JP3364408B2 - 基板表面検査装置 - Google Patents
基板表面検査装置Info
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Description
載置された基板を検査する基板表面検査装置に関し、特
に基板のおもて面及びうら面を容易に検査する技術に関
する。
l display:液晶表示) には、ガラス基板が用いられ、製
造工程中、そのガラス基板の表面及び裏面について、ゴ
ミ、キズ、ムラ等の有無が検査される。かかる検査は、
反射光及び透過光により目視検査で行われ、従来の基板
表面検査装置では、表面、裏面の検査を1ステージ毎に
行っていた。
基板表面検査装置では、ガラス基板のセット、反転等
は、作業者の手により行われ、作業が煩雑であった。ま
た、近年、このような基板表面検査を同一のステージ上
で行いたいという要望が強くなってきた。本発明はこの
ような従来の課題に鑑みてなされたもので、基板のおも
て面及びうら面の検査を同一のステージ上で簡単に行え
るような基板表面検査装置を提供することを目的とす
る。
基板表面検査装置は、検査ステージ上に載置された基板
のおもて面及びうら面を検査する基板表面検査装置にお
いて、上記検査ステージの上面に設けられ上記基板の周
端部を支持して該基板を固定する基板固定枠と、上記検
査ステージの上面側にて上記基板固定枠をその一端部を
中心に回動させて立ち上げその後更に回動させて検査ス
テージ上に倒すことにより上記基板のおもて面及びうら
面を反転させる反転手段と、上記立ち上げられた基板固
定枠を検査ステージの一側部から他側部へ横移動させる
移動手段と、上記検査ステージの上方に設けられ上記基
板固定枠に支持された基板のおもて面及びうら面につい
て反射光で検査するための第1の照明装置と、上記検査
ステージの一側方に設けられ上記基板固定枠で立ち上げ
られた基板を透過光で検査するための第2の照明装置
と、を備えたものである。
に設けられた基板固定枠で基板の周端部を支持して該基
板を固定し、反転手段により上記検査ステージの上面側
にて 上記基板固定枠をその一端部を中心に回動させて立
ち上げその後更に回動させて検査ステージ上に倒すこと
により上記基板のおもて面及びうら面を反転させ、移動
手段により上記立ち上げられた基板固定枠を検査ステー
ジの一側部から他側部へ横移動させ、上記検査ステージ
の上方に設けられた第1の照明装置により上記基板固定
枠に支持された基板のおもて面及びうら面について反射
光で検査し、上記検査ステージの一側方に設けられた第
2の照明装置により上記基板固定枠で立ち上げられた基
板を透過光で検査する。
面内で直交する2軸を中心にしてX,Y方向にそれぞれ
傾斜可能に構成されたものである。これにより、上記検
査ステージが傾斜して基板から光が反射する角度を調節
できる。
図面に基づいて説明する。図1は、例えばLCD用のガ
ラス基板の表面を検査する基板表面検査装置を示し、図
2は、図1のA−A’断面図であり、図3は、図1の部
分拡大図である。。
ための枠であり、ガラス基板1の周端部を支持して固定
するストッパ(図示せず)と、ガラス基板1が落下しな
いようにガラス基板1を吸着する吸着盤(図示せず)
と、を備えている。このガラス基板1は、一般的には5
50×650mm、厚さ0.7mm程度のものであり、
ストッパは、このガラス基板1の端から5〜10mm以
内の部分を支持する。
に固定され、このシャフト7の端部には、平歯車8aが
連結されている。そして、図2に示すように、この平歯
車8aに平歯車8bが噛み合い、この平歯車8bは、モ
ータ9の回転速度を減速する減速機10に連結されてい
る。
備えられている。このバックボード6は、ガラス基板1
の表面を見やすくするために備えられたものであり、黒
に塗装され、艶消しされている。検査ステージ5の上面
には、ボールネジ11と、このボールネジ11と噛み合
うボールナット12と、が備えられている。また、図1
に示すように、検査ステージ5の下面には、モータ13
が配置され、ボールネジ11はタイミングベルト14を
介してモータ13に接続され、モータ13が回転するこ
とによりボールネジ11は回転し、ボールナット12
は、検査ステージ5のステージ面と平行に移動する。な
お、上記基板固定枠2は、このボールナット12に連結
されている。
れ、この架台15にはモータ16の回転速度を減速する
減速機17が連結されている。図3に示すように、この
減速機17の回転軸は架台15に連結されている。ま
た、図1に示すように、上記架台15にはさらに減速機
18が連結され、図2に示すように、この減速機18は
タイミングベルト19を介してモータ20に連結されて
いる。
ャフト7が、検査ステージ5の上面側にて上記基板固定
枠2をその一端部を中心に回動させて立ち上げその後更
に回動させて検査ステージ5上に倒すことにより上記基
板1のおもて面及びうら面を反転させる反転手段に相当
