JP2009216617A - サンプリングクロック生成回路および交流信号測定装置 - Google Patents

サンプリングクロック生成回路および交流信号測定装置 Download PDF

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訓久 久保田
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Abstract

【課題】時間に比例して周波数が変化する交流信号を例えばフーリエ変換解析のためのディジタル信号に正確に変換する。
【解決手段】交流信号S1(周波数f=a×t+b)の立ち上がりゼロクロス点に同期して検出信号S3を出力するゼロクロス検出部11と、処理部12とを備え、処理部12は、交流信号S1の周期の長さを2回(T1,T2)計測し、長さT1,T2と、a=(T1−T2)/(T1×T2×(T1+T2))およびb=(1−a×T1×T1)/T1の各式とに基づいてa,bを算出し、長さを計測した周期以後に到来する所望周期に対するN(2のべき乗)個のサンプリングクロックの出力タイミングをa,bに基づいて算出し、この出力タイミングに基づいてサンプリングクロックS4を生成して出力する。
【選択図】図1

Description

本発明は、交流信号をフーリエ変換解析のためのディジタル信号に変換するA/D変換部に供給するサンプリングクロックを生成するサンプリングクロック生成回路、およびこのサンプリングクロック生成回路を備えた交流信号測定装置に関するものである。
この種のサンプリングクロック生成回路として、本願発明者は下記特許文献1に開示された交流信号測定装置に使用されているサンプリングクロック生成回路を提案している。このサンプリングクロック生成回路は、ゼロボルトと入力した交流信号とが交差(ゼロクロス)するタイミングに同期して検出信号を生成する検出信号生成部と、期首および期末がゼロクロスのタイミングに同期する交流信号のm(mは1以上の整数)周期毎に各m周期における交流信号の周波数を各検出信号に基づいて測定すると共に周波数を示す周波数データを出力する周波数測定部と、各m周期後の所定のタイミングで、出力しているサンプリングクロックの周波数を周波数データで示される周波数を2のべき乗倍した周波数に変更するクロック生成部とを備えている。このサンプリングクロック生成回路では、入力した交流信号の周波数が変動したときにフィードバックループの遅延時間に起因して発生するPLL回路(位相比較器、ループフィルタおよびVCOなどで構成されたPLL回路)特有のサンプリングクロックの周波数変動を回避することができる結果、交流信号の周波数を2のべき乗倍した周波数のサンプリングクロックを安定して、しかも瞬時に生成することができる。
特開2005−337980号公報(第2−7頁、第1図)
ところで、近年では、例えばモータ用の駆動信号のように、その周波数が時間に比例して変化する交流信号をフーリエ変換解析したいという要望がある。ところが、上記した従来のサンプリングクロック生成回路には、周波数が一定の交流信号のみを対象としているため、この要望に応えることができないという解決すべき課題が存在している。
本発明は、上記の課題を解決すべくなされたものであり、時間に比例して周波数が変化する交流信号を例えばフーリエ変換解析のためのディジタル信号に正確に変換し得るサンプリングクロックを生成し得るサンプリングクロック生成回路、およびこのサンプリングクロック生成回路を備えたサンプリング装置を提供することを主目的とする。
上記目的を達成すべく請求項1記載のサンプリングクロック生成回路は、周波数fが時間tの関数(f=a×t+b。aは周波数加速度、bは初期値)で変化する交流信号をディジタル信号に変換するA/D変換部に供給するサンプリングクロックを前記交流信号の1周期においてN個(Nは2のべき乗)生成するサンプリングクロック生成回路であって、前記交流信号の立ち上がりゼロクロス点および立ち下がりゼロクロス点のうちの一方のゼロクロス点に同期して検出信号を出力するゼロクロス検出部と、処理部とを備え、前記処理部は、前記検出信号に基づいて前記交流信号の周期の長さを少なくとも2回(T1,T2)計測する周期計測処理と、当該各周期の長さT1,T2および下記式(1)に基づいて前記周波数加速度aを算出すると共に前記周期の長さT1、前記算出した周波数加速度aおよび下記式(2)に基づいて前記初期値bを算出するパラメータ算出処理と、当該パラメータ算出処理で算出した前記周波数加速度aおよび前記初期値bに基づいて前記長さを計測した周期以後に到来する所望周期に対するN個のサンプリングクロックの出力タイミングを算出するタイミング算出処理と、当該算出した出力タイミングに基づいて前記サンプリングクロックを生成して出力する出力処理とを実行する。
