TWI706984B - 液壓轉印用基膜 - Google Patents

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Abstract

一種單層液壓轉印用基膜，其相對於100質量份的聚乙烯醇，而含有1.5~15質量份的平均粒徑為2~14μm且深寬比為4~60之板狀或針狀的填充劑；以及一種液壓轉印用基膜之製造方法，其具有使用製膜原液進行製膜的步驟，該製膜原液係相對於100質量份的聚乙烯醇而含有1.5~15質量份的平均粒徑為2~14μm且深寬比為4~60之板狀或針狀填充劑。藉此，可提供一種從捲筒拉取時不易斷裂的液壓轉印用基膜及其製造方法。

Description

液壓轉印用基膜
本發明係關於一種液壓轉印用基膜，其用以製造在對具有存在凹凸之立體面或曲面的成形體等被轉印體上實施印刷之際所使用的液壓轉印用薄膜。又，其係關於該液壓轉印用基膜之製造方法、捲繞該液壓轉印用基膜而成的捲筒、於該液壓轉印用基膜的表面上實施印刷而成的液壓轉印用薄膜及其製造方法、以及使用該液壓轉印用薄膜之液壓轉印方法。
作為形成用以對具有存在凹凸之立體面或曲面的成形體表面賦予設計性或使表面物性提高之印刷層的方法，而已知一種使用在水溶性或水膨潤性之薄膜表面形成有轉印用印刷層之液壓轉印用薄膜的方法。例如，專利文獻1中記載了一種方法，其係使液壓轉印用薄膜的印刷面朝上而浮在以水為代表之液體的液面後，從其上方將被轉印體的各種成形體壓入，藉此利用液壓而將印刷層轉印於被轉印體表面。
先前技術文獻 專利文獻
專利文獻1 日本特開昭54-33115號公報
專利文獻2 日本特開2002-146053號公報
但是，液壓轉印用薄膜的製造所使用的液壓轉印用基膜，大多在連續地製膜成長形的薄膜形態後，被捲繞成捲筒狀，並以捲筒的形態被包裝而運送至二次加工製造廠等，之後，將包裝被打開的捲筒裝設於拉取裝置，對從其所拉取之液壓轉印用基膜實施印刷等二次加工，製成液壓轉印用薄膜。
此情況下，在從拉取裝置拉取液壓轉印用基膜之際，具有液壓轉印用基膜會斷裂的問題。此問題在實施高速印刷的情況下特別明顯。由於在連續方式的加工線，係需要花費時間來將液壓轉印用基膜重新導入加工裝置，故液壓轉印用基膜的斷裂成為一大生產損耗。
就用以防止液壓轉印用基膜斷裂的方法而言，有人想到使液壓轉印用基膜的機械強度提高，並作為其方法而舉出摻合填充劑的方法。就摻合有填充劑的PVA薄膜而言，已知含有特定量之填充劑且表面粗糙度在特定範圍的PVA薄膜等(參照專利文獻2)。然而，即使單純地摻合填充劑，為了減少將液壓轉印用基膜從捲筒拉取之際的斷裂，還有進一步改良的空間。
本發明係為了解決上述課題而進行者，其目的在於提供一種在從捲筒拉取之際不易斷裂的液壓轉印用基膜及其製造方法、捲繞該液壓轉印用基膜而成的捲筒、於該液壓轉印用基膜的表面實施印刷而成的液壓轉印用薄膜及其製造方法、以及使用該液壓轉印用薄膜的液壓轉印方法。
本案發明人等為了達成上述目的而反覆深入研究的結果，發現了如藉由摻合具有特定平均粒徑及深寬比的板狀或針狀之填充劑的液壓轉印用基膜，則膜面彼此的密合會被抑制，且薄膜本身的機械強度也會變高，其結果，從捲筒拉取之際的斷裂發生係大幅減少。本案發明人等根據此見解進一步反覆進行研究而完成了本發明。
