TWI699146B - 安裝導電球的方法 - Google Patents
安裝導電球的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI699146B TWI699146B TW108108095A TW108108095A TWI699146B TW I699146 B TWI699146 B TW I699146B TW 108108095 A TW108108095 A TW 108108095A TW 108108095 A TW108108095 A TW 108108095A TW I699146 B TWI699146 B TW I699146B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- mask
- mounting
- conductive ball
- unit
- holding unit
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 61
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 71
- 230000032258 transport Effects 0.000 claims description 65
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims description 27
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 14
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 14
- FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 Chemical compound C1(=CC=CC=C1)N1C2=C(NC([C@H](C1)NC=1OC(=NN=1)C1=CC=CC=C1)=O)C=CC=C2 FGUUSXIOTUKUDN-IBGZPJMESA-N 0.000 claims description 8
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 5
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 4
- GNFTZDOKVXKIBK-UHFFFAOYSA-N 3-(2-methoxyethoxy)benzohydrazide Chemical compound COCCOC1=CC=CC(C(=O)NN)=C1 GNFTZDOKVXKIBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 11
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 8
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/48—Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
- H01L21/4814—Conductive parts
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K3/00—Tools, devices, or special appurtenances for soldering, e.g. brazing, or unsoldering, not specially adapted for particular methods
- B23K3/06—Solder feeding devices; Solder melting pans
- B23K3/0607—Solder feeding devices
- B23K3/0623—Solder feeding devices for shaped solder piece feeding, e.g. preforms, bumps, balls, pellets, droplets
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K3/00—Tools, devices, or special appurtenances for soldering, e.g. brazing, or unsoldering, not specially adapted for particular methods
- B23K3/08—Auxiliary devices therefor
- B23K3/082—Flux dispensers; Apparatus for applying flux
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/10—Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/10—Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/11—Manufacturing methods
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
- H01L24/75—Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/03—Manufacturing methods
- H01L2224/038—Post-treatment of the bonding area
- H01L2224/03828—Applying flux
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/0401—Bonding areas specifically adapted for bump connectors, e.g. under bump metallisation [UBM]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/0556—Disposition
