KR101641571B1

KR101641571B1 - 솔라셀 성능 검사 장비

Info

Publication number: KR101641571B1
Application number: KR1020140014772A
Authority: KR
Inventors: 김종환; 최덕주
Original assignee: 최덕주
Priority date: 2013-10-21
Filing date: 2014-02-10
Publication date: 2016-07-21
Also published as: KR20150045871A

Abstract

본 발명은 솔라셀 성능 검사 장비에 관한 것으로, 본 발명에 따르면 솔라셀에 형성된 전극 라인을 따라 복수개의 판형접속핀이 접촉되도록 한 후 전류 및 전압을 측정할 수가 있어서 정밀한 성능 검사가 가능하며, 진공압을 통해 솔라셀이 판형접속핀에 접촉될 수 있도록 함으로써 그림자를 발생시킬 수 있는 별도의 지그가 필요 없고, 솔라셀 전극에 접촉하기 위한 넓은 크기의 금속단자도 필요 없어서 기존의 금속단자에 의해 솔라셀에 빛이 조사되지 못하는 현상도 막아줄 수가 있다.

Description

솔라셀 성능 검사 장비{Test device for solar cell performance}

본 발명은 솔라셀 성능 검사 장비에 관한 것으로, 더욱 구체적으로는 솔라셀에 형성된 전극 라인을 따라 복수개의 판형접속핀이 접촉되도록 한 후 전류 및 전압을 측정함으로써 정밀한 성능 검사가 가능토록 하는 기술에 대한 것이다.

솔라셀(solar cell)은 태양광을 이용하여 전기를 만들어내는 부품으로서 전면에는 태양광이 입사하는 부분이고, 후면에는 전극이 형성되어 있다.

이러한 솔라셀의 성능을 검사하기 위해 종래에는 솔라셀을 지그에 지지시킨 후, 넓은 크기의 금속단자를 솔라셀의 전극에 접촉시킨 후 인공적인 광을 조사한 상태에서 출력되는 전류와 전압을 측정하였다.

그러나 종래의 솔라셀 검사 장비에서는 검사를 진행하는 동안 솔라셀을 지그에 장착시켜야 했기 때문에 지그에 의한 그림자 현상이 발생할 우려가 있다. 또한 솔라셀 전극에 접촉시키기 위해 넓은 크기의 금속단자가 필요 했기 때문에, 금속단자 영역에 의해 빛이 조사되지 못하는 현상도 발생하였다.

한편 솔라셀 검사 장비와 관련된 종래 기술로는 대한민국 공개특허 제10-2013-0030530호 등이 있다.

본 발명은 상술한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 진공압을 이용하여 솔라셀을 고정시킨 상태에서 측정이 이루어지도록 함으로써 지그에 의한 그림자 현상을 방지할 수 있고, 솔라셀 전극의 길이 방향을 따라 복수의 판형접속핀이 접촉되도록 한 후 전류와 전압을 측정할 수 있어서, 내부 저항의 영향을 극히 덜 받을 수 있고, 전극의 특정 부분에서의 단락까지도 탐지할 수 있으며, 솔라셀 전극에 접촉시키기 위한 넓은 크기의 금속단자가 필요 없어서, 기존 금속단자 영역에 빛이 조사되지 못하는 문제를 해결할 수 있는 솔라셀 성능 검사 장비를 제공하는 데 그 목적이 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 솔라셀 성능 검사 장비는, 진공흡입홀이 형성된 진공척; 상기 진공척 상부에 밀착되며 상기 진공흡입홀과 연통되는 접점홀이 형성되어 있고, 상기 접점홀 둘레에 접점단자가 마련되어 있으며, 상기 접점단자와 연결되는 회로패턴이 형성된 PCB; 상기 PCB 상부에 밀착되며 상기 접점홀에 대응하여 핀홀이 형성되어 있는 핀홀더; 및 상단 일부가 상기 핀홀더 상부면 위로 돌출되도록 상기 핀홀더의 핀홀에 내장되는 판형접속핀;을 포함하고, 상기 핀홀더 상부에 측정 대상이 되는 솔라셀이 올려지면, 상기 진공척의 진공흡입홀을 통해 공기가 빠져나감으로써 진공압이 발생하고, 상기 PCB의 접점홀 및 상기 핀홀더의 핀홀을 통해 전달된 진공압에 의해 상기 솔라셀 저면이 상기 핀홀더 상부에 밀착하면, 상기 솔라셀 저면의 전극이 상기 판형접속핀 상단에 접촉됨으로써, 상기 판형접속핀의 하단과 접촉하는 상기 PCB의 접점단자를 통해 전류 및 전압이 측정될 수 있다.

