TWI475254B - 安裝準確度檢查方法以及使用此檢查方法之檢查裝置 - Google Patents

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TWI475254B TW100127509A TW100127509A TWI475254B TW I475254 B TWI475254 B TW I475254B TW 100127509 A TW100127509 A TW 100127509A TW 100127509 A TW100127509 A TW 100127509A TW I475254 B TWI475254 B TW I475254B
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Description

安裝準確度檢查方法以及使用此檢查方法之檢查裝置
本發明係有關於2010年8月25日所提出之日本專利申請No. 2010-188386，其所揭露者全體皆引用作為本說明書之內容。
本發明係有關於顯示立體(stereoscopic)影像之顯示裝置所使用之安裝準確度檢查方法，以及使用此檢查方法之檢查裝置。
利用右眼及左眼之間的視角差異取得影像之方法，可使觀看者感受到立體效果及深度。上述差異係為物體影像透過右眼及左眼觀看時彼此不同之雙眼視差(binocular parallax)。利用雙眼視差所發展出之顯示裝置，為觀看者之右眼及左眼呈現不同影像，從而使觀看者感受到立體效果。
於此一顯示裝置中，習知配置方式係提供一顯示面板，用以顯示關於右眼及左眼影像之像素，並利用像是柱狀透鏡(lenticular lens)或視差屏障(parallax barrier)之光學裝置來分開右眼及左眼所對應之影像。光學裝置並不限於靜態元件，例如固定鏡片。可以採用像是液晶鏡片及液晶屏障之電子光學元件來代替。習知配置方式亦採用像是背光裝置之光學裝置，針對右、左眼以時間分割之方式來分開光源所發射之光線。可依據觀看者之應用及使用環境，從兩視角到多視角中以不同方式來選擇視角之數量。兩視角具有提供立體效果之有限立體視野(stereoscopic visual field)。然而，兩視角之優點在於提供高三維(3D)解析度。另一方面，多視角雖具有較低之三維解析度，但其優點在於能夠提供運動視差(motion parallax)並擴大立體視野。
為了正確地分開觀看者右、左眼所對應之指定影像，來自於顯示面板之光學裝置位置偏差(positional deviation)量需夠小。換言之，關於顯示面板之光學裝置之安裝準確度(以下稱為顯示面板及光學裝置之間的相對位置準確度)很重要。顯示面板及光學裝置所在位置之偏差會引起逆視現象(reverse view phenomenon)，即取決於視角之右、左影像互換，以及右、左影像相混合之現象。在這些情況下，觀看者無法識別立體影像，或縮小了立體影像中可識別之區域。因此，在製造用來顯示影像並使觀看者感受到立體效果之顯示裝置時，管理顯示面板及光學裝置之間的相對位置準確度相當重要。
各種評估安裝準確度之方法係被提出用以解決上述問題。一般而言，習知之方法會使用長度測量顯微鏡等來讀取顯示面板及光學裝置之間的相對位置準確度，以及透過光學特性測量裝置，像是聚光干涉系統(conoscope system)及傅立葉(Fourier system)，用以偵測右、左眼之分光並取得立體影像中可識別之區域。
然而，這些評估方法需要許多準備時間並具有很多操作程序，且評估所需設備昂貴。因此，採用這些方法會有檢查成本增加之問題。
進一步，可使用一光學系統及比長度測量顯微鏡昂貴之一感測器來偵測顯示面板及光學裝置上所預先提供之標誌形狀及位置，從而偵測光學裝置及顯示面板之間的相對位置準確度。然而，依據此一方法，難以用相同焦距來拍攝顯示面板及光學裝置之標誌。除此之外，另一問題在於，隨著高畫質顯示面板增加之趨勢，並無法以所需準確度來偵測位置偏差。
因此，一種透過觀看指定測試樣式(prescribed test pattern)之方法係被提供來取得顯示面板及光學裝置之相對位置準確度，而不需使用昂貴設備。
舉例而言，日本早期公開專利No. 2007-65441揭露一種取得配置透鏡規格之方法，係應用於顯示裝置中，例如用來顯示一組平行線之檢查目標，於指定條件下透過一組柱狀透鏡陣列對所觀看之顏色線條進行配對，從而取得配置於具有立體觀感之顯示裝置螢幕上的柱狀透鏡陣列之配置方向。
第1圖係顯示揭露於日本早期公開專利No. 2007-65441中的顯示裝置所顯示之檢查影像範例示意圖。
如第1圖所示，於日本早期公開專利No. 2007-65441中所述之習知技術中，欲檢查之顯示裝置顯示一組平行線，係包括等距之平行線。於此，係將顯示螢幕左上角定義為O1 。將參考位置O1 之水平方向定義為xp 軸，且將垂直方向定義為yp 軸。將該組平行線中之每條線與yp 軸之夾角θ定義為“平行線夾角(line group angle)”。將相鄰平行線之間隔m定義為“平行線間隔(line group separation)”。離參考位置O1 最近的一條線於xp 軸上之所在位置，其與參考位置O1 間之距離dx係被定義為“水平參考位置(horizontal reference position)”。
調整該組平行線之夾角θ、平行線間隔m及水平參考位置dx，用以符合條件，舉例來講，使得透過柱狀透鏡陣列所觀看到的顏色線條之角度與柱狀透鏡陣列之配置角度彼此匹配，則可取得配置透鏡規格，諸如透鏡間距及柱狀透鏡陣列之配置角度，即使不知道柱狀透鏡之配置基本位置。
日本早期公開專利No. 2006-79097提供一種用來製造三維影像顯示裝置之方法，用以執行配置及定位(fixation)，當觀看所顯示之三維影像時，藉以消除影像面板與三維影像成像裝置(光學裝置)之間的位置偏差。
第2圖係顯示於日本早期公開專利No. 2006-79097中所說明之透鏡安裝準確度檢查示意圖。
如第2圖所示，從兩像素陣列發射之光束經由透鏡折射，使得來自於其中一像素陣列之光束到達右眼，而來自於另一像素陣列之光束到達左眼，兩眼之中心並無光束到達，且會有黑色條帶出現在三維影像之中心。當光學裝置(三維影像成像裝置)，如透鏡，與影像面板之兩像素陣列間為固定而無位置偏差時，於此情況下，假使觀看者係與影像面板中心相距指定觀看距離(或指定焦距)進行觀看，則黑色條帶會於垂直方向上出現在三維影像之中心。舉例來說，於日本早期公開專利No. 2006-79097中，係將三維影像成像裝置配置於影像面板上，因此黑色條帶會被設置於面板之中心。除此之外，於日本早期公開專利No. 2006-79097中，係將不同影像顯示於兩像素陣列上，透過此方式可將三維影像成像裝置設置於影像面板上而無位置偏差。
日本早期公開專利No. 2008-015394提供一種用來製造立體影像顯示裝置之方法，藉由對齊(alignment)原始影像之各種視角所合成之合成影像來形成影像，其中，包括合成影像之頂部及底部至少其中之一，以及，相較於觀看立體影像之位置，從較靠近合成影像之位置，透過用來提取指定視角影像之光學裝置，在觀看到用來對齊之影像資訊基礎上，使合成影像及光學裝置彼此對齊。
第3圖係顯示於日本早期公開專利No. 2008-015394中所說明之對齊示意圖。
於第3圖所示之方法中，係將用來對齊之影像設置於合成影像102之頂部及底部，其中，將三個視角之原始影像沿垂直方向劃分及設置。對應於不同視角之原始影像，用來對齊之影像具有不同顏色。
相較於立體影像之觀看角度位置，從較靠近合成影像之位置，當透過光學裝置來觀看用來對齊之影像時，會觀看到不同顏色之設置成為一線條樣式(striped pattern)。於日本早期公開專利No.2008-015394中，讀取該線條樣式之顏色及位置，進而確定被設置於能夠從前面視角觀看之視角影像。再者，設置於頂部及底部用來對齊之影像樣式彼此進行配對，從而取得各種視角影像所合成之合成影像與光學裝置之間的相對斜率(relative slope)。
日本早期公開專利No.2009-162620提供一種檢查裝置，用以檢查元件之相對位置偏差及三維影像再生裝置之部件準確度。
第4圖係顯示於日本早期公開專利No.2009-162620中所說明之檢查裝置配置方塊圖。
第4圖所示之檢查裝置係包括：具有光學元件，像是針孔陣列509(或柱狀透鏡板512)及孔縫(aperture slit)，與液晶顯示器501之三維影像再生裝置500；使三維影像再生裝置500顯示指定測試樣式之訊號處理裝置422；用來拍攝三維影像再生裝置500上所顯示測試樣式之拍攝光學系統412；以及用來分析所取得檢查影像之分析裝置413。
如第4圖所示，檢查裝置使液晶顯示器501，其像素係以二維方式配置，顯示測試樣式並以所需週期開啟該等像素，接著，檢查裝置拍攝測試樣式以作為檢查影像並分檢查影像，從而偵測三維影像再生裝置中元件之相對位置偏差。舉例而言，像素之間距與柱狀透鏡板512之間距大致相同，當位於柱狀透鏡板512凹處之像素被開啟時，測量能以各自透鏡來顯示之邊緣角度分布並作為影像寬度W。當柱狀透鏡板512及液晶顯示器501之間有相對位置偏差時，具有寬度W之影像會導致位置偏差。因此，於三維影像再生裝置中，透過判斷影像之位置偏差量是否在一指定參考值之內，可偵測到元件各自之相對位置偏差量。
日本早期公開專利No. 2009-223193提供一種用來製造三維影像顯示裝置之方法，藉由拍攝顯示面板及柱狀透鏡之位置偵測標誌，用以從所取得之影像中，偵測出顯示面板及柱狀透鏡之相對位置。
第5圖係顯示於日本早期公開專利No. 2009-223193中，所取得之影像範例平面圖。
於日本早期公開專利No. 2009-223193中，係將位置偵測標誌M1，例如：對齊標誌，提供至顯示面板之周圍區域，用以圍出一顯示區域，並將拍攝區域設置於包括位置偵測標誌M1及柱狀透鏡124a邊緣之區域R1中。第5圖係顯示此時所取得之影像G1。於日本早期公開專利No. 2009-223193所述之習知技術中，從所取得之影像G1中偵測柱狀透鏡124a之凹處b1，於x軸上計算出位置偵測標誌M1與凹處b1間的偏差量a1，從而偵測出顯示面板及柱狀透鏡之相對位置。
日本早期公開專利No. 2010-019987提供一種用來檢查三維影像顯示裝置之檢查裝置，其中，當顯示面板與柱狀透鏡彼此為固定時，則使用影像來檢查。
第6圖係顯示於日本早期公開專利No. 2010-019987中，用來檢查之影像範例平面圖。
於日本早期公開專利No. 2010-019987中，對於柱狀透鏡之每一透鏡間距P而言，開啟一條線中被配置於透鏡間距P中心之像素，而與像素陣列正交之一條線上具有兩位置偵測標誌M1及M2之影像則為用來檢查之影像G1。將用來檢查之影像G1顯示於顯示裝置上，拍攝欲檢查之區域(例如：3x3=9個點)，由各自取得之影像獲得亮度分布(luminance distributions)，從而偵測出水平方向之偏差量。
日本早期公開專利No. 2009-300816提供一種製造方法及製造裝置，用以正確地對齊顯示裝置之顯示面板，其中，顯示裝置於觀看區域中利用光行進控制器(light travel controller)來提供各種影像。
第7圖係顯示於日本早期公開專利No. 2009-300816中所說明之製造裝置示意圖。
如第7圖所示，製造裝置係包括：用以於八個觀看區域Ob中顯示不同影像之顯示裝置、及配置於指定觀看區域Ob之相機240a與240b。於日本早期公開專利No. 2009-300816中，係以第7圖所示之方式配置顯示裝置及相機240a與240b，並將光行進控制器對齊顯示面板，用以減少由配置於指定觀看區域之相機240a與240b所實際拍攝影像與該等相機欲拍攝影像之間的差異，進而於實際觀看者欲觀看時產生接近最佳影像之影像。
然而，前述習知技術具有如下所述之問題。
日本早期公開專利No. 2007-65441中所述之習知技術中，僅說明取得配置透鏡規格之方法。當調整該組平行線之夾角、調整間隔、以及調整水平參考位置時，此習知技術無法防止逆視現象，即取決於各自視角之右、左影像互換。除此之外，由於需要該組平行線之繪製流程及用來進行調整之控制器，因此增加檢查裝置之成本，亦增加操作時間。
於日本早期公開專利No. 2006-79097所述之習知技術中，係將形成於右、左眼影像視窗之間的黑色條帶調整至指定位置。舉例來講，調整黑色條帶使其被設置於面板之中心。然而，當三維影像成像裝置(光學裝置)朝影像面板偏斜時，即使黑色條帶之位置被設置於面板之中心，亦會被判斷為沒有位置偏差。換句話說，日本早期公開專利No. 2006-79097所述之習知技術並無法偵測出影像面板與三維影像成像裝置(光學裝置)之間的相對斜率。除此之外，日本早期公開專利No. 2006-79097所述之習知技術需要至少三個視角，當檢查具有奇數視角之影像面板時，影像在顯示中心左右兩側對稱性方面之不同並無法被顯示出來。因此，此習知技術會有無法檢查上述影像面板之問題。
根據日本早期公開專利No. 2008-015394所述之習知技術，用來配置對齊影像之合成影像的頂部及底部位於顯示區域外。當合成影像所形成之立體觀感異常時，該習知技術無法執行檢查。另一問題在於，在同一時間，只能利用線條之顏色及配置來檢查一個視角的對齊影像及柱狀透鏡之間的相對位置。且另一問題在於，對齊影像之設置處另外需要一個剪裁(cutting)流程。這會增加製造成本及製造時間。
根據日本早期公開專利No. 2009-162620所述之習知技術，當視角數量為二，並利用測試樣式開啟設置於透鏡間距凹處之該行(column)時，會開啟顯示面板之整個螢幕。因此，會有無法讀取顯示面板與光學裝置之相對位置偏差及無法執行檢查之問題。
日本早期公開專利No. 2009-223193所述之習知技術讀取顯示面板及柱狀透鏡之位置偵測標誌的實際位置(physical position)，並偵測位置準確度。因此，為取得所需之準確度，需要高性能之拍攝裝置。除此之外，難以用相同焦距來拍攝顯示面板及柱狀透鏡。因此，問題即在於需要一定的檢查時間及昂貴的裝置。進一步，僅能取得標誌上或周圍之區域資訊。因此，難以取得整個螢幕之資訊。舉例來說，當位於非拍攝部分之柱狀透鏡具有平均失真時，便不容易偵測。
日本早期公開專利No. 2010-019987所述之習知技術為一種檢查每一透鏡間距P之方法。需要檢查區域以取得整個螢幕之資訊。進一步，問題在於需要一定的檢查時間來計算每一檢查區域所取得影像之亮度分布。
於日本早期公開專利No. 2009-300816所述之習知技術中，係根據各自觀看區域所對應之影像，將光行進控制器對齊顯示面板。因此，此習知技術需要用來拍攝至少兩個觀看區域影像之相機，或者可在同一時間拍攝該等觀看區域影像之特殊相機。這會增加裝置之製造成本。
因此，本發明係提供一種安裝準確度檢查方法，能夠以低成本快速地偵測出顯示面板及光學裝置之間的相對位置準確度，以及使用此檢查方法之檢查裝置。
根據本發明之示範性實施例所提供之一種安裝準確度檢查方法，係用以檢查顯示面板及光學裝置之間的位置準確度，其中，顯示面板配置有像素組，光學裝置從該等像素組之N個視角(N為大於1之自然數)提供影像顯示，且顯示面板及光學裝置均包含於顯示裝置中，該方法包括：顯示步驟，顯示測試樣式於顯示裝置上，其中，測試樣式具有對應於各自視角之相異影像信號；以及取得步驟，將顯示於顯示裝置上之測試樣式作為檢查影像，並從檢查影像取得該等視角之間的邊界線段之斜率及位置。
根據本發明之示範性實施例所提供之另一種安裝準確度檢查方法，係用以檢查顯示面板及光學裝置之間的位置準確度，其中，顯示面板配置有像素組，光學裝置從該等像素組之N個視角(N為大於1之自然數)提供影像顯示，且顯示面板及光學裝置均包含於顯示裝置中，該方法包括：顯示步驟，顯示測試樣式於顯示裝置上，其中，測試樣式具有對應於各自視角之相異影像信號；拍攝步驟，透過拍攝裝置對一指定距離處之顯示進行拍攝，並取得檢查影像；以及取得步驟，從檢查影像取得該等視角之間的邊界線段之斜率及位置。
根據本發明之示範性實施例所提供之一種檢查裝置，係用以檢查顯示面板及光學裝置之間的位置準確度，其中，顯示面板配置有像素組，光學裝置從該等像素組之N個視角(N為大於1之自然數)提供影像顯示，且顯示面板及光學裝置均包含於顯示裝置中，該檢查裝置包括：影像輸出裝置，用以輸出測試樣式至顯示裝置上，其中，測試樣式具有對應於各自視角之相異影像信號；以及取得裝置，用以從顯示於顯示裝置上之檢查影像取得邊界線段之斜率及位置，其中，檢查裝置根據取得裝置所取得之斜率及位置，用以偵測顯示面板及光學裝置之間的位置準確度。
根據本發明之示範性實施例所提供之另一種檢查裝置，係用以檢查顯示面板及光學裝置之間的位置準確度，其中，顯示面板配置有像素組，光學裝置從該等像素組之N個視角(N為大於1之自然數)提供影像顯示，且顯示面板及光學裝置均包含於顯示裝置中，該檢查裝置包括：一影像輸出裝置，用以輸出一測試樣式至該顯示裝置上，其中，該測試樣式具有對應於各自視角之相異影像信號；一拍攝裝置，當該測試樣式被顯示時，用以拍攝所出現之邊界線段；以及一取得裝置，用以從該拍攝裝置所拍攝之一檢查影像取得一邊界線段之斜率及位置，其中，該檢查裝置根據該取得裝置所取得之斜率及位置，用以偵測該顯示面板及該光學裝置之間的位置準確度。
下文係配合所附圖式說明本發明。
(第一示範性實施例)
於下文所說明之本發明示範性實施例中，係提供一種檢查顯示面板及光學裝置之間的相對位置準確度之方法(安裝準確度檢查方法)。需注意係以相同符號表示相同之元件，並省略重複之說明。
第8圖係顯示第一示範性實施例之檢查方法所使用之顯示裝置及拍攝裝置配置範例示意圖。
如第8圖所示，顯示裝置1包括：配置有像素組(pixel groups)之顯示面板2及用以從該等像素組形成至少兩視角影像之光學裝置3。適當地配置顯示面板2及光學裝置3之間隔(separation)，用以形成視角影像。將拍攝裝置5配置於一位置，用以拍攝顯示裝置1之顯示螢幕。於此示範性實施例中，拍攝裝置5拍攝顯示於顯示裝置1之一指定測試樣式，並根據拍攝裝置5所拍攝到的檢查影像來偵測顯示裝置1之顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。
於顯示面板2上，係將用來顯示第一視角影像之第一視角像素41及用來顯示第二視角影像之第二視角像素42沿著第一方向8間隔配置。第8圖係顯示觀看者左眼之位置43及右眼之位置44。
舉例而言，於此示範性實施例中，係將所採用之柱狀透鏡作為光學裝置3。柱狀透鏡之配置方式在於，與顯示面板2相對的柱狀透鏡之一表面係為一平面，並將圓柱透鏡(cylindrical lens)31，或半圓柱透鏡(half-cylindrical lens)元件配置於另一表面。
顯示面板2及柱狀透鏡彼此固定接合在一位置上，其中，包括第一視角像素41及第二視角像素42之一對像素組對應於一組圓柱透鏡31。值得一提的是，如第8圖所示，儘管柱狀透鏡之透鏡表面側(半圓柱側)為一顯示螢幕，柱狀透鏡之平面側亦可為顯示螢幕。
於此規格中，係將包含下述xyz軸之卡氏座標(Cartesian coordinates)設置於包含顯示裝置1及拍攝裝置5之空間中。
如前所述，第一視角像素41及第二視角像素42之配置所沿方向，或第一方向8，係為x軸。圖示中箭頭所指之方向為正方向。與第一方向8正交之第二方向9為y軸。圖示中箭頭所指之方向為正方向。除此之外，與第一方向8及第二方向9均正交之第三方向10為z軸。圖示中箭頭所指之方向為正方向。於此情況下，+z方向為從顯示面板2到觀看者之方向。觀看者從顯示裝置1之+z側來觀看顯示螢幕。
於此顯示面板2中，係將圓柱透鏡31配置於x軸方向上。因此，於x軸方向上，分開且獨立顯示左眼影像及右眼影像。包含第一視角像素41及第二視角像素42之每一像素組於y軸方向上係為窄長形。於x軸方向上，像素組之配置週期與圓柱透鏡之配置週期大致相同。因此，圓柱透鏡31係被配置以對應於各自之像素組。將柱狀透鏡固定於顯示面板2上，使得柱狀透鏡之中心對齊顯示面板2之中心。
