JPWO2017163778A1 - マーカ - Google Patents
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Abstract
Description
(マーカの構成)
図1A、Bは、本発明の実施の形態1に係るマーカ100の構成を示す図である。図1Aは、本発明の実施の形態1に係るマーカ100の平面図であり、図1Bは、正面図である。
次に、第1の方向(X方向)に沿うマーカの高さ方向(Z方向)の断面における、複数の凸面のそれぞれの断面形状と、被検出部の位置におけるスポットダイヤグラムとの関係について調べた。本シミュレーションでは、実施の形態3に係るマーカ300と、比較例に係るマーカ300’とを使用した。実施の形態3に係るマーカ300の凸面321は、第1の方向および第3の方向において中心軸CAから離れるにつれて曲率が大きくなる非球面形状である。一方、比較例に係るマーカ300’の凸面321’は、球面形状である。本シミュレーションでは、凸面321(321’)に入射する光線として、第1の方向(X方向)に沿うマーカ300(300’)の高さ方向(Z方向)の断面において、光軸LAと平行な光線L1と、光軸LAに対する傾斜角が13°の光線L2と、光軸LAに対する傾斜角が26°の光線L3とを用いた。
以上のように、本実施の形態に係るマーカ100では、凸面121の断面形状は、その頂点から離れるにつれて曲率半径が大きくなる曲線である。よって、本実施の形態に係るマーカ100では、被検出部141を鮮明に観察できる。
実施の形態2に係るマーカ200は、凸面121の頂点123間の間隔と、被検出部241の中心間の間隔との関係のみが実施の形態1に係るマーカ100の構成と異なる。そこで、実施の形態1に係るマーカ100と同じ構成については、同じ符号を付してその説明を省略する。
以上のように、本実施の形態に係るマーカ200は、実施の形態1のマーカ100と同様の効果を有する。
実施の形態3に係るマーカ300は、凸面321の形状と、被検出部341の形状と、反射部342の形状とが実施の形態1に係るマーカ100の構成と異なる。そこで、実施の形態1に係るマーカ100と同じ構成については、同じ符号を付してその説明を省略する。
実施の形態4に係るマーカ400は、凸面421の形状のみが実施の形態3に係るマーカ300の構成と異なる。そこで、実施の形態3に係るマーカ300と同じ構成については、同じ符号を付してその説明を省略する。
以上のように、本実施の形態に係るマーカ400は、実施の形態3のマーカ300と同様の効果を有する。
実施の形態5に係るマーカ700は、第2面124のみが実施の形態3に係るマーカ300と異なる。そこで、実施の形態3に係るマーカ300と同じ構成については、同じ符号を付してその説明を省略する。
本実施の形態に係るマーカ700は、凸面部631がX方向のみならずY方向にも湾曲していることから、像のY方向におけるコントラストが高い効果を有する。
実施の形態6に係るマーカ800は、凸面部831の構成のみが実施の形態5に係るマーカ700と異なる。そこで、実施の形態5に係るマーカ700と同じ構成については、同じ符号を付してその説明を省略する。
本実施の形態に係るマーカ800は、実施の形態5に係るマーカ700と同様の効果に加え、レンチキュラーレンズ部の第1面への入射光の強度に関わらず、像が明確に検出される。これは、入射光が強いと、第1面での反射光のようなマーカ800における反射光も強くなり、上記像が見えにくくなることがあるが、マーカ800の第1面は、実質的には凸面部631(曲面)のみで構成され、実質的には平面を含まないため、マーカ700に比べて、第1面での反射光が生じにくく、また弱いためと考えられる。
実施の形態7に係るマーカ900は、凸面部931の構成のみが実施の形態6に係るマーカ700と異なる。そこで、実施の形態6に係るマーカ700と同じ構成については、同じ符号を付してその説明を省略する。
本実施の形態に係るマーカ900は、実施の形態6に係るマーカ800と同様の効果を有する。
120、320、420 第1面
121、321、321’、421 凸面
122 稜線
123、323、323’、423 頂点
140、340 第2面
141、241、341 被検出部
142、242、342 反射部
143 塗膜
F、F’ 焦点
CA、CA’ 中心軸
Claims (3)
- 透光性を有する材料で形成されたマーカであって、
少なくとも第1の方向に沿って配置された複数の凸面と、前記複数の凸面と表裏の位置に配置され、光学的に検出可能な像として前記複数の凸面に投影される複数の被検出部と、を有し、
前記第1の方向に沿う前記マーカの高さ方向の断面における、前記複数の凸面のそれぞれの断面形状は、その頂点から離れるにつれて曲率半径が大きくなる曲線である、
マーカ。 - 前記凸面は、前記第1の方向および前記マーカの高さ方向に直交する方向に向かって延在する直線状の稜線を有する、請求項1に記載のマーカ。
- 前記凸面は、前記マーカの高さ方向に沿う軸を回転軸とした回転対称である、請求項1に記載のマーカ。
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Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000321509A (ja) * | 1999-05-07 | 2000-11-24 | Nikon Corp | 非球面接眼レンズ |
US20070058260A1 (en) * | 2004-11-22 | 2007-03-15 | Steenblik Richard A | Image presentation and micro-optic security system |
WO2008111579A1 (ja) * | 2007-03-15 | 2008-09-18 | Michiyoshi Nagashima | レンチキュラーレンズ、画像表示方法、画像表示装置、およびレンチキュラーレンズの製造方法 |
