TWI709519B - 具換帶單元之測試設備及換帶方法 - Google Patents

Abstract

一種具換帶單元之測試設備，包含測試裝置及換帶單元，測試裝置之箱體係設有第一通口，以供第一載帶移入具預設測試溫度之測試室，換帶單元係以第一換帶器輸出一卸除帶，卸除帶之第一端連接第一載帶，並以第二端連接待換新之具待測電子元件的第二載帶，卸除帶隨同第一載帶移入測試室，並帶動待換新的第二載帶移入測試室，使第二載帶承載下一批次之待測電子元件接續於測試室執行測試作業，再分離該卸除帶及第二載帶；藉以便利更換載帶，並確保測試室保持預設溫度執行測試作業，達到提升換帶作業便利性及節省能源成本之實用效益。

Description

具換帶單元之測試設備及換帶方法

本發明係提供一種可便利更換載帶，並確保測試室保持預設溫度執行測試作業，進而提升換帶作業便利性及節省能源成本的具換帶單元之測試設備及換帶方法。

在現今，電子元件日趨精密微型化，業者遂以一撓性材質製作之載帶(如薄膜載帶)裝載電子元件，然為確保電子元件之出廠品質，以測試設備對載帶上之電子元件執行測試作業，進而淘汰出不良品；請參閱第1圖，測試設備之測試裝置10係設有一具門板12之箱體11，箱體11之內部形成測試室111，並於後板112開設輸入口113及輸出口114，輸入口113係供移入具電子元件22之第一載帶21，輸出口114係供移出第一載帶21，測試裝置10另於箱體11設有輸送管115，以輸送具預設溫度之低溫氣體至測試室111，使測試室111具有預設測試低溫(如-50℃)，測試裝置10另於測試室111內配置上鏈輪131及下鏈輪132，以輸送第一載帶21上之電子元件22至一貼接件14，一位於貼接件14前方之測試器15，係配置探針151，以對測試室111內之第一載帶21上的待測電子元件22執行冷測作業 ，於冷測作業完畢，上鏈輪131及下鏈輪132輸送具已測電子元件22之第一載帶21由箱體11之輸出口114輸出收料。

然，當第一載帶21上之一批次電子元件22測試完畢後，欲更換新的具下一批電子元件24之第二載帶23時，工作人員必需開啟箱體11之門板12，將新的第二載帶23由箱體11之輸入口113拉入至測試室111內，方可將第二載帶23嵌套於上鏈輪131及下鏈輪132以供輸送，再將測試室111內之第二載帶23由箱體11之輸出口114移出以供捲收收料。

惟，當工作人員開啟箱體11之門板12而進行更換新第二載帶23作業時，測試室111之低溫氣體即持續向外流失，導致測試室111之溫度上升，並無法保持預設之低溫測試溫度，以致工作人員於更換新第二載帶23完畢後，必須重新添加大量低溫氣體至測試室111，方可令測試室111之測試溫度重新回到預設低溫測試溫度，造成增加測試能源成本之問題；再者，工作人員雖於測試室111添加大量低溫氣體，但測試室111之溫度並無法立即回到預設之低溫測試溫度，以致工作人員仍必須耗時空等測試室111降溫，造成增加測試作業時間而降低生產效能之問題。

本發明之目的一，係提供一種具換帶單元之測試設備，包含測試裝置及換帶單元，測試裝置之箱體係設有第一通口，以供第一載帶移入具預設測試溫度之測試室，換帶單元係以第一換帶器輸出一卸除帶，卸除帶之第一端連接第一載帶，並以第二端連接待換新之具待測電子元件的第二載帶，卸除帶隨同第一載帶移入測試室，並帶動待換新的第二載帶移入測試室，使第二載帶承載下一批次之待測電子元件接續於測試室執行測試作業，再分離該卸除帶及 第二載帶；藉此，不僅可迅速更換載帶，並於毋需開啟箱體之門板的狀態下，可確保測試室保持預設測試溫度，以避免再大量增添流體而降溫或升溫測試室，達到提升作業便利性及節省能源成本之實用效益。

