TWI505304B - 鉚釘形接點及其製造方法 - Google Patents

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Description

鉚釘形接點及其製造方法
本發明係關於鉚釘形接點。尤其係關於可減低Ag合金等接點材料的使用量,並且在接受高容量負荷的使用環境下,亦為耐久壽命良好的鉚釘形接點。
將電路作機械式開閉的電氣接點係作為從家電製品、OA機器、自動車用電組件等、到重電機器之廣泛領域的電氣機器的各種開關、繼電器之構成零件被加以使用。以該開閉型電氣接點的形態而言,亦有直接接合在彈簧材等支持材的晶片形狀者,但是一般而言大多使用鉚釘形狀的接點。該鉚釘形接點係由:作為電氣接點來發揮作用的頭部、及比頭部更為窄幅的足部所構成。足部係當使鉚釘形接點固定在支持材時被填隙變形。
電氣接點係被要求:可維持確實的機械式開閉,亦即在接觸時,無障礙地傳達流至接點的電流/訊號,當切離時,則可無障礙地分離。此外,亦被要求具有安定的接觸電阻。另一方面,在開閉接點的表面,發生因放電所造成的材料熔融、蒸發、消耗等,因該等情形,阻礙電氣接點的接觸功能,有時接點彼此熔接,該等成為引起電氣製品等的性能降低或功能停止的要因。因此,為了在該過於苛刻的負荷的基礎下,亦可達成上 述基本功能,已有不少針對構成材料的研究。其中,目前作為接點材料較為適合的是Ag系的接點材料,尤其大多適用使SnO2 、In2 O3 、CuO等各種金屬氧化物分散在Ag矩陣的氧化物分散型的Ag合金(Ag-SnO2 系合金、Ag-SnO2 -In2 O3 系合金、Ag-ZnO系合金等)。
習知之鉚釘形接點大多以接點材料構成全體,但是近年來,考慮到作為接點材料的Ag合金等昂貴,為減低構件成本,一般使用將接點材料的適用部位作為一部分,以Cu或Cu合金等較為低成本的材料(基底材料)構成其他部分的2層鉚釘形接點。
以將如上所示之Ag合金與Cu系材料組合之2層鉚釘形接點之構成而言,已知有例如以接點材料構成頭部的上面部分,將頭部的下面與足部形成為Cu等基底材料者(第七(a)圖,參照專利文獻1)、或將頭部全體形成為接點材料且將足部形成為基底材料者等(第七(b)圖,參照專利文獻2)。
【先前技術文獻】 【專利文獻】
【專利文獻1】日本特開平5-282957號公報
【專利文獻2】日本新型登錄第3098834號公報
習知之2層構成的鉚釘形接點係可滿足兼顧構件成本與接點功能的觀點者,以及其耐久性在大概的用途中亦為充分者。
然而如上所述,開閉接點的用途涉及多方面,有為低負荷亦 有進行額定電流數十~數百A的高負荷的開閉、遮斷者。本發明人等得知,習知之2層構成的鉚釘形接點在該高負荷的用途中,伴隨使用會有由Ag合金所成之接點材料部分由基底材料剝離的問題。若如上所示之接點材料的剝離發生在其中一方接點(固定接點)時,另一方接點(可動接點)在該基底材料接觸及短路而可能成為機器故障的要因。
如以上所示之2層構造的鉚釘形接點中的問題係起因於將異種材料組合構成而發生,若以Ag合金構成接點全體,則不會發生該問題,但是若考慮構件成本,則其乃一合理的構成。因此有一面維持該合理的構成,一面考慮其耐久性之需求。因此本發明係提供一種關於鉚釘形接點,其不會發生如上所述之接點材料的剝離及脫落,且耐久壽命優異。
本發明人等為解決上述課題,首先針對在習知之2層構造的鉚釘形接點所產生的接點材料的剝離要因進行研究。結果,著重在高容量的開閉接點特有環境中的氧的行動。
