連接驅動電晶體DRT的源極電極。
驅動電晶體DRT可透過第五接觸孔CH5電性連接驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP。驅動電晶體DRT可透過第六接觸孔CH6及第七接觸孔CH7電性連接發光元件ED之作為像素電極的陽極(未繪示)。
驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP可透過第八接觸孔CH8電性連接驅動電壓線路DVL。
參考電壓線路連接圖樣RVL_CP可透過第九接觸孔CH9電性連接參考電壓線路RVL。
連接於設置於第一子像素SP1與第二子像素SP2之間之驅動電壓線路DVL的驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP可設置為跨越位於驅動電壓線路DVL之二側的四個子像素SP。
連接於設置於第五子像素SP5與第六子像素SP6之間之驅動電壓線路DVL的驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP可設置為跨越位於驅動電壓線路DVL之二側的四個子像素SP。
驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb彼此可在第三子像素SP3與第四子像素SP4之間的邊界區域不連接。
連接不同之驅動電壓線路DVL的驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb可為在子像素SP上的分離結構(separate structure)。
包含重疊於驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb之一部分的修復圖樣RP可設置於分離的驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb之間。
在此，修復圖樣RP可設置為不是遮光金屬LS或閘極金屬GAT的金屬。或者，修復圖樣RP可實施為用來設置參考電壓線路RVL的遮光金屬LS。
因此，修復圖樣RP可位於參考電壓線路RVL的一側。且，重疊於修復圖樣RP之驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb中的一驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPb可跨越參考電壓線路RVL。驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP的一部分可重疊於參考電壓線路RVL。
也就是說，位於二驅動電壓線路DVL之間且彼此分離的驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb之其中一者可設置為跨越參考電壓線路RVL以進行修復。
在此，彼此分離的驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb在一些情況中可位於一直線上。
由於修復圖樣RP設置為在分離的驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb之間與驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb相分離的狀態，因此當閘極線路GL的斷開缺陷發生時，可以進行利用驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb與修復圖樣RP的修復。
圖6為沿圖5之割面線A-A’繪示之截面結構之示例的示意圖。
參閱圖6，修復圖樣RP可用遮光金屬LS實施。在修復圖樣RP用遮光金屬LS實施的情況中，修復圖樣RP可與資料線路DL、驅動電壓線路DVL及參考電壓線路RVL設置在相同的層上。
緩衝層BUF可設置於修復圖樣RP上。
驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb可設置於緩衝層BUF上。在一些情況中，主動層ACT或一或多個絕緣層可設置於緩衝層BUF上。
驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb可用閘極金屬GAT實施。在驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb用閘極金屬GAT實施的情況中，驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb可與閘極線路GL及參考電壓線路連接圖樣RVL_CP設置於相同的層上。
