TWI743048B - 偏光板之製造方法及偏光板之製造裝置 - Google Patents

偏光板之製造方法及偏光板之製造裝置 Download PDF

Info

Publication number
TWI743048B
TWI743048B TW105128731A TW105128731A TWI743048B TW I743048 B TWI743048 B TW I743048B TW 105128731 A TW105128731 A TW 105128731A TW 105128731 A TW105128731 A TW 105128731A TW I743048 B TWI743048 B TW I743048B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
polarizing plate
polarizing
manufacturing
cutting
strip
Prior art date
Application number
TW105128731A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201721197A (zh
Inventor
岡野彰
前田實
仲井宏太
八重樫將寬
大瀨雄基
Original Assignee
日商日東電工股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日商日東電工股份有限公司 filed Critical 日商日東電工股份有限公司
Publication of TW201721197A publication Critical patent/TW201721197A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI743048B publication Critical patent/TWI743048B/zh

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/30Polarising elements
    • G02B5/3025Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state
    • G02B5/3033Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state in the form of a thin sheet or foil, e.g. Polaroid
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/1717Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with a modulation of one or more physical properties of the sample during the optical investigation, e.g. electro-reflectance
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N2021/1738Optionally different kinds of measurements; Method being valid for different kinds of measurement
    • G01N2021/1742Optionally different kinds of measurements; Method being valid for different kinds of measurement either absorption or reflection

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Polarising Elements (AREA)

Abstract

本發明提供一種偏光板之製造方法,其能夠實現電子器件之多功能化及高功能化,且品質沒有偏差的偏光板。本發明偏光板之製造方法包括:將具有沿著長度方向及寬度方向以預定間隔配置之非偏光部的長條狀偏光板,以每隔預定長度方向輸送間距,從該長條狀偏光板之寬度方向的一側朝向另一側依次裁斷,且在裁斷該長條狀偏光板時,非偏光部檢測機構對該非偏光部的位置進行檢測,在以檢測到該非偏光部的位置為基準進行裁斷機構的定位,之後,利用裁斷機構裁斷長條狀偏光板,一張一張地獲得具有一非偏光部的單張偏光板。

