TWI537903B - 顯示面板以及顯示面板的測試方法 - Google Patents

Description

顯示面板以及顯示面板的測試方法

本發明係關於一種顯示面板以及顯示面板的測試方法，且特別是一種具有控制訊號走線開關的顯示面板以及顯示面板的品質測試方法。

隨著科技的發展，各種電子產品內所需處理以及傳遞的訊號越來越多，也越來越複雜。當訊號於傳遞的過程中產生錯誤，對整個電子產品的運作都會帶來極大的影響。

舉例來說，顯示面板目前經常採用陣列走線WOA(wire on array)來傳遞訊號給閘極驅動單元，並且由於其接合(bonding)因素的考量，陣列走線乃裸露於外，因此容易發生陣列走線刮傷的情形，進而造成顯示異常。

更詳細地來說，顯示面板中電路板組件(PCBA)傳遞給閘極驅動單元之多個控制訊號Vcom、PR1_OUT、F_CTRL、SEL0、SEL1中，其中若是控制訊號F_CTRL、SEL0、SEL1對應的陣列走線具有損傷，其便容易與控制訊號Vcom之間產生短路，並造成這些控制訊號F_CTRL、SEL0、SEL1對應的陣列走線所傳遞的訊號被拉升至高邏輯準位，此將使閘極驅動單元提供多 個掃描訊號至顯示器之輸出順序產生異常。

本發明藉由控制顯示面板的控制訊號走線開關，藉以在正常顯示模式下克服控制訊號走線上的損傷影響顯示面板之顯示功能的問題，以及在特定顯示模式下對顯示面板的顯示功能進行測試，進而解決顯示面板之品質無法掌控的問題。

本發明提供一種顯示面板，所述顯示面板包括電晶體陣列基板、閘極驅動單元、多條走線以及多個開關。電晶體陣列基板具有像素區及週邊區。閘極驅動單元設置於週邊區，用以提供多個掃描訊號至像素區。多條走線設置於週邊區，耦接於電路板與閘極驅動單元之間，各走線用以傳輸來自電路板之控制訊號。多個開關分別耦接至各走線中，且分別用以選擇性的控制各走線的導通或截止。

在一實施例中，當閘極驅動單元位於正常顯示模式時，則各多個開關分別控制各多條走線為截止。

在另一實施例中，當閘極驅動單元位於特定顯示模式時，則各開關分別控制各走線為導通。

在另一實施例中，多個開關分別具有控制端，且控制端耦接至電路板。

本發明提供一種顯示面板的測試方法，適用於顯示面板，所述顯示面板包括電晶體陣列基板、閘極驅動單元、多條走線以及多個開關。電晶體陣列基板包括像素區及週邊區。閘極 驅動單元設置於週邊區，且用以提供多個掃描訊號至像素區。多條走線設置於週邊區，且多條走線耦接閘極驅動單元。多個開關分別耦接於各走線中，而所述測試方法包括下述步驟。於各走線上提供控制訊號。導通多個開關。判斷閘極驅動單元提供多個掃描訊號至像素區的輸出順序是否等於預設順序。當輸出順序不等於預設順序時，則判斷顯示面板為不良品。

在一實施例中，當輸出順序不等於預設順序時，則判斷多個走線其中之一具有損傷。

在另一實施例中，僅導通多個開關之其中之一，而截止其餘之開關。判斷輸出順序是否等於預設順序。當輸出順序不等於預設順序時，則判斷所導通的開關所對應的走線具有損傷。

如上所述，本發明藉由控制顯示面板之週邊區上多條走線所設置的多個開關的截止與導通，即可對應切換為顯示面板的正常顯示模式與特定顯示模式。在正常顯示模式下顯示面板具有保護機制，而在特定顯示模式下顯示面板可解除保護機制來執行測試方法。在顯示面板之測試方法中，提供控制訊號至各走線，並導通多個開關，當閘極驅動單元提供多個掃描訊號至像素區的輸出順序不等於預設順序，則可判斷顯示面板為不良品。

以上關於本發明內容及以下關於實施方式之說明係用以示範與闡明本發明之精神與原理，並提供對本發明之申請專利範圍更進一步之解釋。

100‧‧‧顯示面板

Vcom、PR1_OUT、F_CTRL、SEL0、SEL1‧‧‧控制訊號

200‧‧‧電晶體陣列基板

200A‧‧‧像素區

200B‧‧‧週邊區

300‧‧‧閘極驅動單元

410、420、430、490‧‧‧走線

510、520、530‧‧‧開關

590‧‧‧控制線

600‧‧‧電路板

610‧‧‧排線

701‧‧‧掃描線

S810~S850‧‧‧顯示面板的測試方法的步驟

第1圖為根據本發明之一實施例的顯示面板的方塊圖。

第2圖為根據本發明一實施例之顯示面板的測試方法的流程圖。

以下在實施方式中敘述本發明之詳細特徵，其內容足以使任何熟習相關技藝者瞭解本發明之技術內容並據以實施，且依據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式，任何熟習相關技藝者可輕易地理解本發明相關之目的及優點。以下實施例係進一步說明本發明之諸面向，但非以任何面向限制本發明之範疇。

