TWI331679B - Apparatus and method for inspecting defect of rubbing cloth and rubbing apparatus with the same - Google Patents

Description

1331*679 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域.】 本發明係關於一種檢查摩擦布缺陷的裝置及具有此裝置的配 向儀器’更特別是指一種使用一個照相機，可快速精確地檢查摩 擦布缺陷的裝置及具有此裝置的配向儀器。 【.先前技術】 延來’現代化的社會變成了資訊化社會，液晶顯示裝置為資 訊顯示設備之一 ’其佔有重大的地位。尤其，液晶顯示裝置真有 尺吋小、重量輕及低耗電量之優點。其應用領域逐漸增大並成為 陰極射線管(Cathode Ray Tube，CRT)之替代品。 液曰B顯示器设備包括二個玻璃基板及注射於此二玻璃基板間 之液晶分子。注射於此二玻蝙基板之液晶分手的排刿係依據一外 .部電訊鏡而改變，以調整一光傳送量至一適當值。 為使液晶顯示裝置達到特定光學作用，液晶分子之排列需朝 一特定的方向。. 一般來說’液晶分予係為局部地定向。故一有機聚合膜係直 接與液晶分子接觸，且人為地形成於一 IT〇電極上，以使液晶顯 示分芋朝一特定之方向》此有機聚合膜稱為配向膜。 於液晶顯示裝置的製造過程中，配向製程的完成為於配向膜 表面形成配向溝槽。此配向製程為圍繞著轉轴捲繞由嫘縈 (Rayon)、尼龍(Nylon)等材質製成的摩擦布.，並使轉軸接觸配向膜 1331679 以摩擦配向膜的表面。於是，於配向膜表面形成預定程度的單向 配南及預定範圍的預傾角度之配向溝槽。 於配向製程中，摩擦布的缺陷主要起因於：摩擦布的鬆弛部、 異物黏附於摩擦希、或摩擦布之不勻均厚度。 通常，一個檢查員藉其本身之經驗檢查摩擦布的缺陷。然而， 檢查摩擦布的缺陷將使檢查員花費很多的心力及時間。此外，每 一檢查員有其各自檢查摩擦布缺陷之主觀標準，因此不同之標準 係降低了檢查的準確度。 【發明内容】 因此，本發明的目的在於提供一種檢查摩擦布缺陷的裝置， 及具有此裝置之配向儀器.，其可藉由利用一照明單元及一照相機 單元而快速精蜂地測出摩擦布的缺陷。 為_此钱點及符合本伽之目的，本㈣親及概括地 描述於此’ -種檢查摩擦布缺陷芝裝置，包括有：一外罩，環繞 於雜布關；-飾單元，連接於外罩上部，赌外罩沿一配 向轉轴長度方向移動；—照明單元，設置於外罩内之—侧邊，以 照射摩擦布；以及一照相機單元，依據配向轉軸且相對於骑明單 .元而設置於外罩内之另一侧邊。. 此移動單7L料使外罩移動之裝置，包括有··執道，設置於 一載台上；輪子，與執道相接觸；以及-驅輪馬達，用以驅動輪 子〇 . 1331679 此照相機單元’包括有：—上照相機，用以拍攝摩擦布之上 頂端，-下照相機，用以拍攝摩擦布之下底端；以及一中照相機， 用以拍攝摩擦布之甲間部分。 依據本發明之另-觀點’係提供—配向儀器，包括有··一載 台’用以支撐-基板；一配向轉軸，可旋轉地設置於載台的上表 面處’而-摩擦布係纏繞於配向轉軸之外周緣；以及檢查摩擦布 之裝置’係設置於載台上’可紐向轉軸長度方向移動，以檢查 摩擦布之缺陷。 