接點彼此接觸時,接點表面雖然接受對應其電容的電弧熱及焦耳熱的負荷,但是若為高容量的接點表面,其溫度係成為相當高溫。此時,外部氣體環境(空氣)中的氧會侵入至接點材料。在此,作為接點材料的主要構成金屬的Ag係可使氧輕易擴散的金屬,因此所侵入的氧係在接點材料中擴散,不久即到達接點材料與基底材料的接合界面。接著,已到達接合界面的氧係與構成基底材料的Cu相結合/氧化而形成Cu氧化物。該Cu氧化物由於與接點材料(Ag)的結合力弱,因此使剝離產生。
此外,以氧的影響而言,除了由外部氣體環境侵入者以外, 亦考慮到接點材料本身所含有者的影響。此係若適用Ag氧化物合金作為接點材料時,分散的氧化物的氧在高溫下由氧化物解離,在接點材料中擴散而到達接合界面而形成氧化物。
本發明人等係由上述檢討,考慮到為了抑制接點材料的剝離,以抑制接點材料與基底材料的接合界面中的氧化物形成較為有效。但是,氧化物形成的要因是否因來自外部氣體環境的氧所致者,或因來自接點材料中的氧化物的氧所致者並非明確。此外並不可能變更接點的外部氣體環境,而接點材料中的氧化物係Ag氧化物合金中的主要構成,因此在適用Ag氧化物合金時限制氧化物量並不實際。
因此本發明人等係以設定阻止氧擴散至接合界面的阻障層,來作為接合界面中的氧化物的形成抑制的手段,此外,適用Ag合金作為該構成材料,而思及本發明。
亦即,本發明係一種鉚釘形接點,其係由:頭部、及比前述頭部更為窄幅的足部所構成的鉚釘形接點,其特徵為:前述頭部係由至少上面由Ag系接點材料所成的接點材料層所構成,前述頭部的剩餘部分及前述足部由含有Cu或Cu合金的基底材料所構成,在前述接點材料層與前述基底材料的接合界面具備有由Ag合金所構成之阻障層。
以下詳加說明本發明。本發明之特徵為:針對具有:由至少上面由Ag系接點材料所構成的接點層所構成的頭部、及頭部的剩餘部分及足部以含有Cu或Cu合金的基底材料所構成的2層構造的鉚釘形接點,在接點層與基底材料的接合界面形成由Ag合金所構成之阻障層而形成為3層構造。
此處說明屬於本發明之特徵的阻障層。本發明中由Ag合金 所構成之阻障層係由於Ag合金的添加元素(Ag以外之構成元素)優先與氧結合而成為氧化物,因此阻止氧到達接合界面而防止Cu氧化物生成。該構成阻障層的Ag合金係對接點材料(Ag系接點材料)及基底材料(Cu)之雙方具有充分的接合力。又,由於導電性及靭性亦良好,因此無損於作為接點的電氣特性,可防止在接合界面的氧化物生成。
關於此點,以阻障層之構成材料而言,亦考慮適用氧難以擴散的材料而非為Ag合金,使氧移動至接合界面本身無效化者。但是,完全不產生氧擴散的金屬材料之種類有限,此外,導電性及靭性優異,且對於接點材料及基底材料之雙方具有充分接合力者為少。相對於此,如本發明所示之消耗氧之由Ag合金所構成的阻障層係藉由在使用過程中使氧化物析出,而變化成接近接點材料的Ag氧化物合金。此意指在使用過程中,阻障層的耐摩耗性、耐熔接性提升,亦具有可作為接點材料磨耗時的備用來發揮作用的優點。
接著,成為阻障層的Ag合金較佳為在Ag添加0.03~20質量%的Sn、In、Cu、Ni、Fe、Co、W、Mo、Zn、Cd、Te、Bi的1種或2種以上的卑金屬元素而成的Ag合金。若該等卑金屬的添加量未達0.03%,會容許氧到達接合界面。又,若超出20質量%時,與基底材料的接合強度會變得不安定。其中,若有複數添加元素時,即為該等的總量。又,構成阻障層的Ag合金有時含有不可避免的雜質。
在此,構成阻障層的「Ag合金」係指包含Ag與添加元素(卑金屬)處於固溶狀態的固溶合金、與未完全固溶的添加元素處於部分析出的狀態的複合型合金的雙方。在任何形態下,均得因添加元素氧化,而發 揮作為阻障層的功能。
以構成阻障層的Ag合金的具體例而言,列舉在Ag添加0.5~20質量%的Cu而成的Ag合金(Ag-Cu合金)。Cu的添加量較佳為3.0~20質量%。此外,亦可適用在Ag-Cu合金添加0.03~1.0質量%的Ni而成的Ag合金。