依據此一配置，第一視角像素41所發射之光線經由柱狀透鏡折射，並到達第一視角位置43。同樣地，第二視角像素42所發射之光線經由柱狀透鏡折射，並到達第二視角位置44。因此，舉例來講，將其左、右眼分別設置於第一及第二視角之觀看者能夠觀看到具有立體效果且令人滿意之立體影像。
用來進行影像處理之透鏡系統、一般攝影機、數位相機等可用以作為拍攝裝置5。相對於顯示裝置1，其焦距接近於顯示面板2之顯示螢幕，係將拍攝裝置5固定於+z方向之一位置。將拍攝裝置5之拍攝中心51對齊顯示裝置1之中心11。理想而言，係將拍攝中心51設置於第一視角位置43及第二視角位置44之間。
第9A及9B圖係顯示第一示範性實施例之檢查原理示意圖。第9A圖係說明顯示裝置上所顯示之一測試樣式範例示意圖。第9B圖係說明從拍攝裝置取得之檢查影像範例示意圖。
如第9A圖所示，舉例來說，測試樣式7包括提供至第一視角之第一樣式7A及提供至第二視角之第二樣式7B。
於第一樣式7A及第二樣式7B中，將每一樣式整個設成指定顏色或色階值(gradation value)，且第一及第二樣式7A及7B彼此之顏色或色階值不相同。舉例而言，第一樣式7A為純白色且其色階值為最大值，而第二樣式7B為純黑色且其色階值為最小值。也可設成不同顏色，使得第一樣式7A為純紅色且第二樣式7B為純藍色。
於第9A圖中，兩樣式以橫向(lateral)相鄰方式顯示，但測試樣式7並不限定於此形式。亦可採用將兩相鄰樣式顯示於上下(top-and-bottom)方向之形式。當至少有三個視角時，對應於視角數量，彼此相鄰樣式可以橫向或上下方向之方式顯示。可採用將第一及第二樣式7A及7B各自分開之形式。換句話說，可依據顯示裝置1採用各種形式。
於第9B圖之顯示影像中，當將第9A圖所示之測試樣式7顯示於顯示裝置1時，於顯示面板2及光學裝置3之間會產生相對斜率或水平位置偏差。換言之，於此一情況下，第9B圖係顯示拍攝裝置5所取得之影像(檢查影像73)範例。
上所述，測試樣式7之第一及第二樣式7A及7B具有不同顏色或色階值。因此，於檢查影像73中，第一及第二影像區域75及76係分別對應於第一及第二樣式7A及7B。係以邊界線段74表示兩者之邊界。依據顯示面板2及光學裝置3之間的位置偏差量，邊界線段74之中心從檢查影像中心71移動了△x。當顯示面板2及光學裝置3之間無位置偏差時，則平分來自於第一視角像素之光與來自於第二視角像素之光。因此，第一及第二影像區域75及76之間的邊界線段74之位置△x為0。然而，相對於顯示面板2，當光學裝置3具有位置偏差時，則來自於第一視角像素之光與來自於第二視角像素之光會依據位置偏差量被分至第一及第二影像區域75及76。如此一來，所示之邊界線段74會從檢查影像中心71偏離至位置△x。
當光學裝置3為固定且顯示面板2偏斜時，會產生旋轉偏差之情況，則來自於第一視角像素之光與來自於第二視角像素之光會依據旋轉偏差被分至第一及第二影像區域75及76，且相對於檢查影像73之垂直側，進而產生具有斜率之邊界線段74。換句話說，於第9B圖所示之檢查影像73中，依據顯示面板2及光學裝置3之間的位置關係，邊界線段74係具有斜率θ及位置(偏差)△x。
可透過顯示裝置1上所顯示之測試樣式7來偵測顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度，利用拍攝裝置5來拍攝顯示裝置1之顯示螢幕，並從取自於拍攝裝置5之檢查影像73偵測出邊界線段74之斜率θ及位置△x。
此示範性實施例係說明具有兩視角像素之顯示裝置1之範例。當顯示裝置1具有多視角像素時，可配置柱狀透鏡3之圓柱透鏡31，用以支援各自的像素組，其包括第一至第N(N為大於1之自然數)視角像素41。當顯示裝置1具有多視角像素時，欲偵測之邊界線段視N為奇數或偶數而有所不同。此點將配合第10與11圖說明如下。
第10圖係顯示當顯示裝置具有N個視角像素且N為偶數(N=4)時，所取得之檢查影像範例示意圖。
第10A圖係顯示檢查影像73之範例，其中，係將測試樣式7之第一樣式(此處為純白色)顯示於奇數視角像素上，即第一至第(N-1)視角，並將顏色或色階值相異於第一樣式之第二樣式(此處為純黑色)顯示於偶數視角像素上，即第二至第N視角。
第10A圖所示之檢查影像73包括：用來將第一視角像素所對應之第一樣式顯示於其上之第一影像區域81、用來將第二視角像素所對應之第二樣式顯示於其上之第二影像區域82、用來將第三視角像素所對應之第一樣式顯示於其上之第三影像區域83、及用來將第四視角像素所對應之第二樣式顯示於其上之第四影像區域84。
如上所述，奇數視角像素及偶數視角像素所顯示之顏色或色階值彼此不同。因此，於第10A圖所示之檢查影像73中，該等視角像素間係以邊界線段表示之。
於此情況下，透過偵測邊界線段87之斜率θ及位置△x，用以取得顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度，其中，係將檢查影像73中心附近之邊界線段87作為邊界線段的代表值。第10A圖係顯示利用兩個樣式來產生邊界線段87之範例。最多亦可將顏色或色階值相異之N個樣式顯示於第一至第N視角像素上。換言之，只有在欲將顏色或色階值相異之樣式顯示於相鄰之視角像素上的情況下，任何類型之影像可用以作為測試樣式。
第10B圖係顯示檢查影像73之一範例，其中，係將顯示於第一至第(N/2)視角像素上之第一樣式(此處為純白色)作為第一組視角，並將顯示於第(N/2+1)至第N視角像素上之第二樣式(此處為純黑色)作為第二組視角。
依據此測試樣式，於第10B圖所示之檢查影像73中，第一影像區域85之第一樣式對應於第一組視角，而第二影像區域86之第二樣式對應於第二組視角。於此情況下，影像區域之間的邊界線段87之斜率θ及位置△x可被偵測出來。
使用此測試樣式讓邊界線段之斜率θ及位置△x易於被取得，甚至包括多視角像素之配置。利用第9B圖所示之檢查影像73，便可取得邊界線段87。因此，其優點在於，可使用來偵測邊界線段87之斜率θ及位置△x之演算法一致。
第11圖係顯示當顯示裝置具有N個視角像素且N為奇數(N=5)時，所取得之檢查影像範例示意圖。
第11A圖係顯示檢查影像73之範例，其中，係將測試樣式7之第一樣式(此處為純黑色)顯示於奇數視角像素上，即第一至第N視角，並將第二樣式(此處為純白色)顯示於偶數視角像素上，即第二至第(N-1)視角。
第11A圖所示之檢查影像73包括：用來將第一視角像素所對應之第一樣式顯示於其上之第一影像區域91、用來將第二視角像素所對應之第二樣式顯示於其上之第二影像區域92、用來將第三視角像素所對應之第一樣式顯示於其上之第三影像區域93、用來將第四視角像素所對應之第二樣式顯示於其上之第四影像區域94、及用來將第五視角像素所對應之第一樣式顯示於其上之第五影像區域95。
如上所述，就欲顯示樣式之顏色或色階值而言，奇數視角像素及偶數視角像素是不同的。因此，於第11A圖所示之檢查影像73中，該等視角像素間係以邊界線段表示之。
於此情況下，可將接近檢查影像73中心之邊界線段88及89作為邊界線段的代表值，偵測邊界線段88及89之斜率θ及位置△x，用以計算其平均值。第11A圖係顯示利用兩個樣式來產生邊界線段之範例。最多亦可將顏色或色階值相異之N個樣式顯示於第一至第N視角像素上。換句話說，只有在欲將顏色或色階值相異之樣式顯示於相鄰之視角像素上的情況下，任何類型之影像可用以作為測試樣式。值得一提的是，當N為奇數時，△x=0不成立。第11B圖係顯示檢查影像73，其中，係將顯示於第((N+1)/2)視角像素上之第一樣式(此處為純黑色)作為第一組視角，並將顯示於其他視角像素上之第二樣式(此處為純白色)作為第二組視角。
依據此測試樣式，於第11B圖所示之檢查影像73中，第一及第三影像區域96及98中所顯示之第一樣式對應於第一組視角，而第二影像區域97中所顯示之第二樣式對應於第二組視角。於此情況下，影像區域之間的邊界線段88及89之斜率θ及位置△x可被偵測出來，且可計算出其平均值。
使用此測試樣式讓邊界線段之斜率θ及位置△x易於被取得，即使在顯示裝置1具有多視角像素之情況下。值得一提的是，當N為奇數時，△x=0不成立。
此處，第12圖係顯示用以作為顯示裝置1，並具有兩視角像素之穿透型(transmission)液晶顯示面板之一範例。
第12圖係顯示具有兩視角像素之顯示裝置之配置範例截面圖。
於第12圖所示之顯示裝置1中，顯示面板2之配置包括：背光板(backlight)28、第一光薄膜(optical film)27、第一基板26、液晶層25、第二基板24及第二光薄膜(optical film)23。
係將具有切換元件，像是薄膜電晶體(Thin-Film Transistor；TFT)之像素配置於第一基板26中，並選擇性地將第一視角像素41及第二視角像素42配置於x方向8上。第二基板24具有以條紋方式配置之紅(R)、綠(G)及藍(B)彩色濾光片(color filter)。
第一及第二光薄膜27及23為偏光板(polarizing plate)或補償板(compensating plate)。將第一光薄膜27固定於第一基板26上。將第二光薄膜23固定於第二基板24上。
除了液晶顯示元件之外，顯示面板2可採用任何類型之顯示元件，例如：有機EL、無機EL、電漿顯示面板、場效發射元件及陰極射線管(CRT)。使用薄膜電晶體等之主動陣列系統或被動陣列系統可用以驅動顯示面板2。
可將前述之柱狀透鏡3作為光學裝置3。透過黏貼層(adhesive layer)22將光學裝置3固定於顯示面板2，使得設置之圓柱透鏡31能夠支援第一視角像素41及第二視角像素42。
光學裝置3並不限定於柱狀透鏡3。亦可採用任何分光之光學元件，例如：複眼透鏡(fry eye lens)、視差屏障(parallax barrier)及稜鏡片(prism sheet)，作為光學裝置3。進一步，使用液晶之梯度折射率(Gradient Index；GRIN)透鏡、包括凸凹(convex and concase)基板且具有透鏡效果及液晶分子之液晶透鏡、使用液晶之切換式視差屏障皆可用以作為光學裝置3。
當採用類透鏡元件作為光學裝置3時，係將光學裝置3設置於顯示面板2之顯示螢幕側(+z方向)。當採用類屏障元件作為光學裝置3時，可將光學裝置3設置於顯示面板2之顯示螢幕側(+z方向)或後側(-z方向)。進一步，具有光學元件之光薄膜等，係以分時(time division)方式將來自於右、左眼之背光進行分光，並可用以作為光學裝置3。於此情況下，可將光薄膜設置於顯示面板2之後側(-z方向)。即使這些元件被用以作為光學裝置3，透過偵測前述檢查影像73中邊界線段之斜率θ及位置△x，可取得顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。
上文係說明於第一及第二樣式7A及7B中，將整個區域設定為相同顏色或色階值之範例。舉例來講，於所需方向顏色或色階值可變之梯度樣式亦可用以作為第一及第二樣式7A及7B。樣式中可採用各種影像，包括相異之影像。任何影像，據其邊界線段74能夠由檢查影像73被取出，則可用以作為測試樣式7。
如上所述，根據第一示範性實施例，透過偵測檢查影像73中邊界線段之斜率θ及位置△x，可取得顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。一般攝影機、數位相機等可用以作為拍攝裝置5。不一定要採用相機或特殊相機。因此，不會增加檢查裝置之成本。除此之外，不需複雜的處理便能夠容易地取得邊界線段74之斜率θ及位置△x。因此，能快速(於短處理時間內)地偵測出顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。因此，能夠以低成本快速地偵測出顯示面板及光學裝置之間的相對位置準確度。
下文係配合所附圖式說明第一示範性實施例。於下述之第一至第三範例中，範例所述之顯示裝置1係包括兩視角像素。然而，這些範例適用於具有至少三個視角之配置。
(第一範例)
第13圖係顯示第一範例之檢查方法所取得之檢查影像示意圖。第14圖係顯示依據第13圖所示之檢查影像用以取出邊界線段之斜率θ及位置△x之處理程序流程圖。
第13圖係顯示拍攝裝置5所取得之檢查影像73，其中，係將純白色之第一樣式顯示於第一視角像素上，將純黑色之第二樣式顯示於第二視角像素上，並從檢查影像73來計算邊界線段74之斜率θ及位置△x，經由此一流程產生各種類型之資料。值得一提的是，於檢查影像73中，關於第一及第二影像區域75及76之亮度強度，其滿足第一影像區域75大於第二影像區域76之關係。
於第13圖所示之檢查影像73中，係將影像左上角視為基點(base point)72，並將x-y座標系統應用於其中，因此檢查影像73之每一位置可以座標(x,y)表示之。此處，將檢查影像中心71定義為(x. center,y. center)，將離基點72最遠之影像右下角座標定義為(x. max,y. max)。基點72之座標為(0,0)。
顯示裝置1包括影像記憶體(未圖示)，係將對應於座標位置之亮度值LY(x,y)儲存作為檢查影像73之影像資料。第13圖所示之LY. top表示LY(x,0)之亮度分布，其中x=0至x. max，而LY. bottom表示LY(x,y. max)之亮度分布，其中x=0至x. max。於第13圖中，係將LY. top位移點(displacement point)之x座標值定義為x. top，並係將LY. bottom位移點之x座標值定義為x. bottom。
接著，取得邊界線段74之斜率θ及位置△x之程序將配合第14圖說明如下。
於第14圖所示之取得邊界線段74之斜率θ及位置△x之流程中，首先，將測試樣式7顯示於顯示裝置1上(步驟S1000)，透過拍攝裝置5於顯示裝置1之顯示螢幕上產生影像，並由拍攝裝置5取得包括邊界線段74之檢查影像73之影像資料(步驟S1010)。
其次，於檢查影像73之影像資料中，從x=0至x.max之區域(x方向之搜尋)上搜尋LY(x,0)之亮度值，用以確定LY.top之位移點x.top。於x方向搜尋LY.top之流程中，依序將“0”、“0”、“x.max”、“1”及“1”之值代入第一至第五參數。於x方向搜尋LY.top之流程將配合第15圖說明如下。
如第15圖所示，於x方向搜尋LY.top之流程中，係將“pos”、“start”、“end”、“step”及“target”之參數名稱指定至第一至第五參數。當參數名稱之完成指定後，“start”值表示於計數器i中所設定之搜尋起始座標，用以計數搜尋範圍(步驟S2000)。
接下來，比較計數器i之值及用來表示搜尋結束座標之“end”值(步驟S2010)。當計數器i之值至少為“end”值時，表示搜尋結果失敗，將“error”代入返回值Result，且完成x方向之搜尋流程。
當計數器i之值少於“end”值時，流程進入步驟S2020，並繼續x方向之搜尋流程。
於步驟S2020中，“end”值表示欲加入計數器i之值之一搜尋間隔(search interval)。比較LY(i,pos)及LY(i-step,pos)，用以識別LY.top之位移點(步驟S2030)。當兩者匹配時，流程返回至步驟S2010，並繼續搜尋。
當LY(i,pos)及LY(i-step,pos)彼此不匹配時，表示於x方向偵測到LY.top之位移點，而流程進入步驟S2040。
於步驟S2040中，將“1”加入計數器“cnt”之值，用以計數位移點。比較計數器“cnt”之值及用來表示位移點數量之“target”值，用以識別位移點(步驟S2050)。當兩者不匹配時，流程返回至步驟S2010，並繼續x方向之搜尋流程。當“cnt”及“target”之值彼此匹配時，表示已偵測出位移點之指定數量，將計數器i之值代入返回值Result，且完成x方向之搜尋流程。
舉例來說，如第9B及10B圖所示，當檢查影像73僅包括一邊界線段時，可將“target”設為target=1。如第10A圖所示，當取自顯示裝置之檢查影像73具N(偶數)個視角時，則可設定target=N/2。如第11B圖所示，當取自顯示裝置之檢查影像73具N(奇數)個視角時，則可設定target=1及target=2。如第11A圖所示，當取自顯示裝置之檢查影像73具N(奇數)個視角時，則可設定target=(N-1)/2及target=(N+1)/2。
如第14圖所示，於步驟S1040之流程中，完成x方向之搜尋流程後，將返回值Result代入x.top，因此確定LY.top之位移點之x座標值x.top。
當LY.top之位移點之x座標值x.top未定時，意即無法從檢查影像73偵測出LY.top之位移點，因此，於步驟S1041中，返回值Result為error，且流程異常終止。於步驟S1041中，當返回值Result不為error時，流程進入步驟S1050，並接著從x=0至x.max搜尋LY(x,y.max)之亮度值，用以確定LY.bottom之位移點x.bottom。
於x方向搜尋LY.bottom之流程中，依序將“y.max”、“x.max”、“0”、“1”及“1”之值代入第一至第五參數。執行如步驟S1040之流程，進而將已代入搜尋結果之返回值Result代入x.bottom。因此，確定了LY.bottom之位移點之x座標值x.bottom。
當LY.bottom之位移點之x座標值x.bottom未定時，意即無法從檢查影像73偵測出LY.bottom之位移點，因此，於步驟S1051中，返回值Result為error，且流程異常終止。於步驟S1051中，當返回值Result不為error時，流程進入步驟S1060，並使用步驟S1040之流程所確定之x.top與步驟S1050之流程所確定之x.bottom，用以計算邊界線段74之斜率θ及位置△x。
可依據△x=(x.top+x.bottom)/2-x.center來計算邊界線段74之位置△x。可依據θ=arctan(y.max/(x.top-x.bottom))*180/π來計算邊界線段74之斜率θ。
如上所述，當邊界線段74之位置△x為+(正)時， 邊界線段74位於檢查影像中心71右側，即+x方向。當邊界線段74之位置△x為-(負)時，邊界線段74位於檢查影像中心71左側，即-x方向。
當邊界線段74之斜率θ為+(正)時，邊界線段74於包括檢查影像中心71之y軸方向上朝順時針方向偏斜。當邊界線段74之斜率θ為-(負)時，則邊界線段74朝逆時針方向偏斜。換言之，相對於顯示面板2，可由邊界線段74之位置△x及斜率θ之記號(+或-)偵測出光學裝置3之位置偏差方向及旋轉方向。
邊界線段74之位置△x及斜率θ值，係取決於光電轉換元件(photoelectric conversion element)，例如：用以作為拍攝裝置5之電荷耦合裝置(Charged Coupled Device；CCD)，之解析度、拍攝鏡頭之倍率、顯示檢查影像73時之顯示解析度、以及觀看角度等。換句話說，即使使用邊界線段74之位置△x及斜率θ值，仍無法取得顯示裝置1之顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。因此，係依據下述方法使用邊界線段74之位置△x及斜率θ值，藉以取得顯示裝置1之顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。
舉例而言，於一方法中，係預先準備具有不同位置準確度之顯示裝置1、取得各自之檢查影像、偵測△x、並取得每一顯示裝置1之顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度與△x之間的關係。如上所述，第16A圖係顯示位置△x與實際取得之位置準確度之間的關係。
第16A及16B圖係說明由邊界線段之位置△x及斜率θ取得顯示面板及光學裝置之間的相對位置準確度之方式。
如第16A圖所示，可將位置△x與實際之位置準確度大致表示為線性函數。因此，舉例來講，從欲檢查之顯示裝置1之檢查影像73計算位置△x1，並將△x1與第16B圖所示之一指定係數相乘，藉以取得欲檢查之顯示裝置1之顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。