第1圖為根據本發明之一實施例的顯示面板100的方塊圖。如第1圖所示，顯示面板100包括電晶體陣列基板200、閘極驅動單元300、多條走線410、420與430、多個開關510、520與530、電路板600、排線610以及掃描線701。電晶體陣列基板200具有像素區200A及週邊區200B。閘極驅動單元300設置於週邊區200B。多條走線410、420與430設置於週邊區200B，並耦接於電路板600之排線610與閘極驅動單元300之間。

多個開關510、520與530分別耦接至多條走線410、420與430之中。舉例來說，開關510耦接至走線410之中，開關520耦接至走線420之中，開關530耦接至走線430之中。開 關510、520與530與走線410、420與430耦接的位置可以是多個開關510、520與530分別平行也可以是分別耦接於走線410、420與430的不同位置，本發明不以此為限。其中，閘極驅動單元300用以經由掃描線701來提供多個掃描訊號至像素區200A。另外，各走線410、420與430用以傳輸來自電路板600之控制訊號。在本發明實施例中，顯示面板100可更包括濾光片，而此濾光片設置於像素區200A之上。

在本發明實施例中，多個開關510、520與530可為雙閘極薄膜電晶體。除此之外，多個開關510、520與530可分別具有控制端，且其控制端可分別透過控制線590而耦接至電路板600的排線610。電路板600可選擇性地輸出高邏輯準位或者是低邏輯準位訊號至多個開關510、520與530所對應的各控制端。藉此，多個開關510、520與530可分別用以選擇性的控制走線410、420與430中各走線的導通或截止。舉例來說，開關510用以選擇性的控制走線410的導通或截止，開關520用以選擇性的控制走線420的導通或截止，開關530用以選擇性的控制走線430的導通或截止。

為了避免走線410、420與430上受到損傷而影響到其所傳輸的控制訊號，舉例來說，走線410、420與430之其中之一受到損傷將可能導致損傷的走線與傳輸高邏輯準位訊號(例如，控制訊號Vcom)的走線490之間產生短路，進而將損傷之走線上的控制訊號拉到高邏輯準位，因而在本發明實施例中，當顯 示面板100位於正常顯示模式時，則多個開關510~530中之各個開關可分別控制多條走線410~430為截止。舉例來說，當開關520控制走線420為截止時，若走線420因損傷而被拉升到高邏輯準位，則開關520可將此非影響阻隔，而不會進一步傳遞到閘極驅動單元300中，造成閘極驅動單元300提供至像素區之多個掃描訊號的輸出順序發生異常。換句話說，顯示面板100可藉由切換至正常顯示模式來啟動保護機制。

進一步來說，當走線420所傳輸的控制訊號原本為高準位邏輯訊號時，在其造成損傷的情況下，將使損傷的導線420與走線490短路，而走線490上所承載的高邏輯準位訊號將灌入損傷的導線420中，此與其原本所傳遞的訊號相同，因此不會造成非預期的影響。然而相對地，當走線420所傳輸的控制訊號原本為低準位邏輯訊號時，才會在走線420造成損傷的情況下，因其短路而被拉升到非預期中的高邏輯準位的狀態。因此，在本發明實施例中，開關可安裝在預設傳輸之控制訊號為低準位邏輯訊號的走線上。然而，在本發明另一實施例中，開關亦可以安裝在用以傳輸各種控制訊號的走線上，在此不加以限制。

當顯示面板100在沒有發生任何的損傷時，根據本發明另一實施例，亦可將顯示面板100切換至特定顯示模式，以使多個開關510、520與530中之各開關分別控制走線410、420與430中之各走線為導通，來讓電路板600輸出多個控制訊號可經由走線410、420、430傳遞至閘極驅動單元300。在本發明另 一實施例中，亦可將顯示面板100切換至特定顯示模式，藉以執行顯示面板100的品質測試，下列將對此進一步詳述。

第2圖為根據本發明一實施例之顯示面板的測試方法的流程圖。如第2圖所示，本發明實施例之顯示面板的測試方法包括步驟S810~S850。此顯示面板的測試方法適用於顯示面板100。

在步驟S810中，電路板600於多個走線410、420與430上提供控制訊號。其中這些控制訊號在不受到非預期之影響或干擾的情況之下，將可使閘極驅動單元300以預設順序來輸出多個掃描訊號。

在步驟S820中，顯示面板100切換至特定顯示模式，來導通多個開關510、520與530。當顯示面板100在正常顯示模式下具有保護機制，所以可阻隔走線損傷所帶來的非預期之影響或干擾。而當欲對顯示面板100進行品質的測試時，則可切換至特定顯示模式將此保護機制解除，也就是將多個開關510、520與530導通。

