CN108779977A - 标志器 - Google Patents

标志器 Download PDF

Info

Publication number
CN108779977A
CN108779977A CN201780017731.9A CN201780017731A CN108779977A CN 108779977 A CN108779977 A CN 108779977A CN 201780017731 A CN201780017731 A CN 201780017731A CN 108779977 A CN108779977 A CN 108779977A
Authority
CN
China
Prior art keywords
marker
convex surface
detected portion
light
shape
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201780017731.9A
Other languages
English (en)
Inventor
齐藤共启
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Enplas Corp
Original Assignee
Enplas Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Enplas Corp filed Critical Enplas Corp
Publication of CN108779977A publication Critical patent/CN108779977A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/26Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/18Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for optical projection, e.g. combination of mirror and condenser and objective
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/0006Arrays
    • G02B3/0037Arrays characterized by the distribution or form of lenses
    • G02B3/005Arrays characterized by the distribution or form of lenses arranged along a single direction only, e.g. lenticular sheets
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/02Simple or compound lenses with non-spherical faces
    • G02B3/06Simple or compound lenses with non-spherical faces with cylindrical or toric faces
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B35/00Stereoscopic photography

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Stereoscopic And Panoramic Photography (AREA)

Abstract

本发明的标志器是由具有透光性的材料形成的标志器,其具有:多个凸面,至少沿着第一方向配置;以及多个被检测部,配置于与所述多个凸面呈表里关系的位置,且作为能够以光学的方式检测出来的像被投影于所述多个凸面,沿着所述第一方向的所述标志器的高度方向的剖面中的、所述多个凸面的每一个的剖面形状为,随着远离其顶点曲率半径变大的曲线。