- H01L2224/05568—Disposition the whole external layer protruding from the surface
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/11—Manufacturing methods
- H01L2224/113—Manufacturing methods by local deposition of the material of the bump connector
- H01L2224/1133—Manufacturing methods by local deposition of the material of the bump connector in solid form
- H01L2224/11334—Manufacturing methods by local deposition of the material of the bump connector in solid form using preformed bumps
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/11—Manufacturing methods
- H01L2224/118—Post-treatment of the bump connector
- H01L2224/11848—Thermal treatments, e.g. annealing, controlled cooling
- H01L2224/11849—Reflowing
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/12—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process
- H01L2224/13—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors prior to the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/13001—Core members of the bump connector
- H01L2224/13099—Material
- H01L2224/131—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron [B], silicon [Si], germanium [Ge], arsenic [As], antimony [Sb], tellurium [Te] and polonium [Po], and alloys thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/741—Apparatus for manufacturing means for bonding, e.g. connectors
- H01L2224/742—Apparatus for manufacturing bump connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/75—Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
- H01L2224/756—Means for supplying the connector to be connected in the bonding apparatus
- H01L2224/75611—Feeding means
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/75—Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
- H01L2224/756—Means for supplying the connector to be connected in the bonding apparatus
- H01L2224/75621—Holding means
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/75—Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
- H01L2224/757—Means for aligning
- H01L2224/75702—Means for aligning in the upper part of the bonding apparatus, e.g. in the bonding head
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/75—Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
- H01L2224/757—Means for aligning
- H01L2224/75723—Electrostatic holding means
- H01L2224/75725—Electrostatic holding means in the upper part of the bonding apparatus, e.g. in the bonding head
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/75—Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
- H01L2224/757—Means for aligning
- H01L2224/75743—Suction holding means
- H01L2224/75745—Suction holding means in the upper part of the bonding apparatus, e.g. in the bonding head
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
提供一種安裝導電球的方法,且更具體地說,提供一種可防止在透過使用形成於掩模中的安裝孔將導電球安裝在基底上的製程期間的缺陷且還可將具有較小大小的導電球有效地安裝在基底上的用於安裝導電球的方法。根據安裝導電球的方法,安裝導電球的製程可透過防止掩模的變形從而實現製程的高品質而不省略任何導電球來執行。