於另一方法中，係預先準備具有不同位置準確度之顯示裝置1、取得各自之檢查影像、偵測△x(舉例來說，於第10A圖所示之影像中，使用影像82及83來取得位置△x與x方向上影像寬度的比率)、將x方向之像素間隔(pitch)與圓柱透鏡所對應之四個像素之間的比率相乘，從而計算出實際位置準確度之對應數量。可使用任一上述之方法來取得顯示面板2及光學裝置3兩者之間於x方向之相對位置準確度。
同樣地，就邊界線段74之斜率θ而言，可將x.top及x.bottom之值與一指定係數相乘，藉以取得光學裝置3與顯示面板2之間的實際斜率θ。因此，可根據邊界線段74之位置△x及斜率θ值，用以偵測出顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。
第一範例所述之方法係定量計算邊界線段74之位置△x及斜率θ，並藉由位置△x及斜率θ值來取得顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。然而，可透過目視檢查來確定顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。舉例而言，比較邊界線段74兩側相鄰之第一及第二影像區域75及76之間的配置關係，進而輕易地偵測是否發生逆視現象，即取決於視角之右、左影像互換。
係將指示邊界線段74之斜率θ及位置△x允許範圍之備用圖示作為限制性樣品(limitation sample)，並將其列印在與檢查影像73具有相同尺寸之透明板上。將邊界線段74之限制性樣品覆蓋於欲檢查之檢查影像73上，並比較兩者。如此一來，可輕易地透過目視檢查來確定顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度為通過或失敗。
(第二範例)
第17圖係顯示第二範例之檢查方法所欲處理之檢查影像示意圖。
於第二範例之安裝準確度檢查方法中，係將使用LY.middle及x.middle來取出邊界線段74之斜率θ及位置△x之程序加入第一範例中取出邊界線段74之斜率θ及位置△x之程序。
LY.middle表示y.center於x方向之亮度分布，其中，y.center係被設置於y方向之中點(midpoint)且介於基點72與y.max之間。於第二範例中，除了第一範例所示之確定x.top與x.bottom之流程外，並將y.center、0、x.max、1及1之參數名稱指定給第一至第五參數，隨後並執行第15圖所示之流程。此亦確定x.middle，其為LY.middle之位移點座標。
進一步，於第二範例中，係偵測使用x.top、x.bottom與x.middle所計算出之△x，與邊界線段74之線性度。
如上所述，邊界線段74之線性度偵測使得光學裝置3之失真(distortion)能被偵測出來。舉例來講，當柱狀透鏡3(參考第8圖)被用以作為光學裝置3時，其中，將圓柱透鏡31配置於x軸方向上，則能夠判斷透鏡之主軸(principal axis)是否平行於y方向。
當光學裝置3被固定於顯示面板2時，若固定光學裝置3時其壓力分布不均勻，則柱狀透鏡3可能會變形(deformed)。柱狀透鏡3可能原本就具有光學失真。由於這些原因，使得透鏡之主軸與y方向不平行，且邊界線段74之斜率可能是非線性的。在這些情況下，此範例之檢查方法有效。
如上所述，當於y.max之中心y.center進行x方向之搜尋流程加入時，隨即確定x.middle，其為y.center上之位移點座標。進一步，係於y軸之各自位置上執行x方向之搜尋流程，以確定y軸之該等位置上之位移點座標，即x.middle，並取得這些數值與△x之偏差，因此，所取得之邊界線段74其線性度更為精確。
(第三範例)
類似於第一範例，第三範例之安裝準確度檢查方法係包括：第一步驟，係將對應於第一組視角之第一樣式顯示於顯示裝置1、顯示對應於第二組視角之第二樣式、並取得邊界線段74之位置△x及斜率θ；及第二步驟，係將對應於第一組視角之第二樣式顯示於顯示裝置1、顯示對應於第二組視角之第一樣式、並取得邊界線段74之位置△x及斜率θ。計算各自步驟所取得值之平均值，用以取得邊界線段74之位置△x及斜率θ。於第二步驟中，第一及第二樣式不一定要互換。第二步驟之第一及第二樣式亦可設成完全不同之樣式。
第18A及18B圖係顯示第三範例之檢查方法所欲處理之檢查影像示意圖。
第18A圖係顯示所取得之第一檢查影像73之範例，其中，就測試樣式7而言，將所顯示之純白色作為對應於第一視角之第一樣式，並將所顯示之純黑色作為對應於第二視角之第二樣式。第18B圖係顯示第二檢查影像73之範例，其中，於第18A圖所示之測試樣式7中，將對應於各自視角之樣式互換。
類似於第一範例，於第三範例中，由第一檢查影像計算邊界線段74之位置△x1及斜率θ 1，並由第二檢查影像計算邊界線段74之位置△x2及斜率θ 2。之後，使用兩者之平均值△x=(△x1+△x2)/2及θ=(θ 1+θ 2)/2，用以偵測顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。
依據第三範例之檢查方法，互換樣式以取得兩張檢查影像，並取得邊界線段74平均之位置△x及斜率θ。由顯示裝置1之光學特性，例如：對比度，以及拍攝裝置之電光(electro-optic)特性，例如：光敏度，所引起之邊界線段74之位置△x及斜率θ之偵測錯誤能夠被減少。
上述之說明係使用色階值不同之兩樣式作為測試樣式7。除此之外，使用顏色不同之兩樣式來作為測試樣式7之情況亦適用於此範例。以下將針對使用顏色不同之兩樣式來作為測試樣式7之差異進行說明。
第19圖係顯示檢查影像透過第三範例之變形例進行檢查之示意圖。
第19A圖係顯示所取得之第一檢查影像73之範例，其中，就測試樣式7而言，將所顯示之藍色(B)作為對應於第一視角之第一樣式，並將所顯示之紅色(R)作為對應於第二視角之第二樣式。第19B圖係顯示所取得之第二檢查影像73之範例，其中，於第19A圖所示之測試樣式7中，將對應於各自視角之樣式互換。
如上所述，顯示裝置包括未圖示之影像記憶體，用以儲存對應於座標位置之RGB顏色，即亮度值RGB(x,y)，並將其作為檢查影像73之影像資料。於第三範例之變形例中，使用RGB(x,y)值來搜尋紅色(R)之亮度分布及藍色(B)之亮度分布，並偵測位移點。
首先，使用第一檢查影像，透過R.top(用以表示y.top上紅色(R)之亮度分布)於x方向之搜尋流程來確定用來表示位移點之R1.top，透過B.top(用以表示y.top上藍色(B)之亮度分布)於x方向之搜尋流程來確定用來表示位移點之B1.top。
進一步，使用第一檢查影像，透過R.Bottom(用以表示y.bottom上紅色(R)之亮度分布)於x方向之搜尋流程來確定用來表示位移點之R1.bottom，透過B.Bottom(用以表示y.bottom上藍色(B)之亮度分布)於x方向之搜尋流程來確定用來表示位移點之B1.bottom。
使用所取得之R1.top及B1.top任何一個、或兩者之平均值x1.top，以及使用R1.bottom及B1.bottom任何一個、或兩者之平均值x1.bottom，用以計算邊界線段74之位置△x1及斜率θ 1。
同樣地，使用第二檢查影像來計算邊界線段74之位置△x2及斜率θ 2。之後，計算兩者之平均值△x=(△x1+△x2)/2及θ=(θ 1+θ 2)/2。使用△x及θ值來計算顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。
於此變形例中，將顏色不同之兩樣式作為測試樣式7，能夠發揮穩定取得邊界線段74之位置△x及斜率θ之效果。舉例來說，外部光線或遮蔽可能會被反射在顯示裝置1之表面上。因此，當將色階值不同之兩樣式作為測試樣式7，光線或遮蔽可能會被反射至檢查影像73，可能會導致邊界線段74之位置△x及斜率θ之錯誤偵測。相較於取決於色階值之亮度資訊位移點偵測，取決於RGB值之色度資訊位移點偵測受光線、遮蔽等之不利影響較小。前者能夠穩定地偵測邊界線段74。因此，可由檢查影像73穩定地取得邊界線段74之位置△x及斜率θ。
於此示範性實施例中，係將顯示裝置1及拍攝裝置5配置於觀看者能夠立體視圖之距離上。依據顯示裝置1及拍攝裝置5之既定距離或顯示裝置1及拍攝裝置5之既定 規格，此一配置鮮少導致不清楚之邊界線段74。於邊界線段74不清楚之情況下，有時無法偵測亮度之位移點，且因此無法偵測位置△x及斜率θ。即使可以取得邊界線段74之位置△x及斜率θ，顯示面板及光學裝置之間的實際相對位置準確度，係與所取得之值大不相同。如上述變形例所示，即使邊界線段74不清楚，為測試樣式7使用不同顏色之方法能夠以高準確度偵測RGB(x,y)之位移點。除此之外，於測試樣式7中，將對應於各自視角之樣式互換以取得兩張檢查影像，並由所取得之檢查影像獲得邊界線段74平均之位置△x及斜率θ。這提昇了邊界線段74之位置△x及斜率θ之偵測準確度。
再者，因為使用色調相反之紅色(R)及藍色(B)作為測試樣式7，得以闡明檢查影像中該等區域之邊界。如此一來，可輕易地偵測邊界線段74。因此，即使以目視檢查，也能夠縮短檢查時間。除此之外，係將測試樣式7中對應於各自視角之樣式互換並取得兩張檢查影像，因此能夠消除特定顏色資訊對觀看者的心理影響。舉例而言，前述不清楚之邊界線段74會被視為洋紅色(M)，其由藍色(B)及紅色(R)混合而成。於此情況下，由於洋紅色(M)被具有相近色調之紅色(R)所吸收，因此觀看者會覺得紅色(R)區域較寬。當測試樣式73附近之區域為黑色時，觀看者會覺得色調接近黑色之藍色(B)區域寬於實際照明區域。透過所取得之兩張影像，能夠消除該等顏色對觀看者影響。
(第二示範性實施例)
與第一示範性實施例相反，第二示範性實施例係提供一種檢查方法，其使用在無法執行立體目視檢查之拍攝距離內所取得之檢查影像。
第20圖係顯示使用柱狀透鏡作為顯示裝置1之光學裝置3時，所形成之立體視野示意圖。