여기서, 상기 PCB의 접점홀 및 상기 핀홀더의 핀홀은 측정 대상이 되는 상기 솔라셀 저면의 전극 라인을 따라 복수개가 형성되는 것이 바람직하다.

또한, 측정 대상이 되는 솔라셀을 지지하며, 상기 지지된 솔라셀을 상기 핀홀더 상부로 이동시키는 이송지그; 및 상기 이송지그에 지지된 솔라셀을 촬영하는 촬영부;를 더 포함하고, 상기 솔라셀에는 정렬포인트가 표시되어 있어서, 상기 촬영부에서 촬영된 영상을 확인하여 상기 정렬포인트를 정위치 시킴으로써 상기 측정 대상이 되는 솔라셀을 정렬할 수 있다.

본 발명에 따른 솔라셀 성능 검사 장비에 의하면, 진공압을 이용하여 솔라셀을 밀착 고정시킨 상태에서 측정이 이루어지도록 하기 때문에, 측정 과정 중 솔라셀을 지지하고 있는 지그가 필요 없어서 지그에 의한 그림자 현상을 방지할 수 있고, 솔라셀 전극의 길이 방향을 따라 복수의 판형접속핀이 접촉되도록 한 후 전류와 전압을 측정할 수 있어서 내부 저항의 영향을 극히 덜 받을 수 있으며, 또한 판형접속핀이 전극 라인마다 접촉되어 있어서 특정 지점에서의 단락까지도 탐지할 수 있는 것은 물론, 솔라셀 전극에 접촉시키기 위한 넓은 크기의 금속단자가 필요 없어서, 기존 금속단자 영역에 빛이 조사되지 못하는 문제점도 해결할 수가 있다.

도1은 본 발명의 실시예에 따른 솔라셀 성능 검사 장비를 설명하기 위한 개략적인 측면도.
도2는 도1에 도시된 솔라셀 성능 검사 장비에서 정렬및이송부를 설명하기 위한 도면.
도3은 솔라셀을 설명하기 위한 도면.
도4는 도1에 도시된 솔라셀 성능 검사 장비에서 촬영부를 통해 촬영된 솔라셀의 정렬포인트가 모니터에 출력된 예시를 설명하기 위한 사진.
도5는 도1에 도시된 솔라셀 성능 검사 장비에서 측정부의 구성을 설명하기 위한 분해사시도.
도6은 도5에 도시된 측정부에서 핀홀더를 설명하기 위한 도면.
도7은 판형접속핀을 설명하기 위한 사시도.
도8은 도5에 도시된 측정부에서 진공척을 설명하기 위한 사진.
도9는 도5에 도시된 측정부가 결합된 상태를 설명하기 위한 개략적인 측단면도.
도10은 측정부에 솔라셀이 밀착한 상태에서의 판형접속핀의 상태를 설명하기 위한 도면.

이하에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다. 다만 발명의 요지와 무관한 일부 구성은 생략 또는 압축할 것이나, 생략된 구성이라고 하여 반드시 본 발명에서 필요가 없는 구성은 아니며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 결합되어 사용될 수 있다.