依據本發明之m係提供—觀以檢查摩擦布缺陷之 方法’包括有：準備一檢查摩擦布缺陷之裝置及一配向儀器；提 供摩擦布；藉由利用一設置於此檢查摩擦布缺陷之裝置的照明單 兀’照射縣布；以及藉由彻—設置於此檢絲擦布缺陷之裝 置的照相機單元，測量摩擦布厚度。 依據本發明之另—觀點’係提供—種用以檢查摩擦布缺陷之 方法，其包括有：準備一檢查摩擦布缺陷之裝置及一配向儀器； 提供摩擦布；藉由_—設置於此檢查摩擦布祕之裝置的照明 平凡’照射雜布；測量雜布之厚度，係藉由設置於一配向轉 袖上層的摩擦布，彻—設置於此檢查摩擦布缺陷之裝置上的上 相機測里轉軸上層之摩擦布—末端至另—末端之厚度；及藉 ^叹置於一配向轉轴底層的摩擦布’利用-下照相機測量轉軸底 g之摩擦布一末端至另一末端之厚度；以及依摩擦布之厚度，偵 1331679 測來自摩擦布之一鬆弛部。. 依據本發明之另-觀點，健供—觀以檢查縣布缺陷之 方法，其包括有：準備-檢查雜布缺陷之裝置及—配向儀器； 提供摩擦布；藉由彻-設置於此檢查摩擦布缺陷之裝置的照明 單元’照射雜布；以及藉由_—設置於此檢麵擦布缺陷之 裝置的中照相機，其係於每—預定的區域，偵_附_擦布之 異物’及歧階為基礎之布料異物，侧污染異物部分。 如則述之討論’符合本發明檢查摩擦布缺陷之裝置及具有此 裝置之配向儀H具有下舰點。檢查摩擦布缺陷的裝置及具有此 裝置之配向儀II可快速精確地藉由_照明單元及照相機單元侦 測摩擦布之缺陷。此外，檢查摩擦布雜之裝置及具有此裝置之 配向儀H可建立檢查摩擦布缺陷之客觀規範。 本發明可快速精確地_摩擦布之缺陷，節省❹時間和人 力。此外，亦可建立檢查摩擦布缺陷之客觀規範，具有眾多之功 乂下在^方式憎細敘述本發明之詳細特徵以及優點，其 喊足以使任何熟習相隨藝者了解本發明之技術内容並據以實 細且根據本明書所揭露之内容、中請專利翻及圖式 熟習相關技藝者可輕祕理解本發明糊之目的及優點。 =上之關於本發明内容之賴及以下之實施方式之說 以示範與解麻翻之顧，並賴供本發明之翻申請範圍更 1331679 進一步之解釋。 【實施方式】 為使對本發明的目的、構造、特徵、及其功能有進一步的瞭 解’茲配合實施例詳細說明如下。 第1圖為綱本伽-個檢麵擦布缺_裝置及一個符合 本發明之配向健的透視圖。第2圖為說明第丨圖巾檢查摩擦布 缺陷之裝置的前視圖。第3圖為說明第i圖中檢查摩擦布缺陷之 裝置的側視圖。 參閲第1圖所不，g&向儀器應包括—用以支撐基板的載台 no，-可旋轉的配向轉柄13〇 ’其安裝於此載台11G之上表面處， 一纏繞於配向轉軸130外周緣之摩擦布12〇，及檢查摩擦布12〇 缺之衣置2GG ’其安裝於載台no上，並可沿配向轉轴長度 方向移動，用以檢查摩擦布丨2〇的缺陷。 如第2圖及第3圖所示，用來檢查摩擦布缺陷之裝置2⑻包 括-個環繞於摩擦布12G朋之外罩21G ;—移動單元22〇，連接 於外罩210的上部，其係使外罩21〇沿配向轉軸13〇長度方向移 動 …'明單元230设置於外罩210内的一側邊，用以照射摩擦 布120 ;及一照相機單元24〇，依配向轉軸13〇且相對於照明單元 230而設置於外罩210内另一侧邊。 此移動單元220係為一移動此外罩210之裝置，包括有設置 於載台110上的執道221(參閱第丨圖），輪子223接觸於執道221， 及一使輪子223轉動之驅輪馬達222。 如第4圖所示’照相機單元24〇包括一上照相機241，用以拍 攝摩擦布12〇之上頂端；—下照相機Μ。，用以拍攝摩擦布 之下底端；及一中照相機243，用以拍攝摩擦布12〇之中間部位。 依據本發明，檢查摩擦布缺陷之裝置的操作方法將於底下配 合參照第4圖描述。第4圖係說明檢查摩擦布之厚度、來自摩擦 布的鬆弛部及黏附於摩擦布之異物。 首先，為檢查摩擦布缺陷之裝置2〇〇測量摩擦布12〇厚度的 作方法。當照明單元230照射縣布12〇時，上照相機241測 量由配向轉軸13G上方末端至摩擦布12G末端之厚度，下照相機 2幻測量由配向轉軸13〇下方末端至摩擦布12〇末端之厚度，因此 摩擦布no之厚度係被測量出來。由於，配向轉軸13〇之直徑係 已知:於是，摩擦布120之厚度可由上照相機241及下照相機祀 之測量值扣除配向轉軸之直徑而精確地獲得。 其次，為檢查摩擦布缺陷之裝置2〇〇偵測來自摩擦布之 鬆弛部的操作方法。當照明單元23〇照射摩擦布12()時，上照相 機241測量由配向轉軸130上方末端至摩擦布12〇末端之厚度， 下照相機242 由配向轉軸⑽下方末端至摩擦布⑽末端之 厚度’因此係量出摩擦布120之厚度且偵測出來自摩擦布12〇之 鬆他部。 最後，為檢查摩擦布缺陷之裝置200 __於摩擦布12〇之 1331679 異物之操作方法。當朗單元230簡雜布12G時，中間照相

機243會__於摩擦布⑽之異物。此方法係於每版瓜X 8mm的區域巾偵測異物，及以灰階為基礎之布料異物，彳貞測污染 異物部分。 整塊摩擦布120可同時藉由旋轉配向轉轴13〇,及移動檢查摩 擦布缺陷之裝置2〇〇而檢查。當輪子223被驅輪馬達222帶動旋 f此輪子223 ▼動此裝置200沿轨道221移動以檢測摩擦布 120。 ’ 如丽述之討論，符合本發明檢查摩擦布缺陷之裝置及具有此 裝置之配向儀H具有下列優點。檢查摩擦布缺_裝置及具有此 裝置之配向儀ϋ可快速精確地藉由_·單元及照相機單元谓 測摩擦布之缺陷。料，檢查雜布缺陷之裝置及具有此裝置之 配向儀器可建立檢查摩擦布缺陷之客觀規範。 雖然本發明以前述之實施例揭露如上，然其並_以限定本 發明。在不脫離本發明之精神和範圍内，所為之更動與潤飾，均 屬本發明之專梅魏g 關於本發明所狀之倾範圍請參考 所附之申請專利範圍。 / 【圖式簡單說明】 第1圖為說明本發明一種檢查摩擦布缺陷的裝置及—個符人 本發明之配向儀器的透視圖。 第2圖為說明第1圖中檢查摩擦布缺陷的裝置之前視圖。 11 1331679 第3圖為說明第i圖中檢查摩擦布 ^ · 峨丨曰的裝置之侧視圖。弟4圖為說明用以檢查摩擦布之厚度、來自摩擦布的鬆他部及黏附於雜布之異物檢查雜布缺_裝置之使用狀態。 【主要元件符號說明】 100 110 120 130 200 210 220 221 222 配向儀器 載台 摩擦布 配向轉軸 檢查摩擦布缺陷之裝置 外罩 移動單元 軌道 驅輪馬達 223 230 240 241 輪子 照明單元 照相機單元 上照相機 242 下照相機 243 中照相機 12

Claims (1)

1. 、申請專利範圍·· 種檢查摩擦布缺陷之裝置，包括有 —外罩，環繞於摩擦布周圍； 以使該外罩沿一配向轉 一移動單元，連接於該外罩上部 軸長度方向移動； ’尽月單元，设置於該外罩内之一側邊，以照射摩擦布： 以及 —照相機單元，依據該配向轉軸且相對於該照明單元，設 置於該外罩内之另一侧邊，其中該照相機單元，包括有一上照 相機’用以拍攝該摩擦布之上頂端；一下照相機，用以拍攝該 摩擦布之下底端；以及一中照相機，用以拍攝該摩擦布之中間 部分。 B 2. 如申凊專利範圍第1項所述之檢查摩擦布缺陷之裝置，其中該 移動單元，包括有： 軌道’設置於一載台上； 輪子，與該軌道相接觸；以及 一驅輪馬達，用以驅動該輪子。 3. —種檢查摩擦布缺陷之裝置，包括有： 一載台，用以支撐一基板； 一配向轉軸，可旋轉地設置於該載台的上表面處，而—摩 擦布係纏繞於該配向轉軸之外周緣；以及 13 133-1679 該檢查摩擦布缺陷之裝置’係設置於該載台上，可沿該配 向轉軸長度方向移動，以檢查該摩擦布之缺陷，其中該檢查摩 擦布缺陷之裝置’包括有-外罩，魏於摩擦布卵；一移動 單元，連接於該外罩上部，以使該外罩沿一配向轉轴長度方向 移動；-照明單元，設置於該外罩内之一側邊，以照射摩擦布； 以及一照相機單元，依據該配向轉軸且相對於該照明單元而設 置於該外罩内之另-側邊，以及其中該照相機單元，包括有一 上照相機，用以拍攝該摩擦布之上頂端；一下照相機，用以拍 攝該摩擦布之下底端；以及一中照相機，用以拍攝該摩擦布之 中間部分。 4.如申請專利範圍第3項所述之裝置，其中該移動單元，包括有： 軌道，.設置於一載台上； 輪子，與該執道相接觸；以及 一驅輪馬達，用以驅動該輪子。 5· —種用以檢查摩擦布缺陷之方法，包括有： 準備一檢查摩擦布缺陷之裝置及一具有檢查摩擦布缺陷之裝 置的配向儀器； 提供摩擦布； 藉由利用一設置於該檢查摩擦布缺陷之裝置的照明單元，照射 摩擦布；以及 藉由利用一設置於該檢查摩擦布缺陷之裝置的照相機單元，測 133-1679 量摩擦布厚度。 6.如申請專利範圍第5項所述之用以檢查摩擦布缺陷之方法，其 令測量摩擦布之厚度，係藉由設置於一配向轉轴上層的摩擦布，' 利用一設置於該檢查摩擦布缺陷之裝置上的上照相機，測量轉軸 上層之摩擦布一末端至另一末端之厚度；及藉由設置於—配向轉 軸底層的摩擦布，利用一下照相機測量轉軸底層之摩擦布—末端 至另一末端之厚度。 7. 如申明專利範圍弟5項所述之用以檢查摩擦布缺陷之方法，其 中，更包括藉由扣除由上照相機及下照相機測量出之摩擦布值， 偵測摩擦布之厚度。 8. —種用以檢查摩擦布缺陷之方法，其包括有： 準備-檢查摩擦布缺陷之裝置及—具有檢查摩擦布缺陷之裝 置的配向儀器； 提供摩擦布； 藉由利用-設胁該檢查摩擦布缺陷之裝置賴明單元，照射 摩擦布； 測里摩擦布之厚度，係藉由設置於一配向轉軸上層的摩擦布， 利用-設置於該檢查摩擦布缺陷之裝置上的上照相機，測量轉轴 上層之摩擦布—末端至另—末端之厚度；及藉綠置於—配向轉 軸底層的摩擦布下照減測量轉軸絲之縣布一末端 至另一末端之厚度；以及 15 1331679 依摩擦布之厚度，偵測來自摩擦布之一鬆弛部。