於顯示裝置1中，沿著x軸方向8依序配置對應於第一視角之像素41L1至41L3(顯示裝置1之左側)、像素41C1至41C3(顯示裝置1之中心)及像素41R1至41R3(顯示裝置1之右側)，以及對應於第二視角之像素42L1至42L3(顯示裝置1之左側)、像素42C1與42C2(顯示裝置1之中心)及像素42R1至42R3(顯示裝置1之右側)。
於柱狀透鏡3之配置中，係將圓柱透鏡31沿著x軸方向8以指定間隔(pitch)排列。第一視角像素41L1至41L3及第二視角像素42L1至42L3對應於圓柱透鏡31L(顯示裝置1之左側)。第一視角像素41C1至41C3及第二視角像素42C1與42C2對應於圓柱透鏡31C(顯示裝置1之中心)。第一視角像素41R1至41R3及第二視角像素42R1至42R3對應於圓柱透鏡31R(顯示裝置1之右側)。
如第20圖所示，參考符號1L1、2L1、3L1表示從第一視角像素41L1、41L2、41L3所發射光線之光路徑，並經由圓柱透鏡31L折射。參考符號1L2、2L2、3L2表示從第二視角像素42L1、42L2、42L3所發射光線之光路徑，並經由圓柱透鏡31L折射。
如第20圖所示，參考符號1C1、2C1、3C1表示從第一視角像素41C1、41C2、41C3所發射光線之光路徑，並經由圓柱透鏡31C折射。參考符號1C2與2C2表示從第二視角像素42C1與42C2所發射光線之光路徑，並經由圓柱透鏡31C折射。
同樣地，如第20圖所示，參考符號1R1、2R1、3R1表示從第一視角像素41R1、41R2、41R3所發射光線之光路徑，並經由圓柱透鏡31R折射。參考符號1R2、2R2、3R2表示從第二視角像素42R1、42R2、42R3所發射光線之光路徑，並經由圓柱透鏡31R折射。
此處，在相對於光路徑之順時針及逆時針方向上，實際通過光路徑之光線係具有指定角度寬度。將第一視角所對應之影像區域47形成於1L1、1C1與1R1相交點之所在區域中。將第二視角所對應之影像區域48形成於1L2、1C2與1R2相交點之所在區域中。第一視角之影像區域47(左眼)與第二視角之影像區域48(右眼)對應於具有立體觀感之立體可視範圍。
將最大立體可視範圍所在之最佳立體可視距離定義為參考符號Dop。根據右、左眼之y軸方向10及第一視角之影像區域47與第二視角之影像區域48之交集，將最大立體可視距離定義為參考符號Dmax，並將最小立體可視距離定義為參考符號Dmin。數字標號49表示視角之間隔(pitch)，並於以下簡稱為視角間隔。
現在，參考圓柱透鏡31L。由像素41L1及42L1所發射之光線1L1及1L2分別用以形成第一視角之影像形成區域47與第二視角之影像形成區域48。將上述光線定義為主要光線(primary light)。毗鄰於像素41L1及42L1且經由圓柱透鏡31L折射之像素41L2及42L2所發射之光線2L1及2L2係被定義為第二光線(secondary light)。同樣地，次相鄰於像素41L1及42L1且經由圓柱透鏡31L折射之像素41L3及42L3所發射之光線3L1及3L2係被定義為第三光線(tertiary light)。
同樣地，與圓柱透鏡31C及31R相關之光線，主要光線係用以形成第一及第二視角之影像形成區域47及48。
如第20圖所示，當觀看距離小於最小立體可視距離Dmin時，由較高階之光線，像是從顯示裝置1之右、左側所發射之第二光線及第三光線，所造成之效果變得顯而易見。
第21A及21B圖係顯示第二示範性實施例之檢查方法所使用之顯示裝置1及拍攝裝置5配置示意圖。第21A圖係顯示對應於最小立體可視距離Dmin，以夠近之距離D1拍攝檢查影像之方式。第21B圖係顯示在最小立體可視距離Dmin與最大立體可視距離Dmax之範圍內，以距離D2拍攝檢查影像之方式。前述之第一示範性實施例對應於第21B圖。
第22圖係顯示透過第21A圖之拍攝裝置所取得之檢查影像範例示意圖。於此，顯示裝置1之顯示面板2與光學裝置3之間的位置準確度與第一示範性實施例相同。因此，以第21B圖之條件所取得之檢查影像與第9B圖相同。
比較第22圖及第9B圖，可知於x軸方向上第一及第二影像區域互換。邊界線段之斜率θ之旋轉方向於y軸方向上係為相反。進一步，用來形成邊界線段74之第一及第二影像區域76及75於x軸方向上之寬度Pw變窄，且第二及第一影像區域75及76會出現在這些影像之外。這是因為寬度Pw之大小係取決於視角間隔，而拍攝距離D1短使得視角間隔小。
取決於此一拍攝距離變化之檢查影像將配合第21A及21B圖說明如下。
首先，於第21B圖中，拍攝距離D2在最小立體可視距離Dmin與最大立體可視距離Dmax之範圍內。因此，於用來作為光學裝置之柱狀透鏡3中，當每一圓柱透鏡之主軸與從拍攝裝置5中心所繪製之邊界線段之夾角為α2與β2時，則可根據史乃耳定律(Snell’s laws)與柱狀透鏡之折射率(refractive index)所決定之一折射角度，用以識別一對應像素，其中，該對應像素係與邊界線段以及z軸方向上透鏡及顯示面版2所配置之每一視角角度之間的距離有關。與輸入至該對應像素之測試樣式對應之指定檢查影像係被輸入至拍攝裝置5。同樣地，透過與整個x-y平面具有夾角α2與β2以外之邊界線段之應用、及透過對應像素之識別，能夠取得欲顯示於整個顯示螢幕之檢查影像。於第21B圖所示之拍攝距離D2中，第20圖所示之主要光線基本上為代表。因此，利用該目視檢查之影像，以取得第9B圖所示之檢查影像。
另一方面，於第21A圖所示之拍攝距離D1中，當每一圓柱透鏡之主軸與從拍攝裝置5中心所繪製之邊界線段之夾角為α1與β1時，可識別對應於該邊界線段之像素。與輸入至該對應像素之測試樣式對應之指定檢查影像係被輸入至拍攝裝置5。
就拍攝距離D1而言，來自於任一像素之較高階之光線，像是第二光線及第三光線，係用以形成檢查影像。因此，上述檢查影像跟第9B圖所示之檢查影像不相同。舉例來講，當拍攝距離D1等於或小於最小立體可視距離Dmin的一半時，係取得第22圖所示之檢查影像。第23圖係顯示檢查影像73中邊界線段74之斜率θ變化與拍攝距離D之關係。
第23圖係顯示檢查影像中邊界線段之斜率θ變化與拍攝距離之關係圖。於第23圖中，橫座標軸表示拍攝距離D，而縱座標軸表示檢查影像73中邊界線段74之斜率θ，其中，透過拍攝顯示於顯示裝置1之影像取得檢查影像73。
如第23圖所示，可知當拍攝距離D介於A及B之間時，對應區域中之斜率θ大幅度地變化。該區域係為從較高階之光線到主要光線之過渡區，且難以於該區域取得穩定之檢查影像。與拍攝距離D相關之斜率θ變化量、或導數(differential coefficient)，為最小之拍攝距離D大致上有兩個。第一個為第一距離54，大部分由較高階之光線形成檢查影像。第二個為第二距離55，係由主要光線形成檢查影像。第一示範性實施例係顯示以第二距離55取得檢查影像之範例。第二示範性實施例係顯示以第一距離54取得檢查影像之範例。
設定第一距離54，用以使與拍攝距離D相關之斜率θ之導數為最小。如第23圖所示，當拍攝距離D短於A時，設定任一拍攝距離，使得與拍攝距離相關之斜率θ之導數變化收斂至±5%以內。
藉由設定此一拍攝距離，致使斜率θ之導數變化收斂至±5%以內。因此，其優點在於，邊界線段74受干擾之影響較小，且能夠穩定地取得邊界線段74之斜率θ。此亦適用於第一示範性實施例。
再者，由於拍攝距離短，相較於第一示範性實施例，提昇了檢查影像之影像品質。此亦有助於提升偵測邊界線段74之斜率θ及位置△x之準確度。
如第一示範性實施例所述，邊界線段74之位置△x及斜率θ值取決於光電轉換元件，例如拍攝裝置5所使用之電荷耦合裝置之解析度、拍攝鏡頭之倍率、以及顯示檢查影像73時之顯示解析度與觀看角度。因此，第一示範性實施例說明使用邊界線段74之位置△x及斜率θ值來取得顯示裝置1之顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。
於第二示範性實施例中，光學裝置3之放大倍率隨拍攝距離D而變。將上述倍率之倒數(reciprocal)用於第一示範性實施例所述之方法中。因此，係依據拍攝距離D來取得顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。
下文將配合圖式說明第二示範性實施例之檢查方法。
(第四範例)
第四範例係說明計算邊界線段74之位置△x及斜率θ之方法，其中，將拍攝裝置5與顯示裝置1之拍攝距離D設定為小於最小立體可視距離Dmin之第一距離54，且檢查影像73包括至少三條邊界線段74。
第24圖係顯示第四範例之檢查方法所取得之檢查影像示意圖。
第24圖係顯示透過與第一範例大致相同之程序(第14及8圖)，用以於第22圖所示之檢查影像73中取得第一邊界線段77、第二邊界線段78、第三邊界線段79、以及該等邊界線段之斜率θ1、θ2、θ3及位置△x1、△x2及△x3。
第13圖所示之邊界線段74之斜率θ及位置△x分別對應於第24圖所示之邊界線段78之斜率θ2及位置△x2。因此，可使用斜率θ2及位置△x2之值來偵測顯示面板2及光學裝置3兩者之間於x方向之相對位置準確度。於此情況下，於第15圖所示之x方向之搜尋流程中，target=2。
於此範例中，由於能夠確定視角間隔之寬度，因此能夠取得顯示裝置1之視角。舉例來說，∣x2.top-x1.top∣、∣x3.top-x2.top∣、∣x2.bottom-x1.bottom∣、或∣x3.bottom-x2.bottom∣之值係取決於視角間隔。依據顯示裝置1，當上述之值之變化很大，或∣x2.top-x1.top∣與∣x2.bottom-x1.bottom∣互異時，能夠偵測出圓柱透鏡或視差屏障，即光學裝置的間隔準確度及光主軸之位置準確度的誤差。
亦能夠替換成監視斜率θ1、θ2及θ3之差異。可將∣θ2-θ1∣及∣θ2-θ3∣作為檢查值。
除此之外，於第二範例中，藉由取得LY.middle來確定邊界線段74線性度之方式適用於第四範例。如第二範例所示，可透過取得邊界線段74之線性度來偵測光學裝置之失真。
當光學裝置失真時，有時斜率θ1、θ2及θ3值會差異很大。因此，可將∣θ2-θ1∣及∣θ2-θ3∣作為檢查值，用以偵測光學裝置之失真。
如第24圖所示，第一及第二影像區域之亮度彼此不同。然而，第四範例適用於如第三範例之變形例所述之具有不同顏色之測試範例。進一步，第四範例適用於如第18A及18B圖所示之方法，即互換第一及第二樣式及使用平均邊界線段74之斜率θ及位置△x。應用這些方法所產生之有利功效(advantageous effect)與第一示範性實施例大致相同。
於第四範例中，視角數量為2。然而，第四範例適用於顯示具N個視角之檢查影像時，且視角數量至少為3。可將第一示範性實施例所述細節，即取決於N為奇數或偶數之不同處理方法，應用於此。
如上所述，於第二示範性實施例中，在拍攝距離過短情況下取得用於立體觀感之檢查影像，並用以取得顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。因此，相較於第一示範性實施例，於第二示範性實施例中，檢查影像無法以目視檢查之。然而，第二示範性實施例除了具有與第一示範性實施例大致相同之有利功效之外，尚具有下述之優點。
於第二示範性實施例中，檢查影像之影像品質因為拍攝距離短而提昇。重要的是要取得清晰之檢查影像，用以自檢查影像安全地取出邊界線段74。當拍攝距離遠時，為取得清晰之影像，需要高性能之透鏡光學系統。這將導致檢查裝置成本增加之問題。於此示範性實施例中，能夠以低成本取得顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。
於第二示範性實施例中，從檢查影像所取得之資訊量增加了。於第二示範性實施例中，對應於視角間隔之寬度縮短了。這增加了邊界線段的數量。以此方式，可取得邊界線段之斜率θ、位置△x及視角間隔之資訊。因此，除了顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度之外，亦能夠偵測光學裝置3之光主軸所在位置之失真及間隔準確度。
進一步，於第二示範性實施例中，拍攝距離縮短了。因此，能夠精簡檢查裝置。下述之第三示範性實施例將說明檢查裝置之配置範例。採用第二示範性實施例之檢查方法之檢查裝置能夠被精簡，且有利於減少成本。
(第三示範性實施例)
第三示範性實施例將說明檢查裝置，其使用第一至第四範例所述之方法。
第25圖係顯示依據本發明之檢查裝置之配置方塊圖。
如第25圖所示，檢查裝置之配置包括：將欲檢查之顯示裝置1安裝於其上之檢查台200；輸出影像信號用以使顯示裝置1顯示測試樣式7之影像輸出電路201；於z方向10上被安裝於檢查台200並用來拍攝顯示裝置1之顯示螢幕之檢查相機202；用以從檢查相機202所拍攝之檢查影像73中偵側邊界線段之斜率及位置之偵測電路203；以及用以顯示偵測電路203之檢查結果之監視器(monitor)204。檢查相機202至顯示裝置1之拍攝距離係被設定為每一範例中所說明之距離。
檢查台200包括定位插腳(positioning pins)，用以透過按壓顯示裝置1之角落來定位顯示裝置1。使用定位插腳來設置顯示裝置1，使得顯示中心11與檢查相機202之拍攝中心於x方向8上彼此對齊。顯示裝置1之至少兩側具有定位插腳，以免顯示裝置1於x方向8上偏離。
影像輸出電路201包括：信號產生電路，舉例而言，用以產生如第9A圖所示顯示於顯示裝置1上之測試樣式7；以及電源裝置，用以將操作所需電力提供至信號產生電路。影像輸出電路201產生影像信號，用以使顯示裝置1將第一樣式7A顯示於第一視角像素41上，以及將第二樣式7B顯示於第二視角像素42上。在顯示測試樣式7時，可將第一及第二樣式7A及7B互換。
檢查相機202包括：透鏡光學系統，用以拍攝檢查影像73；電荷耦合裝置，用以作為拍攝元件；影像記憶體，用以保持電荷耦合裝置所拍攝之影像信號。將影像記憶體中所保持之影像信號作為檢查影像73，並輸出至偵測電路203。
偵測電路203從檢查相機202所拍攝之檢查影像73中取得邊界線段74之斜率θ及位置△x。可透過一處理裝置來實現偵測電路203，其中，處理裝置包括中央處理器(CPU)及處理中央處理器時所需之儲存裝置，且偵測電路203依據一指定程式執行第14及15圖所示之流程，並將自檢查影像73中所取得之邊界線段74之斜率θ及位置△x值顯示於監視器204上。
將監視器204上所顯示之邊界線段74之斜率θ及位置△x值與預設值(preset value)進行比較，便能夠取得顯示裝置1中顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。
偵測電路203可預先儲存斜率θ及位置△x之可容許準確度，將可容許準確度與自檢查影像73中所取得之斜率θ及位置△x值進行比較，並接著將比較結果輸出至監視器204。
如第四範例所示，當所設之拍攝距離較短時，依據所需之檢查項目，可於監視器204上顯示用以表示檢查結果之絕對值或測定值，例如：θ 1、θ 2、θ 3及△x1、△x2、△x3之值、用以表示光學裝置3之非均勻失真量之｜θ 2-θ 1｜及｜θ 2-θ 3｜值、以及對應於視角間隔之｜x2.top-x1.top｜及｜x3.top-x2.top｜值。
進一步，當不使用偵測電路203時，可將檢查相機202與監視器204互相連接，並可將檢查影像73直接顯示於監視器204上。於此情況下，透過目視檢查之方式，從監視器204所顯示之邊界線段74可用以確定顯示裝置1中顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度。
係將檢查相機202至顯示裝置1之拍攝距離設定為每一前述範例中所說明之距離。於第四範例中，拍攝距離之設定使得檢查裝置210能夠被精簡並減少其所需空間，且不需昂貴之檢查相機202即可取得高品質之檢查影像。從而允許降低檢查裝置之成本。
於第三示範性實施例中，檢查裝置201不僅適用於顯示裝置1中顯示面板2及光學裝置3之間的相對位置準確度之檢查流程，亦適用於將光學裝置3安裝於顯示面板2之流程。舉例來講，當使用粘著劑(glue)或膠黏劑(adhesive)將光學裝置3固定於顯示面板2上時，先使用此示範性實施例之檢查裝置用以從檢查影像73取得邊界線段74之斜率θ及位置△x，再根據上述結果調整光學裝置3之安裝位置，並隨後把光學裝置3按壓在顯示面板2上以固定兩者。這使得固定於顯示面板2上 之光學裝置3具高準確度。因此，能夠取得高品質之顯示裝置1。
(第四示範性實施例)
第26圖係顯示依據本發明之檢查裝置之另一配置方塊圖。
如第26圖所示，第四示範性實施例之檢查裝置具有一配置，係將移動裝置205加入至第三示範性實施例所述之檢查裝置中。於第四示範性實施例中，檢查裝置之配置適用於第24圖之檢查影像73所示之邊界線段中。
移動裝置205沿著與顯示裝置1之顯示螢幕平行之x軸方向8移動檢查相機202。於y軸10上，移動軸之中心(未圖示)對齊顯示中心11。根據顯示裝置1之視角間隔大小，第26圖所示之檢查相機202能夠於x軸方向8移動。
第27圖係顯示第四示範性實施例之檢查裝置所取得之檢查影像示意圖。
如第27圖所示，當移動裝置205於x軸方向8上移動檢查相機202時，係利用第一範例之檢查方法，透過檢查相機202於三個點上所拍攝之檢查影像73。於所拍攝之每一檢查影像73中，y軸方向上邊界線段74之中心對齊顯示中心11。
此處，當邊界線段之位置△x為0時，移動裝置205之中心之移動量為Lx、Cx及Rx。於此情況下，能夠從檢查影像73之邊界線段74L、74C及74R取得斜率Lθ、Cθ及Rθ。
Rx對應於第二示範性實施例之∣x2.center-x1.center∣。Lx對應於∣x3.center-x2.center∣。Lθ對應於θ1。Cθ對應於θ2。Rθ對應於θ3。
因此，如第二示範性實施例所述之有利功效，當拍攝距離被設定為第二距離55時，增設之移動裝置205能夠增加從檢查影像所取得之資訊。
此示範性實施例之檢查裝置能夠取得邊界線段之斜率θ、位置△x及視角間隔。因此，亦能夠取得顯示面板2及光學裝置3之間的位置準確度，以及光學裝置3之失真。
509．．．針孔陣列
512．．．柱狀透鏡板
500．．．三維影像再生裝置
501．．．液晶顯示器
422．．．訊號處理裝置
412．．．拍攝光學系統
124a．．．柱狀透鏡
240a、240b．．．相機
1．．．顯示裝置
2．．．顯示面板
3．．．光學裝置
5．．．拍攝裝置
31．．．圓柱透鏡
28．．．背光板
22．．．黏貼層
23．．．第二光薄膜
24．．．第二基板
25．．．液晶層
26．．．第一基板
27．．．第一光薄膜
210．．．檢查裝置
202．．．檢查相機
203．．．偵測電路
204．．．監視器
205．．．移動裝置
200．．．檢查台
以及
201．．．影像輸出電路
第1圖係顯示揭露於日本早期公開專利No. 2007-65441中的顯示裝置所顯示之檢查影像範例示意圖。
第2圖係顯示於日本早期公開專利No. 2006-79097中所說明之透鏡安裝準確度檢查示意圖。
第3圖係顯示於日本早期公開專利No. 2008-015394中所說明之對齊示意圖。
第4圖係顯示於日本早期公開專利No. 2009-162620中所說明之檢查裝置配置方塊圖。
第5圖係顯示於日本早期公開專利No. 2009-223193中，所取得之影像範例平面圖。
第6圖係顯示於日本早期公開專利No. 2010-019987中，用來檢查之影像範例平面圖。
第7圖係顯示於日本早期公開專利No. 2009-300816中所說明之製造裝置示意圖。
第8圖係顯示第一示範性實施例之檢查方法所使用之顯示裝置及拍攝裝置配置範例示意圖。
第9A及9B圖係顯示第一示範性實施例之檢查原理示意圖。第9A圖係說明顯示裝置上所顯示之一測試樣式範例示意圖。第9B圖係說明從拍攝裝置取得之檢查影像範例示意圖。
第10圖(A)、(B)係顯示當顯示裝置具有N個視角像素且N為偶數(N=4)時，所取得之檢查影像範例示意圖。
第11圖(A)、(B)係顯示當顯示裝置具有N個視角像素且N為奇數(N=5)時，所取得之檢查影像範例示意圖。
第12圖係顯示具有兩視角像素之顯示裝置之配置範例截面圖。
第13圖係顯示第一範例之檢查方法所取得之檢查影像示意圖。
第14圖係顯示依據第13圖所示之檢查影像用以取出邊界線段之斜率θ及位置△x之處理程序流程圖。
第15圖係顯示依據第14圖所示之於x方向上進行搜尋流程之程序流程圖。
第16A及16B圖係說明由邊界線段之位置△x及斜率θ取得顯示面板及光學裝置之間的相對位置準確度之方式。
第17圖係顯示第二範例之檢查方法所欲處理之檢查影像示意圖。
第18A及18B圖係顯示第三範例之檢查方法所欲處理之檢查影像示意圖。
第19圖(A)、(B)係顯示檢查影像透過第三範例之變形例進行檢查之示意圖。
第20圖係顯示使用柱狀透鏡作為顯示裝置之光學裝置時，所形成之立體視野示意圖。
第21A及21B圖係顯示第二示範性實施例之顯示裝置及拍攝裝置配置示意圖。
第22圖係顯示第二示範性實施例之檢查方法所取得之檢查影像範例示意圖。
第23圖係顯示檢查影像中邊界線段之斜率θ變化與拍攝距離之關係圖。
第24圖係顯示第四範例之檢查方法所取得之檢查影像示意圖。
第25圖係顯示依據本發明之檢查裝置之配置方塊圖。
第26圖係顯示依據本發明之檢查裝置之另一配置方塊圖。
第27圖係顯示第四示範性實施例之檢查裝置所取得之檢查影像示意圖。
210．．．檢查裝置
202．．．檢查相機
203．．．偵測電路
204．．．監視器
200．．．檢查台
1．．．顯示裝置
以及
201．．．影像輸出電路

Claims (24)

  1. 一種安裝準確度檢查方法，用以檢查一顯示面板及光學裝置之間的位置準確度，其中，該顯示面板配置有像素組，該光學裝置從該等像素組之N個視角提供影像顯示，其中上述N為大於1之自然數，且該顯示面板及該光學裝置均包含於一顯示裝置中，該方法包括：顯示步驟，顯示一測試樣式於該顯示裝置上，其中，該測試樣式係由每個該視角所具備的各視角相異之影像信號表示；以及取得步驟，將顯示於該顯示裝置上之該測試樣式作為一檢查影像，並從該檢查影像取得該等視角之間的邊界線段之斜率及位置；該方法檢出由該取得步驟所取得之該視角之間的邊界線段之斜率及位置所表示之該顯示面板及該光學裝置之間的位置準確度。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之安裝準確度檢查方法，更包括：拍攝步驟，藉由拍攝裝置，從一指定距離拍攝該顯示步驟中顯示於該顯示裝置的影像，其中，於該取得步驟中，係從透過該拍攝步驟所拍攝之該檢查影像取得該等視角之間的邊界線段之斜率及位置。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之安裝準確度檢查方法，其中，該顯示步驟包括： 第一顯示步驟，顯示該測試樣式，該測試樣式係由每個該視角所具備的各視角相異之影像信號表示；以及第二顯示步驟，顯示與該第一顯示步驟所使用之該測試樣式不同之另一測試樣式。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之安裝準確度檢查方法，其中，於N個視角中，該顯示步驟顯示一第一樣式，其具有對應於N為奇數之一視角之指定顏色及色階值之影像信號，且對應於N為偶數之一視角，該顯示步驟顯示一第二樣式，其具有與該第一樣式不同之一影像信號，其中該第一樣式及該第二樣式係包含於該測試樣式中。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之安裝準確度檢查方法，其中，該顯示步驟包括：第一顯示步驟，於N個視角中，顯示一第一樣式，其具有對應於N為奇數之一視角之指定顏色及色階值之影像信號，以及顯示一第二樣式，其具有對應於N為偶數且與該第一樣式不同之一影像信號，其中該第一樣式及該第二樣式係包含於該測試樣式中；以及第二顯示步驟，顯示該第二樣式，其對應於N為奇數之視角，並顯示該第一樣式，其對應於N為偶數之視角。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之安裝準確度檢查方法，其中，於N個視角中，將第一至第(N/2)視角歸類為第一組視角並將第(N/2+1)至第N視角歸類為第二組視角，而該顯示步驟將具有對應於每一組視角之相異影像信號顯示於該顯示裝置上，其中上述N為偶數。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之安裝準確度檢查方法，其中，該顯示步驟包括：第一顯示步驟，顯示一第一樣式，其具有對應於該第一組視角之指定顏色及色階值之影像信號，以及顯示一第二樣式，其具有對應於該第二組視角且與該第一樣式不同之一影像信號；以及第二顯示步驟，顯示對應於該第一組視角之該第二樣式，並顯示對應於該第二組視角之該第一樣式。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之安裝準確度檢查方法，其中，於N個視角中，該顯示步驟將具有對應於第((N+1)/2)視角及其他視角之相異影像信號之測試樣式顯示於該顯示裝置上，其中上述N為奇數。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之安裝準確度檢查方法，其中，該顯示步驟包括：第一顯示步驟，顯示一第一樣式，其具有對應於第((N+1/2))視角之影像信號，以及顯示一第二樣式，其具有對應於其它視角且與該第一樣式不同之一影像信號；以及第二顯示步驟，顯示對應於第((N+1)/2)視角之該第二樣式，並顯示對應於其它視角之該第一樣式。
  10. 如申請專利範圍第3項所述之安裝準確度檢查方法，其中，該取得步驟取得該等視角之間的邊界線段之平均斜率及平均位置，並取得一第一檢查影像及一第二檢查影像兩者之平均斜率及位置，且其中，透過該第一顯示步驟之後的該拍攝步驟取得該第一檢查影像，並透過該第二 顯示步驟之後的該拍攝步驟取得該第二檢查影像。
  11. 如申請專利範圍第6項所述之安裝準確度檢查方法，其中，於N個視角中，該取得步驟從取自該顯示步驟之該檢查影像取得第(N/2)及第(N/2+1)視角之間的邊界線段之斜率及位置，其中上述N為偶數。
  12. 如申請專利範圍第8項所述之安裝準確度檢查方法，其中，於N個視角中，該取得步驟從取自該顯示步驟之該檢查影像取得第((N-1)/2)及第((N-1)/2+1)視角之間的第一邊界線段及第((N+1)/2)及第((N+1)/2+1)視角之間的第二邊界線段之平均斜率及平均位置，並取得兩者之平均斜率及位置，其中上述N為奇數。
  13. 如申請專利範圍第1項所述之安裝準確度檢查方法，其中，於該檢查影像中，該測試樣式係由能夠取得邊界線段之斜率及位置之影像信號表示。
  14. 如申請專利範圍第2項所述之安裝準確度檢查方法，其中，用來形成影像之該光學裝置將視角之一間隔視為一視角間隔，且該拍攝步驟拍攝影像，用以使拍攝裝置之拍攝中心與該顯示裝置之視角間隔於一方向之中心對齊。
  15. 如申請專利範圍第2項所述之安裝準確度檢查方法，其中，將該顯示裝置與該拍攝裝置之拍攝距離設定為小於該顯示裝置中立體可視區域存在之最小距離。
  16. 如申請專利範圍第2項所述之安裝準確度檢查方法，其中，將該顯示裝置與該拍攝裝置之拍攝距離設定為 大於該顯示裝置中立體可視區域存在之最小距離。
  17. 如申請專利範圍第15項所述之安裝準確度檢查方法，其中，將拍攝距離設定為能夠取得包括至少三條邊界線段之該檢查影像所在之拍攝距離。
  18. 如申請專利範圍第16項所述之安裝準確度檢查方法，其中，用來形成影像之該光學裝置將每一視角之一間隔視為一視角間隔，且對應一視角間隔於一方向之至少兩點，該方法取得具有邊界線段之檢查影像。
  19. 如申請專利範圍第15項所述之安裝準確度檢查方法，其中，依據邊界線段之斜率及該顯示裝置與該拍攝裝置之間的拍攝距離之關係，該方法設定該拍攝距離，致使一拍攝距離區域內與該拍攝距離相關之斜率之導數變化收斂至±5%以內。
  20. 如申請專利範圍第15項所述之安裝準確度檢查方法，其中，依據邊界線段之斜率及該顯示裝置與該拍攝裝置之間的拍攝距離之關係，該方法設定該拍攝距離，致使與該拍攝距離相關之斜率之導數為最小。
  21. 一種用以檢查顯示面板及光學裝置之間的位置準確度之檢查裝置，其中，該顯示面板配置有像素組，該光學裝置從該等像素組之N個視角提供影像顯示，且該顯示面板及該光學裝置均包含於一顯示裝置中，其中上述N為大於1之自然數，該檢查裝置包括：一影像輸出裝置，用以輸出一測試樣式至該顯示裝置上，其中，該測試樣式具有對應於各自視角之相異影像信 號；以及一取得裝置，用以從顯示於該顯示裝置上之一檢查影像取得一邊界線段之斜率及位置，其中，該檢查裝置根據該取得裝置所取得之斜率及位置，用以偵測該顯示面板及該光學裝置之間的位置準確度。
  22. 一種用以檢查顯示面板及光學裝置之間的位置準確度之檢查裝置，其中，該顯示面板配置有像素組，該光學裝置從該等像素組之N個視角提供影像顯示，且該顯示面板及該光學裝置均包含於一顯示裝置中，其中上述N為大於1之自然數，該檢查裝置包括：一影像輸出裝置，用以輸出一測試樣式至該顯示裝置上，其中，該測試樣式具有對應於各自視角之相異影像信號；一拍攝裝置，當該測試樣式被顯示時，用以拍攝所出現之一邊界線段；以及一取得裝置，用以從該拍攝裝置所拍攝之一檢查影像取得該邊界線段之斜率及位置，其中，該檢查裝置根據該取得裝置所取得之斜率及位置，用以偵測該顯示面板及該光學裝置之間的位置準確度。
  23. 如申請專利範圍第22項所述之檢查裝置，更包括：一移動裝置，用以於一視角間隔之一方向上移動該拍攝裝置，以取得至少兩條邊界線段。
  24. 如申請專利範圍第22項所述之檢查裝置，其中， 該拍攝裝置與該顯示面板之拍攝距離為固定，其範圍在比最小立體可視區域所在之觀看距離還短之距離內，以及在立體可視區域不存在之距離內。
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