Description

偏光板之製造方法及偏光板之製造裝置
技術領域
本發明涉及偏光板之製造方法及偏光板之製造裝置。
背景技術
對於行動電話、筆記本型個人電腦(PC)等的影像顯示裝置,存在搭載有相機等內部電子零件的影像顯示裝置。以提高如此的影像顯示裝置的相機性能等為目的,進行了各種研究(例如,專利文獻1~7)。不過,由於智慧手機、觸摸面板式的資訊處理裝置的快速普及,期望的是進一步提高相機性能等。另外,為了應對影像顯示裝置的形狀的多樣化及高功能化,要求局部地具有偏光性能的偏光板。為了在工業上及商業上實現此等期望,期望的是以能夠容許的成本製造影像顯示裝置及/或其零件,結果,為了確定那般的技術,還殘留有各種研究事項。
先行技術文獻
專利文獻
專利文獻1:日本特開2011-81315號公報
專利文獻2:日本特開2007-241314號公報
專利文獻3:美國專利申請公開第2004/0212555號說明書
專利文獻4:韓國公開專利第10-2012-0118205號公報
專利文獻5:韓國專利第10-1293210號公報
專利文獻6:日本特開2012-137738號公報
專利文獻7:美國專利申請公開第2014/0118826號說明書
發明概要
本發明是為了解決上述以往的課題而做成的,其主要目的在於提供一種製造能夠實現電子器件之多功能化及高功能化,且品質沒有偏差的偏光板的方法。
本發明偏光板之製造方法包括:將具有沿著長度方向及寬度方向以預定間隔配置之非偏光部的長條狀偏光板,以每隔預定長度方向輸送間距,從該長條狀偏光板之寬度方向的一側朝向另一側依次裁斷,且在裁斷該長條狀偏光板時,對該非偏光部的位置進行檢測,在以檢測到該非偏光部的位置作為基準而進行定位後,裁斷長條狀偏光板,一張一張地獲得具有一非偏光部的單張偏光板。
在1個實施形態中,包括:在進行上述長條狀偏光板裁斷時的定位之前,對設定於該長條狀偏光板的基準線進行檢測,基於所獲得的檢測資訊決定裁斷的面向。
在1個實施形態中,使用兩個基準線檢測機構對所述基準線進行檢測,對連結兩個基準線檢測機構的線與上述 基準線所成的角度進行調整,決定裁斷的面向。
在1個實施形態中,上述基準線是上述長條狀偏光板的寬度方向端邊。
在1個實施形態中,連結兩個基準線檢測機構的線與長條狀偏光板的輸送方向平行。
根據本發明的另一面,可提供一種偏光板之製造裝置。該製造裝置包括:輸送機構,其將長條狀偏光板以預定長度方向輸送間距輸送;非偏光部檢測機構,其對該長條狀偏光板所具有的非偏光部進行檢測;裁斷機構,其以來自該非偏光部檢測機構的檢測資訊為基準來決定裁斷位置,並裁斷該長條狀偏光板。
根據本發明,可提供一種將具有沿著長度方向及寬度方向以預定間隔配置之非偏光部的長條狀偏光板裁斷,來製造具有非偏光部的多個單張偏光板的方法。在該方法中,在裁斷長條狀偏光板時,非偏光部檢測機構對該非偏光部的位置進行檢測,將檢測到該非偏光部的位置作為基準來進行裁斷機構的定位,從而能夠獲得將非偏光部精度良好地配置於所期望的位置的單張偏光板。
10:非偏光部
20:偏光件
21:暴露部
30:第1表面保護薄膜
31:貫通孔
40:保護薄膜
50:第2表面保護薄膜
100:長條狀偏光板
101:偏光膜積層體
110:單張偏光板
200:非偏光部檢測機構
300:裁斷機構
400:基準線檢測機構
θW、θL:角度
圖1A是說明本發明1個實施形態中非偏光部配置圖案的一個例子的概略俯視圖。
圖1B是說明本發明1個實施形態中非偏光部配置圖案的一個例子的概略俯視圖。
圖1C是說明本發明1個實施形態中非偏光部配置圖案 的一個例子的概略俯視圖。
圖2的(a)~(e)是說明本發明1個實施形態之偏光板之製造方法的概略圖。
圖3是說明本發明實施形態中偏光件之製造方法中的偏光件與第1表面保護薄膜間之貼合的概略立體圖。
圖4是說明本發明實施形態中偏光件之製造方法中的非偏光部之形成的概略圖。
A.偏光板之製造方法(長條狀偏光板之裁斷方法)
本發明之製造方法包括裁斷長條狀偏光板而切出多個單張偏光板。以下,在本項中,說明本發明製造方法中長條狀偏光板的裁斷方法。此外,在本說明書中,“長條狀”是指長度相對於寬度足夠長的細長形狀,例如包括長度是寬度的10倍以上、較佳是20倍以上的細長形狀。
長條狀偏光板可具有沿著長度方向及寬度方向以預定間隔配置的非偏光部。非偏光部的配置圖案可根據目的恰當地設定。作為代表,上述非偏光部可在為了將偏光板安裝於預定尺寸的影像顯示裝置而將偏光板裁斷成預定尺寸(例如,沿著長度方向及/或寬度方向進行切斷、沖裁)時配置於與該影像顯示裝置之相機部相對應的位置。在1個實施形態中,非偏光部沿著長度方向及寬度方向都實質上以等間隔配置。此外,“沿著長度方向及寬度方向都實質上以等間隔”是指,長度方向的間隔是等間 隔、且寬度方向的間隔是等間隔,長度方向的間隔及寬度方向的間隔無需相等。在另一實施形態中,也可以是,非偏光部沿著長度方向實質上以等間隔配置、且沿著寬度方向以不同的間隔配置。於在寬度方向上非偏光部以不同的間隔配置的情況下,相鄰的非偏光部的間隔既可以全部不同,也可以僅一部分(特定相鄰非偏光部的間隔)不同。
圖1A是說明長條狀偏光板中非偏光部配置圖案的一個例子的概略俯視圖,圖1B是說明非偏光部配置圖案的另一例子的概略俯視圖,圖1C是說明非偏光部配置圖案的又另一例子的概略俯視圖。在1個實施形態中,如圖1A所示,非偏光部10配置成,將在長度方向上相鄰的非偏光部連結的直線與長度方向實質上平行,以及將在寬度方向上相鄰的非偏光部連結的直線與寬度方向實質上平行。在另一實施形態中,如圖1B所示,非偏光部10配置成,將在長度方向上相鄰的非偏光部連結的直線與長度方向實質上平行,以及將在寬度方向上相鄰的非偏光部連結的直線相對於寬度方向具有預定角度θW。在又一實施形態中,如圖1C所示,非偏光部10配置成,將在長度方向上相鄰的非偏光部連結的直線相對於長度方向具有預定角度θL,以及將在寬度方向上相鄰的非偏光部連結的直線相對於寬度方向具有預定角度θW。θL及/或θW較佳超過0°且為±10°以下。在此,“±”是指相對於基準方向(長度方向或寬度方向)而言順時針方向以及逆時針方向均包括在內。圖1B及圖1C所示的實施形態具有以下般的優點: 為了利用影像顯示裝置提高顯示特性,存在要求使偏光板的吸收軸相對於該裝置的長邊或短邊最大錯開10°左右地配置的情況。如後述般偏光板的吸收軸沿著長度方向或寬度方向呈現,因此,只要是上述般的結構,在如此的情況下,能夠將裁斷了的單張偏光板110的吸收軸的方向精密地控制成所期望的角度、且能夠顯著地抑制每個單張偏光板110的吸收軸的方向的偏差。此外,自不待言,非偏光部的配置圖案並不限定於圖示例。例如,非偏光部也可以配置成,將在長度方向上相鄰的非偏光部連結的直線相對於長度方向具有預定角度θL,以及將在寬度方向上相鄰的非偏光部連結的直線與寬度方向實質上平行。另外,也可以是,沿著長條狀偏光板的長度方向規定多個區域,按照每個區域分別設定θL及/或θW