修復圖樣RP可包含一第一部RP1、一第二部RP2及一第三部RP3。第一部RP1重疊於一驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa，第二部RP2重疊於另一驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPb，且第三部RP3位於第一部RP1與第二部RP2之間。
修復圖樣RP可設置為與驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb絕緣的狀態。
在一些情況中，修復圖樣RP可設置為與重疊之驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb之任一者電性連接的狀態。
在這樣的情況中，緩衝層BUF可包含一接觸孔，接觸孔位於修復圖樣RP與驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb重疊的區域。
舉例來說，在修復圖樣RP電性連接重疊之驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb之中的一個驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa的狀態下，因為修復圖樣RP與另一驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPb焊接在一起，所以可以進行對於閘極線路GL的修復。
因此，顯示裝置100可包含修復圖樣RP，修復圖樣RP位於驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP為分離的點位上。
修復圖樣RP的一部分可重疊於驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP。修復圖樣RP可為與重疊之驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP絕緣的狀態，或可為電性連接於一個驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP的狀態。
在因閘極線路GL之斷開缺陷而進行修復的狀況中，修復圖樣RP可為電性連接於二個重疊之驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP的狀態。
圖7為繪示修復圖5之結構示例中之閘極線路GL之缺陷之結構示例的示意圖。
參閱圖7，圖7繪示第一閘極線路GL1在第三子像素SP3上被斷開的例子。
在第一閘極線路GL1被斷開的情況下，可使第一閘極線路GL1被斷開的點位所在的第三子像素SP3變暗。再者，與第三子像素SP3構成一個像素的第二子像素SP2、第四子像素SP4及第五子像素SP5可變暗。再者，在一些情況中，與變暗之像素共用驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP的第一子像素SP1及第六子像素SP6可變暗。
為了將子像素SP變暗，電晶體與電壓線路連接的部分可以被切斷。
為了修復第一閘極線路GL1，驅動電壓線路DVL的一部分可被切斷。來自驅動電壓線路DVL的切斷部可與重疊之第一閘極線路GL1焊接在一起，而電性連接於第一閘極線路GL1。
驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb可與驅動電壓線路DVL一起被切斷。被切斷的驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb可與重疊之修復圖樣RP焊接在一起而電性連接於修復圖樣RP。
因此，被斷開的第一閘極線路GL1可經由來自驅動電壓線路DVL的切斷部、來自驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb的切斷部及修復圖樣RP進行電性連接。
也就是說，第一閘極線路GL1的斷開缺陷可經由繞過變暗之像素的結構被修復。
圖8為繪示圖5之結構中之切斷部之截面結構之示例的示意圖。
參閱圖8，供遮光金屬LS所設置的層位於基板SUB上，且緩衝層BUF可設置於遮光金屬LS上。供閘極金屬GAT所設置的層位於緩衝層BUF上，且鈍化層PAS或塗佈層OC可設置於閘極金屬GAT上。
