TWI335560B - Circuit structure of a display - Google Patents
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Description
1335560 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種顯示器電路結構，特別是關於一種 測試與修復兩用的電路結構。 【先前技術】 主動式顯示器的晝素陣列係由複數互相垂直的資料線 及掃描線所組成。畫素陣列中的每個晝素單元以一薄膜電 晶體作為開關’該薄膜電晶體的源極與閘極分別連接至兮 晝素單元的資料線及掃描線。當資料線或掃描線斷裂時， 訊號無法由斷裂處饋入，導致晝面品質降低，故顯示器通 常具有修復線(rescue line)的設計.。 請參照圖1，係為習知含有修復線的顯示器電路之平 面圖。顯示器1〇〇的下基板ιοί具有一主動區110 (Active area)及一個接合區120 (bonding area)，接合區12〇係位於 主動區110周邊。一框膠130塗佈於主動區11〇與接合區 120之間或主動區110周邊’以供下基板1〇1與一上基板(未 繪示)黏合。主動區110内設有複數掃描線112、複數資料 線114及複數薄膜電晶體115。接合區12〇内部則設有一 資料驅動單元128電性連接於該等資料線114，以及一掃 描驅動單元129電性連接於該等掃描線112〇在接合區12〇 邊緣具有三條測試線(shorting ；3ar)i22、124及126分別與 紅、藍、緣二種晝素以及測試單元（未繪示)連接以測試是 否有壞點。測試完畢後，測試線122、124及126即以雷射 截斷(laser cut)，圖示虛線C-C即為截斷線。 習知技術中，修復線116係沿框膠130内側環繞於主 5 動區110外緣，並未與測試線l22、I24及I26相連接。修 復線116作動方式說明如下。正常狀態下，修復線116與 資料線114或掃故線⑴上下重疊且以-絕緣層(未繪示) 隔開。假設資料，線1M具有一斷裂點11?，則資料驅動單 几128無法由路獲a將資料訊號傳入晝素1〇2中。此時， 將=接·點l〇3a及職處之絕緣層炫穿，以導通修復線116 與貝料線114。因此，資料訊號可改由路徑B，即傳遞至 溶接點103a時，改由修復線116傳遞至炼接點職，再 經由資料線114的另一端輸入至畫素102的薄膜電晶體 115。 然而，若一斷裂點118位於修復線116外側的區域“ο 中，則資料訊號無法傳至修復線116，而導致修復線 失去作用。其原因歸納如下： L目前修復線都是設計在框膠130内的位置，因此 無法對修復線116外側區域140所發生的故障進行修復， 例如，因接觸墊燒毁(Padbum)或走線擦傷(㈣隨㈣等 因素造成的故障。但目前這些區域的損害所造成的報廢， 在後^又製程及客戶端卻是最常發生的問題，尤其對於單價 高的電視產品，損失更為嚴重。 ' 2.目前修復線116及測試線122、124及126的分開 設計，也減少了顯示器基板的空間利用率。 ^综上所述’若能將兩者結合，將可增加顯示器基板的 設計空間。爰此’本發明提出_種€路結縣解決上述缺 點。 【發明内容】 1335560 復線在於提供—種顯示器電路結構，係將修 顯示====嶋軸解，並增加 薄膜=γ·γ㈣電路結構，包括—基板上設置至少一 板具有-主動區及—接合區。走線該基 第-端電性連接合第二走線包括一
晶趙：-重私與膜電 第-端以及該第二端之間λ及-犧牲部位於該 上述重疊部可選擇性溶穿，該犧牲部可選擇性切除。 虽該重疊部未被财’而該犧牲部未被嫌時，上述電路 、=可用以測試顯示器是否有壞點。測試完後，該犧牲部 r皮切除。崎’若顯示既_轉，職穿該重疊部， 以將上述電路結構作為修復線。
使用本發日獨省了，技術中修復_配置帥，而 且可以使原來不能修復的區域(non repair area)變成可修復 區域此外_於*成本的電視產品，可減少接觸塾燒毀 bum)或走線擦傷(lead scratch)而報廢的比率。 【實施方式】 茲配合圖不詳述本發明「顯示器電路結構」，並 佳實施例說明如下： 請參照圖2 ’係為本發明之電_構應祕一顯示器 中。顯示器200包括-基板21〇分為一主動區212及一接 合區214。主動區212内部設有一晝素陣列211，其上方具 7 1335560 有一上盍(未繪示)或一彩色濾光片（未繪示）。一框膠216塗 佈於主動區212周圍，以黏合基板21〇與該上蓋或該彩色 濾光片。