도1은 본 발명의 실시예에 따른 솔라셀 성능 검사 장비를 설명하기 위한 개략적인 측면도이다. 도1에 도시된 바와 같이 본 발명의 실시예에 따른 솔라셀 성능 검사 장비는 크게 정렬및이송부(20), 측정부(30) 및 조명장치(40)를 포함하며, 정렬및이송부(20)와 측정부(30)는 본체(10)에 설치되어 있다.

도2를 참조하면, 정렬및이송부(20)는 이송지그(21)와 촬영부(22)를 포함한다. 이송지그(21)는 측정 대상이 될 솔라셀(50)을 수평한 상태로 지지한 후 레일(미도시)을 따라 측정부(30) 위에 위치시킨 후, 솔라셀(50)을 하강시켜 측정부(30)의 핀홀더(31) 위에 올려놓기 위한 구성이다.

촬영부(22)는 솔라셀(50)의 특정 위치를 촬영하는 장치이며, 본 실시예에서는 촬영부(22)가 비젼카메라로 구현되었다. 촬영부(22)는 이송지그(21)에 장착된 솔라셀(50)을 정확한 위치에 정렬시키기 위해 필요한 구성이다.

도3은 솔라셀(50)의 저면을 도시한 것이다. 솔라셀(50)의 저면에는 웨이퍼본체(51) 상에 메탈 전극(52)이 특정 형태로 인쇄되어 있다. 본 실시예에서 웨이퍼본체(51)의 가로, 세로 폭이 대략 156mm이고, 전극(52)의 폭은 대략 200um이며, 전극간 간격은 대략 200um ~ 300um인 솔라셀(50)을 측정 대상으로 삼았다.

이하에서 자세하게 설명하겠지만, 본 실시예에서는 솔라셀(50) 저면의 전극(52) 라인을 따라 복수의 판형접속핀(31c)이 접촉되도록 한 후 전류와 전압 측정이 이루어지도록 한 것이다. 하지만 도3을 통해 설명한 바와 같이 솔라셀(50)의 전극(52)은 매우 얇은 폭과 매우 좁은 간격을 가진 상태로 인쇄되어 있기 때문에, 솔라셀(50)을 정확한 위치에 정렬시키지 않으면, 판형접속핀(31c)이 전극(52)에 접촉되지 못하는 경우가 발생할 수 있다.

따라서 촬영부(22)를 통해 솔라셀(50)의 특정 위치, 더욱 구체적으로는 솔라셀(50) 모서리마다 표시되어 있는 정렬포인트(53)를 확대 촬영한 후 모니터를 통해 출력하면, 작업자가 모니터 상에서 정렬포인트(53)를 확인한 후 미리 지정된 위치에 정확히 위치시켜 놓음으로써, 측정 대상이 되는 솔라셀(50)을 이송지그(21) 상에서 정위치 시킬 수 있다. 솔라셀(50)의 정렬포인트(53)가 촬영부(22)에서 촬영되어 모니터에 출력된 예시가 도4에 도시되어 있다.

여기서 촬영부(22)는 적어도 2개 이상의 비젼카메라로 구성되어 복수의 솔라셀(50) 모서리를 촬영한 후 모니터에 출력되도록 함으로써, 2개 지점 이상의 정렬포인트(53)를 모두 맞춰 주는 것이 바람직하다.

물론 솔라셀(50)을 측정부(30)의 핀홀더(31) 상에 먼저 위치시킨 후 정렬 작업을 실시하는 것도 고려될만 하지만, 이 경우 핀홀더(31) 상에 돌출되어 있는 판형접속핀(31c)에 의해 솔라셀(50)의 전극(52)이 긁혀 손상될 우려가 있다. 따라서 본 실시예에서와 같이 솔라셀(50)을 측정부(30)의 핀홀더(31) 위에 올려 놓기 전, 정교한 이송 동작을 수행하는 이송지그(21)에 솔라셀(50)을 탑재한 후, 정렬 작업을 먼저 마치는 것이 바람직하다.

