TWI751791B - 固態加熱器以及製造方法 - Google Patents

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Abstract

公開一種固態加熱器及製造所述加熱器的方法。所述加熱器包括一體式組件，所述一體式組件包括為石墨的部分及為碳化矽的其他部分。電流在兩個或更多個端子之間穿過一體式結構的石墨部分進行傳導。碳化矽並不傳導電，但在整個一體式組件上傳導熱量是有效的。在某些實施例中，使用化學氣相轉換（CVC）生成固態加熱器。如果需要則可對一體式組件施加塗層，以保護一體式組件免受惡劣環境影響。

Description

固態加熱器以及製造方法
本公開的實施例涉及一種固態加熱器及製造所述加熱器的方法。
製作半導體器件涉及多個離散且複雜的製程。在某些製程中，在升高的溫度下執行這些製程中的一者或多者可為有利的。
舉例來說，在離子源內，不同的氣體可在不同的溫度下被最好地電離。較大的分子優選在較低的溫度下電離，以確保生成較大的分子離子。其他物質可在較高的溫度下被最好地電離。
相似地，在半導體器件的製作中存在其他製程，其中升高的溫度可為有益的。可通過使用加熱器來實現這些升高的溫度。在某些實施例中，這些加熱器可為輻射加熱器，例如加熱燈。在其他實施例中，這些加熱器可為電阻加熱器。
在某些應用中，形成加熱器可能具有挑戰性。舉例來說，為加熱器提供的空間可能有限。此外，在其中設置加熱器的環境可能是惡劣的，例如在電弧室（arc chamber）內。
因此，如果存在耐用、能夠經受惡劣環境且可被形成為多個不同的形狀及大小的固態加熱器，則將是有利的。此外，如果製造此種固態加熱器相對容易，則將是有利的。
公開一種固態加熱器及製造所述加熱器的方法。所述加熱器包括一體式組件，所述一體式組件包括為石墨的部分及為碳化矽的其他部分。電流在兩個或更多個端子之間穿過一體式結構的石墨部分進行傳導。碳化矽並不傳導電，但在整個一體式組件上傳導熱量是有效的。在某些實施例中，使用化學氣相轉換（chemical vapor conversion，CVC）生成固態加熱器。如果需要則可對一體式組件施加塗層，以保護一體式組件免受惡劣環境影響。
根據一個實施例，公開一種固態加熱器。所述固態加熱器包括：一體式組件，具有：第一部分，包含碳化矽；以及第二部分，包含石墨；其中所述第二部分形成連續導電路徑；以及電接觸件，與所述連續導電路徑進行電連通。在某些實施例中，所述連續導電路徑包括蛇形圖案。在某些實施例中，所述固態加熱器包括設置在所述一體式組件上的塗層。在另一些實施例中，所述塗層包含碳化矽。在某些實施例中，所述一體式組件的前表面及背表面是平面的。
根據另一實施例，公開一種製造固態加熱器的方法。所述方法包括：對石墨組件進行機加工，以生成具有薄的部分及較厚的部分的機制石墨組件；使所述機制石墨組件經受化學氣相轉換（CVC）製程，在所述化學氣相轉換製程中，將一氧化矽引入到容納所述機制石墨組件的處理室，其中所述化學氣相轉換製程生成一體式組件，所述一體式組件具有其中石墨被轉換成碳化矽的第一部分及其中所述石墨仍保持存在的第二部分；以及將電接觸件連接到所述第二部分。在某些實施例中，所述第一部分是在距所述石墨組件的表面小於擴散深度的區中生成。在某些實施例中，所述第二部分包含距所述石墨組件的任一表面遠於所述擴散深度的石墨。在一些實施例中，所述薄的部分的厚度小於或等於所述擴散深度的兩倍。在一些實施例中，所述較厚的部分的厚度大於所述擴散深度的兩倍。在某些實施例中，所述方法包括：對所述一體式組件的前表面和/或後表面進行研磨。在一些實施例中，在所述研磨之後，所述一體式組件的所述前表面和/或所述後表面是平面的。在某些實施例中，所述方法還包括：對所述一體式組件施加塗層。在一些實施例中，施加塗層包括使所述一體式組件經受化學氣相沉積（chemical vapor deposition，CVD）製程。