接合區214内設有一資料驅動單元2〇1、一掃描 驅動單元203、至少一第一走線2〇4及至少一第二走線 220，第一走線204係與測試單元(未繪示)電性連接。 晝素陣列211包括複數個薄膜電晶體2〇2。每個薄膜 電晶體202經由資料線205電性連接至資料驅動單元 201 ’並且經由掃描線207電性連接至掃描驅動單元2〇3。 值得一提的是’第二走線220之一端點222連接至第一走 線204，另一端點224經由資料驅動單元2〇1電性連接至 薄膜電晶體202。兩端點222及224之間具有一重疊部226 與第一走線重疊’以及一犧牲部228位於基板21〇之預定 截斷區域，如圖中虛線C-C上方部分。 較佳地，犧牲部228係位於重疊部226與端點222之 間。重豐部226係與第一走線204電性連接且犧牲部228 與第一走線204共同構成一圈環結構。 請參照圖3，係為重疊部226之側剖面圖。絕緣層250 具有一連接窗252(contact hole)位於重疊部226與第一走線 204之間，以雷射融接使第一走線204電性連接至第二走 線220，其中連接窗252之材料包括金屬或導電材料，絕 緣層之材料包括氮化石夕(silicon jiifride ; SiNx)、閘氮化石夕 (gate silicon nitride ; g-$NX)、單晶矽(amorphous silic〇n ; a-Si)或蝕刻阻擋氮化矽(etching stopper silicon nitride ; ES-SiNx)。附帶一提的是，重疊部226與第一走線2〇4之 上下位置不需限制’換句話說，第一走線2〇4可位於第二 8 走線220下方。 在測試顯示H 200時，上述第一走線2〇4及第二走線 作為測試線之用；但在資料線2〇5或掃描線Μ7故障 時，則作為修復線之用，以二個實施例分別說明如下。 請參照圖4，係為本發明翻於顯示器之測試。為了 为別測試整細示器的紅色子晝素R、綠色子畫素g 及，色子旦素B疋否正常’基板21G的接合區214中設置 了三條測試用的第—走線2Q4a、娜及施以供電性連 接至-測試單元獅，例如：m秦jump⑺咖聯^ 第-走線2G4a電性連接至槪條第 該等第二走線220電性連接至顯示器2⑻中触的紅色^ 晝素R。哪地，第-走線施紐連接域數條第二走 線230 ’經由,亥等第二走秦23〇電性連接至顯示器細中 所有的、’#色子晝素GH線2G8a紐連接至複數條第 二走線_240,經由該等第二走線·電性連接至顯示器㈣ 中所有的藍色子晝素B。 為了方便說明，以下將連接於紅色子晝素R之第一走 線204a稱為「第-紅色走線職」，而第二走線22〇則稱 為「第二紅色走線220」。以此類推，第—走線與2〇如 分別稱為「第-綠色走線2G6a」與「第—藍色走線施&」。 第二走線230及240分別齡「第二藍色走線盘 二綠色击婕240,。 $ 。電路測試前，犧 需與第一紅色走線 測試紅色子晝素r之過程詳述如下 牲部228不能被截斷，並且重疊部226 204a彼此電性絕緣’剖面結構可參考圖3，重疊部挪與 第-紅色走線2G4a之上下位置不冑限制，換句話說，第一 紅色走線篇可位於第二走線22〇下方，第一紅色走線 難與重疊部226之間具有絕緣層(未標示)而無連接窗 2S2。測試時，第-紅色走線職需電性連接至測試單元 300。 電路測試方法如下’測試單元3〇〇提供一測試訊號至 第一紅色走線204a，使測試訊號經過該等第二紅色走線 220一而到達所有紅色子畫素R之薄膜電晶體2〇2。依箭號 所示，測試訊號由測試單元300、第一紅色走線2〇4a、第 二紅色走線220之端點222、犧牲部228、重疊部226、第 二紅色走線220之另一端點224、資料驅動單元2〇1，進而 傳遞至薄膜電晶體202。同理，若要測試綠色子晝素G與 藍色子晝素B，測試單元3〇〇只要分別提供測試訊號至第 一走線206a與208a即可，測試訊號之後的傳遞路徑不再 贅述。 第一紅色走線204a、第一綠色走線206a與第一藍色 走線208a除了與測試單元300連接之外，亦電性連接至一 印刷電路板400以作為修復之用。 請參照圖5’係為本發明應用於顯示器的修復示意 圖。為方便了解’將基板210繪製成兩部分解釋。顯示器 200經測試後，犧牲部228即被雷射截斷而呈一斷線狀態。 第一紅色走線204a、第一綠色走線206a與第一藍色走線 208a電性連接至印刷電路板400，藉此與主動區212中的 辅助線2042電性連接。當資料線205故障時，例如圖示之 斷裂點260 ’資料訊號即無法由正常路徑輸入該行紅色子 晝素中。