非偏光部的俯視形狀可根據目的採用任意恰當的形狀。例如,只要不對使用偏光板的影像顯示裝置的相機性能帶來不良影響,非偏光部的俯視形狀可採用任意恰當的形狀。圖示例的非偏光部是圓形,但也可以形成為例如橢圓形、正方形、矩形、菱形等。
對於非偏光部的透射率(例如,23℃的條件下以波長為550nm的光測定出的透射率),較佳是50%以上,更佳是60%以上,進一步更佳是75%以上,特佳是90%以上。只要是如此的透射率,就能夠在例如以非偏光部與影像顯示裝置的相機部相對應的方式配置有偏光板的情況下防止對相機的拍攝性能的不良影響。
非偏光部可以是任意恰當的形態。在1個實施形態中,非偏光部是偏光件局部地脫色而成的脫色部。脫色部是藉由例如雷射照射或化學處理形成的。在另一實施形態中,非偏光部是貫通孔。貫通孔是藉由例如機械沖裁(例如,沖頭、湯姆遜刀沖裁、切繪儀、水刀切割)或預定部分的去除(例如,雷射燒蝕或化學溶解)形成的。
圖2是說明本發明1個實施形態偏光板之製造方法中長條狀偏光板之裁斷的一個例子的概略圖。在本發明製造方法中,包括:將具有沿著長度方向及寬度方向以預定間隔配置的非偏光部10的長條狀偏光板100,以每隔預定長度方向輸送間距(以下也簡稱為輸送間距),從長條狀偏光板100之寬度方向的一側朝向另一側依次裁斷。在裁斷長條狀偏光板100時,使以預定輸送間距輸送來的長條狀偏光板100停止(圖2的(a)),非偏光部檢測機構200對非偏光部10的位置進行檢測(圖2的(b)),將檢測到的非偏光部10的位置作為基準進行裁斷機構300的定位(圖2的(c)),之後,利用裁斷機構300裁斷長條狀偏光板100,一張一張地獲得具有一個非偏光部10的單張偏光板110。
因而,本發明偏光板之製造法所使用偏光板之製造裝置(長條狀偏光板的裁斷裝置)包括:輸送機構,其以預定長度方向輸送間距輸送長條狀偏光板;非偏光部檢測機構,其對長條狀偏光板所具有的非偏光部進行檢測;裁斷機構,其將來自非偏光部檢測機構的檢測資訊作 為基準而決定裁斷位置,並裁斷該長條狀偏光板。較佳的是,上述裁斷機構從長條狀偏光板之寬度方向的一側朝向另一側移動,且將所檢測到的非偏光部的位置作為基準決定裁斷位置。
上述裁斷機構可以是任意恰當的形態。在1個實施形態中,作為上述裁斷機構,可使用裁切刀(例如,湯姆遜刀、腐蝕刀)。裁切刀的形狀(即、裁斷而獲得的單張偏光板的形狀)可以是任意恰當的形狀。可列舉例如矩形形狀、正方形狀、多邊形狀、圓形狀、橢圓形狀等。較佳是矩形形狀。
上述裁斷機構可構成為能夠沿著長度方向及寬度方向移動。在1個實施形態中,裁斷機構能夠沿著長度方向移動預定長度且能夠在寬度方向的整個範圍內移動。另外,上述裁斷機構可構成為能夠以預定點為中心進行旋轉,以便可調整裁斷的面向。
作為上述非偏光部檢測機構,只要能夠對非偏光部及除了非偏光部以外的區域進行判別,就可採用任意恰當的檢測機構。作為非偏光部檢測機構,可列舉出例如透射光檢測感測器、反射光檢測感測器等感測器、透射光拍攝類型的相機、反射光拍攝類型的相機等相機等。
上述非偏光部檢測機構可構成為能夠沿著長度方向及寬度方向移動。在1個實施形態中,非偏光部檢測機構能夠沿著長度方向移動預定長度,能夠在寬度方向的整個範圍內移動。
在本發明製造方法中,首先,如圖2的(a)所示,非偏光部10進入要進行長條狀偏光板的裁斷的區域內,使長條狀偏光板100的輸送停止。之後,如圖2的(b)所示,非偏光部檢測機構200對非偏光部10的位置進行檢測。
作為代表,非偏光部檢測機構200以在預定區域內檢測一個非偏光部10的方式動作。在1個實施形態中,非偏光部檢測機構200沿著寬度方向移動預先設定好的距離,移動到作為檢測對象的非偏光部10所存在的區域,之後,以在該區域內檢測非偏光部10的方式進行2維動作。非偏光部檢測機構200在檢測到非偏光部10後,將其資訊(例如、座標資訊)向裁斷機構發送。反復進行該動作,沿著寬度方向排列的非偏光部的位置被依次檢測。
接下來,如圖2的(c)般,以檢測到的非偏光部10的位置為基準,即、基於來自非偏光部檢測機構200的檢測資訊進行裁斷機構300的定位。此時,裁斷機構300的位置以單張偏光板內的非偏光部的位置成為所期望的位置的方式被決定。在1個實施形態中,裁斷機構300的定位能夠以如此的方式進行:對將檢測到的非偏光部10的位置作為基準裁斷而獲得的單張偏光板110上的特定部位的位置、以及單張偏光板110的俯視形狀的面向(即、相對於長度方向及/或寬度方向的角度)進行控制。單張偏光板110上的特定部位可選擇任意恰當的部位,可列舉出例如單張偏光板110的俯視形狀的重心、頂點、邊上的一點 等。在1個實施形態中,作為裁斷機構使用矩形形狀的裁切刀,對非偏光部與裁切刀的俯視形狀上預定頂點間的距離、以及連結非偏光部以及該頂點的直線與長條狀偏光板的寬度方向端邊之間的角度進行控制,而進行裁斷機構的定位。
在1個實施形態中,在裁斷機構300的定位前(更佳的是在非偏光部檢測機構200對非偏光部10進行檢測前),使裁斷機構300沿著水平方向旋轉。如此的話,能夠對裁斷的面向進行恰當地調整而切出單張偏光板110,能夠將切出而獲得的單張偏光板110的吸收軸的方向設為所期望的角度。例如,如圖1B及圖1C所示,在將在寬度方向上相鄰的非偏光部連結的直線以相對於寬度方向具有預定角度θW的方式配置的情況下,根據角度θW使裁斷機構300沿著水平方向旋轉,對裁斷的面向進行調整。
較佳的是,裁斷機構300的水平方向上的面向(即、裁斷的面向)是以設定於長條狀偏光板100的基準線為基準對該基準線與裁斷機構300的預定邊(例如、矩形形狀裁切刀的情況下的該裁切刀的短邊或長邊)之間的角度進行調整而被決定的。如此的話,即使在長條狀偏光板100被曲折地輸送的情況下,也能夠高精度地控制裁斷的面向。另外,藉由不以非偏光部為基準而以基準線為基準對裁斷的面向進行調整,在非偏光部是圓形的情況下,也能夠高精度地控制裁斷的面向。在1個實施形態中,以矩形形狀裁切刀的預定邊A與將在寬度方向上相鄰的非偏 光部連結的直線平行、正交於邊A的邊B與將在寬度方向上相鄰的非偏光部連結的直線正交的方式決定裁斷機構300的面向。設定於長條狀偏光板100的基準線可列舉例如長條狀偏光板100的寬度方向端邊、被長條狀偏光板100的吸收軸規定的線等。在圖2的(b)中,示出了以長條狀偏光板100的寬度方向端邊為基準線的例子。在1個實施形態中,利用基準線檢測機構400對基準線(更具體而言,基準線的方向)進行檢測,基於所獲得的檢測資訊決定裁斷機構300的水平方向上的面向。基準線檢測機構400既可以與裁斷機構300一體,也可以與裁斷機構300獨立地構成。
較佳的是,使用兩個基準線檢測機構400。藉由使用兩個基準線檢測機構400,能夠精度良好地檢測基準線的方向。在1個實施形態中,對連結兩個基準線檢測機構400的線與上述基準線所成的角度進行調整,來決定裁斷機構300的水平方向上的面向。藉由使用例如矩形形狀裁切刀、以連結兩個基準線檢測機構400的線與長條狀偏光板的長度方向(輸送方向)平行的方式設置基準線檢測機構400,能夠對矩形形狀裁切刀的水平方向的面向(例如,矩形形狀裁切刀的短邊與基準線之間的角度)進行調整。