a=(T1−T2)/(T1×T2×(T1+T2)) ・・・・・ (1)
b=(1−a×T1×T1)/T1 ・・・・・ (2)
また、請求項2記載のサンプリングクロック生成回路は、請求項1記載のサンプリングクロック生成回路において、前記処理部は、前記長さを計測した周期のうちの最初の周期からM(Mは3以上の整数)番目に到来する周期を前記所望周期としたときに、前記タイミング算出処理において、前記周波数加速度a、前記初期値bおよび下記式(3)に基づき、前記最初の周期から前記所望周期までの各周期に対する前記サンプリングクロックについての当該最初の周期の期首を起点とした出力タイミングを算出し、前記出力処理において、当該算出した出力タイミングのうちの当該所望周期についての出力タイミングに基づいて前記サンプリングクロックを生成して出力する。
t=(√(b+4×a×k/N)−b)/(2×a) ・・・・・ (3)
ここで、kは1以上(M×N)以下の各整数。
また、請求項3記載のサンプリングクロック生成回路は、請求項1記載のサンプリングクロック生成回路において、前記処理部は、前記長さを計測した周期のうちの最初の周期からM(Mは3以上の整数)番目に到来する周期を前記所望周期としたときに、前記タイミング算出処理において、前記周波数加速度a、前記初期値bおよび下記式(4),(5)に基づき、当該所望周期のN個のサンプリングクロックについて当該所望周期の期首を起点とした出力タイミングを算出し、当該算出した出力タイミングに基づいて前記サンプリングクロックを生成して出力する。
t=(√(b +4×a×n/N)−b)/(2×a) ・・・・ (4)
=(√(b+4×a×M) ・・・・ (5)
ここで、nは1以上N以下の各整数。
また、請求項4記載の交流信号測定装置は、請求項1から3のいずれかに記載のサンプリングクロック生成回路と、前記A/D変換部とを備え、前記A/D変換部は、前記サンプリングクロックを入力して当該サンプリングクロックに同期して前記交流信号をサンプリングする。
請求項1記載のサンプリングクロック生成回路および請求項4記載の交流信号測定装置では、サンプリングクロック生成回路のゼロクロス検出部が、時間tに比例して周波数f(=a×t+b)が変化する交流信号の立ち上がりゼロクロス点および立ち下がりゼロクロス点のうちの一方のゼロクロス点に同期して検出信号を出力し、サンプリングクロック生成回路の処理部が、検出信号に基づいて交流信号の周期の長さを少なくとも2回(T1,T2)計測し、各周期の長さT1,T2および上記式(1),(2)に基づいて周波数加速度aおよび初期値bを算出し、算出した周波数加速度aおよび初期値bに基づいて長さを計測した周期以後に到来する所望周期(未来の周期)に対するN(2のべき乗)個のサンプリングクロックの出力タイミングを算出し、この算出した出力タイミングに基づいてサンプリングクロックを生成して出力する。
したがって、このサンプリングクロック生成回路および交流信号測定装置によれば、時間tに比例して周波数fが変化する交流信号の一方のゼロクロス点に正確に同期し、かつその周波数fに比例して間隔が変化するサンプリングクロックを、交流信号の各周期において正確にN個出力することができる。これにより、A/D変換部が交流信号をその周波数の変化に対応してサンプリング間隔を変化させつつサンプリングしてディジタル信号に変換することができる結果、例えば、このディジタル信号を用いたFFT演算処理(フーリエ変換解析)により、交流信号についての特性データを正確に算出することができる。
また、請求項2記載のサンプリングクロック生成回路および請求項4記載の交流信号測定装置では、長さを計測した周期のうちの最初の周期から所望周期までの各周期に対するサンプリングクロックについての出力タイミングを上記式(3)に基づいて算出し、この算出した出力タイミングのうちの所望周期についての出力タイミングに基づいてサンプリングクロックを生成して出力する。したがって、このサンプリングクロック生成回路および交流信号測定装置によれば、所望周期についての出力タイミングを1つの算出式で簡単に算出することができる。
