TWI592783B - 電壓調節器 - Google Patents
電壓調節器 Download PDFInfo
- Publication number
- TWI592783B TWI592783B TW103113858A TW103113858A TWI592783B TW I592783 B TWI592783 B TW I592783B TW 103113858 A TW103113858 A TW 103113858A TW 103113858 A TW103113858 A TW 103113858A TW I592783 B TWI592783 B TW I592783B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- circuit
- current
- voltage regulator
- terminal
- test terminal
- Prior art date
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 32
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
- G05F1/56—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
- G05F1/56—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
- G05F1/565—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
- G05F1/56—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
- G05F1/565—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor
- G05F1/569—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor for protection
- G05F1/573—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor for protection with overcurrent detector
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
- G05F1/56—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
- G05F1/575—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices characterised by the feedback circuit
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
Description
本發明係關於電壓調節器,更詳細而言關於電壓調節器之測試電路。
圖2表示以往之電壓調節器之方塊圖。
以往之電壓調節器具備基準電壓電路2、分壓電路3、輸出電晶體4、差動放大電路10、定電流電路11,從輸入電壓Vin輸出既定之輸出電壓Vout。
電壓調節器具備過電流保護或過熱保護用之保護電路13。保護電路13因為係保護電壓調節器之電路的重要電路,故被要求精度。因此,在製造工程中,測定其特性,而進行精度之調整。因此,具備有測試用之電路或測試端子。
再者,電壓調節器因被要求低消耗電流,故例如需要精度佳地調整差動放大電路10之尾電流I10。一般而言,尾電流I10係藉由修整定電流電路11之電晶體等而被調整(例如,參照專利文獻1)。
[專利文獻1]日本特開平4-195613號公報
但是,尾電流I10因係僅在積體電路內部被使用之定電流,故為了精度佳地進行調整,需要測定用之端子,有面積變大之課題。
於是,本發明之電壓調節器藉由將測定差動放大電路10之尾電流I10之端子與保護電路13之測試端子共有,不會增加測試端子,可精度佳地進行測定。
本發明之電壓調節器藉由將測定尾電流I10之端子與保護電路13之測試端子共有,不會增加測試端子,可精度佳地進行測定。
10‧‧‧差動放大電路
11‧‧‧定電壓電路
13‧‧‧保護電路
14‧‧‧電流輸出電路
15‧‧‧控制電路
101‧‧‧感溫元件
301‧‧‧檢測電路
302‧‧‧定電流電路
303‧‧‧感測電路
圖1為表示第一實施型態之電壓調節器的電路圖。
圖2為表示以往之電壓調節器的方塊圖。
圖3為表示第二實施型態之電壓調節器的電路圖。
圖4為表示第三實施型態之電壓調節器的電路圖。
以下,針對本發明之電壓調節器參照圖面予以說明。
圖1為表示第一實施型態之電壓調節器的電路圖。
第一實施型態之電壓調節器具備基準電壓電路2、分壓電路3、輸出電晶體4、差動放大電路10、定電流電路11、保護電路13、電流輸出電路14、控制電路15、開關電路16及熔絲17及18。在第一實施型態中,雖然保護電路13以過熱保護電路為例而予以說明,但是即使為過電流保護電路或其他保護電路亦可。