構成資料線路DL或電壓線路的遮光金屬LS可經由切割而被斷開。再者，構成閘極線路GL或電壓線路連接圖樣的閘極金屬GAT可經由切割而被斷開。
隨著電壓線路的一部分經由切割而被斷開，閘極線路GL之斷開點所在的像素可變暗。
圖9為繪示圖5之結構中之焊接部之截面結構之示例的示意圖。
參閱圖9，位於緩衝層BUF上的閘極金屬GAT及位於緩衝層BUF下的遮光金屬LS可經由焊接電性連接。
舉例來說，在由閘極金屬GAT所製成的第一閘極線路GL1與由遮光金屬LS製成的驅動電壓線路DVL重疊的區域上，被斷開的第一閘極線路GL1可經由焊接電性連接於從驅動電壓線路DVL切割出的部分。
由閘極金屬GAT製成的驅動電壓線路連接圖樣DVL_CPa、DVL_CPb可經由焊接電性連接於由遮光金屬LS製成的修復圖樣RP。
如上所述，根據本發明實施例，在閘極線路GL的斷開點所在的子像素SP上，藉由將閘極線路GL與驅動電壓線路DVL焊接在一起，及將驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP與修復圖樣RP焊接在一起，閘極線路GL的斷開可輕易地被修復。
在藉由使用驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP進行閘極線路GL之修復的情況下，透過使閘極線路GL之斷開點所在的像素變暗，可因閘極線路GL之修復而避免像素之驅動異常。
再者，本發明的實施例提供能透過將變暗的像素電性連接至相鄰的像素來驅動變暗之像素的方法。
圖10為繪示根據本發明之實施例之顯示裝置100中閘極線路GL之缺陷被修復之驅動子像素SP之方法之示例的示意圖。
參閱圖10，圖10繪示鄰近於第N子像素SP的第N+1子像素SP變暗之示例。
隨著第N+1子像素SP變暗，資料線路DL與切換電晶體SWT連接的點位可被切斷。參考電壓線路RVL與感測電晶體SENT在第N+1子像素SP內連接的點位可被切斷。驅動電壓線路DVL與驅動電晶體DRT在第N+1子像素SP內連接的點位可被切斷。
設置於第N+1子像素SP上的發光元件ED的第一電極可透過焊接電性連接至設置於第N子像素SP上的發光元件ED的第一電極。
第N+1子像素SP可根據被提供至處在將被變暗的狀態下之第N子像素SP的資料電壓Vdata呈現亮度。
在這種狀況下，提供至第N子像素SP之資料電壓Vdata的位準可高於對應第N子像素SP之影像資料所對應之資料電壓Vdata的位準。
舉例來說，在對應於第N子像素SP所呈現之影像資料的資料電壓Vdata的位準為10伏特(V)的情況下，可提供11V的資料電壓Vdata至第N子像素SP。
因此，隨著第N子像素SP及第N+1子像素SP根據提供至第N子像素SP的11V的資料電壓Vdata而被驅動，變暗的第N+1子像素SP可呈現亮度，且可避免第N子像素SP的亮度下降。
圖11為繪示根據本發明之實施例之顯示裝置100中的子像素SP之結構的示例，其中進行發光元件ED的修復以驅動修復閘極線路GL的缺陷之子像素SP。
參閱圖11，圖11繪示第一閘極線路GL1被斷開的示例。第一閘極線路GL1被斷開之點位所在的第N+1子像素SP可變暗。
位於第N+1子像素SP上的發光元件ED的第一電極E1可電性連接至位於第N子像素SP上之發光元件ED的第一電極E1。
舉例來說，由位於閘極金屬GAT之上之像素金屬PXL所製成的第一電極E1可設置於第N+1子像素SP。第一電極E1可為發光元件ED的陽極。
第一電極E1可透過第七接觸孔CH7電性連接於驅動電晶體DRT。
設置於第N+1子像素SP上的第一電極E1的一部分可重疊於位於第N子像素SP上之感測電晶體SENT的一部分。
在設置於第N+1子像素SP上的第一電極E1之部分重疊於位於第N子像素SP上之感測電晶體SENT之部分的結構中，當第N+1子像素SP變暗時，設置於第N+1子像素SP上之第一電極E1的該部分可焊接且電性連接於位於第N子像素SP上之感測電晶體SENT的該部分。
因此，設置於第N+1子像素SP上的第一電極E1可電性連接至設置於第N子像素SP上的第一電極E1。
圖12為沿圖11之割面線B-B’繪示之截面結構之示例的示意圖。
參閱圖12，圖11所示的B-B’部分示出設置於第N+1子像素SP上之第一電極E1的該部分重疊於設置於第N子像素SP上之感測電晶體SENT的該部分的部分。
在進行變暗之像素的修復之前，位於B-B’部分上的像素金屬PXL及遮光金屬LS可為彼此絕緣的狀態。
像素金屬PXL可為設置於第N+1子像素SP上的第一電極E1的一部分。
遮光金屬LS及閘極金屬GAT可為感測電晶體SENT的一部分，或可為電性連接於感測電晶體SENT的像素修復圖樣RP’。
位於塗佈層OC上的像素金屬PXL可透過焊接電性連接於遮光金屬LS。
因此，設置於變暗之第N+1子像素SP上的發光元件ED的第一電極E1可電性連接至設置於第N子像素SP上之發光元件ED的第一電極E1。且，藉由控制提供至第N子像素SP的資料電壓Vdata的位準，變暗的像素可被驅動，且可避免連接於變暗之像素的像素的亮度下降。
根據上述本發明之實施例，設置修復圖樣RP以重疊於驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP，當閘極線路GL的斷開發生時，閘極線路GL提供之掃描訊號的路徑可經由使用驅動電壓線路連接圖樣DVL_CP及修復圖樣RP來提供。
因此，設置於子像素SP上之閘極線路GL的斷開可以輕易地被修復，同時最少化額外設置於子像素SP的元件。
再者，根據本發明之實施例，閘極線路GL被斷開之點位所在的像素可以變暗，且變暗的像素可透過連接至相鄰的像素而被驅動。
藉此，閘極線路GL可被修復，同時避免閘極線路GL之斷開與修復所引起的影像異常。
以上描述是為了使本領域技術人員能夠實現和使用本發明的技術思想，並且是在特定應用及其要求的上下文中提供的。對所描述的實施例的各種修改、添加及替換對於本領域技術人員來說將是顯而易見的，並且在不脫離本發明的精神及範疇的情況下，本文定義的一般原理可以應用於其他實施例及應用。以上描述和圖式僅出於說明的目的提供了本發明的技術思想的示例。即，所揭露的實施例旨在說明本發明的技術思想的範圍。因此，本發明的範圍不限於所示的實施例，而是與申請專利範圍的最大保護範圍一致。本發明的保護範圍應以所附申請專利範圍為準，凡在其等同範圍內的技術思想均應理解為包含在本發明的保護範圍內。
100:顯示裝置 110:顯示面板 120:閘極驅動電路 130:資料驅動電路 140:控制器 AA:主動區域 NA:非主動區域 SP、SP1、SP2、SP3、SP4、SP5、SP6:子像素 GL:閘極線路 DL:資料線路 GDIC:閘極驅動積體電路 Vdata:資料電壓 SDIC:源極驅動積體電路 VSYNC:垂直同步訊號 HSYNC:水平同步訊號 DE:輸入資料致能訊號 CLK:時脈訊號 GCS:閘極控制訊號 GSP:閘極起始脈衝 GSC:閘極偏移時脈 GOE:閘極輸出致能訊號 DCS:資料控制訊號 SSP:源極起始脈衝 SSC:源極取樣時脈 SOE:源極輸出致能訊號 ED:發光元件 DRT:驅動電晶體 SWT:切換電晶體 SENT:感測電晶體 N1:第一節點 N2:第二節點 RVL:參考電壓線路 Cstg:電容 Vss:基電壓 N3:第三節點 DVL:驅動電壓線路 Vdd:驅動電壓 GL1:第一閘極線路 GL2:第二閘極線路 Vref:參考電壓 RVL_CP:參考電壓線路連接圖樣 DVL_CP、DVL_CPa、DVL_CPb:驅動電壓線路連接圖樣 GL open:閘極線路開口 RP:修復圖樣 LS:遮光金屬 GAT:閘極金屬 ACT:主動層 CH1:第一接觸孔 CH2:第二接觸孔 CH3:第三接觸孔 CH4:第四接觸孔 CH5:第五接觸孔 CH6:第六接觸孔 CH7:第七接觸孔 CH8:第八接觸孔 CH9:第九接觸孔 BUF:緩衝層 RP1:第一部 RP2:第二部 RP3:第三部 SUB:基板 PAS:鈍化層 OC:塗佈層 E1:第一電極 PXL:像素金屬 RP’:像素修復圖樣
本發明之上述及其他目的、特徵以及優點將從以下結合圖式的詳細描述中更清楚的理解，其中： 圖1為繪示根據本發明之實施例之顯示裝置之配置的示意圖。 圖2為繪示包含於根據本發明之實施例之顯示裝置中的子像素之電路結構之示例的示意圖。 圖3為繪示包含於根據本發明之實施例之顯示裝置中的子像素及訊號線路之連接結構之示例的示意圖。 圖4為繪示修復根據本發明之實施例的顯示裝置所包含之子像素及訊號線路之連接結構中之閘極線路之缺陷的結構之示例的示意圖。 圖5為繪示根據本發明之實施例之顯示裝置所包含之用於修復閘極線路之修復圖樣設置於子像素上之結構之示例的示意圖。 圖6為沿圖5之割面線A-A’繪示之截面結構之示例的示意圖。 圖7為繪示修復圖5之結構示例中之閘極線路之缺陷之結構示例的示意圖。 圖8為繪示圖5之結構中之切斷部之截面結構之示例的示意圖。 圖9為繪示圖5之結構中之焊接部之截面結構之示例的示意圖。 圖10為繪示根據本發明之實施例之顯示裝置中閘極線路之缺陷被修復之驅動子像素之方法之示例的示意圖。 圖11為繪示根據本發明之實施例之顯示裝置中的子像素之結構之示例的示意圖，其中進行發光元件ED的修復以驅動修復閘極線路之缺陷的子像素SP。 圖12為沿圖11之割面線B-B’繪示之截面結構之示例的示意圖。