根據另一實施例，公開一種製造固態加熱器的方法。所述方法包括：使石墨組件經受化學氣相沉積（CVD）製程，以對所述石墨組件的表面施加碳化矽塗層；選擇性地從所述表面的一些部分移除所述碳化矽塗層，以形成碳化矽掩模；使具有所述碳化矽掩模的所述石墨組件經受化學氣相轉換（CVC）製程，在所述化學氣相轉換製程中，將一氧化矽引入到容納具有所述碳化矽掩模的所述石墨組件的處理室，其中所述化學氣相轉換製程生成一體式組件，所述一體式組件具有其中石墨被轉換成碳化矽的第一部分及其中所述石墨仍保持存在的第二部分；以及將電接觸件連接到所述第二部分。在某些實施例中，所述第一部分是在不被所述碳化矽掩模覆蓋的區中生成，且所述第二部分是在位於所述碳化矽掩模下方的區中形成。在一些實施例中，所述方法還包括：對所述一體式組件的表面進行研磨，以移除所述碳化矽掩模。在一些實施例中，所述方法還包括：對所述一體式組件施加塗層。在某些實施例中，所述第一部分是在不被所述碳化矽掩模覆蓋的距所述石墨組件的表面小於擴散深度的區中生成。在某些實施例中，所述石墨組件的厚度小於所述擴散深度的兩倍。
如上所述，在整個半導體製作製程中使用加熱器。本公開闡述一種被構造為一體式組件的固態加熱器。在本公開通篇中，「一體式組件」被定義為在同一組件中包含石墨及碳化矽二者的單一整體組件。此定義排除了通過將不同的組件結合在一起或者以其他方式將兩個不同的組件附接到彼此而生成的結構。
圖1示出可用於生成固態加熱器的一系列製程。首先，如方框100中所示，對石墨組件進行機加工，以生成薄的部分及較厚的部分。石墨組件可為任何形狀，例如矩形、圓形、橢圓形或另一其他合適的形狀。在某些實施例中，石墨組件可為具有任意長度及寬度的石墨板。換句話說，石墨組件的大小也不受本公開限制。此外，石墨組件的厚度也不受本公開限制。舉例來說，在某些實施例中，石墨組件是具有2毫米或大於2毫米的厚度的石墨板。在本公開中，「板」是其中厚度小於長度及寬度的矩形棱柱。
如上所述，對石墨組件進行機加工，以生成薄的部分及較厚的部分。在某些實施例中，薄的部分可具有小於或等於化學氣相轉換（CVC）製程的擴散深度的兩倍的厚度。此擴散深度是石墨組件的孔隙率、化學氣相轉換製程的持續時間及其他因素的函數。舉例來說，在某些實施例中，擴散深度可為大約700微米。在此實施例中，薄的部分的最大厚度可為1.4毫米。較厚的部分被定義為石墨組件的具有大於擴散深度的兩倍的厚度的部分。
機制石墨組件的較厚的部分將成為供電流流經固態加熱器的傳導路徑。在某些實施例中，將石墨組件機加工成使得較厚的部分形成蛇形形狀，但也可存在其他形狀。
圖2示出呈石墨板形式的石墨組件200。在此圖中，薄的部分210已在石墨組件200的一個表面上被生成為淺通道。此可使用標準銑削實踐來完成。在其他實施例中，可向石墨組件的兩個表面中機加工淺通道。石墨組件200的未被機加工的那些部分可被稱為較厚的部分220。應注意，在此實施例中，石墨組件200的較厚的部分220形成蛇形圖案。在此圖中，薄的部分210小於1.4毫米，而較厚的部分220為2.0毫米。應注意，也可使用其他尺寸，只要薄的部分210小於擴散深度的兩倍且較厚的部分220大於擴散深度的兩倍即可。
參照圖1，在已對石墨組件進行機加工之後，使石墨組件經受化學氣相轉換（CVC）製程，如方框110中所示。在此化學氣相轉換製程中，將機制石墨組件200放置在處理室內。將一氧化矽（SiO）引入到處理室中。一氧化矽與石墨組件如以下方程式中所示發生反應：SiO + 2C → SiC + CO。換句話說，一個一氧化矽分子與機制石墨組件200中的兩個碳原子發生反應，以形成一個碳化矽分子且釋放一個一氧化碳分子。持續進行此製程，直到不存在保留在機制石墨組件200中的被暴露出的碳為止。擴散的深度指從外表面開始測量的石墨組件已被轉換成碳化矽的深度。換句話說，在深度大於擴散深度時，石墨組件將保留有石墨。圖3示出化學氣相轉換製程之前的圖2所示機制石墨組件200的橫截面。圖4示出化學氣相轉換製程之後的圖3所示機制組件。應注意，機制石墨組件已轉變成一體式組件300，一體式組件300具有為碳化矽的第一部分310及保留有石墨的第二部分320。同樣，從前表面到第二部分320測量的厚度被定義為擴散深度315。應注意，如果薄的部分210小於擴散深度315的兩倍，則整個薄的部分210會成為包含碳化矽的第二部分320。然而，由於較厚的部分220厚於擴散深度315的兩倍，因此較厚的部分220的內部仍保留有包含石墨的第二部分320。在此圖中，第二部分320具有約600微米的厚度。
