TWI613468B - 薄偏光器的製備方法及使用該方法製造的薄偏光器 - Google Patents

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Abstract

本發明是關於一種用於製造薄偏光器的方法及使用該方 法製造的薄偏光器，所述方法包含：製備具有20微米或小於20微米的厚度的未拉伸聚乙烯醇類薄膜的步驟，其中將薄膜拉伸6倍所施加的強度為4N或大於4N；以及藉由單獨拉伸未拉伸聚乙烯醇類薄膜而形成具有10微米或小於10微米的厚度的經拉伸聚乙烯醇類薄膜的單一拉伸步驟。

Description

薄偏光器的製備方法及使用該方法製造的薄偏 光器
本申請案主張2014年9月30日在韓國智慧財產局申請的韓國專利申請案第10-2014-0132072號的優先權及權益，所述申請案的全部內容以引用的方式併入本文中。
本發明是關於一種用於製造薄偏光器的方法、為此使用的聚乙烯醇類薄膜及使用該方法製造的薄偏光器。
用於偏光板中的偏光器為用於將自然光或任意經偏光的光以特定方向偏光的光學裝置，且廣泛用於諸如液晶顯示裝置或有機發光二極體(organic light emitting diode；OLED)裝置的顯示裝置中。目前，含有碘類化合物或二色性染料、其中以預定方向定向分子鏈的聚乙烯醇類偏光薄膜通常用作用於顯示裝置中之偏光器。
藉由使用碘或二色性染料染色聚乙烯醇類薄膜，以預定方向拉伸聚乙烯醇類薄膜且執行交聯製程的方法製造聚乙烯醇類偏光薄膜，且在此狀況下，可藉由使用溶液(諸如，水性硼酸溶液 或水性碘溶液)的濕式拉伸製程，或在大氣環境下執行的乾式拉伸製程及其類似者來執行拉伸製程，且拉伸放大率通常為3倍或大於3倍。
然而，在相關技術中之製造製程中，為了執行拉伸而不造成任何斷裂，聚乙烯醇類薄膜在拉伸之前必需具有大於60微米的厚度。此是因為當聚乙烯醇類薄膜在被拉伸之前具有60微米或小於60微米的厚度時，聚乙烯醇類薄膜的膨脹程度增加且歸因於薄的厚度，破裂強度降低，且因此在拉伸製程中可容易產生破裂。
同時，根據近來顯示裝置的輕薄的趨勢，偏光板亦被要求具有更薄的厚度。然而，當在拉伸之前具有60微米的厚度的聚乙烯醇類薄膜在相關技術中被使用時，在減小偏光器的厚度時存在限制。因此，已經嘗試了用於製造具有更薄厚度的偏光器的研究。
韓國專利申請案特許公開第2010-0071998號揭露了使用藉由塗佈親水性聚合物層到基底材料層上或共擠出基底材料層成型材料及親水性聚合物層成型材料而製造的層壓製品來製造薄偏光板的方法。然而，在塗佈或共擠出方法的情況下，聚乙烯醇層及基底材料層在拉伸之後不易分離，且需要高剝離強度來分離聚乙烯醇層及基底材料層，以使得在分離製程中，發生聚乙烯醇層被損壞或變形及其類似者的問題，且其結果是，存在光學性質(諸如，聚乙烯醇薄膜的偏光度)降低的問題。
此外，當使用塗佈方法或共擠出方法時，藉由熔化聚乙烯醇樹脂，且隨後擠出樹脂，或將樹脂製備成塗佈溶液，且隨後執行塗佈溶液的塗覆的系統來製造偏光板，以使得所製造之聚乙烯醇 薄膜的物理性質容易根據擠出條件、塗佈條件或成膜條件而改變，且因此最終製備的聚乙烯醇的物理性質降低，且亦難以實施一致的物理性質。