又,關於構成阻障層的Ag合金,以添加Cu以外者而言,亦可適用在Ag添加0.5~20質量%的Sn、In、Zn、Cd的至少任一者而成的Ag合金。例如,以在Ag添加1.0~10質量%的Sn及0.5~10質量%的In而成的Ag合金(Ag-Sn-In合金)較為適合。接著,亦可適用:在Ag-Sn-In合金,將Ni、Te的至少任一者合計添加0.01~1.0質量%的Ag合金;及在Ag-Sn-In合金,合計添加0.01~1.0質量%的Fe、Co、Zn、Cu、Bi、Cd的至少任一者的Ag合金。
此外,除了上述以外,考慮到在Ag合計添加0.03~20質量%的Ni、Fe、Co、W、Mo的至少任一者的Ag合金亦為有用。該等添加元素由於相對Ag的固溶限度較低,因此成為部分添加元素單獨析出的複合型的Ag合金。此時,若將Ni作為添加元素時,以將Ni添加量的下限設為0.03質量%為佳。又,若將Fe、Co、W、Mo作為添加元素時,以將該等的合計添加量的下限設為0.05質量%為佳。
接著,阻障層的厚度較佳為形成為0.03mm~0.3mm。若未達0.03mm,捕捉阻障層的氧的作用不足而無法充分抑制接合界面的氧化物形成。關於阻障層的厚度的上限,並未特別限制,但是以考慮到接點的尺寸而形成為0.3mm左右為佳。
具備以上說明之阻障層的本發明之鉚釘形接點係在其他構成中,與習知之2層構造的鉚釘形接點為基本上相同。
形成頭部的上面的接點材料層係由Ag系接點材料所構成,具體而言,為純Ag或Ag合金(Ag-Ni合金、Ag-Cu合金等)。以Ag合金而言,亦可適用氧化物分散型的Ag氧化物合金(Ag-SnO2 系合金、Ag-SnO2 -In2 O3 系合金、Ag-ZnO系合金等)。其中,本發明係在適用Ag氧化物合金作為接點材料時尤其有用。如上所述,基於有氧由接點材料中的氧化物擴散之虞之故。又,與接點材料相接合且主要形成足部的基底材料係可適用Cu、Cu合金(Cu-Ni合金、Cu-Sn合金)。
其中,接點材料被接合在頭部的上面即可。接點材料的較佳厚度係可藉由接點的負荷(額定電流等)進行調整,關於低負荷者,若為0.1mm以上即可,但是關於斷路器等高負荷(額定電流50A以上)者,則必須為1~2mm左右。以本發明之具體態樣而言,除了僅將頭部的上面部分形成為接點材料者(第一(a)圖)以外,亦可將頭部全體形成為接點材料且以基底材料形成足部(第一(b)圖)。
另如第二圖所示,亦可一面以基底材料形成足部,一面形成比足部更為大徑的凸緣部作為足部形狀,另一方面,以接點材料形成頭部,以凸緣部的下端面相對於頭部的下端面成為大致平面的方式,形成為將足部埋接於頭部的形狀。此時凸緣部的最端部與足部起點之間的長度(l),相對於頭部的最端部與足部起點之間的長度(L),以形成為l<L(較佳為0.4L≦l≦0.6L)為佳。
又,阻障層的厚度較佳為均一,但是關於形狀,則不需要為完全的平面。亦即,亦可如第一(a)圖所示,沿著大致平坦的接合界面形成阻障層,亦可如第三圖所示,接合界面形成為圓弧形狀,沿著此形成阻障 層。此外,亦可為接合界面呈起伏的狀態。
為製造本發明之鉚釘形接點,為確保耐久性,必須在接點材料、成為阻障層的Ag合金、基底材料的各個被強固接合的狀態下,成形加工成具有頭部、及足部的鉚釘形接點。在此,以本發明之鉚釘形接點之製造方法而言,使由接點材料所構成之第一胚料、由Ag合金構所成之第二胚料、及由基底材料所構成之第三胚料對頂進行壓接來製造複合材,將具有凹狀空間的接合衝模、及具有筒狀空間的接合底模組合而形成鉚釘形狀的空間,將前述複合材由前述接合底模的下部壓入至前述接合衝模的空間,在前述接合衝模內的空間填充第一胚料,形成構成頭部的至少表層的接點材料層,並且在接合衝模內的剩餘空間填充第二胚料及第三胚料,使頭部的剩餘部分、阻障層、及足部形成。