亦即，本發明係關於下述：[1]一種單層液壓轉印用基膜，其相對於100質量份的聚乙烯醇(以下有時將「聚乙烯醇」簡稱為「PVA」)，而含有1.5~15質量份的平均粒徑為2~14μm且深寬比為4~60之板狀或針狀的填充劑；[2]如上述[1]之液壓轉印用基膜，其中，PVA的皂化度為80~99莫耳%；[3]如上述[1]或[2]之液壓轉印用基膜；其中，PVA的平均聚合度為500~3,000； [4]一種液壓轉印用基膜之製造方法，其具有使用製膜原液進行製膜的步驟，該製膜原液係相對於100質量份的PVA，而含有1.5~15質量份的平均粒徑為2~14μm且深寬比為4~60之板狀或針狀填充劑；[5]一種捲筒，其係捲繞如上述[1]至[3]中任一項的液壓轉印用基膜而成；[6]一種液壓轉印用薄膜，其係於上述[1]至[3]中任一項之液壓轉印用基膜的表面實施印刷而成；[7]一種液壓轉印用薄膜之製造方法，其包含下述步驟：從如上述[5]之捲筒拉取液壓轉印用基膜的步驟；及於拉取之液壓轉印用基膜的表面實施印刷的步驟；[8]一種液壓轉印方法，其包含下述步驟：使如上述[6]之液壓轉印用薄膜實施印刷的面朝上而浮在液面的步驟；及從浮起之液壓轉印用薄膜的上方推壓被轉印體的步驟。
如根據本發明，則可提供一種在從捲筒拉取之際不易斷裂的液壓轉印用基膜及其製造方法、捲繞該液壓轉印用基膜而成的捲筒、於該液壓轉印用基膜表面實施印刷而成的液壓轉印用薄膜及其製造方法、以及使用該液壓轉印用薄膜的液壓轉印方法。
用以實施發明之形態
以下針對本發明進行詳細說明。
本發明之液壓轉印用基膜包含PVA。就該PVA而言，可使用藉由將乙酸乙烯酯、甲酸乙烯酯、丙酸乙烯酯、丁酸乙烯酯、三甲基乙酸乙烯酯、叔碳酸乙烯酯、月桂酸乙烯酯、硬脂酸乙烯酯、苯甲酸乙烯酯、乙酸異丙烯酯等乙烯酯的1種或2種以上聚合所獲得之聚乙烯酯進行皂化而得者。上述乙烯酯之中，從PVA之製造簡易度、取得簡易度、成本等的觀點來看，較佳為乙酸乙烯酯。
上述聚乙烯酯，較佳為僅使用1種或2種以上的乙烯酯作為單體所獲得者，更佳為僅使用1種乙烯酯作為單體所獲得者，但只要在不損及本發明之效果的範圍內，亦可為1種或2種以上之乙烯酯及可與其共聚合之其他單體的共聚物。
就可與上述乙烯酯共聚合的其他單體而言，可列舉例如乙烯、丙烯、1-丁烯、異丁烯等的碳數2~30之α-烯烴；(甲基)丙烯酸或其鹽；(甲基)丙烯酸甲酯、(甲基)丙烯酸乙酯、(甲基)丙烯酸正丙酯、(甲基)丙烯酸異丙 酯、(甲基)丙烯酸正丁酯、(甲基)丙烯酸異丁酯、(甲基)丙烯酸第三丁酯、(甲基)丙烯酸2-乙基己酯、(甲基)丙烯酸十二酯、(甲基)丙烯酸十八酯等的(甲基)丙烯酸酯；(甲基)丙烯醯胺、N-甲基(甲基)丙烯醯胺、N-乙基(甲基)丙烯醯胺、N,N-二甲基(甲基)丙烯醯胺、二丙酮(甲基)丙烯醯胺、(甲基)丙烯醯胺丙磺酸或其鹽、(甲基)丙烯醯胺丙基二甲胺或其鹽、N-羥甲基(甲基)丙烯醯胺或其衍生物等的(甲基)丙烯醯胺衍生物；N-乙烯基甲醯胺、N-乙烯基乙醯胺、N-乙烯基吡咯啶酮等的N-乙烯基醯胺；甲基乙烯醚、乙基乙烯醚、正丙基乙烯醚、異丙基乙烯醚、正丁基乙烯醚、異丁基乙烯醚、第三丁基乙烯醚、十二烷基乙烯醚、硬脂醯乙烯醚等的乙烯醚；(甲基)丙烯腈等的氰化乙烯；氯乙烯、偏二氯乙烯、氟化乙烯、偏二氟乙烯等的鹵化乙烯；乙酸烯丙酯、氯丙烯等的烯丙基化合物；馬來酸或其鹽、酯或酸酐；衣康酸或其鹽、酯或酸酐；乙烯基三甲氧基矽烷等的乙烯基矽基化合物；不飽和磺酸等。上述聚乙烯酯可具有來自上述其他單體之1種或2種以上的結構單元。
來自上述其他單體之結構單元佔上述聚乙烯酯的比例，構成PVA之全部結構單元的莫耳數，係基於構成聚乙烯酯之全部結構單元的莫耳數，而較佳為25莫耳%以下，更佳為15莫耳%以下，進一步較佳為5莫耳%以下。若該比例超過25莫耳%，則具有液壓轉印用基膜與印刷層的親和性等降低的傾向。