Description

标志器
技术领域
本发明涉及标志器。
背景技术
近年来,在增强现实(Augmented Reality:AR)或机器人技术等领域中,作为用于识别物体的位置和姿势等的标志器,使用基于透镜和图案的组合的图像显示体(例如,参照专利文献1)。
专利文献1中记载了一种标志器,该标志器具有:多个柱面透镜排列而成的透镜板;以及包含与柱面透镜的每一个对应的图像的图像形成层。柱面透镜以使其焦点位于图像上的方式形成。若从柱面透镜侧观察标志器,则观察到图案的像根据观察的位置而移动或变形。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2013-025043号公报
发明内容
发明要解决的问题
说到柱面透镜,一般而言,曲面的短轴方向的剖面形状为圆弧,长轴方向的剖面形状为直线。假如专利文献1中记载的标志器也使用这样的一般的形状的柱面透镜,则从离开柱面透镜的中心轴的位置入射至曲面的光会在比柱面透镜的焦点更靠入射面(曲面)侧的位置聚光(球面像差)。因此,在专利文献1中记载的标志器中,可设想存在以下问题:根据观察的位置无法适当地观察到图案的像。
于是,本发明的目的在于提供能够以与观察的位置无关的方式适当地观察到图案的标志器。
解决问题的方案
本发明的标志器是由具有透光性的材料形成的标志器,其具有:多个凸面,至少沿着第一方向配置;以及多个被检测部,配置于与所述多个凸面呈表里关系的位置,且作为能够以光学的方式检测出来的像被投影于所述多个凸面,沿着所述第一方向的所述标志器的高度方向的剖面中的、所述多个凸面的每一个的剖面形状为,随着远离其顶点曲率半径变大的曲线。
发明效果
本发明能够提供一种标志器,该标志器与以往的标志器相比,不易产生球面像差,且能够以与观察的位置无关的方式适当地观察到图案。
附图说明
图1A、图1B是表示本发明的实施方式1的标志器的结构的图。
图2A、图2B是表示标志器中的一部分的光路的图。
图3A~图3F是表示仿真的结果的图。
图4A、图4B是表示本发明的实施方式2的标志器的结构的图。
图5A~图5C是表示本发明的实施方式3的标志器的结构的图。
图6A~图6C是表示本发明的实施方式4的标志器的结构的图。
图7A~图7D是表示本发明的实施方式5的标志器的结构的图。
图8A~图8D是表示本发明的实施方式6的标志器的结构的图。
图9A~图9D是表示本发明的实施方式7的标志器的结构的图。
具体实施方式
以下,参照附图,对本发明的一实施方式的标志器进行说明。
[实施方式1]
(标志器的结构)
图1A、图1B是表示本发明的实施方式1的标志器100的结构的图。图1A是本发明的实施方式1的标志器100的俯视图,图1B是主视图。
如图1A及图1B所示,标志器100具有表面(第一面)120和背面(第二面)140。对于标志器100的材料,只要是具有透光性的材料即可,不特别地进行限定。作为标志器100的材料的例子,包括:聚碳酸酯、丙烯酸树脂、环烯烃聚合物(COP)、环烯烃共聚物(COC)等透明的树脂或玻璃等。在本实施方式中,标志器100的材料是折射率nd为1.54的环烯烃共聚物(COC)。表面120包含多个柱面形状的凸面121。另外,背面140包含多个被检测部141和多个反射部142。
多个凸面121沿着第一方向(图1中的X方向)排列。多个凸面121分别在与第一方向(X方向)及标志器100的高度方向(第二方向;图1中的Z方向)垂直的第三方向(图1中的Y方向)上延伸。凸面121是包含向第三方向(Y方向)呈直线状延伸的棱线122,且仅在第一方向(X方向)上具有曲率的曲面。即,本实施方式的标志器100具有透镜状的结构。另外,在沿着第一方向(X方向)的标志器100的高度方向(Z方向)的剖面中,棱线122与顶点123一致。另外,多个凸面121中的相邻的两个凸面121无间隙地配置。
多个凸面121的大小全部相同。例如,一个凸面121的宽度W1(第一方向上的长度)为440μm,多个凸面121的间距PCL为440μm。在此,“间距”是指相邻的凸面121的第一方向上的棱线122(顶点123或中心轴CA)间的距离,也是凸面121的第一方向(X方向)上的长度(宽度)。在此,“凸面121的中心轴CA”是指在俯视凸面121时为凸面121的中心,且沿着与第一方向(X方向)及第三方向(Y方向)都垂直的第二方向(Z方向)的直线。另外,“凸面121的顶点123”是指沿着第一方向(X方向)的标志器100的高度方向(Z方向)的剖面中的棱线122的位置。即,在本实施方式中,凸面121的顶点123是凸面121与中心轴CA的交点。
沿着第一方向(X方向)的标志器100的高度方向(Z方向)的剖面中的、多个凸面121的每一个的剖面形状为,随着远离其顶点123曲率半径变大的曲线。该曲率半径可以随着远离其顶点123而连续地变大,也可以间断地变大。在本实施方式中,中心轴CA(顶点123)处的曲率半径为0.25mm。另外,在X方向上距中心轴CA0.22mm处的凸面121(透镜面)的Z方向上的高度形成为,与球面的情况相比高出25μm。如上所述,凸面121是非球面。另外,凸面121的焦点F位于被检测部141上。