JP2011176715A (ja) * | 2010-02-25 | 2011-09-08 | Nikon Corp | 裏面照射型撮像素子および撮像装置 |
JP2013025043A (ja) * | 2011-07-20 | 2013-02-04 | Grapac Japan Kk | 画像表示体 |
US20130270813A1 (en) * | 2010-12-22 | 2013-10-17 | Giesecke & Devrient Gmbh | Micro-optic viewing arrangement |
JP2016536645A (ja) * | 2013-09-05 | 2016-11-24 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | レンズレット及びプリズムクラスタを有する両面光学フィルム |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6967779B2 (en) * | 1998-04-15 | 2005-11-22 | Bright View Technologies, Inc. | Micro-lens array with precisely aligned aperture mask and methods of producing same |
US6369949B1 (en) * | 2000-04-12 | 2002-04-09 | Kenneth E. Conley | Optically anisotropic micro lens window |
US8867134B2 (en) * | 2003-11-21 | 2014-10-21 | Visual Physics, Llc | Optical system demonstrating improved resistance to optically degrading external effects |
ES2504890T3 (es) * | 2003-11-21 | 2014-10-08 | Visual Physics, Llc | Sistema de presentación de imágines y de seguridad micro-óptico |
DE102005062132A1 (de) * | 2005-12-23 | 2007-07-05 | Giesecke & Devrient Gmbh | Sicherheitselement |
KR20100074125A (ko) * | 2007-08-14 | 2010-07-01 | 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 | 광 제어 시트, 면 광원 장치, 투과형 표시 장치 |
DE202007015265U1 (de) * | 2007-11-01 | 2009-03-12 | STABILA Messgeräte Gustav Ullrich GmbH | Anordnung zum Abbilden einer linienförmigen Markierung |
KR101777834B1 (ko) * | 2009-03-04 | 2017-09-26 | 씨씨엘 씨큐어 피티와이 엘티디 | 렌즈어레이의 제조방법의 개량 |
JP5656059B2 (ja) * | 2010-08-25 | 2015-01-21 | Nltテクノロジー株式会社 | 実装精度検査方法及びその検査方法を用いる検査装置 |
BR112013005097A2 (pt) * | 2010-09-03 | 2019-09-24 | Securency Int Pty Ltd | dispositivo opticamente variável |
JP2012063377A (ja) * | 2010-09-14 | 2012-03-29 | Enplas Corp | レンズアレイおよびそのレンズエッジ検出方法 |
KR101622819B1 (ko) * | 2011-05-13 | 2016-05-19 | 차오 리 | 실린더 렌즈 발광관에 기반한 입체 대형 스크린 |
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000321509A (ja) * | 1999-05-07 | 2000-11-24 | Nikon Corp | 非球面接眼レンズ |
US20070058260A1 (en) * | 2004-11-22 | 2007-03-15 | Steenblik Richard A | Image presentation and micro-optic security system |
WO2008111579A1 (ja) * | 2007-03-15 | 2008-09-18 | Michiyoshi Nagashima | レンチキュラーレンズ、画像表示方法、画像表示装置、およびレンチキュラーレンズの製造方法 |
JP2011176715A (ja) * | 2010-02-25 | 2011-09-08 | Nikon Corp | 裏面照射型撮像素子および撮像装置 |
US20130270813A1 (en) * | 2010-12-22 | 2013-10-17 | Giesecke & Devrient Gmbh | Micro-optic viewing arrangement |
JP2013025043A (ja) * | 2011-07-20 | 2013-02-04 | Grapac Japan Kk | 画像表示体 |
JP2016536645A (ja) * | 2013-09-05 | 2016-11-24 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | レンズレット及びプリズムクラスタを有する両面光学フィルム |
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