在進行了裁斷機構300的定位後,使裁斷機構300朝向長條狀偏光板100向上方或下方移動,以對長條狀偏光板100進行沖裁的方式進行裁斷,獲得單張偏光 板110。
如上所述,可獲得一張單張偏光板110。在本發明中,沿著寬度方向反復進行非偏光部的檢測及長條狀偏光板的裁斷,可在寬度方向上獲得多個單張偏光板。於在寬度方向上將長條狀偏光板100依次裁斷時,使非偏光部檢測機構200及裁斷機構300從長條狀偏光板100之寬度方向的一側朝向另一側移動,進行非偏光部10的檢測及長條狀偏光板100的裁斷(圖2的(d))。此外,在非偏光部檢測機構200對從長條狀偏光板100的寬度方向端部起第x個非偏光部10進行了檢測後,為了對下一個非偏光部10(即、從該寬度方向端部起第x+1個非偏光部)進行檢測的動作的時刻既可以在裁斷機構300裁斷第x個非偏光部10之前也可以在裁斷第x個非偏光部10之後,另外,也可以與第x個非偏光部10的裁斷同時。在1個實施形態中,在非偏光部檢測機構200沿著寬度方向最初對非偏光部10進行檢測前使裁斷機構300沿著水平方向旋轉而對裁斷的面向進行調整,在裁斷的面向保持恒定的狀態下,沿著寬度方向反復進行非偏光部10的檢測及長條狀偏光板100的裁斷。
在寬度方向上的一列中,在完成了長條狀偏光板100的裁斷後,如圖2的(e)所示,將長條狀偏光板100沿著長度方向輸送預定輸送間距,對於下一列,進行非偏光部的檢測及長條狀偏光板100的裁斷。以寬度方向上的一列中的檢測‧裁斷操作、以及該操作後的長條狀偏 光板100的1間距的量的輸送為1循環,反復將其進行預定次數,從而能夠從長條狀偏光板100獲得多張單張偏光板110。對於裁斷的面向,既可以在各循環之間相同,也可以在每個循環間不同。較佳的是每個循環的裁斷的面向可利用上述方法調整。只要在每個循環對裁斷的面向進行調整,那麼即使在長條狀偏光板100被曲折地輸送的情況下,也能夠高精度地控制裁斷的面向。輸送間距可根據非偏光部10的長度方向上的間隔來設定。例如,在長度方向上的非偏光部的排列與長度方向平行的情況下,較佳為輸送間距是與非偏光部10的長度方向上的間隔相同的長度。
根據本發明,如上所述,在裁斷長條狀偏光板時,非偏光部檢測機構對該非偏光部的位置進行檢測,以檢測到的該非偏光部的位置為基準進行裁斷機構的定位,從而能夠獲得非偏光部精度良好地配置於所期望的位置的單張偏光板。另外,能夠使獲得的多張的單張偏光板中的、非偏光部的位置偏差非常小。
B.具有非偏光部之長條狀偏光件之製造方法
上述長條狀偏光板至少包括具有非偏光部的長條狀偏光件。以下,對具有非偏光部之長條狀偏光件之製造方法進行說明。在A項中說明的長條狀偏光板的裁斷方法是例如在本項中說明的包括長條狀偏光件的長條狀偏光板的裁斷方法。
B-1.偏光件
作為代表,偏光件由含有二色性物質的樹脂薄膜構成。作為二色性物質,可列舉出例如碘、有機染料等。對於此等物質,可單獨使用或可組合兩種以上使用。較佳使用碘。
作為形成上述樹脂薄膜的樹脂,可使用任意恰當的樹脂。較佳使用聚乙烯醇系樹脂。作為聚乙烯醇系樹脂,可列舉例如聚乙烯醇、乙烯-乙烯醇共聚物。聚乙烯醇是藉由對聚醋酸乙烯進行皂化而獲得的。乙烯-乙烯醇共聚物是藉由對乙烯-醋酸乙烯共聚物進行皂化而獲得的。
偏光件(除了非偏光部之外)較佳在波長為380nm~780nm中的任一波長下呈現吸收二色性。對於偏光件(除了非偏光部之外)的單體透射率(Ts),較佳是39%以上,更佳是39.5%以上,進一步更佳是40%以上,特佳是40.5%以上。此外,單體透射率的理論上的上限是50%,實際應用的上限是46%。另外,單體透射率(Ts)是利用JIS Z8701的2度視場(C光源)測定並進行了能見度校正而得到的Y值,能夠使用例如顯微分光系統(Lambda Vision Inc.制、LVmicro)來測定。對於偏光件的偏光度(除了非偏光部之外),較佳是99.9%以上,更佳是99.93%以上,進一步更佳是99.95%以上。
偏光件的厚度可設定成任意恰當的值。對於厚度,較佳是30μm以下,更佳是25μm以下,進一步更佳是20μm以下,特佳是10μm以下。另一方面,對於厚 度,較佳是0.5μm以上、進一步更佳是1μm以上。
偏光件的吸收軸可根據目的設定於任意恰當的方向上。吸收軸的方向既可以是例如長度方向也可以是寬度方向。在長度方向上具有吸收軸的偏光件具有例如製造效率優異這般的優點。在寬度方向上具有吸收軸的偏光件具有例如能夠以輥對輥的方式與在長度方向上具有慢軸的相位差膜積層這般的優點。在1個實施形態中,吸收軸與長度方向或寬度方向實質上平行、且偏光件的寬度方向兩端被與長度方向平行地分割加工。根據如此的結構,能夠以偏光件的端邊為基準進行裁斷,能夠容易地製造在所期望的位置具有非偏光部、且在恰當的方向上具有吸收軸的多個偏光件。此外,偏光件的吸收軸可與後述的延伸處理中的延伸方向相對應。
作為代表,偏光件藉由對上述樹脂薄膜實施膨潤處理、延伸處理、利用上述二色性物質進行的染色處理、交聯處理、清洗處理、乾燥處理等各種處理而獲得。在實施各種處理時,樹脂薄膜也可以是在基材上形成的樹脂層。上述非偏光部的形成也可在偏光件的製作步驟的中途進行。
B-2.非偏光部的形成
較佳的是,非偏光部是脫色部。根據如此的結構,與以機械方式(利用使用例如湯姆遜刀沖裁、切繪機、水刀切割等而機械性地落料的方法)形成貫通孔的情況相比,裂紋、分層(層間剝離)、糊溢出等品質上的問題被避免。脫 色部較佳是藉由使鹼性溶液與偏光件(含有二色性物質的樹脂薄膜)的所期望的位置接觸而形成的。由如此的方法形成的非偏光部可設為二色性物質的含量比其他部位(非接觸部)的二色性物質的含量低的低濃度部。低濃度部的二色性物質自身的含量較低,因此,與利用雷射等使二色性物質分解而形成脫色部的情況相比,良好地維持非偏光部的透明性。
對於上述低濃度部的二色性物質的含量,較佳是1.0重量%以下,更佳是0.5重量%以下,進一步更佳是0.2重量%以下。低濃度部的二色性物質的含量的下限值通常是檢測極限值以下。對於上述其他部位的二色性物質的含量與低濃度部中的二色性物質的含量之差,較佳是0.5重量%以上,進一步更佳是1重量%以上。在使用碘作為二色性物質的情況下,對於碘含量,根據例如以螢光X線分析測定的X線強度並利用預先使用標準試樣而作成的檢量線求出。
作為上述鹼性溶液所含有的鹼性化合物,可使用任意恰當的化合物。作為鹼性化合物,可列舉出例如氫氧化鈉、氫氧化鉀、氫氧化鋰等鹼金屬的氫氧化物、氫氧化鈣等鹼土類金屬的氫氧化物、碳酸鈉等無機鹼金屬鹽、醋酸鈉等有機鹼金屬鹽、氨水等。其中,較佳使用鹼金屬及/或鹼土類金屬的氫氧化物,進一步更佳使用氫氧化鈉、氫氧化鉀、氫氧化鋰。能夠使二色性物質效率良好地離子化,能夠更簡便地形成脫色部。對於此等的鹼性化合物,既可以單獨使用,也可以組合使用兩種以上。