上述PVA只要是在不損及本發明之效果的範圍內，可為由1種或2種以上可接枝共聚合之單體所改質者。就該可接枝共聚合的單體而言，可列舉例如不飽和羧酸或其衍生物；不飽和磺酸或其衍生物；碳數2~30之α-烯烴等。根據PVA中來自可接枝共聚合之單體的結構單元的比例，係基於構成PVA之全部結構單元的莫耳數而較佳為5莫耳%以下。
上述PVA，其羥基的一部分可被交聯，亦可未被交聯。又，上述PVA，其羥基的一部分可與乙醛、丁醛等醛化合物等反應而形成縮醛結構，亦可不與該等化合物反應而沒有形成縮醛結構。
上述PVA的聚合度較佳在500~3,000的範圍內，更佳在700~2,800的範圍內，進一步較佳在1,000~2,500的範圍內。藉由PVA的聚合度在上述下限以上，而所得到之液壓轉印用基膜的機械強度提升，在從捲筒拉取之際更不易斷裂。另一方面，藉由PVA的聚合度在上述上限以下，而製造液壓轉印用基膜時的生產效率提升，又，液壓轉印用基膜、乃至液壓轉印用薄膜的水溶性提升，而變得容易以更經濟性的製程速度進行液壓轉印。此外，本說明書中所說的PVA之聚合度，係意味著依據JIS K6726-1994之記載而測量的平均聚合度。
上述PVA的皂化度較佳在80~99莫耳%的範圍內，更佳在83~96莫耳%的範圍內，進一步較佳在85~90莫耳%的範圍內。藉由PVA的皂化度在上述範圍內，而液壓轉印用基膜、乃至液壓轉印用薄膜的水溶性提升，而變得容易以更經濟的製程速度進行液壓轉印。此外，本說明書中的PVA之皂化度，係指相對於「PVA所具有之因皂化而能轉換成乙烯醇單元的結構單元(典型上有乙烯酯單元)與乙烯醇單元的總莫耳數，該乙烯醇單元的莫耳數所佔的比例(莫耳%)。皂化度可依據JIS K6726-1994之記載來進行測量。
液壓轉印用基膜中之上述PVA的含有率，從確保作為液壓轉印用基膜之基本物性等的觀點來看，較佳為50質量%以上，更佳為80質量%以上，進一步較佳為85質量%以上。該含有率的上限只要滿足本發明之規定，則並無特別限制，但該含有率較佳為98質量%以下，更佳為97質量%以下。
本發明之液壓轉印用基膜係含有平均粒徑為2~14μm且深寬比為4~60的板狀或針狀的填充劑。此處，針狀係指一種廣義概念者，其包含由長軸端部為比較尖銳的形狀者(一般將其稱為紡錘狀)至長軸端部為半球或接近平坦的形狀者。該填充劑的材質並未被特別限定，可為無機系填充劑亦可為有機系填充劑，可列舉例如黏 土、滑石、氧化鋁等。該填充劑較佳為無機系填充劑，更佳為滑石。
上述填充劑的平均粒徑必須在2~14μm的範圍內。若該平均粒徑小於2μm，則無法得到充分的滑順性而膜面彼此會變得容易密合，而在將液壓轉印用基膜從捲筒拉取之際變得容易斷裂。另一方面，若該平均粒徑大於14μm，則在將液壓轉印用基膜從捲筒拉取之際，以填充劑添加部分為起點而在液壓轉印用基膜會出現孔洞而變得容易斷裂。從如此之觀點來看，該平均粒徑較佳為3μm以上，更佳為4μm以上，進一步較佳為5μm以上，又，較佳為13μm以下，更佳為12μm以下。此外，填充劑的平均粒徑可藉由雷射繞射．散射法求得，具體而言，可藉由調製作為測量對象之填充劑的2質量%水分散液，並將此使用堀場製作所股份有限公司製的雷射繞射/散射式粒徑分布測量裝置「Partica LA-950」進行測量，而求得。
