TWI407095B - 檢測系統之框架機構 - Google Patents

Description

檢測系統之框架機構

本發明概略關於光學檢測，尤指一種用於光學檢測系統中的框架機構。

顯示裝置，例如液晶顯示器(Liquid crystal display，LCD)裝置，係用於電子式顯示包括文字、影像及動畫的資訊。一LCD可包括數層，例如偏光濾光片，玻璃基板，彩色濾光板，液晶及反射表面，其可決定該LCD的品質。為了檢查一LCD是否為合格LCD，有時候可運用肉眼檢測。但是，肉眼檢測在LCD的大量生產當中代表耗時、耗工及不準確。再者，隨著半導體製造的進步，由肉眼檢測來檢查具縮小尺寸的特徵的LCD產品可能變得更為困難。

在名為「檢測系統」的美國第12/732586號專利申請案(以下稱之為「586申請案」)當中(由本申請案其中之一發明人郭上鯤等於2010年3月26日提出申請)已經揭示一種使用掃瞄器來檢測一物件之缺陷或特徵的檢測系統。圖1所示為586申請案之圖1A的複製，其例示光學檢測用的系統10。請參照圖1，系統10可包括進行檢測的產品，例如面板11，掃描器12，信號產生器14，分析裝置16及支撐框架13。要進行檢測的面板11可藉由例如操作者來放置在支撐框架13當中。但是於檢測之前，一般可進行用於面板11的預熱程序來確保檢測品質。根據面板尺寸，該預熱可耗用例如20秒，因此會減慢該檢測程序。

因此需要一種框架機構，其可便於連續檢測而不會危及檢測品質。

本發明之範例可提供一種框架機構，用於在一檢測系統中支撐面板，讓一掃描器進行光學掃描。該框架機構包括一第一工作框架，用於提供一第一掃描器的第一掃描區域，一第一框架，用於支撐一第一面板，該第一框架可樞轉地耦合至該第一工作框架的第一側，以便該第一框架可在該第一框架折疊朝向該第一掃描區域的一折疊位置與該第一框架遠離該第一掃描區域的一展開位置之間環繞著該第一工作框架的第一側而旋轉；及一第二框架，用於支撐一第二面板，該第二框架可樞轉地耦合至該第一工作框架的第二側，以便該第二框架可在該第二框架折疊朝向該第一掃描區域的一折疊位置與該第二框架遠離該第一掃描區域的一展開位置之間環繞著該第一工作框架的第二側而旋轉，其中該第一掃描區域允許該第一掃描器在當該等第一與第二框架其中之一者位在該折疊位置處而該等第一與第二框架之另一者位在該展開位置處時，掃描該等第一與第二框架其中之一者。

本發明之一些範例亦可提供一種框架機構，用於在一檢測系統中支撐面板，讓一掃描器進行光學掃描。該框架機構包括一第一工作框架，用於提供一第一掃描器的一第一掃描區域；一第二工作框架，用於提供該第一掃描器的一第二掃描區域；一第一框架，用於支撐一第一面板，該第一框架可樞轉地耦合至該第一工作框架的第一側，以便該第一框架可在該第一框架折疊朝向該第一掃描區域的一折疊位置與該第一框架遠離該第一掃描區域的一展開位置之間環繞著該第一工作框架的第一側而旋轉；一第二框架，用於支撐一第二面板，該第二框架可樞轉地耦合至該第二工作框架的第一側，以便該第二框架可在該第二框架折疊朝向該第二掃描區域的一折疊位置與該第二框架遠離該第二掃描區域的一展開位置之間環繞著該第二工作框架的第一側而旋轉；及一旋轉器，用於旋轉該第一掃描器，以便該第一掃描器可調適成在一方向上掃描該第一框架，並在該相反方向上掃描該第二框架。