應注意，通過放置淺通道，可生成用於將兩個第二部分320彼此隔開的第一部分310。
碳化矽與石墨具有非常不同的特性。碳化矽具有為石墨的100倍的電阻。具體而言，碳化矽具有約102 歐姆-釐米（ohm-cm）到106 歐姆-釐米（取決於純度）的電阻率。石墨具有約.01歐姆-釐米的電阻率。石墨具有高達約85 W/m-K的熱導率，而化學氣相轉換碳化矽具有約170 W/m-K的熱導率。
接下來，如圖1的方框120中所示，視需要將一體式組件300研磨到期望的厚度。此也在圖5中示出。在某些實施例中，將一體式組件300研磨到使得第二部分320在一體式組件300的一個或兩個表面上被暴露出的深度。在圖5中，前表面已被研磨成暴露出第二部分320，而背表面已被研磨到較小的深度。在某些實施例中，對頂表面及背表面二者研磨以成為平面的。
接下來，如方框130中所示，將電接觸件添加到一體式組件300，以將一體式組件300轉變成固態加熱器。在一些實施例中，向第二部分320中在至少兩個位置處鑽制出孔。在某些實施例中，第二部分320形成連續導電路徑，且在此連續導電路徑的相對兩端處設置電接觸件。圖6示出一體式組件300，其中第二部分320形成蛇形路徑。第一部分310設置在蛇形路徑的相鄰的部分之間。在蛇形路徑的相對兩端處生成呈鑽孔形式的電接觸件330。
最後，如方框140中所示，視需要對一體式組件300施加塗層。舉例來說，在一個實施例中，可在一體式組件300的表面上沉積碳化矽層。可使用化學氣相沉積（CVD）製程或任何合適的製程執行此沉積。所述塗層並不僅限於碳化矽。在其他實施例中，可使用不同的材料作為塗層。塗層可用於將被暴露出的第二部分320與外部環境電隔離。
應注意，當期望固態加熱器的總厚度大於擴散深度的兩倍或者期望厚的導電路徑時，此方式可為有用的。應注意，較厚的部分220的厚度不受此方式限制。
儘管圖1到圖6示出生成固態加熱器的一種方式，然而也可使用利用化學氣相轉換製程的其他方式。
舉例來說，在另一實施例中，在石墨組件的一些部分上設置掩模，以生成一體式組件。圖7示出使用此方式產生固態加熱器的一系列製程。首先，如方框500中所示，對石墨組件的至少一個表面施加碳化矽塗層。石墨組件可為平面的。舉例來說，石墨組件可為石墨板。在某些實施例中，使用化學氣相沉積（CVD）製程在石墨組件600的頂部上沉積碳化矽塗層。圖8中示出其中碳化矽塗層605設置在石墨組件600的前表面上的實例。
接下來，如方框510中所示，接著選擇性地移除碳化矽塗層605的一些部分，以產生碳化矽掩模607。可使用例如研磨製程移除碳化矽塗層605。在圖9中示出具有碳化矽掩模607的石墨組件600的實例。
接著，使具有碳化矽掩模607的石墨組件600經受化學氣相轉換製程，如方框520中所示。如圖10中所示，在完成化學氣相轉換製程之後，生成一體式組件700，一體式組件700具有包含碳化矽的第一部分710及保留有石墨的第二部分720。應注意，在此實施例中，石墨組件600的設置在碳化矽掩模607之下的區成為第二部分720，而石墨組件600的被暴露出的區成為第一部分710。應注意，在某些實施例中，石墨組件600的起始厚度可小於擴散深度的兩倍，以確保第一部分710延伸穿過一體式組件700的厚度。
接下來，如方框530中所示，可使一體式組件700經受研磨製程，以從前表面移除碳化矽掩模607。因此，在研磨製程之後，一體式組件700可為具有設置在一個表面上的第一部分710與第二部分720的平面組件，如圖11中所示。