100:顯示裝置
110:顯示面板
120:閘極驅動電路
130:資料驅動電路
140:控制器
AA:主動區域
NA:非主動區域
SP:子像素
DL:資料線路
GL:閘極線路
DCS:資料控制訊號
SSP:源極起始脈衝
SSC:源極取樣時脈
SOE:源極輸出致能訊號
GCS:閘極控制訊號
GSP:閘極起始脈衝
GSC:閘極偏移時脈
GOE:閘極輸出致能訊號
VSYNC:垂直同步訊號
HSYNC:水平同步訊號
DE:輸入資料致能訊號
CLK:時脈訊號

Claims (18)

  1. 一種顯示裝置，包含：多個閘極線路；多個驅動電壓線路，跨越該些閘極線路；多個驅動電壓線路連接圖樣，跨越該些驅動電壓線路，且在該些驅動電壓線路中的至少二者之間彼此分離；以及多個修復圖樣，位於該些驅動電壓線路中相鄰的二者之間，且各個該修復圖樣包含重疊於該些驅動電壓線路連接圖樣之其中一者之一部分的一第一部及重疊於該些驅動電壓線路連接圖樣之另一者之一部分的一第二部；其中該些驅動電壓線路連接圖樣之至少一者電性連接於該些閘極線路之其中一者。
  2. 如請求項1所述之顯示裝置，其中該些修復圖樣中的至少一者所包含的該第一部電性連接於該些驅動電壓線路連接圖樣中與該第一部重疊的該其中一者，該至少一修復圖樣所包含的該第二部電性連接於與該第二部重疊的該另一者。
  3. 如請求項1所述之顯示裝置，其中各個該修復圖樣之該第一部或該第二部電性連接於該些驅動電壓線路連接圖樣中與該第一部或該第二部重疊的該其中一者或該另一者。
  4. 如請求項1所述之顯示裝置，其中該些修復圖樣與該些驅動電壓線路設置於相同的層上。
  5. 如請求項1所述之顯示裝置，其中該些驅動電壓線路連接圖樣之至少一者電性分離於該些驅動電壓線路的其中一者。
  6. 如請求項1所述之顯示裝置，其中該些驅動電壓線路連接圖樣與該些閘極線路設置於相同的層上。
  7. 如請求項1所述之顯示裝置，其中該些驅動電壓線路的至少一者在二更多個點位被切斷，且電性連接於該些閘極線路中位於該二或更多個點位之間的至少一者。
  8. 如請求項7所述之顯示裝置，其中鄰近於在該二或更多個點位被切斷之該些驅動電壓線路的該至少一者的另一個該驅動電壓線路在二或更多個點位被切斷。
  9. 如請求項7所述之顯示裝置，其中鄰近於在該二或更多個點位被切斷之該些驅動電壓線路之該至少一者的一切斷點之多個薄膜電晶體之至少一者的一源極節點及一汲極節點中的至少一者被切斷。
  10. 如請求項7所述之顯示裝置，其中鄰近於在該二或更多個點位被切斷之該些驅動電壓線路的該至少一者的一切斷點之多個發光元件之至少一者的一陽極電性連接於相鄰之該些發光元件的另一者之該陽極。
  11. 如請求項1所述之顯示裝置，其中該些閘極線路之至少一者在該些驅動電壓線路中相鄰的二者之間分離。
  12. 如請求項1所述之顯示裝置，其中提供至該些閘極線路之至少一者的一掃描訊號通過該些驅動電壓線路連接圖樣之至少一者及該些修復圖樣之至少一者。
  13. 如請求項1所述之顯示裝置，更包含：多個參考電壓線路，各自位於該些驅動電壓線路中相鄰的二者之間；其中，各個該驅動電壓線路連接圖樣的一部分重疊於該些參考電壓線路之其中一者。
  14. 如請求項13所述之顯示裝置，其中該些修復圖樣的其中一者位於該些參考電壓線路之其中一者的一側。
  15. 一種顯示裝置，包含：多個閘極線路；多個驅動電壓線路，與該些閘極線路設置在不同的層上；以及多個驅動電壓線路連接圖樣，與該些閘極線路設置在相同的層上，且跨越該些驅動電壓線路的至少一者；其中，該些閘極線路的至少一者在該些驅動電壓線路中相鄰的二者之間被斷開，且透過該些驅動電壓線路連接圖樣的至少一者電性連接。
  16. 如請求項15所述之顯示裝置，其中該些閘極線路的至少一者透過從該些驅動電壓線路之至少一者切斷的部分電性連接於該些驅動電壓線路連接圖樣的其中一者。
  17. 如請求項15所述之顯示裝置，其中該些閘極線路的至少一者透過該些驅動電壓線路連接圖樣的二或更多者電性連接，且該些驅動電壓線路連接圖樣的該二或更多者透過至少一修復圖樣電性連接，該至少一修復圖樣與該些驅動電壓線路設置在相同的層上。
  18. 如請求項15所述之顯示裝置，其中各個該驅動電壓線路連接圖樣之一部分重疊於多個參考電壓線路的至少一者，該些參考電壓線路與該些驅動電壓線路設置於相同的層上。
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