TWI454708B - Can be adapted to different specifications of the test machine probe card structure - Google Patents

Description

可同時適應不同規格測試機之探針卡結構

　　本發明係有關於一種可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，尤指一種單一探針卡，可同時適用於不同積體電路測試機之探針卡結構設計。

　　第１圖所示者，係一種傳統積體電路測試機上所使用之探針卡結構，其主要包括有一佈線電路板１、一固定環２、一探針固定裝置３，以及一用穩固該佈線電路板１之加強件４等主要元件所構成，且上述各元件依照使用測試機規格之不同，均需配合設計成各不相同之形狀、大小與探觸方式；因此，就一般性認知，每一積體電路測試機均需裝設使用其專屬之探針卡，否則將因上揭規格之不相容而無法使用。

　　然而，由於目前電子產品之功能整合愈來愈複雜，為因應此一發展，使得運用以測試積體電路之測試機的訊號測試能力，亦相對必需日益擴增以提高測試產能，例如由原本只具256個測試通道(channel)之較小規格測試機，擴展至具有512個測試通道之較大規格測試機。

　　為此，從事積體電路測試之廠商，通常係以重新購置該等較大規格測試機加以因應，另有一部份廠商，則重新修改該原本較小規格測試機之軟／硬體，以適應產能日益擴大之需求，否則較小規格之舊測試機，勢將被閒置而日漸遭淘汰，如此，顯然造成極高成本之浪費；然而，無論重新購入大規格機種已提昇產能，亦或改裝原本小規格產能之機種，使之可發揮較大規格之產能者，均需花費極高昂之成本，顯然並非一合理完善之解決措施。

　　因此，若能夠在新、舊測試機之間，取得一良好之協調機制，令彼此間之運用，能透過一合理且可行之轉換界面，達到兼具大小規格測試之機能；如此，不僅能有效解決舊或較小規格之測試機種即將被日漸淘汰之問題，更將使每一新舊機台之產能，均發揮其最大的使用效能及提高其稼動率者。

　　本發明主要係在於提供一種可同時適應不同規格積體電路測試機使用之探針卡結構，其係在一第一種規格探針卡之佈線電路板，與一用以裝置在第二種規格測試機之機座上的加強件之間，設有一規格轉變界面裝置；在該規格轉變界面裝置中設有一規格轉變電路板，該規格轉變電路板朝向該加強件之一側面上，設有對應第二種規格之外接電聯接部，另在朝向該佈線電路板之該一側面上，則設有相對該佈線電路板各外接電觸點之第一種規格內接電連接部，使得利用該規格轉變界面裝置，可將原本與測試機不同規格之探針卡，透過該規格轉變電路板之規格轉換，而得以直接裝置在該測試機上加以使用，令該單一規格之探針卡，除可適用於該探針卡原適用之規格的測試機外，更可透過該規格轉變界面裝置，被兼用於另一不同規格測試機之上，藉此，乃得以擴展該探針卡的可適用機種，進而提高各不同規格探針之可被運用率者。

　　依以上之設計理念，本發明特別在該規格轉變電路板朝向探針卡之一側面上，裝置有一外圍定位環，該外圍定位環之接近外圍處，設具有一軸向凸環緣，此恰適以精密圍限一探針座之外緣，且在該外圍定位環外之內緣以內，再結合一內圍定位環，使得該探針卡之佈線電路板，可簡易且精確地被裝配在外圍定位環的凸環緣之內，並透過該探針座及外圍定位環之上，相對於該規格轉變電路板上之各該內接電聯接部所設之銜接電路或觸點，而與該佈線電路板各外接觸點形成電聯接；使得原不同於該探針卡規格之測試機，透過該規格轉變界面裝置之中介轉換，即能直接裝配該相異規格之探針卡，以對相對應之積體電路進行測試。

　　以下即配合本發明之較佳實施例示意圖，詳細說明其結構、功能及其他特點。

　　請參第２圖至第４Ａ圖及第５圖所示者，本發明主要係在一符合一第一種規格之探針卡之佈線電路板１０（請參第５圖），與一用以裝置在一第二種規格測試機之機座上的加強件４０之間，裝設有一規格轉變界面裝置５，該探針卡之結構可如前揭第１圖所示之型式，而具有佈線電路板１０，固定環２０及探針固定裝置３０等；該規格轉變界面裝置５，可由一規格轉變電路板５０、一外圍定位環５１、一內圍定位環５２及一探針座５３所構成；該規格轉變電路板５０朝向該符合第二種規格之加強件４０的ㄧ側面５０１上，設有對應該第二種規格測試機而設之第二種規格外接電聯接部５０２，另朝向該佈線電路板１０之該一側面５０３上，則設有對應該符合第一種規格的佈線電路板１０上之各外接電觸點１０１的內接電聯接部５０４；且該內外電連接部５０２、５０４之間係形成電聯接５０５；又在此側面５０３上，朝向該佈線電路板１０之方向，裝置有該外圍定位環５１，該外圍定位環５１接近外圍處，設有一朝向探針卡突起之凸環緣５１０，且整體外圍定位環５１之上，配合該規格轉變電路板１０上之第一種規格內接電聯接部５０４，乃設有相對應之符合第一種規格的銜接電路或觸點５１１；另位於該外圍定位環５１形成中空之一內圍處，則另裝置有該內圍定位環５２，該探針座５３則係以其外緣５３１對應該凸環緣５１０之內圍，而設置在該外圍定位環５１朝向該佈線電路板１０之一側面５１２上，且該探針座５３上亦配合該符合第一種規格之銜接電路或觸點５１１，設具相對應之第一種規格銜接電路或觸點５３２；於是，依此即在該加強件４０之下方結合一由該規格轉變電路板５０、該外圍定位環５１、該內圍定位環５２及該探針座５３所共同形成之規格轉變界面裝置５。

　　請參第５圖～第６Ａ圖所示，依以上之規格轉換界面裝置５，在該規格轉換電路板５０之下方，使用者乃得以將其佈線電路板１０之外接電觸點１０１之規格，設成相符於該規格轉變電路板５０之內接電聯接部５０４或探針座５３之銜接電路或觸點５３２的第一種規格，並以其佈線電路板１０之外圍緣，對應該外圍定位環５１之凸環緣５１０的內緣而嵌入組合，並令該佈線電路板１０之各外接電觸點１０１，與該內接電聯部５０４或各該銜接電路或觸點５３２形成相對應電聯接，如此即完成探針卡與規格轉變界面裝置５之聯結；使用者只需再將其利用上述所搭配結合之加強件４０，裝置於符合該規格轉變電路板５０上方外接電聯接部５０２之第二種規格的測試機上，如此，即可在該第二種規格測試機之上，以該規格轉變界面裝置轉變其測試條件，以對符合該第一種規格之積體電路進行測試。

　　換言之，本發明以該佈線電路板１０所構成之第一種規格探針卡，不僅可直接如第１圖般直接搭配相同規格之加強件４０，以裝置在相同規格之測試機上進行測試作業，更得以如第６圖將該第一種規格探針卡，透過該第一種規格轉變至另一第二種規格的規格轉變界面裝置５，再配合一符合第二種規格之加強件４０，將之裝置在一第二種規格之測試機上，直接進行符合第一種規格之積體電路的測試，使該第二種規格之測試機，能兼具測試前述兩種規格積體電路之機能，該第一種規格探針卡，亦能在該規格轉變界面裝置５之搭配下，分別適應地在兩不同規格測試機之上進行測試，應用上極為便利可行，無論測試機具或探針卡之運用與調配，均將更加靈活，必然因而促進彼此稼動率之提高；對較小產能之舊機具，也提供了延長其產業上可利用壽命之再生價值無疑。

　　綜合以上所述，本發明之探針卡結構，確可有效擴展單一規格探針卡的適用範疇，大幅節省重覆製設探針卡所造成之成本與工時的讓費，為一深具新穎性及進步性之發明；爰依法提出發明專利申請；然而，需特別予以陳明者，係以上之內容，僅在利用本發明之較佳實施例，以便於說明之進行，另舉凡依本發明上述之技術手段所延伸之變化、修飾或等效置換，時皆應屬本發明所得主張之專利範圍。