多个被检测部141配置于与多个凸面121呈表里关系的位置,且作为能够以光学的方式检测出来的像分别被投影于多个凸面121。被检测部141在俯视标志器100时沿着第三方向(Y方向)延伸。如上所述,对于被检测部141的结构,只要是作为能够以光学的方式检测出来的像分别被投影于多个凸面121即可,不特别地进行限定。被检测部141可以是凹部,也可以是凸部。在本实施方式中,被检测部141是凹部。对于凹部的形状,只要在俯视标志器100时为规定的宽度即可,不特别地进行限定。另外,也可以在该凹部中配置有涂覆涂料而形成的涂膜143。在本实施方式中,被检测部141的俯视形状是以第三方向为长度方向的矩形。“被检测部141的中心”是指,第一方向(X方向)上的被检测部141的中点、且第三方向(Y方向)上的被检测部141的中点。
另外,对于用于构成被检测部141的凹部的深度,只要能够发挥所期望的功能(像的显示)即可,不特别地进行限定。例如可以从10~100μm的范围中适当地决定用于构成被检测部141的凹部的深度。在本实施方式中,用于构成被检测部141的凹部的深度例如是10μm。用于构成被检测部141的凹部的第一方向(X方向)上的长度(宽度)W2例如是45μm。若相对于PCL减小被检测部141的宽度W2,则有在凸面121侧观察到的像的对比度变大的趋势。另外,若相对于PCL增大被检测部141的宽度W2,则有被检测部141的制作变得容易的趋势。从得到充分清晰的上述像的观点来看,优选被检测部141的宽度W2相对于间距PCL之比(W2/PCL)为1/200~1/5。
被检测部141配置于以下位置:当从表面120侧在凸面121的第一方向(X方向)及第三方向(Y方向)的中央观察标志器100时,被检测部141的像处于凸面121的中央部。
例如,在第一方向(X方向)上,与位于表面120的中央的凸面121(图1B中的n=0的凸面121)对应的被检测部141配置于其中心C0与n=0的凸面121的中心轴CA重合的位置。
在本实施方式中,与第一方向(X方向)上的相邻的凸面121对应的被检测部141的中心间的距离(|Cn-Cn-1|)以PCL+nG(μm)表示。如上所述,PCL表示邻接的凸面121的顶点123间的距离。另外,G表示用于使像的光学效果显现的、第一方向(X方向)上的自PCL起的规定的间隔(例如8μm)。并且,n表示是将中心的凸面121设为第0个时的第一方向(X方向)上的第n个的凸面121。
如上所述,与位于离开中心(n=0)的凸面121的位置的凸面121对应的被检测部141配置于,在第一方向(X方向)上比该凸面121的中心轴CA更靠外侧的位置。即,在本实施方式中,邻接的凸面121的顶点123间的间隔比邻接的被检测部141的中心间的间隔窄。
在被检测部141中形成有涂膜143。涂膜143例如是黑色的液体涂料的固化物。
通过涂料的涂覆及固化来制作涂膜143。黑色的液体涂料具有流动性,例如是液状的组合物,或者是粉体。对于涂覆涂料或使涂料固化的方法,可以从公知的方法中根据涂料来适当地决定。例如,作为黑色的液体涂料的涂覆方法的例子,包括喷涂及丝网印刷。另外,作为黑色的液体涂料的固化方法的例子,包括黑色的液体涂料的干燥、黑色的液体涂料中的固化成分(自由基聚合性化合物等)的固化、及粉体的烧结。
涂膜143形成光学上可区别开的部分。光学上可区别开是指,该涂膜143与其以外的部分在光学的特性上具有明显的差别。在此,“光学的特性”例如是指,明度、色度、色调等色彩、或者辉度等光的强度。可以根据标志器100的用途适当地决定上述的差别,例如可以是能够通过目视确认的差别,也可以是能够利用光学检测装置确认的差别。另外,上述的差别可以是能够从涂膜143直接检测出来的差别,也可以是例如在涂膜143为发出荧光的透明的膜的情况下那样,能够伴随紫外灯的照射等进一步的操作来检测出来的差别。
在将标志器100载置于白色的物体上的情况下,由各个凸面121入射的光中的、到达被检测部141的光被涂膜143吸收。另一方面,由各个凸面121入射的光中的、到达反射部142的光由其表面反射后返回至凸面121。因此,在凸面121上,涂膜143的颜色(黑色)的线的像被投影于白色的背景上。
而且,由于根据距标志器100的第一方向(X方向)上的中心的距离而适当地配置被检测部141,因此若从表面120侧观察标志器100,则观察到黑色的线的像集合而成的黑色的集合像。
例如,在从第一方向(X方向)上的中央观察标志器100时,在第一方向上的中央部观察到黑色的集合像。若针对第一方向(X方向)改变角度来观察标志器100,则根据观察角度而在第一方向上的不同位置观察到集合像。因此,根据集合像的第一方向(X方向)上的位置,确定标志器100的观察角度。
(仿真)