また、請求項3記載のサンプリングクロック生成回路および請求項4記載の交流信号測定装置では、所望周期に対するサンプリングクロックについての出力タイミングを上記式(4),(5)に基づいて算出し、所望周期において、この算出した出力タイミングに基づいてサンプリングクロックを生成して出力する。したがって、このサンプリングクロック生成回路および交流信号測定装置によれば、所望周期についての出力タイミングのみを算出することができる。
以下、添付図面を参照して、本発明に係るサンプリングクロック生成回路、およびサンプリングクロック生成回路を含む交流信号測定装置について説明する。
最初に、交流信号測定装置1の構成について、図面を参照して説明する。
交流信号測定装置1は、図1に示すように、入力部2、フィルタ部3、サンプリングクロック生成回路4、A/D変換部5および信号処理部6を備え、フーリエ変換解析により、入力した交流信号S1についての特性データD2を生成(測定)する。ここで、交流信号S1は、周波数fが時間tの関数(f=a×t+b。パラメータaは周波数加速度を示し、パラメータbは初期値を示す)で変化するものとする。また、交流信号S1の特性データD2とは、電圧値や電流値等の平均値や実効値、高調波、および交流信号S1に基づいて算出される電力などの各種パラメータを特定するデータをいう。
入力部2は、例えばバッファ回路などで構成されて、例えば入力した電圧信号である交流信号S1を低インピーダンスで装置内部の各部に出力する。なお、さらにアンプを備えて、入力した交流信号S1を所定のレベルまで増幅するように入力部2を構成することもできる。フィルタ部3は、入力部2から出力された交流信号S1を入力して、この交流信号S1に含まれているノイズ成分を除去して交流信号S2として出力する。
サンプリングクロック生成回路4は、ゼロクロス検出部11、処理部12および記憶部13を備え、交流信号S1をフーリエ変換解析のためのディジタル信号D1に変換するA/D変換部5に供給するサンプリングクロックS4を交流信号S1の1周期においてN個(Nは2のべき乗)生成する。本例では一例として、発明の理解を容易にするため、N=8(=2)として説明する。
ゼロクロス検出部11は、入力した交流信号S2の立ち上がりゼロクロス点および立ち下がりゼロクロス点のうちの一方のゼロクロス点を検出すると共にこの一方のゼロクロス点の検出タイミングに同期して検出信号S3を出力する。一例として、ゼロクロス検出部11は、コンパレータ回路と微分回路(いずれも図示せず)とを備えて構成されている。ゼロクロス検出部11では、コンパレータ回路が、入力した交流信号S2と基準電位(グランド電位)とを比較することにより、二値化信号を生成する。また、微分回路は、二値化信号に対して立ち上がり微分または立ち下がり微分(本例では、一例として立ち上がり微分)を行うことにより、二値化信号の立ち上がりに同期して(つまり、交流信号S2の立ち上がりゼロクロス点(交流信号S1の立ち上がりゼロクロス点でもある)の検出タイミングに同期して)検出信号S3を出力する。
処理部12は、交流信号S1の周波数よりも十分に高い周波数(数十MHz以上)で動作するCPUで構成されて、記憶部13に記憶されている動作プログラムに従って作動して、サンプリングクロック生成処理を実行する。このサンプリングクロック生成処理では、処理部12は、交流信号S1の周期の長さを連続して少なくとも2回計測する周期計測処理と、交流信号S1についての上記のパラメータa,bを算出するパラメータ算出処理と、A/D変換部5へのサンプリングクロックS4の出力タイミングを算出するタイミング算出処理と、その出力タイミングに基づいてサンプリングクロックS4を出力する出力処理とを実行する。記憶部13は、ROMやRAMなどの半導体メモリで構成されて、処理部12のワークメモリとして機能する。また、記憶部13には、処理部12の動作プログラムが予め記憶されている。
A/D変換部5は、一例としてサンプリングホールド回路およびA/D変換回路(いずれも図示せず)で構成されて、入力したサンプリングクロックS4に同期して交流信号S1をサンプリングすると共にA/D変換して交流信号S1の電圧値を示すディジタル信号D1を出力する。信号処理部6は、一例として、DSP(Digital Signal Processor)を用いて構成されて、入力したディジタル信号D1をFFT演算処理(フーリエ変換解析)することにより、交流信号S1についての特性データD2を算出して出力する。この場合、ディジタル信号D1が交流信号S1の1周期を2のべき乗で正確にサンプリングして得られたデータとなっているため、信号処理部6は、効率よくかつ正確にFFT演算処理を実行する。