[引用清單] [專利文獻]
韓國專利申請案特許公開第2010-0071998號
本發明將解決上文提及的問題且意欲提供一種用於製造具有薄厚度同時具有極佳的光學特性及極佳產率的偏光器的方法。
在一態樣中，本發明提供一種用於製造薄偏光器的方法，所述方法包含：製備具有20微米或小於20微米的厚度的未拉伸聚乙烯醇類薄膜的步驟，其中將薄膜拉伸6倍所施加的強度為4N或大於4N；以及藉由單獨拉伸未拉伸聚乙烯醇類薄膜而形成具有10微米或小於10微米的厚度的經拉伸聚乙烯醇類薄膜的單一拉伸步驟。
在另一態樣中，本發明提供一種藉由所述用於製造薄偏光器的方法製造的且具有10微米或小於10微米厚度、40%至45%的單體透射率(single transmittance)及99%或大於99%的偏光度的薄偏光器。
根據本發明的製造方法，製造具有40%至45%的單體透射率及99.0%或大於99.0%的偏光度的薄聚乙烯醇類薄偏光器是可能的，所述薄聚乙烯醇類薄偏光器具有極佳的光學性質及極薄的10微米或小於10微米的厚度。
此外，在本發明的情況下，藉由單獨拉伸未拉伸的聚乙烯醇薄膜來製造薄偏光器，以使得當與使用基底薄膜的情形相比時，不必在拉伸之後執行分離基底材料薄膜及聚乙烯醇薄膜的製程，藉此導致極佳產率，且排除聚乙烯醇類薄膜在分離製程中損壞且因此光學性質降低的可能性是可能的，藉此導致製程穩定性的顯著改良。
[最佳模式]
由於重複進行製造薄聚乙烯醇類偏光薄膜的長期研究，本發明人已發現當使用藉由附接具有薄厚度的未拉伸聚乙烯醇類薄膜到未拉伸聚合物薄膜的一個表面或兩個表面上而形成的層壓薄膜時，製造極薄的具有10微米或小於10微米厚度及在製造製程期間不造成任何破裂的極佳光學性質(諸如，偏光度)的偏光器是可能的，藉此申請10-2012-0130576發明(發明名稱：用於製造 薄偏光器的方法，以及藉此所製造的偏光板(METHOD FOR MANUFACTURING THIN POLARIZER,AND THIN POLARIZER AND POLARIZING PLATE MANUFACTURED THEREBY))及10-2012-0130577發明(發明名稱：用於製造薄偏光器的方法，以及藉此所製造的薄偏光器及偏光板(METHOD FOR MANUFACTURING THIN POLARIZER,AND THIN POLARIZER AND POLARIZING PLATE MANUFACTURED THEREBY))的申請案。
然而，發明申請案使用藉由附接具有薄厚度的未拉伸聚乙烯醇類薄膜於未拉伸聚合物薄膜的一個表面或兩個表面上所形成的層壓薄膜，且因此需要單獨開發具有極佳物理性質的未拉伸聚合物薄膜，以使得機械及/或熱特性並不直接影響聚乙烯醇類薄膜。此外，為了防止聚乙烯醇層損壞或變形的問題，需要額外研究，因為需要拉伸層壓薄膜且隨後容易分離聚合物薄膜及聚乙烯醇薄膜的層壓薄膜成型技術。
因此，由於重複進行研發用於藉由在不使用前述聚合物薄膜的情況下單獨拉伸聚乙烯醇類薄膜來製造薄偏光器的方法的研究，本發明之發明人已發現當使用符合特定條件的未拉伸聚乙烯醇薄膜時，有可能製造具有極佳光學特性的薄偏光器，即使單獨拉伸未拉伸聚乙烯醇薄膜也不會造成薄膜的任何破裂，藉此完成本發明。