又，上述填充劑的深寬比必須為4~60。若該深寬比變得小於4或大於60，則無法得到充分的滑順性而膜面彼此會變得容易密合，而在將液壓轉印用基膜從捲筒拉取之際變得容易斷裂。從如此之觀點來看，該深寬比的下限較佳為10以上。從同樣的觀點來看，關於該深寬比的上限，較佳為50以下，更佳為48以下，進一步較佳為45以下。此外，填充劑的深寬比係將填充劑的長軸除 以短軸者，在板狀填充劑的情況，係將長軸作為上述平均粒徑，而將短軸作為填充劑之平均厚度即可，在針狀填充劑的情況，係將長軸作為填充劑的平均長度，將短軸作為填充劑的平均寬度即可。此處，上述平均厚度、平均長度及平均寬度，皆可由藉由掃描式電子顯微鏡(SEM)之影像求出，可藉由將存在於影像內的任意100個填充劑的厚度、長度及寬度之各個平均而求得。此外，關於填充劑的寬度，係測量各填充劑之長度的中間部分的寬度即可。
本發明之液壓轉印用基膜中的上述填充劑的含量，係相對於100質量份的PVA而在1.5~15質量份的範圍內。若該含量小於1.5質量份，則無法得到充分的滑順性而膜面彼此會變得容易密合，而在將液壓轉印用基膜從捲筒拉取之際變得容易斷裂。另一方面，若該含量多於15質量份，則液壓轉印用基膜會變脆而在拉取之際變得容易斷裂。從如此之觀點來看，該含量係相對於100質量份的PVA而較佳為2質量份以上，又，該含量係較佳為12質量份以下，更佳為10質量份以下。
本發明之液壓轉印用基膜必須為單層。在液壓轉印用基膜係將含有填充劑與PVA的塗層塗布於不含填充劑之PVA薄膜上的多層薄膜之情況，雖可賦予所得到之薄膜滑順性，但薄膜的剛性並不充分。此情況，會因對液壓轉印用基膜製造步驟或印刷步驟之流動方向的運送張力，而於多層液壓轉印基膜變得容易發生皺褶。
可藉由使液壓轉印用基膜含有塑化劑而賦予柔軟性。就塑化劑而言，較佳為多元醇，就具體例而言，可列舉乙二醇、甘油、丙二醇、二乙二醇、二甘油、三乙二醇、四乙二醇、三羥甲基丙烷等。液壓轉印用基膜中塑化劑的含量，係相對於100質量份的PVA而較佳為20質量份以下，更佳為15質量份以下。若塑化劑的含量超過20質量份，則會有於液壓轉印用基膜發生結塊的情況。
又，能夠以下述作為目的而使上述液壓轉印用基膜含有PVA以外的水溶性高分子：在液壓轉印用基膜形成印刷層之際賦予必要的機械強度、維持操作液壓轉印用基膜時的耐濕性、或者調節因使形成有印刷層之液壓轉印用薄膜浮在液面之際的液體的吸收所引起的柔軟化速度、在液面的延展性、對液體中之擴散所需要的時間、液壓轉印步驟中之變形的簡易度等。
就PVA以外的水溶性高分子而言，可列舉例如糊精、明膠、動物膠、酪蛋白、蟲膠、阿拉伯膠、聚丙烯酸醯胺、聚丙烯酸鈉、聚乙烯甲醚、甲基乙烯醚與馬來酸酐之共聚物、乙酸乙烯酯與衣康酸之共聚物、聚乙烯吡咯啶酮、纖維素、乙醯纖維素、乙醯丁基纖維素、羧甲基纖維素、甲基纖維素、乙基纖維素、羥基乙基纖維素、褐藻酸鈉等。液壓轉印用基膜中之PVA以外的水溶 性高分子的含量，係相對於100質量份的PVA而較佳為15質量份以下，更佳為10質量份以下。若PVA以外之水溶性高分子的含量超過15質量份，則會有於液壓轉印時之液壓轉印用薄膜的溶解性及分散性降低的情況。
又，能夠以調節因使形成有印刷層之液壓轉印用薄膜浮在液面之際的液體的吸收所引起的柔軟化速度、在液面的延展性、對液體中之擴散所需要的時間等為目的，而使上述液壓轉印用基膜含有硼系化合物。
就硼系化合物而言，較佳為硼酸或硼砂。液壓轉印用基膜中之硼系化合物的含量，係相對於100質量份的PVA而較佳為5質量份以下，更佳為1質量份以下。若硼系化合物的含量超過5質量份，則會有液壓轉印用基膜或液壓轉印用薄膜的水溶性降低而變得難以用經濟的製程速度進行液壓轉印的情況。
又，液壓轉印用基膜可含有界面活性劑。界面活性劑的種類並無特別限制，可使用習知的陰離子系界面活性劑、陽離子系界面活性劑、非離子系界面活性劑等。在液壓轉印用基膜含有界面活性劑的情況下，液壓轉印用基膜中之界面活性劑的含量，係相對於100質量份的PVA而較佳為4質量份以下。若界面活性劑的含量超過4質量份，則會有漏出而使用性降低的情況。