次に、交流信号測定装置1の動作について図1,2を参照して説明する。
この交流信号測定装置1では、入力部2が、入力した交流信号S1を低インピーダンスでフィルタ部3とA/D変換部5とに出力する。フィルタ部3は、その交流信号S1のノイズ成分を除去して交流信号S2としてサンプリングクロック生成回路4に出力する。サンプリングクロック生成回路4では、ゼロクロス検出部11が、図2に示すように、入力した交流信号S2の立ち上がりゼロクロス点を検出する都度、その検出タイミングに同期して検出信号S3を出力する。
処理部12は、検出信号S3を入力した時点で、サンプリングクロック生成処理を実行する。このサンプリングクロック生成処理では、処理部12は、まず、ゼロクロス検出部11からの検出信号S3の出力間隔を計測することにより、交流信号S1の周期の長さを計測する周期計測処理を実行する。この周期計測処理では、処理部12は、図2に示すように、検出信号S3の出力間隔を連続して少なくとも2回(一例として同図では、1番目と2番目の各検出信号S3間の出力間隔T1と、2番目と3番目の各検出信号S3間の出力間隔T2)を計測して、各出力間隔に対応する交流信号S1の周期(同図における1、2番目の周期)の長さとして記憶部13に記憶させる。
次いで、処理部12は、パラメータ算出処理を実行する。このパラメータ算出処理では、処理部12は、記憶部13に記憶されている2つの周期の長さT1,T2を読み出して下記式(1)に代入することにより、交流信号S1についての上記のパラメータaを算出すると共に、算出したパラメータaと周期の長さT1とを下記式(2)に代入することにより、パラメータbを算出する。また、処理部12は、算出した各パラメータa,bを記憶部13に記憶させる。
a=(T1−T2)/(T1×T2×(T1+T2)) ・・・・・ (1)
b=(1−a×T1×T1)/T1 ・・・・・ (2)
なお、上記式(1),(2)は次のようにして導き出される。
まず、ωt=2×π×f×t=2×π×(a×t+b)×tが成り立つため、初期値b、周波数加速度aにおけるj周期後(jは1以上の整数)の時間Tjでは以下の式が成り立つ。
ωTj=2×π×(a×Tj+b)×Tj=2×π×j
また、この式を整理して、式(a×Tj+b)×Tj=jが成り立つ。
この式に、記憶部13から読み出した1周期(j=1)後の時間(1番目の周期の長さT1)を代入して、
a×T1+b×T1=1 ・・・・・ (a)
が成り立つ。また、記憶部13から読み出した2周期(j=2)後の時間(1,2番目の各周期の長さの合計(T1+T2))を代入して、
a×(T1+T2)+b×(T1+T2)=2 ・・・・・ (b)
が成り立つ。次いで、この2つの式(a),(b)からbを消去することにより、上記式(1)が導出され、また式(a)を変形することにより、上記式(2)が導出される。
続いて、処理部12は、タイミング算出処理を実行する。このタイミング算出処理では、処理部12は、パラメータ算出処理で算出した周波数加速度a、初期値bおよび下記式(3)に基づいて、長さを計測した周期(図2では1,2番目の周期)のうちの最初の周期(1番目の周期)からM(Mは3以上の整数)番目に到来する周期を所望周期として、この所望周期に対するN個のサンプリングクロックS4の各出力タイミングを算出して記憶部13に記憶させる。本例では、一例として、最初の周期(1番目の周期)からM番目の周期までの各周期に対するサンプリングクロックS4の出力タイミング(最初の周期の期首(ゼロクロス点A)を起点とした出力タイミング(具体的には、この起点からの経過時間t))を算出して記憶させる。
t=(√(b+4×a×k/N))−b)/(2×a) ・・・・・(3)
ここで、kは1以上(M×N)以下の各整数である。
なお、上記式(3)は次のようにして導き出される。
上記したように、ωt=2×π×f×t=2×π×(a×t+b)×tが成り立ち、さらに2×π×(a×t+b)×t=2×π×k/Nとの関係式が成り立つ。また、この関係式を変形すると、下記のようにtについての2次方程式となる。
a×t+b×t−k/N=0