在下文中，將描述本發明的較佳例示性實施例。然而，本發明的例示性實施例可經修改為各種其他形式，且本發明的範疇 不限於下文將描述的例示性實施例。此外，提供本發明的例示性實施例以更充分地向所屬領域中具通常知識者闡釋本發明。
根據本發明的用於製造薄偏光器的方法的特徵在於包含製備具有20微米或小於20微米的厚度的未拉伸聚乙烯醇類薄膜的步驟，其中將薄膜拉伸6倍所施加的強度為4N或大於4N；以及藉由單獨拉伸未拉伸聚乙烯醇類薄膜而形成具有10微米或小於10微米厚度的經拉伸聚乙烯醇類薄膜的單一拉伸步驟。
亦即，根據本發明的用於製造薄偏光器的方法的特徵在於有可能藉由使用具有20微米或小於20微米厚度的未拉伸聚乙烯醇類薄膜而獲得具有即使單獨拉伸具有20微米或小於20微米的厚度的未拉伸聚乙烯醇類薄膜也不會造成任何破裂的極佳光學性質的薄偏光器，其中將薄膜拉伸6倍所施加的強度為4N或大於4N。
首先，在未拉伸聚乙烯醇類薄膜具有20微米或小於20微米厚度的情況下，將薄膜拉伸6倍所施加的強度可為4N或大於4N，且更特定而言為4N至20N或4.5N至15N。此外，在未拉伸聚乙烯醇類薄膜具有20微米或小於20微米厚度的情況下，將薄膜拉伸6倍所施加的強度可為4.5N至10N。具體而言，當將未拉伸聚乙烯醇類薄膜拉伸6倍時，即使施加在範圍內的強度也可能不會引起破裂。當將薄膜拉伸6倍所施加的強度小於4N時，非常有可能可在單獨拉伸未拉伸聚乙烯醇類薄膜的製程中引起破裂，且其結果是產率明顯下降，使得難以經由單一拉伸製程製造薄偏光器。在此情形下，將未拉伸聚乙烯醇類薄膜拉伸6倍所 施加的強度可意指當以6倍的高放大率拉伸薄膜時在垂直於拉伸方向的方向上施加於橫截面的力。具體而言，將薄膜拉伸6倍所施加的強度可具有與接近可引起薄膜破裂的倍數，但在不造成破裂的情況下可以耐受的力(亦即，破裂強度)相同的含義。具體而言，在未拉伸聚乙烯醇類薄膜具有20微米或小於20微米厚度的情況下，在將薄膜拉伸6倍時的破裂強度可為4N或大於4N。
在本發明中，將未拉伸聚乙烯醇類薄膜拉伸6倍所施加的強度可意指藉由在50℃至60℃溫度範圍中在1%至5%範圍的水性硼酸溶液中拉伸薄膜而量測的值。具體而言，將未拉伸聚乙烯醇類薄膜拉伸6倍所施加的強度可意指藉由在56℃的溫度下在1%的水性硼酸溶液中拉伸薄膜的方法而量測的值。
同時，在根據本發明的用於製造薄偏光器的方法中，當如上文所描述以6倍的拉伸放大率拉伸未拉伸聚乙烯醇類薄膜時所施加的強度被用作參考，因為可在藉由當薄膜經6倍(所述拉伸倍數為極可能引起破裂的拉伸比率)拉伸時使用施加於薄膜的強度作為參考而進行比較的情形中獲得更精確資料，而不是在一般破裂強度及類似者被用作參考的情況下獲得。由於本發明的發明人的研究，此是因為已發現即使在聚乙烯醇類薄膜由相同原材料所製成的情況下，引起破裂時的拉伸放大率也可根據工作環境、測試期間的環境條件(諸如，溫度及濕度)或樣本及類似者的儲存狀態而變化。亦即，此是因為在破裂強度及類似者被用作參考時，引起破裂時的拉伸比率可由於前述的可變因素而變化，且當具有不同拉伸比率的強度被用作參考時可造成不正確結果。
同時，未拉伸聚乙烯醇類薄膜可具有小於2MPa、較佳地0.01MPa至1.8MPa且更佳地0.1MPa至1.5MPa的彈性模數。當未拉伸聚乙烯醇類薄膜的彈性模數滿足數值範圍時，可增強未拉伸聚乙烯醇類薄膜的起始拉伸特性以預期碘離子種類的穩定定向，且可在相對長的間隔實現拉伸，藉此改良碘離子種類的定向。此外，因為可能確保未拉伸聚乙烯醇類薄膜的極佳耐久性、熱衝擊特性及機械強度，所以可能明顯地減小薄膜可在下文中描述的拉伸製程及其類似者中損壞的可能性，且因為即使在單獨拉伸薄膜時也可實現足夠高的放大率拉伸，所以存在可甚至在不藉由附接基底材料薄膜及其類似者至層壓製品上而形成層壓製品的情況下經由單一拉伸容易地製造具有10微米或小於10微米厚度的薄偏光器的優勢。在本說明書中，彈性模數為表示未拉伸聚乙烯醇類薄膜的彈性特性的量測值，且意謂在未拉伸聚乙烯醇類薄膜在將物理及/或機械應力施加於薄膜時不破裂或變形的情況下可以耐受的力。此外，在本說明書中，可藉由所屬技術領域中熟知的方法來量測彈性模數，且所述彈性模數可為藉由根據藉由使用(例如)TA儀器公司(TA Instrument Inc.)製造的動態機械分析器(dynamic mechanical analyzer；DMA)所施加的應力量測頻率回應的改變而獲得的值。
隨後，較佳的是，未拉伸聚乙烯醇類薄膜具有20微米或小於20微米的厚度，較佳為5微米至20微米。當未拉伸聚乙烯醇類薄膜的厚度大於20微米時，難以藉由單獨拉伸薄膜而實施10微米或小於10微米的厚度，且當其厚度小於5微米時，在拉伸期 間容易引起破裂。
同時，根據本發明的具有前述特性的未拉伸聚乙烯醇類薄膜可為使用碘及/或二色性染料染色的薄膜。特定而言，在本發明中，未拉伸聚乙烯醇類薄膜可為經受膨脹製程及染色製程的薄膜。
此外，根據本發明的用於製造薄偏光器的方法可進一步包含在單一拉伸步驟之前使用碘及二色性染料中之至少一者染色未拉伸聚乙烯醇類薄膜的步驟(染色製程)。
在此情形下，未拉伸聚乙烯醇類薄膜可具有2,500至3,500的聚合度。較佳地，未拉伸聚乙烯醇類薄膜可具有2,800至3,200的聚合度。在根據本發明的未拉伸聚乙烯醇類薄膜中，使用了具有高聚合度的薄膜，且當聚合度滿足所述範圍時，分子自由地移動，薄膜可靈活地與碘或二色性染料及其類似者混合，且可容易地執行單一拉伸。
隨後，膨脹製程用以促使聚乙烯醇類薄膜上的碘及/或二色性染料的吸收及擴散，且改良聚乙烯醇類薄膜的拉伸性，且可(例如)藉由將未拉伸聚乙烯醇類薄膜浸沒在25℃至30℃的純水中達5秒至30秒(更佳地10秒至20秒)的方法來執行，但所述方法不限於此。此外，膨脹經較佳地執行以使得未拉伸聚乙烯類薄膜的膨脹程度為36%至44%，較佳地為38%至42%。當未拉伸聚乙烯醇類薄膜的膨脹程度滿足所述數值範圍時，最終製造的薄偏光器的光學特性(諸如，偏光度)為極佳的。同時，基於{(膨脹之後聚乙烯醇類薄膜的重量-膨脹之前聚乙烯醇類薄膜的重量)/膨脹 之前聚乙烯醇類薄膜的重量}×100來計算膨脹程度。
隨後，染色製程用以使用碘及/或二色性染料來染色聚乙烯醇類薄膜，且可(例如)藉由將未拉伸聚乙烯醇類薄膜浸透於包含含有碘及/或二色性染料的染色溶液的染色浴槽中，或將含有碘及/或二色性染料的染色溶液塗覆於聚乙烯醇類薄膜上的方法來執行，且在此情形下，通常使用水作為染色溶液的溶劑，但與水具有相容性的有機溶劑可與水混合。
在此，碘分子及/或染料分子可允許藉由吸收在偏光板的拉伸方向上振盪的光，且允許在其垂直方向上振盪的光通過來獲得具有預定振盪方向的偏振光。
另外，在染色製程中，基於100重量份的溶劑，染色溶液中的碘及/或二色性染料的含量可大約為0.06重量份至0.25重量份。此是因為當二色性材料(諸如，碘)的含量滿足數值範圍時，可獲得具有極佳透射率的偏光器。
同時，當碘被用作二色性材料時，較佳的是，另外含有助劑(諸如，碘化物)以便藉由增大具有低的水可溶性的碘的可溶性來改良染色效率。在此情形下，針對助劑的含量，基於100重量份的溶劑，可以0.3重量份至3重量份的比率使用助劑。此外，碘與碘化物的重量比較佳地為1：5至1：10。在此情形下，助劑的具體實例包含碘化合物，諸如碘化鉀、碘化鋰、碘化鈉、碘化鋅、碘化鋁、碘化鉛、碘化銅、碘化鋇、碘化鈣、碘化錫以及碘化鈦或其混合物，但不限於此。
同時，較佳地，處理浴槽的溫度經維持在25℃至40℃。 此是因為當處理浴槽的溫度小於25℃時，染色效率可由於低溫而降低，且當溫度大於40℃時，大量碘由於高溫而昇華，且因此所使用的碘的量可增加。在此情形下，較佳的是，未拉伸聚乙烯醇類薄膜被浸沒於處理浴槽中達30秒至120秒。此是因為當浸沒時間少於30秒時，未拉伸聚乙烯醇類薄膜可未經充分染色或可未經均勻染色，且當時間大於120秒時，染色達飽和，且因此不必再浸沒薄膜或引起不必要的膨脹。
在本發明的製造中，如上文所描述單獨拉伸未拉伸聚乙烯醇類薄膜的步驟可藉由濕式拉伸方法或乾式拉伸方法來執行，且並不特定地受限於此。然而，當執行濕式拉伸時，鑒於拉伸可在比乾式拉伸更低的溫度下執行的優勢，濕式拉伸為更佳的。在此情形下，較佳的是水性硼酸溶液的硼酸濃度為1.0wt%至5.0wt%。
當如上文所描述在水性硼酸溶液中執行拉伸時，由於硼酸的交聯，聚乙烯醇類薄膜的破裂發生率減小，且因此改良了製程穩定性，且有可能控制在濕式製程期間容易產生的聚乙烯醇類薄膜的皺折的產生。
在此情形下，較佳的是，在水性硼酸溶液中執行濕式拉伸，因為由於硼酸的交聯，聚乙烯醇類薄膜的破裂發生率可減小，製程穩定性亦得以改良，且有可能控制在濕式製程期間容易產生的聚乙烯醇類薄膜的皺折的產生。此外，當如上文所描述在水性硼酸溶液中執行拉伸時，相較於乾式拉伸，存在可能甚至在低溫下執行拉伸的優勢。在此，較佳的是水性硼酸溶液的硼酸濃度為1wt%至5wt%，或1.5wt%至4.5wt%。
在此情形下，未拉伸聚乙烯醇類薄膜的最大拉伸放大率可為3倍或大於3倍，且較佳地為3倍至15倍。在本說明書中，最大拉伸放大率意謂緊接著引起聚乙烯醇類薄膜破裂之前的拉伸放大率。當最大拉伸放大率滿足數值範圍時，對於製造薄偏光器是極有利的，因為可以高放大率來執行拉伸。
在本發明中，單一拉伸步驟中的拉伸條件不受特定限制，但可(例如)在20℃至85℃的溫度下以3倍至15倍的拉伸放大率，且更佳地在40℃至80℃的溫度下以3倍至12倍的拉伸放大率來執行單一拉伸步驟。此外，可在20℃至85℃的溫度下以5倍至10倍或6倍至10倍的拉伸放大率來執行單一拉伸步驟。
必要時，本發明可進一步包含如上文所描述的單獨拉伸未拉伸聚乙烯醇類薄膜，且隨後使經拉伸聚乙烯醇類薄膜乾燥。在此情形下，較佳的是，在20℃至100℃或40℃至90℃的溫度範圍中執行乾燥達1分鐘至10分鐘。乾燥製程用以藉由將在製造偏光板的製程期間的濕氣自聚乙烯醇類薄膜的表面及內部移除來防止由於濕氣造成的聚乙烯醇類偏光器的物理性質的降低，且藉由平穩地誘使在乾燥期間拉伸的聚乙烯醇類薄膜的寬度收縮來增加由聚乙烯醇及碘組成的錯合物的定向，從而改良偏光器的偏光度。
因為根據本發明的用於製造薄偏光器的方法的特徵在於如上文所描述的單獨拉伸未拉伸聚乙烯醇類薄膜，所以相較於藉由拉伸呈層壓薄膜形式的未拉伸聚乙烯醇類薄膜，且隨後分離聚合物薄膜及聚乙烯醇薄膜來製造薄偏光器的情況，並不單獨地需要形成層壓薄膜的製程或分離聚合物薄膜及聚乙烯醇薄膜的製 程，且因此存在可能改良生產製程的簡化及製程穩定性的優勢，且亦極易確保經製造薄偏光器的光學性質。
同時，藉由用於藉由使用藉由如上文所描述的方法製造的未拉伸聚乙烯醇類薄膜來製造根據本發明的薄偏光器的方法而製造的薄偏光器具有10微米或小於10微米，較佳地1微米至10微米，且更佳地1微米至7微米的極薄的厚度。另外，即使以如上文所描述的薄厚度，單體透射率約為40%至45%，且偏光度為99%或大於99%，且因此顯現極佳的光學性質。
隨後，可藉由將透明薄膜層壓於如上文所描述的本發明的薄偏光器的一個表面或兩個表面上而形成偏光板。在此情形下，作為透明薄膜，在所屬技術領域中用作偏光器保護薄膜或相位薄膜的各種薄膜可無限制地使用，且有可能使用(例如)丙烯酸薄膜、PET薄膜、經受丙烯酸底漆處理的PET薄膜、纖維素類薄膜、環烯烴類薄膜、聚碳酸酯類薄膜、聚降冰片烯類薄膜及其類似者。
層壓偏光器及透明薄膜的方法不受特別限制，且可藉由使用所屬技術領域中熟知的黏著劑或增黏劑及其類似者來執行。在此情形下，可考慮所使用的透明薄膜的材料及其類似者而恰當地選擇黏著劑或增黏劑，且舉例而言，當TAC被用作透明薄膜時，可使用諸如聚乙烯醇類黏著劑的水基黏著劑，且當丙烯酸薄膜或COP薄膜及其類似者被用作透明薄膜時，有可能使用諸如丙烯酸黏著劑及環氧基類黏著劑的光固化或熱固化黏著劑。
同時，除了透明薄膜，本發明的偏光板可另外包含用於附接至液晶面板上的其他功能光學層，諸如增亮薄膜、底塗層、硬塗 層、防眩光層、抗反射層或增黏劑層。形成這些光學層的方法不受特別限制，且可使用所屬技術領域中熟知的公開已知方法。
儘管相較於相關技術中的偏光板具有極薄的厚度，但本發明的偏光板具有極佳的光學特性，且可有效地用於諸如液晶顯示面板的顯示裝置及有機電致發光裝置。
在下文中，將參考具體實例更詳細地描述本發明。
實例1
製備未拉伸聚乙烯醇類薄膜(藉由日本合成有限公司(Nippon Synthesis Co.,Ltd)製造，M系列)，其中當將薄膜拉伸6倍時，施加於薄膜的強度為4.8N，彈性模數為1.5MPa且厚度為20微米。
隨後，未拉伸聚乙烯醇類薄膜在1.0wt%硼酸溶液中經受清洗製程達15秒，且隨後在2.0wt%硼酸溶液中以6倍的拉伸放大率單獨被拉伸。且接著，聚乙烯醇類薄膜在5.0wt%碘化鉀(KI)溶液中經受互補色製程，且隨後在80℃的爐中乾燥，藉此獲得具有8微米的厚度的薄偏光器。
比較例1
意欲以與實例1中藉由使用未拉伸聚乙烯醇類薄膜相同的方式來製造薄偏光器，其中當將薄膜拉伸6倍時，施加於薄膜的強度為3.3N且彈性模數為2.8MPa，但是難以製造薄偏光器，因為當薄膜被拉伸時會引起破裂。
比較例2
以與實例1中相同的方式(除使用未拉伸聚乙烯醇類薄 膜以外)製造具有8.3微米厚度的薄偏光器，其中當將薄膜拉伸6倍時，施加於薄膜的強度為4.8N且彈性模數為2.8MPa。
實驗實例1-光學特性的量測
實例1及比較例2中製造的薄偏光器的光學特性藉由JASCO V-7100分光光度計量測，且呈現於下文[表1]中。
Figure TWI613468BD00001
經由[表1]，可見根據本發明的方法製造的實例1的薄偏光器的所有光學性質(諸如，單體透射率、偏光度以及色彩)皆為極佳的。對比而言，可見在比較例1的情況下，難以製造薄偏光器，且比較例2中製造的偏光器中的所有光學性質(諸如，單體透射率、偏光度以及色感)明顯降低。
儘管已詳細地描述本發明的例示性實施例，但本發明的權利範疇不限於此，且所屬領域中具通常知識者將顯而易見，在不背離申請專利範圍中所描述的本發明的技術精神的情況下，各種修改及改變是可能的。

Claims (6)

  1. 一種用於製造薄偏光器的方法，包括：製備具有20微米或小於20微米的厚度的未拉伸聚乙烯醇類薄膜的步驟，其中將所述未拉伸聚乙烯醇類薄膜拉伸6倍所施加的強度為4N或大於4N，所述未拉伸聚乙烯醇類薄膜具有小於2MPa的彈性模數，且所述未拉伸聚乙烯醇類薄膜具有2,800至3,200的聚合度；使用碘及二色性染料中的至少一者來染色所述未拉伸聚乙烯醇類薄膜的步驟以及將未拉伸聚乙烯醇類薄膜浸沒在25℃至30℃的純水中達5秒至30秒的膨脹步驟；以及藉由單獨拉伸所述未拉伸聚乙烯醇類薄膜而形成具有10微米或小於10微米的厚度的經拉伸聚乙烯醇類薄膜的單一拉伸步驟，其中所述染色所述未拉伸聚乙烯醇類薄膜的步驟與所述膨脹步驟在所述單一拉伸步驟之前。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的用於製造薄偏光器的方法，其中將所述未拉伸聚乙烯醇類薄膜拉伸6倍所施加的強度為藉由在50℃至60℃的溫度範圍內在1%至5%的範圍內的水性硼酸溶液中拉伸所述未拉伸聚乙烯醇類薄膜的方法量測的值。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的用於製造薄偏光器的方法，其中所述單一拉伸步驟藉由濕式拉伸方法或乾式拉伸方法來執行。
  4. 如申請專利範圍第1項所述的用於製造薄偏光器的方 法，其中所述單一拉伸步驟在20℃至85℃的溫度下以3倍至15倍的拉伸放大率執行。
  5. 如申請專利範圍第1項所述的用於製造薄偏光器的方法，其中所述單一拉伸步驟在具有1wt%至5wt%的硼酸濃度的水性硼酸溶液中執行。
  6. 一種薄偏光器，其藉由如申請專利範圍第1項至第5項中任一項所述的用於製造薄偏光器的方法製造，其中厚度為10微米或小於10微米，單體透射率為40%至45%，且偏光度為99%或大於99%。
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