除了上述成分以外，還可使液壓轉印用基膜含有熱穩定劑、紫外線吸收劑、抗氧化劑、著色劑等其他成分。該等其他成分的含量雖亦因其種類而異，但一般相對於100質量份的PVA而較佳為10質量份以下，更佳為5質量份以下。若其他成分的含量超過10質量份，則會有液壓轉印用基膜的耐衝擊性變差的情況。
本發明之液壓轉印用基膜的厚度，只要考量水溶性與製程通過性的平衡而適當選擇即可，但一般在10~100μm的範圍內，較佳在20~80μm的範圍內，更佳在30~50μm的範圍內。藉由該厚度在上述下限以上，而液壓轉印用基膜的製程通過性會提升。另一方面，藉由該厚度為上述上限以下，而液壓轉印用基膜、乃至液壓轉印用薄膜的水溶性會提升，而變得容易以更經濟的製程速度進行液壓轉印。
一般情況下，液壓轉印用基膜有時為長形薄膜，有時為矩形薄膜，在長形薄膜的情況，可將捲繞成捲筒狀者一邊連續地拉取一邊於其表面實施印刷作成液壓轉印用薄膜，並直接、或一旦捲繞成捲筒狀後再次拉取，而連續地供給至液壓轉印。在本發明之液壓轉印用基膜中，其形狀亦可為長形薄膜，亦可為長度較短的(例如各邊的長度皆小於1m的)矩形薄膜，可為任一種，甚至可為三角形、五角形等的多角形、或圓形，但從液壓轉印 時之使用性等的觀點來看，較佳為長形薄膜及矩形薄膜，若考量成為可連續進行印刷或液壓轉印之點等，則更佳為長形薄膜。
在長形薄膜中，其長度及寬度並無特別限制，但從印刷時之生產性的觀點來看，長度較佳為1m以上，更佳為100m以上，進一步較佳為1000m以上。又，就長度的上限而言可舉例如10,000m。另一方面，從印刷時之生產性提升的觀點來看，寬度較佳為50cm以上，更佳為80cm以上，進一步較佳為100cm以上。又，從具有均勻厚度的液壓轉印用基膜之生產為容易的觀點等來看，該寬度較佳為4m以下，更佳為3m以下。
本發明之液壓轉印用基膜的製膜方法並無特別限制，但從可容易製造製程通過性優異之薄膜的觀點來看，較佳為使用相對於100質量份之PVA而含有1.5~15質量份之上述填充劑的製膜原液來進行製膜。填充劑的含量更佳為2質量份以上。又，填充劑的含量更佳為12質量份以下，進一步較佳為10質量份以下。就這種製膜原液的具體例，可列舉含有PVA、上述填充劑及液體媒介、且PVA經溶解或熔融的製膜原液等。
就製膜原液的調製所使用的液體媒介而言，可列舉例如水、二甲基亞碸、二甲基甲醯胺、二甲基乙醯胺、N-甲基吡咯啶酮、乙二醇、甘油、丙二醇、二乙二醇、 三乙二醇、四乙二醇、三羥甲基丙烷、乙二胺、二乙烯三胺等，可使用該等之中的1種或2種以上。其中，從給環境造成負擔或回收性的觀點來看，較佳可使用水。
製膜原液的揮發物分率(在製膜時藉由揮發或蒸發而被去除之液體媒介等揮發性成分的含有比例)雖因製膜方法、製膜條件等而異，但一般而言，較佳為50~95質量%，更佳為55~90質量%，特佳為60~85質量%。若製膜原液的揮發物含量太低，則製膜原液的黏度會變得太高，而調製製膜原液時的過濾或脫氣變得困難，會有難以製造異物或缺點較少之液壓轉印用基膜的傾向。另一方面，若製膜原液的揮發物含量太高，則製膜原液的濃度會變得太低，而會有難以製造工業性液壓轉印用基膜的傾向。
作為使用上述製膜原液而製造液壓轉印用基膜時的製膜方法，可採用例如濕式製膜法、凝膠製膜法、澆鑄製膜法、擠製製膜法等。又，亦可採用藉由該等之組合的方法等。以上製膜方法之中，又因可得到薄膜之厚度及寬度均勻、且物性良好之液壓轉印用基膜，而較佳可採用澆鑄製膜法或擠製製膜法。