作為鹼性溶液的溶劑,較佳使用水、酒精。對於鹼性溶液的濃度,例如是0.01N~5N,較佳是0.05N~3N,進一步更佳是0.1N~2.5N。鹼性溶液的液溫例如是20℃~50℃。鹼性溶液的接觸時間可根據偏光件的厚度、鹼性溶液所含有的鹼性化合物的種類、濃度設定。對於接觸時間,例如是5秒~30分,較佳是5秒~5分。
作為鹼性溶液的接觸方法,可採用任意恰當的方法。可列舉出例如使鹼性溶液相對於偏光件滴下、塗敷、噴射的方法、使偏光件浸漬於鹼性溶液的方法。也可以是,在接觸鹼性溶液時,用任意恰當的保護材料保護偏光件,以使鹼性溶液不與所期望的部位以外的部位接觸。作為如此的保護材料,可使用例如保護薄膜、表面保護薄膜。保護薄膜能夠直接用作偏光件的保護薄膜。表面保護薄膜可在製造偏光件時臨時使用。表面保護薄膜在任意恰當的時刻從偏光件拆除,因此,作為代表,透過黏合劑層貼合於偏光件。作為保護材料的另一具體例,可列舉光致抗蝕劑等。另外,也可將在上述偏光件的製作步驟中使用的基材用作保護材料。
較佳的是,在接觸鹼性溶液時,偏光件表面以其至少一部分暴露的方式被表面保護薄膜被覆。對於具有圖示例般的非偏光部的配置圖案的偏光板,將在與該配置圖案相對應的位置形成有與所期望的非偏光部尺寸相對應的小圓形的貫通孔的表面保護薄膜貼合於偏光件的單側來準備偏光膜積層體,使該偏光膜積層體與鹼性溶液接 觸,從而製造出該偏光板。此時,較佳偏光件的另一側(沒有配置形成有貫通孔的表面保護薄膜的一側)也被保護。如圖3所示,較佳的是保護薄膜、表面保護薄膜的貼合藉由輥對輥的方式來進行。在本說明書中,“輥對輥(roll to roll)”是指,一邊輸送卷狀的薄膜一邊將彼此的長度方向對齊而積層。
圖4是本發明1個實施形態的偏光膜積層體的局部剖視圖。偏光膜積層體101包括:偏光件20;配置於偏光件20的一面側(在圖示例中,是上表面側)的第1表面保護薄膜30;配置於偏光件20的另一面側(在圖示例中,是下表面側)的保護薄膜40;以及第2表面保護薄膜50。偏光膜積層體101在其一面側(在圖示例中,是上表面側)具有偏光件20暴露的暴露部21、21…。暴露部21是藉由在第1表面保護薄膜30形成貫通孔31而設置的。
作為上述表面保護薄膜的形成材料,可列舉出聚對苯二甲酸乙二醇脂系樹脂等脂系樹脂、降冰片烯系樹脂等環烯系樹脂、聚乙烯、聚丙烯等烯烴系樹脂、聚醯胺系樹脂、聚碳酸酯系樹脂、其等的共聚物樹脂等。較佳是脂系樹脂(尤其是,聚對苯二甲酸乙二醇脂系樹脂)。其原因在於,彈性模量足夠高,例如即使在輸送及/或貼合時施加張力,也難以產生貫通孔的變形。對於表面保護薄膜的厚度,代表的是20μm~250μm,較佳是30μm~150μm。
第1表面保護薄膜具有以預定圖案配置的貫通孔。貫通孔的位置與要形成非偏光部的位置相對應。貫 通孔的形狀與所期望的非偏光部的形狀相對應。貫通孔是藉由例如機械沖裁(例如,沖頭、湯姆遜刀沖裁、切繪機、水刀切割)或薄膜的預定部分的去除(例如、雷射燒蝕或化學溶解)而形成的。
表面保護薄膜在例如接觸鹼性溶液後在任意恰當的時刻被剝離去除。
作為上述保護薄膜的形成材料,可列舉出例如二乙醯纖維素、三醋酸纖維素等纖維素系樹脂、甲基丙烯酸系樹脂、環烯系樹脂、聚丙烯等烯烴系樹脂、聚對苯二甲酸乙二醇脂系樹脂等脂系樹脂、聚醯胺系樹脂、聚碳酸酯系樹脂、其等的共聚物樹脂等。保護薄膜的厚度較佳是10μm~100μm。
在不使保護薄膜的偏光件積層的面上,作為表面處理層,也可以實施以硬塗層、防反射處理、擴散或防炫為目的的處理。作為代表,保護薄膜透過黏接劑層貼合於偏光件。
在1個實施形態中,上述鹼性溶液在與偏光件接觸後,可利用任意恰當的方法從偏光件去除。根據如此的實施形態,能夠更可靠地防止例如非偏光部的透射率隨著偏光件的使用而降低。作為鹼性溶液的去除方法的具體例,可列舉出清洗、由廢棉紗頭等進行的擦拭去除、吸引去除、自然乾燥、加熱乾燥、送風乾燥、減壓乾燥等。較佳的是,鹼性溶液被清洗。作為清洗所用的清洗液,可列舉出例如水(純水)、甲醇、乙醇等醇、以及其等的混合 溶劑等。較佳使用水。清洗次數並沒有特別限定,也可以進行多次。在藉由乾燥將鹼性溶液去除的情況下,其乾燥溫度例如是20℃~100℃。
較佳的是,在與上述鹼性溶液接觸後,在與鹼性溶液接觸的接觸部中,使樹脂薄膜所含有的鹼金屬及/或鹼土類金屬減少。藉由使鹼金屬及/或鹼土類金屬減少,能夠獲得尺寸穩定性優異的非偏光部。具體而言,即使在加濕環境下,也能夠一直維持藉由與鹼性溶液接觸而形成的非偏光部的形狀。
藉由與鹼性溶液接觸,可在接觸部殘存鹼金屬及/或鹼土類金屬的氫氧化物。另外,藉由與鹼性溶液接觸,可在接觸部生成鹼金屬及/或鹼土類金屬的金屬鹽(例如,硼酸鹽)。此等金屬鹽可生成氫氧化物離子,所生成的氫氧化物離子作用(使分解‧還原)於在接觸部周圍存在的二色性物質(例如,碘絡合物),可使非偏光區域擴大。因而,認為:藉由使鹼金屬及/或鹼土類金屬鹽減少來抑制非偏光區域隨著時間經過而擴大,可維持所期望的非偏光部的形狀。
對於上述非偏光部的鹼金屬及/或鹼土類金屬的含量,較佳是3.6重量%以下,更佳是2.5重量%以下,進一步更佳是1.0重量%以下,特佳是0.5重量%以下。對於鹼金屬及/或鹼土類金屬的含量,例如能夠根據利用螢光X線分析測定的X線強度並藉由預先使用標準試樣而作成的檢量線求出。
作為上述使鹼金屬及/或鹼土類金屬減少的方法,較佳使用使酸性溶液同其與鹼性溶液的接觸部接觸的方法。根據如此的方法,使鹼金屬及/或鹼土類金屬向酸性溶液高效地轉移,能夠使其含量減少。與酸性溶液的接觸既可以在去除上述鹼性溶液後進行,也可以不去除鹼性溶液就進行。
作為上述酸性溶液所含有的酸性化合物,能夠使用任意恰當的酸性化合物。作為酸性化合物,可列舉例如鹽酸、硫酸、硝酸、氟化氫等無機酸、甲酸、草酸、檸檬酸、醋酸、苯甲酸等有機酸等。對於酸性溶液所含有的酸性化合物,在此等之中較佳為無機酸,進一步更佳為鹽酸、硫酸、硝酸。對於此等酸性化合物,既可以單獨使用,也可以組合使用兩種以上。
作為酸性溶液的溶劑,以使用水、酒精為佳。對於酸性溶液的濃度,例如是0.01N~5N,較佳是0.05N~3N,進一步更佳是0.1N~2.5N。酸性溶液的液溫例如是20℃~50℃。酸性溶液的接觸時間例如是5秒~5分。此外,對於酸性溶液的接觸方法,可採用與上述鹼性溶液的接觸方法同樣的方法。另外,酸性溶液可從偏光件去除。對於酸性溶液的去除方法,可採用與上述鹼性溶液的去除方法同樣的方法。
B-3.偏光板的裁斷
包括形成非偏光部而獲得的長條狀偏光件的長條狀偏光板(例如,在長條狀偏光件的至少單側配置保護薄膜而 構成的長條狀偏光板)可藉由上述裁斷方法裁斷。
產業上的可利用性
利用本發明製造方法獲得的偏光板適合用於智慧手機等行動電話、筆記本型PC、平板PC等帶相機的影像顯示裝置(液晶顯示裝置、有機EL器件)。
10:非偏光部
100:長條狀偏光板
110:單張偏光板
200:非偏光部檢測機構
300:裁斷機構
400:基準線檢測機構

Claims (6)

  1. 一種偏光板之製造方法,其包括: 將具有沿著長度方向及寬度方向以預定間隔配置之非偏光部的長條狀偏光板,以每隔預定長度方向輸送間距,從該長條狀偏光板之寬度方向的一側朝向另一側依次裁斷,且 在裁斷該長條狀偏光板時,對該非偏光部的位置進行檢測,在以檢測到該非偏光部的位置為基準進行定位後,裁斷長條狀偏光板,而一張一張地獲得具有一非偏光部的單張偏光板。
  2. 如請求項1之偏光板之製造方法,其中,該製造方法包括: 在進行前述長條狀偏光板裁斷時的定位之前,對設定於該長條狀偏光板的基準線進行檢測,基於所獲得的檢測資訊決定裁斷的面向。
  3. 如請求項2之偏光板之製造方法,其中,使用兩個基準線檢測機構對前述基準線進行檢測,對連結兩個基準線檢測機構的線與前述基準線所成的角度進行調整,來決定裁斷的面向。
  4. 如請求項2或3之偏光板之製造方法,其中,前述基準線是前述長條狀偏光板的寬度方向端邊。
  5. 如請求項3之偏光板之製造方法,其中,連結兩個基準線檢測機構的線與長條狀偏光板的長度方向平行。
  6. 一種偏光板之製造裝置,其用於請求項1之偏光板之製造方法,該偏光板之製造裝置包括: 輸送機構,其以預定長度方向輸送間距輸送長條狀偏光板; 非偏光部檢測機構,其對該長條狀偏光板所具有的前述非偏光部進行檢測; 裁斷機構,其以來自該非偏光部檢測機構的檢測資訊為基準決定裁斷位置,並裁斷該長條狀偏光板。
TW105128731A 2015-09-30 2016-09-06 偏光板之製造方法及偏光板之製造裝置 TWI743048B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015-193960 2015-09-30
JP2015193960A JP6872312B2 (ja) 2015-09-30 2015-09-30 偏光板の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201721197A TW201721197A (zh) 2017-06-16
TWI743048B true TWI743048B (zh) 2021-10-21