この2次方程式の解は次の式(c)となる。
t=(−b±√(b+4×a×k/N))/(2×a) ・・・・・(c)
したがって、本例ではtは負の数とはならないことを考慮すれば、この式(c)から上記式(3)が導出される。
このタイミング算出処理によって算出されるM番目の周期(1,2番目の周期以後に到来する所望周期(未来の周期)。一例として、3,4,5番目の各周期)に対するN個のサンプリングクロックS4の出力タイミング(経過時間t)の具体例を算出すると、図3に示す時間テーブルとなる。なお、この例では、一例として、計測した1番目の周期の長さT1が0.0854(秒)、2番目の周期の長さT2が0.0677(秒)であるとした。また、この図において「周波数f」および「振幅」は、交流信号S1の周波数fおよび振幅を示している。この図によれば、最初の周期(1番目の周期)から、周期の長さを計測した1,2番目の各周期に対して未来の周期となる3,4,5番目の各周期までの各周期に対するサンプリングクロックS4の出力タイミング(経過時間t)が正確に算出されていることが確認される。すなわち、サンプリングクロックS4が、交流信号S1の立ち上がりゼロクロス点(振幅がほぼゼロになる点)に正確に同期し、かつ間隔が交流信号S1の周波数fに比例して変化し、しかも交流信号S1の各周期において正確にN個(8回)出力されるようになっていることが確認される。また、処理部12は、図2に示すように、長さを計測する2番目の周期の期末において検出される検出信号S3の入力後において、上記した周期計測処理、パラメータ算出処理およびタイミング算出処理を極めて短時間のうちに実行して、3番目の周期でのサンプリングクロックS4の最初の出力タイミングが到来する前にこれらの処理を完了させる。
最後に、処理部12は、生成処理を実行する。この生成処理では、処理部12は、記憶部13に記憶されている所望周期についての出力タイミングに基づいて、図2に示すように、3,4,5番目の各周期に対してN個のサンプリングクロックS4をそれぞれ出力する。具体的には、処理部12は、1番目の周期の期首(ゼロクロス点A)からの経過時間を計測しつつ、この経過時間が記憶部13に記憶されている所望周期(3,4,5番目の周期)についての経過時間tと一致したときにサンプリングクロックS4を順次生成して、A/D変換部5に出力する。処理部12は、記憶部13に記憶されている出力タイミング(経過時間t)に基づくサンプリングクロックS4の生成および出力を続行し、すべての出力タイミング(経過時間t)に基づくサンプリングクロックS4の出力後に生成処理を終了させる。これにより、サンプリングクロックの生成処理が完了する。
A/D変換部5は、サンプリングクロック生成回路4の処理部12から出力されるサンプリングクロックS4に基づき、交流信号S1の3番目以降の各周期についてサンプリングしてディジタル信号D1を出力する。信号処理部6は、A/D変換部5から出力されるディジタル信号D1をFFT演算処理することにより、交流信号S1についての特性データD2を算出して出力する。
このように、このサンプリングクロック生成回路4、およびこのサンプリングクロック生成回路4を備えた交流信号測定装置1では、サンプリングクロック生成回路4のゼロクロス検出部11が、時間tに比例して周波数f(f=a×t+b。aは周波数加速度、bは初期値)が変化する交流信号S1の立ち上がりゼロクロス点の検出タイミングに同期して検出信号S3を出力し、サンプリングクロック生成回路4の処理部12が、検出信号S3に基づいて交流信号S1の周期の長さを連続して少なくとも2回(T1,T2)計測し、各周期の長さT1,T2および上記式(1),(2)に基づいて周波数加速度aおよび初期値bを算出し、算出した周波数加速度aおよび初期値bに基づいて所望周期(未来の周期)に対するN個のサンプリングクロックの出力タイミングを算出し、この算出した出力タイミングに基づいてサンプリングクロックS4を生成して、A/D変換部5に出力する。
したがって、このサンプリングクロック生成回路4およびこの交流信号測定装置1によれば、時間tに比例して周波数fが変化する交流信号S1の立ち上がりゼロクロス点に正確に同期し、かつその周波数fに比例して間隔が変化するサンプリングクロックS4を、交流信号S1の各周期(所望周期)において正確にN個(2のべき乗回(本例では8回))出力することができる。これにより、A/D変換部5が交流信号S1をその周波数の変化に対応してサンプリング間隔を変化させつつサンプリングしてディジタル信号D1に変換することができる結果、信号処理部6において、このディジタル信号D1を用いたFFT演算処理(フーリエ変換解析)により、交流信号S1についての特性データD2を正確に算出することができる。
具体的には、このサンプリングクロック生成回路4、およびこのサンプリングクロック生成回路4を備えた交流信号測定装置1では、周波数加速度aおよび初期値bと共に、上記式(3)に基づいて出力タイミングを算出し、この算出した出力タイミングのうちの所望周期についての出力タイミングに基づいて、所望周期に対するサンプリングクロックを生成して出力する。したがって、このサンプリングクロック生成回路および交流信号測定装置によれば、所望周期についての出力タイミングを1つの算出式で簡単に算出することができる。
なお、上記したサンプリングクロック生成回路4では、所望周期に対するサンプリングクロックS4の出力タイミングと共に、長さを計測した周期(1,2番目の周期)に対するサンプリングクロックS4の出力タイミングも算出しているが、所望周期に対するサンプリングクロックS4の出力タイミングのみを算出するタイミング算出処理を採用することもできる。以下、このタイミング算出処理について説明する。
このタイミング算出処理では、処理部12は、パラメータ算出処理で算出した周波数加速度a、初期値bおよび下記式(4),(5)に基づいて、所望周期(長さを計測した周期のうちの最初の周期からM番目に到来する周期)に対するN個のサンプリングクロックS4の出力タイミングを算出して記憶部13に記憶させる。この場合、所望周期の期首を起点とした出力タイミング(具体的には、この起点からの経過時間t)を算出して記憶させる。
t=(√(b +4×a×n/N)−b)/(2×a) ・・・・ (4)
=(√(b+4×a×M) ・・・・ (5)
ここで、nは1以上N以下の各整数とする。
なお、上記式(4),(5)は次のようにして導き出される。まず、式(5)の導出について説明する。長さを計測した周期のうちの最初の周期(1番目の周期)の期首から、M番目の周期が経過するまでの時間をt(M)とすると、M番目の周期完了までに、M×N個の出力タイミングが生成されるため、これを上記式(3)にkとして代入して、下記式(d)が成り立つ。
(M)=(√(b+4×a×M)−b)/(2×a) ・・・・(d)
また、同様にして、長さを計測した周期のうちの最初の周期(1番目の周期)の期首から、(M+1)番目の周期が経過するまでの時間をt(M+1)とすると、(M+1)番目の周期完了までに、(M+1)×N個の出力タイミングが生成されるため、これを上記式(3)にkとして代入して、下記式(e)が成り立つ。
(M+1)=(√(b+4×a×(M+1))−b)/(2×a) ・・ (e)
したがって、(M+1)番目の周期の長さTM+1は、上記式(e)から上記式(d)を減算することにより、
M+1=(√(A+4×a)−√(A))/(2×a) ・・・・ (f)
ここで、A=(b+4×a×N)とする。
(M+1)周期では、初期値bから1回転する時間(1周期)がTM+1であるため、下記式(g)が成り立つ。
=(1−a×TM+1×TM+1)/TM+1 ・・ (g)
また、この式(g)に上記式(f)を代入して整理することにより、下記のように式(5)が導出される。
=√(A)=√(b+4×a×M)
また、このbを初期値として、(M+1)周期に対するN個の出力タイミングを考えると、この(M+1)周期でのn個目の出力タイミング((M+1)周期の期首からの経過時間t)は、上記式(c)におけるbをbとし、kをnとしたものとなることから、下記式(h)が成り立ち、
t=(−b±√(b +4×a×n/N))/(2×a) ・・・・ (h)
したがって、本例ではtは負の数とはならないことを考慮すれば、この式(h)から上記式(4)が導出される。