在本發明之鉚釘形接點之製造方法中,首先,壓接由接點材料所構成之第一胚料、由Ag合金所構成之第二胚料、及由基底材料所構成之第三胚料而形成為複合材。該複合材之製造工序係用以製造本發明之鉚釘形接點為必須的工序。藉由強固接合第一胚料及第二胚料,在進行頭部形成工序之時,可使接合面追隨第一胚料的變形,使第二胚料及第三胚料亦變形。該壓接時的負載較佳為以0.8~3.0ton‧f的強力加工力進行加工。
將所製造的複合材,壓入至藉由接合衝模與接合底模的組合所形成的模具,藉此可形成為鉚釘形接點。在該成形工序中,被壓入至接合衝模的空間的第一胚料一面因接合衝模的壁面而變形一面成為頭部形狀,複合材的各接合面追隨該變形而形成頭部的剩餘部分與阻障層及足部。此時鉚釘形接點的形態係可利用第一胚料的體積與接合衝模內的空間 容積的關係進行調整,若小於第一胚料的體積與接合衝模內的空間容積時,形成如第一(a)圖所示之由接點材料的層、阻障層、與基底材料的3層所構成之頭部。又,若第一胚料的體積為接合衝模內的空間容積以上,由於沒有接合衝模內的剩餘空間,因此以接點材料形成頭部全體(第一(b)圖)。該複合材的壓入中的負載若為可將第一胚料進行變形及加工的負載即可,可按照第一胚料的接點材料的種類進行調整。
藉由以上複合材之製造及壓入所為之成形加工係可在常溫下進行。接著,關於形成有頭部與凸緣部的鉚釘形接點,亦可在頭部適當成型衝壓加工性。該成型工序係有用於必須針對頭部形狀及尺寸作嚴謹限制時。
如以上說明所示,本發明之鉚釘形接點係將組合Ag系的接點材料、與Cu等基底材料的2層構造者進行改良者,藉由阻障層的設定,抑制接點材料的剝離及脫落,耐久壽命優異。
第一圖係說明本發明之鉚釘形接點之構成之一例圖。
第二圖係說明本發明之鉚釘形接點之其他構成例圖。
第三圖係說明本發明之鉚釘形接點中的接合界面的狀態圖。
第四圖係說明本實施形態之鉚釘形接點之製造工序圖。
第五圖係實施例2、比較例1、習知例的加熱試驗後的接合界面的照片。
第六圖係實施例2、比較例1、習知例的耐久試驗的結果。
第七圖係說明習知之具有2層構造之鉚釘形接點之構成圖。
以下說明本發明之較適實施例。
[第一實施形態]
實施例1~實施例5 :製造出適用Ag氧化物合金作為接點材料,適用Cu作為基底材料,適用添加3.0~20質量%的Cu及0.5重量%的Ni的Ag-Cu合金作為阻障層的鉚釘形接點。第四圖係說明本實施形態之鉚釘形接點之製造工序者。首先,由Ag氧化物合金(Ag-SnO2 -In2 O3 合金:商品名SIE-29B)的線材切出第一胚料(尺寸:ψ 2.2mm、0.79mm),由Ag-Cu合金的線材切出第二胚料(尺寸:ψ 2.2mm、0.14mm),由Cu的線材切出第三胚料(尺寸:ψ 2.2mm、2.1mm)。
接著,如第四(A)圖所示,將第一胚料、第二胚料、第三胚料重疊插入在接合底模,將兩者壓接而形成為複合材。接合底模係具有超硬製的ψ 2.45mm的孔徑。接著,供該接合之用的負載係設為2.2ton‧f。其中,在本實施形態中,係將第一~第三胚料插入在接合底模來進行接合,但是此係除了可直接進行成型加工的方便性以外,針對橫向賦予適度的拘束,以使複合材不會過度變形之故。其中,插入各胚料的底模的孔徑係以適用相對於胚料的直徑為大0.05~0.25mm者為佳。
接著,如第四(B)圖所示,在接合底模之上安置接合衝模而將複合材加工成鉚釘形狀。接合衝模係超硬製,具有側面形成彎曲的圓盤形狀的空間(尺寸:上面ψ 2.4mm、下面ψ 2.8mm、高度1.1mm)。在該工序中,由接合底模下方,將複合材一口氣壓入接合衝模的空間,以將第一胚料部分設為頭部的上面,使第三胚料成為頭部下部及足部,以第二胚料 形成阻障層的方式使其變形。