接下來，如方框540中所示，將電接觸件添加到一體式組件700，以將一體式組件700轉變成固態加熱器。在一些實施例中，向第二部分720中在至少兩個位置處鑽制出孔。在某些實施例中，第二部分720形成連續導電路徑，且在此連續導電路徑的相對兩端處設置電接觸件。此連續導電路徑可為蛇形路徑。第一部分710設置在蛇形路徑的相鄰的部分之間。在蛇形路徑的相對兩端處生成可呈鑽孔形式的電接觸件。
最後，如方框550中所示，視需要對一體式組件700施加塗層。舉例來說，在一個實施例中，可在一體式組件700的至少一個表面上沉積碳化矽層730，如圖12中所示。可使用化學氣相沉積（CVD）製程或任何合適的製程執行此沉積。所述塗層並不僅限於碳化矽。在其他實施例中，可使用不同的材料作為塗層。塗層可用於將被暴露出的第二部分720與外部環境電隔離。
應注意，當期望固態加熱器的總厚度小於擴散深度的兩倍時，此製程可為有用的。
因此，公開一種固態加熱器。所述固態加熱器包括一體式組件，所述一體式組件具有包含碳化矽的第一部分及包含石墨的第二部分。可使用化學氣相轉換製程生成此一體式組件。第二部分形成連續導電路徑。在此連續導電路徑的相對兩端上設置有電接觸件。在某些實施例中，連續導電路徑被形成為蛇形路徑。在某些實施例中，對一體式組件的外表面施加塗層，以將一體式組件與外部環境隔離。
本系統具有許多優點。首先，此方式使得能夠生成可用作加熱器的一體式組件。一體式組件中的材料的組合確保電流經過石墨進行傳導。然而，由於碳化矽的熱導率相對高，因此熱量可擴散到整個加熱器。圖13示出圖6中所示的固態加熱器的模擬熱圖。第二部分作為固態加熱器的較熱部分清晰可見；然而，熱量也分佈到第一部分，使得跨越固態加熱器表面的溫度變化小於45℃。
另外，生成固態加熱器的製程不對在固態加熱器中生成的導電路徑進行限制。舉例來說，如果需要則導電路徑可具有變化的寬度，以生成熱點及較冷的區域。另外，可生成具有任何期望形狀的路徑。此外，可在同一固態加熱器中生成兩條或更多條導電路徑。這兩條或更多條導電路徑可被單獨的電接觸件完全隔開或者可共享電接觸件。實際上，這些導電路徑可具有不同的長度及寬度，從而針對每一導電路徑生成不同的溫度輪廓。
此外，由於碳化矽具有高彎曲強度、高拉伸強度及高彈性模量，因此使用一體式組件會增加固態加熱器的剛性及結構完整性。因此，碳化矽會保護一體式組件中所包含的剛性較低的石墨。
可在離子注入系統中的各種位置中採用本文中所公開的固態加熱器。舉例來說，固態加熱器可設置在電弧室中或電弧室附近。作為另外一種選擇，固態加熱器可被設置為加熱室襯墊。
另外，可在其他應用中採用固態加熱器。據估計，可在大氣或氧化環境中在高達900℃的溫度下使用固態加熱器。在惰性環境（例如真空或氬氣）中，溫度可高達2500℃。此使得固態加熱器能夠用於其中使用高溫的其他應用中。舉例來說，可在金屬處理（例如鑄造及鍛造）中使用固態加熱器。另外，可在利用高溫的其他應用（例如晶體生長及窯爐（kiln））中使用固態加熱器。
本公開的範圍不受本文中所述的具體實施例限制。實際上，通過以上說明及附圖，對所屬領域中的普通技術人員來說，除本文中所述實施例及修改之外，本公開的其他各種實施例及對本公開的各種修改也將顯而易見。因此，這些其他實施例及修改均旨在落於本公開的範圍內。此外，儘管在本文中已出於特定目的而在特定環境中在特定實施方案的上下文中闡述了本公開，然而所屬領域中的普通技術人員將認識到，本公開的效用並不僅限於此且可出於任何數目的目的而在任何數目的環境中有益地實施本公開。因此，應考慮到本文中所述本公開的全部範圍及精神來理解以上所述的發明申請專利範圍。
100、110、120、130、140、500、510、520、530、540、550:方框 200:石墨組件/機制石墨組件 210:薄的部分 220:較厚的部分 300、700:一體式組件 310、710:第一部分 315:擴散深度 320、720:第二部分 330:電接觸件 600:石墨組件 605:碳化矽塗層 607:碳化矽掩模 730:碳化矽層
為更好地理解本公開，參照併入本文中供參考的附圖且在附圖中： 圖1示出根據一個實施例的可用於產生固態加熱器的序列。 圖2示出根據圖1所示實施例的可用於生成固態加熱器的石墨板。 圖3示出圖2所示石墨板的橫截面。 圖4示出化學氣相轉換製程之後的石墨板的橫截面。 圖5示出研磨製程之後的石墨板的橫截面。 圖6示出已添加電接觸件之後的固態加熱器。 圖7示出根據另一實施例的可用於產生固態加熱器的序列。 圖8示出化學氣相沉積製程之後的具有SiC塗層的石墨板的橫截面。 圖9示出已移除SiC塗層的一些部分以生成碳化矽掩模之後的圖8所示石墨板的橫截面。 圖10示出化學氣相轉換製程之後的圖9所示一體式組件的橫截面。 圖11示出研磨製程之後的圖10所示一體式組件的橫截面。 圖12示出化學氣相沉積製程之後的圖11所示一體式組件的橫截面。 圖13示出固態加熱器的模擬熱圖。
300:一體式組件
310:第一部分
320:第二部分
330:電接觸件

Claims (15)

  1. 一種固態加熱器，包括：一體式組件，具有：第一部分，包含碳化矽；以及第二部分，包含石墨；其中所述第二部分形成連續導電路徑，且所述第一部分直接接觸所述第二部分；以及電接觸件，與所述連續導電路徑進行電連通。
  2. 如請求項1所述的固態加熱器，其中所述連續導電路徑包括蛇形圖案。
  3. 如請求項1所述的固態加熱器，還包括設置在所述一體式組件上的塗層。
  4. 如請求項1所述的固態加熱器，其中所述一體式組件的前表面及背表面是平面的。
  5. 一種固態加熱器的製造方法，包括：對石墨組件進行機加工，以生成具有薄的部分及較厚的部分的機制石墨組件；使所述機制石墨組件經受化學氣相轉換製程，在所述化學氣相轉換製程中，將一氧化矽引入到容納所述機制石墨組件的處理室，其中所述化學氣相轉換製程生成一體式組件，所述一體式組件具有其中石墨被轉換成碳化矽的第一部分及其中所述石墨仍保持存在的第二部分；以及 將電接觸件連接到所述第二部分。
  6. 如請求項5所述的固態加熱器的製造方法，其中所述第一部分是在距所述石墨組件的表面小於擴散深度的區中生成，且其中所述第二部分包含距所述石墨組件的任一表面遠於所述擴散深度的石墨。
  7. 如請求項6所述的固態加熱器的製造方法，其中所述薄的部分的厚度小於或等於所述擴散深度的兩倍，且其中所述較厚的部分的厚度大於所述擴散深度的兩倍。
  8. 如請求項5所述的固態加熱器的製造方法，還包括：對所述一體式組件的前表面和/或後表面進行研磨。
  9. 如請求項8所述的固態加熱器的製造方法，其中在所述研磨之後，所述一體式組件的所述前表面和/或所述後表面是平面的。
  10. 如請求項5所述的固態加熱器的製造方法，還包括：對所述一體式組件施加塗層。
  11. 如請求項10所述的固態加熱器的製造方法，其中施加塗層包括使所述一體式組件經受化學氣相沉積製程。
  12. 一種製造固態加熱器的方法，包括：使石墨組件經受化學氣相沉積製程，以對所述石墨組件的表面施加碳化矽塗層；選擇性地從所述表面的一些部分移除所述碳化矽塗層，以形成碳化矽掩模； 使具有所述碳化矽掩模的所述石墨組件經受化學氣相轉換製程，在所述化學氣相轉換製程中，將一氧化矽引入到容納具有所述碳化矽掩模的所述石墨組件的處理室，其中所述化學氣相轉換製程生成一體式組件，所述一體式組件具有其中石墨被轉換成碳化矽的第一部分及其中所述石墨仍保持存在的第二部分；以及將電接觸件連接到所述第二部分。
  13. 如請求項12所述的製造固態加熱器的方法，其中所述第一部分是在不被所述碳化矽掩模覆蓋的區中生成，且所述第二部分是在位於所述碳化矽掩模下方的區中形成。
  14. 如請求項12所述的製造固態加熱器的方法，還包括：對所述一體式組件的表面進行研磨，以移除所述碳化矽掩模。
  15. 如請求項12所述的製造固態加熱器的方法，還包括：對所述一體式組件施加塗層。
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