在步驟S830中，判斷閘極驅動單元300提供多個掃描訊號分別經由掃描線701而傳輸至像素區200A的輸出順序，是否等於預設順序。其判斷的方式，可以是藉由機器或者是人工觀察的方式，在此不加以限制。

在步驟S840中，當輸出順序不等於預設順序時，則判斷顯示面板100為不良品。如上所述，若走線410、420與430 上有其中之一受到損傷，導致損傷的走線與傳輸高邏輯準位訊號(例如，控制訊號Vcom)的走線490之間產生短路，而進而將損傷之走線上的控制訊號拉到高邏輯準位，使輸出順序發生異常。因此，當輸出順序不等於預設順序時，則可判斷顯示面板100為走線具有損傷的不良品。相反地，在步驟S850中，當輸出順序等於預設順序時，則判斷顯示面板100為正常品。

除此之外，在本發明另一實施例中，當輸出順序不等於預設順序時，可更進一步判定，多個走線410、420與430中之何者具有損傷。舉例來說，電路板600可選擇性地導通多個開關510、520與530之其中之一，而截止其餘之開關。換句話說，此乃選擇性的對單一走線解除保護機制來做測試。例如，可將單一之開關520導通，並截止其他的開關510與530。

接著，可判斷輸出順序是否等於預設順序。當輸出順序不等於預設順序時，則可判斷所導通的開關所對應的走線具有損傷。舉例來說，若所導通之單一開關為開關520，且輸出順序不等於預設順序，則可判定走線420具有損傷。同樣的步驟可逐一實施於每一條走線，直到已測試過每一條走線，即可終止對此顯示面板100之測試程序。

綜上所述，本發明藉由控制顯示面板之週邊區上多條走線上所設置的多個開關的截止與導通，即可對應切換為顯示面板的正常顯示模式與特定顯示模式。在正常顯示模式下顯示面板具有保護機制，可阻隔走線損傷所帶來的非預期之影響或干 擾。而在特定顯示模式下顯示面板可解除保護機制來執行顯示功能的測試。在測試中，先於各走線上提供控制訊號，並導通多個開關，當閘極驅動單元提供多個掃描訊號至像素區的輸出順序不等於預設順序，則可判斷顯示面板為不良品。此外，亦可選擇性地導通單一開關來做輸出順序之正常與否判定，以測試對應的走線是否具有損傷。

雖然本發明以前述之實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明。在不脫離本發明之精神和範圍內，所為之更動與潤飾，均屬本發明之專利保護範圍。關於本發明所界定之保護範圍請參考所附之申請專利範圍。

100‧‧‧顯示面板

200‧‧‧電晶體陣列基板

200A‧‧‧像素區

200B‧‧‧週邊區

300‧‧‧閘極驅動單元

410、420、430、490‧‧‧走線

510、520、530‧‧‧開關

590‧‧‧控制線

600‧‧‧電路板

610‧‧‧排線

701‧‧‧掃描線

Claims (7)

1. 一種顯示面板，包括：一電晶體陣列基板，具有一像素區及一週邊區；一閘極驅動單元，設置於該週邊區，用以提供多個掃描訊號至該像素區；多條走線，設置於該週邊區，耦接於一電路板與該閘極驅動單元之間，用以傳輸來自該電路板之控制訊號；以及多個開關，分別耦接至每一該些走線，用以控制對應之走線的導通或截止；其中當該顯示面板於一正常顯示模式時，則每一該些開關分別控制對應走線為截止。
2. 如請求項1所述之顯示面板，其中當該顯示面板於一特定顯示模式時，則每一該些開關分別控制對應走線為導通。
3. 如請求項1所述之顯示面板，其中每一該些開關具有一控制端，用以接收來自該電路板的訊號。
4. 如請求項1所述之顯示面板，更包括一濾光片，設置於該像素區之上。
5. 如請求項1所述之顯示面板，其中該些開關為雙閘極薄膜電晶體。
6. 一種測試方法，適用於一顯示面板，該顯示面板包括一電晶體陣列基板、一閘極驅動單元、多條走線以及多個開關，該電晶體陣列基板包括一像素區及一週邊區，該閘極驅動單元 設置於該週邊區，用以提供多個掃描訊號至該像素區，該些走線設置於該週邊區，該些開關分別耦接至各該些走線，該測試方法包括：分別提供多個控制訊號至對應之該些走線；導通該些開關；判斷該閘極驅動單元提供該些掃描訊號至該像素區的一輸出順序是否等於一預設順序；以及當該輸出順序不等於該預設順序時，則判斷該顯示面板為一不良品；其中於當該輸出順序不等於該預設順序時，則判斷該顯示面板為該不良品的步驟中，更包括：當該輸出順序不等於該預設順序時，則判斷該些走線其中之一損傷。
7. 如請求項6所述之測試方法，更包括：選擇性地導通該些開關之其中之一，並截止其餘該些開關；判斷該輸出順序是否等於該預設順序；以及當該輸出順序不等於該預設順序時，則判斷所導通的該開關所對應的該走線損傷。