本發明之目的二，係提供一種具換帶單元之測試設備，換帶單元係以第一換帶器輸出卸除帶，卸除帶帶動新的第二載帶隨同第一載帶移入測試室，而迅速完成換帶作業，藉以在毋需開啟箱體之門板的狀態下，可確保測試室保持預設測試溫度，換言之，工作人員不用耗時空等測試室降溫或升溫，進而有效縮減換帶作業時間，達到提高生產效能之實用效益。

本發明之目的三，係提供一種換帶方法，包含中介入帶手段、換帶手段、中介出帶手段及卸帶手段，中介入帶手段係以一具電子元件之第一載帶帶動換帶單元之卸除帶移入測試裝置之測試室；換帶手段係以卸除帶帶動一具電子元件之第二載帶移入測試室；中介出帶手段係將第一載帶及卸除帶移出測試室；卸帶手段係於卸除帶移出測試室後，以分離第二載帶及卸除帶；藉以迅速更換載帶，達到提升換帶作業便利性之實用效益。

〔習知〕

10:測試裝置

11:箱體

111:測試室

112:後板

113:輸入口

114:輸出口

115:輸送管

12:門板

131:上鏈輪

132:下鏈輪

14:貼接件

15:測試器

151:探針

21:第一載帶

22:電子元件

23:第二載帶

24:電子元件

〔本發明〕

30:測試裝置

31:箱體

311:測試室

3121:後板

3122:前板

3131:第一通口

3132:第二通口

3133:第三通口

3141:第一輸送輪

3142:第二輸送輪

315:貼接件

316:輸送管

317:門板

32:探針卡

321:探針

40:換帶單元

41:第一換帶器

411:第一轉軸

412:第一帶輪

42:第二換帶器

421:第二轉軸

422:第二帶輪

43:卸除帶

50:承載裝置

51:載架

52:驅動器

60:供料裝置

61:供料軸

62:供帶輪

70:收料裝置

71:收料軸

72:收帶輪

81:第一載帶

82:電子元件

83:第二載帶

84:電子元件

第1圖：習知測試設備之換帶使用示意圖。

第2圖：本發明測試設備及換帶單元第一實施例之示意圖。

第3圖：本發明測試設備及換帶單元第一實施例之使用示意圖。

第4圖：本發明換帶方法之流程圖。

第5圖：本發明換帶作業之使用示意圖(一)。

第6圖：本發明換帶作業之使用示意圖(二)。

第7圖：本發明換帶作業之使用示意圖(三)。

第8圖：本發明換帶作業之使用示意圖(四)。

第9圖：本發明換帶單元第二實施例之示意圖。

為使 貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如後：

請參閱第2圖，本發明測試設備包含測試裝置30及換帶單元40，更包含承載裝置50、供料裝置60及收料裝置70。

該測試裝置30包含至少一具測試室311之箱體31及至少一測試器，並於測試室311配置至少一輸送器，以供輸送一具電子元件之第一載帶及另一具電子元件之第二載帶移入/移出測試室311，更進一步，箱體31係設有至少一相通測試室311之通口，通口以供通過第一、二載帶；於本實施例中，箱體31係裝配於承載裝置50，並以內部空間作為測試室311，箱體之後板3121開設相通測試室311之第一通口3131及第二通口3132，於前板3122開設相通測試室311之第三通口3133；第一通口3131係供移入第一載帶及第二載帶(圖未示出)，第二通口3132係供移出第一、二載帶；又輸送器包含第一輸送輪3141及第二輸送輪3142，第一輸送輪3141及第二輸送輪3142係輸送具複數個電子元件之第一、二載帶作X-Z方向位移；箱體31係於測試室311設有至少一貼接件315，貼接件315位於第一輸送輪3141及第二輸送輪3142之間，並相對於第三通口3133，以供第一、二載帶貼靠；測試裝置30係設有至少一溫控器，以使電子元件於模擬日後應用場所溫度之測試環境執行測試作業，於本實施例中，箱體31係設有輸送管316，以供輸送具預設低溫之氣體至測試室311，使測試室311保持預設低溫之測 試溫度(如-50℃)，以供電子元件於測試室311執行冷測作業；另箱體31係設有可啟閉之門板317，以供啟閉測試室311；該測試器係用以測試電子元件，於本實施例中，測試器係為具探針321之探針卡32，並相對於箱體31之第三通口3133，以供探針卡32對測試室311內之電子元件執行測試作業。

換帶單元40係設有至少一第一換帶器，而輸出一卸除帶，以供更換載帶時，該卸除帶分別連接該第一載帶及該第二載帶，並於該第一載帶位移而以該卸除帶轉接帶動該第二載帶移入該測試室311；更進一步，於第二載帶移出測試室311，而可分離該卸除帶與該第二載帶；卸除帶可為平面帶體或具承槽之帶體，卸除帶之長度大於箱體31之第一通口3131經貼接件315至第二通口3132的路徑距離；本發明換帶單元40之第一實施例，換帶單元40係裝配於承載裝置50，並設置第一換帶器41及第二換帶器42，第一換帶器41包含第一轉軸411及一具卸除帶43之第一帶輪412，第一帶輪412係供輸出該卸除帶43，第二換帶器42包含第二轉軸421及第二帶輪422，第二帶輪422係供捲收該卸除帶43，當第一帶輪412供帶完畢而取下後，一已捲收卸除帶43之第二帶輪422可補充裝配於第一換帶器41，而作為第一帶輪使用。

承載裝置50包含載架51及驅動器52，載架51係供裝配測試裝置30及換帶單元40，驅動器52係裝配於載架51，以供驅動測試裝置30之箱體31位移，使第一載帶或第二載帶上之電子元件電性連接測試器而執行測試作業，於本實施例中，驅動器52係驅動箱體31位移，使第一載帶或第二載帶上之電子元件電性連接探針卡32之探針321而執行測試作業。

供料裝置60係裝配於承載裝置50，並設有至少一供料器，以輸出具待測電子元件之第一載帶或第二載帶；於本實施例中，供料器包含供料軸61 及供帶輪62，供帶輪62係捲收具待測電子元件82之第一載帶81，並裝配於供料軸61，供帶輪62係輸出具待測電子元件82之第一載帶81至測試裝置30，第一載帶81由箱體31之第一通口3131移入測試室311，並由第一輸送輪3141及第二輸送輪3142輸送至貼接件315，第一載帶81再由箱體31之第二通口3132輸出至收料裝置70。

收料裝置70係裝配於承載裝置50，並設有至少一收料器，以捲收具已測電子元件之第一載帶或第二載帶；於本實施例中，收料器包含收料軸71及收帶輪72，收帶輪72係供捲收具已測電子元件82之第一載帶81，並裝配於收料軸71。

請參閱第3圖，於測試電子元件82時，測試裝置30之第一輸送輪3141及第二輸送輪3142係輸送具電子元件82之第一載帶81位移進入測試室311，令第一載帶81之電子元件82位於貼接件315之前方，由於箱體31之輸送管316輸送低溫氣體至測試室311，而使測試室311形成一預設低溫(如-50℃)之測試環境，當承載裝置50之驅動器52驅動測試裝置30之箱體31作X方向位移時，即可供探針卡32之探針321通過箱體31之第三通口3133，而電性接觸電子元件82之接點，使電子元件82於預設低溫之測試室311內執行冷測作業；於測試完畢後，第一輸送輪3141及第二輸送輪3142再輸送具已測電子元件82之第一載帶81輸出測試室311，並以收料裝置70之收帶輪72捲收第一載帶81而收料。

請參閱第4、5圖，當接近完成第一載帶81上之全數電子元件82的測試作業，而欲換裝下一批新的具電子元件84之第二載帶83以接續測試時，本發明換帶方法包含中介入帶手段、換帶手段、中介出帶手段及卸帶手段；更包含執行中介入帶手段之前，先執行第一接帶手段，第一接帶手段係將卸除帶連 接於第一載帶；於本實施例中，換帶單元40之第一換帶器41的第一帶輪412係輸出不具電子元件之卸除帶43，並將卸除帶43之第一端連接於第一載帶81之第二端，使卸除帶43可隨第一載帶81同步位移，然卸除帶43與第一載帶81之連接方式可採黏接或釘接等方式，依作業需求而應用，不受限於本案所列舉之方式。

當卸除帶43與第一載帶81連接後，係執行中介入帶手段，中介入帶手段係以一具電子元件之第一載帶帶動換帶單元之卸除帶移入測試裝置之測試室；於本實施例中，由於第一輸送輪3141及第二輸送輪3142輸送具電子元件82之第一載帶81位移，而卸除帶43又連接第一載帶81，進而可在不開啟箱體31之門板317的要件下，利用第一載帶81帶動卸除帶43同步位移，而由箱體31之第一通口3131進入測試室311，使得測試室311保持預設之低溫測試溫度(如-50℃)，毋需添加大量之低溫氣體及耗時等待測試室311降溫，藉以節省成本及縮減作業時間。

請參閱第4、6圖，本發明換帶方法更包含於執行換帶手段之前，先執行第二接帶手段，第二接帶手段係將卸除帶連接於第二載帶，於本實施例中，供料裝置60之供帶輪62係換裝且輸出新的具待測電子元件84之第二載帶83，第二載帶83之第一端連接卸除帶43之第二端，使第二載帶83可隨卸除帶43同步位移，然卸除帶43與第二載帶83之連接方式可採黏接或釘接等方式，依作業需求而應用，不受限於本案所列舉之方式；當卸除帶43與第二載帶83連接後，係執行換帶手段，換帶手段係卸除帶43帶動一具電子元件之第二載帶83移入測試室311；於本實施例中，由於第一輸送輪3141及第二輸送輪3142輸送卸除帶43位移，而第二載帶83又連接卸除帶43，進而可在不開啟箱體31之門板317的要件下，利用卸除帶43帶動新具電子元件84之第二載帶83同步位移，而由箱體 31之第一通口3131進入測試室311，使得測試室311保持預設之低溫測試溫度(如-50℃)，毋需添加大量之低溫氣體及耗時等待測試室311降溫，藉以節省成本及縮減作業時間。

請參閱第4、7圖，中介出帶手段係將第一載帶及卸除帶移出測試室；於本實施例中，當第一輸送輪3141及第二輸送輪3142輸送具已測電子元件82之第一載帶81由箱體31之第二通口3132輸出，收料裝置70之收帶輪72係捲收具已測電子元件82之第一載帶81，而卸除帶43之第一端並隨同第一載帶81由箱體31之第二通口3132輸出。

本發明換帶方法更包含於執行中介出帶手段之後，再執行分帶手段，分帶手段係於第一載帶及卸除帶輸出測試室後，而分離卸除帶及第一載帶；於本實施例中，當卸除帶43之第一端隨同第一載帶81輸出後，可將卸除帶43與第一載帶81分離，以使具已測電子元件82之第一載帶81捲收於收料裝置70之收帶輪72，並將卸除帶43之第一端捲收於第二換帶器42之第二帶輪422。

請參閱第4、8圖，卸帶手段係於卸除帶移出測試室後，以分離第二載帶及卸除帶；於本實施例中，當第一輸送輪3141及第二輸送輪3142輸送卸除帶43之第二端及新具電子元件84之第二載帶83由箱體31之第二通口3132輸出，於卸除帶43與第二載帶83之第一端移出測試室311後，即可分離第二載帶83及卸除帶43，第二載帶83之第一端則捲收於收料裝置70之收帶輪72，卸除帶43係捲收於第二帶輪422，以待將空的第一帶輪412取下，即可將具卸除帶43之第二帶輪422補充裝配於第一換帶器41，而作為第一帶輪使用；因此，本發明換帶方法可在不開啟測試裝置30之門板317的要件下執行換帶作業，以確保測試裝置30之測試室311在換帶過程保持預設測試溫度，使得新更換之第二載帶83上的電 子元件84迅速接續於測試室311執行測試作業，達到縮減換帶作業時間而提高生產效能之實用效益。