本發明之範例仍可提供一種框架機構，用於在一檢測系統中支撐面板，讓一掃描器進行光學掃描。該框架機構包括一第一工作框架，用於提供一第一掃描器的一第一掃描區域；一第二工作框架，其平行於該第一工作框架延伸，用於提供一第二掃描器的一第二掃描區域；一第一框架，用於支撐一第一面板，該第一框架可樞轉地耦合至該第一工作框架的第一側，以便該第一框架可在該第一框架折疊朝向該第一掃描區域的一折疊位置與該第一框架遠離該第一掃描區域的一展開位置之間環繞著該第一工作框架的第一側而旋轉；一第二框架，用於支撐一第二面板，該第二框架可樞轉地耦合至該第一工作框架的第二側，以便該第二框架可在該第二框架折疊朝向該第一掃描區域的一折疊位置與該第二框架遠離該第一掃描區域的一展開位置之間環繞著該第一工作框架的第二側而旋轉；一第三框架，用於支撐一第三面板，該第三框架可樞轉地耦合至該第二工作框架的第一側，以便該第三框架可在該第三框架折疊朝向該第二掃描區域的一折疊位置與該第三框架遠離該第二掃描區域的一展開位置之間環繞著該第二工作框架的第一側而旋轉；及一第四框架，用於支撐一第四面板，該第四框架可樞轉地耦合至該第二工作框架的第二側，以便該第四框架可在該第四框架折疊朝向該第二掃描區域的一折疊位置與該第四框架遠離該第二掃描區域的一展開位置之間環繞著該第二工作框架的第二側而旋轉。

於下文的說明中將部份提出本發明的其他特點與優點，而且從該說明中將瞭解本發明其中一部份，或者藉由實施本發明亦可習得。藉由隨附之申請專利範圍中特別列出的元件與組合將可瞭解且達成本發明的特點與優點。

應該瞭解的係，上文的概要說明以及下文的詳細說明都僅供作例示與解釋，其並未限制本文所主張之發明。

現將詳細參照於本發明範例，其範例圖解於附圖之中。盡其可能，所有圖式中將依相同元件符號以代表相同或類似的部件。

圖2A為根據本發明一範例之框架機構20的透視圖。請參照圖2A，框架機構20可包括第一框架21、第二框架22與第一工作框架251。第一框架21、第二框架與第一工作框架251之每一者的形式可為一實質長方形。第一工作框架251可提供第一掃描器38一第一掃描區域來掃描一面板。第一框架21與第二框架22可調適成分別支撐第一面板210與第二面板220。具體而言，以第一框架21為例，第一面板210可由固定裝置27固定於一對柱子28，其依次可被固定至第一框架21的一對托架29。柱子28可平行於一第一方向延伸，並可依一需要的距離互相隔開來符合第一面板210之尺寸。第一框架21的托架29可與實質上垂直於該第一方向的一第二方向平行延伸，並可被調適成將柱子28保持在定位。托架29之結構將在以下的段落中參照圖5A與圖5B做詳細說明。

第一框架21藉由轉樞26可樞轉地耦合至第一工作框架251之第一側(未編號)。因此，第一框架21可在第一框架21折疊朝向該第一掃描區域的一折疊位置與第一框架21遠離該第一掃描區域的一展開位置之間環繞著第一工作框架251的第一側而旋轉。同樣地，第二框架22藉由轉樞26可樞轉地耦合至第一工作框架251之第二側(未編號)，且因此可在第二框架22折疊朝向該第一掃描區域的一折疊位置與第二框架22遠離該第一掃描區域的一展開位置之間環繞著第一工作框架251的第二側而旋轉。

掃描器38可包括但不限於586申請案中所述及所例示的示範性掃描器12，其可沿著自第一工作框架251之第一側至第二側之方向上延伸的軌道258移動。因此，當第一框架21與第二框架22其中之一者折疊朝向第一工作框架251時，掃描器38可在由第一側至第二側的方向或相反方向上掃描第一面板210或第二面板220。