정위치에 정렬된 솔라셀(50)이 이송지그(21)에 장착된 상태에서 측정부(30) 위로 이동되면, 측정부(30)의 최상단에 위치한 핀홀더(31) 상부면에 솔라셀(50)이 올려진다.

도5는 솔라셀(50)과 측정부(30)를 이루고 있는 구성들을 설명하기 위한 분해사시도이다. 도5에 도시된 바와 같이 측정부(30)는 핀홀더(31), 고무링(32), PCB(33), 진공척(34) 및 판형접속핀(31c)을 포함한다.

가장 위에 위치하는 핀홀더(31)는 절연 재질로 제작되며, 핀홀더(31)를 위에서 바라본 도6을 통해 확인할 수 있듯이 핀홀더(31)에는 상하를 관통하도록 복수의 흡입공(31a)과 핀홀(31b)이 형성되어 있다.

여기서 흡입공(31a)은 측정부(30)의 가장 아래에 위치한 진공척(34)에 진공장치가 연결되어 공기가 빠져나갈 시, 흡입공(31a)을 통해서도 진공압이 발생토록 하기 위한 것으로, 직경은 핀홀(31b)에 비하여 상대적으로 커서 대략 1.6mm로 설계된다.

물론 진공압은 상부 직경이 대략 350um로 형성되는 핀홀(31b)의 내부 공간에서도 형성되는데, 핀홀(31b)의 더 중요한 역할은 판형접속핀(31c)을 내장하기 위한 것이다. 즉 핀홀(31b)은 핀홀더(31) 상에 밀착하는 솔라셀(50)의 전극(52)의 길이 방향에 대응하여 촘촘한 간격으로 형성되는데, 본 실시예에서 핀홀(31b)은 대략 11,000개 내지 12,000개가 형성되어 있다. 이러한 핀홀(31b) 각각에 도7에 도시된 형태의 판형접속핀(31c)이 내장된다.

판형접속핀(31c)은 상단(31d)의 폭이 대략 300um이고, 상단(31d) 바로 아래 부분과 하단의 폭은 대략 700um이며, 중심부의 폭은 대략 200um이다. 또한 전체 길이는 대략 9mm이고, 두께는 대략 25um로 제작되어 얇은 두께를 갖는 판 구조로 형성된다. 여기서 판형접속핀(31c)의 상하방향 높이는 핀홀(31b)의 상하방향의 높이보다 더 크게 형성되어 있다. 따라서 판형접속핀(31c)을 핀홀(31b)에 내장시키면 판형접속핀(31c)의 상단 일부는 핀홀(31b)의 위로 즉 핀홀더(31)의 상부면의 위로 돌출된다. 이러한 판형접속핀(31c)의 구조는 핀홀더(31) 내에서 위로 빠져나오지 않도록 하기 위한 조건, 솔라셀(50)이 핀홀더(31)에 밀착하였을 시 휘어져 탄성력을 발휘하되 솔라셀(50)의 전극(52)을 파손하지 않도록 하는 조건, 판형접속핀(31c)이 휘어지더라도 핀홀(31b)의 내부 공간을 막지 않을 조건, 높은 전류가 안정적으로 흐를 수 있는 조건, 그리고 과도한 온도 상승을 막아주기 위한 조건을 모두 충족시키기 위해 최적으로 설계된 것이다.

핀홀더(31) 아래에는 핀홀(31b)의 위치에 대응하도록 접점홀(33b)이 형성되어 있는 PCB(33)가 위치한다. 접점홀(33b)의 상부 둘레에는 판형접속핀(31c)의 하부와 접촉하는 접점단자(33a)가 마련되어 있으며, 접점단자(33a)와 연결되는 회로패턴이 PCB(33) 저면에 형성되어 있다. 따라서 접점홀(33b) 상부의 접점단자(33a)에 판형접속핀(31c)이 밀착되면 솔라셀(50)의 전극(52)에서 발생하는 전류와 전압을 측정할 수가 있다. 또한 PCB(33)의 접점홀(33b)은 위아래로 관통되어 있기 때문에, 진공척(34)에서 발생하는 진공압이 접점홀(33b) 내에서도 발생하게 되며, 그 진공압은 핀홀(31b)을 통해 솔라셀(50) 저면까지 영향을 끼칠 수 있다. 또한 PCB(33)에도 접점단자(33a)가 마련된 접점홀(33b) 외에 진공압 전달을 위한 별도의 흡입공(미도시)이 추가 형성될 수 있다.