し、モータ13、タイミングベルト14、ボールネジ1
1、ボールナット12が、上記立ち上げられた基板固定
枠2を検査ステージ5の一側部から他側部へ横移動させ
る移動手段に相当する。 また、上記モータ9、13、1
6、20には、例えばバックラッシュのないACサーボ
モータ等が用いられる。そして、図4〜図7に示すよう
に、検査ステージ5の真上と側方には、夫々、反射光検
査用の第1の照明装置21、透過光検査用の第2の照明
装置22が配置されている。
装置の動作を説明する。まず、ガラス基板1を基板固定
枠2に載置する。そして、ガラス基板1をストッパで基
板固定枠2に固定することにより、ガラス基板1は、吸
着盤によって吸着され、落下が防止される。ガラス基板
1の表面検査は、まず、ガラス基板1のおもて面に光を
反射させておもて面を検査し、次に、ガラス基板1を垂
直状態に立てて光を透過させ、そして、ガラス基板1を
水平状態に倒してうら面に反転して光を反射させること
により行われる。
図4に示すように、ガラス基板1の面が検査ステージ5
のステージ面と平行になるように基板固定枠2を配設す
る。そして、第1の照明装置21でガラス基板1のおも
て面を真上から照明する。ガラス基板1の表面にゴミ、
キズ、ムラ等があると、照明装置21の光はガラス基板
1上で散乱するため、これによりこのガラス基板1の表
面のゴミ等の有無がはっきり分かる。
モータ16又はモータ20を回転させて検査ステージ5
を傾斜させる。即ち、図1に示すモータ16を回転させ
たとき、モータ16の回転速度は減速機17によって減
速され、減速機17に連結された架台15が回動し、検
査ステージ5は、図2に示すようにX方向に傾斜する。
また、図2に示すモータ20を回転させたとき、モータ
20の回転がタイミングベルト19を介して減速機18
に伝達され、減速機18の回転軸の回転により、検査ス
テージ5は、図1に示すようにY方向に傾斜する。
をする場合は、モータ9及びモータ13を回転させる。
図2に示すモータ9の回転は、平歯車8b,8aを介し
てシャフト7に伝達され、該シャフト7が回転して基板
固定枠2は図5に示すように垂直状態に立ち上がる。ま
た、図1に示すモータ13を回転させたときは、該モー
タ13の回転速度が図示省略の減速機によって減速さ
れ、タイミングベルト14を介してボールネジ11が回
転し、ボールナット12が移動し、基板固定枠2が図6
に示すように、検査ステージ5の一側部から他側部へ横
方向に移動する。基板固定枠2は、このボールナット1
2に連結されているので、検査ステージ5のステージ面
と平行に移動する。基板固定枠2が垂直状態に立ち上が
ったら、モータ9の回転を停止し、ボールナット12が
所定の位置まで移動したとき、モータ13の回転を停止
する。尚、モータ9及びモータ13の駆動タイミング
は、例えば基板固定枠2を立ち上げてから移動させるよ
うに、別々に駆動してもよい。そして、第2の照明装置
22でガラス基板1を照明し、反対側からガラス基板1
を観察する。
きは、モータ9を更に同方向に回転させる。モータ9の
回転は、減速機10、平歯車8b,8aを介してシャフ
ト7に伝達され、シャフト7が回動し、基板固定枠2が
図7に示すように反対側に倒れ、ガラス基板1のガラス
面が検査ステージ5のステージ面と平行になったとき、
モータ9の回転を停止させる。そして、ガラス基板1の
おもて面を検査したときと同様に、第1の照明装置21
でガラス基板1のうら面を照明して該ガラス基板1から
の反射光によりガラス基板1のうら面を観察し、ゴミ等
の有無の検査が行われる。
及び水平状態に回動し、検査ステージ5のステージ面と
平行に基板固定枠2は横移動するようになっているの
で、ガラス基板1のおもて面及びうら面の検査を同一の
ステージ上で行うことができる。また、ガラス基板1の
操作を人手を介さずに行うことができ、ガラス基板1の
おもて面及びうら面の検査を容易に行うことができる。
明によれば、検査ステージの上面に設 けられた基板固定
枠で基板の周端部を支持して該基板を固定し、反転手段
により上記検査ステージの上面側にて上記基板固定枠を
その一端部を中心に回動させて立ち上げその後更に回動
させて検査ステージ上に倒すことにより上記基板のおも
て面及びうら面を反転させ、移動手段により上記立ち上
げられた基板固定枠を検査ステージの一側部から他側部
へ横移動させ、上記検査ステージの上方に設けられた第
1の照明装置により上記基板固定枠に支持された基板の
おもて面及びうら面について反射光で検査し、上記検査
ステージの一側方に設けられた第2の照明装置により上
記基板固定枠で立ち上げられた基板を透過光で検査する
ことができる。したがって、同一の検査ステージ上で基
板のおもて面及びうら面を容易に検査することができ
る。
ージ面内で直交する2軸を中心にしてX,Y方向にそれ
ぞれ傾斜可能に構成された検査ステージにより、該検査