此時，只需將重疊部226上方之連接窗(未標示) 炫通’資料訊號即可經由第二紅色走線22〇、第一紅色走 線204a、印刷電路板4〇〇、辅助線2042、，熔接點2〇41之 ;嗔序輸入該行紅色子畫素r中。 值得一提的是，當主動區212至資料驅動單元2〇1之 間的區域發生線路轉時’本發明亦能發揮修復功能。此 外，也可以節省主動區212内部的修復線設計空間。 上述實施例雖以修復資料線為例，但本發 雜復掃鱗。糾，子好秘_示之配置方式^ 二走線可為-短路棒(shGrting bar)。第二走線可為一倒勾狀 =線。資料驅動單元201或掃描驅動單元2〇3可用覆晶薄 ^印刷電路板獅可 外，取代。第一走線連接於外部電路，該外部 電路再以覆晶薄膜或捲帶封襄的軟體 完成整個修復結構。 ’嫣電體而 上列呼、，，田說明係針對本發明較佳實施例之具體說明， 惟上述實施例並非用以限制本發明之利、 本發明技難神所為之等效魏 —’凡未脫離 之專利範I 4或變更，均應包含於本案 【圖式簡單說明】 ._ 圖1係為f知含有修復線的顯示器電路之平面圖； 圖2係為本發明之電路結構應用於—顯示器令； 圖3係為本發明之電路結射，重疊部之'側剖面圖； 1335560 圖4係為本發明應用於顯示器之測試；以及 圖5係為本發明應用於顯示器之修復示意圖。 【主要元件符號說明】
100 顯示器 204 第一走線 101 下基板 204a 第一紅色走線 102 畫素 2041 熔接點 103a 熔接點 2042 輔助線 103b 熔接點 206a 第一綠色走線 110 主動區 208a 第一藍色走線^ 112 掃描線 205 資料線 114 資料線 207 掃描線 115 薄膜電晶體 210 基板 116 修復線 211 晝素陣列 117 斷裂點 212 主動區 118 斷裂點 214 接合區 120 接合區 220 第二紅色走線(第二 走線） 122 測試線 222 端點 124 測試線 224 端點 126 測試線 226 重疊部 128 資料驅動單元 228 犧牲部 129 掃描驅動單元 230 第二綠色走線 130 框膠 240 _第二藍色走線 200 顯示器 250 絕緣層 201 資料驅動單元 252 連接窗 203 掃描驅動單元 300 測試單元 400 印刷電路板 12
Claims (1)
1335560 十、申請專利範圍： 1. 一種顯示器電路結構，包括： -基板，具有—主動區及—接合區； 至少一薄膜電晶體’設置於該主動區内； 至少一第一走線，設置於該接合區内；以及 至少一第二走線，具有：
一第一端電性連接該第一走線； -第二端電性連接簡膜電晶體； 一重疊部與該第-走線重疊；以及 -犧牲部位於該第一端以及該第二端之間。 •那1r印寻利範圍第丨項所述 愤犧牲部係位於該重疊部與該第一端之、間。路結構，其 4.如申請專利範圍第1項 中該第-紐係與-外部電路電性連|4電路結構，其 5. 如申請專利崎4物⑽器電 構，其 13 電路板 中該外部電路係包括一軟性 ，該路結構，其 其 路結構， 9.如申請專利範圍第！項所述 包括一絕緣層倾該重疊部以及該第二先線=冓，更 絕緣層之材料包括氮化♦、閘氮$ 該 氮化矽。 早日日石夕或蝕刻阻擋 10.如申請專利範圍第〗項 Μ 其中該絕緣層具有-連接窗，以電m不錢路結構， 該重疊部。 自得岐縣第-走線以及 11.如申請專利範圍第丨項 π 射該第二走線係為-倒勾狀走線Λ47^電路結構, 1335560 12·如申請專利範圍第！項所述之顯示器電路結 其中s亥犧牲部係包含至少一斷線。 13. 如申請專利範圍第丨項所述之顯示 其中該至少ϋ線包括—第—紅色走線、— 走線以及n色走線；以及該至少—第二走線包括一 第二紅色走線、-第二綠色走線以及—第二藍色走線該 第二紅色走線、該第二綠色走線以之該第二藍色走線 之S亥些第一端係分別電性連接於該第一紅色走線、該第一 綠色走線以及該第一藍色走線。 14. 一種顯示器模組，包含： 一基板，具有一主動區及一接合區； 至少一薄膜電晶體，設置於該主動區内； 至少一第一走線，設置於該接合區内； 至少一第二走線，具有： 一第一端電性連接該第一走線； 一第二端電性連接該薄膜電晶體； 一重疊部與該第一走蜂重疊；及 -犧牲部位於該第—端以及該第. 至少-外部電路’與該第一走線電性連接；以及 至少一測試單元，與該第-走線電性連接。 15
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