PCB(33) 아래에는 진공척(34)이 위치한다. 진공척(34)의 중심에는 진공로(34c)가 형성되어 있고, 상부면에서 진공로(34c)까지 연통되도록 진공흡입홀(34b)도 형성되어 있다. 진공로(34c)는 진공척(34)의 측면까지 연장되어 있으며, 측면으로 노출된 진공로(34c)에 진공장치(미도시)가 연결되어 공기가 빠져나갈 수 있다.

한편 진공척(34)과 PCB(33) 사이의 틈, 또는 PCB(33)와 핀홀더(31) 사이의 틈을 통해 외부 공기가 유입되는 것을 방지하기 위해 진공척(34)과 PCB(33)가 접하는 면의 둘레, 그리고 PCB(33)와 핀홀더(31)가 접하는 면의 둘레에는 고무링(32)이 장착된다. 도5를 참조하면 진공척(34)의 상부 둘레에는 고무링 안착홈(34a)이 소정 깊이로 패여 있고, 고무링 안착홈(34a)에 고무링(32)이 설치될 수 있도록 하였다. 물론 핀홀더(31) 저면 둘레에도 고무링(32)이 안착되는 홈이 패여 있을 수 있다. 제작이 완료된 진공척(34)의 예시가 도8에 도시되어 있다.

도9는 핀홀더(31), PCB(33) 및 진공척(34)이 밀착된 후 볼트로 결합된 상태에서 측정 대상이 되는 솔라셀(50)이 올려진 상태를 개념적으로 설명하기 위한 도면이다.

즉 도9에 도시된 바와 같이 측정부(30)의 가장 상부에 위치하는 핀홀더(31)에는 솔라셀(50)의 전극(52) 라인을 따라 촘촘하게 핀홀(31b)들이 형성되어 있으며, 핀홀(31b) 내부 공간에 판형접속핀(31c)이 내장되어 있다. 이때 핀홀(31b)의 상부는 판형접속핀(31c)의 얇은 상단(31d)의 폭에 대응하도록 내경이 상대적으로 작고, 판형접속핀(31c)의 상단(31d) 아래에서부터 하부에 대응하는 공간은 내경이 상대적으로 크다. 따라서 판형접속핀(31c)이 핀홀(31b)의 아래에서 진입하면, 판형접속핀(31c)의 좁은 폭의 상단(31d)은 핀홀(31b)의 상부로 돌출 되지만, 단턱진 구조로 인해 더 이상은 위로 돌출하지 못하게 된다. 더군다나 핀홀더(31)의 아래에는 PCB(33)가 밀착하고 있기 때문에 판형접속핀(31c)은 핀홀(31b) 내에서 상하부 어느쪽으로도 빠져나오지 못하게 된다.

또한 판형접속핀(31c)의 하부는 PCB(33)의 접점홀(33b) 상부 둘레에 형성된 접점단자(33a)와 접촉한 상태를 유지한다.

더불어 핀홀더(31)의 핀홀(31b), PCB(33)의 접점홀(33b) 및 진공척(34)의 진공흡입홀(34b)이 서로 연통되어 있기 때문에, 진공척(34)의 진공로(34c)에 연결된 진공장치가 가동되면, 진공로(34c)-진공흡입홀(34b)-접점홀(33b) 및 핀홀(31b)까지 진공압이 형성된다. 따라서 핀홀더(31) 위에 올려진 솔라셀(50) 저면에 진공압이 발생함으로써 솔라셀(50)이 핀홀더(31) 상부면에 완전히 밀착될 수 있다. 이에 따라 솔라셀(50) 저면의 전극(52)과 수많은 판형접속핀(31c)의 상단(31d)이 전기적 접점을 이루게 되고, PCB(33)에서 전류 및 전압을 측정할 수 있다.