接着,调查了沿着第一方向(X方向)的标志器的高度方向(Z方向)的剖面中的多个凸面的每一个的剖面形状与被检测部的位置处的点列图之间的关系。在本仿真中,使用了实施方式3的标志器300和比较例的标志器300’。实施方式3的标志器300的凸面321是在第一方向及第三方向上随着远离中心轴CA曲率变大的非球面形状。另一方面,比较例的标志器300’的凸面321’是球面形状。在本仿真中,作为入射至凸面321(321’)的光线,使用了在沿着第一方向(X方向)的标志器300(300’)的高度方向(Z方向)的剖面中与光轴LA平行的光线L1、相对于光轴LA的倾斜角度为13°的光线L2、和相对于光轴LA的倾斜角度为26°的光线L3。
图2是表示标志器中的一部分的光线的图。图2A是表示比较例的标志器300’中的一部分的光线的图,图2B是表示实施方式3的标志器300中的一部分的光线的图。
图3A~图3F是表示仿真的结果的图。图3A是标志器300’中的光线L1的点列图,图3B是标志器300’中的光线L2的点列图,图3C是标志器300’中的光线L3的点列图,图3D是标志器300中的光线L1的点列图,图3E是标志器300中的光线L2的点列图,图3F是标志器300中的光线L3的点列图。
如图2A及图3A~图3C所示,在比较例的标志器300’中,沿着第一方向(X方向)的标志器300’的高度方向(Z方向)的剖面中的、凸面321’的剖面形状为圆弧,因此,由离开中心轴CA’的位置入射的光线L1在比凸面321’的焦点F’更靠凸面321’侧的位置与中心轴CA’交叉(球面像差)。由此可知,被检测部中的光斑的外形较大。另外,如相对于凸面321’的中心轴CA’的倾斜角度较大的光线L2、L3这样的光线,在比凸面321’的焦点F’更靠凸面321’侧的位置与中心轴CA’交叉,被检测部中的光斑的外形更加大。这样,在光线未聚光于凸面321’的焦点F’附近的情况下,被检测部观察得不清晰。
另一方面,如图2B及图3D~图3F所示,在实施方式3的标志器300中,沿着第一方向(X方向)的标志器300的高度方向(Z方向)的剖面中的、凸面321的剖面形状随着远离顶点323曲率半径变大,因此由离开中心轴CA的位置入射的光L1也在凸面321的焦点F附近与中心轴CA交叉。由此可知,被检测部141中的光斑的外形较小。即,在实施方式3的标志器300中抑制了球面像差。另外也可知,如相对于凸面321的中心轴CA的倾斜角度较大的光线L2、L3这样的光线,被检测部141中的光斑的外形稍大。另外,通过图3A~图3C、与图3D~图3F的比较可知,与比较例的标志器300’相比,实施方式3的标志器300能够减小被检测部341中的光斑的外形。即,在实施方式3的标志器300中,能够以与观察的位置(例如角度)无关的方式,不模糊而清晰地观察到被检测部141。
此外,在将本仿真适用于本实施方式的标志器100的柱面形状的凸面121的情况下,与图3D~图3F的点列图对应的点列图是在图3的纸面上下方向上延长的形状(纸面左右方向的宽度不变)。这是由于,实施方式1的标志器100的凸面121仅在第一方向上具有曲率。而且,与上述的比较例的标志器300’的凸面321’同样地,在沿着第一方向(X方向)的标志器的高度方向(Z方向)的剖面中的、凸面的剖面形状为圆弧的情况下,由离开中心轴CA’的位置入射的光线L1在比凸面的焦点更靠凸面侧的位置与中心轴CA’交叉(球面像差)。由此可知,被检测部中的光斑的外形较大。另外也可知,如相对于凸面的中心轴CA’的倾斜角度较大的光线L2、L3这样的光线,在比凸面的焦点更靠凸面侧的位置与中心轴CA’交叉,被检测部中的光斑分散的距离较大。这样,在凸面为球状面而光线未聚光于焦点附近的情况下,被检测部观察得不清晰。另一方面,可知,在沿着第一方向(X方向)的标志器100的高度方向(Z方向)的剖面中的凸面121的剖面形状为随着远离其顶点123曲率半径变大的曲线,且被检测部141位于凸面121的焦点上的情况下,能够与相对于光轴LA的角度无关地,与比较例的标志器相比减小光线L1、光线L2及光线L3的光斑。
(效果)
如上所述,在本实施方式的标志器100中,凸面121的剖面形状为随着远离其顶点曲率半径变大的曲线。由此,在本实施方式的标志器100中,能够清晰地观察到被检测部141。
[实施方式2]
在实施方式2的标志器200中,仅凸面121的顶点123间的间隔与被检测部241的中心间的间隔之间的关系与实施方式1的标志器100的结构不同。因此,对于与实施方式1的标志器100相同的结构,标以相同的附图标记并省略其说明。
图4A、图4B是表示本发明的实施方式2的标志器200的结构的图。图4A是本发明的实施方式2的标志器200的俯视图,图4B是主视图。如图4A及图4B所示,实施方式2的标志器200具有第一面120及第二面240。第一面120具有多个凸面121。另外,第二面240具有多个被检测部241和多个反射部242。并且,顶点123间的间隔比被检测部241的中心间的间隔宽。
(效果)
如上所述,本实施方式的标志器200具有与实施方式1的标志器100相同的效果。
[实施方式3]
在实施方式3的标志器300中,凸面321的形状、被检测部341的形状、及反射部342的形状与实施方式1的标志器100的结构不同。因此,对于与实施方式1的标志器100相同的结构,标以相同的附图标记并省略其说明。
图5A~图5C是表示本发明的实施方式3的标志器300的结构的图。图5A是本发明的实施方式3的标志器300的俯视图,图5B是省略了剖面线的局部放大剖面图,图5C是仰视图。
如图5A~图5C所示,实施方式3的标志器300具有第一面320及第二面340。第一面320包含多个凸面321。另外,第二面340包含多个被检测部341和多个反射部342。
凸面321的俯视形状为圆形,都是相同大小。例如,凸面321的俯视形状的直径为350μm,凸面321的间距PCL在第二方向及第一方向上都是350μm。在此,“间距”是指,相邻的凸面321的中心(顶点323或中心轴CA)间的距离。另外,“凸面321的中心轴CA”是指,在俯视凸面321时通过凸面321的中心、且沿着第三方向的直线。并且,“凸面321的顶点323”是指,凸面321与中心轴CA的交点。
在标志器300的高度方向(Z方向)的剖面中,多个凸面321是随着远离其顶点323曲率半径变大的曲线。即,凸面321的中心轴CA是与第二方向(Z方向)平行的直线,因此凸面321是随着远离中心轴CA曲率半径变大的曲面。即,凸面321是以中心轴CA为旋转轴的旋转对称的。该曲率半径可以随着远离其顶点323而连续地变大,也可以间断地变大。凸面321的焦点F位于被检测部341上。
另外,凸面321在其背面侧具有配置于与凸面321的每一个对应的位置的被检测部341。例如,被检测部341的俯视形状为圆形,其直径为45μm,其深度为10μm。
在第一方向(X方向)上相邻的被检测部341间的中心间距离(|Cn-Cn-1|)为PCL+nGμm,在第三方向(Y方向)上相邻的被检测部341间的中心间距离(|Cm-Cm-1|)为PCL+mGμm。n表示是将某凸面321设为第0个时的第一方向(X方向)上的第n个的凸面321。m表示是将某凸面321设为第0个时的第三方向(Y方向)上的第m个的凸面321。
如上所述,与位于在第一方向(X方向)上离开中心(n=0)的凸面321的位置的凸面321对应的被检测部341配置于,在第一方向(X方向)上比该凸面321的中心轴CA更靠外侧的位置。另外,与位于在第三方向(Y方向)上离开中心(m=0)的凸面321的位置的凸面321对应的被检测部341配置于,在第三方向(Y方向)上比该凸面321的中心轴CA更靠外侧的位置。即,在本实施方式中,在第一方向(X方向)及第三方向(Y方向)上,邻接的凸面321的顶点323间的间隔比邻接的被检测部341的中心间的间隔窄。
如上所述,本实施方式的标志器300具有与实施方式1的标志器100相同的效果。
[实施方式4]
在实施方式4的标志器400中,仅凸面421的形状与实施方式3的标志器300的结构不同。因此,对于与实施方式3的标志器300相同的结构,标以相同的附图标记并省略其说明。
图6A~图6C是表示本发明的实施方式4的标志器400的结构的图。图6A是本发明的实施方式4的标志器400的俯视图,图6B是省略了剖面线的局部放大剖面图,图6C是仰视图。
如图6A~图6C所示,实施方式4的标志器400具有第一面420及第二面340。第一面420包含多个凸面421。另外,第二面340包含多个被检测部341和多个反射部342。
凸面421的俯视形状为正方形,都是相同大小。例如,凸面421的俯视形状的一边的长度为350μm,凸面421的间距PCL在第二方向及第一方向上都是350μm。在此“间距”是指,相邻的凸面421的中心(顶点423或中心轴CA)间的距离。另外,“凸面421的中心轴CA”是指,在俯视凸面421时通过凸面421的中心、且沿着第三方向的直线。并且,“凸面421的顶点423”是指,凸面421与中心轴CA的交点。
在标志器400的高度方向(Z方向)的剖面中,多个凸面421是随着远离其顶点423曲率半径变大曲线。即,凸面421的中心轴CA是与第二方向(Z方向)平行的直线,因此凸面421是随着远离中心轴CA曲率半径变大的曲面。该曲率半径可以随着远离其顶点423而连续地变大,也可以间断地变大。凸面421的焦点F位于被检测部341上。
在第一方向(X方向)及第三方向(Y方向)上相邻的被检测部341间的中心间距离(|Cn-Cn-1|)为PCL-nGμm,在第二方向上相邻的被检测部341间的中心间距离(|Cm-Cm-1|)为PCL-mGμm。如上所述,n表示是将某凸面421设为第0个时的第一方向上的第n个的凸面421。m表示是将某凸面421设为第0个时的第二方向上的第m个的凸面421。
