KR101628012B1 - 액정 표시장치와 이의 화소 검사 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 표시 영역 내에 상하로 인접한 화소들이 게이트 라인을 공유하도록 형성되어 있고, 비 표시 영역 내에 화소들의 오토 프로브(auto prove) 검사 패턴이 형성된 액정 표시장치 및 상기 액정 표시장치의 화소 검사 방법에 관한 것이다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치는 표시 영역에 형성된 복수의 화소; 상기 복수의 화소 중에서 상하로 인접한 2개의 화소가 하나의 게이트 라인을 공유하고, 상기 2개의 화소가 서로 다른 데이터 라인으로부터 데이터 전압을 공급받고, 비 표시 영역에 형성되어 상기 복수의 화소에 검사 신호를 공급하는 검사 패턴; 상기 검사 패턴은 상기 복수의 화소에 컬러 별로 검사 신호를 공급하기 위한 적어도 하나의 데이터 쇼팅바 및 적어도 하나의 스위칭부를 포함한다.

Description

액정 표시장치와 이의 화소 검사 방법{LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR TESTING PIXELS OF THE SAME}
본 발명은 표시 영역 내에 상하로 인접한 화소들이 게이트 라인을 공유하도록 형성되어 있고, 비 표시 영역 내에 화소들의 오토 프로브(auto prove) 검사 패턴이 형성된 액정 표시장치 및 상기 액정 표시장치의 화소 검사 방법에 관한 것이다.
이동통신 단말기, 노트북 컴퓨터와 같은 각종 휴대용 전자기기가 발전함에 따라 이에 적용할 수 있는 평판 표시장치(Flat Panel Display Device)에 대한 요구가 증대되고 있다.
평판 표시장치들 중에서 액정 표시장치(LCD)는 양산 기술의 발전, 구동수단의 용이성, 저전력 소비, 고화질 구현 및 대화면 구현의 장점이 있어 휴대용으로 기기에 적합하며 적용 분야가 확대되고 있다.
액정 표시장치는 외부로부터 입력된 영상 신호를 데이터 전압으로 변환하고, 데이터 전압에 따라 복수의 화소(pixels)의 액정층을 투과하는 광의 투과율을 조절하여 영상 신호에 따른 화상을 표시하게 된다.
액정 표시장치는 TFT 어레이 기판(하부 기판) 상에 박막트랜지스터(TFT)를 포함한 여러 패턴을 형성하는 공정, 컬러필터 어레이 기판 상에 컬러필터층을 포함한 각종 패턴을 형성하는 공정, TFT 어레이 기판과 컬러필터 어레이 기판을 대향 합착하고, 그 사이에 액정을 주입하는 액정셀 공정, 상기 TFT 어레이 기판에 구동 회로부를 연결하는 모듈 공정을 수행하여 제조되게 된다.
TFT 어레이 기판이 제조된 이후, 기판에 형성된 라인들의 쇼트, 단선 등과 같은 라인 불량과, TFT의 불량 및 화소 패턴 불량을 검출하기 위한 오토 프로브(auto prove) 검사 공정을 수행하게 된다.
액정 패널의 비 표시 영역에는 오토 프로브(auto prove) 검사를 위한 검사 패턴이 형성된다. 오토 프로브 감사를 위한 검사 패턴으로서 쇼팅바를 이용하며, 쇼팅바를 통해 게이트 라인과 데이터 라인에 구동 신호를 인가하여 TFT 어레이 기판 상의 라인들 및 화소들이 정상적으로 형성되었는지를 검사하게 된다.
도 1은 종래 기술에 따른 오토 프로브 검사 패턴이 형성된 액정 표시장치를 개략적으로 나타내는 도면이다. 도 1에서는 액정 패널 중에서 TFT 어레이 기판을 도시하고 있다.
도 1을 참조하면, 종래 기술에 따른 액정 표시장의 TFT 어레이 기판은 표시 영역(A/A)과 비 표시 영역(N/A)을 포함한다.
표시 영역(A/A)에는 복수의 게이트 라인(12)과 복수의 데이터 라인(14)이 교차하도록 형성되어 있고, 상기 게이트 라인들(12)과 데이터 라인들(14)이 교차에 의해서 복수의 화소(16)가 정의 된다. 복수의 화소(16) 각각에는 TFT(thin film transistor) 및 스토리지 커패시터(Cst)가 형성되어 있다.
도 1에서는 1 게이트/1 데이터의 화소 구조가 도시되어 있다. 레드(red), 그린(green) 및 블루(blue)의 화소들이 스트라이프 형태로 배열되어 있다. 1 수평라인 상에 배치된 화소들은 동일한 게이트 라인으로부터 스캔 신호를 공급받아 TFT가 스위칭 되고, 1 수직라인 상에 배치된 동일 컬러의 화소들은 동일한 데이터 라인으로부터 데이터 전압을 받아 화상을 표시하게 된다.
비 표시 영역(N/A)에는 복수의 게이트 라인(12), 복수의 데이터 라인(14) 및 복수의 화소(16)들이 정상적으로 형성되었는지를 검사하기 위해서 검사 패턴이 형성되어 있다. 검사 패턴으로써, 복수의 인에이블 스위치(20) 및 복수의 데이터 쇼팅바(30)가 형성되어 있다. 복수의 링크 라인(40)을 통해 복수의 인에이블 스위치(20)와 복수의 데이터 쇼팅바(30)가 연결되고, 인에이블 스위치(20)와 데이터 라인들(14)은 링크 라인 및 데이터 패드(미도시)를 통해 연결된다.
도 1에서는 데이터 쇼팅바(30)가 3개 형성된 것을 도시하고 있지만, 데이터 쇼팅바(30)의 개수에는 크게 제한이 없으며, 일반적으로 2개 내지 6개의 데이터 쇼팅바를 형성하여 오토 프로브 검사를 수행하게 된다.
데이터 쇼팅바가 2개 형성되는 경우에는 복수의 데이터 라인을 이븐 라인과 오드 라인으로 구분 및 전체 화소들을 1/2씩 분할하여 화소 검사를 수행한다. 데이터 쇼팅바가 3개 형성되는 경우에는 복수의 데이터 라인을 레드 화소들, 그린 화소들 및 블루 화소들의 데이터 라인으로 구분하여 화소의 컬러 별로 화소 검사를 수행한다.
종래 기술에 따른 액정 표시장치는 레드(red), 그린(green) 및 블루(blue) 화소들이 스트라이프 형태로 배열되고, 게이트 라인 및 데이터 라인을 공유하지 않은 일반적인 액정 표시장치의 화소 구조에 적합하도록 검사 패턴이 형성되어 있다. 3개의 쇼팅바(30)를 이용하여 레드(red), 그린(green) 및 블루(blue) 화소들의 컬러 별로 화소 검사를 수행할 수 있다.
근래에 들어, 상하로 인접한 화소들이 게이트 라인을 공유하는 2 데이터/1 게이트 화소 구조가 개발되고 있으나, 도 1에 도시된 검사 패턴으로는 2 데이터/1 게이트 화소 구조에 대해서 오토 프로브 검사를 수행할 수 없는 문제점이 있다. 즉, 화소들의 배열 구조와 오토 프로브 검사를 위한 검사 패턴이 서로 일치하지 않아 오토 프로브 검사를 정상적으로 수행할 수 없다.
이상 설명한 배경기술에 기재된 화소 구조, 검사 패턴 및 화소 검사 방법은, 본 출원의 발명자가 본 발명의 도출을 위해 보유하고 있었거나, 본 발명의 도출 과정에서 습득한 기술 정보로서, 반드시 본 발명의 출원 전에 일반 공중에게 공개된 공지기술이라 할 수는 없다.
본 발명은 앞에서 설명한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 상하로 인접한 화소들이 게이트 라인을 공유하는 2 데이터/1 게이트 화소 구조의 오토 프로브 검사를 위한 검사 패턴을 포함하는 액정 표시장치를 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.
본 발명은 앞에서 설명한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 상하로 인접한 화소들이 게이트 라인을 공유하는 2 데이터/1 게이트 화소 구조의 오토 프로브 검사를 위한 화소 검사 방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.
위에서 언급된 본 발명의 기술적 과제 외에도, 본 발명의 다른 특징 및 이점들이 이하에서 기술되거나, 그러한 기술 및 설명으로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치는, 표시 영역에 형성된 복수의 화소; 상기 복수의 화소 중에서 상하로 인접한 2개의 화소가 하나의 게이트 라인을 공유하고, 상기 2개의 화소가 서로 다른 데이터 라인으로부터 데이터 전압을 공급받고, 비 표시 영역에 형성되어 상기 복수의 화소에 검사 신호를 공급하는 검사 패턴; 상기 검사 패턴은 상기 복수의 화소에 컬러 별로 검사 신호를 공급하기 위한 적어도 하나의 데이터 쇼팅바 및 적어도 하나의 스위칭부를 포함한다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 상기 검사 패턴은, 복수의 화소 중에서 레드 화소들을 2개의 그룹으로 나누어 상기 검사 신호를 공급하는 복수의 레드 데이터 쇼팅바와, 복수의 화소 중에서 그린 화소들을 2개의 그룹으로 나누어 상기 검사 신호를 공급하는 복수의 그린 데이터 쇼팅바와, 복수의 화소 중에서 블루 화소들을 2개의 그룹으로 나누어 상기 검사 신호를 공급하는 복수의 블루 데이터 쇼팅바를 포함한다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 상기 검사 패턴은, 상기 복수의 레드 데이터 쇼팅바, 상기 그린 데이터 쇼팅바 및 상기 블루 데이터 쇼팅바로부터 입력되는 상기 검사 신호를 선택적으로 상기 레드 화소들, 상기 그린 화소들 또는 상기 블루 화소들에 공급하는 하나의 스위칭부를 포함한다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 상기 검사 패턴은, 복수의 화소에 상기 검사 신호를 공급하는 하나의 데이터 쇼팅바를 포함한다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 상기 검사 패턴은, 복수의 화소 중에서 레드 화소들을 2개의 그룹으로 나누어 상기 검사 신호를 상기 레드 화소들로 공급하는 복수의 레드 스위칭부와, 복수의 화소 중에서 그린 화소들을 2개의 그룹으로 나누어 상기 검사 신호를 상기 그린 화소들로 공급하는 복수의 그린 스위칭부와, 복수의 화소 중에서 블루 화소들을 2개의 그룹으로 나누어 상기 검사 신호를 상기 블루 화소들로 공급하는 복수의 블루 스위칭부를 포함한다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 화소 검사 방법은, 상하로 인접한 2개의 화소가 하나의 게이트 라인을 공유하고, 상기 2개의 화소가 서로 다른 데이터 라인으로부터 데이터 전압을 공급받는 액정 표시장치의 화소 검사 방법에 있어서, 적어도 하나의 쇼팅바와 적어도 하나의 스위칭부를 이용하여 컬러 별로 화소들에 검사 신호를 공급하되, 레드 화소들, 그린 화소들 및 블루 화소들을 각각 2개 그룹으로 나누어 상기 검사신호를 순차적으로 공급하여 상기 레드 화소들, 상기 그린 화소들 및 상기 블루 화소들을 컬러 별로 점등시킨다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 화소 검사 방법은, 오드 게이트 라인에 스캔 신호를 공급 및 상기 레드 화소들 중 제1 레드 화소들에 상기 검사 신호를 공급하여 상기 제1 레드 화소들 점등시키고, 이븐 게이트 라인에 스캔 신호를 공급 및 상기 레드 화소들 중 제2 레드 화소들에 상기 검사 신호를 공급하여 상기 제2 레드 화소들 점등시킨다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 화소 검사 방법은, 이븐 게이트 라인에 스캔 신호를 공급 및 상기 그린 화소들 중 제1 그린 화소들에 상기 검사 신호를 공급하여 상기 제1 그린 화소들 점등시키고, 오드 게이트 라인에 스캔 신호를 공급 및 상기 그린 화소들 중 제2 그린 화소들에 상기 검사 신호를 공급하여 상기 제2 그린 화소들 점등시킨다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 화소 검사 방법은, 오드 게이트 라인에 스캔 신호를 공급 및 상기 블루 화소들 중 제1 블루 화소들에 상기 검사 신호를 공급하여 상기 제1 블루 화소들 점등시키고, 이븐 게이트 라인에 스캔 신호를 공급 및 상기 블루 화소들 중 제2 블루 화소들에 상기 검사 신호를 공급하여 상기 제2 블루 화소들 점등시킨다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치는 상하로 인접한 화소들이 게이트 라인을 공유하는 2 데이터/1 게이트 화소 구조의 오토 프로브 검사를 위한 검사 패턴을 제공할 수 있다.
본 발명은 상하로 인접한 화소들이 게이트 라인을 공유하는 2 데이터/1 게이트 화소 구조의 오토 프로브 검사를 위한 화소 검사 방법을 제공할 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 화소 검사 방법은 레드, 그린 및 블루 화소들을 컬러 별로 점등 시켜, 화소들의 혼색 없이 레드, 그린 및 블루 화소의 오토 프로브 검사를 정밀하게 수행할 수 있도록 한다.
이 밖에도, 본 발명의 실시 예들을 통해 본 발명의 또 다른 특징 및 이점들이 새롭게 파악 될 수도 있을 것이다.
도 1은 종래 기술에 따른 오토 프로브 검사 패턴이 형성된 액정 표시장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 액정 표시장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 액정 표시장치의 표시 영역에 형성된 화소 구조를 나타내는 도면이다.
도 4는 도 3에 도시된 화소 구조의 오토 프로브 검사를 위한 검사 패턴의 제1 실시 예를 나타내는 도면이다.
도 5는 도 3에 도시된 화소 구조의 오토 프로브 검사를 위한 검사 패턴의 제2 실시 예를 나타내는 도면이다.
도 6 및 도 7은 그린 화소들의 검사 방법을 나타내는 도면이다.
도 8 및 도 9는 그린 화소들의 검사 시 점등 오류를 설명하기 위한 도면이다.
도 10 및 도 11은 레드 화소들의 검사 방법을 나타내는 도면이다.
도 12 및 도 13은 블루 화소들의 검사 방법을 나타내는 도면이다.
명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 실질적으로 동일한 구성요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명의 핵심 구성과 관련이 없는 경우 및 본 발명의 기술분야에 공지된 구성과 기능에 대한 상세한 설명은 생략될 수 있다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
본 발명의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 발명이 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다. 본 명세서 상에서 언급한 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다.
구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다. 본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시할 수도 있다.
도면을 참조한 설명에 앞서, 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치는 액정 패널과, 상기 액정 패널을 구동시키기 위한 구동 회로부를 포함하여 구성된다. 본 발명은 액정 패널의 하부기판(TFT 어레이 기판)을 제조한 후, 오토 프로브(Auto Prove) 검사에 이용되는 쇼팅바 및 라인 패턴에 관한 사항을 발명의 주요 내용으로 한다. 따라서, 액정 패널의 상부기판(컬러필터 어레이 기판) 및 액정 패널을 구동시키기 위한 구동 회로부에 대한 도시 및 상세한 설명은 생략한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치와 이의 화소 검사 방법에 대하여 설명하기로 한다.
도 2는 본 발명의 액정 표시장치를 개략적으로 나타내는 도면이고, 도 3은 본 발명의 액정 표시장치의 표시 영역에 형성된 화소 구조를 나타내는 도면이다. 도 3에서는 액정 표시장치 중에서 TFT 어레이 기판을 도시하고 있다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 본 발명의 액정 표시장치(100)는 액정 패널(110) 및 구동회로부(120)를 포함한다. 액정 패널(110)은 표시 영역(AA), 비 표시 영역(NA)을 포함한다. 구동회로부(120)는 비 표시 영역(NA)에 형성된 링크 라인에 접속되어 상기 복수의 화소로 구동 신호를 출력한다. 이러한, 구동회로부는 타이밍 컨트롤러, 게이트 드라이버, 데이터 드라이버 및 전원공급부를 포함하며, 이러한 구동회로부는 주지된 사항이므로 상세한 설명을 생략한다.
도 3에 도시된 바와 같이, TFT 어레이 기판의 표시 영역(AA)에는 복수의 게이트 라인(112) 및 복수의 데이터 라인(114)이 형성되고, 상기 복수의 게이트 라인(112) 및 복수의 데이터 라인(114)의 교차에 의해 화소들(116)이 정의된다. 도면에 도시하지 않았지만, 화소들(116)에는 화소 전극 및 공통 전극이 형성된다. 컬러필터 어레이 기판에는 블랙매트릭스 및 R, G, B 컬러필터가 형성되고, TFT 어레이 기판의 하부와 컬러필터 어레이 기판의 상부에 각각 편광 필름이 부착된다.
여기서, 공통 전극이 컬러 필터 어레이 기판에 형성되어 TN(Twisted Nematic) 모드 또는 VA(Vertical Alignment) 모드로 구동될 수도 있고, 공통 전극이 TFT 어레이 기판에 형성되어 IPS(In Plane Switching) 모드 또는 FFS(Fringe Field Switching) 모드로 구동될 수도 있다. 그리고, 백라이트 유닛은 직하형(direct type) 백라이트 유닛 또는 에지형(edge type) 백라이트 유닛이 적용될 수 있다.
도 3에 2 데이터/1 게이트 화소 구조로써, 레드 화소들, 그린 화소들 및 블루 화소들이 매트릭스 형태로 배열되어 있다. 수평방향으로는 레드 화소, 그린 화소 및 블루 화소의 배열이 교번적으로 배치되고, 수직방향으로 동일 컬러의 화소들이 배열되어 있다.
구체적으로, 제1 수직라인(VGL1)에는 레드 화소들이 배열되고, 제2 수직라인(VGL1)에는 그린 화소들이 배열되고, 제3 수직라인(VGL1)에는 블루 화소들이 배열되고, 제4 수직라인(VGL1)에는 레드 화소들이 배열되고, 제5 수직라인(VGL1)에는 그린 화소들이 배열되고, 제6 수직라인(VGL1)에는 블루 화소들이 배열되어 있다. 이렇게, 수직라인을 기준으로 화소들의 반복적으로 배열된다. 그리고, 제1 수평라인(HL1) 내지 제4 수평라인(HL4)에 레드 화소, 그린 화소, 블루 화소가 교변적으로 배열되어 있다. 이렇게, 수평라인을 기준으로 화소들이 반복적으로 배열되어 있다.
여기서, 상하로 인접한 2개의 화소가 하나의 게이트 라인을 공유하여 스캔 펄스를 공급받고, 상기 상하로 인접한 2개의 화소는 서로 다른 데이터 라인으로부터 데이터 전압을 공급받는다. 동일한 데이터 라인에 접속된 화소의 TFT들은 수직 방향을 따라서 지그재그로 배치되어 있다.
제1 게이트 라인(GL1)을 기준으로 살펴보면, 2개의 레드 화소(R1, R2)가 제1 게이트 라인(GL1)을 공유한다. 제1 게이트 라인(GL1)의 상측에 제1 레드 화소(R1)가 배치되어 스캔 신호를 공급받고, 제1 게이트 라인(GL1)의 하측에 제2 레드 화소(R2)가 배치되어 스캔 신호를 공급받는다. 제1 레드 화소(R1)의 TFT는 제1 데이터 라인(DL1)에 접속되어 데이터 전압을 공급받고, 제2 레드 화소(R2)의 TFT는 제2 데이터 라인(DL2)에 접속되어 데이터 전압을 공급받는다.
제1 게이트 라인(GL1)을 기준으로 살펴보면, 2개의 블루 화소(B1, B2)가 제1 게이트 라인(GL1)을 공유한다. 제1 레드 화소(R1)와 제2 레드 화소(R2)에서부터 하나의 화소 영역을 건너 제1 블루 화소(B1)와 제2 블루 화소(B2)가 배치되어 있다. 제1 게이트 라인(GL1)의 상측에 제1 블루 화소(B1)가 배치되어 스캔 신호를 공급받고, 제1 게이트 라인(GL1)의 하측에 제2 블루 화소(B2)가 배치되어 스캔 신호를 공급받는다. 제1 블루 화소(B1)의 TFT는 제4 데이터 라인(DL4)에 접속되어 데이터 전압을 공급받고, 제2 블루 화소(B2)의 TFT는 제3 데이터 라인(DL3)에 접속되어 데이터 전압을 공급받는다.
제1 게이트 라인(GL1)을 기준으로 살펴보면, 2개의 그린 화소(G1, G2)가 제1 게이트 라인(GL1)을 공유한다. 제1 블루 화소(B1)와 제2 블루 화소(B2)에서부터 하나의 화소 영역을 건너 제1 그린 화소(G1)와 제2 그린 화소(G2)가 배치되어 있다. 제1 게이트 라인(GL1)의 상측에 제1 그린 화소(G1)가 배치되어 스캔 신호를 공급받고, 제1 게이트 라인(GL1)의 하측에 제2 그린 화소(G2)가 배치되어 스캔 신호를 공급받는다. 제1 그린 화소(G1)의 TFT는 제5 데이터 라인(DL5)에 접속되어 데이터 전압을 공급받고, 제2 그린 화소(G2)의 TFT는 제6 데이터 라인(DL6)에 접속되어 데이터 전압을 공급받는다.
제2 게이트 라인(GL2)을 기준으로 살펴보면, 2개의 그린 화소(G3, G4)가 제2 게이트 라인(GL2)을 공유한다. 제2 게이트 라인(GL2)의 상측에 제3 그린 화소(G3)가 배치되어 스캔 신호를 공급받고, 제2 게이트 라인(GL2)의 하측에 제4 그린 화소(G4)가 배치되어 스캔 신호를 공급받는다. 제3 그린 화소(G3)의 TFT는 제2 데이터 라인(DL2)에 접속되어 데이터 전압을 공급받고, 제4 그린 화소(G4)의 TFT는 제3 데이터 라인(DL3)에 접속되어 데이터 전압을 공급받는다.
제2 게이트 라인(GL2)을 기준으로 살펴보면, 2개의 레드 화소(R3, R4)가 제2 게이트 라인(GL2)을 공유한다. 제3 그린 화소(G3)와 제4 그린 화소(G4)에서부터 하나의 화소 영역을 건너 제3 레드 화소(R3)와 제4 레드 화소(R4)가 배치되어 있다. 제2 게이트 라인(GL2)의 상측에 제3 레드 화소(R3)가 배치되어 스캔 신호를 공급받고, 제2 게이트 라인(GL2)의 하측에 제4 레드 화소(R4)가 배치되어 스캔 신호를 공급받는다. 제3 레드 화소(R3)의 TFT는 제5 데이터 라인(DL5)에 접속되어 데이터 전압을 공급받고, 제4 레드 화소(R4)의 TFT는 제4 데이터 라인(DL4)에 접속되어 데이터 전압을 공급받는다.
제2 게이트 라인(GL2)을 기준으로 살펴보면, 2개의 블루 화소(B3, B4)가 제2 게이트 라인(GL2)을 공유한다. 제3 레드 화소(R3)와 제4 레드 화소(R4)에서부터 하나의 화소 영역을 건너 제3 블루 화소(B3)와 제4 블루 화소(B4)가 배치되어 있다. 제2 게이트 라인(GL2)의 상측에 제3 블루 화소(B3)가 배치되어 스캔 신호를 공급받고, 제2 게이트 라인(GL2)의 하측에 제4 블루 화소(B4)가 배치되어 스캔 신호를 공급받는다. 제3 블루 화소(B3)의 TFT는 제6 데이터 라인(DL6)에 접속되어 데이터 전압을 공급받고, 제4 블루 화소(B4)의 TFT는 제7 데이터 라인(DL4)에 접속되어 데이터 전압을 공급받는다.
오토 프로브 검사를 위한 검사 패턴의 제1 실시 예
도 4는 도 3에 도시된 화소 구조의 오토 프로브 검사를 위한 검사 패턴의 제1 실시 예를 나타내는 도면이다.
도 4를 참조하면, 상하로 인접한 2개의 화소가 하나의 게이트 라인을 공유하여 스캔 펄스를 공급받고, 상기 상하로 인접한 2개의 화소는 서로 다른 데이터 라인으로부터 데이터 전압을 공급받는 2데이터/1게이트 화소 구조의 오토 프로브 검사를 위해서 비 표시 영역(NA)에 검사 패턴을 형성하였다. 오토 프로브 검사를 위한 검사 패턴은 복수의 데이터 쇼팅바(130) 및 인에이블 스위칭부(150)를 포함한다.
복수의 링크 라인(140)을 통해 복수의 인에이블 스위칭부(150)와 복수의 데이터 쇼팅바(130)가 연결되고, 인에이블 스위칭부(150)와 데이터 라인들(114)은 링크 라인 및 데이터 패드(미도시)를 통해 연결된다.
복수의 레드, 그린 및 블루 화소들에 대해서 동일한 컬러 별로 화소의 오토 프로브 검사가 이루어지도록 한다. 이때, 동일한 컬러의 화소들을 2개의 그룹으로 나누어 이븐 게이트 라인에 접속된 화소들과, 오드 게이트 라인에 접속된 화소들을 순차적으로 점등시켜 전체 레드, 그린 및 블루 화소들의 오토 프로브 검사를 수행하게 된다.
레드, 그린 및 블루 화소들 각각을 컬러 별로 2개의 그룹으로 나누어 오토 프로브 검사를 수행하므로, 전체 화소들을 총 6개의 데이터 그룹 구분하여 검사 신호를 인가한다. 이를 위해서, 6개의 데이터 쇼팅바(130)가 형성되어 있고, 6개의 데이터 쇼팅바(130)를 통해 전체 레드, 그린 및 블루 화소들로 검사 신호를 공급한다. 도면에 도시하지 않았지만, 전체 화소들의 오토 프로브 검사를 위한 검사 신호는 별도로 마련된 검사 장비에서 공급된다.
도 3과 도 4를 결부하여 설명하면, 제1 데이터 쇼팅바(131)는 제1 화소 그룹(D1)에 제1 검사 신호를 공급하기 위한 것이고, 제2 데이터 쇼팅바(132)는 제2 화소 그룹(D2)에 제2 검사 신호를 공급하기 위한 것이고, 제3 데이터 쇼팅바(133)는 제3 화소 그룹(D3)에 제3 검사 신호를 공급하기 위한 것이고, 제4 데이터 쇼팅바(134)는 제4 화소 그룹(D4)에 제4 검사 신호를 공급하기 위한 것이고, 제5 데이터 쇼팅바(135)는 제5 화소 그룹(D5)에 제5 검사 신호를 공급하기 위한 것이고, 제6 데이터 쇼팅바(136)는 제6 화소 그룹(D6)에 제6 검사 신호를 공급하기 위한 것이다. 이렇게, 제1 내지 제6 화소 그룹(D6)이 반복적으로 배치되어 있고, 6개의 데이터 쇼팅바(130)와 인에이블 스위칭부(150)를 이용하여 전체 레드, 그린 및 블루 화소들의 점등 검사를 수행한다.
인에이블 스위칭(150)에는 복수의 인에이블 스위치(ES)가 형성되어 있다. 제1 내지 제6 쇼팅바(131-136)에 순차적으로 제1 검사 신호 내지 제6 검사 신호가 순차적으로 인가된다. 이때, 제1 검사 신호 내지 제6 검사 신호가 인가되는 시점에 맞춰 인에이블 스위칭부(150)에 인에이블 신호가 인가되어 전체 화소들의 점등을 검사할 수 있다.
여기서, 제1 내지 제6 검사 신호는 동일한 데이터 전압일 수도 있고, 서로 다른 데이터 전압일 수도 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치는 레드, 그린 및 블루 화소들을 컬러 별로 점등 시켜, 레드, 그린 및 블루 화소들의 오토 프로브 검사 시 혼색 없이 화소 검사를 정밀하게 수행할 수 있도록 한다.
오토 프로브 검사를 위한 검사 패턴의 제2 실시 예
도 5는 도 3에 도시된 화소 구조의 오토 프로브 검사를 위한 검사 패턴의 제2 실시 예를 나타내는 도면이다.
도 5를 참조하면, 상하로 인접한 2개의 화소가 하나의 게이트 라인을 공유하여 스캔 펄스를 공급받고, 상기 상하로 인접한 2개의 화소는 서로 다른 데이터 라인으로부터 데이터 전압을 공급받는 2데이터/1게이트 화소 구조의 오토 프로브 검사를 위해서 비 표시 영역(NA)에 검사 패턴을 형성하였다. 오토 프로브 검사를 위한 검사 패턴은 하나의 데이터 쇼팅바(160) 및 복수의 인에이블 스위칭부(180)를 포함한다.
복수의 레드, 그린 및 블루 화소들에 대해서 동일한 컬러 별로 화소의 오토 프로브 검사가 이루어지도록 한다. 이때, 동일한 컬러의 화소들을 2개의 그룹으로 나누어 이븐 게이트 라인에 접속된 화소들과, 오드 게이트 라인에 접속된 화소들을 순차적으로 점등시켜 전체 레드, 그린 및 블루 화소들의 오토 프로브 검사를 수행하게 된다.
레드, 그린 및 블루 화소들 각각을 컬러 별로 2개의 그룹으로 나누어 오토 프로브 검사를 수행하므로, 전체 화소들을 총 6개의 데이터 그룹 구분하여 검사 신호를 인가한다. 이를 위해서, 1개의 데이터 쇼팅바(160)가 형성되어 있고, 6개의 인에이블 스위칭부(181-186)가 형성되어 있다.
제1 내지 제6 인에이블 스위칭부(181-186) 각각에는 전체 데이터 라인 개수의 1/6에 해당하는 인에이블 스위치(ES)가 형성되어 있어, 전체 데이터 라인의 개수와 동일한 인에이블 스위치(ES)가 형성되어 있다.
1개의 데이터 쇼팅바(160)를 이용하더라도, 제1 내지 제6 인에이블 스위칭부(181-186)를 이용하여 레드, 그린 및 블루 화소로 인가되는 검사 신호를 선택적으로 스위칭 할 수 있다.
도 3과 도 5를 결부하여 설명하면, 데이터 쇼팅바(160)는 전체 화소에 대해서 공통으로 형성되어 있다.
그리고, 제1 인에이블 스위칭부(181)는 제1 화소 그룹(D1)에 제1 검사 신호를 공급하기 위한 것이고, 제2 인에이블 스위칭부(182)는 제2 화소 그룹(D2)에 제2 검사 신호를 공급하기 위한 것이고, 제3 인에이블 스위칭부(183)는 제3 화소 그룹(D3)에 제3 검사 신호를 공급하기 위한 것이고, 제4 인에이블 스위칭부(184)는 제4 화소 그룹(D4)에 제4 검사 신호를 공급하기 위한 것이고, 제5 인에이블 스위칭부(185)는 제5 화소 그룹(D5)에 제5 검사 신호를 공급하기 위한 것이고, 제6 인에이블 스위칭부(186)는 제6 화소 그룹(D6)에 제6 검사 신호를 공급하기 위한 것이다. 이렇게, 제1 내지 제6 화소 그룹(D6)이 반복적으로 배치되어 있고, 하나의 데이터 쇼팅바(160)와 6개의 인에이블 스위칭부(181-186)을 이용하여 전체 레드, 그린 및 블루 화소들의 점등 검사를 수행한다.
데이터 쇼팅바(160)에 검사 신호가 인가된다. 이때, 검사 신호가 인가되는 시점에 맞춰 제1 내지 제6 인에이블 스위칭부(181-186)에 순차적으로 인에이블 신호가 인가되어 전체 화소들의 점등을 검사할 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치는 레드, 그린 및 블루 화소들을 컬러 별로 점등 시켜, 레드, 그린 및 블루 화소들의 오토 프로브 검사 시 혼색 없이 화소 검사를 정밀하게 수행할 수 있도록 한다. 본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치는 하나의 쇼팅바로 전체 화소의 검사 신호를 인가할 수 있어, 쇼팅바를 형성하는데 필요한 면적을 줄일 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 화소 검사 방법은 컬러 별로 레드, 그린 및 블루 화소들의 오토 프로브 검사를 수행할 수 있다. 먼저, 그린 화소들의 검사 방법을 설명하고, 이어서 레드 화소들 및 블루 화소들의 검사 방법에 대해서 설명하기로 한다.
그린 화소들의 검사 방법 1
도 6 및 도 7은 그린 화소들의 검사 방법을 나타내는 도면이다.
도 6 및 도 7을 참조하면, 전체 그린 화소들을 2개의 그룹, 즉, 제1 그린 그룹과 제2 그린 그룹으로 나누어 검사한다. 도 6 및 도 7에서는 전체 화소들 중에서 일부만을 도시하고 있어, 도면에 도시된 화소들을 기준으로 화소들의 검사 방법에 대해서 설명하기로 한다.
전체 데이터 라인이 1/6 단위로 분할되어, 6개 데이터 라인 단위로 제1 검사 신호 내지 제6 검사 신호가 반복적으로 인가된다. 구체적으로, 1번째 데이터 라인에는 제1 검사 신호가 인가되고, 2번째 데이터 라인에는 제2 검사 신호가 인가되고, 3번째 데이터 라인에는 제3검사 신호가 인가되고, 4번째 데이터 라인에는 제4 검사 신호가 인가되고, 5번째 데이터 라인에는 제5 검사 신호가 인가되고, 6번째 데이터 라인에는 제6 검사 신호가 인가된다. 그리고, N+6 번째 데이터 라인마다(N은 1이상의 자연수) 제1 내지 제6 검사 신호가 순차적으로 인가된다.
그린 화소들의 배치 구조를 살펴보면, 제2 데이터 라인(DL2)과 제3 데이터 라인(DL3) 사이에 그린 화소들이 배치되어 있고, 제5 데이터 라인(DL5)과 제6 데이터 라인(DL6) 사이에 그린 화소들이 배치되어 있다.
오토 프로브 검사의 설명을 위해서, 제1 내지 제6 검사 신호가 입력되는 것에 대응하도록 데이터 라인의 명칭을 검사 라인으로 변경하여 설명한다.
도 4 및 도 6을 결부하여 설명하면, 제2 검사 라인(D2)과 제3 검사 라인(D3) 사이에 배치된 제1 그린 그룹의 그린 화소들을 점등시키기 위해서, 이븐 게이트 라인들에 스캔 신호를 인가한다. 이때, 제2 검사 라인(D2)에 제2 검사 신호를 인가하고, 제3 검사 라인(D3)에 제3 검사 신호를 인가한다.
이를 위해서, 도 4에 도시된 제2 데이터 쇼팅바(132)에 제2 검사 신호를 인가하고, 제3 데이터 쇼팅바(133)에 제3 검사 신호를 인가한다. 이때, 인에이블 스위칭부(150)에 인에이블 신호를 인가하여 제2 검사 신호를 제2 검사 라인(D2)으로 공급시키고, 제3 검사 신호를 제3 검사 라인(D3)으로 공급시킨다.
이븐 게이트 라인을 공유하는 그린 화소들의 TFT가 턴온되고, TFT가 턴온된 그린 화소에 제2 검사 라인(D2)으로부터의 제2 검사 신호 및 제3 검사 라인(D3)으로부터의 제3 검사 신호가 인가되어 전체 그린 화소들 중에서 제1 그린 그룹의 그린 화소들이 점등된다.
이어서, 도 4 및 도 7을 결부하여 설명하면, 제5 검사 라인(D5)과 제6 검사 라인(D6) 사이에 배치된 제2 그린 그룹의 그린 화소들을 점등시키기 위해서, 오드 게이트 라인들에 스캔 신호를 인가한다. 이때, 제5 검사 라인(D5)에 제5 검사 신호를 인가하고, 제6 검사 라인(D6)에 제6 검사 신호를 인가한다.
이를 위해서, 도 4에 도시된 제5 데이터 쇼팅바(135)에 제5 검사 신호를 인가하고, 제6 데이터 쇼팅바(136)에 제6 검사 신호를 인가한다. 이때, 인에이블 스위칭부(150)에 인에이블 신호를 인가하여 제5 검사 신호를 제5 검사 라인(D5)으로 공급시키고, 제6 검사 신호를 제6 검사 라인(D6)으로 공급시킨다.
오드 게이트 라인을 공유하는 그린 화소들의 TFT가 턴온되고, TFT가 턴온된 그린 화소에 제5 검사 라인(D5)으로부터의 제5 검사 신호 및 제6 검사 라인(D6)으로부터의 제6 검사 신호가 인가되어 전체 그린 화소들 중에서 제2 그린 그룹의 그린 화소들이 점등된다.
앞에서 설명한 바와 같이, 제1 그린 그룹과 제2 그린 그룹을 교번적으로 점등시켜 전체 그린 화소들의 오토 프로브 검사를 수행할 수 있다.
그린 화소들의 검사 방법 2
도 5 및 도 6을 결부하여 설명하면, 제2 검사 라인(D2)과 제3 검사 라인(D3) 사이에 배치된 제1 그린 그룹의 그린 화소들을 점등시키기 위해서, 이븐 게이트 라인들에 스캔 신호를 인가한다. 이때, 제2 검사 라인(D2) 및 제3 검사 라인(D3)에 검사 신호를 인가한다.
이를 위해서, 도 5에 도시된 데이터 쇼팅바(160)에 검사 신호를 인가하고, 검사 신호의 입력에 맞춰 제2 인에이블 스위칭부(182) 및 제3 인에이블 스위칭부(183)에 인에이블 신호를 공급하여 검사 신호를 제2 검사 라인(D2) 및 제3 검사 라인(D3)으로 공급시킨다.
이븐 게이트 라인을 공유하는 그린 화소들의 TFT가 턴온되고, TFT가 턴온된 그린 화소에 제2 검사 라인(D2)으로부터의 검사 신호 및 제3 검사 라인(D3)으로부터의 검사 신호가 인가되어 전체 그린 화소들 중에서 제1 그린 그룹의 그린 화소들이 점등된다.
이어서, 도 5 및 도 7을 결부하여 설명하면, 제5 검사 라인(D5)과 제6 검사 라인(D6) 사이에 배치된 제2 그린 그룹의 그린 화소들을 점등시키기 위해서, 오드 게이트 라인들에 스캔 신호를 인가한다. 이때, 제5 검사 라인(D5) 및 제6 검사 라인(D6)에 검사 신호를 인가한다.
이를 위해서, 도 5에 도시된 데이터 쇼팅바(180)에 검사 신호를 인가하고, 검사 신호의 입력에 맞춰 제5 인에이블 스위칭부(185) 및 제6 인에이블 스위칭부(186)에 인에이블 신호를 공급하여 검사 신호를 제5 검사 라인(D5) 및 제6 검사 라인(D6)으로 공급시킨다.
오드 게이트 라인을 공유하는 그린 화소들의 TFT가 턴온되고, TFT가 턴온된 그린 화소에 제5 검사 라인(D5)으로부터의 검사 신호 및 제6 검사 라인(D6)으로부터의 검사 신호가 인가되어 전체 그린 화소들 중에서 제2 그린 그룹의 그린 화소들이 점등된다.
앞에서 설명한 바와 같이, 제1 그린 그룹과 제2 그린 그룹을 교번적으로 점등시켜 전체 그린 화소들의 오토 프로브 검사를 수행할 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 화소 검사 방법은 레드, 그린 및 블루 화소들을 컬러 별로 점등 시켜, 그린 화소들의 오토 프로브 검사 시 레드 및 블루 화소들의 혼색 없이 그린 화소들의 검사를 정밀하게 수행할 수 있도록 한다.
도 8 및 도 9는 그린 화소들의 검사 시 점등 오류를 설명하기 위한 도면이다.
도 8을 참조하면, 제1 그린 그룹을 점등 시키고자 할 때, 제2 검사 라인(D2) 및 제3 검사 라인(D3)에 검사 신호를 인가하고, 오드 게이트 라인에 스캔 신호를 인가하면, 제1 그린 그룹의 그린 화소들뿐만 아니라 주위에 있는 레드 화소들 및 블루 화소들도 함께 점등되어 점등 오류가 발생한다.
도 9를 참조하면, 제1 그린 그룹을 점등 시키고자 할 때, 제5 검사 라인(D5) 및 제6 검사 라인(D3)에 검사 신호를 인가하고, 이븐 게이트 라인에 스캔 신호를 인가하면, 제2 그린 그룹의 그린 화소들뿐만 아니라 주위에 있는 레드 화소들 및 블루 화소들도 함께 점등되어 점등 오류가 발생한다.
이러한, 점등 오류를 방지하기 위해서, 도 4 내지 도 7을 참조하여 설명한 방법으로 게이트 라인들에 스캔 신호를 선택적으로 공급하고, 화소에 검사 신호를 선택적으로 공급한 것이다.
레드 화소들의 검사 방법 1
도 10 및 도 11은 레드 화소들의 검사 방법을 나타내는 도면이다.
도 10 및 도 11을 참조하면, 전체 레드 화소들을 2개의 그룹, 즉, 제1 레드 그룹과 제2 레드 그룹으로 나누어 검사한다. 도 10 및 도 11에서는 전체 화소들 중에서 일부만을 도시하고 있어, 도면에 도시된 화소들을 기준으로 화소들의 검사 방법에 대해서 설명하기로 한다.
레드 화소들의 배치 구조를 살펴보면, 제1 데이터 라인(DL1)과 제2 데이터 라인(DL2) 사이에 레드 화소들이 배치되어 있고, 제4 데이터 라인(DL4)과 제5 데이터 라인(DL5) 사이에 그린 화소들이 배치되어 있다.
오토 프로브 검사의 설명을 위해서, 제1 내지 제6 검사 신호가 입력되는 것에 대응하도록 데이터 라인의 명칭을 검사 라인으로 변경하여 설명한다.
도 4 및 도 10을 결부하여 설명하면, 제1 검사 라인(D1)과 제2 검사 라인(D2) 사이에 배치된 제1 레드 그룹의 레드 화소들을 점등시키기 위해서, 오드 게이트 라인들에 스캔 신호를 인가한다. 이때, 제1 검사 라인(D1)에 제1 검사 신호를 인가하고, 제2 검사 라인(D2)에 제2 검사 신호를 인가한다.
이를 위해서, 도 4에 도시된 제1 데이터 쇼팅바(131)에 제1 검사 신호를 인가하고, 제2 데이터 쇼팅바(132)에 제2 검사 신호를 인가한다. 이때, 인에이블 스위칭부(150)에 인에이블 신호를 인가하여 제1 검사 신호를 제1 검사 라인(D1)으로 공급시키고, 제2 검사 신호를 제2 검사 라인(D2)으로 공급시킨다.
오드 게이트 라인을 공유하는 레드 화소들의 TFT가 턴온되고, TFT가 턴온된 레드 화소에 제1 검사 라인(D1)으로부터의 제1 검사 신호 및 제2 검사 라인(D2)으로부터의 제2 검사 신호가 인가되어 전체 레드 화소들 중에서 제1 레드 그룹의 레드 화소들이 점등된다.
이어서, 도 4 및 도 10을 결부하여 설명하면, 제4 검사 라인(D4)과 제5 검사 라인(D5) 사이에 배치된 제2 레드 그룹의 레드 화소들을 점등시키기 위해서, 이븐 게이트 라인들에 스캔 신호를 인가한다. 이때, 제4 검사 라인(D4)에 제4 검사 신호를 인가하고, 제5 검사 라인(D5)에 제5 검사 신호를 인가한다.
이를 위해서, 도 4에 도시된 제4 데이터 쇼팅바(134)에 제4 검사 신호를 인가하고, 제5 데이터 쇼팅바(135)에 제5 검사 신호를 인가한다. 이때, 인에이블 스위칭부(150)에 인에이블 신호를 인가하여 제4 검사 신호를 제4 검사 라인(D4)으로 공급시키고, 제5 검사 신호를 제5 검사 라인(D5)으로 공급시킨다.
이븐 게이트 라인을 공유하는 레드 화소들의 TFT가 턴온되고, TFT가 턴온된 레드 화소에 제4 검사 라인(D4)으로부터의 제4 검사 신호 및 제5 검사 라인(D5)으로부터의 제5 검사 신호가 인가되어 전체 레드 화소들 중에서 제2 레드 그룹의 레드 화소들이 점등된다.
앞에서 설명한 바와 같이, 제1 레드 그룹과 제2 레드 그룹을 교번적으로 점등시켜 전체 레드 화소들의 오토 프로브 검사를 수행할 수 있다.
레드 화소들의 검사 방법 2
도 5 및 도 10을 결부하여 설명하면, 제1 검사 라인(D1)과 제2 검사 라인(D1) 사이에 배치된 제1 레드 그룹의 레드 화소들을 점등시키기 위해서, 오드 게이트 라인들에 스캔 신호를 인가한다. 이때, 제1 검사 라인(D1) 및 제2 검사 라인(D2)에 검사 신호를 인가한다.
이를 위해서, 도 5에 도시된 데이터 쇼팅바(160)에 검사 신호를 인가하고, 검사 신호의 입력에 맞춰 제1 인에이블 스위칭부(181) 및 제2 인에이블 스위칭부(182)에 인에이블 신호를 공급하여 검사 신호를 제1 검사 라인(D1) 및 제2 검사 라인(D1)으로 공급시킨다.
오드 게이트 라인을 공유하는 레드 화소들의 TFT가 턴온되고, TFT가 턴온된 레드 화소에 제1 검사 라인(D1)으로부터의 검사 신호 및 제2 검사 라인(D2)으로부터의 검사 신호가 인가되어 전체 레드 화소들 중에서 제1 레드 그룹의 레드 화소들이 점등된다.
이어서, 도 5 및 도 11을 결부하여 설명하면, 제4 검사 라인(D4)과 제5 검사 라인(D5) 사이에 배치된 제2 레드 그룹의 레드 화소들을 점등시키기 위해서, 이븐 게이트 라인들에 스캔 신호를 인가한다. 이때, 제4 검사 라인(D4) 및 제5 검사 라인(D5)에 검사 신호를 인가한다.
이를 위해서, 도 5에 도시된 데이터 쇼팅바(180)에 검사 신호를 인가하고, 검사 신호의 입력에 맞춰 제4 인에이블 스위칭부(184) 및 제5 인에이블 스위칭부(185)에 인에이블 신호를 공급하여 검사 신호를 제4 검사 라인(D4) 및 제5 검사 라인(D5)으로 공급시킨다.
이븐 게이트 라인을 공유하는 레드 화소들의 TFT가 턴온되고, TFT가 턴온된 레드 화소에 제4 검사 라인(D4)으로부터의 검사 신호 및 제5 검사 라인(D5)으로부터의 검사 신호가 인가되어 전체 레드 화소들 중에서 제2 레드 그룹의 레드 화소들이 점등된다.
앞에서 설명한 바와 같이, 제1 레드 그룹과 제2 레드 그룹을 교번적으로 점등시켜 전체 레드 화소들의 오토 프로브 검사를 수행할 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 화소 검사 방법은 레드, 그린 및 블루 화소들을 컬러 별로 점등 시켜, 레드 화소들의 오토 프로브 검사 시 그린 및 블루 화소들의 혼색 없이 레드 화소들의 검사를 정밀하게 수행할 수 있도록 한다.
블루 화소들의 검사 방법 1
도 12 및 도 13은 블루 화소들의 검사 방법을 나타내는 도면이다.
도 12 및 도 13을 참조하면, 전체 블루 화소들을 2개의 그룹, 즉, 제1 블루 그룹과 제2 블루 그룹으로 나누어 검사한다. 도 12 및 도 13에서는 전체 화소들 중에서 일부만을 도시하고 있어, 도면에 도시된 화소들을 기준으로 화소들의 검사 방법에 대해서 설명하기로 한다.
블루 화소들의 배치 구조를 살펴보면, 제3 데이터 라인(DL3)과 제4 데이터 라인(DL4) 사이에 블루 화소들이 배치되어 있고, 제6 데이터 라인(DL6)과 제7 데이터 라인(DL7) 사이에 블루 화소들이 배치되어 있다.
오토 프로브 검사의 설명을 위해서, 제1 내지 제6 검사 신호가 입력되는 것에 대응하도록 데이터 라인의 명칭을 검사 라인으로 변경하여 설명한다.
도 4 및 도 12를 결부하여 설명하면, 제3 검사 라인(D3)과 제4 검사 라인(D4) 사이에 배치된 제1 블루 그룹의 블루 화소들을 점등시키기 위해서, 오드 게이트 라인들에 스캔 신호를 인가한다. 이때, 제3 검사 라인(D3)에 제3 검사 신호를 인가하고, 제4 검사 라인(D4)에 제4 검사 신호를 인가한다.
이를 위해서, 도 4에 도시된 제3 데이터 쇼팅바(133)에 제3 검사 신호를 인가하고, 제4 데이터 쇼팅바(134)에 제4 검사 신호를 인가한다. 이때, 인에이블 스위칭부(150)에 인에이블 신호를 인가하여 제3 검사 신호를 제3 검사 라인(D3)으로 공급시키고, 제4 검사 신호를 제4 검사 라인(D4)으로 공급시킨다.
오드 게이트 라인을 공유하는 블루 화소들의 TFT가 턴온되고, TFT가 턴온된 블루 화소에 제3 검사 라인(D3)으로부터의 제3 검사 신호 및 제4 검사 라인(D4)으로부터의 제4 검사 신호가 인가되어 전체 블루 화소들 중에서 제1 블루 그룹의 블루 화소들이 점등된다.
이어서, 도 4 및 도 13을 결부하여 설명하면, 제6 검사 라인(D6)과 제1 검사 라인(D1) 사이에 배치된 제2 블루 그룹의 블루 화소들을 점등시키기 위해서, 이븐 게이트 라인들에 스캔 신호를 인가한다. 이때, 제6 검사 라인(D6)에 제6 검사 신호를 인가하고, 제1 검사 라인(D1)에 제1 검사 신호를 인가한다.
이를 위해서, 도 4에 도시된 제6 데이터 쇼팅바(136)에 제6 검사 신호를 인가하고, 제1 데이터 쇼팅바(131)에 제1 검사 신호를 인가한다. 이때, 인에이블 스위칭부(150)에 인에이블 신호를 인가하여 제6 검사 신호를 제6 검사 라인(D6)으로 공급시키고, 제1 검사 신호를 제1 검사 라인(D1)으로 공급시킨다.
이븐 게이트 라인을 공유하는 블루 화소들의 TFT가 턴온되고, TFT가 턴온된 블루 화소에 제6 검사 라인(D6)으로부터의 제6 검사 신호 및 제1 검사 라인(D1)으로부터의 제1 검사 신호가 인가되어 전체 블루 화소들 중에서 제2 블루 그룹의 블루 화소들이 점등된다.
앞에서 설명한 바와 같이, 제1 블루 그룹과 제2 블루 그룹을 교번적으로 점등시켜 전체 블루 화소들의 오토 프로브 검사를 수행할 수 있다.
블루 화소들의 검사 방법 2
도 5 및 도 12를 결부하여 설명하면, 제3 검사 라인(D3)과 제4 검사 라인(D4) 사이에 배치된 제1 블루 그룹의 블루 화소들을 점등시키기 위해서, 오드 게이트 라인들에 스캔 신호를 인가한다. 이때, 제3 검사 라인(D3) 및 제4 검사 라인(D4)에 검사 신호를 인가한다.
이를 위해서, 도 5에 도시된 데이터 쇼팅바(160)에 검사 신호를 인가하고, 검사 신호의 입력에 맞춰 제3 인에이블 스위칭부(183) 및 제4 인에이블 스위칭부(184)에 인에이블 신호를 공급하여 검사 신호를 제3 검사 라인(D3) 및 제4 검사 라인(D4)으로 공급시킨다.
오드 게이트 라인을 공유하는 블루 화소들의 TFT가 턴온되고, TFT가 턴온된 블루 화소에 제3 검사 라인(D3)으로부터의 검사 신호 및 제4 검사 라인(D4)으로부터의 검사 신호가 인가되어 전체 블루 화소들 중에서 제1 블루 그룹의 블루 화소들이 점등된다.
이어서, 도 5 및 도 13을 결부하여 설명하면, 제6 검사 라인(D6)과 제1 검사 라인(D1) 사이에 배치된 제2 블루 그룹의 블루 화소들을 점등시키기 위해서, 이븐 게이트 라인들에 스캔 신호를 인가한다. 이때, 제6 검사 라인(D6) 및 제1 검사 라인(D6)에 검사 신호를 인가한다.
이를 위해서, 도 5에 도시된 데이터 쇼팅바(180)에 검사 신호를 인가하고, 검사 신호의 입력에 맞춰 제6 인에이블 스위칭부(186) 및 제1 인에이블 스위칭부(181)에 인에이블 신호를 공급하여 검사 신호를 제6 검사 라인(D6) 및 제1 검사 라인(D6)으로 공급시킨다.
이븐 게이트 라인을 공유하는 블루 화소들의 TFT가 턴온되고, TFT가 턴온된 블루 화소에 제6 검사 라인(D6)으로부터의 검사 신호 및 제1 검사 라인(D1)으로부터의 검사 신호가 인가되어 전체 블루 화소들 중에서 제2 블루 그룹의 블루 화소들이 점등된다.
앞에서 설명한 바와 같이, 제1 블루 그룹과 제2 블루 그룹을 교번적으로 점등시켜 전체 블루 화소들의 오토 프로브 검사를 수행할 수 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치의 화소 검사 방법은 레드, 그린 및 블루 화소들을 컬러 별로 점등 시켜, 블루 화소들의 오토 프로브 검사 시 레드 및 그린 화소들의 혼색 없이 블루 화소들의 검사를 정밀하게 수행할 수 있도록 한다.
본 발명의 실시 예에 따른 액정 표시장치는 상하로 인접한 화소들이 게이트 라인을 공유하는 2 데이터/1 게이트 화소 구조의 오토 프로브 검사를 위한 검사 패턴을 제공할 수 있다.
또한, 본 발명은 상하로 인접한 화소들이 게이트 라인을 공유하는 2 데이터/1 게이트 화소 구조의 오토 프로브 검사를 위한 화소 검사 방법을 제공할 수 있다.
본 발명이 속하는 기술분야의 당 업자는 상술한 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
100: 액정 표시장치
110: 액정 패널
112: 게이트 라인
114: 데이터 라인
116: 화소
120: 구동회로부
130~136: 데이터 쇼팅바
140: 링크 라인
150: 인에이블 스위칭부
160: 데이터 쇼팅바
180~186: 인에이블 스위칭부

Claims (9)

  1. 표시 영역에 형성된 복수의 화소; 및
    상기 복수의 화소 중에서 상하로 인접한 2개의 화소가 하나의 게이트 라인을 공유하고, 상기 2개의 화소가 서로 다른 데이터 라인으로부터 데이터 전압을 공급받고, 비 표시 영역에 형성되어 상기 복수의 화소에 검사 신호를 공급하는 검사 패턴을 포함하며,
    상기 검사 패턴은,
    상기 복수의 화소 중에서 레드 화소들을 2개의 그룹으로 나누어 상기 검사 신호를 공급하는 복수의 레드 데이터 쇼팅바;
    상기 복수의 화소 중에서 그린 화소들을 2개의 그룹으로 나누어 상기 검사 신호를 공급하는 복수의 그린 데이터 쇼팅바;
    상기 복수의 화소 중에서 블루 화소들을 2개의 그룹으로 나누어 상기 검사 신호를 공급하는 복수의 블루 데이터 쇼팅바; 및
    적어도 하나의 스위칭부를 포함하는 액정 표시장치.
  2. 삭제
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 검사 패턴은,
    상기 복수의 레드 데이터 쇼팅바, 상기 그린 데이터 쇼팅바 및 상기 블루 데이터 쇼팅바로부터 입력되는 상기 검사 신호를 선택적으로 상기 레드 화소들, 상기 그린 화소들 또는 상기 블루 화소들에 공급하는 하나의 스위칭부를 포함하는 액정 표시장치.
  4. 삭제
  5. 제1 항에 있어서,
    상기 검사 패턴은,
    복수의 화소 중에서 레드 화소들을 2개의 그룹으로 나누어 상기 검사 신호를 상기 레드 화소들로 공급하는 복수의 레드 스위칭부와,
    복수의 화소 중에서 그린 화소들을 2개의 그룹으로 나누어 상기 검사 신호를 상기 그린 화소들로 공급하는 복수의 그린 스위칭부와,
    복수의 화소 중에서 블루 화소들을 2개의 그룹으로 나누어 상기 검사 신호를 상기 블루 화소들로 공급하는 복수의 블루 스위칭부를 더 포함하는 액정 표시장치.
  6. 상하로 인접한 2개의 화소가 하나의 게이트 라인을 공유하고, 상기 2개의 화소가 서로 다른 데이터 라인으로부터 데이터 전압을 공급받는 액정 표시장치의 화소 검사 방법으로서,
    적어도 하나의 쇼팅바와 적어도 하나의 스위칭부를 이용하여 컬러 별로 화소들에 검사 신호를 공급하되, 레드 화소들, 그린 화소들 및 블루 화소들을 각각 2개 그룹으로 나누어 상기 검사신호를 순차적으로 공급하여 상기 레드 화소들, 상기 그린 화소들 및 상기 블루 화소들을 컬러 별로 점등시키며,
    상기 레드 화소들을 점등시키는 경우,
    오드 게이트 라인에 스캔 신호를 공급 및 상기 레드 화소들 중 제1 레드 화소들에 상기 검사 신호를 공급하여 상기 제1 레드 화소들 점등시키고,
    이븐 게이트 라인에 스캔 신호를 공급 및 상기 레드 화소들 중 제2 레드 화소들에 상기 검사 신호를 공급하여 상기 제2 레드 화소들 점등시키며,
    상기 그린 화소들을 점등시키는 경우,
    이븐 게이트 라인에 스캔 신호를 공급 및 상기 그린 화소들 중 제1 그린 화소들에 상기 검사 신호를 공급하여 상기 제1 그린 화소들 점등시키고,
    오드 게이트 라인에 스캔 신호를 공급 및 상기 그린 화소들 중 제2 그린 화소들에 상기 검사 신호를 공급하여 상기 제2 그린 화소들 점등시키며,
    상기 블루 화소들을 점등시키는 경우,
    오드 게이트 라인에 스캔 신호를 공급 및 상기 블루 화소들 중 제1 블루 화소들에 상기 검사 신호를 공급하여 상기 제1 블루 화소들 점등시키고,
    이븐 게이트 라인에 스캔 신호를 공급 및 상기 블루 화소들 중 제2 블루 화소들에 상기 검사 신호를 공급하여 상기 제2 블루 화소들 점등시키는 액정 표시장치의 화소 검사 방법.
  7. 삭제
  8. 삭제
  9. 삭제
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