作成藉由模具所為之鉚釘形接點後,如第四(C)圖所示,使接合衝模移動,以臼型成形模具,將頭部的上面進行衝壓而成型。藉由以上所製造的鉚釘形接點的尺寸係頭部為ψ 3.2mm厚度0.8mm、足部為ψ 2.45mm長度1.2mm。接著,頭部的接點層的厚度為0.45mm,阻障層的厚度為0.07μm。
比較例1~比較例3 :在此係製造出一面適用Ag氧化物合金(Ag-SnO2 -In2 O3 合金)作為接點材料,適用Cu作為基底材料,一面適用添加純Ag(比較例1)、0.3質量%(比較例2)、28質量%(比較例3)的Cu的Ag-Cu合金作為阻障層的鉚釘形接點。
習知例 :此外,一面適用Ag氧化物合金(Ag-SnO2 -In2 O3 合金)作為接點材料,適用Cu作為基底材料,一面製造出不具阻障層之習知之鉚釘形接點。在實施例1之製造工序中,未使用第二胚料(Ag-Cu合金),在同樣的工序將第一胚料及第二胚料相接合,與實施例1同樣地進行成形加工。接點層的厚度係形成為與實施例1相同。
關於以上所製造之實施例、比較例、習知例的鉚釘形接點,進行用以確認高溫氣體環境中有無接點材料剝離的加熱試驗。該加熱試驗係將各接點以600℃、700℃、750℃加熱3小時,之後,將鉚釘形接點的頭部進行橫向壓縮,觀察壓縮至頭部的直徑成為1/2為止時有無接合界面剝離。將該加熱試驗的結果顯示於表1。
表1顯示,具備具有適當組成範圍的Ag-Cu合金作為阻障層的實施例1~實施例5係即使接受600~750℃的加熱及壓縮,亦在接合界面未發現剝離。相對於此,不具阻障層的習知例係在600℃的加熱的階段,在接合界面產生剝離。又,若針對阻障層之構成來看,若觀看將純Ag形成為阻障層的比較例1,至600℃的加熱為止並未發生剝離,但是因700℃以上的加熱即發生剝離。此外,即使形成為Ag-Cu合金作為阻障層,亦因Cu添加量的過與不足,會因700℃以上的加熱而發生剝離(比較例2、比較例3),因此必須留意其組成範圍。
第五圖係針對實施例2、比較例1、習知例的各接點,加熱試 驗後的接合界面的觀察結果。屬於習知例之不具阻障層者係在600℃的加熱下產生明確的剝離。又,針對比較例1,以600℃加熱並未發現剝離,但是在基底材料(Cu)與阻障層(Ag)的界面發現氧化物(氧化Cu)的析出(黑色的部分)。接著,在加熱溫度為700℃以上的階段,氧化物的量增加,且發生剝離。相對於該等,在實施例2中,至700℃的加熱為止,並未發現明顯的變化,在750℃加熱中,在接點材料與阻障層的界面些微發生氧化Cu。但是,在阻障層與基底材料之間並未觀察到氧化物的生成,亦未發生剝離。接點材料與阻障層之間的氧化物係被認為作為阻障層的Ag-Cu合金的Cu因捕捉氧而生成者。由以上結果可確認阻止氧到達基底材料,可藉由由Ag合金所構成的阻障層來達成。
接著,針對各鉚釘形接點,評估其耐久性。耐久性評估係將鉚釘形接點作為固定接點而安裝在鉸鏈型交流通用繼電器,在通電負荷的狀態下反覆開閉動作,測定至故障發生為止的耐久壽命開閉次數。耐久評估試驗中的試驗條件係如以下所示。
‧試驗電壓:AC250V
‧試驗電流:10A
‧負荷:電阻負荷
‧開閉頻率:1秒ON/1秒OFF
上述耐久試驗係以複數繼電器試驗機進行,將在各繼電器發生故障的耐久壽命開閉次數標繪在Weibull機率紙上。將該結果顯示於第六圖。根據第六圖,各鉚釘形接點的特性壽命係在實施例2中為約26萬次,比較例1為約24萬次,習知例為約22萬次。因此,可確認本實施形態之鉚釘形 接點係耐久壽命優異者。
[第二實施形態]
在此係一面變更接點材料的種類、及成為阻障層的Ag合金的種類、厚度,一面確認其效果。基本的製造工序係與實施例1相同,由各種Ag合金一面調整厚度(長度)一面切出第二胚料而供作加工。接著,關於所製造的鉚釘形接點,與第一實施形態同樣地進行加熱試驗。加熱溫度係設為750℃。將該評估結果顯示於表2。
在各種阻障層進行加熱及壓縮試驗,但是由表2可知,並未發現接合界面剝離。又,即使變更接點材料,效果亦未改變。可知該阻障層對各種接點材料為有效。
【產業上可利用性】
本發明之鉚釘形接點係防止使用過程中的接點材料的剝離及脫落。本發明係在減低接點材料的使用量來抑制構件成本之習知之2層鉚釘形接點原本的特徵,附加耐久壽命的改善。本發明之鉚釘形接點係適於家電、產業機器等一般用途,有用於繼電器或開關、或住宅配線、產業機器配線遮斷器及電磁開閉器。

Claims (15)

  1. 一種鉚釘形接點,其係由頭部、及比前述頭部更為窄幅的足部所構成,其特徵為:前述頭部係由至少上面由Ag系接點材料所構成的接點材料層所構成,前述頭部的剩餘部分及前述足部由含有Cu或Cu合金的基底材料所構成,在前述接點材料層與前述基底材料的接合界面具備有由Ag合金所構成之阻障層,其中,構成阻障層的Ag合金係在Ag添加0.03~20質量%之Sn、In、Cu、Ni、Fe、Co、W、Mo、Zn、Cd、Te、Bi的1種或2種以上的卑金屬元素而成的Ag合金。
  2. 如申請專利範圍第1項之鉚釘形接點,其中,構成阻障層的Ag合金係在Ag添加0.5~20質量%的Cu而成的Ag合金。
  3. 如申請專利範圍第2項之鉚釘形接點,其中,構成阻障層的Ag合金係另外添加0.03~1.0質量%的Ni而成的Ag合金。
  4. 如申請專利範圍第1項之鉚釘形接點,其中,阻障層的厚度為0.03mm~0.3mm。
  5. 如申請專利範圍第2項之鉚釘形接點,其中,阻障層的厚度為0.03mm~0.3mm。
  6. 如申請專利範圍第3項之鉚釘形接點,其中,阻障層的厚度為0.03mm~0.3mm。
  7. 如申請專利範圍第1項之鉚釘形接點,其中,Ag系接點材料係純Ag、Ag合金、Ag氧化物合金。
  8. 如申請專利範圍第2項之鉚釘形接點,其中,Ag系接點材料係純Ag、Ag合金、Ag氧化物合金。
  9. 如申請專利範圍第3項之鉚釘形接點,其中,Ag系接點材料係純Ag、Ag合金、Ag氧化物合金。
  10. 如申請專利範圍第4項之鉚釘形接點,其中,Ag系接點材料係純Ag、Ag合金、Ag氧化物合金。
  11. 如申請專利範圍第5項之鉚釘形接點,其中,Ag系接點材料係純Ag、Ag合金、Ag氧化物合金。
  12. 如申請專利範圍第6項之鉚釘形接點,其中,Ag系接點材料係純Ag、Ag合金、Ag氧化物合金。
  13. 一種鉚釘形接點之製造方法,其係如申請專利範圍第1項至第12項中任一項之鉚釘形接點之製造方法,其特徵為:將由接點材料所構成之第一胚料、由Ag合金所構成之第二胚料、及由基底材料所構成之第三胚料對頂進行壓接來製造複合材,將具有凹狀空間的接合衝模、及具有筒狀空間的接合底模組合而形成鉚釘形狀的空間,將前述複合材由前述接合底模的下部壓入至前述接合衝模的空間,在前述接合衝模內的空間填充第一胚料,形成構成頭部的至少表層的接點材料層,並且在接合衝模內的剩餘空間填充第二胚料及第三胚料,使頭部的剩餘部分、阻障層、及足部形成。
  14. 如申請專利範圍第13項之鉚釘形接點之製造方法,其中,壓接第一胚料、第二胚料、第三胚料而形成為複合材的工序係藉由0.8~3.0ton‧f的負載所為之壓接。
  15. 如申請專利範圍第13項或第14項之鉚釘形接點之製造方法,其中,包含在形成頭部及足部後,將頭部的上面衝壓加工來進行成型的工序。
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