就具體的製膜方法而言，工業上較佳可採用下述方法：使用T型縫模、料斗板、I型模、擠壓式塗布模等，而將製膜原液均勻地吐出或澆鑄在位於最上游側的旋轉 的加熱捲筒(或傳送帶)的周面上，使揮發性成分從被吐出或澆鑄於該捲筒(或傳送帶)上的薄膜之一側的面蒸發而乾燥，接著在配置於其下游側的1個或複數個旋轉的加熱捲筒的周面上進一步進行乾燥，或使其通過熱風乾燥裝置中而進一步乾燥後，藉由捲繞裝置而進行捲繞。藉由加熱捲筒所進行的乾燥與藉由熱風乾燥裝置所進行的乾燥，亦可適當組合而實施。
製膜後的液壓轉印用基膜可為無延伸者，以配合液面轉印時的轉印條件等而改善機械特性之目的，亦可實施單軸延伸或雙軸延伸。
可藉由於本發明之液壓轉印用基膜的表面實施印刷而作成液壓轉印用薄膜。該印刷方法並無特別限制，可藉由採用習知的印刷方式而形成印刷層，可採用例如凹版印刷、網版印刷、平板印刷、輥塗等。該印刷可於液壓轉印用基膜藉由印刷油墨而直接進行，亦可藉由一旦於其他薄膜上形成印刷層後，再將其轉印至液壓轉印用基膜而進行印刷。由於在如前者般於液壓轉印用基膜藉由印刷油墨進行直接印刷的情況，有時會發生印刷油墨的組成限制、發生乾燥步驟的問題、多色印刷時的色差問題等，故較佳為如後者般藉由一旦於其他薄膜上形成印刷層後，再將其轉印至液壓轉印用基膜而進行印刷。就印刷所使用的印刷油墨而言，可使用以往習知者。
可藉由使上述液壓轉印用薄膜經實施印刷的面朝上而浮在水等液體的液面，並從其上方推壓各種成形體等被轉印體而進行液壓轉印。就更詳細的液壓轉印方法而言，可舉出例如包含下述各步驟的液壓轉印方法：第1步驟，在使液壓轉印用薄膜經實施印刷的面朝上而浮在液面之同時，進行噴附油墨活性劑等而使印刷層活性化；第2步驟，從浮在液面的液壓轉印用薄膜的上方，以被轉印面朝下的方式而使被轉印體降下並進行推壓；第3步驟，在液壓轉印用薄膜的印刷層充分地固定於被轉印體表面後，去除該液壓轉印用薄膜中的液壓轉印用基膜部分；第4步驟，使於被轉印面轉印有印刷層的被轉印體充分乾燥。
被轉印體的種類並無特別限制，可列舉例如木、合板、塑合板等的木質基材；各種塑膠類；石膏板；紙漿水泥板、石板、石綿水泥板等的纖維水泥板；矽酸鈣板；矽酸鎂板；玻璃纖維補強水泥；混凝土；鐵、不銹鋼、銅、鋁等的金屬板；該等材料的複合物等。被轉印體，其表面的形狀可為平坦，亦可為粗糙面，亦可具有凹凸形狀，可為任一種，但由於可更有效地活用液壓轉印之優點，而較佳為具有存在凹凸之立體面或曲面的被轉印體。
[實施例]
以下藉由實施例而進一步詳細說明本發明，但本發明並非受該等任何限定者。此外，將液壓轉印用基膜的算術平均粗糙度(Ra)及斷裂伸度的各測量方法記載於以下。
液壓轉印用基膜之算術平均粗糙度(Ra)的測量
使用KEYENCE公司製形狀測量雷射顯微鏡「VK-X200」進行測量。具體而言，在液壓轉印用基膜之一側的面上，設定任意5處作為測量位置(各測量位置的面積為20mm2)，在各測量位置上測量各算術平均粗糙度(Ra)，算出其平均值作為液壓轉印用基膜的算術平均粗糙度(Ra)。由於在算術平均粗糙度(Ra)為0.030μm以上時膜面彼此會變得不易密合，故判定為「A」(良好)，由於在算術平均粗糙度(Ra)小於0.030μm時膜面彼此會變得容易密合，故判定為「B」(不良)。
液壓轉印用基膜之斷裂伸度的測量
將裁切成寬度15mm的液壓轉印用基膜，於15℃、40%RH的氣體環境下，進行1星期的濕度控制後，以ORIENTEC公司製TENSILON UTM-4L進行拉伸試驗，求出斷裂伸度。此外，使夾頭間隔為150mm，拉伸速度為1,000mm/分鐘。將斷裂伸度為10%以上的情況判定為「A」(良好)，將斷裂伸度小於10%的情況判定為「B」(不良)。