1、10．．．佈線電路板

101．．．外接電觸點

2、20．．．固定環

3、30．．．探針固定裝置

4、40．．．加強件

5．．．規格轉變界面裝置

50．．．規格轉變電路板

501、503、512．．．側面

502．．．外接電聯接部

504．．．內接電聯接部

505．．．電聯接

51．．．外圍定位環

510．．．探針卡凸環緣

511．．．銜接電路或觸點

52．．．內圍定位環

53．．．探針座

531．．．外緣

532．．．銜接電路或觸點

第１圖係傳統單一規格探針卡之結構剖面示意圖。

第２圖係本發明一較佳實施例之立體分解示意圖。

第３圖係第２圖所示實施例之立體組合圖。

第４圖係第３圖所示組合狀態之結構剖面示意圖。

第４Ａ圖係第４圖Ａ部份之放大示意圖。

第５圖係本發明組合探針卡之實施型態之立體分解示意圖。

第６圖係第５圖所示組合狀態之結構剖面示意圖。

第６Ａ圖係第６圖Ａ部份之放大示意圖。

40．．．加強件

5．．．規格轉變界面裝置

50．．．規格轉變電路板

501、503．．．側面

502．．．外接電聯接部

504．．．內接電聯接部

51．．．外圍定位環

510．．．探針卡凸環緣

511．．．銜接電路或觸點

52．．．內圍定位環

53．．．探針座

531．．．外緣

532．．．銜接電路或觸點

Claims (19)

1. 一種 可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，主要包括有一符合一第一規格之探針卡、一符合一第二規格之加強件，以及一裝置在該兩者之間的規格轉變界面裝置所構成；其中，
   　　該規格轉變界面裝置之ㄧ側面上，朝向該探針卡方向，形成有符合該第一種規格之內接電聯接部，另一側面上則朝向該加強件方向，形成符合該第二種規格之外接電聯接部。
2. 依申請專利範圍第１項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中之規格轉變界面裝置至少具一規格轉變電路板；該規格轉變電路板之其中一側面，朝向該加強件形成組合，另一側面則朝向該探針卡形成組合者。
3. 依申請專利範圍第２項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中之規格轉變電路板朝向該加強件之該側面上，設有符合該第二種規格之外接聯接部，另一朝向探針卡之側面，則設有符合該第一種規格之內接電聯接部，且該內、外電聯接部之間形成電聯接。
4. 依申請專利範圍第２或３項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中之規格轉變電路板上，朝向該探針卡之方向依該第一種規格形成一外圍定位環，該外圍定位環之接近其外圍處，設有一朝向該探針卡突起之凸環緣。
5. 依申請專利範圍第４項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中該外圍定位環形成中空，且對應該中空之內圍處的規格轉變電路板上，另裝設有一內圍定位環。
6. 依申請專利範圍第４項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中該外圍定位環之上朝向該探針卡方向，另結合有一探針座。
7. 依申請專利範圍第５項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中該外圍定位環之上朝向該探針卡方向，另結合有一探針座。
8. 依申請專利範圍第４項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中之外圍定位環上，形成有符合該第一種規格之銜接電路或觸點者。
9. 依申請專利範圍第５項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中之外圍定位環上，形成有符合該第一種規格之銜接電路或觸點者。
10. 依申請專利範圍第６項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中之外圍定位環及探針座上，均形成有符合該第一種規格之銜接電路或觸點者。
11. 依申請專利範圍第７項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中之外圍定位環及探針座上，均形成有符合該第一種規格之銜接電路或觸點者。
12. 依申請專利範圍第１或２或３項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中之探針卡上，朝向該規格轉變界面裝置之方向形成有一佈線電路板，且該佈線電路板上形成有符合第一種規格之外接電觸點者。
13. 依申請專利範圍第４項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中之探針卡上，朝向該規格轉變界面裝置之方向形成有一佈線電路板，且該佈線電路板上形成有符合第一種規格之外接電觸點者。
14. 依申請專利範圍第５項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中之探針卡上，朝向該規格轉變界面裝置之方向形成有一佈線電路板，且該佈線電路板上形成有符合第一種規格之外接電觸點者。
15. 依申請專利範圍第６項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中之探針卡上，朝向該規格轉變界面裝置之方向形成有一佈線電路板，且該佈線電路板上，形成有符合該第一種規格之外接電觸點者。
16. 依申請專利範圍第７項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中之探針卡上，朝向該規格轉變界面裝置之方向形成有一佈線電路板，且該佈線電路板上，形成有符合該第一種規格之外接電觸點者。
17. 依申請專利範圍第８項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中之探針卡上，朝向該規格轉變界面裝置之方向形成有一佈線電路板，且該佈線電路板上，形成有符合該第一種規格之外接電觸點者。
18. 依申請專利範圍第９項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中之探針卡上，朝向該規格轉變界面裝置之方向形成有一佈線電路板，且該佈線電路板上，形成有符合該第一種規格之外接電觸點者。
19. 依申請專利範圍第１０項所述之可同時適應不同規格測試機之探針卡結構，其中之探針卡上，朝向該規格轉變界面裝置之方向形成有一佈線電路板，且該佈線電路板上，形成有符合該第一種規格之外接電觸點者。