請參閱第4、9圖，本發明換帶單元40之第二實施例與第一實施例之差異在於換帶單元40係設有第一換帶器41，以輸出卸除帶43及捲收卸除帶43，第一換帶器41之第一帶輪412係輸出卸除帶43，卸除帶43之第一端連接第一載帶81，而卸除帶43之第二端則供連接新的第二載帶83，於完成更換新的第二載帶83後，卸除帶43則可捲收回第一帶輪412，以便提供下一次換帶作業使用。

31:箱體

311:測試室

3131:第一通口

3141:第一輸送輪

3142:第二輸送輪

317:門板

40:換帶單元

41:第一換帶器

412:第一帶輪

43:卸除帶

81:第一載帶

82:電子元件

83:第二載帶

84:電子元件

Claims (10)

1. 一種具換帶單元之測試設備，包含： 測試裝置：係設置具測試室之箱體及測試器，並於該測試室配置至少 一輸送器，以供輸送一具電子元件之第一載帶及另一具電 子元件之第二載帶移入／移出該測試室，該測試器係用以 測試電子元件； 換帶單元：係設置至少一第一換帶器，該第一換帶器係輸出至少一卸 除帶，以供更換載帶時，該卸除帶分別連接該第一載帶及 該第二載帶，並於該第一載帶位移而以該卸除帶轉接帶動 該第二載帶移入該測試室。
2. 依申請專利範圍第1項所述之具換帶單元之測試設備，其中，該換帶單元之該第一換帶器係輸出及捲收該卸除帶。
3. 依申請專利範圍第1項所述之具換帶單元之測試設備，其中，該換帶單元係設有該第一換帶器及第二換帶器，該第一換帶器係輸出該卸 除帶，該第二換帶器係捲收該卸除帶。
4. 依申請專利範圍第3項所述之具換帶單元之測試設備，其中，該第一換帶器包含第一轉軸及一具該卸除帶之第一帶輪，該第一帶輪係供輸出該卸除帶，該第二換帶器包含第二轉軸及第二帶輪，該第二帶輪係供捲收該卸除帶，並於該第一帶輪取下後，將已捲收該卸除帶之該第二帶輪補充裝配於該第一換帶器。
5. 依申請專利範圍第1項所述之具換帶單元之測試設備，其中，該測試裝置係設有至少一溫控器，以供該電子元件於預設測試溫度執行測試作業。
6. 依申請專利範圍第1至5項中任一項所述之具換帶單元之測試設備，更包含： 承載裝置：係設有至少一載架，以供裝配該測試裝置及該換帶單元； 供料裝置：係裝配於該承載裝置之該載架，並設有至少一供料器，以 輸出該第一載帶或該第二載帶； 收料裝置：係裝配於該承載裝置之該載架，並設有至少一收料器，以 捲收該第一載帶或該第二載帶。
7. 一種換帶方法，包含： 中介入帶手段：係以一具電子元件之第一載帶帶動換帶單元之卸除帶 移入測試裝置之測試室； 換帶手段：係以該卸除帶帶動一具電子元件之第二載帶移入該測試 室； 中介出帶手段：係將該第一載帶及該卸除帶移出該測試室； 卸帶手段：係於該卸除帶移出該測試室後，以分離該第二載帶及該 卸除帶。
8. 依申請專利範圍第7項所述之換帶方法，其中，該卸除帶於移出該測試室後，係捲收於第一換帶器或第二換帶器。
9. 依申請專利範圍第7項所述之換帶方法，更包含分帶手段，該分帶手段係於該第一載帶移出該測試室後，而分離該卸除帶及該第一載帶。
10. 依申請專利範圍第7至9項中任一項所述之換帶方法，更包含第一接帶手段及第二接帶手段，該第一接帶手段係將該卸除帶連接於該第一載帶，該第二接帶手段係將該卸除帶連接於該第二載帶。

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