液壓轉印用基膜之楊氏係數的測量
進行與上述斷裂伸度的測量相同的操作，將楊氏係數為4400MPa以上的情況判定為「A」(良好)，將楊氏係數小於4400MPa的情況判定為「B」(不良)。
[實施例1]
使用含有100質量份的皂化度88莫耳%、聚合度1,700的PVA(乙酸乙烯酯之均聚物的皂化物)、2質量份的甘油、2質量份的作為板狀填充劑之平均粒徑5μm且深寬比17的滑石，且PVA的濃度為18質量%的水溶液作為製膜原液，將其澆鑄於溫度95℃的不銹鋼製傳送帶上，進行乾燥2分鐘，而得到厚度40μm的液壓轉印用基膜。針對所得到之液壓轉印用基膜，藉由上述方法測量算術平均粗糙度(Ra)、斷裂伸度及楊氏係數。將結果顯示於表1。
[實施例2]
除了在作為板狀填充劑而使用平均粒徑8μm且深寬比27的滑石之同時，將其使用量變更成相對於100質量份PVA為10質量份以外，係與實施例1同樣地進行操作，而得到厚度40μm的液壓轉印用基膜。針對所得到之液壓轉印用基膜，藉由上述方法測量算術平均粗糙度(Ra)、斷裂伸度及楊氏係數。將結果顯示於表1。
[實施例3]
除了在作為板狀填充劑而使用平均粒徑12μm且深寬比40的滑石之同時，將其使用量變更成相對於100質量份PVA為10質量份以外，係與實施例1同樣地進行操作，而得到厚度40μm的液壓轉印用基膜。針對所得到之液壓轉印用基膜，藉由上述方法測量算術平均粗糙度(Ra)、斷裂伸度及楊氏係數。將結果顯示於表1。
[實施例4]
除了在作為針狀填充劑而使用平均粒徑5μm且深寬比40的氧化鋁纖維來取代板狀填充劑之同時，使其使用量相對於100質量份PVA為10質量份以外，係與實施例1同樣地進行操作，而得到厚度40μm的液壓轉印用基膜。針對所得到之液壓轉印用基膜，藉由上述方法測量算術平均粗糙度(Ra)、斷裂伸度及楊氏係數。將結果顯示於表1。
[比較例1]
除了在作為板狀填充劑而使用平均粒徑1μm且深寬比3的滑石之同時，將其使用量變更成相對於100質量份PVA為5質量份以外，係與實施例1同樣地進行操作，而得到厚度40μm的液壓轉印用基膜。針對所得到之液壓轉印用基膜，藉由上述方法測量算術平均粗糙度(Ra)、斷裂伸度及楊氏係數。將結果顯示於表1。
[比較例2]
除了在作為板狀填充劑而使用平均粒徑0.7μm且深寬比5的滑石之同時，使其使用量相對於100質量份PVA為10質量份以外，係與實施例1同樣地進行操作，而得到厚度40μm的液壓轉印用基膜。針對所得到之液壓轉印用基膜，藉由上述方法測量算術平均粗糙度(Ra)、斷裂伸度及楊氏係數。將結果顯示於表1。
[比較例3]
除了在作為板狀填充劑而使用平均粒徑2μm且深寬比3的滑石之同時，使其使用量相對於100質量份PVA為10質量份以外，係與實施例1同樣地進行操作，而得到厚度40μm的液壓轉印用基膜。針對所得到之液壓轉印用基膜，藉由上述方法測量算術平均粗糙度(Ra)、斷裂伸度及楊氏係數。將結果顯示於表1。
[比較例4]
除了在作為板狀填充劑而使用平均粒徑5μm且深寬比17的滑石之同時，使其使用量相對於100質量份PVA為1質量份以外，係與實施例1同樣地進行操作，而得到厚度40μm的液壓轉印用基膜。針對所得到之液壓轉印用基膜，藉由上述方法測量算術平均粗糙度(Ra)、斷裂伸度及楊氏係數。將結果顯示於表1。
[比較例5]
除了在作為板狀填充劑而使用平均粒徑8μm且深寬比27的滑石之同時，使其使用量相對於100質量份PVA為20質量份以外，係與實施例1同樣地進行操作，而得到厚度40μm的液壓轉印用基膜。針對所得到之液壓轉印用基膜，藉由上述方法測量算術平均粗糙度(Ra)、斷裂伸度及楊氏係數。將結果顯示於表1。
[比較例6]
除了在作為板狀填充劑而使用平均粒徑15μm且深寬比50的滑石之同時，使其使用量相對於100質量份PVA為10質量份以外，係與實施例1同樣地進行操作，而得到厚度40μm的液壓轉印用基膜。針對所得到之液壓轉印用基膜，藉由上述方法測量算術平均粗糙度(Ra)、斷裂伸度及楊氏係數。將結果顯示於表1。
[比較例7]
除了在作為板狀填充劑而使用平均粒徑7μm且深寬比70的滑石之同時，使其使用量相對於100質量份PVA為10質量份以外，係與實施例1同樣地進行操作，而得到厚度40μm的液壓轉印用基膜。針對所得到之液壓轉印用基膜，藉由上述方法測量算術平均粗糙度(Ra)、斷裂伸度及楊氏係數。將結果顯示於表1。
[比較例8]
除了在作為球狀填充劑而使用平均粒徑7μm且深寬比1的二氧化矽來取代板狀填充劑之同時，使其使用量相對於100質量份PVA為10質量份以外，係與實施例1同樣地進行操作，而得到厚度40μm的液壓轉印用基膜。針對所得到之液壓轉印用基膜，藉由上述方法測量算術平均粗糙度(Ra)、斷裂伸度及楊氏係數。將結果顯示於表l。
[比較例9]
使用含有100質量份的皂化度88莫耳%、聚合度1,700之PVA(乙酸乙烯酯之均聚物的皂化物)、2質量份的甘油，且PVA的濃度為18質量%的水溶液作為製膜原液，將其澆鑄於溫度95℃的不銹鋼製傳送帶上，進行乾燥2分鐘，而得到厚度40μm的薄膜。接著，將含有100質量份的皂化度94莫耳%而聚合度2,000之PVA、2質量份的作為板狀填充劑之平均粒徑5μm且深寬比17的滑石，且PVA濃度12質量%的水溶液作為塗布液，使用凹印寬度54cm的凹版輥而以15m/分鐘的速度於上述薄膜上進行塗布，並立即以100℃的熱風進行乾燥30秒鐘，得到厚度1.9μm的具有塗層的多層液壓轉印用基膜。針對所得到之液壓轉印用基膜，藉由上述方法測量算術平均粗糙度(Ra)、斷裂伸度及楊氏係數。將結果顯示於表1。
Figure 105118681-A0202-12-0024-1
實施例1~4所得到之液壓轉印用基膜，係算術平均粗糙度(Ra)為0.030μm以上而膜面彼此不易密合，且薄膜本身的機械強度亦較高，從捲筒拉取時不易斷裂者。

Claims (8)

  1. 一種單層的液壓轉印用基膜，其係相對於100質量份的聚乙烯醇而含有1.5~15質量份的平均粒徑為2~14μm且深寬比為4~60之板狀或針狀的填充劑。
  2. 如請求項1之液壓轉印用基膜，其中，聚乙烯醇的皂化度為80~99莫耳%。
  3. 如請求項1或2之液壓轉印用基膜，其中，聚乙烯醇的平均聚合度為500~3,000。
  4. 一種液壓轉印用基膜之製造方法，其係具有使用製膜原液進行製膜的步驟，而該製膜原液相對於100質量份的聚乙烯醇而含有1.5~15質量份的平均粒徑為2~14μm且深寬比為4~60之板狀或針狀填充劑。
  5. 一種捲筒，其係捲繞如請求項1至3中任一項之液壓轉印用基膜而成。
  6. 一種液壓轉印用薄膜，其係於如請求項1至3中任一項之液壓轉印用基膜的表面實施印刷而成。
  7. 一種液壓轉印用薄膜之製造方法，其係包含下述步驟：從如請求項5之捲筒拉取液壓轉印用基膜的步驟；及於所拉取之液壓轉印用基膜的表面實施印刷的步驟。
  8. 一種液壓轉印方法，其係包含下述步驟：使如請求項6之液壓轉印用薄膜實施印刷的面朝上而浮在液面的步驟；及從浮起的液壓轉印用薄膜的上方推壓被轉印體的步驟。
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