このタイミング算出処理によって算出されるM番目の周期(1,2番目の周期以後に到来する所望周期(未来の周期)。一例として、3,4,5番目の各周期)に対するN個のサンプリングクロックS4の出力タイミング(経過時間t)の具体例を算出すると、図4に示す時間テーブルとなる。なお、この例でも、計測した1番目の周期の長さT1が0.0854(秒)、2番目の周期の長さT2が0.0677(秒)であるとした。また、この図において「周波数f」および「振幅」は、交流信号S1の周波数fおよび振幅を示している。この図によれば、このタイミング算出処理によっても、各周期に対するサンプリングクロックS4の出力タイミング(3番目の周期ではこの周期の期首からの経過時間t、4番目の周期ではこの周期の期首からの経過時間t、5番目の周期ではこの周期の期首からの経過時間t)が正確に算出されていることが確認される。なお、処理部12は、このタイミング算出処理を実行して、サンプリングクロックS4の出力タイミングを算出したときには、周期毎にその期首からの経過時間を計測しつつ、この経過時間が記憶部13に記憶されているその周期についての経過時間tと一致したときにサンプリングクロックS4を順次生成して、A/D変換部5に出力する。例えば、3番目の周期では、その周期の期首からの経過時間を計測しつつ、この経過時間が記憶部13に記憶されている3番目の周期についての経過時間tと一致したときにサンプリングクロックS4を順次生成して、A/D変換部5に出力する。
このタイミング算出処理を実行する構成においても、時間tに比例して周波数fが変化する交流信号S1の立ち上がりゼロクロス点に正確に同期し、かつその周波数fに比例して間隔が変化するサンプリングクロックS4を、交流信号S1の各周期(所望周期)において正確にN個(2のべき乗回(本例では8回))出力することができるため、先に説明したタイミング算出処理の実行時と同様にして、A/D変換部5が交流信号S1をその周波数の変化に対応してサンプリング間隔を変化させつつサンプリングしてディジタル信号D1に変換することができる結果、信号処理部6において、このディジタル信号D1を用いたFFT演算処理(フーリエ変換解析)により、交流信号S1についての特性データD2を正確に算出することができる。また、このタイミング算出処理を実行する構成によれば、所望周期に対するサンプリングクロックについての出力タイミングのみを算出することができる。
なお、上記したサンプリングクロック生成回路4では、交流信号S1の周波数fの変化率(周波数加速度a)が一定であるとの前提において、最初に算出した各パラメータa,bを使用して、未来のすべての周期に対する出力タイミングを算出しているが、交流信号S1の周波数fが少しずつずれることもある。このため、例えば、交流信号S1の各周期の長さの計測を継続しつつ、次に到来する1つの周期に対するサンプリングクロックS4の出力タイミングのみを、この1つの周期の直前の2つの周期の長さを用いて算出するという処理を繰り返し実行する構成を採用することもできる。
交流信号測定装置1の構成を示すブロック図である。 交流信号測定装置1の動作を説明するためのタイミングチャートである。 出力タイミング(経過時間t)の算出例を説明するためのサンプリング回数、経過時間t、交流信号S1の周波数fおよび振幅のデータテーブルを示す図である。 出力タイミング(経過時間t)の他の算出例を説明するためのサンプリング回数、経過時間t、交流信号S1の周波数fおよび振幅のデータテーブルを示す図である。
符号の説明
1 交流信号測定装置
2 入力部
3 フィルタ部
4 サンプリングクロック生成回路
5 A/D変換部
6 信号処理部
11 ゼロクロス検出部
12 処理部
13 記憶部
D1 ディジタル信号
S1,S2 交流信号
S3 検出信号
S4 サンプリングクロック

Claims (4)

  1. 周波数fが時間tの関数(f=a×t+b。aは周波数加速度、bは初期値)で変化する交流信号をディジタル信号に変換するA/D変換部に供給するサンプリングクロックを前記交流信号の1周期においてN個(Nは2のべき乗)生成するサンプリングクロック生成回路であって、
    前記交流信号の立ち上がりゼロクロス点および立ち下がりゼロクロス点のうちの一方のゼロクロス点に同期して検出信号を出力するゼロクロス検出部と、処理部とを備え、
    前記処理部は、前記検出信号に基づいて前記交流信号の周期の長さを少なくとも2回(T1,T2)計測する周期計測処理と、当該各周期の長さT1,T2および下記式(1)に基づいて前記周波数加速度aを算出すると共に前記周期の長さT1、前記算出した周波数加速度aおよび下記式(2)に基づいて前記初期値bを算出するパラメータ算出処理と、当該算出した前記周波数加速度aおよび前記初期値bに基づいて前記長さを計測した周期以後に到来する所望周期に対するN個のサンプリングクロックの出力タイミングを算出するタイミング算出処理と、当該算出した出力タイミングに基づいて前記サンプリングクロックを生成して出力する出力処理とを実行するサンプリングクロック生成回路。