輸出電晶體4係被連接於電源端子1和輸出端子5之間。分壓電路3被連接於輸出端子5和接地端子6之間。差動放大電路10係在輸入端子連接基準電壓電路2之輸出端子和分壓電路3之輸出端子,輸出端子被連接於輸出電晶體4之控制端子。定電流電路11被連接於差動放大電路10。保護電路13係輸出端子被連接於輸出電晶體4之控制端子。
在此,保護電路13係以過熱保護電路而進行說明。保護電路13係感溫元件101之輸出端子經熔絲18而被連接於測試端子Tio。再者,被供給動作電流之電流路徑連接有開關電路16。開關電路16係藉由控制電路15而控制導通斷開。控制電路15即使為例如當檢測出輸出端子5之過電流時,導通開關電路16的電路亦可。再者,控制電路15例如即使為當檢測出輸出端子5被輸入表示測試開始之電壓時,使開關電路16斷開之電壓檢測電路亦可。定電流電路11為使差動放大電路10之動作電流流通之電路,具備有構成定電流源和電流鏡之電晶體和修整用之熔絲。電流輸出電路14係經電流電路11和熔絲17而被連接於與測試端子Tio之間。電流輸出電路14具備鏡射定電流電路11之電流的NMOS電晶體21,和PMOS電晶體22、23。
上述般之電壓調節器如下述般動作,可以測試電路之特性。
首先,說明測定電流電路11之電流的方法。
控制電路15控制成使開關電路16斷開。因此,測試端子Tio成為在與接地端子6之間連接二極體之狀態。在該狀態下,對電源端子1輸入電源電壓Vin,並使電壓調節器動作。
NMOS電晶體21係鏡射定電流電路11之電流。並且,PMOS電晶體22和23構成電流鏡電路,鏡射NMOS電晶體21之電流。
因此,當在測試端子Tio和接地間連接電流計時,電流計之阻抗因比二極體之阻抗低,故可以測定定電流電路11之電流。
然後,以該測定值為基準修整定電流電路11之電流值,即是差動放大電路10之尾電流I10,而可精度佳地校準。
接著,說明保護電路13之特性的方法。
熔絲17因結束定電流電路11之測定,故被切斷。控制電路15導通開關電路16。在該狀態下,對電源端子1輸入電源電壓Vin,並使電壓調節器動作。電壓調節器係從輸出端子5輸出既定之輸出電壓Vout。
在此,就以保護電路13之特性而言,於測量被施予過熱保護的溫度時,從測試端子Tio輸入代替電壓。藉由監視輸出端子5之輸出電壓Vout,從保護電路13之保護動作和其代替電壓值,可以測定被施予過熱保護的溫度。
然後,以該測定值為基礎,藉由進行修整等,可以精度佳地校準保護電路13之特性。
最後,藉由切斷熔絲18,測試端子Tio與內部電路切離。
如上述說明般,第一實施型態之電壓調節器因具備對測試端子Tio輸出定電流電路11之電流之電流輸出電路14,和使保護電路13之功能停止之開關電路16,和在用以測定保護電路13之特性之測試端子Tio和
電流輸出電路14之間具備熔絲17,故不需要追加用以測定差動放大電路10之尾電流I10之測試端子,因此不會增加晶片尺寸,可精度佳地校準差動放大電路10之尾電流I10。
圖3為表示第二實施型態之電壓調節器的電路圖。與圖1不同的係將在開關電路16有兩個的開關設為一個之點。
保護電路13係以檢測電路301和感測電路303所構成。感測電路303係以檢測電路302和感溫電路101所構成。檢測電路301係輸出被連接於輸出電晶體4之閘極,輸入經熔絲18被連接於測試端子Tio,電源被連接於電源端子1。感溫元件101之輸出端子經熔絲18而被連接於測試端子Tio。定電流電路302被連接於感溫元件101之輸出端子和開關電路16之間。其他與圖1相同。
控制電路15控制成使開關電路16斷開。因此,測試端子Tio成為在與接地端子6之間連接二極體之狀態。在該狀態下,對電源端子1輸入電源電壓Vin,並使電壓調節器動作。
NMOS電晶體21係鏡射定電流電路11之電流。並且,PMOS電晶體22和23構成電流鏡電路,鏡射NMOS電晶體21之電流。
因此,當在測試端子Tio和接地間連接電流計時,電流計之阻抗因比二極體之阻抗低,故可以測定定電流電路11之電流。
然後,以該測定值為基準修整定電流電路11之電流值,即是差動放大電路10之尾電流I10,而可精度佳地校準。再者,於測定定電流電路11之電流時,檢測電路301動作,雖然無圖示,因在檢測電路301之輸入連接電晶體之閘極等,故電流不會從檢測電路301流至測試端子Tio。因此,即使檢測電路301動作,電流也不會從檢測電路301或感測電路303流入,可以在測試端子Tio測定定電流電路11之電流。其他與第一實施型態之動作相同。
如上述說明般,第二實施型態之電壓調節器不用追加用以測定差動放大電路10之尾電流I10的測試端子,可維持使檢測電路301動作之狀態下精度佳地校準差動放大電路10之尾電流I10。
圖4為表示第三實施型態之電壓調節器的電路圖。與圖3不同的係在檢測電路301之電源和電源端子1間移動開關電路16,並將定電流電路302連接於電源端子1之點。其他與圖3相同。
控制電路15控制成使開關電路16斷開。因此,測試端子Tio成為在與接地端子6之間連接二極體之
狀態,並使保護電路13之動作停止。在該狀態下,對電源端子1輸入電源電壓Vin,並使電壓調節器動作。
NMOS電晶體21係鏡射定電流電路11之電流。並且,PMOS電晶體22和23構成電流鏡電路,鏡射NMOS電晶體21之電流。
因此,當在測試端子Tio和接地間連接電流計時,電流計之阻抗因比二極體之阻抗低,故可以測定定電流電路11之電流。將流至感溫元件101之電流設定成與差動放大電路10之尾電流I10呈比例之電流,若設為比流至PMOS電晶體23之電流為非常小時,在定電流電路11之電流之測定中,不會有太大影響,可以精度佳地測定定電流電路11之電流。