Description
一或多個實施例涉及一種安裝導電球的方法,且更具體地說,涉及一種可防止在透過使用形成於掩模中的安裝孔將導電球安裝在基底上的製程期間的缺陷且還可將具有較小大小的導電球有效地安裝在基底上的安裝導電球的方法。
本申請案要求2018年11月7日在韓國智慧財產權局提交的第10-2018-0135516號韓國專利申請的權益,所述申請的公開內容以全文引用的方式併入本文中。
舉例來說,在安裝時,如大規模集成(large-scale integration;ISI)裝置的半導體裝置、液晶顯示器(liquid-crystal display;LCD)、如焊球的導電球通常用於電性連接。
導電球具有直徑為約1毫米或小於1毫米的極小粒子形狀。導電球安裝在基底上且用以將基底電性安裝。一般來說,其中形成有安裝孔的掩模安置在印刷有焊劑的基底上,且導電球經由安裝孔轉移到基底以經由焊劑暫時粘附導電球,從而將導電球
安裝在基底上。
近年來,半導體裝置已變為高度集成且緊湊的,並且導電球的大小也已顯著地降低。另外,透過使用掩模一次所安裝的導電球的數量已經增加。
因此,需要一種有效執行安裝數萬或數十萬各自大小為小於100微米的導電球的製程的安裝導電球的方法。
在安裝具有如上較小大小的導電球時,使用厚度與導電球的大小類似的掩模。在使用如上文所描述的較薄掩模時,導電球未安裝在掩模的安裝孔中的缺陷的可能性增加。另外,也增加了將導電球安裝在安裝孔中的時間。
因此,需要一種安裝導電球的方法,所述方法能夠以高速將導電球安裝在掩模的安裝孔中且同時降低導電球未安裝在安裝孔中的缺陷的可能性。
使用較薄掩模有可能導致掩模的變形,如彎曲。安置在掩模下的基底也具有易於彎曲的結構。當基底和掩模彎曲時,在基底與掩模與之間形成間隙,且可能導致安裝在安裝孔中的導電球通過間隙逸出的缺陷。導電球從可能存在於安裝孔周圍的基底與掩模之間的間隙當中遺失也可能是製程缺陷的原因。另外,因此此間隙,可能導致兩個導電球安裝在一個安裝孔中的缺陷。
因此,需要一種安裝導電球的方法,所述方法能夠防止掩模的變形且因而防止缺陷以及透過使用掩模將多個小型導電球快速地安裝在基底上。
一或多個實施例包含一種可將小型導電球快速地安裝在基底上而不省略導電球的安裝導電球的方法。
額外方面將部分地在以下描述中得到闡述,且部分地將從所述描述中顯而易見,或可透過對所呈現實施例的實踐而習得。
根據一或多個實施例,一種安裝導電球的方法包含:步驟a提供包括多個安裝孔的掩模,所述多個安裝孔形成為使得多個導電球分別安裝在多個安裝孔中且將掩模水平固定;步驟b透過使支撐板與掩模的下部表面接觸來支撐掩模,所述支撐板具有平坦上部表面以接觸掩模的下部表面並阻擋多個安裝孔中的每一個的下部部分;步驟c使用安裝單元將多個導電球安裝在掩模的多個安裝孔中;步驟d使用固持單元透過使固持單元與掩模的上部表面接觸而將導電球分別維持在安裝於掩模的安裝孔中的狀態中;步驟e當執行步驟d時,透過使用運輸單元來運輸掩模、支撐板以及塗布有焊劑的基底中的至少一個而將基底放置在掩模下方;以及步驟f透過使用控制器停止對固持單元的操作而使安裝在掩模的安裝孔中的導電球掉落到基底上。
10:基底
11:襯墊
100:掩模
101:安裝孔
200:支撐板
201:發光部分
210:第一吸附構件
300:安裝單元
400、410:固持單元
411:第二吸附構件
500:運輸單元
510:支撐板運輸單元
520:基底運輸單元
530:固持單元運輸單元
600:檢測照相機
B:導電球
根據結合附圖對實施例進行的以下描述,這些和/或其它方面將變得顯而易見且更加容易瞭解,在所述附圖中:
圖1是根據本公開的一實施例的用以實施安裝導電球的方法的用於安裝導電球的設備的結構圖式。
圖2到圖5是用於描述透過使用圖1中所示出的用於安裝導電球的設備來執行的根據本公開的安裝導電球的方法的一實例的視圖。
圖6是根據本公開的另一實施例的使用圖1中所示出的用於安裝導電球的設備來執行的與圖5相對應的安裝導電球的方法的一實例的視圖。
下文中,將參考圖式來描述根據本公開的用以實施安裝導電球的方法的用於安裝導電球的設備。
圖1是根據本公開的一實施例的用以實施安裝導電球的方法的用於安裝導電球的設備的結構圖式。
參考圖1,根據本發明實施例的用以實施安裝導電球的方法的用於安裝導電球的設備包含掩模100、支撐板200、安裝單元300以及固持單元400。
掩模100呈較薄且平坦的金屬板的形式。多個安裝孔101在掩模100中形成。掩模100用以將導電球B安裝在基底10上。安裝孔101在掩模100中在與其中導電球B待安裝在基底10上的位置相對應的位置處形成。為了防止兩個或大於兩個導電球B安裝在掩模100的一個安裝孔101中,掩模100具有大約類似於或
略小於導電球B的直徑的厚度。
支撐板200放置在掩模100下。將支撐板200安裝為透過使用將在稍後描述的運輸單元500而相對於掩模100可移動。支撐板200放置在與掩模100的下部表面接觸的位置處以支撐掩模100的下部表面。與其厚度相比,掩模100具有相對較寬的面積,且因此有可能受其自身重量而朝下變形。支撐板200具有在與掩模100的下部表面接觸時透過支撐掩模100來防止掩模100的變形的功能。另外,支撐板200接觸掩模100的下部表面,進而阻擋安裝孔101形成在掩模100中的下部部分。因此,安裝在掩模100的安裝孔101中的導電球B並不朝下逸出,而是因此支撐板200而保持容納在安裝孔101中。
根據本發明實施例的支撐板200包含發光部分201和由多孔材料形成的第一吸附構件210。第一吸附構件210具有平面板形狀且放置為與掩模100的下部表面接觸。當真空泵連接到第一吸附構件210時,朝下流動到安裝孔101下的空氣的流動誘使導電球B安裝在安裝孔101中。另外,第一吸附構件210具有以下功能:防止導電球B逸出安裝孔101且維持導電球B容納在安裝孔101中並附接到處於容納狀態中的第一吸附構件210。根據本發明實施例,支撐板200的第一吸附構件210由透明材料形成。支撐板200的發光部分201由發光二極體(light-emitting diode;LED)燈形成。當發光部分201發光時,光傳輸通過由透明材料形成的第一吸附構件210,進而照射掩模100的下部表面和安裝孔101。
安裝單元300放置在掩模100上。安裝單元300經由運輸單元500水平地運輸。在本發明實施例中,使用具有旋風器頭部形狀的安裝單元300。旋風器頭部具有包含容納多個導電球B的圓柱體腔室的結構,且壓縮空氣噴射到腔室中。在本發明實施例中,具有各種熟知結構的旋風器頭部可用作安裝單元300。當安裝單元300沿掩模100的上部表面移動時,容納在安裝單元300的腔室中的導電球B在任意方向上移動且隨後被安裝在安裝單元300下的安裝孔101中。根據情況,還可使用具有與旋風器頭部不同的結構的安裝單元。包含相對於掩模100移動的電刷或橡皮刮板的安裝單元也可用以將導電球B安裝在掩模100中。
固持單元400放置在掩模100上。固持單元400安裝為經由運輸單元500水平和豎直地運輸。固持單元400與掩模100的上部表面接觸以維持導電球B安裝在安裝孔101中。即,即使當支撐板200移動且因而不再支撐掩模100的下部表面時,固持單元400仍可使導電球保持容納在安裝孔101中且防止導電球B朝下掉落。
固持單元400可具有各種結構。舉例來說,具有與上文所描述的第一吸附構件210的結構類似的結構的吸附構件或靜電卡盤可用作固持單元400。在本發明實施例中,將把具有包含靜電卡盤的結構的固持單元400描述為一實例。固持單元400的靜電卡盤執行利用經由所施加電力而產生靜電力來夾持物件的功能。在本發明實施例中,固持單元400的靜電卡盤可接觸掩模100的
上部表面以夾持掩模100和分別容納在安裝孔101中的導電球B。當控制器消除靜電卡盤的靜電力時,容納在安裝孔101中的導電球B朝下掉落。
運輸單元500包含支撐板運輸單元510、固持單元運輸單元530以及基底運輸單元520。如上文所描述,運輸單元500的支撐板運輸單元510相對於掩模100來運輸支撐板200。運輸單元500的固持單元運輸單元530相對於掩模100來運輸固持單元400。另外,運輸單元500的基底運輸單元520相對於掩模100在水平和豎直方向上運輸基底10。
在本發明實施例中,基底運輸單元520使包含塗布有用以附接導電球B的焊劑的襯墊11的基底10移動到掩模100下。根據必要性,基底運輸單元520以較近距離將基底10運輸到基底10的掩模100的下部表面。
運輸單元500還執行運輸安裝單元300和如檢測照相機600或類似物的其它元件的功能。
控制器對包含上文所描述的固持單元400、運輸單元500以及安裝單元300的主要元件的操作進行控制。
檢測照相機600放置在掩模100上面。檢測照相機600安裝為透過運輸單元500在期望方向上可移動。檢測照相機600捕獲放置在其下的掩模100的圖像。將使用檢測照相機600捕獲到的圖像傳輸到控制器且用於檢測安裝在安裝孔101中的導電球B的安裝狀態。
分離單元將附接到固持單元400的導電球B與固持單元400分離。如上文所描述,導電球B經由靜電卡盤附接到固持單元400,且當靜電卡盤的操作停止時,導電球B與固持單元400分離。分離單元530促進導電球B與固持單元400的分離。
根據本發明實施例,運輸單元500的固持單元運輸單元530執行分離單元的功能。在除去靜電卡盤的靜電力之後,當固持單元運輸單元530使固持單元400相對於掩模100水平地滑動時,附接到固持單元400的導電球B易於與固持單元400分離。
下文中,將描述執行根據本公開透過使用如上文所描述來配置的用於安裝導電球的設備來安裝導電球的方法的操作。
首先,如圖2中所示出,提供其中形成有多個安裝孔101的掩模100且將掩模100水平固定(步驟a)。
隨後,如圖2中所示出,操作運輸單元500以使支撐板200與掩模100的下部表面接觸(步驟b)。
在這種狀態下,控制器操作安裝單元300分別將導電球B安裝在掩模100的安裝孔101中(步驟c)。
透過使支撐板200與如上文所描述的掩模100的下部表面接觸,可防止掩模100的彎曲或翹曲。隨著半導體製程已變得精密,通常使用具有小於100微米的大小的導電球B。在這種情況下,即使是掩模100的極小變形也可能導致安裝導電球B的製程的缺陷。根據本公開,在透過使用支撐板200支撐掩模100的下部表面時,操作安裝單元300,且因而可防止掩模100的彎曲或
翹曲,且安裝導電球B的製程可同時有效地執行。因此,在將導電球B安裝在安裝孔101中時,可防止省略導電球B,或可防止安裝在安裝孔101中的導電球B通過因此掩模100的變形而產生的間隙逸出。
另外,因此使用如上文所描述的支撐板200的第一吸附構件210來吸附掩模100的下部表面,所以掩模100維持平坦狀態同時緊密地粘附到支撐板200的上部表面。因此施加到第一吸附構件210的真空不僅轉移到掩模100的下部表面而且轉移到安裝孔101,所以導電球B甚至更有效地安裝在安裝孔101中。一旦將導電球B安裝在安裝孔101中,那麼導電球B便透過第一吸附構件210的上部表面經由真空持續地吸附。因此,即使在導電球B與由安裝單元300施加的壓縮空氣或與其它導電球B碰撞時,導電球B也並不從安裝孔101當中逸出。因此,可減少用於執行將導電球B安裝在掩模100的安裝孔101中的製程的時間。
當安裝單元300完成安裝導電球B的製程時,控制器使安裝單元300移動到如圖3中所示出的掩模100的一側以將安裝單元置於備用。隨後,控制器操作發光部分201接通LED燈。產生於發光部分201中的光經由由透明材料形成的第一吸附構件210照射到掩模100的下部表面。
控制器操作運輸單元500將檢測照相機600運輸到掩模100上方的位置,且檢測照相機600捕獲掩模100的圖像(步驟g)。當導電球B未安裝在掩模100的安裝孔101中的一些中時,產生
於發光部分201中的光朝上照射穿過安裝孔101。
控制器基於使用檢測照相機600捕獲到的圖像來檢測安裝在掩模100的安裝孔101中的導電球B的安裝狀態(步驟h)。控制器可易於基於是否捕獲到安裝孔101的明亮圖像來檢測安裝孔101是否是空的。當控制器確定空的安裝孔101的位置時,再次操作安裝單元300將導電球B安裝在那一位置處。控制器操作運輸單元500將安裝單元300運輸到空的安裝孔101的位置,並操作安裝單元300也將導電球B安裝在空的安裝孔101中。
如上文所描述,透過使用透明材料的第一吸附構件210、發光部分201以及檢測照相機600,可易於檢測是否安裝導電球B。另外,可將導電球B立即填充在空的安裝孔101中。可在如上文所描述的安裝單元300的操作之後立即檢測到是否安裝導電球B,且因此,可根據本公開顯著地改善導電球B的安裝製程的品質和製程的製程速率。
當如上文所描述的導電球B在安裝孔101中的安裝製程完成時,執行如圖3中所示出的透過使用固持單元400來維持導電球B安裝在安裝孔101中的製程(步驟d)。首先,運輸單元500將安裝單元300運輸到掩模100的邊緣。隨後,控制器透過使用運輸單元500使固持單元400與掩模100的上部表面接觸。隨後,在操作固持單元400之前或恰好在其之後,控制器停止第一吸附構件210的操作。
當控制器操作固持單元400的靜電卡盤時,因此靜電卡
盤中產生的靜電力,掩模100和導電球B緊密地粘附到固持單元400的下部表面。因此控制器已停止對第一吸附構件210的操作,所以經由第一吸附構件210緊密地粘附到支撐板200的掩模100和導電球B自發地緊密粘附到固持單元400的下部表面。此處,導電球B仍安裝在掩模100的安裝孔101中且附接到處於所述狀態中的靜電卡盤。因此掩模100緊密地粘附到靜電卡盤,所以在安裝孔101的上部部分中,並沒有導電球B可由其逸出的間隙。因此,導電球B維持牢固地附接到固持單元400。即使當運輸單元500使支撐板200與掩模100的下部表面分離時,導電球B也並不從掩模100移動。
隨後,如圖4中所示出,控制器使支撐板200移動到另一位置並將基底10運輸到與掩模100的下部表面相對接近的位置(步驟e)。此處,控制器控制運輸單元500的基底運輸單元520相對於掩模100在水平方向上與基底10對準,並將基底10提升到與掩模100的下部表面接近的位置。基底運輸單元520透過利用吸附基底10的下部表面來夾持基底10而使基底10相對於掩模100移動。此處,基底運輸單元520可將基底10移動到其中基底10與掩模100盡可能接近但並不接觸掩模100的位置。
隨後,如圖5中所示出,執行使安裝在安裝孔101中的導電球B掉落以及將導電球B附接到基底10的操作(步驟f)。當控制器停止對固持單元400的操作時,靜電卡盤的靜電力不再起作用。附接到固持單元400的導電球B經過安裝孔101掉落到
基底10上。因此先前將焊劑塗布在導電球B所附接的基底10的襯墊11上,所以掉落在基底10上的導電球B暫時利用焊劑而粘附到基底10。在回焊製程中,將導電球B與基底10一起加熱以使其粘附到基底10。
歸因於固持單元400上剩餘的靜電力或在固持單元400與導電球B之間產生的靜電力,一些導電球B可能並不與固持單元400分離而是保持在其上。尤其是在使用具有100微米或小於100微米的極小大小的導電球B時,此現象有可能頻繁出現。
當導電球B不易於與固持單元400分離時,可執行透過使用分離單元而使導電球B與固持單元400分離以使得導電球B掉落到基底10上的操作(步驟i)。
分離單元用以使導電球B與固持單元400分離。作為使導電球B與固持單元400分離的分離單元,可使用各種元件。舉例來說,可透過在掩模100與固持單元400之間噴射壓縮空氣而使導電球B與固持單元400分離。另外,可使用對固持單元400施加較小衝擊力的分離單元。
在本發明實施例中,將透過使用運輸固持單元400的固持單元運輸單元530作為分離單元來執行步驟i描述為一實例。當控制器停止對固持單元400的操作時,導電球B掉落到基底10上。如圖5中所示出,透過使用固持單元運輸單元530而使固持單元400相對於掩模100精細地水平滑動。透過固持單元400的滑動來加快導電球B通過安裝孔101掉落到基底10上。此處,導
電球B容納在安裝孔101中,且因而即使在固持單元400水平移動時也並不移動。導電球B維持在安裝孔101中且隨後朝下掉落。受其自身重量而已經朝下掉落的導電球B附接到基底10。透過使用如上文所描述的分離單元530,可改善將導電球B附接到基底10的操作的品質和操作速度。即,可顯著降低安裝導電球B的製程的缺陷比。
根據本公開,當使用具有平板形狀的支撐板200來支撐掩模100時,執行將導電球B安裝在安裝孔101中的操作,且因此,可執行安裝導電球B的操作同時防止掩模100的變形,如彎曲或翹曲。透過防止掩模100的變形,可有效防止安裝導電球B的操作的缺陷,例如在安裝具有極小大小的導電球B時或在使用具有較小厚度的掩模100時。
另外,同樣在支撐板200不支撐如圖4中所示出的掩模100的下部表面時,固持單元400從上方固持並支撐掩模100和導電球B,進而防止掩模100的變形。因此,可防止安裝在安裝孔101中的導電球B逸出。
另外,如圖5中所示出,導電球B接合到基底10同時透過使用基底運輸單元520來支撐處於平坦狀態中的基底10的下部表面,且因而也防止了基底10的變形。因此,可防止安裝在安裝孔101中而未附接到基底10的襯墊11的導電球B的漏出。
儘管已參考優選實施例來描述本公開,但本公開的範圍並不限於上文所描述和所示出的結構。
舉例來說,儘管上文描述為使用包含由透明材料形成的第一吸附構件210的支撐板200來執行步驟b,但也可以使用不透明的第一吸附構件來執行步驟b。另外,也可以使用不包含第一吸附構件210而僅支撐掩模100的下部表面的支撐板來執行步驟b。根據本公開的安裝導電球的方法還可以透過使用不具有吸附功能而是部分地由透明材料形成以照射安裝孔101的支撐板來執行。
另外,根據本公開的安裝導電球的方法還可以在不透過使用檢測照相機600來捕獲掩模的圖像的情況下執行。
另外,儘管上文描述包含靜電卡盤來固持掩模100和導電球B的固持單元400,但步驟d和步驟f也可以透過使用具有如圖6中所示出的結構的固持單元410來執行。在這種情況下,固持單元410包含由多孔材料形成的第二吸附構件411。當與掩模100的上部表面接觸時,第二吸附構件411從上方吸附安裝在安裝孔101中的導電球B。即,呈如圖6中所示出的形式的固持單元410透過吸附掩模100和導電球B來固持掩模100和導電球B。在這種情況下,執行步驟f以使得當基底10放置在掩模100下方時,控制器停止對固持單元400的第二吸附構件411的操作以使得安裝在安裝孔101中的導電球B掉落到基底10上。
另外,安裝導電球的方法也可以使用配置成不具有如上文所描述的分離單元的用於安裝導電球的設備來執行,或安裝導電球的方法可使用包含與上述分離單元具有不同結構的分離單元的用於安裝導電球的設備來執行。
另外,儘管上文將呈旋風器頭部形式的安裝單元300描述為一實例,但步驟c也可以透過使用具有不同結構的安裝單元來執行以使得將導電球B安裝在掩模100的安裝孔101中。
另外,儘管上文將基底運輸單元520描述為透過吸附基底10的下部表面來固定和運輸基底10,但步驟e也可以透過使用以下基底運輸單元來執行:透過使用除吸附以外的不同方法來固定和運輸基底10的基底運輸單元。
根據安裝根據本公開的導電球的方法,可透過防止掩模的變形來執行安裝導電球的製程,從而實現製程的高品質而不省略任何導電球。
另外,根據安裝根據本公開的導電球的方法,可有效地執行將具有極小大小的導電球安裝在基底上的製程。
10:基底
11:襯墊
100:掩模
101:安裝孔
200:支撐板
201:發光部分
210:第一吸附構件
300:安裝單元
400:固持單元
500:運輸單元
510:支撐板運輸單元
520:基底運輸單元
530:固持單元運輸單元
600:檢測照相機
B:導電球
Claims (13)
- 一種安裝導電球的方法,包括:步驟a,提供包括多個安裝孔的掩模,所述多個安裝孔形成為使得分別將多個導電球安裝在所述多個安裝孔中且將所述掩模水平固定;步驟b,透過使支撐板與所述掩模的下部表面接觸來支撐所述掩模,所述支撐板具有平坦上部表面以接觸所述掩模的所述下部表面並阻擋所述多個安裝孔中的每一個的下部部分;步驟c,使用安裝單元將所述多個導電球安裝在所述掩模的所述多個安裝孔中;步驟d,使用固持單元透過使所述固持單元與所述掩模的上部表面接觸而將所述導電球分別維持在安裝於所述掩模的所述安裝孔中的狀態中;步驟e,當執行所述步驟d時,透過使用運輸單元來運輸所述掩模、所述支撐板以及塗布有焊劑的基底中的至少一個而將所述基底放置在所述掩模下方;以及步驟f,透過使用控制器停止對所述固持單元的操作而使安裝在所述掩模的所述安裝孔中的所述導電球掉落到所述基底上。
- 如申請專利範圍第1項所述的安裝導電球的方法,其中所述步驟d包括使用包含靜電卡盤的所述固持單元經由靜電力來夾持安裝在所述安裝孔中的所述導電球,以及所述步驟f包括透過使用所述控制器停止對所述固持單元的 所述靜電卡盤的操作而使安裝在所述安裝孔中的所述導電球掉落到所述基底上。
- 如申請專利範圍第1項所述的安裝導電球的方法,其中所述步驟d包括利用真空吸附使用包含由多孔材料形成的第二吸附構件的所述固持單元來夾持處於安裝在所述安裝孔中的狀態中的所述導電球,以及所述步驟f包括透過使用所述控制器停止對所述固持單元的所述第二吸附構件的操作而使安裝在所述安裝孔中的所述導電球掉落到所述基底上。
- 如申請專利範圍第1項所述的安裝導電球的方法,其中所述步驟b包括透過使用包含由多孔材料形成的第一吸附構件的所述支撐板經由真空吸附來吸附和支撐所述掩模的所述下部表面,以及當執行所述步驟d時,透過使用所述控制器停止對所述步驟b的所述支撐板的所述第一吸附構件的操作。
- 如申請專利範圍第4項所述的安裝導電球的方法,其中使用包含由透明材料形成的所述第一吸附構件的所述支撐板來執行所述步驟b。
- 如申請專利範圍第5項所述的安裝導電球的方法,其中使用包含發光部分的所述支撐板來執行所述步驟b,所述發光部分接觸所述掩模的所述下部表面以將光傳輸到所述掩模的所述安裝孔。
- 如申請專利範圍第6項所述的安裝導電球的方法,更包括:步驟g,在執行所述步驟c之後,透過使用檢測照相機從所述掩模上面捕獲所述掩模的圖像;以及步驟h,透過使用所述控制器透過使用所述步驟g中所捕獲到的所述圖像來檢測安裝在所述掩模的所述安裝孔中的所述導電球的安裝狀態。
- 如申請專利範圍第1項所述的安裝導電球的方法,其中執行所述步驟d以使得安裝在所述安裝孔中的所述導電球與所述固持單元接觸,其中當執行所述步驟f時,所述安裝導電球的方法更包括步驟i,透過使用分離單元使所述導電球與所述固持單元分離,以使得所述導電球掉落到所述基底上。
- 如申請專利範圍第8項所述的安裝導電球的方法,其中透過使用所述分離單元利用在所述掩模與所述固持單元之間噴射壓縮空氣來執行所述步驟i。
- 如申請專利範圍第8項所述的安裝導電球的方法,其中透過使用所述分離單元利用使所述掩模與所述固持單元相對於彼此在水平方向上移動來執行所述步驟i。
- 如申請專利範圍第1項所述的安裝導電球的方法,其中使用所述運輸單元來執行所述步驟e,所述運輸單元包括相對於所述掩模來運輸所述支撐板的支撐板運輸單元、相對於所述掩模來 運輸所述基底的基底運輸單元以及相對於所述掩模來運輸所述固持單元的固持單元運輸單元。
- 如申請專利範圍第1項所述的安裝導電球的方法,其中使用至少部分地由透明材料形成的所述支撐板來執行所述步驟b。
- 如申請專利範圍第1項所述的安裝導電球的方法,其中使用所述安裝單元來執行所述步驟c,所述安裝單元具有旋風器頭部的形式,其中壓縮空氣被噴射到安置於所述旋風器頭部的腔室中的所述多個導電球,以將所述多個導電球安裝在所述掩模的所述安裝孔中。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020180135516A KR102078936B1 (ko) | 2018-11-07 | 2018-11-07 | 도전성 볼 탑재 방법 |
KR10-2018-0135516 | 2018-11-07 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW202019251A TW202019251A (zh) | 2020-05-16 |
TWI699146B true TWI699146B (zh) | 2020-07-11 |
Family
ID=69669985
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW108108095A TWI699146B (zh) | 2018-11-07 | 2019-03-11 | 安裝導電球的方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10804240B2 (zh) |
JP (1) | JP6770122B2 (zh) |
KR (1) | KR102078936B1 (zh) |
CN (1) | CN111162010A (zh) |
TW (1) | TWI699146B (zh) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20220005723A (ko) * | 2020-07-07 | 2022-01-14 | 주식회사 프로텍 | 마스크를 이용하는 구리 필러 기판 본딩 방법 |
KR20220005724A (ko) * | 2020-07-07 | 2022-01-14 | 주식회사 프로텍 | 가압식 구리 필러 기판 본딩 방법 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI368955B (en) * | 2005-04-28 | 2012-07-21 | Shibuya Kogyo Co Ltd | Conductive ball mounting apparatus and method of mounting conductive ball to mounting target |
TWI389761B (zh) * | 2006-04-28 | 2013-03-21 | Shibuya Kogyo Co Ltd | 導電球排列裝置 |
TWI413197B (zh) * | 2007-06-06 | 2013-10-21 | Shibuya Kogyo Co Ltd | 導電球之排列裝置 |
TW201546986A (zh) * | 2011-04-21 | 2015-12-16 | Tessera Inc | 覆晶、面向上型及面向下型中心接合記憶體導線接合總成 |
Family Cites Families (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05299424A (ja) * | 1992-04-23 | 1993-11-12 | Fujitsu Ltd | 半田ボールの電極パッドへの載置方法とその装置 |
JP3256331B2 (ja) * | 1993-06-15 | 2002-02-12 | 株式会社リコー | 電子部品の接続方法 |
US5839191A (en) * | 1997-01-24 | 1998-11-24 | Unisys Corporation | Vibrating template method of placing solder balls on the I/O pads of an integrated circuit package |
US5816481A (en) * | 1997-01-24 | 1998-10-06 | Unisys Corporation | Pin block method of dispensing solder flux onto the I/O pads of an integrated circuit package |
US6595408B1 (en) * | 1998-10-07 | 2003-07-22 | Micron Technology, Inc. | Method of attaching solder balls to BGA package utilizing a tool to pick and dip the solder ball in flux prior to placement |
US6268275B1 (en) * | 1998-10-08 | 2001-07-31 | Micron Technology, Inc. | Method of locating conductive spheres utilizing screen and hopper of solder balls |
CA2367318C (en) * | 1999-03-17 | 2008-09-09 | Novatec Sa | Filling device and method for filling balls in the apertures of a ball-receiving element |
JP2000294681A (ja) * | 1999-04-07 | 2000-10-20 | Rohm Co Ltd | Bga型電子部品製造装置における半田ボール整列供給機構 |
JP2000353717A (ja) * | 1999-06-14 | 2000-12-19 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法及び半導体製造装置 |
JP4130526B2 (ja) * | 2000-11-10 | 2008-08-06 | 株式会社日立製作所 | バンプ形成方法およびその装置 |
US6766938B2 (en) * | 2002-01-08 | 2004-07-27 | Asm Assembly Automation Ltd. | Apparatus and method of placing solder balls onto a substrate |
US6769596B1 (en) * | 2002-11-15 | 2004-08-03 | Qlogic Corporation | Method and system for reworking ball grid arrays |
US7032807B2 (en) * | 2003-12-23 | 2006-04-25 | Texas Instruments Incorporated | Solder contact reworking using a flux plate and squeegee |
JP4065272B2 (ja) * | 2004-12-28 | 2008-03-19 | 株式会社和井田製作所 | 半田ボール搭載装置、半田ボール搭載方法及び半田ボール搭載システム |
JP5008452B2 (ja) * | 2007-05-08 | 2012-08-22 | 新日鉄マテリアルズ株式会社 | はんだボールの搭載方法及び搭載装置 |
JP4393538B2 (ja) * | 2007-07-25 | 2010-01-06 | 新光電気工業株式会社 | 磁性はんだボールの配列装置および配列方法 |
JP4444322B2 (ja) * | 2007-09-14 | 2010-03-31 | 新光電気工業株式会社 | 導電性ボールの搭載方法及び導電性ボール搭載装置 |
EP2157841A4 (en) * | 2008-05-30 | 2011-11-02 | Ibiden Co Ltd | MOUNTING DEVICE FOR A SOLDERING BALL |
JP2011077161A (ja) * | 2009-09-29 | 2011-04-14 | Nec Corp | ボール搭載装置、ボール搭載方法及び電子部品の製造装置 |
JP2011114089A (ja) * | 2009-11-25 | 2011-06-09 | Kyocer Slc Technologies Corp | 半田ボール搭載治具および半田ボールの搭載方法 |
US8937008B2 (en) * | 2011-12-29 | 2015-01-20 | Stmicroelectronics Pte Ltd. | Apparatus and method for placing solder balls |
KR101508039B1 (ko) * | 2012-05-17 | 2015-04-06 | 삼성전기주식회사 | 솔더볼 공급장치 |
KR101388503B1 (ko) * | 2012-06-13 | 2014-04-23 | 주식회사 케이씨텍 | 그래핀 시트와 마스크의 위치 정렬 장치와 위치 정렬 방법 및 그래핀 시트에 패턴을 형성하는 방법 |
JP6138019B2 (ja) * | 2013-10-03 | 2017-05-31 | Aiメカテック株式会社 | 電極形成装置、電極形成システム、及び電極形成方法 |
KR102270748B1 (ko) * | 2013-11-07 | 2021-06-30 | 삼성전자주식회사 | 솔더볼 부착 장치, 솔더볼 부착 방법 및 이를 포함하는 반도체 패키지의 제조 방법 |
JP6320066B2 (ja) * | 2014-02-13 | 2018-05-09 | イビデン株式会社 | ボール搭載用マスクおよびボール搭載装置 |
KR20150133618A (ko) * | 2014-05-19 | 2015-11-30 | 삼성전자주식회사 | 솔더 볼 부착 장치, 이의 제조 방법 |
JP6567290B2 (ja) * | 2015-02-20 | 2019-08-28 | Aiメカテック株式会社 | 基板処理装置、基板処理システム、及び基板処理方法 |
JP6813772B2 (ja) * | 2016-10-14 | 2021-01-13 | 澁谷工業株式会社 | 微小ボール搭載装置 |
-
2018
- 2018-11-07 KR KR1020180135516A patent/KR102078936B1/ko active IP Right Grant
-
2019
- 2019-03-07 JP JP2019041406A patent/JP6770122B2/ja active Active
- 2019-03-11 TW TW108108095A patent/TWI699146B/zh active
- 2019-03-27 US US16/365,693 patent/US10804240B2/en active Active
- 2019-03-29 CN CN201910248703.9A patent/CN111162010A/zh active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI368955B (en) * | 2005-04-28 | 2012-07-21 | Shibuya Kogyo Co Ltd | Conductive ball mounting apparatus and method of mounting conductive ball to mounting target |
TWI389761B (zh) * | 2006-04-28 | 2013-03-21 | Shibuya Kogyo Co Ltd | 導電球排列裝置 |
TWI413197B (zh) * | 2007-06-06 | 2013-10-21 | Shibuya Kogyo Co Ltd | 導電球之排列裝置 |
TW201546986A (zh) * | 2011-04-21 | 2015-12-16 | Tessera Inc | 覆晶、面向上型及面向下型中心接合記憶體導線接合總成 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10804240B2 (en) | 2020-10-13 |
JP2020077836A (ja) | 2020-05-21 |
KR102078936B1 (ko) | 2020-02-19 |
US20200144220A1 (en) | 2020-05-07 |
CN111162010A (zh) | 2020-05-15 |
JP6770122B2 (ja) | 2020-10-14 |
TW202019251A (zh) | 2020-05-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20130133828A1 (en) | Bonding apparatus, bonding system and bonding method | |
TWI699146B (zh) | 安裝導電球的方法 | |
JP2017117916A (ja) | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 | |
TWI702706B (zh) | 用於安裝導電球的設備 | |
WO2013080408A1 (ja) | 部品実装方法及び部品実装システム | |
US20150017782A1 (en) | Bonding device and bonding method | |
US20160001543A1 (en) | Bonding device, bonding system, and bonding method | |
WO2016170573A1 (ja) | 粘性流体供給装置および部品実装装置 | |
KR101738511B1 (ko) | 엑스트라볼 제거 및 비산방지 기능을 갖는 솔더볼 마운팅 장치 | |
JP6115617B2 (ja) | 実装装置 | |
JP6506244B2 (ja) | ボール搭載装置 | |
JP2011077161A (ja) | ボール搭載装置、ボール搭載方法及び電子部品の製造装置 | |
KR102330427B1 (ko) | 정전 척을 이용하는 도전성 볼 탑재 방법 | |
JP3449192B2 (ja) | 導電性ボールの移載装置および移載方法 | |
JP7296740B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP3970566B2 (ja) | 導電性ボール搭載装置 | |
JP7401748B2 (ja) | 導電性粒体搭載基板の不要物除去装置 | |
JP2007073622A (ja) | 導電性ボール搭載装置 | |
JPH0964048A (ja) | 導電性ボールの搭載装置および搭載方法 | |
JP2002184803A (ja) | 導電性ボールの吸引配列方法及び吸引配列装置 | |
JP2005166879A (ja) | 電子部品実装装置および電子部品実装方法 | |
JP2011082336A (ja) | 部品実装装置及び部品実装方法 | |
JP2004165276A (ja) | 吸着装置および搬送装置 | |
JP2002042708A (ja) | 半導体ウェハ等の板状の試料を装填する試料ホルダ及び荷電粒子ビーム装置 | |
JP2000326150A (ja) | 導電性ボールの搭載装置および搭載方法 |