Family

ID=58492410

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW105128731A TWI743048B (zh) 2015-09-30 2016-09-06 偏光板之製造方法及偏光板之製造裝置

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP6872312B2 (zh)
KR (1) KR102379797B1 (zh)
CN (1) CN107144908B (zh)
TW (1) TWI743048B (zh)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6742188B2 (ja) * 2016-08-02 2020-08-19 日東電工株式会社 偏光板の打ち抜き方法、および該方法に用いられる打ち抜き装置
JP7191578B2 (ja) * 2018-08-01 2022-12-19 日東電工株式会社 偏光子、偏光板、および、画像表示装置
JP2020020973A (ja) * 2018-08-01 2020-02-06 日東電工株式会社 偏光子、偏光板、および、画像表示装置
JP2020024240A (ja) * 2018-08-06 2020-02-13 日東電工株式会社 偏光子の製造方法
KR102542729B1 (ko) * 2018-12-18 2023-06-12 주식회사 엘지화학 편광판 면취 장치 및 이를 이용한 편광판의 면취 방법
JP7555446B1 (ja) 2023-03-29 2024-09-24 日東電工株式会社 光学フィルムの製造方法および製造装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020144579A1 (en) * 2001-04-05 2002-10-10 Peter Alsten Method and apparatus for rapid precision cutting of graphics areas from sheets
TW201343348A (zh) * 2012-04-04 2013-11-01 Sumitomo Chemical Co 薄膜切斷方法及薄膜切斷系統
JP2014081482A (ja) * 2012-10-16 2014-05-08 Nitto Denko Corp 偏光子および画像表示装置
TW201440941A (zh) * 2013-02-14 2014-11-01 Sumitomo Chemical Co 切斷裝置、切斷方法及光學組件貼合體之製造裝置