以該測定值為基準修整定電流電路11之電流值,即是差動放大電路10之尾電流I10,而可精度佳地校準。其他與第二實施型態之動作相同。
如上述說明般,第三實施型態之電壓調節器係藉由使保護電路13之動作停止,並將流至感溫元件101之電流與差動放大電路10之尾電流I10呈比例,可以精度佳地測定定電流電路11之電流,並可以精度佳地校準差動放大電路10之尾電流I10。
1‧‧‧電源端子
2‧‧‧基準電壓電路
3‧‧‧分壓電路
4‧‧‧輸出電晶體
5‧‧‧輸出端子
6‧‧‧接地端子
10‧‧‧差動放大電路
11‧‧‧定電壓電路
13‧‧‧保護電路
14‧‧‧電流輸出電路
15‧‧‧控制電路
16‧‧‧開關電路
17‧‧‧熔絲
18‧‧‧熔絲
21‧‧‧NMOS電晶體
22‧‧‧PMOS電晶體
23‧‧‧PMOS電晶體
101‧‧‧感溫元件
Claims (4)
- 一種電壓調節器,具備:誤差放大電路、供給上述誤差放大電路之動作電流的定電流電路、保護電路、用以測定上述保護電路之特性的測試端子,該電壓調節器之特徵在於具備:用以對上述測試端子輸出上述定電流電路之電流的電流輸出電路;被設置在上述電流輸出電路和上述測試端子之間的熔絲;和用以停止上述保護電路之動作的開關電路,被構成利用上述測試端子測定上述定電流電路之電流值,即是上述誤差放大電路之尾電流。
- 如申請專利範圍第1項所記載之電壓調節器,其中具備用以控制上述開關電路之控制電路,上述控制電路係於從上述測試端子輸出上述定電流電路之電流時,控制上述開關電路,而使上述保護電路之動作停止。
- 如申請專利範圍第1或2項所記載之電壓調節器,其中上述保護電路具有:在上述開關電路使動作停止之感測電路;和檢測出上述感測電路之電壓的檢測電路。
- 如申請專利範圍第3項所記載之電壓調節器,其 中上述感測電路為檢測出溫度之二極體。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013109265 | 2013-05-23 | ||
JP2014018757A JP6250418B2 (ja) | 2013-05-23 | 2014-02-03 | ボルテージレギュレータ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW201512802A TW201512802A (zh) | 2015-04-01 |
TWI592783B true TWI592783B (zh) | 2017-07-21 |
Family
ID=51934968
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW103113858A TWI592783B (zh) | 2013-05-23 | 2014-04-16 | 電壓調節器 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9207694B2 (zh) |
JP (1) | JP6250418B2 (zh) |
KR (1) | KR102182027B1 (zh) |
CN (1) | CN104181966B (zh) |
TW (1) | TWI592783B (zh) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9553507B1 (en) * | 2016-06-06 | 2017-01-24 | Xcelsem, Llc | Self regulating current to current charge pump |
JP6793586B2 (ja) * | 2017-03-30 | 2020-12-02 | エイブリック株式会社 | ボルテージレギュレータ |
JP7008523B2 (ja) * | 2018-02-05 | 2022-01-25 | エイブリック株式会社 | 過電流制限回路、過電流制限方法及び電源回路 |
JP7126931B2 (ja) * | 2018-11-30 | 2022-08-29 | エイブリック株式会社 | 過熱保護回路及び半導体装置 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3872386A (en) * | 1973-05-07 | 1975-03-18 | Gabriel J Luhowy | Test device |
JP2706720B2 (ja) | 1990-11-28 | 1998-01-28 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | ボルテージ・レギュレーター |
US5548205A (en) * | 1993-11-24 | 1996-08-20 | National Semiconductor Corporation | Method and circuit for control of saturation current in voltage regulators |
JP4169670B2 (ja) * | 2003-09-19 | 2008-10-22 | 株式会社リコー | 出力制御回路と定電圧源icおよび電子機器 |
JP2005235932A (ja) * | 2004-02-18 | 2005-09-02 | Seiko Instruments Inc | ボルテージレギュレータおよびその製造方法 |