如上所述,与位于在第一方向(X方向)上离开中心(n=0)的凸面421的位置的凸面421对应的被检测部341配置于,在第一方向(X方向)上比该凸面421的中心轴CA更靠内侧的位置。另外,与位于在第三方向(Y方向)上离开中心(m=0)的凸面421的位置的凸面421对应的被检测部341配置于,在第三方向(Y方向)上比该凸面421的中心轴CA更靠内侧的位置。即,在本实施方式中,在第一方向(X方向)及第三方向(Y方向)上,邻接的凸面421的顶点423间的间隔比邻接的被检测部341的中心间的间隔宽。
(效果)
如上所述,本实施方式的标志器400具有与实施方式3的标志器300相同的效果。
此外,在实施方式3、实施方式4中,邻接的凸面341、421的顶点342、423间的间隔比邻接的被检测部341的中心间的间隔宽,但邻接的凸面341、421的顶点342、423间的间隔也可以比邻接的被检测部341的中心间的间隔窄。
[实施方式5]
在实施方式5的标志器700中,仅第二面124与实施方式3的标志器300不同。因此,对于与实施方式3的标志器300相同的结构,标以相同的附图标记并省略其说明。
图7A是标志器700的俯视图,图7B是表示以图7A中的B-B线剖开后的标志器700的一部分的、省略了剖面线的局部剖面图,图7C是标志器700的仰视图,图7D是标志器700的侧视图。
第二面124与实施方式1相同。即,第二面124具有第一区域141和第二区域142。第一区域141是沿XY平面中的Y方向细长的矩形的凹部,形成于架设在沿着Y方向成列的所有凸面部631的位置。另外,第二区域124与凸面部631的列对应地在X方向上排列配置。
另外,被检测部150在X方向上相对于凸面部631设为,邻接的凸面部631间(相邻的列彼此的凸面部631之间)的间距比同样地邻接的被检测部150的中心间的间隔更宽。另外,定位部160配置于与平面部643对应的位置。
在标志器700中,作为投影于各凸面部631的各个像的集合,观察到沿着Y方向的线状的像。观察到越使标志器700相对于X方向向观察者侧倾斜,则该像越向接近该观察者的方向移动。
(效果)
在本实施方式的标志器700中,凸面部631不仅向X方向弯曲,还向Y方向弯曲,因此具有像的Y方向上的对比度高的效果。
[实施方式6]
在实施方式6的标志器800中,仅凸面部831的结构与实施方式5的标志器700不同。因此,对于与实施方式5的标志器700相同的结构,标以相同的附图标记并省略其说明。
图8A是标志器800的俯视图,图8B是表示以图8A中的B-B线剖开后的标志器800的一部分的、省略了剖面线的局部剖面图,图8C是标志器800的仰视图,图8D是标志器800的侧视图。
实施方式6中的凸面部831的平面形状是正方形。另外,例如,凸面部831的沿着光轴的剖面中的形状为,随着远离凸面部831的顶点曲率半径变大的曲线。
(效果)
本实施方式的标志器800除了具有与实施方式5的标志器700相同的效果以外,还能够与向柱状透镜部的第一面入射的入射光的强度无关地,清楚地检测出像。这可以认为是由于若入射光较强,则如第一面处的反射光那样的标志器800中的反射光也较强,有时难以观察到上述像,但是标志器800的第一面实质上仅由凸面部631(曲面)构成,实质上不包含平面,因此与标志器700相比,不易产生第一面处的反射光,且该反射光较弱。
[实施方式7]
在实施方式7的标志器900中,仅凸面部931的结构与实施方式6的标志器700不同。因此,对于与实施方式6的标志器700相同的结构,标以相同的附图标记并省略其说明。
图9A是标志器900的俯视图,图9B是表示以图11A中的B-B线剖开后的标志器900的一部分的、省略了剖面线的局部剖面图,图9C是标志器900的仰视图,图9D是标志器900的侧视图。
实施方式7中的凸面部931的平面形状是正六边形。另外,例如,凸面部931的沿着光轴的剖面中的形状由随着远离凸面部73的顶点曲率半径变大的曲线表示。Y方向上的凸面部931的列以各个凸面部931通过对置的一对边相接的方式在Y方向上排列构成。另外,凸面部931的列以在一个列中的凸面部73之间的连接部抵接另一个列中的凸面部931的六边形的一角的方式配置,且凸面部931的列在X方向上排列。这样,在标志器900中,柱状透镜部的第一面的整个面实质上由凸面部931的最紧密的集合构成。
(效果)
本实施方式的标志器900具有与实施方式6的标志器800相同的效果。
本申请主张基于在2016年3月23日提出的日本专利申请2016-058546号的优先权。在该申请说明书及附图中记载的内容全部引用到本申请说明书中。
工业实用性
本发明的标志器作为用于识别物体的位置和姿势等的位置检测用标志器(或者角度检测用标志器)是有用的。由此,可期待本发明有助于上述标志器的技术领域的进一步发展。
附图标记说明
100、200、300、300’、400 标志器
120、320、420 第一面
121、321、321’、421 凸面
122 棱线
123、323、323’、423 顶点
140、340 第二面
141、241、341 被检测部
142、242、342 反射部
143 涂膜
F、F’ 焦点
CA、CA’ 中心轴