    a=(T1−T2)/(T1×T2×(T1+T2)) ・・・・・ (1)
    b=(1−a×T1×T1)/T1 ・・・・・ (2)
  2. 前記処理部は、前記長さを計測した周期のうちの最初の周期からM(Mは3以上の整数)番目に到来する周期を前記所望周期としたときに、前記タイミング算出処理において、前記周波数加速度a、前記初期値bおよび下記式(3)に基づき、前記最初の周期から前記所望周期までの各周期に対する前記サンプリングクロックについての当該最初の周期の期首を起点とした出力タイミングを算出し、前記出力処理において、当該算出した出力タイミングのうちの当該所望周期についての出力タイミングに基づいて前記サンプリングクロックを生成して出力する請求項1記載のサンプリングクロック生成回路。
    t=(√(b+4×a×k/N)−b)/(2×a) ・・・・・ (3)
    ここで、kは、1以上(M×N)以下の各整数。
  3. 前記処理部は、前記長さを計測した周期のうちの最初の周期からM(Mは3以上の整数)番目に到来する周期を前記所望周期としたときに、前記タイミング算出処理において、前記周波数加速度a、前記初期値bおよび下記式(4),(5)に基づき、当該所望周期のN個のサンプリングクロックについて当該所望周期の期首を起点とした出力タイミングを算出し、当該算出した出力タイミングに基づいて前記サンプリングクロックを生成して出力する請求項1記載のサンプリングクロック生成回路。
    t=(√(b +4×a×n/N)−b)/(2×a) ・・・・ (4)
    =(√(b+4×a×M) ・・・・ (5)
    ここで、nは1以上N以下の各整数。
  4. 請求項1から3のいずれかに記載のサンプリングクロック生成回路と、前記A/D変換部とを備え、
    前記A/D変換部は、前記サンプリングクロックを入力して当該サンプリングクロックに同期して前記交流信号をサンプリングする交流信号測定装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012168025A (ja) * 2011-02-15 2012-09-06 Hioki Ee Corp 測定装置および測定方法
JP2016156695A (ja) * 2015-02-24 2016-09-01 日本電信電話株式会社 位相較正装置
JP2019074350A (ja) * 2017-10-13 2019-05-16 日置電機株式会社 解析装置および解析方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5923224A (ja) * 1982-07-29 1984-02-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 定幅トラツキング分析装置
JP2005337980A (ja) * 2004-05-28 2005-12-08 Hioki Ee Corp 交流信号測定装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5923224A (ja) * 1982-07-29 1984-02-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 定幅トラツキング分析装置
JP2005337980A (ja) * 2004-05-28 2005-12-08 Hioki Ee Corp 交流信号測定装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012168025A (ja) * 2011-02-15 2012-09-06 Hioki Ee Corp 測定装置および測定方法
JP2016156695A (ja) * 2015-02-24 2016-09-01 日本電信電話株式会社 位相較正装置
JP2019074350A (ja) * 2017-10-13 2019-05-16 日置電機株式会社 解析装置および解析方法
JP7032096B2 (ja) 2017-10-13 2022-03-08 日置電機株式会社 解析装置および解析方法

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