TWI456224B - 元件特性量測電路與方法 - Google Patents
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Claims (15)
- 一種元件特性量測電路，其包含：一振盪時脈產生器，用來產生一第一振盪時脈以及一第二振盪時脈；一除頻器，用以對第一振盪時脈進行除頻操作以產生一第三時脈，以及對第二振盪時脈進行除頻操作以產生一第四時脈；一頻率檢測器，用來根據一參考時脈來檢測該第三時脈之頻率以輸出一第一計數值，以及根據該參考時脈來檢測該第四時脈之頻率以輸出一第二計數值；以及一控制器，用來根據該第一計數值來得到一第一振盪週期，根據該第二計數值來得到一第二振盪週期，以及根據該第一振盪週期與該第二振盪週期來得到一量測結果；其中該除頻器對該第一振盪時脈進行除M之除頻操作，該除頻器對該第二振盪時脈進行除M之除頻操作，該控制器將該參考時脈的週期乘以該第一計數值再除以M來得到該第一振盪週期，該控制器將該參考時脈的週期乘以該第二計數值再除以M來得到該第二振盪週期，該第一振盪週期係對應該第一振盪時脈之頻率，以及該第二振盪週期係對應該第二振盪時脈之頻率。
- 如申請專利範圍第1項所述之元件特性量測電路，其中該振盪時脈產生器包含有：一第一環狀振盪器，用來產生該第一振盪時脈，其包括複數個串接的反及閘；以及一第二環狀振盪器，用來產生該第二振盪時脈，其包括複數個串 接的反或閘；其中，該等反及閘以及該等反或閘係選自一標準設計單元資料庫(standard cell library)。
- 如申請專利範圍第1項所述之元件特性量測電路，其中該振盪時脈產生器包含有：一第一環狀振盪器，用來產生該第一振盪時脈，其包括複數個串接的反向單元(inversion cell)以及一串接的第一金屬線；以及一第二環狀振盪器，用來產生該第二振盪時脈，其包括該複數個串接的反向單元以及一串接的第二金屬線；其中，該第一金屬線之長度大於該第二金屬線之長度。
- 如申請專利範圍第3項所述之元件特性量測電路，其中該控制器對該第一振盪週期與該第二振盪週期進行一減法運算來得到該量測結果，該量測結果對應該第一金屬線與該第二金屬線所造成的延遲。
- 如申請專利範圍第1項所述之元件特性量測電路，其中該振盪時脈產生器包含有：一第一環狀振盪器，用來產生該第一振盪時脈，其包括複數個串接的反向單元以及一串接的延遲單元；以及一第二環狀振盪器，用來產生該第二振盪時脈，其包括該複數個串接的反向單元；其中，該等反向單元與該延遲單元係選自一標準設計單元資料 庫。
- 如申請專利範圍第5項所述之元件特性量測電路，其中該控制器對該第一振盪週期與該第二振盪週期進行一減法運算來得到該量測結果，該量測結果對應該延遲單元所造成的延遲。
- 如申請專利範圍第1項所述之元件特性量測電路，其中該振盪時脈產生器包含有：一第一環狀振盪器，用來產生該第一振盪時脈，其包括複數個串接的反向單元以及一串接的電阻；以及一第二環狀振盪器，用來產生該第二振盪時脈，其包括該複數個串接的反向單元。
- 如申請專利範圍第7項所述之元件特性量測電路，其中該控制器對該第一振盪週期與該第二振盪週期進行一減法運算來得到該量測結果，該量測結果對應該電阻所造成的延遲。
- 如申請專利範圍第1項所述之元件特性量測電路，其中該振盪時脈產生器包含有：一第一環狀振盪器，用來產生該第一振盪時脈，其包括複數個串接的反向單元以及一耦接的電容；以及一第二環狀振盪器，用來產生該第二振盪時脈，其包括該複數個串接的反向單元；其中，該電容的其中一端接地。
- 如申請專利範圍第7項所述之元件特性量測電路，其中該控制器對該第一振盪週期與該第二振盪週期進行一減法運算來得到該量測結果，該量測結果對應該電容所造成的延遲。
- 一種元件特性量測方法，包含以下步驟：利用一振盪時脈產生器來產生一第一振盪時脈以及一第二振盪時脈；對第一振盪時脈進行除頻操作以產生一第三時脈；對第二振盪時脈進行除頻操作以產生一第四時脈；根據一參考時脈來檢測該第三時脈之頻率並據以得到對應該第一振盪時脈之一第一振盪週期；根據該參考時脈來檢測該第四時脈之頻率並據以得到對應該第二振盪時脈之一第二振盪週期；根據該第一振盪週期與該第二振盪週期來得到一量測結果；以及對該第一振盪週期與該第二振盪週期進行一減法運算來得到該量測結果；其中，該量測結果對應一第一金屬線與一第二金屬線所造成的延遲。
- 如申請專利範圍第11項所述之元件特性量測方法，其中該振盪時脈產生器包含有：一第一環狀振盪器，用來產生該第一振盪時脈，其包括複數個串接的反及閘；以及一第二環狀振盪器，用來產生該第二振盪時脈，其包括複數個串接的反或閘；其中，該等反及閘以及該等反或閘係選自一標準設計單元資料庫(standard cell library)。
- 如申請專利範圍第11項所述之元件特性量測方法，其中該振盪時脈產生器包含有：一第一環狀振盪器，用來產生該第一振盪時脈，其包括複數個串接的反向單元(inversion cell)以及一串接的該第一金屬線；以及一第二環狀振盪器，用來產生該第二振盪時脈，其包括該複數個串接的反向單元以及一串接的該第二金屬線；其中，該第一金屬線之長度大於該第二金屬線之長度。
- 一種元件特性量測電路，其包含：一振盪時脈產生器，用來產生一第一振盪時脈以及一第二振盪時脈；一除頻器，用以對第一振盪時脈進行除頻操作以產生一第三時脈，以及對第二振盪時脈進行除頻操作以產生一第四時脈；一頻率檢測器，用來根據一參考時脈來檢測該第三時脈之頻率以輸出一第一計數值，以及根據該參考時脈來檢測該第四時脈 之頻率以輸出一第二計數值；以及一控制器，用來根據該第一計數值來得到一第一振盪週期，根據該第二計數值來得到一第二振盪週期，以及根據該第一振盪週期與該第二振盪週期來得到一量測結果；其中該振盪時脈產生器包含有：一第一環狀振盪器，用來產生該第一振盪時脈，其包括複數個串接的反向單元以及一串接的延遲單元；以及一第二環狀振盪器，用來產生該第二振盪時脈，其包括該複數個串接的反向單元；其中該控制器對該第一振盪週期與該第二振盪週期進行一減法運算來得到該量測結果，該量測結果對應該延遲單元所造成的延遲。
- 如申請專利範圍第14項所述之元件特性量測電路，其中該延遲單元為一緩衝器、電阻、電容、或蛇形彎屈迂迴前進之導線。
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