ステージが傾斜して基板から光が反射する角度を調節す
ることができる。
を示す側面図。
Claims (2)
- 【請求項1】検査ステージ上に載置された基板のおもて
面及びうら面を検査する基板表面検査装置において、上記検査ステージの上面に設けられ上記 基板の周端部を
支持して該基板を固定する基板固定枠と、上記検査ステージの上面側にて上記基板固定枠をその一
端部を中心に回動させて立ち上げその後更に回動させて
検査ステージ上に倒すことにより上記 基板のおもて面及
びうら面を反転させる反転手段と、上記立ち上げられた 基板固定枠を検査ステージの一側部
から他側部へ横移動させる移動手段と、上記検査ステージの上方に設けられ上記基板固定枠に支
持された基板のおもて面及びうら面について反射光で検
査するための第1の照明装置と、 上記検査ステージの一側方に設けられ上記基板固定枠で
立ち上げられた基板を透過光で検査するための第2の照
明装置と、 を備えたことを特徴とする基板表面検査装置。 - 【請求項2】上記検査ステージは、そのステージ面内で
直交する2軸を中心にしてX,Y方向にそれぞれ傾斜可
能に構成されたことを特徴とする請求項1に記載の基板
表面検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10202297A JP3364408B2 (ja) | 1997-04-18 | 1997-04-18 | 基板表面検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10202297A JP3364408B2 (ja) | 1997-04-18 | 1997-04-18 | 基板表面検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10293088A JPH10293088A (ja) | 1998-11-04 |
JP3364408B2 true JP3364408B2 (ja) | 2003-01-08 |
Family
ID=14316134
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10202297A Expired - Lifetime JP3364408B2 (ja) | 1997-04-18 | 1997-04-18 | 基板表面検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3364408B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8432540B2 (en) * | 2010-03-31 | 2013-04-30 | Cooper S.K. Kuo | Support mechanism for inspection systems |
Family Cites Families (9)
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JPS6312945A (ja) * | 1986-07-03 | 1988-01-20 | Toshiba Corp | スクリ−ン検査装置 |
JPH0639323Y2 (ja) * | 1987-02-09 | 1994-10-12 | 株式会社東洋精機製作所 | 異種のサンプル枠を有する試験片の供給装置 |
JPH076885B2 (ja) * | 1988-06-13 | 1995-01-30 | 住友金属鉱山株式会社 | 回転試料台を有する板状試料分析計の試料自動セット装置 |
JP3053449B2 (ja) * | 1991-03-28 | 2000-06-19 | 株式会社ニデック | 表面検査装置 |
JP2973630B2 (ja) * | 1991-09-04 | 1999-11-08 | 日本電気硝子株式会社 | ガラス板の分類方法 |
JPH088323A (ja) * | 1994-06-21 | 1996-01-12 | Nikon Corp | 裏面入射型光検出素子搭載パッケージの搬送方法 及び検査方法 |
JPH08137091A (ja) * | 1994-11-08 | 1996-05-31 | Miyazaki Oki Electric Co Ltd | マスク外観検査装置 |
JP3832922B2 (ja) * | 1997-03-24 | 2006-10-11 | オリンパス株式会社 | 大型基板検査装置 |
-
1997
- 1997-04-18 JP JP10202297A patent/JP3364408B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH10293088A (ja) | 1998-11-04 |
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