框架機構20亦可包括第二工作框架252，其結構上類似於第一工作框架251。第二工作框架252可平行於第一工作框架251延伸，並可提供掃描器38或另一掃描器的一第二掃描區域。第一與第二工作框架251與252可由一些肋材250互相隔開，因此可界定掃描器38可沿著軌道258的一移動空間。

圖2B為圖2A所示之框架機構20的上視圖。可假設第一面板210已經放置在第一框架21上，並在一設定程序中進行預熱，且預備用來檢測，而且第二面板220預備好進行一設定程序。請參照圖2B，在操作時，第一框架21以及第一面板210可朝向第一工作框架251折疊，如虛線箭頭所示。然後掃描器38可沿著軌道258移動，並掃描第一面板210。同時，第一框架21被折疊，第二面板220可放置在第二框架22上，然後進行預熱。

在掃描之後，第一面板210可自第一框架21移除，其依次可自第一工作框架251展開到一設定位置。當該設定程序完成時，第二框架22連同第二面板220可朝向第一工作框架251折疊。接著，第二框架22被折疊之後，另一面板可被放置在第一框架21上，然後進行預熱。因此，當一個面板210正在進行檢測時，另一個面板220正在設定，其可便於對一系列面板進行連續檢測。

圖3為根據本發明另一範例的框架機構30之上視圖。請參照圖3，框架機構30類似於圖2A所示之框架機構20，可包括第一工作框架251、第二工作框架252及掃描器38。但是，當第一框架21可樞轉地耦合至第一工作框架251時，第二框架22可樞轉地耦合至第二工作框架252。在操作時，第一框架21與第二框架22可分別折疊朝向第一工作框架251與第二工作框架252。然後掃描器38可自一起始點沿著軌道258移動，例如掃描在軌道258之一側處第一框架21上的第一面板310。在掃描完第一面板310之後，掃描器38可藉助於旋轉器36旋轉，使掃描器38在回到該起始點的路徑上掃描軌道258之另一側處第二框架22上的第二面板320。

在本範例中，一個第一面板310與一個第二面板320被掃描。但是在其它範例中，於軌道258一側處的一些第一面板與於軌道258另一側處的一些第二面板，在當掃描器38往返地沿著軌道258移動時可被掃描。

圖4A為根據本發明又另一範例之框架機構40的透視圖。請參照圖4A，框架機構40可類似於參照圖2A所述與所例示之框架機構20，除了例如可加入第三框架23與第四框架24以外。具體而言，第三與第四框架23與24可分別藉由可樞轉地耦合至第二工作框架252的第一側(未編號)與第二側(未編號)。因此，第三框架23可在第三框架23朝向該第二掃描區域折疊的一折疊位置與第三框架23遠離該第二掃描區域的一展開位置之間環繞著第二工作框架252的第一側而旋轉。同樣地，第四框架24可在第四框架24朝向該第二掃描區域折疊的一折疊位置與第四框架24遠離該第二掃描區域的一展開位置之間環繞著第二工作框架252的第二側而旋轉。

再者，於本範例中，除了第一掃描器38，可提供第二掃描器48，其亦可沿著軌道258移動來掃描在第三框架23上的第三面板230或在第四框架24上的第四面板240。但是在其它範例中，可使用單一掃描器38藉助於像是圖3所示之旋轉器36的一旋轉器來分別掃描在框架21到24上的面板210到240。

圖4B為圖4A所示之框架機構40的上視圖。可假設第一與第三面板210與230已經分別放置在第一與第三框架21與23上，並在一設定程序中進行預熱，因此已預備用來檢測，且第二與第四面板220與240已預備進行一設定程序。請參照圖4B，在操作時，第一框架21以及第一面板210可折疊朝向第一工作框架251，如虛線箭頭所示。再者，第三框架23以及第三面板230可朝向第二工作框架252折疊，如另一虛線箭頭所示。然後第一掃描器38與第二掃描器48可沿著軌道258移動，並分別掃描第一面板210與第三面板230。

同時，第一框架21被折疊，第二面板220可放置在第二框架22上，然後進行預熱。類似地，同時第三框架23被折疊，第四面板240可放置在第四框架24上，然後進行預熱。

在掃描之後，第一面板210可自第一框架21移除，其依次可自第一工作框架251展開到一設定位置。再者，第三面板230可自第三框架23移除，其依次可自第二工作框架252展開到一設定位置。

隨後，當該設定程序完成時，第二框架22連同第二面板220可朝向第一工作框架251折疊。接著，第二框架22被折疊之後，另一面板可被放置在第一框架21上，然後進行預熱。類似地，當該設定程序完成時，第四框架24連同第四面板240可朝向第二工作框架252折疊。接著，第四框架24被折疊之後，另一面板可被放置在第三框架23上，然後進行預熱。

因此，當第一對面板210與230正在檢測時，第二對面板220與240正在設定，其可便於對一系列面板進行連續檢測。

圖5A為根據本發明一範例，圖2A所示之框架機構20中托架29的透視圖。請參照圖5A，托架29可包括基座290，及一對互相相對的凸緣291與292，藉此界定關聯於基座290的一腔室(未編號)及凸緣291與292之間的一溝槽(未編號)。托架29可藉助於例如螺栓及螺帽的固定元件將柱子28保持在定位。具體而言，螺栓50的頭部可被保持在該腔室中，而螺栓50的桿部可自該溝槽突出以接合於一螺帽，以便固定柱子28的一端。

圖5B為根據本發明另一範例，在一框架機構中托架59的透視圖。請參照圖5B，除了由該第一對凸緣291與292所界定的一第一腔室與溝槽之外，托架59具有由一第二對凸緣591與592所界定的一第二腔室與溝槽。

熟習此項技藝者應即瞭解可對上述各項範例進行變化，而不致悖離其廣義之發明性概念。因此，應瞭解本發明並不限於所揭之特定範例，而係為涵蓋歸屬如後載各請求項所定義之本發明精神及範圍內的修飾。

另外，在說明本發明之代表性範例時，本說明書可將本發明之方法及/或製程表示為一特定之步驟次序；不過，由於該方法或製程的範圍並不繫於本文所提出之特定的步驟次序，故該方法或製程不應受限於所述之特定步驟次序。身為熟習本技藝者當會了解其它步驟次序也是可行的。所以，不應將本說明書所提出的特定步驟次序視為對申請專利範圍的限制。此外，亦不應將有關本發明之方法及/或製程的申請專利範圍僅限制在以書面所載之步驟次序之實施，熟習此項技藝者易於瞭解，該等次序亦可加以改變，並且仍涵蓋於本發明之精神與範疇之內。

10．．．系統

11．．．面板

12．．．掃描器

13．．．支撐框架

14．．．信號產生器

16．．．分析裝置

20．．．框架機構

21．．．第一框架

22．．．第二框架

23．．．第三框架

24．．．第四框架

26．．．轉樞

27．．．固定裝置

28．．．柱子

29．．．托架

30．．．框架機構

36．．．旋轉器

38．．．第一掃描器

40．．．框架機構

48．．．第二掃描器

50．．．螺栓

59．．．托架

210．．．第一面板

220．．．第二面板

230．．．第三面板

240．．．第四面板

250‧‧‧肋材

251‧‧‧第一工作框架

252‧‧‧第二工作框架

258‧‧‧軌道

290‧‧‧基座

291,292‧‧‧凸緣

310‧‧‧第一面板

320‧‧‧第二面板

591,592‧‧‧凸緣

當併同各隨附圖式而閱覽時，即可更佳瞭解本發明之前揭摘要以及上文詳細說明。為達本發明之說明目的，各圖式裏圖繪有範例。然應瞭解本發明並不限於各範例中所繪之精確排置方式及設備裝置。

在各圖式中：

圖1為美國第12/732586號專利申請案之圖1A的複製圖；

圖2A為根據本發明一範例之一框架機構的透視圖；

圖2B為圖2A所示之該框架機構的上視圖；

圖3為根據本發明另一範例的一框架機構之上視圖；

圖4A為根據本發明又另一範例之一框架機構的透視圖；

圖4B為圖4A所示之該框架機構的上視圖；

圖5A為根據本發明一範例，在一框架機構中一托架的透視圖；及

圖5B為根據本發明另一範例，在一框架機構中一托架的透視圖。

20．．．框架機構

21．．．第一框架

22．．．第二框架

26．．．轉樞

27．．．固定裝置

28．．．柱子

29．．．托架

38．．．第一掃描器

210．．．第一面板

220．．．第二面板

251．．．第一工作框架

252．．．第二工作框架

258．．．軌道

Claims (7)

1. 一種框架機構，用於在一檢測系統中支撐面板，讓一掃描器進行光學掃描，該框架機構包含：一第一工作框架，用於提供一第一掃描器的一第一掃描區域；一第二工作框架，其平行於該第一工作框架延伸，用於提供該第一掃描器的一第二掃描區域；一第一框架，用於支撐一第一面板，該第一框架可樞轉地耦合至靠近該第一工作框架的一第一端的該第一工作框架，以便該第一框架可在該第一框架折疊平行該第一掃描區域的一折疊位置與該第一框架遠離該第一掃描區域的一展開位置之間環繞著該第一工作框架而旋轉；一第二框架，用於支撐一第二面板，該第二框架可樞轉地耦合至靠近該第二工作框架的一第一端的該第二工作框架，以便該第二框架可在該第二框架折疊平行該第二掃描區域的一折疊位置與該第二框架遠離該第二掃描區域的一展開位置之間環繞著該第二工作框架而旋轉，或者該第二框架可樞轉地耦合至靠近該第一工作框架的一第二端的該第一工作框架，以便該第二框架可在該第二框架折疊平行該第一掃描區域的一折疊位置與該第二框架遠離該第一掃描區域的一展開位置之間環繞著該第一工作框架而旋轉，及由於該第二框架可樞轉地耦合至該第一工作框架，該第一掃描器可調適成在一方向上掃描該第一框架，並在該相反方向上掃描該第二框架，或者由於該第二框架可樞轉地耦合至該第二工作框架，該框架機構更包含一旋轉器，用於旋轉該第一掃描器，以便該第一掃描器可調適成當該第一框架在該折疊位置時，在一方向上掃描該第一框架，並當該第二框架在該折疊位置時，在該相反方向上掃描該第二框架； 一軌道，其自該第一端至第二端的一方向上延伸，其中該軌道允許該第一掃描器在該第一工作框架的第一與第二端之間移動；以及一第三框架，用於支撐一第三面板，該第三框架可樞轉地耦合至靠近該第二工作框架的一第一端的該第二工作框架，以便該第三框架可在該第三框架折疊朝向該第二掃描區域的一折疊位置與該第三框架遠離該第二掃描區域的一展開位置之間環繞著該第二工作框架而旋轉，其中該旋轉器旋轉該第一掃描器，以便該第一掃描器可調適成當在一方向上移動時掃描該等第一與第二框架其中之一者，並當在該相反方向上移動時橫向掃描該第三框架。
2. 如申請專利範圍第1項之框架機構，更包含一第四框架，用於支撐一第四面板，該第四框架可樞轉地耦合至靠近該第二工作框架的一第二端的該第二工作框架，以便該第四框架可在該第四框架折疊朝向該第二掃描區域的一折疊位置與該第四框架遠離該第二掃描區域的一展開位置之間環繞著該第二工作框架而旋轉。
3. 如申請專利範圍第2項之框架機構，其中該第二掃描區域允許該第一掃描器在當該等第三與第四框架其中之一者位在該折疊位置處而該等第三與第四框架之另一者位在該展開位置處時，掃描該等第三與第四框架其中之一者。
4. 如申請專利範圍第3項之框架機構，其中該軌道在該第一工作框架與該第二工作框架之間的一空間中延伸，其中該軌道允許該第一掃描器在該方向上於該第一工作框架的第一與第二端之間移動，並在該相反方向上於該第二工作框架的第一與第二端之間移動。
5. 一種框架機構，用於在一檢測系統中支撐面板，讓一掃描器進行光學掃描，該框架機構包含：一第一工作框架，用於提供一第一掃描器的一第一掃 描區域；一第二工作框架，其平行於該第一工作框架延伸，用於提供該第一掃描器的一第二掃描區域；一第一框架，用於支撐一第一面板，該第一框架可樞轉地耦合至靠近該第一工作框架的一第一端的該第一工作框架，以便該第一框架可在該第一框架折疊朝向該第一掃描區域的一折疊位置與該第一框架遠離該第一掃描區域的一展開位置之間環繞著該第一工作框架而旋轉；一第二框架，用於支撐一第二面板，該第二框架可樞轉地耦合至靠近該第二工作框架的一第一端的該第二工作框架，以便於該第二框架可在該第二框架折疊朝向該第二掃描區域的一折疊位置與該第二框架遠離該第二掃描區域的一展開位置之間環繞著該第二工作框架而旋轉；及一第三框架，用於支撐一第三面板，該第三框架可樞轉地耦合至靠近該第一工作框架的一第二端的該第一工作框架，以便該第三框架可在該第三框架折疊朝向該第一掃描區域的一折疊位置與該第三框架遠離該第一掃描區域的一展開位置之間環繞著該第一工作框架而旋轉，一旋轉器，用於旋轉該第一掃描器，以便該第一掃描區域允許該第一掃描器當該旋轉器在一方向上移動且當該等第一與第三框架其中之一者位在該折疊位置處而該等第一與第三框架之另一者位在該展開位置處時，掃描該等第一與第三框架其中之一者，以及以便該第二掃描區域允許該第一掃描器當該旋轉器在該相反方向上移動且當該第二框架在該折疊位置處時，掃描該第二框架。
6. 一種框架機構，用於在一檢測系統中支撐面板，讓一掃描器進行光學掃描，該框架機構包含：一第一工作框架，用於提供一第一掃描器的一第一掃描區域；一第二工作框架，其平行於該第一工作框架延伸，用 於提供該第一掃描器的一第二掃描區域；一第一框架，用於支撐一第一面板，該第一框架可樞轉地耦合至靠近該第一工作框架的一第一端的該第一工作框架，以便該第一框架可在該第一框架折疊朝向該第一掃描區域的一折疊位置與該第一框架遠離該第一掃描區域的一展開位置之間環繞著該第一工作框架而旋轉；一第二框架，用於支撐一第二面板，該第二框架可樞轉地耦合至靠近該第一工作框架的一第二端的該第一工作框架，以便該第二框架可在該第二框架折疊朝向該第一掃描區域的一折疊位置與該第二框架遠離該第一掃描區域的一展開位置之間環繞著該第一工作框架而旋轉；一第三框架，用於支撐一第三面板，該第三框架可樞轉地耦合至靠近該第二工作框架的一第一端的該第二工作框架，以便該第三框架可在該第三框架折疊朝向該第二掃描區域的一折疊位置與該第三框架遠離該第二掃描區域的一展開位置之間環繞著該第二工作框架而旋轉；一軌道，其自該第一側到該第二側之一方向上延伸，其中該軌道允許該第一掃描器在該第一工作框架的該第一與該第二側之間移動；及一旋轉器，用於旋轉該第一掃描器，以便該第一掃描器可調適成當在一方向上移動時掃描該等第一與第二框架其中之一者，並當在該相反方向上移動時橫向掃描該第三框架。
7. 一種框架機構，用於在一檢測系統中支撐面板，讓一掃描器進行光學掃描，該框架機構包含：(i)一第一工作框架，用於提供一第一掃描器的一第一掃描區域；(ii)一第二工作框架，其平行於該第一工作框架延伸，用於提供該第一掃描器的一第二掃描區域；(iii)一第一框架，用於支撐一第一面板，該第一框架可 樞轉地耦合至靠近該第一工作框架的一第一端的該第一工作框架，以便該第一框架可在該第一框架折疊平行該第一掃描區域的一折疊位置與該第一框架遠離該第一掃描區域的一展開位置之間環繞著該第一工作框架而旋轉；(iv)一第二框架，用於支撐一第二面板，該第二框架可樞轉地耦合至靠近該第二工作框架的一第一端的該第二工作框架，以便該第二框架可在該第二框架折疊平行該第二掃描區域的一折疊位置與該第二框架遠離該第二掃描區域的一展開位置之間環繞著該第二工作框架而旋轉，或者該第二框架可樞轉地耦合至靠近該第一工作框架的一第二端的該第一工作框架，以便該第二框架可在該第二框架折疊平行該第一掃描區域的一折疊位置與該第二框架遠離該第一掃描區域的一展開位置之間環繞著該第一工作框架而旋轉，及由於該第二框架可樞轉地耦合至該第一工作框架，該第一掃描器可調適成在一方向上掃描該第一框架，並在該相反方向上掃描該第二框架，或者由於該第二框架可樞轉地耦合至該第二工作框架，該框架機構更包含一旋轉器，用於旋轉該第一掃描器，以便該第一掃描器可調適成當該第一框架在該折疊位置時，在一方向上掃描該第一框架，並當該第二框架在該折疊位置時，在該相反方向上掃描該第二框架，(v)一第三框架，用於支撐一第三面板，由於該第二框架可樞轉地耦合至該第二工作框架，該第三框架設置成可樞轉地耦合至靠近該第一工作框架的一第二端的該第一工作框架，以便該第三框架可在該第三框架折疊朝向該第一掃描區域的一折疊位置與該第三框架遠離該第一掃描區域的一展開位置之間環繞著該第一工作框架而旋轉，由於該第二框架可樞轉地耦合至該第一工作框架，該 第三框架設置成可樞轉地耦合至靠近該第二工作框架的一第一端的該第二工作框架，以便該第三框架可在該第三框架折疊朝向該第二掃描區域的一折疊位置與該第三框架遠離該第二掃描區域的一展開位置之間環繞著該第二工作框架而旋轉；其中由於該第二框架可樞轉地耦合至該第二工作框架，該第一掃描區域允許該第一掃描器當該等第一與第三框架其中之一者位在該折疊位置處而該等第一與第三框架之另一者位在該展開位置處時，掃描該等第一與第三框架其中之一者，或者由於該第二框架可樞轉地耦合至該第一工作框架，該第一掃描區域允許該第一掃描器當該等第一與第二框架其中之一者位在該折疊位置處而該等第一與第二框架之另一者位在該展開位置處時，掃描該等第一與第二框架其中之一者；以及(vi)一第四框架，用於支撐一第四面板，該第四框架可樞轉地耦合至靠近該第二工作框架的一第二端的該第二工作框架，以便該第四框架可在該第四框架折疊朝向該第二掃描區域的一折疊位置與該第四框架遠離該第二掃描區域的一展開位置之間環繞著該第二工作框架而旋轉，其中由於該第二框架可樞轉地耦合至該第二工作框架，該第二掃描區域允許一第二掃描器當該等第二與第四框架其中之一者位在該折疊位置處而該等第二與第四框架之另一者位在該展開位置處時，掃描該等第二與第四框架其中之一者，或者由於該第二框架可樞轉地耦合至該第一工作框架，該第二掃描區域允許該第二掃描器當該等第三與第四框架其中之一者位在該折疊位置處而該等第三與第四框架之另一者位在該展開位置處時，掃描該等第三與第四框架其中之一者。