이때 솔라셀(50)은 대략 11,000개의 판형접속핀(31c) 상단(31d)을 누르면서 밀착하여야 하기 때문에, 진공압 역시 매우 커야하며, 본 실시예에서는 대략 22kg의 힘이 가해질 수 있는 진공장치(미도시)가 연결되어 있다.

한편 진공압이 발생하여 솔라셀(50) 저면이 핀홀더(31) 상부에 돌출된 판형접속핀(31c)을 누르면서 밀착하면, 판형접속핀(31c)은 핀홀(31b) 내부에서 휘어지게 된다. 즉 진공압이 발생하기 이전에는 도10의 (a)에서와 같이 솔라셀(50)이 판형접속핀(31c) 위에 올려짐으로써 핀홀더(31) 상부면에서 떠 있는 상태가 되지만, 진공압이 발생하여 솔라셀(50)이 핀홀더(31) 상부면에 밀착하면 도10의 (b)에서와 같이 매우 얇은 판형접속핀(31c)이 휘어진다. 따라서 휘어진 판형접속핀(31c)의 복원력에 의해 판형접속핀(31c)의 상단(31d)은 솔라셀(50) 후면의 전극(52)에 완전히 밀착하여 전기적 접점을 이루고, 하단은 PCB(33)의 접점단자(33a)에 밀착하여 전기적 접점을 이루게 된다.

이때 판형접속핀(31c)은 두께가 대략 25um로 매우 얇기 때문에, 판형접속핀(31c)은 핀홀(31b)의 통로 단면적에서 대략 10%정도만을 차지한다. 따라서 진공압이 발생될 때, 핀홀(31b) 내부에서도 원활하게 공기가 흡입될 수 있는 것이며, 이에 따라 솔라셀(50)이 무리 없이 진공압의 영향을 받아 핀홀더(31) 상부에 밀착할 수 있게 된다.

한편 솔라셀(50)의 전극(52)은 대략 300줄로 이루어지고, 한줄마다 판형접속핀(31c) 40개가 접촉된다. 따라서 전체 11,000개 내지 12,000개의 전기적 접촉이 이루어지게 되는데, 이중 일부는 전류량을 측정하는 데 사용되고, 나머지 일부는 전압을 측정하는 데 사용된다.

또한 솔라셀(50) 성능을 검사할 시 높은 열이 발생할 수 있는데, 이를 위해 측정부(30)에는 온도를 낮추기 위한 냉각수단(미도시)이 추가로 구비될 수 있다.

또, 본 실시예에서는 웨이퍼본체(51)의 가로, 세로변의 길이가 대략 156mm인 솔라셀(50)을 측정할 수 있도록 측정부(30)가 설계된 것을 도시하고 설명하였지만, 다른 형태의 솔라셀(50)을 측정할 시에는 핀홀더(31), PCB(33) 및 진공척(34)으로 이루어지는 측정부(30)의 형태가 함께 달라질 수 있다. 물론 동일한 형태의 솔라셀(50)을 측정할 시에는 한번 제작된 측정부(30)를 반복하여 이용하면 된다.

이상에서 상세히 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 솔라셀 성능 검사 장비에 의하면, 진공압을 이용하여 솔라셀(50)을 고정시킨 상태에서 측정이 이루어지도록 하기 때문에, 종래 검사 장비에서 솔라셀(50)을 지지하기 위해 사용되었던 지그에 의한 그림자 현상을 방지할 수 있고, 솔라셀(50) 전극(52)의 길이 방향을 따라 복수의 판형접속핀(31c)이 접촉되도록 한 후 전류와 전압을 측정할 수 있어서, 내부 저항의 영향을 극히 덜 받을 수 있으며, 또한 수많은 판형접속핀(31c)이 전극(52) 라인마다 접촉하고 있기 때문에 특정 지점에서의 단락까지도 탐지할 수 있고, 솔라셀(50) 전극(52)에 접촉시키기 위한 넓은 크기의 금속단자가 필요 없어서, 기존 금속단자 영역에 빛이 조사되지 못하는 문제점도 해결할 수가 있다.

상기한 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대해 통상의 지식을 가진 당업자라면, 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경 및 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 본 발명의 특허청구 범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.

10 : 본체
20 : 정렬및이송부
21 : 이송지그
22 : 촬영부
30 : 측정부
31 : 핀홀더
31a : 흡입공
31b : 핀홀
31c : 판형접속핀
31d : 상단
32 : 고무링
33 : PCB
33a : 접점단자
33b : 접점홀
34 : 진공척
34a : 고무링 안착홈
34b : 진공흡입홀
34c : 진공로
40 : 조명장치
50 : 솔라셀
51 : 웨이퍼본체
52 : 전극
53 : 정렬포인트

Claims

진공흡입홀이 형성된 진공척;
상기 진공척 상부에 밀착되며 상기 진공흡입홀과 연통되는 접점홀이 형성되어 있고, 상기 접점홀 둘레에 접점단자가 마련되어 있으며, 상기 접점단자와 연결되는 회로패턴이 형성된 PCB;
상기 PCB 상부에 밀착되며 상기 접점홀에 대응하여 핀홀이 형성되어 있는 핀홀더; 및
탄성변형이 가능한 판구조로 형성되고 상기 핀홀더의 상기 핀홀에 내장되며, 상하방향의 높이가 상기 핀홀의 상하방향의 높이보다 더 크게 형성됨으로써 상기 핀홀에 내장시 상기 핀홀더의 상부면의 위로 상단 일부가 돌출되도록 배치되는 판형접속핀을 포함하고,
상기 핀홀더 상부에 측정 대상이 되는 솔라셀이 올려지면, 상기 진공척의 진공흡입홀을 통해 공기가 빠져나감으로써 진공압이 발생하고, 상기 PCB의 접점홀 및 상기 핀홀더의 핀홀을 통해 전달된 진공압에 의해 상기 솔라셀의 저면이 상기 핀홀더 상부에 밀착하면, 상기 솔라셀의 상기 저면이 상기 판형접속핀의 상단을 가압하여 상기 판형접속핀이 휘어지면서 발생하는 복원력에 의해 상기 판형접속핀의 상기 상단은 상기 솔라셀의 상기 저면에 밀착하고 상기 판형접속핀의 하단은 상기 PCB의 상기 접점홀의 둘레의 상기 접점단자에 밀착됨으로써 상기 솔라셀을 흐르는 전류 및 전압이 측정될 수 있는 것을 특징으로 하는 솔라셀 성능 검사장비.
제1항에 있어서,
상기 PCB의 접점홀 및 상기 핀홀더의 핀홀은 측정 대상이 되는 상기 솔라셀 저면의 전극 라인을 따라 복수개가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 솔라셀 성능 검사 장비.
제1항에 있어서,
측정 대상이 되는 솔라셀을 지지하며, 상기 지지된 솔라셀을 상기 핀홀더 상부로 이동시키는 이송지그; 및
상기 이송지그에 지지된 솔라셀을 촬영하는 촬영부;를 더 포함하고,
상기 솔라셀에는 정렬포인트가 표시되어 있어서, 상기 촬영부에서 촬영된 영상을 확인하여 상기 정렬포인트를 정위치 시킴으로써 상기 측정 대상이 되는 솔라셀을 정렬할 수 있는 것을 특징으로 하는 솔라셀 성능 검사 장비.