JP4855913B2 (ja) * | 2006-12-01 | 2012-01-18 | セイコーインスツル株式会社 | ボルテージレギュレータ |
JP2008210078A (ja) * | 2007-02-26 | 2008-09-11 | Ricoh Co Ltd | 定電圧電源回路とそのテスト方法およびそれを用いた電子機器 |
JP5014194B2 (ja) | 2008-02-25 | 2012-08-29 | セイコーインスツル株式会社 | ボルテージレギュレータ |
CN101650381A (zh) * | 2008-08-14 | 2010-02-17 | 联阳半导体股份有限公司 | 电源转换装置及其电流检测装置 |
JP5353490B2 (ja) * | 2009-07-01 | 2013-11-27 | ミツミ電機株式会社 | 半導体装置 |
CN102597900A (zh) * | 2009-07-16 | 2012-07-18 | 意法爱立信有限公司 | 低压降调节器 |
JP5806853B2 (ja) * | 2011-05-12 | 2015-11-10 | セイコーインスツル株式会社 | ボルテージレギュレータ |
JP2013098599A (ja) * | 2011-10-28 | 2013-05-20 | Advantest Corp | ドライバ回路および試験装置 |
-
2014
- 2014-02-03 JP JP2014018757A patent/JP6250418B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2014-04-16 TW TW103113858A patent/TWI592783B/zh not_active IP Right Cessation
- 2014-05-08 US US14/273,156 patent/US9207694B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2014-05-21 KR KR1020140060745A patent/KR102182027B1/ko active IP Right Grant
- 2014-05-23 CN CN201410223523.2A patent/CN104181966B/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN104181966A (zh) | 2014-12-03 |
US20140347022A1 (en) | 2014-11-27 |
KR20140138050A (ko) | 2014-12-03 |
CN104181966B (zh) | 2017-12-19 |
TW201512802A (zh) | 2015-04-01 |
JP2015005268A (ja) | 2015-01-08 |
JP6250418B2 (ja) | 2017-12-20 |
US9207694B2 (en) | 2015-12-08 |
KR102182027B1 (ko) | 2020-11-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI529512B (zh) | Voltage regulator | |
TWI631807B (zh) | 電壓調節器 | |
TWI592783B (zh) | 電壓調節器 | |
JP2006260030A (ja) | 定電圧電源回路及び定電圧電源回路の検査方法 | |
TWI666845B (zh) | 充放電控制電路及電池裝置 | |
KR20060043008A (ko) | 전압 조정기 및 그의 제조 방법 | |
TWI695245B (zh) | 電壓調節器 | |
KR20090027163A (ko) | 정전압 회로 | |
WO2014208261A1 (ja) | ボルテージレギュレータ | |
TWI743334B (zh) | 過電流保護電路及電壓調節器 | |
TWI648951B (zh) | 電源電壓監視電路、及具備該電源電壓監視電路的電子電路 | |
TWI707219B (zh) | 電壓異常檢測電路以及半導體裝置 | |
JP4855913B2 (ja) | ボルテージレギュレータ | |
US8847674B1 (en) | Systems and methods for power limiting for a programmable I/O device | |
JP4838596B2 (ja) | 定電流回路 | |
JP6735177B2 (ja) | 半導体装置およびヒューズ状態検出方法 | |
JP4530878B2 (ja) | 電圧比較器、それを用いた過電流検出回路ならびに半導体装置 | |
JP6506592B2 (ja) | センサ装置 | |
JP2014228500A (ja) | 温度測定装置、温度測定方法および半導体モジュール | |
JP2009115647A (ja) | 直流試験装置及び半導体試験装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |