TWI692933B - 用來測試一光伏打裝置的測試裝置及測試方法 - Google Patents

用來測試一光伏打裝置的測試裝置及測試方法 Download PDF

Info

Publication number
TWI692933B
TWI692933B TW104110610A TW104110610A TWI692933B TW I692933 B TWI692933 B TW I692933B TW 104110610 A TW104110610 A TW 104110610A TW 104110610 A TW104110610 A TW 104110610A TW I692933 B TWI692933 B TW I692933B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
test device
printed circuit
flexible member
electrical
photovoltaic device
Prior art date
Application number
TW104110610A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201603475A (zh
Inventor
朱里安 洛查
裘納斯 希勒
尼可拉斯 瑞彼得
亞歷山卓 安布爾
Original Assignee
瑞士商帕桑股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 瑞士商帕桑股份有限公司 filed Critical 瑞士商帕桑股份有限公司
Publication of TW201603475A publication Critical patent/TW201603475A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI692933B publication Critical patent/TWI692933B/zh

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02SGENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRARED RADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, e.g. USING PHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
    • H02S50/00Monitoring or testing of PV systems, e.g. load balancing or fault identification
    • H02S50/10Testing of PV devices, e.g. of PV modules or single PV cells
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2884Testing of integrated circuits [IC] using dedicated test connectors, test elements or test circuits on the IC under test
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2887Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/36Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
    • G01R31/382Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC
    • G01R31/3842Arrangements for monitoring battery or accumulator variables, e.g. SoC combining voltage and current measurements
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本發明係關於一種用以測試一光伏打裝置(2)的測試裝置(1),特別是一太陽能電池元件、一太陽能電極及/或一串太陽能電池,該光伏打裝置在它的平坦表面之至少一個上具有電性接點(3),該測試裝置(1)包含:-一支架(4),其具有用於接收該光伏打裝置(2)的一接收表面(5),-至少一個測量裝置(6),-至少一個電性接點(7),其具有緊靠該光伏打裝置(1)之至少一個電性接點(3)的暴露電性接點(8),以便能夠建立一暫時性的電性連接,其中該電性介面(7)連接到該測量裝置(6)。
本發明亦關於一種用以測試一光伏打裝置(2)的方法。

Description

用來測試一光伏打裝置的測試裝置及測試方法
本發明意指一種用以測試在它的平坦表面之至少一個上具有電性接點之一光伏打裝置的測試裝置,特別是欲被處理以形成一太陽能電池、一太陽能電池元件、一太陽能電池及/或一串太陽能電池的晶圓,該測試裝置包含:-一支架,其具有用以接收光伏打裝置的一接收表面,-至少一個測量裝置,-至少一個電性介面,其具有用以緊靠該光伏打裝置之該等電性接點之至少一個的暴露電性接點,以便能夠建立一暫時的電性連接,-施力構件,其用於當該光伏打裝置由該支架接收時,將該電性介面與該光伏打裝置彼此壓緊,其中該電性介面連接到該測量裝置。
在此「接收光伏打裝置」可被理解為光伏打裝置直接或間接地由支架所固持或支撐。在後面的情形中,可插入一額外件(例如,一電性介面)。光伏打裝置的該等接點係為通常使用來收集電力之它的表面的任何一部份。這可以是一金屬化部份或例如是一TCO層。理想上,這些接點代表或模擬稍後在模組中所使用的接點。
本發明亦意指如申請專利範圍第32項之前文的一種測試方法。
本發明測試裝特別適合用來測量光伏打裝置的電力輸出。更者,它容許有利地接觸一光伏打裝置以及測量及/或控制電流與電壓的奈班(nay)。此些裝置可被使用於亦稱為閃爍器的太陽光模擬器中,其係在工業中被普遍知道。
一些目前與未來的太陽能電池不再顯示任何匯流排。它們的前面與背部接點變得非常多樣(不同圖案)而且在頂部與背側上僅具有指狀物的電池金屬化可被發現。有時,指狀物可被中斷而且有些設計(背部接觸電池)甚至在頂側上不再具有任何金屬化。這些背部接觸的電池在電池的背側上具有正與負電極兩者,其需要在電池的背側上相當複雜的金屬化結構。
就用於測試光伏打裝置之測試裝置的製造商而言,提供可靠且可撓性接觸的解法以用於全部這些各種種類的電池金屬化設計會變得非常具有挑戰性。更多地,當各電池製造商想要使它的金屬化設計最佳化並因而必須測試許多不同(原型)的金屬化設計時,各個則需要各別修改的接觸解法。
此外,電池應以它們在太陽能電池模組中接觸的方式被測試。電池製造商應該能夠模擬在太陽能電池中的不同互連方法,例如Day4/智慧型導線技術(對不同模組製造商而言,導線組,薄導線,確切的數目是不同的);2、3、4或5匯流排等等。
有必要發現一種可撓性接觸結構,以便能夠適合具有以下需求的這些快速變化的金屬化設計/需求:
-接觸在各不同位置上的點/面積(用於以電壓與電流銷來接觸pv-裝置的正與負地區),特別用於四點測量;
-正與負電極在該pv-裝置的背(及/或前)側上被廣泛地混合;
-一接觸機械係為較佳,其在電池的頂側上具有非常少或沒有(光)陰影。
-就實驗室量測而言,有必要在不同的溫度加熱與冷卻該pv-裝置並且將它維持在選定的溫度上(以用來測量電池的溫度行為)。與該pv-裝置的良好熱接觸(熱能量流不應被妨礙)係為較佳。
-未來的電池不再顯示完全覆蓋背側的金屬化,其係並且對光透明(以便能夠容許在模組之背部薄板上的反射,或者收集來自電池背部的周圍光線);以用來測量太陽能電池之此透明背側的影響,在不同顏色上提供背部接觸結構是必要的(全反射、漫射或鏡面反射、不同顏色、完全吸收等等)。
這些需求無法藉由目前的接觸解法得到:例如彈簧式探針、導電線、將一電線柵壓在電池上、可撓性軸承葉片。
彈簧式探針(例如,從CN102023235A、HR20120081T1、JP2010177379A1已知)由針銷組成,其在一管中被引導並且由彈簧預載。為了接觸太陽能電池的匯流排,一陣列的許多彈簧式探針在匯流排上被對準並且被固定在一固定排上。這些設計需要許多精細的組裝步驟。該針稍非常精細並且容易受損。接觸面積的截面相較於連接到該匯流排之條帶的截面亦非常小。同樣地,就各匯流排而言,彈簧式探針的陣列必須重複。此外,就無匯流排的電池而言,探針的接點與稍後在電池中的接點不相似,其係會引入不明確的錯誤。當接觸指狀物時,眾人皆知,用探針來碰指狀物是困難的。
在彎曲導線之方法的情形中,可使用彎曲金屬導線。它們固定在電池面積以外,以便能夠最小化在太陽能電池上的套管陰影。將在匯留排上的導線端精確對準需要精細的組裝。同樣地,接觸的截面非常小(並且與在太陽能模組中的互連非常不同)而且接觸點的數目受限於複雜的設計。
使用當作電性接觸構件的支撐導線(例如,從CN201945665U、DE102011081004A1、US2007068567A1得知)沿著它們的總長度固定地連接到一縱向支架,該縱向支架延伸在欲被接觸的太陽能電池之上。攜帶該導線(其係至少部份為裸導線,沒有絕緣)的縱向支架使該導線壓緊太陽能電池。該支架必須是硬性並且機械性穩定以發揮此力。這導致令人不希望之大且重支架投射很多的陰影到太陽能電池上。
US2010045264A1揭露為了測試目的而暫時電性接觸太陽能電池的一種探針,其擁有具有有角度組態的複數個接觸元件,而且該探針的下端點(尖端)被敷設在太陽能電池的電極端點上,以用於產生電性接觸。
US2012306524A1與光伏打裝置之測試沒有關聯。本文件揭露一種用以接觸半導體裝置之複數個接觸位置的設備。呈導線形式的探針件係由一支架所固持。印刷電路板(PCB)具有用於極細同軸段的複數個孔 徑。PCB被使用當作一種用以固持/饋通導線或探針的支架。該等探針件借助於黏合物質而固定在支架上。
DE10201201756A1揭露一種為了測試目的而暫時接觸太陽能電池的設備。複數條導電線延伸於玻璃板上。該玻璃板借助於下壓而被抽吸朝向太陽能電池,而且該等導電線與太陽能電池的電性接觸區域接觸。假定由於壓合機構,無法得到空間均勻且可靠的接觸品質。再者,由金屬導線所施加的力會損壞太陽能電池。
DE102010019955A1係關於不同的技術領域並且揭露一種用以測試電性組件的測試裝置。使用一種導體板來建立與測量裝置的電性接觸。
WO2014013350A1揭露一種用以測試光伏打裝置的測試裝置。電性接觸意味著使用至少一條可撓性與導電線。正如相關於DE102012017564A1已經提及的,金屬導線在pv-裝置上具有負面的機械影響。
彈簧式探針(例如,從CN102023235A、HR20120081T1、JP2010177379A得知)由針銷組成,其在一管中被引導並且由彈簧預載。為了接觸太陽能電池的匯流排,一陣列的許多彈簧式探針在匯流排上被對準並且被固定在一固定排上。這些設計需要許多精細的組裝步驟。該等針稍非常精細並且容易受損。接觸面積的截面相較於連接到匯流排之條帶的截面亦非常小。同樣地,就各匯流排而言,彈簧式探針的陣列必須重複。除此以外,就無匯流排的電池而言,探針的接點與稍後在電池中的接點不相似,其係會引入不明確的錯誤。當接觸指狀物時,眾人皆知,用探針來碰指狀物是困難的。在彎曲導線方法的情形中,可使用彎曲的金屬導線。它們固定在電池面積以外以便能夠將在太陽能電池上的投射陰影最小化。在匯留排上之導線端的精確對準需要精細的組裝。同樣地,接觸的截面非常小(並且與在太陽能模組中的互連非常不同)而且接觸點的數目受限於複雜的設計。
使用當作電性接觸構件的支撐導線(例如,從CN201945665U、DE102011081004A1、US2007068567A1得知)沿著它們的 總長度固定地連接到一縱向支架,該縱向支架延伸在欲被接觸的太陽能電池之上。攜帶該導線(其係至少部份為裸導線,沒有絕緣)的縱向支架使該導線壓緊太陽能電池。該支架必須是硬性並且機械性穩定以發揮此力。這導致令人不希望之大且重支架投射很多的陰影到太陽能電池上。
US2010045264A1揭露為了測試目的而暫時電性接觸太陽能電池的一種探針,其擁有具有有角度組態的複數個接觸元件,而且該探針的下端點(尖端)被敷設在太陽能電池的電極端點上,以用於產生電性接觸。
全部這些解法係為許多單一組件的組裝,該等解法需要複雜的組裝而且應變功能弱,無法與新的金屬化設計相配。
這些解法的主要問題係為:複雜的組裝,適應新金屬化設計的應變性低,難以適應在pv-裝置之一側上具有兩種(或多種)電性極性的背部接觸電池,昂貴的製造成本。
本發明之目的係為了客服這些問題並且為了測試目的提供一種解法以可靠地電性接觸一平坦的光伏打裝置,特別是(背部接觸)電池、晶圓或其任何中間級。該解法應能夠與在pv-裝置之表面上的複雜接觸結構相配。該解法應具有一種簡單與有成本效應的結構。在一項較佳實施例中,以最小的適應努力來測試不同金屬化類型的結構應是可能的。較佳的是一種節省空間的設計。
本目的係以在一開始所提及的一種測試裝置來得到,其中電性介面包含藉由在電性絕緣材料上之印刷傳導結構所形成的印刷電路表面,以及其中該測試裝置包含至少一個電性絕緣材料的可撓性件,該可撓性件協同或形成施力構件,以使電性介面與光伏打裝置彼此壓緊。
用以電性接觸pv-裝置之一印刷電路表面以及用以使光伏打裝置壓緊印刷電路表面之電性絕緣材料的至少一個可撓性件之組合會產生許多優點:在它們之間的一均勻與保護力,以及同時該pv-裝置的一(空間)均勻與可靠接觸。印刷電路表面可非常精確地產生,以在遍及該pv-裝置上 提供均勻的接觸。此均勻接觸係由至少一個電性絕緣材料的可撓性件所進一步改善。可撓性在pv-裝置上提供均勻的力分佈。在pv-裝置之電性接觸側上的負面機械影響亦可藉由使用印刷電路表面而有效地防止。印刷電路表面與它的接觸結構可呈平緩及/或平坦的方式來形成。
同時,可撓性件的電性絕緣材料防止(局部的)電性短切或漏電;亦即,(該等)可撓性件不會影響pv-裝置的性能。(該等)電性絕緣材料可撓性件在與印刷電路表面合作時,保證在遍及pv-裝置的空間延伸上有相同(亦即,均勻)的情況。
因此較佳地,在pv-裝置的一(第一)側上,只有可撓性件的電性絕緣材料緊靠pv-裝置,而且pv-裝置的其他(第二)側則由印刷電路表面接觸。pv-裝置的第一側仍然與測試裝置或者與它的部件中的任何一個電性去耦(亦在測量程序期間內)。在此,該測試裝置適合接收在印刷電路表面與(該等)可撓性件之間的光伏打裝置。該可撓性件的電性絕緣材料則面向該印刷電路表面。
在一項較佳實施例中,包含(該等)可撓性件之測試裝置的頂部部件可被固定(亦即,靜止),而且包含支架(具有接收表面)的底部部件則可朝(該等)可撓性件向上(垂直)移動。移動該底部部件的驅動器然後為協同(該等)可撓性件之施力構件的一部份,以將pv-裝置夾於接收表面與(諸)可撓性件之間。
測試裝置可予以修改,以使得-在測量位置中-在光伏打裝置的第一側上,只有可撓性件的電性絕緣材料能夠緊靠光伏打裝置,而且光伏打裝置的第二側能夠由印刷電路表面電性接觸,其中光伏打裝置的第一側-在測量位置中-與測試裝置或者與它的部件中的任何一個電性去耦。
在一項最佳實施例中,印刷電路表面係為-至少在測量位置中(亦即,具有接收的pv-裝置並且壓在該印刷電路表面上)-朝至少一個可撓性件的凸面形狀。藉由借助於(該等)可撓性件將光伏打裝置壓在印刷電路表面上,光伏打裝置將根據接收表面或印刷電路表面的輪廓而彎曲。這容許更均勻接觸在光伏打裝置之平坦表面上的全部接點。
可撓性件可直接耦合到施力構件(驅動器、施壓裝置、致動 器等等)。該可撓性件亦可協同施力構件作為一副本(可撓性預防措施或可撓性停止器),亦即,至少一個可撓性件會予以維持靜止,而且該施力構件相反該可撓性件移動pv-裝置。
因此,可撓性件使用來將施力構件的力直接或間接地傳送到電性介面及/或到光伏打裝置。
較佳地,可撓性件適合直接觸及或緊貼著光伏打裝置(在測量位置中)。該可撓性件的電性絕緣材料觸及-在測量位置中-pv-裝置。整個可撓性件不一定由電性絕緣材料製成。至少在測量位置中緊靠pv-裝置的鄰接表面係由電性絕緣材料製成,較佳地軟材料。
較佳地,可撓性件具有縱向延伸,而且其中該可撓性件及/或連接到該可撓性件的一縱向強化元件沿該可撓性件之縱向延伸的方向被拉伸,其中較佳地,在該可撓性件及/或在該強化元件中的拉伸高於10N,較佳地高於30N。
較佳地,可撓性件當沒有接觸光伏打裝置時具有一直的路線。
較佳地,測試裝置包含沿可撓性件之縱向延伸的方向而作用在可撓性件上的拉伸構件。
該拉伸保證可撓性件的一定義形狀,以及因此均勻且可靠的施壓(施力)情況。
較佳地,可撓性件具有縱向的(像導線)形狀。較佳地,該可撓性導線具有在該可撓性件的鄰接位置中緊靠光伏打裝置的一鄰接段。該可撓性件至少在它的鄰接段中自由地延伸,在該可撓性件的鄰接位置中緊靠光伏打裝置。在鬆開位置中,該可撓性件的該鄰接段係為一自由延伸段;在接觸(測量)位置中,該自由延伸的鄰接段緊靠該光伏打裝置。
較佳地,(該等)可撓性件至少在第一與第二固持件之間的它的鄰接段中自由地延伸(亦即,沒有任何額外的固持件或支撐件連接到或支撐該可撓性件的鄰接段)。這容許該可撓性件輕易地修改它的路線成光伏打裝置之表面及/或支撐表面的輪廓。換句話說:在鬆開位置中,可撓性件的鄰接段自由地掛在(諸)第一與第二固持件之間;在接觸(或測量) 位置中,自由延伸的鄰接段緊靠著光伏打裝置。
較佳地,可撓性件係為一導線。在一項實施例中,該導線係為一絕緣導線,其中該可撓性件的電性絕緣材料係為該導線的絕緣體。
較佳地,可撓性件係為一可撓性尼龍線。
較佳地,可撓性導線包含強化纖維。
較佳地,可撓性件包含一電性絕緣材料護套(或由一電性絕緣材料護套形成),該護套圍繞至少一條股線,其中較佳地,該至少一條股線的抗拉強度比該護套的抗拉強度更高。該至少一條股線係為一(縱向)強化元件。在此,當該可撓性件維持可撓性時,其E-模量或抗拉強度會增加,以使得它能夠禁得起更大的抗拉應力。在此,例如一纜線或絕緣導線可被使用當作可撓性件。較佳地,該護套具有小於20GPa的E-模量。較佳地,該股線具有大於20Gpa的-模量。較佳地,該護套與該股線的E-模量彼此相差至少2倍,更佳地至少5倍,最佳地至少10倍。
較佳地,可使用複數個可撓性件,例如形成一導線網的平行延伸導線。
因為金屬導線通常對pv-裝置具有負面影響並且可導致該pv-裝置的刮擦及/或甚至破裂,所以使用電性絕緣材料的可撓性件,特別為導線,容許以極具保護性的方式將pv-裝置相對於電性介面地固定。更者,電性絕緣材料件不會影響pv-裝置的測試性能(例如,由於短切)。一個重要優點是此些可由透明或半透明材料形成,假如將光源及/或光偵測器引導到pv-裝置的表面上,該優點則是有利的。該等情況因此則可模擬地非常逼真。
可撓性導線亦為有光澤的,其係因為光線將反射在pv-裝置上而沒有導致任何真實的陰影。在此,較佳地,(該等)可撓性導線理想上具有三角形。
較佳地,至少一個可撓性件係為一導線、一柵、一網目、一網或一軟箔或層,其中較佳地,該可撓性件是透明的。
較佳地,該可撓性件在接收表面的至少一個邊緣上的該接收表面上方連續地延伸,較佳地在兩個相反邊緣上。這容許側向地配置該接 收表面的施力構件(用於該等導線的驅動及/或固持結構)。
印刷傳導結構形成於其上的電性絕緣材料可以例如是一塑膠、纖維及/或樹脂基板或薄膜。不過,該電性絕緣材料可能為例如非導電金屬氧化物的一薄層或塗層,譬如形成在鋁核心上的一鋁層。電性絕緣材料亦可被結構化(例如,二維圖案)及/或形成在一金屬核心上。此金屬核心亦可被使用於傳導電流及/或傳輸電壓到該等暴露電性接點。
該等暴露電性接點的接觸表面(其適合觸及光伏打裝置的接點)與印刷電路表面的印刷傳導結構導電通訊。這容許例如藉由直接使用該印刷電路表面之該印刷傳導結構的電壓及/或電流測量或應用。
在本應用中,該項目印刷電路表面被理解為包含「印刷電路層」及/或「印刷電路結構」,以形成一印刷電路層或結構在電性介面的表面區域中。
在較佳實施例中,至少一個暴露電性接點,較佳地一些或全部的電性接點各個以不動的方式連接到電性絕緣材料,以使得暴露電性接點(或各暴露電性接點)整體上相關於電性絕緣材料是不動的。在本上下文中,「整體上」意味著該暴露電性接點的任何一部份相關於該電性絕緣材料或基板是不動的。
該等暴露電性接點的接觸表面(其將觸及在測量設定位置中之光伏打裝置的接點)整體上相關於電性絕緣材料或基板是不動的。這意味著該暴露電性接點的任何一部份相關於該電性絕緣材料或基板是不動的,亦即,沒有暴露電性接點的任何可移動部份。這容許-結合一印刷電路表面-來提供一可靠且耐用的電性介面,因為該等電性接點就其本身而言不會組成通常容易穿戴的可移動部件,如同在先前技術彈簧式探針技術中的情況。同時,印刷傳導結構容許各個設計的接觸圖案。
較佳地,暴露電性接點能夠將起因於使光伏打裝置與電性介面壓在一起的力傳到印刷電路表面的一傳導路徑或到印刷電路表面的一電性絕緣材料。對應的力路徑因此從該等暴露電性接點的接觸表面(配置以觸及pv-裝置的電性接點)延伸,朝向觸及傳導路徑或觸及印刷電路表面之電性絕緣材料之該暴露電性接點的那部份。該力路徑實質垂直於印刷電路 表面,亦即在一暴露電性接點的相反端點表面之間延伸。該力路徑因此實質平行於在該暴露電性接點內的電流及/或電壓路徑地運行。在壓縮力作用在該等暴露接點上之期間內沒有損失電性連接的風險之下,這容許一種小型且節省空間的結構以及可靠的解法。
在一項較佳實施例中,該等暴露電性接點的至少一個(較佳地一些)係藉由印刷電路表面的印刷傳導結構所形成,較佳地藉由鍍金接點所形成。在此情形中,該等印刷電路結構直接被使用當作接觸區域。該等暴露電性接點可借助於局部沈積材料的印刷或生長技術(例如陽極化、(電)鍍、電漿沈積或噴霧、化學氣相沈積(CVD)等等)而被抬高到電性絕緣材料/基板以上。
在本實施例中,電性介面包含一印刷電路表面,該印刷電路表面具有由在電性絕緣材料之一表面上的印刷傳導結構所形成的暴露電性接點,較佳地鍍金接點。
在一項替用的實施例中,該等暴露電性接點的至少一個,較佳地一些,各個係由一導電件所形成,導電件係連接到印刷電路表面的一印刷傳導結構,其係較佳地借助於焊料或導電黏著劑。該導電件可以是例如一襯墊,亦即一小的板狀件,其係焊接到印刷傳導表面的印刷傳導結構。
較佳地,暴露電性接點的接觸表面(該接觸表面觸及pv-裝置)相關於電性絕緣材料(例如,基板)是抬高的,較佳地距離不超過2mm,較佳地不超過1mm。
本發明係關於平坦或板狀之光伏打裝置的測試並且保證以最小機械應力與良好可重複接觸特性之一平坦光伏打裝置,特別地一(無匯流排)太陽能電池或一串太陽能電池之間的可靠電性接觸。因為該印刷電路表面可被施加在一薄基板上,所以測試裝置則容許節省空間的結構。由於印刷電路技術為一進步技術的事實,可用一成本效應的方式來產生一電性介面。本發明的概念容許精確地將形成印刷電路表面之印刷導電結構的圖案修改成欲被測試之光伏打裝置之平坦表面上的接觸圖案。
在測量位置中(亦即,具有接收的pv-裝置),印刷電路表面以平行的該等暴露電性接點緊靠pv-裝置的平坦表面,以容許印刷電路表 面之全部暴露電性接點與pv-裝置之接點的實質平面接觸。印刷電路表面/層的該等暴露電性接點及/或傳導結構/路徑較佳地由平坦及/或像層的傳導結構所形成。
較佳地,借助於在印刷電路表面內(或在PCB內)運行且由一層電性絕緣材料所覆蓋的傳導路徑,印刷電路表面的暴露電性接點彼此互連及/或與連接器互連以導致測量裝置。因此,相較於根據先前技術的導線接觸(其導致沿著該導線之全部長度的一電性接點),本發明的解法容許藉由暴露電性接點的各別圖案來選擇性接觸pv-裝置。由一層絕緣材料所覆蓋的印刷傳導路徑不會促成直接接觸面積,亦即,互連結構在印刷電路表面內運行但卻被一絕緣體所覆蓋。
較佳地,至少一個暴露電性接點借助於一電阻器而連接到一傳導路徑(由電性絕緣材料覆蓋),其係較佳地以厚膜技術來製造。該電阻器亦可由電性絕緣材料覆蓋。
較佳地,印刷電路表面的暴露電性接點形成二維的圖案,其中較佳地,各暴露電性接點的面積具有不超過1cm的寬度以及不超過1cm的長度或不超過1cm的直徑。這容許選擇性接觸pv-裝置的不同面積。
較佳地,暴露電性接點係藉由局部生長接觸面積來製造,較佳地藉由銅。生長係藉由沈積導電材料來施行,例如藉由陽極化或以薄或厚膜技術。在生長的過程中,該等暴露電性接點的接觸表面相關於印刷電路層的電性絕緣材料變得抬高。
局部生長接觸區域(亦即,暴露的電性接點)會產生良好的3D剖面,其超過絕緣層並且有助於穿透電池的金屬化。
概念係為局部生長暴露電性接點,較佳地藉由陽極化。在一較佳的後續步驟中,可將額外的鍍金施加到已生長的電性接點。在最佳的實施例中,銅由金所覆蓋。
較佳地,暴露電性接點係由印刷電路表面的一傳導路徑所互連,該傳導路徑至少局部地連接到該印刷電路表面的一電性絕緣材料,較佳地由其所覆蓋,其中較佳地,第一組暴露電性接點具有比第二組暴露電性接點更大的接觸面積,較佳地至少兩倍大。
較佳地,第一組的暴露電性接點以及第二組的暴露電性接點各別地沿著一條線一個接著一個交替地配置。
這是僅僅用於以欲被連接之連續線來背部接觸電池的例示性實施例。就許多未來的接觸設計而言,電池上的接觸區域可變得非常小,而且它將可能可提供只有一個電流接點以及一個電壓接點,以用於該電池的各個接觸區域。一項實例係為中斷的指狀物,關於此,可能可放置一個電流接點與一個電壓接點以用於各指狀物段。未來電池,例如IBC(指叉背接觸)電池將不具有任何金屬化接點亦是可能的。
較佳地,測試裝置包含具有不同圖案之暴露電性接點的至少兩個印刷電路表面。該等印刷電路表面可交換以便能夠負責不同pv-裝置的測試。
印刷電路表面係為在電性絕緣或介電質基板上具有導電結構(特別是路徑、點及/或圖案)的任何表面。在本發明的範圍中,項目「印刷」被特別理解成任何種導電材料(特別是金屬,例如銅、金等等,或其一組合,層,如合金或其任何組合)的任何施加或沈積(電漿沈積、濺射、電鍍、噴墨印刷等等);以及選擇性移除(化學處理,如例如蝕刻、產生雷射、等等)用於形成傳導結構的導電材料。據此,印刷傳導結構係為在一印刷電路表面上的導電結構。
根據不同技術,可將電路印刷在任何基板或材料上,特別是塑膠、樹脂或橡膠材料。該材料係為合成或天然、強化或可撓性。可將遮罩使用於沈積或消融製程及/或稍後可將餘料移除(例如,藉由雷射應用)。亦可能可將導電材料施加在基板上,在此處,它僅僅黏著/固持在事先處理或事先列印的種層上。可使用不同的方法,包含網版及/或噴墨印刷機。
產生電路的工業技術包含:標準PCB(環氧玻璃纖維(FR4)、金屬心印刷電路板(MCPCB)、軟印刷電路板(FlexPCB));可撓性與硬性部件之組合;具有碳接點的PCB(與鍵盤應用類似);具有黑(絕緣)遮罩的鍍金接觸區域;厚膜PCB;藉由使用厚膜技術(例如,網版映刷)之被動電性元件的沈積;LTCC(低溫共燒陶瓷);FlexPCB;導電膏的2D或3D印刷;光敏層的網版印刷技術或蝕刻(光刻);區域的生長(陽極化、電化學鍍 層、電鍍、電沈積);藉由光(雷射)激化來製造傳導區域、化學激化、印刷;傳導基板的機械成型(研磨、切割、打印);材料的化學移除(蝕刻等等)以及以上所提及之技術的組合。
電性接點係為在導電路徑之印刷電路上的小、局部化接點(例如,仿效在電池中的互連或者在金屬化以後,以便無法產生陰影)。印刷電路表面的該等電性接點或接觸區域可比該等印刷傳導路徑(稍微)高(例如,藉由電化學鍍層或網版印刷)。
印刷電路表面包含第一極性(負)的第一接點以及第二極性(正)的第二接點。印刷電路表面因此包含與pv-裝置之負極有關的接點以及與pv-裝置之正極有關的接點。
電性絕緣材料較佳地為在一導電材料上的一層,譬如在一鋁板上的一陽極鋁層。
較佳地,印刷電路表面包含分佈在整個印刷電路表面上的複數個電性接點。
以下元件的任何一個具有彈性特性(例如,在PCB上的彈簧元件、具有用來觸及pv-裝置之抬高部件PCB的可撓性部件),以便能夠適合機械不完美並且以便能夠確保全部接觸區域(電性接觸點、印刷電路表面/層、支撐印刷電路表面的基板、印刷電路表面/層之間的一中間層以及一施力構件、施力構件本身)的良好電性接觸。
在印刷電路表面上的電性接觸區域可由其他材料(鎳、金、銀)電鍍,以便能夠改善電性接觸以及減少電阻率以及防止氧化或其它老化。
印刷電路表面的電性接點可予以熱處理,以便能夠減少它的磨損。其他印刷傳導路徑則藉由電性絕緣層予以遮蔽。電性絕緣層可為任何顏色。電性絕緣層可予以最佳化,以用於確保pv-裝置與測試裝置之支架/基部之間的良好熱交換。電性絕緣層可具有特定的彈性,以便能夠適合在電路層之pv-裝置中的不規則性。電性絕緣層可藉由網版印刷、放置一預切割層來施加。
一光伏打裝置(有時亦為:pv-裝置)係為或包含例如晶圓、 太陽能電池(子)元件、太陽能電池、一串或陣列的太陽能電池、太陽能電池模組或其子組件或其任何組合。複數個互連電池可整體性地被接觸或只有其一子集合可被接觸。項目太陽能電池與太陽能模組意指包括結晶與薄膜技術與其組合的任何技術。
光伏打裝置的電性接觸面積可包含例如該光伏打裝置的一匯流排、一指狀物、一面積(譬如它的活性表面的一部份)、用於互連帶的一連接器或其任何組合。該等電性接觸面積係配置在光伏打裝置的頂部及/或背部表面上。一光伏打裝置通常包含至少兩種不同種類的接觸面積,它們之中其中一種係關於正極,以及它們之中其中一種係關於負極。
本發明的方法容許施行電發光以及測量I/V-曲線。本發明的解法亦可被使用來測量諸接觸點之間的電阻率,例如「匯流排至匯流排測量」,以便能夠萃取太陽能電池的薄層電阻率。但是其他測量亦可進行,在此處,pv-裝置應在一側或兩側被電性接觸,其具有一種或複數種極性以及用於電流及/或電壓連接。在本說明與申請專利範圍中所使用的項目「測量裝置」因此可被理解為測量偵測器(例如,伏特計及/或安培計)及/或為測量電源(例如,電壓源及/或電流源)。根據本發明的測試裝置因此可被使用來施加及/或拾取來自光伏打裝置(特別地,太陽能電池)的電流或電壓或兩者。
較佳地,(溫度)感應器被整合在印刷電路表面上或者在其相鄰地區。該等感應器較佳地連接到測量裝置。
較佳地,測試裝置包含當光伏打裝置由支架接收時用於使印刷電路表面與光伏打裝置彼此壓緊的一施力構件。假如電性介面與光伏打裝置以它們的平坦表面彼此壓在其上,電性接點則以更可靠且可重複的方式來建立。該施力構件包含一驅動器(例如,一馬達或一汽缸)、一致動器及/或一泵。該泵係為一真空泵或一壓力泵。該施力構件亦包含至少一個傳輸元件,以用於將由驅動器、致動器或泵所產生的力(直接或間接)傳到光伏打裝置或到電性介面。施力構件的傳輸元件例如為非傳導(可撓性)導線。
可能的施力構件(或加壓裝置)包含: -在電池頂部上的線柵,其將太陽能電池壓在弓狀的支架上;-頂部導線可被絕緣;-除了或替代線圈,繩索或透明箔可被使用;-除了或替代導線,透明箔可被使用;-透明軟箔,壓在電池上,其係被放置在一平坦或弓狀的支架上;-在測量位置中,印刷電路表面可被配置於pv-裝置與(下)支架部份之間;-以壓力容積為基礎的裝置(可撓性容器,其充填氣體或液體或凝膠)。
較佳地,施力構件包含抽吸構件,其中較佳地,印刷電路表面具有在欠壓之下可交換的複數個抽吸開口(例如,孔或間隙)。光伏打裝置借助於欠壓被吸引朝向電性介面並且因此固持在固定位置中。在本實施例中,就將光伏打裝置壓在電性介面上而言,沒有任何機械構件是必要的。機械應力以及損壞光伏打裝置的風險可被有效率地減少。
較佳地,支架具有定義凸面接收表面的凸面形狀。藉由將光伏打裝置壓在凸面接收表面上,光伏打裝置將根據接收表面的輪廓被彎曲。這容許更均勻接觸在光伏打裝置之平坦表面上的全部接點。
較佳地,將接收表面的凸面路線定義,以使得接收表面之凸面路線的最高點(該接收表面的中央區域)與最低點(週邊區域)之間的高度差共計至少0.8mm,較佳地至少1mm。
較佳地(亦可獨立於先前申請專利範圍),在接收表面之彎曲路線-亦即弧長-的高度差(接收表面之凸面路線的最高點與最低點之間)與長度之間的比率共計至少1/200,較佳地至少1/160。
較佳地,印刷電路表面形成支架的至少一部份接收表面。光伏打裝置敷設在支架的接收表面上。因為接收表面同時,所以印刷電路表面電性接點則可立即地建立。
較佳地,印刷電路表面形成在一部份上(例如,在電性介面的一部份上),其係以一可拆開的方式而可安裝在測試裝置內,其中較佳地,支架係由一下部份與一上部份形成,該上部份包含印刷電路表面並且以一可拆開的方式而可安裝到該下部份。例如是在它的頂部上具有印刷電路表面之印刷電路板的該上部份,其係可藉由具有不同印刷電路結構的上 部份來替代。為了測試具有不同接點結構之光伏打裝置的修改可藉由以印刷電路表面來替代該部份而輕易地完成。
該支架的下部份是平坦的,但亦具有凸面形狀(朝向pv-接收面積)。可撓性(平坦)的PCB當壓在該支架的下部份上時可修改它的形狀。
較佳地,印刷電路表面係由一板狀元件,較佳地由一印刷電路板所形成。這容許形成一小型、機械性穩定以及有成本效應的電性介面。
較佳地,該板狀元件(例如,印刷電路板)是可撓性的。這容許當將PCB與光伏打裝置壓在一起時(根據例如一凸面形狀支撐部件的輪廓),將FlexPCB連同該光伏打裝置一起彎曲。該可撓性板狀的元件可由所屬技術領域中具有通常知識者已知的任何可撓性電路材料製成。
較佳地,至少一個電子組件,較佳地一切換器(例如,一半導體切換器或一機電繼電器)、一感應器、一電阻器、一電容、一線圈、一光源(譬如一發光二極體(LED))、一光感應器(譬如光二極體)及/或一加熱元件,其被安裝到電性介面,較佳地到印刷電路板,其中較佳地,電子組件被安裝在與印刷電路表面相反之電性介面或印刷電路板的那表面上。(該等)電子組件亦可被插入於在PCB中的局部開口(孔)中。這容許使用電性介面以用於:電性接觸光伏打裝置以及支撐功能性電性組件兩者。較佳地,至少一個電子組件係為測量裝置的功能性部件。較佳地,光源(例如,LED)被使用來照明pv-裝置(在測量期間內)及/或光感應器(例如,光二極體)被使用來偵測從pv-裝置發出的光線(電激發光)或者監控撞擊在pv-裝置上的光線。
較佳地,電性組件係為在形成至少一個電性接點的第一印刷傳導路徑區段以及形成至少一個電性接點的第二印刷傳導路徑區段之間連接的一可控制切換器。這容許一起切換接觸區段,以便能夠施行不同種類的測量及/或與欲被測試之實際大小的pv-裝置相配。選擇性切換該等接觸區段亦可容許測量電池表面的薄層電阻率(其係類似匯流排至匯流排測量)。
印刷電路表面/層包括亦用於局部測量、切換或用於添加電阻式組件到選定接觸點的電子組件。
可將電阻率添加/整合到印刷電路表面,以便能夠適合測量電流/電壓。切換電路(邏輯閘極與放大器)可被添加/整合到PC-表面,以便能夠人工選擇或鈍化接觸系統的特定區域。
較佳地,印刷電路表面的電性絕緣材料為暗色,較佳地為黑色。這是結合黑色接點太陽能電池以便能夠模擬嵌入於一完整太陽能模組內之太陽能電池效率的較佳實施例。
較佳地,連接印刷電路表面之暴露電性接點的印刷傳導路徑覆蓋以一層電性絕緣材料,較佳地為暗色,特別地為黑色。
較佳地,印刷電路板具有熱傳導材料的核心,較佳地金屬或陶瓷的核心,其係由來自電性絕緣材料的基板所覆蓋。這容許移除由測量參數(光、電流)所導致的熱及/或均勻地平衡溫度梯度。要不然,僅可使用薄的FlexPCB,其係不會形成熱障。
較佳地,印刷電路板(例如,支架的上部份)被支撐在一基部上(例如,支撐的下部份),其中熱箔配置在印刷電路板與基部之間。
較佳地,印刷電路表面具有至少與支架之接收表面相同的尺寸。
較佳地,測試裝置包含一光源及/或一光偵測器。這容許施行電發光測量及/或測試pv-裝置的性能。在一項較佳實施例中,光源及/或光偵測器配置在電性介面上,較佳地在PCB上。
較佳地,測試裝置具有兩個電性介面以用於接收在其間的光伏打裝置,以及其中第一介面的暴露電性接點面向第二電性介面的電性接點。
較佳地,可撓性件,較佳地一套管,更佳地,由一塑膠套膜製成的一容器,係充填以一氣態、液態或凝膠狀流體或充填以一粒狀材料,以用於平衡施力構件的力。
項目件/套管亦可被理解為容器、套膜、封裝、外殼等等。該套管係為可撓性材料袋、囊或套膜,例如薄箔。項目「可撓性件或套管」係被理解為該件或套管的至少一部份是可撓性的。不過,可撓性件/套管亦可包含連接到可撓性部份/材料的至少一個硬性部份。該件/套管具有-至少在 該施力構件的施力狀態中-面向接收表面或形成接收表面的一實質平坦表面。該件/套管當由支架的接收表面所接收時將由施力構件所施加的力傳到光伏打裝置。整個件/套管不一定由可撓性材料製成。較佳地,該件或套管的至少一個面由可撓性材料製成。
可撓性件可定義一密閉體積(例如,密閉囊),其具有平衡功能。在一項替代實施例中,該可撓性件亦為可充氣。在本情形中,該可撓性件具有一平衡功能以及同時一施力功能。
為了施加一均勻壓力在pv-裝置上,可使用充填氣體或液體的可撓性容器。該容器放在該pv-裝置的頂部及/或背部上。
當放在該pv-裝置前面時,一透明(玻璃)板將可撓性容器壓在電池上。在該可撓性容器上的係為根據本發明一項實施例的一印刷電路表面。在該pv-裝置背部上的係為另一可撓性容器(具有導線、電路等等)或任何硬性結構(包括或不包括印刷電路表面)。
當放在電池的背側時,可撓性容器亦包括印刷電路表面。在電池之前側上的係為具有導線、電路等等的硬性或可撓性元件(排、玻璃板、導線、箔或另一可撓性容器)。
可撓性套管的內容物可被熱調整,以便能夠調整電池的溫度。
可撓性套管係為具有固定體積或結合壓力(體積)調整系統的密閉容器。可使用容器之體積的變化(例如,藉由一泵)以便能夠與太陽能電池接觸或解除接觸。
較佳地,可撓性件,例如套管,係為可充氣並且具有用於將可撓性件充氣的一入口。這容許-以優質的方式-將施力功能與平衡功能組合。較佳地,施力構件包含用於以經過入口的媒介而使可充氣件增壓的一泵。
較佳地,一印刷電路表面形成在可撓性件的表面上。這容許遍及pv裝置的平坦表面建立平滑且均勻的接觸。
較佳地,可撓性件係從透明材料形成。這容許配置一光源及/或一光偵測器,其係為超出可撓性件之測試裝置的一部份。
本發明之一個目的亦借助於一種以根據先前實施例其中一項的測試裝置來測試光伏打裝置(特別是太陽能電池)的方法所得到,其包含以下步驟:藉由使電性介面之暴露電性接點的至少一個與光伏打裝置之電性接點的至少一個聯合在一起,可在電性介面與光伏打裝置之間建立一暫時的電性連接,較佳地,將電性介面與光伏打裝置彼此壓緊,施行一測試測量,其中較佳地,該測試測量係藉由施加一電壓或電流到光伏打裝置及/或藉由測量來自光伏打裝置的電壓或電流來施行。
當測試程序完成時,從電性介面與從測試裝置移除pv-裝置,並且因此解決pv-裝置與電性介面的暫時電性接觸。
在下文,說明進一步的較佳實施例,其係與以上所說明之態樣的任何一個結合:較佳地,印刷電路表面提供在測試裝置的一可移動及/或可交換的部份(支撐部份、基部、平板、PCB等等)上。為了測試不同金屬化類形的pv-裝置,只有該可移動及/或可交換部份必須由擁有具有不同接觸結構/圖案之印刷電路表面的另一部份所取代。較佳地,有固定件(螺釘、扣夾等等)被提供在測試裝置中,以用於固定該可移動及/或可交換的部份(例如於一支撐部份上)。
一個優點係為使用用於製造印刷電路的標準方法,以用於製造任何種類之太陽能電池金屬化的修改接觸層。所提出的電路層則可整合成各種種類的施壓裝置並且可互相交換(作為穿戴部件),以用於相容不同的電池金屬化設計。
印刷電路表面(或印刷電路層)具有改善電性接觸特性的小局部化接觸區域。它們例如鍍以金層。
根據本發明的印刷電路層可放置在太陽能電池的背側及/或頂側上並且可放置在硬性或可撓性、平坦或彎曲的基板上。該表面/層係為有顏色、反射性或透明的,而且可熱絕緣或傳導,以便能夠確保pv-裝置的正確溫度。
1‧‧‧測試裝置
2‧‧‧光伏打裝置
3‧‧‧光伏打裝置2的電性接點
4‧‧‧支架
4a‧‧‧支架4的下部份
4b‧‧‧支架4的上部份
5‧‧‧接收表面
6‧‧‧測量裝置
7‧‧‧電性介面
8‧‧‧電性介面7的暴露電性接點
9‧‧‧印刷電路表面
10‧‧‧印刷電路板
12‧‧‧電子組件
13‧‧‧可撓性件,較佳地套管
14‧‧‧可撓性件13的入口
15‧‧‧可撓性件
16‧‧‧施力構件
17‧‧‧光源
18‧‧‧光偵測器
19‧‧‧電性絕緣材料層
20‧‧‧金屬或陶瓷核心
21‧‧‧電性絕緣材料基板
22‧‧‧傳導路徑
23‧‧‧泵
24‧‧‧透明板,較佳地玻璃板
25‧‧‧熱箔
26‧‧‧印刷導電結構
27‧‧‧電性絕緣材料
28‧‧‧導電件
29‧‧‧焊料
30‧‧‧股線
31‧‧‧護套
32‧‧‧拉伸構件
D‧‧‧在暴露電性接點8的接觸表面與電性絕緣材料27的上表面之間的距離
F‧‧‧施加在暴露電性接點8的力
G1‧‧‧第一組暴露電性接點8
G2‧‧‧第二組暴露電性接點8
本發明的進一步實施例在該等圖式與在申請專利範圍獨立項中予以指出。參考符號的清單形成本揭示的一部份。本發明現將藉由圖式詳細解釋。在該等圖式中:圖1顯示一測試裝置的一項實施例;圖2顯示具有電性介面的支架,圖3以一截面顯示電性介面的一可能結構,圖4至10顯示一測試裝置的不同實施例,圖11顯示印刷電路表面的一輪廓圖,圖12顯示一印刷電路表面之一項實例的一輪廓圖,圖13顯示電性介面的兩項實施例,圖14顯示一項進一步實施例,圖15以一截面圖顯示完全從電性絕緣材料形成的一可撓性件,圖16以一截面圖顯示呈一護套圍繞一股線(強化元件)之形式的一縱向可撓性件。
圖17顯示包含用於拉伸可撓性件之拉伸構件之一測試裝置的一項較佳實施例。
圖1顯示一測試裝置1,其用於測試一平坦的光伏打裝置2,特別是一太陽能電池元件、一太陽能電池及/或一串太陽能電池,該光伏打裝置於它至少一個平坦表面上具有電性接點3。測試裝置1包含具有用於接收光伏打裝置2之接收表面5的一支架4、一測量裝置6(例如伏特計、安培計、電壓源及/或電流源)、以及具有緊靠光伏打裝置1之電性接點3的暴露電性接點8的至少一個電性介面7(當pv-裝置由接收表面5接收時),以便能夠建立暫時的電性連接。
電性介面7連接到測量裝置6,以便能夠建立在pv-裝置2與測量裝置6之間的電性連接。電性介面7包含一印刷電路表面9,其具有藉由在 電性絕緣材料表面上之印刷傳導結構所形成(較佳地鍍金)的暴露電性接點8。
支架4包含下部份4a以及攜帶印刷電路表面9的上部份。在圖1與2的實施例中,支架4的上部份係為印刷電路板10。
測試裝置1進一步包含施力構件16,其用於當光伏打裝置2由支架4接收時將印刷電路表面9與光伏打裝置2壓在一起。施力構件16包含用於固持一可撓性件15(例如,一導線)的一固持裝置,以及用於沿向上與向下方向驅動該固持裝置的一驅動器。
在一項替代實施例中,頂部部件(包含可撓性導線15)可被固定,以及底部部件(支架4)可朝可撓性導線15(垂直)向上移動。移動該底部部件的驅動器然後為施力構件的一部份。
可撓性件15較佳地由電性絕緣材料(例如,塑膠或尼龍線)製成並且被使用來將施力構件16的力傳到光伏打裝置2。或者,可撓性件15可作用在電性介面7上(見圖6)。
可撓性件15較佳地至少部份透明,以便使光線能夠從pv-裝置2通過以及朝向pv-裝置2。測試裝置1包含面向pv-裝置接收面積的光源17及/或光偵測器18(例如,照相機),以便能夠測試pv-裝置的性能及/或施行光或電發光測量。
至少一條可撓性導線15可形成一柵或一網狀物。
可撓性導線15在接收表面5之至少一個邊緣上的接收表面5上方連續地延伸,在圖1則在兩個相反邊緣上。
或者,施力構件16包含抽吸構件(例如,真空貯器或泵23),其中較佳地印刷電路表面9具有在欠壓之下可交換的複數個抽吸開口11(圖6)。
正如從圖1、2及5所見,支架4具有定義一凸面接收表面5的一凸面形狀。
印刷電路表面9形成支架4的接收表面5。
印刷電路表面9形成在一部份(例如,PCB)上,該印刷電路表面可拆開地安裝在測試裝置1內。在圖1與2的實施例中,支架4係由下 部份4a與上部份4b形成,上部份(呈PCB10之形式)包含印刷電路表面9並且可拆開地安裝到下部份4a。
正如已經提及的,印刷電路表面9係由一板狀元件,較佳地由一印刷電路板10所形成(圖1、2)。
如在圖4中指示的,印刷電路板10是可撓性的並且以由施力構件16施加在pv-裝置2上的力而修改成在圖1中所示的彎曲形狀。
如從圖2所見,至少一個電子組件12,較佳地一半導體切換器、一感應器、一電阻器、一電容、一線圈、及/或一加熱元件,被安裝到印刷電路板10。在圖2中,電子組件12被安裝在與印刷電路表面9相反之印刷電路板10的那表面上。在支架4的下部份4a中,可提供凹處以容納電性組件12。
圖3以一截面圖顯示印刷電路層9的一部份。印刷電路板係由金屬(或陶瓷)核心20所形成,該金屬核心則由電性絕緣材料層所夾入。亦可能在核心20的頂部上只有一電性絕緣層。(金屬)核心20由電性絕緣材料的基板21覆蓋。在那基板上,印有傳導路徑,較佳地來自銅。一暴露的電性接點8係由從傳導路徑22向上延伸之一抬高的銅結構所形成。暴露的電性接點較佳地由高度傳導材料(譬如金)的鍍層所覆蓋。印刷傳導路徑22由電性絕緣(較佳地亦為:熱傳導)材料層19所覆蓋。這容許在沒有產生短路之下藉由電性介面7的該等暴露電性接點8來選擇性接觸pv-裝置2的接點3。熱箔25可夾於PCB10以及支架4的下部份4a之間,以便增進pv-裝置2與支架4之間的熱接觸。
圖11顯示可能的印刷電路結構。第一(左)與第二(右)傳導路徑22可被使用來接觸在pv-裝置2之背側上的電性接點3(在此:指狀物3)。第一傳導路徑22可被使用於電壓測量(暴露電性接點8的小接觸面積以及傳導路徑22的小寬度)而且第二傳導路徑22可被使用於電流測量(暴露電性接點8的更大接觸面積以及傳導路徑22的大寬度)。
在一項較佳實施例中,暴露電流接點8因此具有比暴露電壓接點8更大的接觸面積。
在一項進一步的較佳實施例中,電流測量傳導路徑22具有比 電壓測量路徑22更大的寬度。
因此,第一組G1暴露電性接點(電流)具有更大的接觸面積,較佳地比第二組G2暴露電性接點(電壓)還大至少兩倍。正如從圖11所見,第一組G1的暴露電性接點8以及第二組2的暴露電性接點沿著一條(直)線一個接著一個交替地配置(與在測量位置中之pv-裝置2之像指狀物的電性接點3重疊)。
在本實施例中,暴露電性(電壓)接點8經由是電阻器(例如,借助於厚膜印刷來施加)的電性組件12連接到(左)傳導路徑22。該等電阻器限制鄰近電源的電流,以容許更短且更準確的測量步驟(因為一更小/更短的電壓降)。
電阻器避免電流從一個暴露電性(電壓)接點8循環到另一個並且因此減少接觸電阻率的影響。此外,各電阻器使各電壓測量的比重均衡並且確保總電壓測量對應全部局部電壓測量的平均。
正如在圖11中的指示,傳導路徑22由電性絕緣材料(較佳地由層19)所覆蓋。將暴露電性接點8互連的傳導路徑22在測試測量期間內沒有觸及光伏打裝置2,其導致更準確的測量結果。
圖4至10顯示在支架4、pv-裝置2、印刷電路表面9以及施力構件16、23或力傳送元件15、13之間配置的替代實施例。尤其從圖4可見,印刷電路表面9可從測試裝置1(換句話說,從支架4的下部份4a)拆開。
在圖4中,pv-裝置2被夾於可撓性導線(頂部)與可撓性PCB10(底部)之間,以同時形成接收表面5。支架4的下部份為朝向pv-裝置2的凸面形狀。
在圖5中,印刷電路表面9直接形成在支架4的凸面形狀表面上(亦即,直接印在彎曲的夾頭上)。
在圖8至10中,pv裝置2被夾於兩個印刷電路表面9之間並因此從兩側被接觸。
在圖7至10的實施例中,測試裝置1包含至少一個可撓性件13,較佳地一套管,更佳地,由一塑膠套膜製成的一容器,該件13充填以一氣態、液態或凝膠狀流體或充填以一粒狀材料,以用於平衡施力構件的 力。
可撓性件13(或套管)在圖7的實施例中係為可充氣(例如,如抽蓄式塑膠袋)並且具有用於將該件13充氣的入口14。連接到入口14的泵23提供一媒介流到該件13內及/或從該件13出來。由於體積/壓力變化,可將電性介面7壓在pv-裝置2上。或者,可能可將pv-裝置2壓在電性介面7上(圖8至10)。在圖7與8中,相關於其他圖,頂部導線15柵以90°拉引。
正如在圖10中,印刷電路表面9亦直接形成在可撓性件13的表面上。
為了避免陰影(尤其在圖9與10的實施例中,在此該套管面向pv-裝置的頂部表面),可撓性件13部份或完全地由一透明材料形成。
在圖9與10中,透明(玻璃)板配置在可撓性件13上方並且將力傳到測量情況的夾層結構。然後光可通過那夾層結構的頂部部件,以達到pv-裝置2。
圖12以一項實例顯示具有印在基板21上之傳導路徑22並且具有整合在分層式結構中之被動功能組件(容量、電阻器)12之印刷電路板10的傳導結構。
圖13顯示電性介面7的兩項實施例。在圖13的第一實施例中(左部份),暴露電性接點8由印刷電路表面9的印刷傳導結構26直接形成。暴露電性接點8可由局部材料生長製成,譬如例如使用銅的陽極化。暴露電性接點8與在電性絕緣材料27下方延伸的傳導路徑22電性通訊。電性絕緣材料27的上層(圖13)係為防焊漆。電性絕緣材料27(圖13)的底部層係為絕緣PCB基板。這些傳導路徑22可將暴露電性接點8彼此電性連接及/或將一暴露電性接點8與測量裝置6電性連接。
在圖13的第二實施例中,(右部份)的暴露電性接點8各個由導電件28形成,該導電件借助於焊料29而連接到印刷電路表面9的印刷導電結構26(或者,一導電黏著劑或電鍍亦可能用來連接)。
在兩項實施例中,電性介面7包含印刷電路表面9,其具有藉由在電性絕緣材料27上之印刷傳導結構26所形成的暴露電性接點8。
暴露電性接點8各個以不動的方式連接到電性絕緣材料27, 以使得各暴露電性接點8整體上相關於電性絕緣材料27是不動的(亦即,不具有任何可移動部件)。在圖13的第一實施例中(左部份),印刷傳導結構26直接形成暴露電性接點8。在圖13的第二實施例中(右部份),導電件28形成暴露電性接點8。
正如所見,暴露電性接點8能夠將力F傳到印刷電路表面9的傳導路徑22及/或到電性絕緣材料27,其起因於將光伏打裝置2與電性接面7壓在一起。力路徑因此從該暴露電性接點8的上接觸表面(布置以觸及pv-裝置的電性接點),朝向底部觸及印刷電路表面9之傳導路徑22及/或電性絕緣材料27之那部份的暴露電性接點8來延伸。該力路徑實質垂直印刷電路表面9延伸,亦即,暴露電性接點8的相反端面之間。該力路徑的路線因此實質平行於在該暴露電性接點8內之電流及/或電壓路徑/方向。
較佳地,暴露電性接點8的接觸表面(接觸或觸及pv-裝置2的最上表面)相關於電性絕緣材料27是抬高的,較佳地高度距離D不超過2mm,較佳地不超過1mm。
圖14顯示本發明的進一步實施例。圖14的左部份(印刷電路表面9的第一部份)顯示可使用於電壓測量的暴露電性接點8。該接點8係由連接到印刷電路表面9之傳導路徑22的導電件28所形成。該傳導路徑22延伸於電性絕緣材料27上。進一步(下)傳導路徑22形成印刷電路表面9的基礎。在圖14的右部份(該相同印刷電路表面9的第二部份),路徑22攜帶一導電件28,該導電件形成一可使用於電流測量的暴露電性接點8。該下傳導路徑22借助於電性絕緣材料/層27而與上傳導路徑22電性絕緣。F表示當將pv-裝置2與電性介面7壓在一起時之施加在該暴露電性接點8上的力。
一種根據先前實施例其中一項之以測試裝置1來測試光伏打裝置2(特別是太陽能電池)的方法,其包含以下步驟:藉由將電性介面7之該等暴露電性接點8與光伏打裝置2之該等電性接點8的聯合在一起,可在電性介面7與光伏打裝置2之間建立一暫時的電性連接,較佳地,藉由施力構件15、16、11、23將電性介面7與光伏打裝置2彼此壓緊;施行一測試測量,其中較佳地,該測試測量係藉由施加一電壓或電流到光伏打裝置2及/或藉由測量來自光伏打裝置2之電壓或電流來施行。
在一項進一步實施例中,可能可借助於如上文所說明的印刷電路表面9來接觸光伏打裝置2的底部金屬化以及借助於導電材料的可撓性導線來接觸相同光伏打裝置2的頂部金屬化。後者亦可被連接到測量裝置6。
亦應該提及的是,當將光伏打裝置壓在中間時是否支架4朝可撓性導線15移動或可撓性導線15朝支架4移動均沒有任何關係。
在圖15的實施例中,可撓性件完整地從電性絕緣材料形成。在此,該可撓性件係為一導線,例如,包含強化纖維(譬如玻璃纖維)的一尼龍線。
圖16顯示一項進一步實施例,在此處,可撓性件15係由電性絕緣材料的護套31所形成,該護套31圍繞至少一條股線30。該股線30是或不是電性絕緣材料。較佳地,至少一條股線30的抗拉強度比護套31的抗拉強度更高。股線30例如為(玻璃)纖維、碳纖維或金屬股線。
圖17顯示一項較佳實施例,在此處,可撓性件15具有縱向延伸。該可撓性件15及/或連接到該可撓性件15的縱向強化元件30(見圖16)沿該可撓性件15的縱向延伸方向拉伸。在可撓性件15及/或在強化元件30中的拉伸高於10N,較佳地高於30N。圖17顯示可撓性件15當沒有與光伏打裝置2接觸時具有一直線路線。
測試裝置1包含沿可撓性件15之縱向延伸的方向而作用在可撓性件15上的拉伸構件32。拉伸構件32係為或包含至少一個彈簧元件、一致動器(譬如一汽缸驅動器)及/或譬如槓桿或捲線軸的傳輸件。
正如從圖1與17所見,測試裝置1適合接收在印刷電路表面9與可撓性件15之間的光伏打裝置2。在圖17所示的雙箭頭指示該(等)可撓性件與支架4可關於彼此地移動,以便能夠夾入pv-裝置2。在此,該(等)可撓性件15可朝(靜止)支架4移動,或者支架4可朝(靜止)可撓性件15移動。同樣地,支架與可撓性件兩者的移動將是有可能的。
印刷電路表面9係為朝向至少一個可撓性件15的凸面形狀。
為了能夠到達測量位置,可撓性件15(在圖17)朝光伏打裝置2移動,緊靠該pv-裝置的第一(在此:上)側並且使pv-裝置2(以它的第二側)壓緊印刷電路表面9。
從圖17顯而易見地,測試裝置1被修改以使得-在該測量位置中-在光伏打裝置2的第一側上,只有可撓性件15的電性絕緣材料緊靠光伏打裝置2。光伏打裝置2的第二側由印刷電路表面9電性接觸。此一結構保證該光伏打裝置2的第一(在此:上)側-同樣在該測量位置中-與該測試裝置1或者與它的部件的任何一個電性去耦。
圖17的可撓性件15具有縱向(像導線)的形狀。可撓性件15至少在它的鄰接區段中自由地延伸,而在該可撓性件15的鄰接(或測量)位置中,該可撓性件緊靠該光伏打裝置2。
本發明不限於這些實施例。其他變化對所屬技術領域中具有通常知識者而言是明顯的,其係並且被視為位於在下文申請專利範圍中明確敘述的發明範圍內。在以上說明書所說明的各別特徵(特別相關於指狀物的)可彼此結合,以形成其他實施例,及/或經必要的修改後也適用於在該等申請專利範圍中所說明者以及該實施方式的其他部份。
1:測試裝置
2:光伏打裝置
3:光伏打裝置2的電性接點
4:支架
6:測量裝置
8:電性介面7的暴露電性接點
9:印刷電路表面
10:印刷電路板
15:可撓性件
16:施力構件
17:光源
18:光偵測器

Claims (32)

  1. 一種用以測試一光伏打裝置(2)的測試裝置(1),特別是一太陽能電池元件,一太陽能電池及/或一串太陽能電池,該光伏打裝置具有電性接點(3)在它的至少一個平坦表面上,該測試裝置(1)包含:-一支架(4),其具有用以接收該光伏打裝置(2)的一接收表面(5),-至少一個測量裝置(6),-至少一個電性介面(7),其具有用以緊靠該光伏打裝置(2)之該等電性接點(3)之至少一個的暴露電性接點(8),以便能夠建立一暫時的電性連接,-施力構件(16),其用於當該光伏打裝置(2)由該支架(4)接收時將該電性介面(7)與該光伏打裝置(2)彼此壓緊,其中該電性介面(7)連接到該測量裝置(6),其特徵為該電性介面(7)包含藉由在電性絕緣材料(27)上之數個印刷傳導結構(26)所形成的一印刷電路表面(9),以及該測試裝置(1)包含至少一個電性絕緣材料的可撓性件(13、15),該可撓性件(13、15)協同或形成該施力構件(16),以使該電性介面(7)與該光伏打裝置(2)彼此壓緊。
  2. 如申請專利範圍第1項之測試裝置,其中至少一個暴露電性接點(8),較佳地該等暴露電性接點(8)之其中一些或全部,以一不動的方式連接到該電性絕緣材料(27),以使得整體上該暴露電性接點(8)相關於該電性絕緣材料(27)是不動的。
  3. 如申請專利範圍第1項或第2項之測試裝置,其中該等暴露電性接點(8)的至少一個係藉由該印刷電路表面(9)的該等印刷傳導結構(26)所形成,較佳地藉由鍍金接點所形成。
  4. 如申請專利範圍第1項之測試裝置,其中該等暴露電性接點(8)的至少一個係由一導電件(28)所形成,該導電件係不動地連接到該印刷電路表面(9)的該等印刷傳導結構(26),其係較佳地借助於焊料(29)或導電黏著劑。
  5. 如申請專利範圍第1項之測試裝置,其中用於觸及該光伏打裝置(2)之一電性接點(3)之暴露電性接點(8)的一接觸表面相關於該電性絕緣材料(27)是抬高的,較佳地一距離(D)不超過2mm,較佳地不超過1mm。
  6. 如申請專利範圍第1項之測試裝置,其中該施力構件(16)適合當該光伏打裝置(2)由該支架(4)所接收的時候將該印刷電路表面(9)與該光伏打裝置(2)彼此緊壓。
  7. 如申請專利範圍第1項之測試裝置,其中暴露電性接點(8)係由該印刷電路表面(9)的一傳導路徑(22)互連,該傳導路徑(22)至少局部地連接到該電性絕緣材料(27),其中較佳地,一第一組(G1)暴露電性接點(8)具有比一第二組(G2)暴露電性接點(8)一更大的接觸面積,較佳地至少兩倍大。
  8. 如申請專利範圍第1項之測試裝置,其中該支架(4)具有定義一凸面接收表面(5)的一凸面形狀。
  9. 如申請專利範圍第1項之測試裝置,其中該電性介面(7)以一可拆開的方式而可安裝在該測試裝置(1)內,其中較佳地,該支架(4)具有一下部份(4a)與一上部份(4b),該上部份(4b)包含該印刷電路表面(9)並且以一可拆開的方式而可安裝到該下部份(4a)。
  10. 如申請專利範圍第1項之測試裝置,其中該印刷電路表面(9)係由一板狀元件,較佳地由一印刷電路板(10)所形成。
  11. 如申請專利範圍第10項之測試裝置,其中該板狀元件係為可撓性。
  12. 如申請專利範圍第1項之測試裝置,其中至少一個電子組件(12),較佳地一切換器、一感應器、一電阻器、一電容、一線圈、一光源(譬如一發光二極體(LED))、一光感應器(譬如一光二極體)以及/或者一加熱元件,其被安裝到該電性介面(7),較佳地到一印刷電路板(10),其中較佳地,該電子組件(12)被安裝在與該印刷電路表面(9)相反之該電性介面(7)的那表面上。
  13. 如申請專利範圍第1項之測試裝置,其中該可撓性件(13、15)至少 部份為透明,其中較佳地,該可撓性件(13、15)的該電性絕緣材料較佳地完全透明。
  14. 如申請專利範圍第1項之測試裝置,其中該可撓性件(13、15)適合直接觸及或緊貼在一測量位置中的該光伏打裝置(2)。
  15. 如申請專利範圍第1項之測試裝置,其中該可撓性件(13、15)連續地在該接收表面之至少一個邊緣上的該接收表面上方延伸,較佳地在兩相反邊緣上。
  16. 如申請專利範圍第1項之測試裝置,其中該可撓性件(15)具有縱向延伸,而且其中該可撓性件(15)及/或連接到該可撓性件(15)的一縱向強化元件(30)係沿該可撓性件(15)之該縱向延伸的一方向被拉伸,其中較佳地,在該可撓性件(15)及/或在該強化元件(30)中的該拉伸高於10N,較佳地高於30N。
  17. 如申請專利範圍第16項之測試裝置,其中該可撓性件(15)當沒有接觸該光伏打裝置(2)時具有一直線路線。
  18. 如申請專利範圍第17項之測試裝置,其中該測試裝置(1)包含拉伸構件(32),其沿該可撓性件(15)之該縱向延伸的一方向作用在該可撓性件(15)上。
  19. 如申請專利範圍第17項之測試裝置,其中該可撓性件(15)係為一導線。
  20. 如申請專利範圍第17項之測試裝置,其中該可撓性件(15)係為一可撓性尼龍線。
  21. 如申請專利範圍第17項之測試裝置,其中該可撓性件(15)包含一電性絕緣材料護套(31),該護套(31)至少部份地圍繞至少一條股線(30),其中較佳地,該至少一條股線(30)的一拉伸強度比該護套(31)的一拉伸強度更高。
  22. 如申請專利範圍第17項之測試裝置,其中該至少一個可撓性件係為一軟箔或層。
  23. 如申請專利範圍第14項之測試裝置,其中該可撓性件(13),較佳地一套管,更佳地,包含一塑膠套膜的一容器,係充填以一氣態、 液態或凝膠狀流體或充填以一粒狀材料,以用於平衡該施力構件(16)的一力。
  24. 如申請專利範圍第23項之測試裝置,其中該可撓性件(13)可充氣並且具有用於使該可撓性件(13)充氣的一入口(14)。
  25. 如申請專利範圍第23項之測試裝置,其中該印刷電路表面(9)形成在該可撓性件(13)的一表面上,以及/或者其中該可撓性件(13)從一透明材料形成。
  26. 如申請專利範圍第23項之測試裝置,其中該印刷電路表面(9)形成該支架(4)之該接收表面的至少一部份。
  27. 如申請專利範圍第23項之測試裝置,其中該印刷電路表面(9)具有與該支架(4)之該接收表面至少相同的尺寸。
  28. 如申請專利範圍第23項之測試裝置,其中該測試裝置(1)被修改,以接收該印刷電路表面(9)與該可撓性件(13、15)之間的該光伏打裝置(2)。
  29. 如申請專利範圍第28項之測試裝置,其中該測試裝置(1)被修改,以使得-在該測量位置中-在該光伏打裝置(2)的一第一側上,只有該可撓性件(15)的該電性絕緣材料能夠緊靠該光伏打裝置(2)而且該光伏打裝置(2)的一第二側能夠藉由該印刷電路表面(9)電性接觸,其中該光伏打裝置(2)的該第一側-在該測量位置中-自該測量裝置(6)或自它的部件的任一個電性去耦。
  30. 如申請專利範圍第29項之測試裝置,其中該印刷電路表面(9)係為朝該至少一個可撓性件(13、15)的凸面形狀。
  31. 如申請專利範圍第29項之測試裝置,其中該印刷電路表面(9)被提供在該測試裝置(1)之一可移動及/或可交換部份,其中較佳地有固定構件,譬如螺釘、扣夾等等,被提供在該測試裝置(1)以用於固定該可移動及/或可交換部份。
  32. 一種以申請專利範圍第1至31項中任何一項之一測試裝置(1)來測試一光伏打裝置(2)的方法,特別是一太陽能電池元件,一太陽能電池及/或一串太陽能電池,該方法包含以下步驟: 藉由將該電性介面(7)之該等暴露電性接點(8)的至少一個與該光伏打裝置(2)之該等電性接點(8)的至少一個聯合在一起,可在該電性介面(7)與該光伏打裝置(2)之間建立一暫時的電性連接,較佳地,將該電性介面(7)與該光伏打裝置(2)彼此壓緊,施行一測試測量,其中較佳地,該測試測量係藉由施加一電壓或電流到該光伏打裝置(2)及/或藉由測量來自該光伏打裝置(2)的該電壓或電流而來施行。
TW104110610A 2014-04-04 2015-04-01 用來測試一光伏打裝置的測試裝置及測試方法 TWI692933B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP14163602 2014-04-04
EP14163602.7 2014-04-04

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201603475A TW201603475A (zh) 2016-01-16
TWI692933B true TWI692933B (zh) 2020-05-01

Family

ID=50473083

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW104110610A TWI692933B (zh) 2014-04-04 2015-04-01 用來測試一光伏打裝置的測試裝置及測試方法

Country Status (5)

Country Link
EP (1) EP3126859B1 (zh)
KR (1) KR102166024B1 (zh)
CN (1) CN106165291B (zh)
TW (1) TWI692933B (zh)
WO (1) WO2015151049A1 (zh)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI617129B (zh) * 2017-05-03 2018-03-01 Solar cell measuring device
JP6818908B2 (ja) * 2017-11-15 2021-01-27 三菱電機株式会社 太陽電池セルおよび太陽電池セルの製造方法
DE102017129026B3 (de) * 2017-12-06 2019-04-18 Webasto SE Heizgerät
DE102018102840A1 (de) * 2018-02-08 2019-08-08 Wavelabs Solar Metrology Systems Gmbh Vorrichtung zur elektrischen Kontaktierung einer Solarzelle bei der Messung elektrischer Kenndaten der Solarzelle und Verfahren zur Messung elektrischer Kenndaten einer Solarzelle
KR102447833B1 (ko) * 2018-02-09 2022-09-27 주성엔지니어링(주) 전력 인터페이스
CN109961674B (zh) * 2019-05-09 2021-01-12 江苏优埃唯智能科技有限公司 模拟无人机光伏板热斑检测教学装置和教学方法
CN114814349B (zh) * 2022-05-23 2023-03-24 江苏苏源杰瑞科技有限公司 一种具有防尘散热功能的三相智能电能表

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120032694A1 (en) * 2010-08-06 2012-02-09 James Hinkle In-process electrical connector
CN102519365A (zh) * 2011-12-06 2012-06-27 桂林电子科技大学 太阳能电池片栅线特性检测仪
CN102540037A (zh) * 2010-12-27 2012-07-04 阿特斯(中国)投资有限公司 太阳能电池片的测试仪
TW201231996A (en) * 2010-12-07 2012-08-01 Sony Chem & Inf Device Corp Solar cell output measuring device and measuring method
US8563848B1 (en) * 2010-09-22 2013-10-22 Solaria Corporation System and method for placement of photovoltaic strips
WO2014013350A1 (en) * 2012-07-20 2014-01-23 Pasan Sa Testing device
DE102012017564A1 (de) * 2012-09-05 2014-03-06 Universität Konstanz Vorrichtung zur nicht-permanenten elektrischen Kontaktierung von Solarzellen zur Messung elektrischer Eigenschaften

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070068567A1 (en) 2005-09-23 2007-03-29 Rubin Leonid B Testing apparatus and method for solar cells
DE102008038186A1 (de) 2008-08-19 2010-02-25 Suss Microtec Test Systems Gmbh Sonde zur temporären elektrischen Kontaktierung einer Solarzelle
JP2010177379A (ja) 2009-01-28 2010-08-12 Mitsubishi Electric Corp 太陽電池用測定治具
CN102023235B (zh) 2009-09-23 2012-11-28 台达电子工业股份有限公司 太阳能电池板检测系统的对位检测设备及对位检测方法
EP2339649B1 (de) 2009-12-22 2011-12-28 KIOTO Photovoltaics GmbH Vorrichtung zur Fixierung von Leiterbahnen auf einer Solarzelle
DE102010019955A1 (de) * 2010-02-03 2011-08-04 Eutegra Ag, 60325 Elektrische Kontaktiereinrichtung
CN201945665U (zh) 2010-12-27 2011-08-24 阿特斯(中国)投资有限公司 太阳能电池片的测试仪
JP2012237594A (ja) * 2011-05-10 2012-12-06 Micronics Japan Co Ltd 絶縁測定用プローブユニット及び絶縁測定装置
US8854072B2 (en) 2011-06-03 2014-10-07 Hai Dau High temperature-low leakage probe apparatus and method of manufacturing same
DE102011081004A1 (de) 2011-08-16 2013-02-21 Solarworld Innovations Gmbh Kontaktiervorrichtung für solarzellen, messplatz mit einer solchen kontaktiervorrichtung und messverfahren

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120032694A1 (en) * 2010-08-06 2012-02-09 James Hinkle In-process electrical connector
US8563848B1 (en) * 2010-09-22 2013-10-22 Solaria Corporation System and method for placement of photovoltaic strips
TW201231996A (en) * 2010-12-07 2012-08-01 Sony Chem & Inf Device Corp Solar cell output measuring device and measuring method
CN102540037A (zh) * 2010-12-27 2012-07-04 阿特斯(中国)投资有限公司 太阳能电池片的测试仪
CN102519365A (zh) * 2011-12-06 2012-06-27 桂林电子科技大学 太阳能电池片栅线特性检测仪
WO2014013350A1 (en) * 2012-07-20 2014-01-23 Pasan Sa Testing device
DE102012017564A1 (de) * 2012-09-05 2014-03-06 Universität Konstanz Vorrichtung zur nicht-permanenten elektrischen Kontaktierung von Solarzellen zur Messung elektrischer Eigenschaften

Also Published As

Publication number Publication date
KR20160141809A (ko) 2016-12-09
CN106165291A (zh) 2016-11-23
KR102166024B1 (ko) 2020-10-16
EP3126859A1 (en) 2017-02-08
WO2015151049A1 (en) 2015-10-08
TW201603475A (zh) 2016-01-16
EP3126859B1 (en) 2018-06-06
CN106165291B (zh) 2019-08-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI692933B (zh) 用來測試一光伏打裝置的測試裝置及測試方法
JP6305400B2 (ja) 試験装置
JP2013545088A (ja) 光起電力電池用試験装置
CN102200552B (zh) 硅片的方块电阻的测试方法及设备
TWI476419B (zh) An output measuring device and a measuring method for a solar cell unit
JP4866954B2 (ja) 太陽電池セル測定用試料台
JP2013102121A (ja) 太陽電池用測定治具及び太陽電池セルの出力測定方法
JP6559244B2 (ja) 太陽電池の製造方法および太陽電池
KR101641571B1 (ko) 솔라셀 성능 검사 장비
CN110401412A (zh) 探针和太阳能电池单元用测量装置
TW200530608A (en) Backlight module inspecting apparatus
JP5579829B2 (ja) 広面積半導体装置の電気的および光電気的な特性
US20240085493A1 (en) Flexible probe for microled defect detection and manufacturing method therefor
EP2549282A1 (en) Apparatus and method for contacting a solar cell
JP2011071185A (ja) 太陽電池の特性評価装置及び方法
JP2012256734A (ja) 選別方法、太陽電池モジュール製造方法、及び評価装置
US20080286633A1 (en) Circuit testing device for solid oxide fuel cell
TW201217805A (en) Testing apparatus for photovoltaic cells
JP2005303085A (ja) 太陽電池セルの特性測定方法および太陽電池セルの特性測定装置
CN210270100U (zh) 一种光伏组件用Flash和EL测试辅助工装
CN117383504A (zh) 基于精密电铸三维互联金属微电极阵列及一体化成型方法
JP2008196914A (ja) プローブおよびプローブ組立体
CN115940812A (zh) 一种反向背压探针式电流-电压测试装置及方法
TWM346007U (en) Probe card for solar energy detection machine
TW200804829A (en) Apparatus and methods for processing, testing, and packaging of semiconductor ics and image sensors