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3200373A (en) * 1960-11-22 1965-08-10 Control Data Corp Handwritten character reader
FR2570315B1 (fr) * 1984-09-18 1988-06-10 Loriot Jean Marc Procede de reperage de la position et de la forme de gabarits disposes sur un materiau en plaque ou en feuille
DE4100534C1 (zh) * 1991-01-10 1992-01-23 Duerkopp Systemtechnik Gmbh, 4800 Bielefeld, De
IT243960Y1 (it) * 1998-04-23 2002-03-06 Fotoba Internat S A S Di Pietr Dispositivo automatico di taglio in squadra di carta ed altrisupporti grafici e fotografici
JP2001154186A (ja) * 1999-11-25 2001-06-08 Advanced Display Inc 偏光板の切断方法
DE20009427U1 (de) * 2000-05-26 2000-09-28 Felber, Thea, 86709 Wolferstadt Vorrichtung zur Bearbeitung eines Materials oder eines Gegenstandes
JP4953517B2 (ja) * 2001-05-14 2012-06-13 日東電工株式会社 偏光板の製造方法及び液晶表示装置
JP2003019697A (ja) * 2001-07-06 2003-01-21 Eastern Giken Kk 枚葉シート打抜き製造機における送り制御装置
US20040212555A1 (en) 2003-04-23 2004-10-28 Falco Mark A. Portable electronic device with integrated display and camera and method therefore
JP4646951B2 (ja) 2007-06-06 2011-03-09 株式会社半導体エネルギー研究所 センサ付き表示装置
WO2009128115A1 (ja) * 2008-04-15 2009-10-22 日東電工株式会社 光学フィルム積層体ロールならびにその製造方法および装置
KR101380204B1 (ko) * 2008-12-31 2014-04-01 동우 화인켐 주식회사 편광판의 결함 제거방법 및 그 방법이 구현된 시스템
JP5434457B2 (ja) 2009-10-09 2014-03-05 ソニー株式会社 光学ユニットおよび撮像装置
JP5569791B2 (ja) * 2010-04-14 2014-08-13 住友化学株式会社 光学フィルム作製用原反フィルム、および光学フィルムの製造方法
JP5474869B2 (ja) * 2010-09-03 2014-04-16 日東電工株式会社 偏光膜を有する積層体ストリップロールの製造方法
US8467177B2 (en) 2010-10-29 2013-06-18 Apple Inc. Displays with polarizer windows and opaque masking layers for electronic devices
KR101293210B1 (ko) 2010-12-15 2013-08-05 주식회사 엘지화학 디스플레이 기기용 편광판의 구멍 형성 장치 및 방법
JP2012194475A (ja) * 2011-03-17 2012-10-11 Sumitomo Chemical Co Ltd 偏光板、偏光板の製造方法および液晶表示装置
CN102156318B (zh) * 2011-03-25 2013-03-13 明基材料有限公司 提升偏光板的吸收轴精度的制造方法及偏光板
KR101495759B1 (ko) 2011-04-18 2015-02-26 주식회사 엘지화학 디스플레이 장치용 편광판, 이를 이용한 액정 패널 및 디스플레이 장치
JP6027850B2 (ja) * 2012-10-26 2016-11-16 日東電工株式会社 偏光板の製造方法
US9075199B2 (en) 2012-10-30 2015-07-07 Apple Inc. Displays with polarizer layers for electronic devices
KR20150086159A (ko) * 2014-01-17 2015-07-27 주식회사 엘지화학 국지적으로 편광 해소 영역을 갖는 편광자 제조 방법, 이를 이용하여 제조된 편광자 및 편광판
TWI611221B (zh) * 2014-03-26 2018-01-11 Lg化學股份有限公司 具有局部漂白區域的偏光元件、偏光元件捲及單片式偏光元件的製造方法
JP6146921B2 (ja) * 2014-12-02 2017-06-14 日東電工株式会社 光学フィルムの製造方法および製造装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020144579A1 (en) * 2001-04-05 2002-10-10 Peter Alsten Method and apparatus for rapid precision cutting of graphics areas from sheets
TW201343348A (zh) * 2012-04-04 2013-11-01 Sumitomo Chemical Co 薄膜切斷方法及薄膜切斷系統
JP2014081482A (ja) * 2012-10-16 2014-05-08 Nitto Denko Corp 偏光子および画像表示装置
TW201440941A (zh) * 2013-02-14 2014-11-01 Sumitomo Chemical Co 切斷裝置、切斷方法及光學組件貼合體之製造裝置

Also Published As

Publication number Publication date
CN107144908A (zh) 2017-09-08
JP6872312B2 (ja) 2021-05-19
CN107144908B (zh) 2021-09-28
TW201721197A (zh) 2017-06-16
JP2017068062A (ja) 2017-04-06
KR102379797B1 (ko) 2022-03-28
KR20170038689A (ko) 2017-04-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI743048B (zh) 偏光板之製造方法及偏光板之製造裝置
TWI686295B (zh) 長條狀偏光件、長條狀偏光板及影像顯示裝置
TWI670352B (zh) 長條狀黏著薄膜
TWI709633B (zh) 長條狀黏著薄膜之製造方法
KR102663367B1 (ko) 편광자의 검사 방법
JP6604805B2 (ja) 偏光子の検査方法および偏光板の製造方法
JP2017068121A (ja) 偏光子の検査方法および偏光板の製造方法
KR102386369B1 (ko) 편광판의 검사 방법 및 검사 장치
JP6450545B2 (ja) 偏光子の製造方法
JP6695670B2 (ja) 偏光板の製造方法
JP2021039118A (ja) 偏光子の製造方法
JP6704230B2 (ja) 長尺状偏光子の検査方法、検査システムおよび製造方法
JP6666101B2 (ja) 長尺状偏光子の検査方法
JP6556008B2 (ja) 長尺状偏光子の検査方法
JP6706476B2 (ja) 長尺状偏光子の検査方法
JP2021028727A (ja) 偏光子の製造方法
JP2020144387A (ja) 長尺状の偏光フィルム積層体