Claims (3)

1.一种标志器,是由具有透光性的材料形成的标志器,其具有:
多个凸面,至少沿着第一方向配置;以及多个被检测部,配置于与所述多个凸面呈表里关系的位置,且作为能够以光学的方式检测出来的像被投影于所述多个凸面,
沿着所述第一方向的所述标志器的高度方向的剖面中的、所述多个凸面的每一个的剖面形状为,随着远离其顶点曲率半径变大的曲线。
2.如权利要求1所述的标志器,其中,
所述凸面具有朝向与所述第一方向及所述标志器的高度方向正交的方向延伸的直线状的棱线。
3.如权利要求1所述的标志器,其中,
所述凸面是以沿着所述标志器的高度方向的轴为旋转轴的旋转对称的。
CN201780017731.9A 2016-03-23 2017-02-28 标志器 Pending CN108779977A (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016-058546 2016-03-23
JP2016058546 2016-03-23
PCT/JP2017/007601 WO2017163778A1 (ja) 2016-03-23 2017-02-28 マーカ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN108779977A true CN108779977A (zh) 2018-11-09

Family

ID=59901249

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201780017731.9A Pending CN108779977A (zh) 2016-03-23 2017-02-28 标志器

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20190063909A1 (zh)
EP (1) EP3435025A4 (zh)
JP (1) JPWO2017163778A1 (zh)
CN (1) CN108779977A (zh)
WO (1) WO2017163778A1 (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020003454A (ja) * 2018-07-02 2020-01-09 株式会社エンプラス マーカ

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008111579A1 (ja) * 2007-03-15 2008-09-18 Michiyoshi Nagashima レンチキュラーレンズ、画像表示方法、画像表示装置、およびレンチキュラーレンズの製造方法
CN101424531A (zh) * 2007-11-01 2009-05-06 施塔比拉测量工具古斯塔夫乌尔里希公司 用于成像出线形标记的装置
CN102401631A (zh) * 2010-08-25 2012-04-04 Ntl科技股份有限公司 安装精度检查方法以及使用所述检查方法的检查设备
CN103097919A (zh) * 2010-06-22 2013-05-08 光学物理有限责任公司 展示出对光学上劣化的外部效应的改进抵抗性的光学系统
CN103097921A (zh) * 2010-09-14 2013-05-08 恩普乐股份有限公司 透镜阵列及其透镜边缘检测方法
US20130270813A1 (en) * 2010-12-22 2013-10-17 Giesecke & Devrient Gmbh Micro-optic viewing arrangement
WO2015141601A1 (ja) * 2014-03-18 2015-09-24 株式会社エンプラス 画像表示体

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6967779B2 (en) * 1998-04-15 2005-11-22 Bright View Technologies, Inc. Micro-lens array with precisely aligned aperture mask and methods of producing same
JP2000321509A (ja) * 1999-05-07 2000-11-24 Nikon Corp 非球面接眼レンズ
US6369949B1 (en) * 2000-04-12 2002-04-09 Kenneth E. Conley Optically anisotropic micro lens window
EP2284018B1 (en) * 2003-11-21 2021-05-19 Visual Physics, LLC Micro-optic security and image presentation system
EP2365375B1 (en) * 2005-05-18 2017-07-19 Visual Physics, LLC Image presentation and micro-optic security system
DE102005062132A1 (de) * 2005-12-23 2007-07-05 Giesecke & Devrient Gmbh Sicherheitselement
WO2009022725A1 (ja) * 2007-08-14 2009-02-19 Dai Nippon Printing Co., Ltd. 光制御シート、面光源装置、透過型表示装置
BRPI1006520A2 (pt) * 2009-03-04 2018-02-14 Securency Int Pty Ltd melhoras nos métodos de produções de disposição de lentes
JP2011176715A (ja) * 2010-02-25 2011-09-08 Nikon Corp 裏面照射型撮像素子および撮像装置
DE112011102546T5 (de) * 2010-09-03 2013-05-02 Securency International Pty Ltd. Optisch variable Einrichtung
KR101622819B1 (ko) * 2011-05-13 2016-05-19 차오 리 실린더 렌즈 발광관에 기반한 입체 대형 스크린
JP5414076B2 (ja) * 2011-07-20 2014-02-12 グラパックジャパン株式会社 画像表示体
JP2016536645A (ja) * 2013-09-05 2016-11-24 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー レンズレット及びプリズムクラスタを有する両面光学フィルム

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008111579A1 (ja) * 2007-03-15 2008-09-18 Michiyoshi Nagashima レンチキュラーレンズ、画像表示方法、画像表示装置、およびレンチキュラーレンズの製造方法
CN101424531A (zh) * 2007-11-01 2009-05-06 施塔比拉测量工具古斯塔夫乌尔里希公司 用于成像出线形标记的装置
CN103097919A (zh) * 2010-06-22 2013-05-08 光学物理有限责任公司 展示出对光学上劣化的外部效应的改进抵抗性的光学系统
CN102401631A (zh) * 2010-08-25 2012-04-04 Ntl科技股份有限公司 安装精度检查方法以及使用所述检查方法的检查设备
CN103097921A (zh) * 2010-09-14 2013-05-08 恩普乐股份有限公司 透镜阵列及其透镜边缘检测方法
US20130270813A1 (en) * 2010-12-22 2013-10-17 Giesecke & Devrient Gmbh Micro-optic viewing arrangement
WO2015141601A1 (ja) * 2014-03-18 2015-09-24 株式会社エンプラス 画像表示体

Also Published As

Publication number Publication date
US20190063909A1 (en) 2019-02-28
EP3435025A1 (en) 2019-01-30
WO2017163778A1 (ja) 2017-09-28
EP3435025A4 (en) 2019-10-02
JPWO2017163778A1 (ja) 2019-01-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI254166B (en) 3D display system and method
JP2007327771A5 (zh)
CN105492862A (zh) 用于光学地形状检测和/或检查物体的方法和设备
CN108603746A (zh) 标志器
JP2007040801A (ja) 3次元座標測定装置及び方法
ES2689907T3 (es) Procedimiento para la generación de informaciones de imágenes
CN108779977A (zh) 标志器
WO2017150130A1 (ja) マーカ
US10684454B2 (en) Marker suppressing aberration
CN109313012A (zh) 标志器
WO2018221644A1 (ja) レチクル、レチクルユニット、ライフルスコープ及び光学機器
CN108603748A (zh) 标志器
CN103026286B (zh) 光学装置读取方法和装置
CN109642790A (zh) 标志器
JP6689713B2 (ja) マーカ
JP2019207372A (ja) レチクル、レチクルユニット、ライフルスコープ、及び光学機器
JP6990047B2 (ja) レチクル、レチクルユニット、光学機器
US20210401535A1 (en) Engraved retro-reflective tracking marker
JP2018084469A (ja) マーカおよびマーカセット

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20181109

WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication