TWI329316B - Complex optical storage medium, optical pickup, and optical recording/reproducing device - Google Patents

Description

1329316 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於一種包含對應於不同波長之客# 夕调記錄層 之複合光記錄媒體者。 【先前技術】 關於光記錄媒體，用戶對於記錄容量之增大 <期待較 大’各公司亦正積極地進行技術開發。 於增大光記錄媒體之記錄容量之一個方法中，存有如 方法’即，提高包含於該光記錄媒體中的記錄層 〈5己錄密 度。關於記錄層之記錄密度之提高，為將資訊記錄於光飞 錄媒體中，可藉由減小寫入至記錄層之記錄點的尺寸而= 現。記錄點係藉由將光束照射至記錄層上而寫入，作為寫 入較小的記錄點，必須減小聚光於記錄層上之光束之 杈。聚光於記錄層上之光束之點徑，與將光束聚光之物鏡 的數值孔徑（NA : Numerical Aperture)成正比，且與光束之 波長成反比。因此，藉由增大光拾波器所包含之物鏡之數 值孔徑，又，縮短自光拾波器所包含之光源所射出之光束 的波長之操作’實現了具有較高記錄密度之大容量光記錄 媒體。 又，作為增大光記錄媒體之記錄容量之其他方法，有如 下方法，即，於一個光記錄媒體中包含多個記錄層。例 如’與包含一個記錄層之光記錄媒體相比，於包含兩個記 錄層之光記錄媒體中’理論上可獲得2倍的記錄容量。包 兩個記錄層之光δ己錄媒體已商品化，該光記錄媒體中考 I12152.doc 慮到5己錄再生之空餘而具有包含一個記錄層的光記錄媒體 之1.5至2倍之記錄容量。 表1表不已商品化之光記錄媒體之示例。由表1可知，藉 由提高記錄密度而實現大容量化之光記錄媒體’或者，藉 由包含多個記錄層而實現大容量化之光記錄媒體等多種大 容量光記錄媒體正商品化。 [表1] 項目 記錄容量 CD-ROM DVD-ROM DVD-R dvd-rw LI_ 0.7 GB 1層 2層 4.7 GB 8.5 GB 1層 2層 4.7 GB 8.5 GB 1層 4.7 GB 再生雷射波長 保護 780 nm 650 nm 650 nm/635 nm 1.2 mm 0.6 mm 物鏡數值?丨.诞ΜΛ 0.45 0.6 隨著光記錄媒體之大容量化，如上所述，多種光記錄媒 體正商品化，另一方面，在於光記錄媒體中記錄資訊，或 者再生光記錄媒體中所記錄之資訊之光記錄再生裝置 中’可對應於每個光記錄再生裝置之光記錄媒體之種類有 所限义’無法避免由此而引起之相容性問題。尤其是，當 新里之光記錄媒體已商品化後，會產生以下問題，即，在 已發售之光記錄再生裝置中，無法於該光記錄媒體中記錄 資訊或者’無法再生該光記錄媒體中所記錄之資訊。 為解決上述光記錄媒體與光記錄再生裝置之間的相容性 之問題’將種類不同的多個記錄層包含於一個光記錄媒體 斤明複合光§己錄媒體正在商品化。表2表示商品化之 複σ光5己錄媒體之示例。 I12152.doc [表2] 項目 超級音頻CD(混合） CD層 DVD層 記錄容量 700 MB 4.7 GB 再生雷射波長 780 nm 650 nm 保護層厚度 1.2 mm 0.6 mm 物鏡數值孔徑NA 0.45 0.6 1329316 表2所示之複合光記錄媒體係所謂單面讀取類型複合光 記錄媒體，即，包含對應於DVD之記錄層以及對應於CD 之記錄層，且藉由自單面入射至該複合光記錄媒體上的 光，可獨立讀取上述兩個記錄層。該複合光記錄媒體由於 包含對應於DVD之記錄層以及對應於CD之記錄層之兩 方，故能夠以兩個不同之音質記錄一個音樂資訊。因此， 擁有僅對應於CD之光記錄再生裝置之用戶即使購入該複 合光記錄媒體後，在該用戶將來又購入對應於DVD之光記 錄再生裝置時，亦可再生該複合光記錄媒體所記錄之音質 較好之DVD的音樂。又，若為擁有僅對應於CD之光記錄 再生裝置、及僅對應於DVD之光記錄再生裝置該兩方之用 戶，雖存在音質之差別，但可於各自之光記錄再生裝置中 再生相同的音樂資訊。 今後，隨著多種光記錄媒體商品化，期望將該等進行複 合之多種複合光記錄媒體的出現。例如，報告有，包含一 層HD-DVD層及一層DVD之複合光記錄媒體等（非專利文獻 1)。 [非特許文獻1 ] 112152.doc 1329316 有關可由蝶片之單面進行HD DVD及DVD之再生 的雙層碟片之開發，，，（〇nline)，2〇〇4年12月7日，東 之’ （2005年5月18日檢索），網際網路<URL : http://www.toshiba.co.jp/abcmt/press/2004一 12/pr」0701_htm>

然而’上述複合光記錄媒體中，每個記錄層上，直至光 束聚光於記錄層上為止所透過之保護層的厚度（以下，簡 述為保濩層之厚度）不同。因此，於複合光記錄媒體所包 含之多個記錄層上寫入記錄點，或者，讀取記錄點時，難 以將光拾波器所包含之物鏡共有化。此係由於，對多個記 錄層使用單-物鏡時，難以於全部記錄層中將球面像差之 產生量抑制為容許值以下。 以下，進而詳細說明上述球面像差之問題。 光記錄再生裝置所包含之光拾波器中包含有物鏡，該物 鏡係用以將自該光拾波器所包含之光源所射出的光束聚光 於光記錄媒體之記錄層上。

上述物鏡係在假設了某厚度之保護層的基礎上所設計， 且透過該厚度之保護層的聚光束之聚光點上的球面像差之 大小被設定為設計指標。即，上述物鏡設計為藉由該物 鏡而聚光之光束透過具有假設厚度之保護層而聚光於聚光 點上時，該聚光點上的球面像差為最小^此處所述之物鏡 設計是指，構成物鏡之材料之選定、透鏡面之面形狀之決 定、透鏡面之距離等。 、

換而言之，當由上述物鏡而聚光之光束，透過厚度盘由 該物鏡之設計所蚊且將球面像差設為最小之保護層H 112152.doc 1329316 不同的之保護層，而聚光於記錄層上時，於該記錄層上會 產生球面像差。設計物鏡之時所假設之將球面像差設為最 小之保護層的厚度、與直至藉由該物鏡而聚光之光束聚光 於記錄層上為止實際透過之保護層的厚度之差（以下，簡 述為保護層之厚度誤差）越大，該記錄層上的球面像差變 得越大。 球面像差變大時，聚光點上的光束強度不足。因此，若 己錄層上所產生之球面像差超過容許值，則於該記錄層之 再生時，會產生再生訊號之振幅降低之問題，又，於該記 錄層進行記錄時，產生難以形成記錄點之問題。 因此，光拾波器中必須包含對應於該光記錄媒體中的保 護層之厚度之物鏡，以使欲藉由該光拾波器進行記錄或者 再生之記錄層上球面像差之產生量達到容許值以下。 但，於複合有多個光記錄媒體之複合光記錄媒體中，一 個光》己錄媒體中混合存在有多個記錄層’且每個記錄層 上，使直至自光拾波器所射出之光束聚光於記錄層上為止 所透過之保護層之厚度不同。m使使用假設了任何 厚度之保護層而設計之物鏡，於具有與由物鏡収且將球 面像差設為最小之保護層之厚度不$的保護層之記錄層 =，保護層之厚度亦會產生誤差。繼而，於產生保護層之 厚度誤差之記錄層’會產生球面像差。 複合光記錄媒體所包含之記錄層數越增加，該複合光記 錄媒體所包含之保護層之厚度之不均-則變得越大。即， 於該複合光記錄媒體所包含之全部記錄層上，難以將球面 112152.doc 1329316 像差之產生量抑制在容許值以下。 又，用以於複合光記錄媒體所包含之記錄層上寫入記錄 點，或者讀取該記錄點之光束的波長越短，與保護層之厚 度誤差相應之球面像差的產生量則變得越大。即，於包含 有為寫入較小的記錄點而必須使用具有較短波長之光束之 高密度記錄層的複合光記錄媒體中，進而難以將球面像差 之產生量抑制在容許值以下。 為解決上述球面像差之問題，亦可於光拾波器中包含與 該複合光記錄媒體所包含之多個記錄層相應之多個物鏡。、 然而，光拾波器中包含多個物鏡時，會重新產生以下問 題，即’光拾波器之複雜化、及光拾波器之製造成本之增 加0 【發明内容】 本發明之目的在於’實現一種複合光記錄媒體，可藉由 包^單一物鏡之光拾波器，進行資訊之記錄或者再生，同 時提供-種光拾波器，可對上述複合光記錄㈣進行資訊 之記錄，或者將記錄於上述複合光記錄媒體中的 生。 為達成上述目的’本發明之複合光記錄媒體包含：第1 :己錄層及第2記錄層，該兩層係藉由具有第!波長之光束進 行讀取或者寫入，以及筮^ 4a 第6己錄層，該層係藉由具有短於 上述第1波長之第2波長之去击Α 长之先束進仃讀取或者寫入；上 個記錄層自上述光戾 恳^ 射側而以第1記錄層、第3記錄 層、第2記錄層之順序進行配 112152.doc 1329316 如上所述，藉由包含單一物鏡之光拾波器，對複合光記 錄媒體所包含之多個記錄層進行讀取或者寫入時，於自該 複合光§己錄媒體之光束入射表面之距離’與該物鏡設計時 所疋之將球面像差設為最小之保護層的厚度不同的記錄層 中，無法避免球面像差之產生。 光束之波長越短，與保護層之厚度誤差相對之球面像差 的產生量的影響則越大。又，為於具有不同記錄層厚度之 兩個記錄層中同時減小球面像差之差，較好的是縮短該等 記錄層間之距離。 對此，根據上述構成，球面像差之影響較大之記錄層 (對應於第2波長之第3記錄層）配置於内側，球面像差之影 響較小之記錄層（對應於第1波長之第〗及第2記錄層）配置於 外側。因此’在對於上述複合光記錄媒體所使用之光拾波 器中，將藉由物鏡之共通化而不可避免地易於在各記錄層 中產生的球面像差降低至如下位準，即，對於上述複合光 記錄媒體所包含之各記錄層寫入或者讀取記錄點時無障 礙。即’光拾波器中物鏡之共有化變得容易。 更具體而言，例如，使用使球面像差為最小之保護層的 厚度與相對於上述第3記錄層之保護層的厚度（上述複合光 記錄媒體之光束之入射面至上述第3記錄層間之距離）相同 之物鏡時，可將與保護層之厚度誤差相應之球面像差的產 生量較大、且藉由具有第2波長之光束而進行讀取或者寫 入之第3記錄層中的保護層之厚度誤差設為〇。又同時可 將第1記錄層及第2記錄層所對應之保護層的厚度誤差抑制 II2152.doc 12 ^29316 在該記錄層間之距離以下。 為達成上述目的，本發明之其他複合光記錄媒體包含： 第Ιέ己錄層及第2記錄層，該兩層藉由具有第丨波長之光束 進行讀取或者寫入’以及第3記錄層及第4記錄層，該兩層 藉由具有短於上述第丨波長之第2波長的光束進行讀取或者 寫入，上述四個記錄層自上述光束之入射側以如下順序配 置有第1記錄層、第3記錄層、第4記錄層、第2記錄層。 根據上述構成，球面像差之影響較大之記錄層（對應於 第2波長之第3及第4記錄層）配置於球面像差之影響較小之 記錄層（對應於第1波長之第丨及第2記錄層）之間。因此，在 對於上述複合光記錄媒體所使用之光拾波器中，藉由物鏡 之共通化而易於將各記錄層中不可避免地產生之球面像差 降低至如下位準’即’對於對上述複合光記錄媒體所包含 之各記錄層寫入或者讀取記錄點無障礙。即，光拾波器中 物鏡之共有化變得容易。 更具體而言，例如，對於使球面像差為最小之保護層之 厚度與’上述第3記錄層相應之保護層的厚度（自上述複合 光記錄媒體之光束入射面至第3記錄層之距離）與上述第4 記錄層相應之保護層的厚度（自上述複合光記錄媒體之光 束入射面至上述第4記錄層間之距離）的平均值相同之物 鏡’可將與保護層之厚度誤差相應之球面像差的產生量較 大、且藉由具有第2波長之光束而讀取或者寫入之上述第3 記錄層及上述第4記錄層相對之保護層的厚度誤差，抑制 為該記錄層間之距離的二分之一》又，同時可將與上述第 U2152.doc 13 上以9316 錄層、及上述第2記錄層相對之保護層之厚度誤差設定 為該記錄層間距離以下。 :此清形時，上述第3記錄層之保護層之厚度誤差 與上述第4記錄層之保護層之厚度誤差相同。即，上述第3 .彔a中球面像差之產生量與上述第4記錄層中球面像差 之產生量相同。因此，可將上述第3記錄層與上述第4記錄 層中所疋錄之記錄點減小成相同的尺寸，因此，可於上述 • 第3記錄層與上述第4記錄層中一樣地提高記錄密度。 又，藉由將上述第3記錄層之記錄密度與上述苐4記錄層 之記錄密度設定為相同，可將對上述第3記錄層進行寫入 或者讀取時上述複合光記錄媒體之旋轉速度、與對上述第 4記錄層進行寫入或者讀取時上述複合光記錄媒體之旋轉 速度設定為相同。因此，對上述第3記錄層與上述第4記錄 層連續進行讀取或者寫入時，可縮短記錄層間之移行時 間。 •為達成上述目的，本發明之光拾波器包含：光源，其射 出具有上述第1波長之光束；光源，其射出具有上述第2波 長之光束；以及物鏡，其將具有上述第丨波長之光束及具 有上述第2波長之光束進行聚光，上述物鏡中相對於上述 第1波長而使球面像差為最小之保護層之厚度大於第丨記錄 層相應之保護層的厚度（上述複合光記錄媒體中自光束入 射之面至上述第1記錄層之距離），且小於第2記錄層相應 之保護層之厚度（上述複合光記錄媒體中自光束入射之面 至上述第2 s己錄層之距離），並且，上述物鏡中相對於上述 112152.doc -14- 第2波長而使球面像差為最小之保護層的厚度，大於第以 錄層相應之保護層的厚度(上述複合光記錄媒體中自光束 射之面至上述第15己錄層之距離），且小於第2記錄層相 應之保護層的厚度（上述複合光記錄媒體中自光束入射之 面至上述第2記錄層之距離）。 根據具有上述結構之光拾波器，可將與上述複合光記錄 媒體所包含之全部記錄層相應之保護層的厚度誤差，設定 為上述第1記錄層與上述第2記錄層之間的距離以下，且可 易於將上述複合光記錄媒體所包含之全部記錄層中所產生 之球面像差的產生量，同時抑制在容許值以下。 又根據具有上述結構之光拾波器，可將與上述第1記 錄層及上述第2記錄層相應之保護層的厚度誤差之差，抑 制在該記錄層間的距離以下。因此，可將於兩記錄層中所 產生之球面像差的量設定為大致相同，且可一樣地提高兩 記錄層之記錄密度。 本發明之其他光拾波器包含：光源，其射出具有上述第 1波長之光束；光源，其射出具有上述第2波長之光束以 及物鏡，其將具有上述第1波長之光束及具有上述第2波長 之光束進行聚光；上述物鏡中相對於上述第丨波長而使球 面像差為最小之保護層的厚度大於與第丨記錄層相應之保 遵層之厚度（上述複合光記錄媒體中自光束入射之面至上 述第1記錄層之距離）’且小於與第2記錄層相應之保護層 之厚度（上述複合光記錄媒體中自光束入射面之至上述第2 。己錄層之距離），並且，上述物鏡中相對於上述第2波長而 112152.doc •15· 1329316 使球面像差為最小之保護層之厚度，大於與第3記錄層相 應之保護層之厚度（上述複合光記錄媒體中自光束入射之 面至上述第3記錄層之距離），且小於與第4記錄層相應之 保護層之厚度（上述複合光記錄媒體中自光束入射之面至 上述第4記錄層之距離）。 根據具有上述結構之光拾波器，於上述複合光記錄媒體 中，可將與保護層之厚度誤差相應之球面像差的產生量較 大、且藉由具有第2波長之光束進行寫入或者讀取之上述 第3記錄層及上述第4之記錄層相應之保護層之厚度誤差， 設定為該記錄層間之距離以下，同時可將與上述第丨記錄 層、及上述第2記錄層相應之保護層的厚度誤差設定為該 記錄層間之距離以下。 藉此產生如下效果，即，易於將上述複合光記錄媒體 所包含之全部記錄層中所產生之球面像差的產生量，同時 抑制在容許值以下。 又，根據具有上述結構之光拾波器，可將對應於同一波 長之兩個記錄層的保護層之厚度誤差之差抑制在該記錄層 間之距離以下。因此，可將對應於同一波長之記錄層中產 生之球面像差的量設定為大致相同，且可一樣地提高兩記 錄層之記錄密度。 為達成上述目的’本發明之光記錄再生裝置包含上述所 揭示之任一個光拾波器。 藉此，產生如下效果，即，易於將上述複合光記錄媒體 所包含之全部記錄層中所產生之球面像差的產生量，同時 112l52.doc 1329316 抑制在容許值以下。又，上述光記錄再生裝置可設為如下 結構，即，當安裝有光記錄媒體時，使用第丨波長之光 束，產生跨越整個該光記錄媒體之厚度方向的聚焦誤差訊 號，並對上述聚焦誤差訊號中訊號之峰值位準達到某臨限 值以上之次數、及達到臨限值以下之次數進行計數，並根 據雙方之數是否均為1以上，而判定所安裝之光記錄媒體 是否為複合光記錄媒體。 根據上述結構，與所安裝之光記錄媒體相應之上述聚焦 誤差訊號於記錄層之存在位置上產生訊號之峰值，但可藉 由觀察其峰值位準不同之情況而判定是否為複合光記錄媒 體。又，當產生上述聚焦誤差訊號時，通過使用第丨波長 (與第2波長相比，波長更長）之光束，可良好地檢測上述聚 焦誤差訊號。 【實施方式】 [實施形態1] 如下所示，根據圖1至圖6說明本發明之一實施形態。 此處’本發明之複合光記錄媒體係包含種類不同之多個 °己錄層者’但該等記錄層中保護層之厚度的規格上大致相 等0 可4 。°』知，如此之複合光記錄媒體中，與各多個記錄層中 保°蒦層之厚度有較大不同之複合光記錄媒體（例如，包含 CDi6己錄層及DVD之記錄層的複合光記錄媒體）相比，相 對於各記錄層，因保護層之厚度誤差而引起之球面像差變 本發明中’藉由進一步研究記錄層之配置’而進而相 對於各4a 。匕録層而抑制因保護層之厚度誤差引起之球面像 H2152.doc 1329316 差’並可將光拾波器中之物鏡共有化。 又，本發明之複合光記錄媒體中，於種類不同之各記錄 層中，使用於讀取或者寫入之光束的波長不同。又，本發 明之複合光記錄媒體係設為包含3層以上之記錄層，且其 内包含2層以上對應於波長較長之光束的記錄層者。 作為本發明之複合光記錄媒體，可列舉例如，包含DVD 之記錄層及HD-DVD之記錄層之複合光記錄媒體，者缺， 本發明並非僅限定於此。

首先，參照圖1說明本實施形態1中之複合光記錄媒體J 之結構。於複合光記錄媒體丨中，自光的入射側，依次設 有保護層10、記錄層u(第1記錄層）、隔離層12、記錄層 13(第3記錄層）、隔離層14、記錄層15(第2記錄層）以及基 板16。記錄層U及記錄層15對應於第丨波長u，記錄層u 對應於第2波長λ2。此處，第！波長λ1之波長長於第2波長 λ2 ° 即， λ2<λ1 〇

又，右將自複合光記錄媒體丨之光的入射側表面至記錄 層”間之厚度設為t-Ll-λΙ，同樣將至記錄層15之厚度設為 t-LO-λΙ ’並將至記錄層13之厚度設為，則成立有如 下關係，即， 1-LU- λ1>ί L0-X2>t-Ll-Xl。再者，於以下說明中為了 簡化說明，將自複合光記錄媒體丄之光之入射側表面至各 。己錄層間的厚度作為彳目對於該記錄層之保護層的厚度。 其次’使用圖2及圖3,對於針對上述複合光記錄媒⑴ 112152.doc 1329316 所使用之光拾波器中所包含之物鏡進行說明。 對上述結構之複合光記錄媒體丨中的上述3個記錄層寫入 或者讀取記錄點時所使用之光拾波器所包含之物鏡係使用 如下物鏡，即，將相對於第丨波長λ1之球面像差設為最小 之保護層之厚度ti成為： t-LO-Xl>tl>t-Ll-ll。 圖2係表不使具有波長u之光束L1入射至物鏡上之情形 時，使光束L1透過具有厚度u之保護層而聚光時，聚光點 上的球面像差變為最小之概略說明圖。 又’上述物鏡109相對於第2波長λ2而使球面像差為最小 之保護層的厚度為越接近t_L〇_X2之值越好。其具體範圍 為， t-L0^1>t2>t-L141。 圖3係表示使具有波長λ2之光束L2入射至物鏡1〇9上之情 形時’使光束L2透過具有厚度t2之保護層而聚光時，聚光 點上的球面像差變為最小之概略說明圖。 作為光源而包含於光拾波器中之半導體雷射器的振動波 長由於元件溫度之變化而瞬間發生變化（模式跳躍現象）。 因此’以頻散較大（即’相對於波長之折射率之變動較大） 之材料形成物鏡時’隨著入射至物鏡之光束之波長的變 動’聚光點之位置在該光束之光軸方向變動。隨著光記錄 媒體所包含之記錄層之高密度化，光束越短波化，又，物 鏡數值孔徑化越高’則上述聚光點上位置偏離之影響變得 越大。 H2l52.doc -19- 1329316 因此’為避免由於模式跳躍現象而引起之聚光點之位置 偏離’較好的是’於光拾波器所包含之物鏡1〇9中，使用 以頻散較小之材料所形成之低頻散型物鏡。 於考慮到上述模式跳躍現象之低頻散型物鏡中，相對於 具有不同波長之光束、使球面像差為最小之保護層之厚度 之差變小。即，藉由使用上述低頻散型物鏡，結果，使得 將相對於帛i波長“之球面像差設為最小之保護層之厚度 與將相對於第2波長之球面像差設為最小之保護層之厚$ 大致相同，且在相對於不同波長而將物鏡共通化方面有 效。 即，更好的是，作為物鏡109，使用u=t2之物鏡。 於具有上述結構之複合光記錄媒體丨中，將與保護層之 厚度誤差相應之球面像差的產生量較大的記錄層13(與波 長較短之光束相應之記錄層），配置於與保護層之厚度誤 差相應之球面像差的產生量較小的記錄層⑽記錄層

(一波長較長之光束相應之記錄層）之間，以此方式，可 抑制上述各記錄層中產生之球面像差之量。即，若使用上 =鏡作為共通之物鏡，則可將不可避免地產生於各記錄 :之球面像差減低至如下位準，即，可對於全部記錄層 之貧訊進行記錄或者再生。 如下與複合光記錄媒 如下之保護層厚度之 相反，當將記錄層之配置設為成為 體1不同之結構時，即，例如，成為 配置， β L〇-Xl>t-Ll-Xl>t-LO-X2 » 1l2152.doc 或成為如下之保護層厚度之配置， t-L0-X2>t-L0-?,i>t.L1^1 , 其是tl=t2之物鏡。 ^將與第1波長λΐ相應之 以上之記錄層，且亦可 則難以採用上述低頻散型物鏡，尤 又’複合光記錄媒體丨之結構中 5己錄層設為兩層，藉此可配置三層 同時實現記錄媒體之大容量化。 若使用如下物鏡，即，將相對於上述第i波長u之球面 ϋ設為最小之保護層厚度tl成為 t-LO-Xl>tl>t-Ll^l > 則可將與對應於第i波長之記錄層（記錄層U及記錄層⑺相 應之:護層的厚度誤差之差設為小於該記錄層間距離。進 右使用如下物鏡，即，使球面像差為最小之保護層厚 與相對於6己錄層1丨之保護層厚度與相對於記錄層丄5 ，保護層之厚度的平均值，即㈣_u+t_Li_u)/2大致相 等貝！與3己錄層11與記錄層15相應之保護層的厚度誤差相 同藉由該等結構，可使記錄層u與記錄層Μ上產生之球 面像差之量大致相同。 此時’可-樣地減小記錄層u與記錄層15上所記錄之記 ’条點之大小’並可使兩記錄層之記錄密度—致。結果，可 將形成訊坑或訊面·凹槽等凹凸形狀作為該等兩個記錄層 之步驟共通化。 又由於δ己錄層II與記錄層15之記錄冑度相同，故可使 :兩。己錄層所。&錄之資訊進行再生時的複合光記錄媒體之 走轉速度致。因此’將對應於同波長之記錄層連續再生 U2l52.doc 寺可不改變複合光記錄媒體2之旋轉速度，而移行再生 之°己錄層。即，將對應於同一波長之記錄層連續再生時， 可縮短記錄層間之移行時間。 八人，使用圖4 ,說明本實施形態丨之將資訊記錄於複合 光5己錄媒體中，或者，將記錄於該複合光記錄媒體中的資 訊再生之光記錄再生裝置所包含之米拾波器的概略。 上述光拾波器包含全像式雷射裝置1〇〇、準直透鏡1〇1、 整形棱鏡102、光束劃分器1〇3、全像式雷射裝置1〇4、準 直透鏡105、整形稜鏡106、波長開口選擇濾光片1〇7、物 鏡固持器108及物鏡1〇9。 全像式雷射裝置100包含半導體雷射部110(射出具有第1 波長之光束之光源）、光檢測器（未圖示）及全像式元件（未 圖式）。全像式雷射裝置100所包含之半導體雷射部射出第 1波長λΐ之光束。又，光檢測器檢測由複合光記錄媒體1之 記錄層所反射之反射光’並獲得聚焦伺服（focus servo)、循 軌伺服（tracking servo)及RF訊號。又，全像式元件使自半 導體雷射部110所射出之光束透過，並將由複合光記錄媒 體1所反射之反射光引導向光檢測器。 準直透鏡101及整形稜鏡102係對應於第1波長λΐ而設置 之光學系統。即，自全像式雷射裝置100所射出之光束藉 由準直透鏡101而被設為平行光’並藉由整形稜鏡102而調 整強度分佈後，透過光束劃分器103，射向物鏡109。 全像式雷射裝置104包含半導體雷射部ill (射出具有第2 波長之光束之光源）、光檢測器（未圖式）及全像式元件（未 112152.doc • 22- 1329316 圖式）。全像式雷射裝置104所包含之半導體雷射部1丨丨射 出第2波長λ2之光束》又’光檢測器檢測由複合光記錄媒 體1之記錄層所反射之反射光，並獲得聚焦伺服、循軌词 服及RF訊號。又，全像式元件使自半導體雷射部u丨所射 出之光束透過，並將由複合光記錄媒體1所反射之反射光 引導向光檢測器。 準直透鏡105及整形棱鏡106係對應於第2波長λ2而設置 之光學系統》即，自全像式雷射裝置104所射出之光藉由 準直透鏡105而被設為平行光’並藉由整形稜鏡1〇6調整強 度分佈後’在光束劃分器103中被反射，並射向物鏡 於物鏡109之光源側具有波長開口選擇濾波器丨〇7。即， 形成有具有同心圓狀圖案且具備波長選擇性之遽波器，以 使各波長之光成為對應於特定物鏡之數值孔徑之光束徑而 入射至物鏡109。 例如’使用將對應於波長λΐ之數值孔徑設為NA1，將對 應於波長λ2之數值孔徑設為ΝΑ2，且成為 ΝΑ2>ΝΑ1 之波長開口選擇濾波器107之情形時，當入射光束之波長 為波長λ2時，與波長為波長λΐ時相比，可使光束徑更大之 光入射至物鏡109。 又，物鏡固持器108係包含於致動器中者，該致動器根 據由全像式雷射裝置100及1〇4之光檢測器所檢測之聚焦伺 服訊號及循軌伺服訊號，於聚焦方向及循執方向上驅動物 鏡 109 〇 112152.doc •23· 全像式雷射裝置100及全像式雷射裝置104藉由光源之切 換機構（未圖式）’而變得可控制點燈，於使光束聚光於複 合光記錄媒體1所包含之與第1波長λΐ相應之記錄層上時， 王像式雷射裝置100點亮，而於使光束聚光於對應於第2波 長λ2之記錄層上時，全像式雷射裝置ι〇4點亮。 其次，使用圖9，說明本實施形態丨之將資訊記錄於複合 光記錄媒體，或者，將該複合光記錄媒體中所記錄之資訊 再生之光記錄再生裝置的概略。 光記錄再生裝置55具備光拾波器52 '傳送馬達51、心軸 馬達53及記錄媒體檢測光感測器54，且複合光記錄媒體丄 裝卸自如地安裝於心軸馬達53上。又，作為控制光拾波器 52、傳送馬達51、心轴馬達53之動作的驅動部，包含心軸 馬達驅動器56、傳送馬達驅動器57、雷射驅動器58及聚焦 /徑向伺服驅動器59。 心軸馬達驅動器56係控制心軸馬達53之旋轉的驅動器。 傳送馬達驅動器5 7係控制傳送馬達5 1之驅動器，其控制光 拾波器52向光記錄媒體之半徑方向之移動。雷射驅動器兄 係用以控制光拾波器52中所包含之半導體雷射器之發光之 驅動器。聚焦/徑向伺服驅動器59係進行如下控制之驅動 。P用以使光拾波器52於光記錄媒體之記錄層上進行 聚焦，或者’於光記錄媒體之記錄層之軌道上進行循軌。 進而’光記錄再生裝置55包含記錄再生訊號處理電路6〇 及控制器61。記錄再生訊號處理電路6〇係具有如下作用之 電路，即，於再生時，肖自光記錄媒體所再生之類比訊號 M2152.doc -24- 1329316 轉換為數位訊號並解調，於記錄時，將記錄至光記錄媒體 中之用戶資料（user data)進行調製，並輸出至雷射驅動器 58。又，控制器61係總合上述驅動器或電路之cpu，並具 有如下功能，即，根據來自主機之輸入輸出訊號，將指示 傳送至各驅動器或電路。 其次，參照圖10，說明光記錄媒體安裝於光記錄再生裝 置上時複合光記錄媒體之判別動作。 光記錄媒體是否已安裝於光記錄再生裝置上，係藉由圖 9所示記錄媒體檢測光感測器54而檢測。具體而言，在光 記錄再生裝置所包含之未圖示之托盤自裝置伸出後托盤再 次被收入之階段中，開始實施圖i 〇之動作。即，記錄媒體 檢測光感測器54發出光，並檢測有無來自記錄媒體之反射 光（S1)，藉此，判定光記錄媒體是否已收入於光記錄再生 裝置内（S2)。此處，於未判定光記錄媒體已收納時終止動 作。 另一方面，判定光記錄媒體已收納於光記錄再生裝置内 時，藉由心軸馬達53使光記錄媒體旋轉，並藉由傳送馬達 51使光拾波器52移動至光記錄媒體執道之讀取位置為止。 繼而，使光拾波器52所包含之第"皮長之半導體雷射器發 光，並進行光記錄媒體之記錄層計數（S3) ^此處，所謂記 錄層计數是指，藉由搭載有物鏡之致動器，使搭載於光拾 波器52上之物鏡在聚焦方向（圖9的上下方向）擺動並檢測 聚焦誤差訊號中所出現之訊號之峰值個數中、峰值位準為 臨限值以上之個數、及臨限值以下之峰值個數。 D2152.doc •25· ^29316 圖11係表示進行圖I所示之複合光記錄媒體之記錄層計 數時的聚焦誤差訊號之概略說明圖。此處，由於第3記錄 層中第1波長之光之反射率較低，故聚焦誤差訊號之峰值 變得小於臨限值。因此，峰值位準為臨限值以上之個數為 2，且峰值位準為臨限值以下之個數為1。其次，判定作為 峰值個數是否存在臨限值以上者與臨限值以下者（S4),若 存在則判定為所收入之光記錄媒體為複合光記錄媒體 (S5),並終止動作。又，若僅存在臨限值以上者與以下者 中之任一個’則判定為其係通常之光記錄媒體（S6)，並終 止動作。 於上述光記錄再生裝置中，包含有第丨波長之半導體雷 射器及第2波長之半導體雷射器，但進行上述記錄層計數 時，較好的是使用第1波長之半導體雷射器。其理由如以 下。 當藉由光拾波器之物鏡使第1波長之光束聚光於複合光 記錄媒體所包含之第1記錄層與第2記錄層上時，任一記錄 層中球面像差之產生量較小，其在進行訊號之記錄或者再 生時不會產生問題。因此，由於在配置於上述兩個記錄層 之間的第3記錄層上產生之球面像差亦變得較小，故可良 好地檢測聚焦誤差訊號。 另一方面，使第2波長之光束聚光於第丨記錄層或第2記 錄層上時，球面像差之產生量較大，存有如下可能性， 即，無法獲得具有陡峭之峰值之訊號作為聚焦誤差訊號。 因此，對於複合光記錄媒體之判別，考慮使用第丨波長之 I12152.doc •26· 1329316 光束之情形、與使用第2波長之光束之情形，當使用第1波 長之光束時可更穩定而進行複合光記錄媒體之判別。 再者’聚焦誤差訊號之臨限值，可藉由實際之複合光記 錄媒體而進行實測，或者’由複合光記錄媒體之規格下的 各記錄層之反射率與透過率之值而決定。 [具體例1] 繼而’舉例說明本實施形態丨之複合光記錄媒體之具體 結構。 複合光記錄媒體1包含：對應於第！波長λ1(65〇 nm)之記 錄層11 (第1記錄層）及記錄層15 (第2記錄層）；以及對應於 第2波長λ2(405 nm)之記錄層13(第3記錄層），且各部件自 光之入射側以如下順序配置，即，保護層1〇、記錄層丨i、 隔離層12、記錄層π、隔離層14、記錄層15、基板16。 如上所述，第1波長λ1與第2波長λ2之間，存有如下關 係’即 λ2<λ1 ， 又’若將自光入射側表面至記錄層丨丨間之距離設為t_L J _ λΐ ’又，將自該表面至記錄層15間之距離設為llo^i，進 而’將自該表面至記錄層13間之距離設為t_L〇_X2，則有如 下關係成立，即 t-L041>t-L0-X2>t-LUl » 於上述複合光記錄媒體1中，保護層1〇及基板16由聚碳 酸酷構成’且厚度為575 μηι。隔離層12由紫外線硬化樹脂 所構成’且厚度為25 μπι。隔離層丨4由紫外線硬化型薄板 I12152.doc -27- 所構成’且厚度為25 μιη。 複合光記錄媒體1為再生專用媒體，且訊坑部（記錄點）形 成於保護層10之記錄層u側表面及基板16之記錄層15側表 面上5己錄層11係藉由將包含例如A1之反射膜成膜於形成 有Λ杌部之保護層丨〇之表面上而構成。又，記錄層丨5係藉 由將包含例如A1之反射膜成膜於形成有訊坑部之基板16之 表面上而構成。 5己錄層1 3之表面上貼附有構成隔離層14之紫外線硬化型 溥板，且該紫外線硬化型薄板之入射侧表面上形成有訊坑 4 ° C錄層13係由成膜於形成有訊坑部之該紫外線硬化型 薄板之表面上的反射膜（例如A1)而構成。 進而’以如下方式製造複合光記錄媒體1，即，使用成 為隔離層12之紫外線硬化樹脂作為黏接劑，將包含保護層 1〇及記錄層11之部件，與包含基板16、記錄層15、隔離層 1 4及記錄層1 3之部件進行黏接。 於上述複合光記錄媒體1中，上述保護層丨0與上述基板 16均由厚度575 μιη之聚碳酸酯而構成。因此，於上述複合 光s己錄媒體之製造步驟中，可將以下兩個步驟共通化， 即’將訊坑部形成於保護層1〇及基板16上之步驟，以及將 反射膜成膜於形成有訊坑部之保護層1〇及基板16上之步 驟，藉此，可降低製造成本。 又’於上述複合光記錄媒體1中，形成有對應於記錄層 13之訊坑部之上述隔離層14係由紫外線硬化型薄板而構 成’但上述隔離層14亦可由光硬化樹脂而構成。於此情形 I12152.doc -28· 時，可藉由2P法（Photo Polimerization法，光聚合法）而將 訊坑部形成於該光硬化樹脂上。 於實施形態1之複合光記錄媒體1中，構成記錄層i丨、記 錄層13及記錄層15之反射膜的厚度為20 nm，且與保護層 !〇、隔離層12及隔離層14相比較，其非常薄。因此，實際 上，相對於記錄層11之保護層之厚度（t-Ll-λΙ)成為575

Km，相對於記錄層13之保護層之厚度（t_L〇A2)成為6〇〇 ，相對於記錄層15之保護層之厚度（t_L〇_Xl)成為625 μπι。 於上述複合光記錄媒體1中，如上所述，隔離層12及14 之厚度設定為25 μιη，但該厚度係考慮到聚光點上的球面 像差之抑制、或對應於記錄層之聚光點之聚焦控制及再生 訊或之問題而設定。 首先’為縮小聚光點上之球面像差，而期望隔離層之厚 度較薄。例如’於包含多個記錄層之複合光記錄媒體中， 若增大記錄層間之隔離層的厚度，則相應於該記錄層之保 護層之厚度誤差（更準確而言，係相對於該記錄層之保護 層之厚度誤差的和）變大，且變得無法忽視該記錄層上球 面像差之產生量。由於球面像差變大時再生訊號之振幅下 降’且聚光點之光強度下降，故會產生如下問題，即，無 法使記錄點形成於光記錄媒體上。因此，就球面像差之觀 點而5，期望將兩個記錄層間之距離，即，隔離層之厚度 設定為極其薄。 另方面’當將隔離層設定為過薄之情形時，在對於記 112152.doc 錄層進行聚焦控制’或訊號再生時會產生問題。此處所謂 之聚焦控制中的問題係'指如下問題，π，由於由與目標記 錄層鄰接之記錄層所反射之反射光，混人本來應讀取而作 為聚焦誤差訊號之由目標記錄層所反射之反射光中，故難 以進行聚焦H X ’訊號再生中的問題是指所謂層間串 擾之問題’即’由與目標記錄層鄰接之記錄層所反射之反 射光，混入本來應讀取作為再生訊號之由目標記錄層所反 射之反射光中。就該等觀點而言，較好的是，記錄層間之 距離，即，隔離層之厚度較大。 由於複合光記錄媒體中存有以上問題點，故鄰接之兩個 记錄層間之距離，即，本申請案中所述之隔離層之厚度設 定為10 μηι〜40 μιη之情形較多。 於上述複合光記錄媒體1中，使用假設保護層之厚度為 600 μηι之物鏡1〇9時（即，球面像差成為最小之保護層的厚 度tl及t2均為600 μιη之情形），與對應於第】波長λ1之記錄 層11及1 5相應之保護層的厚度誤差抑制為土2 5 ，又，與 對應於第2波長λ2之記錄層13相應之保護層的厚度誤差抑 制為0 μιη。此可將上述所有記錄層中之球面像差的產生量 抑制在足夠低之位準。 尤其是，光之波長越短’則與保護層之厚度誤差相應之 球面像差之產生量越大，但藉由將與對應於較短波長九2之 s己錄層，即記錄層1 3相應之保護層的厚度誤差抑制 在0 μιη，可成功地降低球面像差之產生量。 又，同時’藉由確保記錄層間距離達到25 μπι以上，則 I12152.doc •30· 不會導致嚴重的聚焦控制之問題及層間串擾之問題，可抑 制各記錄層中球面像差之產生量。 再者’上述中，就本申請案之最適當的具體例，即，球 面像差成為最小之保護層之厚度tl及t2均為600 μιη之情形 加以說明’但為獲得本申請案之效果，亦可為如實施形態 1中所說明之下述範圍，即， 625 μηι>η>575 μηι 625 μιη>ί2>575 μιη。 再者’於上述說明之複合光記錄媒體中使用八丨作為構成 δ己錄層之反射膜’但本發明並非僅限於此者，使用或 Ag作為構成記錄層之反射膜亦可獲得同樣之效果。 再者’本具體例中係對再生專用之複合光記錄媒體之結 構進行了敍述’但本發明並非僅限於此者，追記型或可重 複寫入型複合光記錄媒體亦包含於本發明之技術範圍内。 可使用有機色素或無機材料等，作為構成追記型或可重複 寫入型複合光記錄媒體所包含之記錄層之反射膜的材料。 又’亦可使用作為所謂相變化材料而被眾人知悉的材料作 為記錄層。 又’亦可使用具有波長選擇性之反射膜作為構成記錄層 之反射膜。具體而言’對應於第1波長λ1之記錄層丨丨與記 錄層15可以由如下之反射膜而構成，即，相對於第1波長 λΐ之反射率大於相對於第2波長λ2之反射率。該結構在以 第2波長λ2對記錄層13進行記錄/再生時，可有效防止來自 對應於第1波長λΐ之記錄層丨丨及記錄層15之反射光。 1I2152.doc -31· 1329316 又，對應於第2波長λ2之記錄層13可以由如下之反射膜 所構成，即’相對於第2波長λ2之反射率大於相對於第1波 長λΐ之反射率。該結構在以第1波長對記錄層η或η進 行記錄/再生時，可有效防止來自對應於第2波長λ2之記錄 層Π之反射光。 即’將構成記錄層11之反射膜相對於第1波長U之反射 率設為IU-Ll-λΙ ’且將其相對於第2波長U之反射率設為 R2-L1-X1，將構成記錄層15之反射膜相對於第1波長“之 反射率設為Rl-LO-λΙ ’且將其相對於第2波長人2之反射率 δ史為R2-L0-X1 ’將構成記錄層13之反射膜相對於第1波長 λΐ之反射率設為Rl-L0-X2，且將其相對於第2波長λ2之反 射率設為R2-L042時’有如下關係成立，即， R1-L1^1>R2-L1^1 R1-L0^1>R2-L0-X1 R1-L0-X2<R2-L042。 藉由以如上所述具有波長選擇性之反射膜構成上述複合 光記錄媒體1所包含之記錄層丨丨及記錄層13，當具有第i波 長λΐ之光束入射至複合光記錄媒體！上時，可減小該光束 由對應於第2波長λ2之s己錄層13而反射後於光拾波器中受 光之光束的強度。又，當具有第2波長人2之光束入射至複 合光記錄媒體1上時，可減小該光束由對應於第丨波長λ1之 記錄層11及15而反射後於光拾波器中受光之光束的強度。 又，於對應於相同波長之記錄層中所產生之上述問題， 可利用如下方式而降低，即，將對應於其他波長之記錄層 II2I52.doc -32· 1329316 夾於兩個記錄層之間，結果，可拉開兩個記錄層之距離。 藉此，可進而減輕鄰接記錄層間所產生之聚焦控制問題 及層間串擾問題。作為具有波長選擇性之反射膜，可使用 Si〇2、SiN、Ti〇2等具有因由誘電體膜所構成之誘電體多 層膜而引起之幹涉效果之反射膜，或SiHx、Si等具有波長 選擇性之反射膜。 再者，如上所述，實施形態丨之光拾波器包含低頻散型 物鏡，相對於第1波長λ1而使球面像差為最小之保護層之 厚度與相對於第2波長而使球面像差為最小之保護層厚度 相同（600 nm)，但本發明未必僅限於此。即，相對於第^皮 長λΐ而使球面像差為最小之保護層厚度、與相對於第2波 長而使球面像差為最小之保護層厚度亦可在請求項所示之 範圍内不同。 [具體例2] 上述具體例1之複合光記錄媒體丨合計包含以下三個記錄 層，即，對應於第1波長λ1之兩個記錄層u(第工記錄層）與 記錄層15(第2記錄層）、以及對應於第2波長λ2之一個記錄 層13(第3記錄層）’但本發明並非僅限於此者，於上述複合 光《•己錄媒體中進而追加有記錄層之複合光記錄媒體亦包含 於本發明之技術範圍内。 於本具體例2中’就如下結構舉例說明，$，除上述具 體例1之複合光記錄媒體所包含之三個記錄層以外，進而 包含對應於第1波長λ1之另—個記錄層。 於圖5所不之複合光記錄媒體209中，保護層200、基板 112152.doc •33· 1329316 208均含有聚碳酸酯，且厚度均為57() μηι。隔離層2〇4係由 紫外線硬化樹脂所構成，且厚度為2〇 μηι。隔離層2〇2及 隔離層206均由紫外線硬化型薄板所構成，且厚度分 別為20 μηι。 記錄層201(第1記錄層）、記錄層2〇5(第2記錄層）及記錄 層207(追加之記錄層）係對應於第i波長u(65〇 nm)之記錄 層，記錄層203(第3記錄層）係對應於第2波長λ2(4〇5 nm)之 記錄層。 複合光記錄媒體209為再生專用媒體，且保護層2〇〇之記 錄層201側之面及基板208之記錄層207側之面上形成有各 訊坑部。 又，保護層200之形成有訊坑部之表面上，成膜有包含 例如A1之反射膜，且該反射膜構成記錄層2〇丨。同樣，基 板208之形成有訊坑部之表面上’成膜有包含例如…之反 射膜，且該反射膜構成記錄層207。 於基板208上形成記錄層207後’貼附構成隔離層2〇6之 紫外線硬化型薄板’且於與該紫外線硬化型薄板之對向於 基板208之面相反側的面上形成訊坑部。記錄層2〇5由成膜 於該紫外線硬化型薄板之形成有訊坑部之表面上的反射膜 (例如A1)所構成。 同樣’於保s蔓層200上形成記錄層201後，貼附構成隔離 層202之紫外線硬化型薄板’且於與該紫外線硬化型薄板 之對向於保護層200之面相反側的面上形成有訊坑部。記 錄層203由成膜於該紫外線硬化型薄板之形成有訊坑部之 U2152.doc • 34· 1329316 表面上的反射膜（例如A1)所構成。 進而，使用成為隔離層2〇4之紫外線硬化樹脂作為黏接 劑，將包含保護層2〇〇、記錄層2〇1、隔離層2〇2及記錄層 203之部件，與包含基板208、記錄層207、隔離層206及記 錄層205之部件黏接，以此方式製成複合光記錄媒 體 209。 於上述複合光記錄媒體209中，構成記錄層201、記錄層 203、記錄層205及記錄層2〇7之反射膜的厚度為2〇 nm，且 與保護層200、隔離層2〇2、隔離層2〇4及隔離層2〇6相比 較，其非常薄。因此，實際上，相對於記錄層2〇1之保護 層之厚度成為570 μηι，相對於記錄層2〇3之保護層之厚度 成為590 μηι，相對於記錄層2〇5之保護層之厚度成為61〇 μηι，相對於記錄層2〇7之保護層之厚度成為63〇 若對於上述複合光記錄媒體209使用以如下方式設計之 物鏡109，即，無論是對於第丨波長λ1，或是對於第2波長 λ2，透過具有600 μΓη厚度之保護層時，球面像差均為最 小，則可將相對於記錄層201之厚度誤差抑制為_3〇 可將相對於記錄層203之保護層之厚度誤差抑制為-1〇 Km，可將相對於記錄層205之保護層之厚度誤差抑制為 + 1〇 μηι，可將相對於記錄層207之保護層之厚度誤差抑制 為+30 μηι，且可將上述全部記錄層中的球面像差之產生量 抑制為足夠低。 尤其是’將與保護層之厚度誤差相應之球面像差的產生 里較大、且對應於較短波長即第2波長人2之記錄層2〇3所相 對之保護層的厚度誤差抑制為_ i 〇 μιη，藉此可進而降低球 M2152.doc -35· 1329316 面像差之產生量。 又，於上述複合光記錄媒體209中，可將鄰接之記錄層 間之距離確保為20 μιη。藉此，不會導致產生嚴重的聚焦 控制問題及層間串擾問題’可抑制各記錄層中球面像差之 產生量。 再者’於上述所說明之複合光記錄媒體中，使用Ai作為 構成記錄層之反射膜，但本發明並非僅限於此者，使用Au 或Ag作為構成記錄層之反射膜亦可獲得同樣之效果。 再者，本具體例中係對再生專用之複合光記錄媒體之結 構進行了敍述，但本發明並非僅限於此者，追記型或可重 複寫入型複合光記錄媒體亦包含於本發明之技術範圍内。 可使用有機色素或無機材料等，作為構成追記型或可重複 寫入型複合光記錄媒體中所包含之記錄 料。又，亦可使用作為所謂相變化材料而被眾人知悉3 料作為記錄層。 又，與具體例i同樣之處亦在於，#由使用具有波長選 擇性的反射膜作為記錄層，可進而降低聚光點之聚焦控制 問題或層間串擾問題。 [具體例3] 於本具體例3中，就如下結構舉例說明，即，除且 體例丨之複合光記錄媒體所包含之三個記錄層以外，進： 包含對應於第2波長λ2之另一個記錄層。 届於圖6所示之複合光記錄媒請中，保護層3〇。、隔離 層3 02、基板3 08均由聚碳酸g旨構 日構成，且厚度分別為10〇 J12J52.doc •36- 1329316 μηι、480 μιη、580 μιη。隔離層3〇4以紫外線硬化樹脂構 成，且厚度為20 μιη。隔離層306以紫外線硬化型薄板構 成’且厚度為20 μπι。 記錄層303(第1記錄層）及記錄層3〇7(第2記錄層）為對應 於第1波長λ1(650 nm)之記錄層，記錄層301(追加之記錄 層）及記錄層305(第3記錄層）為對應於第2波長λ2(4〇5 η叫 之記錄層。 複合光記錄媒體309為再生專用媒體，且隔離層3〇2之兩 面及基板308之記錄層307側之面上形成有各訊坑部。 又’於隔離層3 02之兩面上形成有訊坑部之表面上成膜 有包含例如Α1之反射膜，且該反射膜構成記錄層3〇1及記 錄層303 »同樣，基板308中形成有訊坑部之表面上成膜有 包含例如Α1之反射膜’且該反射膜構成記錄層3〇7。 於基板3 08上形成記錄層307後，貼附構成隔離層306之 紫外線硬化型薄板，且於與該紫外線硬化型薄板之對向於 基板308之面的相反側的面上形成有訊坑部。記錄層305由 成膜於該紫外線硬化型薄板之形成有訊坑部之表面上的反 射膜（例如Α1)所構成。 由聚碳酸酯構成之保護層308，藉由由紫外線硬化樹脂 所構成之黏接劑，而黏接於隔離層3〇2所包含之記錄層301 之表面上《該紫外線硬化樹脂黏接後的厚度為數μιη左右。 又’構成隔離層304之紫外線硬化樹脂塗佈於隔離層302所 包含之記錄層303之表面上，且將該紫外線硬化樹脂作為 黏接劑而使記錄層303及記錄層305黏接。 H2152.doc •37- 1329316 於上述複合光記錄媒體309中，構成記錄層301、記錄層 303、記錄層305及記錄層307之反射膜之厚度為20 nm，且 與保護層300、隔離層3〇2、隔離層304及隔離層306相比 較’其非常薄。因此’實際上，相對於記錄層3〇1之保護 層之厚度成為100 μπι，相對於記錄層303之保護層之厚度 成為580 μηι，相對於記錄層3〇5之保護層之厚度成為6〇〇 ’相對於記錄層307之保護層之厚度成為6^0 μπι。 若對於上述複合光記錄媒體309使用以如下方式而設計 之物鏡109，即，無論對於第丨波長λ1，或是對於第2波長 λ2 ’當透過具有600 μιη厚度之保護層時，球面像差均為最 小’則可將與對應於第1波長之記錄層303與記錄層307相 應之保護層的厚度誤差抑制為土20 μπι，可將與對應於第2 波長之記錄層305相對之保護層的厚度誤差抑制為〇 μιη， 且可將上述三個記錄層中的球面像差之產生量抑制為足夠 低。 尤其’將與保護層之厚度誤差相應之球面像差的產生量 較大、且對應於較短波長即第2波長λ2之記錄層305所相應 之保護層的厚度誤差抑制為〇 μηι，藉此可進而降低球面像 差之產生量。 又，於上述複合光記錄媒體309中，對於對應於第1波長 λΐ之記錄層303與記錄層307，將鄰接之記錄層間之距離喊 保為40 μιη。藉此，不會導致產生聚焦控制問題及層間串 擾問題，可抑制各記錄層中球面像差之產生量。 再者’關於記錄層301 ’將設計為對於第2波長λ2透過具 112152.doc •38· 1329316 有⑽厚度之保護層時聚光點上的球面像差為最小之物 鏡，設於用以將複合光記錄媒體3〇9進行再生之光拾波器 中’藉此可進行對應。 ° 再者，於上述所說明之複合光記錄媒體中，使用A丨作為 構成記錄層之反射膜，但本發明並非僅限於此者，使用Au 或Ag作為構成記錄層之反射臈亦可獲得同樣之效果。 再者’本具體例中已對再生專用之複合光記錄媒體之結 構進行了敍述，但本發明並非僅限於此者，追記型或可重 複寫入型複合光記錄媒體亦包含於本發明之技術範圍内。 可使用有機色素或無機材料等，作為構成追記型或可重複 寫入型複合光記錄媒體中所包含之記錄層之反射膜的材 料。又，亦可使用作為所謂相變化材料而被眾人知悉的材 料作為記錄層。 又，與具體例1同樣之處亦在於，藉由使用具有波長選 擇性的反射膜作為記錄層’可進而減少聚光點之聚焦控制 問題或層間串擾問題。 [實施形態2] 如以下，根據圖7及圖8說明本發明之第2實施形態。 首先’使用圖7說明實施形態2之複合光記錄媒體之結 構。 複合光記錄媒體2包含：對應於第1波長λ1(65〇 nm)之記 錄層21(第1記錄層）與記錄層27(第2記錄層），以及對應於 第2波長λ2(405 nm)之記錄層23(第3記錄層）與記錄層25(第 4記錄層）；且各部件自光之入射側以如下順序進行配置， I12152.doc •39- 1329316 即’保護層20'記錄層21、隔離層22、記錄層23、隔離層 24、C錄層25、隔離層26、記錄層27及基板28 » 第1波長λ 1與第2波長λ2之間成立如下關係，即， λ2<Χ\ , 又，右將自光之入射側表面至記錄層21間之距離設為卜 λ1，又，將自該表面至記錄層27間之距離設為t_L〇 u，進 而，將自該表面至記錄層23間之距離設為1Μ_λ2，將自該 表面至記錄層25間之距離設為，則有如下關係成 立，即， t-L0-Xl>t-L0-X2>t-LU2>t-Ll-Xl。 對具有上述結構之複合光記錄媒體丨令的上述3個記錄層 進行寫入或者讀取記錄點時所使用之光拾波器所包含的物 鏡中’使用如下物鏡’ ’將相對於第i波長“之球面像 差設為最小之保護層的厚度tl，肖相對於第2波長而使球 面像差為最小之保護層的厚度t2為， t-L0-Xl>tl>t-L 1 -λΐ t-L〇-X2>t2>t-Ll-X2。 於具有上述結構之複合光記錄媒體2中，將與保護層之 厚度誤差相應之球面像差的產生量較大的記錄層“及 25(對應於波長較短之光束之記錄層），配置於與保護層之 厚度誤差相應之球面像差的產生量較小的記錄層21與記錄 層27(對應於波長較長之光束之記錄層）之間。 藉由上述配置，可減小球面像差之影響較大之記錄層， 即記錄層23與記錄層25之間的層間距離（即，隔離層默 I12152.doc •40- 1329316 厚度）。因此，右使用上述物鏡作為共通物鏡，則可將不 可避免地產生於各記錄層上之球面像差，降低至可對於全 部記錄層之資訊進行記錄或者再生之位準。 又，當將配置設為與複合光記錄媒體2不同，例如，將 相對於各記錄層之保護層之厚度設為 t-L0^2>t-L0^1>t-L1^2>t-Ll^l , 或設為 對應於第2波長 於上述記錄層中 t-LOAbt-LOWw-Ll-Xbt-LlM 之時 λ2之兩個記錄層間距離變大。並处 ^口衣更 產生之球面像差變得大於本申請案發明.之結：：；； 球面像差。於此情形時，必須進行對應，以使其具備降低 1 己錄層之記錄密度或者於光拾波器中補正球面像差之機構 等。 又，對於本實施形態2之複合光記錄媒體所使用之光拾 波器中所包含之物鏡係以如下方式所設計之物鏡，即，相

對於第！波長而使球面像差為最小之保護層之厚度U，與 相對於第2波長而使球面像差A 足以下條件，即，像差為最小之保護層之厚度。滿 t-LO-Xl>tl>t-Ll-Xl t-L0-X2>t2>t-Ll-X2。 ==物鏡，可將與對應於同一波長之記錄層相應之 蔓層的厚度誤差之差抑制於該記錄層間距離以下。 差二=記錄層21與記錄層27之保護層的厚度誤差之 錄層間之距離以下，且記錄層21與記錄層27上的 I12152.doc 1329316 球面像差之產生量大致一致。因此，可一樣地減小記錄層 :、.彔層27上所δ己錄之記錄點之大小，並可使兩記錄層 己錄畨度一致。其結果是，可將形成訊坑或訊面凹槽 等凹凸形狀作為該等兩個記錄層之步驟共通化。 欠记錄層之g己錄密度相同，故可使將兩記錄層所記錄 之資訊再生時的複合光記錄媒體之旋轉速度—致。因此， 將對應於同波長之記錄層連續再生時，可不改變複合光記

錄媒體2之旋轉速度，而移行再生記錄層。即，將對應於 同波長之圮錄層連續再生時，可縮短記錄層間之移行時 間。 同樣，記錄層23與記錄層25上的球面像差之產生量大致 相等。因此，對記錄層23與記錄層25亦起到與上述同樣之 效果。 於上述複合光記錄媒體2中，較好的是以如下方式配置 各§己錄層，即，記錄層21(第1記錄層）及記錄層23(第3記錄 層）之間的距離與記錄層27(第2記錄層）及記錄層25(第4記 錄層）之間的距離相等。 於上述複合光記錄媒體中’相對於第1波長λ1而使球面 像差為最小之保護層之厚度誤差tl，相對於進而滿足 t-L0^2>tl>t-Ll-X2 之物鏡’可更加良好地使相對於記錄層21與記錄層27之保 護層的厚度誤差一致，並更加良好地使該記錄層中產生之 球面像差的產生量一致。 又，於此情形時’能夠以共通之部件構成隔離層22與隔 I12152.doc -42· 1329316 隔離 離層26’且於製造上述複合光記錄媒體時，可將於該 層上記錄記錄點之步驟共通化。 進而’較好的是，將基板2〇與保護層28之厚度設定為大 致相同°於此情形，可於基板2G與保護⑽中使用相同之 材料八、，果疋，可將於基板20或保護層28上形成訊坑或 訊面·凹槽等凹凸形狀之步驟共通化。又，於形成有凹凸 形狀之基板20或保護層28上可為構成記錄層之膜的成膜創 造條件、或可抑制膜特性之不均一。

於此清形時，由於可設為將兩個對稱之結構體一體 化之結構，故可將各結構體之製造製程共通化，且可穩定 地保持質量。X，可將製造裝置共通化，可有效地降低記 錄媒體之製造成本。 對於在本實施形態2之複合光記錄媒體中記錄資訊，或 者，將該複合光記錄媒體中所記錄之資訊進行再生之光記

錄再生裝置所包含的光拾波器，可使用與圖4同樣結構之 光拾波器。 [具體例4] 繼而，舉例說明本實施形態2之複合光記錄媒體之具體 結構。 於本具體例2之複合光記錄媒體2中，保護層2〇及基板28 由聚碳酸酯形成，且厚度為57〇 μιη。隔離層24係由紫外線 硬化樹脂構成，且厚度為2〇 μηι。隔離層22及隔離層26係 以紫外線硬化型薄板構成，且厚度為2〇 μηι。 複合光記錄媒體2為再生專用媒體，且訊坑部（記錄點）形 112152.doc • 43 · 1329316 成於保護層20之記錄層21側表面及基扳28之記錄層27側表 面上。記錄層21係由成膜於形成有訊坑部之保護層20之表 面上的包含例如A1之反射膜所構成，又，記錄層27係由成 膜於形成有訊坑部之基板28之表面上的包含例如A1之反射 膜所構成。 記錄層27之表面上貼附有構成隔離層26之紫外線硬化型 薄板，且該紫外線硬化型薄板之入射側表面上形成有訊坑 部。記錄層25係由成膜於形成有訊坑部之該紫外線硬化型 薄板之表面上的反射膜（例如A1)所構成。 同樣’記錄層21之表面上貼附有構成隔離層22之紫外線 硬化型薄板’且該紫外線硬化型薄板之入射侧表面上形成 有訊坑部。記錄層23係由成膜於形成有訊坑部之該紫外線 硬化型薄板之表面上的反射膜（例如A1)所構成。 再者，形成有訊坑部之上述隔離層22與隔離層26係由紫 外線硬化型薄板所構成，但該隔離層亦可由光硬化樹脂構 成。於此情形時，可藉由2P法（Ph〇t〇 p〇Hmerizati〇n法）， 將訊坑部形成於該光硬化樹脂上。 進而，使甩成為隔離層24之紫外線硬化樹脂作為黏接 劑且以將包含保護層20、記錄層21、隔離層22及記錄層 之邛件，與包含基板28、記錄層27、隔離層26及記錄層 25之。卩件黏接之方式，而製造複合光記錄媒體2。 >於本實施形態2之複合光記錄媒體2中，構成記錄層21、 己錄層23、δ己錄層25及記錄層27之反射膜的厚度為 ⑽’且與保護層2〇、隔離層22、隔離層24及隔離層26相比 112152.doc -44- 1329316 較，其非常薄。因此，實際上，相對於記錄層2〗之保護層 之厚度（t-Ll-λΙ)成為570 μιη ’相對於記錄層23之保護層之 厚度（t-Ll-X2)成為590 μηι’相對於記錄層25之保護層之厚 度（t-L042)成為610 μηι，相對於記錄層27之保護層之厚度 (t-LO-λΙ)成為 630 μηι。 又，複合光記錄媒體2之整體厚度為12〇〇 μιη，且設定 為，其二分之一的厚度600 μηι,與自該複合光記錄媒體2 之光入射側表面’至對應於第2波長λ2之記錄層23與記錄 層25該兩層之間之位置為止的厚度一致。 用以將上述複合光記錄媒體2中所記錄之資訊進行再生 之光拾波器所包含的物鏡109，係使用如下物鏡，即，無 論對於第1波長λ1(650 nm)，或是對於第2波長λ2(4〇5 nm) ’當透過厚度600 μηι之保護層時，聚光點上的球面像 差均為最小。 若對於上述複合光記錄媒體2使用上述物鏡1〇9，則可將 與對應於第1波長λ 1之記錄層21及記錄層2 7相應之保護層 的厚度誤差抑制為±30 μηι，又’可將與對應於第2波長λ2 之記錄層23及記錄層25相應之保護層的厚度誤差抑制為 土 10 μιη，且可將上述全部記錄層中的球面像差之產生量抑 制為足夠低。 又，光之波長越短，則相應於保護層之厚度誤差之球面 像差的產生量越大’但藉由對於上述複合光記錄媒體2使 用上述物鏡109 ’可將與對應於較短波長^之記錄層，即 記錄層23及25相應之保護層之厚度誤差抑制為±1〇 μπι，且 112152.doc -45- 可進而降低球面像差之產生量。 又’於上述複合光記錄媒體2中，鄰接之記錄層間之距 離，即記錄層間的隔離層之厚度為20 μιη。 具有多個記錄層之複合光記錄媒體中，為解決聚焦控制 問題及層間串擾問題，通常，將記錄層之間的距離設 為10 μπι至40 μιη之情形較多。對此，上述複合光記錄媒 體2藉由確保20 μιη以上之記錄層間距離，而不會導致產生 聚焦控制問題及層間串擾問題，且可抑制各記錄層上球面 像差之產生量。 於上述所說明之複合光記錄媒體中使用Α丨作為構成記錄 層之反射膜，但當使用Au4Ag時亦可獲得同樣之效果。 又，使用再生專用者作為記錄層，但亦可為追記型者或 :重複寫入型者。於此情形時，可使用有機色素或無機材 料等一般所使用之材料作為構成記錄層之臈的材料。亦可 使用作為所謂相變化材料而被眾人知悉者作為記錄層。 再者，於上述所說明之複合光記錄媒體中，使用A1作為 構成記錄層之反射膜，但本發明並非僅限於此者，使用A。 或Ag作為構成記錄層之反射膜時亦可獲得同樣之效果。 再者，本具體例中已對再生專用之複合光記錄媒體之結 構進行了敍述，但本發明並非僅限於此者，追記型或可重 複寫入型複合光記錄媒體亦包含於本發明之技術範圍内。 可使用有機色素或無機材料等，作為構成追記型或可重複 寫入型複合光記錄媒體所包含之記錄層之反射膜的材料。 又，亦可使用作為所謂相變化材料而被眾人知悉的材料作 H2152.doc 1329316 為記錄層。 又’亦可使用具有波長選擇性的反射膜作為構成記錄層 之反射膜。具體而言，對應於第i波長λ1之記錄層21及27 可由如下反射膜構成，即’相對於第1波長λΐ之反射率大 於相對於第2波長λ2之反射率》該結構在以第2波長λ2對記 錄層23或25進行記錄/再生時，可有效防止來自對應於第i 波長λΐ之記錄層21及記錄層27之反射光。 又，對應於第2波長λ2之記錄層23及25可以如下反射膜 所構成’即’相對於第2波長λ2之反射率大於相對於第1波 長λΐ之反射率。該結構在以第1波長“對記錄層21或27進 行記錄/再生時，可有效防止來自對應於第2波長λ2之記錄 層23及25之反射光。 即，將構成記錄層21之反射膜相對於第1波長λΐ之反射 率設為Rl-Ll-λΙ，且將其相對於第2波長λ2之反射率設為 R2-L141，將構成記錄層23之反射膜相對於第1波長λΐ之 反射率設為Rl-L142，且將其相對於第2波長λ2之反射率 設為R2-L1 -λ2 ’將構成記錄層25之反射膜相對於第1波長 λΐ之反射率設為Rl-L〇42，且將其相對於第2波長λ2之反 射率設為R2-L0-X2，將構成記錄層27之反射膜相對於第1 波長λΐ之反射率設為Ri-LO-λΙ，且將相對於第2波長λ2之 反射率設為R2-L041時，有如下關係成立，即， R1-L1-X1>R2-L1-X1 R1-L1^2<R2-L1-X2 R1-L0^2<R2-L0^2 112152.doc -47- 1329316 R1-L0-X1>R2-L0-X1。 藉由以上述具有&長選擇性之反射膜構成上述複合光記 錄媒體2所包含之各記錄層，當具有第1波長λι之光束入射 至複合光記錄媒體2上時，可減小該光束由對應於第2波長 λ2之記錄層23及25而反射後於光拾波器中受光之光束的強 度又w纟有第2波長λ2之光束入射至複合光記錄媒體2 上時，可減小該光束由對應於第！波長u之記錄層21及27 而反射後於光拾波器中受光之光束的強度。 籲 又，對應於相同的第1波長λΐ之記錄層2!及27中所產生 之上述問題可以如下方式而降低，即，將對應於第2波長 λ2之記錄層23及25夾於該等兩個記錄層之間，結果是，可 拉開記錄層2 1及27之距離。 藉此，可進而減輕鄰接記錄層間所產生之聚焦控制問題 、及層間串擾問題。 可使用Si〇2、SiN、Ti〇2等具有因由誘電體膜所構成之 φ 誘電體多層膜而引起之幹涉效果之反射膜，或SiHx、Si等 具有波長選擇性之反射膜，作為具有波長選擇性之反射 膜。 再者’實施形態2之光拾波器如上所述包含低頻散型物 鏡’且相對於第丨波長λ1而使球面像差為最小之保護層之 厚度與相對於第2波長而使球面像差為最小之保護層厚度 相同（600 nm) ’但本發明未必僅限於此。即，相對於第1波 長λΐ而使球面像差為最小之保護層厚度與相對於第2波長 而使球面像差為最小之保護層厚度亦可在請求項所示之範 H2152.doc -48· 1329316 圍内而有所不同。 [具體例5] 上述具體例4之複合光記錄媒體2包含對應於第1波長λ1 之兩個記錄層以及對應於第2波長之兩個記錄層，但本發 明並非僅限於此’於上述複合光記錄媒體中進而追加記錄 層之複合光記錄媒體’亦包含於本發明之技術範圍内。 於本具體例5中’就如下結構舉例說明，即，除上述具 體例1之複合光記錄媒體所包含之四個記錄層以外，進而 包含對應於第2波長之記錄層。 於圖8所示之複合光記錄媒體511中，保護層5〇〇、隔離 層502 '基板5 10均由聚碳酸酯構成，且厚度分別為1 〇〇 μπι、470 μιη、570 μιη。隔離層506係由紫外線硬化樹脂構 成’且厚度為20 μιη。隔離層504及隔離層508係由紫外線 硬化型薄板構成，且厚度分別為20 μπι。 記錄層503(第1記錄層）及記錄層5 09(第2記錄層）為對應 於第1波長λ1(650 nm)之記錄層，記錄層501 (追加記錄 層）、記錄層505(第3記錄層）及記錄層507(第4記錄層）為對 應於第2波長λ2(4〇5ηιη)之記錄層。 複合光記錄媒體511為再生專用媒體，且隔離層502之兩 面及基板510之記錄層509側之面上形成有各訊坑部。 又’於隔離層502之兩面上形成有訊坑部之表面上成膜 有包含例如Α1之反射膜，且該反射膜構成記錄層501及記 錄層503。同樣，基板510中形成有訊坑部之表面上成膜有 包含例如Α1之反射膜，且該反射膜構成記錄層509。 112152.doc -49- 1329316 於基板510上形成記錄層509後，貼附構成隔離層508之 紫外線硬化型薄板’且於與該紫外線硬化型薄板之對向於 基板510之面的相反側的面上形成有訊坑部。記錄層5〇7由 成膜於該紫外線硬化型薄板之形成有訊坑部之表面上的反 射膜（例如A1)所構成。 由聚碳酸酯所構成之保護層500，藉由由紫外線硬化樹 脂所構成之黏接劑’而黏接於隔離層502所包含之記錄層 501的表面上。該紫外線硬化樹脂黏接後的厚度為數^瓜左 右。 又’隔離層502所包含之記錄層503之表面上，貼附有構 成隔離層504之紫外線硬化型薄板，且於與該紫外線硬化 型薄板之對向於記錄層503之面的相反側之面上形成有訊 坑部。記錄層505係由成膜於該紫外線硬化型薄板之形成 有訊坑部之表面上的反射膜（例如Α1)所構成。 構成隔離層506之紫外線硬化樹脂塗佈於記錄層5〇5之表 面上，且以該紫外線硬化樹脂作為黏接劑，而使記錄層 505及記錄層507黏接。 於上述複合光記錄媒體510中，構成記錄層5〇ι、記錄層 5〇3、記錄層505、507及記錄層509之反射膜之厚度為2〇 nm，且與保護層500、隔離層5〇2、隔離層5〇4、隔離層5〇6 及隔離層508相比較’其非常薄。因此，實際上，相對於 s己錄層50 1之保護層之厚度成為1 〇〇 μιη ’相對於記錄層5〇3 之保護層之厚度成為570 μηι，相對於記錄層3〇5之保護層 之厚度成為590 μιη ’相對於記錄層507之保護層之厚产成 112152.doc -50- 1329316 為610 μηι，相對於記錄層5〇9之保護層之厚度成為63〇 μιη。 又，複合光記錄媒體511之整體厚度為i2〇〇 μηι ,且設定 為，其二分之一的厚度6〇〇 μηι,與自光記錄媒體之光入射 側表面，至對應於第2波長人2之記錄層5〇5、記錄層5〇7該 兩層之間的位置為止之厚度一致。 若對於上述複合光記錄媒體51〇使用以如下方式而設計 之物鏡109，即，無論對於第i波長λ1 ,或是第2波長λ2 , 當透過具有600 μιη厚度之保護層時，球面像差均為最小， 則可將與對應於第1波長之記錄層5〇3及記錄層5〇9相應之 保護層的厚度誤差抑制為土 3〇 μιη’可將與對應於第2波長 之記錄層505及記錄層507相應之保護層的厚度誤差抑制為 ±10 μιη’且可將上述四個記錄層中的球面像差之產生量抑 制為足夠低。 尤其，將與保護層之厚度誤差相應之球面像差的產生量 較大、且對應於較短波長即第2波長λ2之記錄層505及記錄 層507相應之保護層的厚度誤差抑制為±1〇 μπι，藉此具有 進而降低球面像差之產生量之效果。 又’於上述複合光記錄媒體510中，對於記錄層503、記 錄層505、記錄層507及記錄層509，將鄰接之記錄層間之 距離確保為20 μηι。藉此’不會導致產生聚焦控制問題及 層間串擾問題，可抑制各記錄層中球面像差之產生量。 再者，對於記錄層501，另外將設計為對於第2波長人2透 過具有100 μηι厚度之保護層時聚光點上的球面像差為最小 U2152.doc 51 1329316 之物鏡，設於用以將複合光記錄媒體5 1 〇進行再生之光拾 波器中，藉此可進行對應。 再者，於具體例5中’亦使用Α1作為構成記錄層之反射 膜’但本發明並非僅限於此者’使用Au或Ag作為構成記 錄層之反射膜時亦可獲得同樣之效果。 再者’本具體例中已對再生專用之複合光記錄媒體之結 構進行了敍述’但本發明並非僅限於此者，追記型或可重

複寫入型複合光記錄媒體亦包含於本發明之技術範圍内。 可使用有機色素或無機材料等，作為構成追記型或可重複 寫入型複合光記錄媒體所包含之記錄層之反射膜的材料。 又，亦可使用作為所謂相變化材料而被眾人知悉的材料作 為記錄層。 本發明並非僅限於上述各實施形態者，可在請求項所示 範圍内進行各種變更。即，將在請求項所示範圍内進行了

適當變更後之技術性機構加以組合而獲得之實施形態，亦 包含於本發明之技術範圍中。 [產業上之可利用性] 本發明係可提供如下結構者，即，於包含不同種類之呓 錄層之複合光記錄媒體中，在各記錄層中，可將用以對該 複合光記錄媒體進行記錄或者再生之光拾波器所包含的物 鏡共通化’具體…可使用於將DVD記錄層與HD — DVD記錄層複合之複合光記錄媒體等中。 【圖式簡單說明】 圖1係表示本發明之實施形態者， 厂衣不包含與第1波長 II2152.doc -52· 1329316 相應之兩個s己錄層以及與第2波長相應之—個記錄層的複 合光記錄媒體之結構的結構圖。 圖2係表示本發明之實施形態者，即用以說明在物鏡之 設計時決定、且使球面像差為最小之保護層厚度的說明 圖。 圖3係表示本發明之實施形態者，即用以說明物鏡之設 十寺所疋的使球面像差為最小之保護層厚度的說明圖。 圖4係表示本發明之實施形態者，即表示用以於複合光 記=媒體中記錄資訊，或者，將複合光記錄媒體中所記錄 之資訊進行再生之光拾波器之結構的結構圖。 圖5係表示本發明之實施形態者，即表示包含與第1波長 相應之三個記錄^以及與第2波長相應、之一個f己錄層之複 合光記錄媒體結構的結構圖。 圖6係表示本發明之實施形態者，即表示包含與第丨波長 相應之兩個記錄^以及與第2波長相應'之兩個記錄層之複 合光記錄媒體結構的結構圖。 圖7係表示本發明之實施形態者，即表示包含與第丨波長 相應之兩個記錄層以及與第2波長相應之兩個記錄層之複 合光記錄媒體結構的結構圖。 圖8係表示本發明之實施形態者，即表示包含與第1波長 相應之兩個記錄層以及與第2波長相應之三個記錄層之複 合光記錄媒體結構的結構圖。 、圖=係表示本發明之實施形態者，即對複合光記錄媒體 進行記錄或者再生之光記錄再生裝置之結構圖。 J12I52.doc -53 - 1329316 圖ίο係表示本發明之實施形態者，即表示光記錄再生裝 置中複合光記錄媒體之判別方法的動作流程圖。 圖11係表示對圖1所示複合光記錄媒體之記錄層進行古十 數時的聚焦誤差訊號之概略說明圖。 【主要元件符號說明】 2 10

複合光記錄媒體 複合光記錄媒體 保護層 記錄層（第1記錄層） 隔離層 13 14 15 16 記錄層（第3記錄層） 隔離層 記錄層（第2記錄層） 基板

20 21 22 23 24 25 26 27 28 保護層 3己錄層（第1記錄層） 隔離層 記錄層（第3記錄層） 隔離層 記錄層（第4記錄層） 隔離層 記錄層（第2記錄層） 基板 51 傳送馬達 112152.doc -54· 1329316 52 光拾波器 53 心袖馬達 54 記錄媒體檢測光感測器 55 光記錄再生裝置 100 、 104 全像式雷射裝置 101 、 105 準直透鏡 102 、 106 整形棱鏡 103 光束劃分器 107 波長開口選擇濾波器 109 物鏡 110 半導體雷射器（射出具有第1波長之光束之光源) 111 半導體雷射器（射出具有第2波長之光束之光源) 112152.doc -55·

Claims (1)

1329316 第095123264號專利申請案 • 中文申凊專利範圍替換本(98年12月） 十、申請專利範圍： 1. -種複合光記錄媒體，其特徵在於包含： 第1記錄層及第2記錄層’其藉由具有第1波長之光束 : 進行讀取或者寫入，·及 第3記錄層，其藉由具有短於上述第m長之第2波長 之光束進行讀取或者寫入； 上述三個記錄層各係由自複合光記錄媒體之同一面所 入射之上述光束進行讀取或者寫入； 上：三個記錄層自上述光束之入射側以如下順序配 .弟u己錄層、第3記錄層、第2記錄層。 2.如請求項！之複合光記錄媒體，其中上述第i記錄層及上 述第2記錄層係由如下反射膜所構成：相對於上述第2波 長之反射率小於相對於上述第1波長之反射率，且具有 波長選擇性。 … 3.=清求項！之複合光記錄媒體，其中上述^記錄層係由 下反射膜所構成：相對於上述第i波長之反射率小於 相對於上述第2波長之反射率’且具有波長選擇性。 如。月求項1至3中任一項之複合光記錄媒體，其中上述三 5. 為上記錄層與上述第3記錄層之距: —述第2記錄層與上述第3記錄層之距離相等。 一種複合光記錄媒體，其特徵在於包含·· 第二己錄層及第2記錄層’其藉由具有第^波長之光束 進仃頊取或者寫入；及 第3記錄層及第4記錄層，其藉由具有短於上述第遣 I12I52-98l2l4.doc 1329316 長之第2波長之光束進行讀取或者寫入； 上述四個記錄層各係由自複合光記錄媒體之同一面 入射之上述光束進行讀取或者寫入； 所 上述四個記錄層自上述光束之人射側以如下順序配 置：第1記錄層、第3記錄層、第4記錄層、第2吃錄層 6. 如請求項5之複合光記錄媒趙，其中上述第以錄層曰及。上 述第2記錄層係由如下反射膜所構成：相對於上述第 長之反射率小於相對於上述第！波長之反射帛，且 波長選擇性。. 八有 7. 如請求項5之複合光記錄媒體，其中上述第3記錄層及上 述弟4記錄層係由如下反射膜所構成：相對於上述第1波 長之反射率小於相對於上述第2波長之反射率，且 波長選擇性。 八’ 8·如請求項5至7中任_焐 益 項之複0先5己錄媒體，其中上述四 個記錄層配置為上述第1 用^第K己錄層與上述第3記錄層之距離 弟2記錄層與上述第4記錄層之距離相等。 9·如請求項1至3、5至7中任一項之通 包含. 項之複合光記錄媒體，其中 保5蒦層’其配置於上述第 側；及 述弟1 5己錄層之上述光束入射之 基板，其配置於上述第 側相反側； 。己錄層之與上述光束入射之 丨。如=護層與上述基板之厚度大致相同。 〇·如“項4之複合光記錄媒體，其中包含： 112152-981214.doc 丄以9316 . 保護層，其配置於上述第1記錄層之上述光束入射之 側；及 • 基板，其配置於上述第2記錄層之與上述光束入射之 ' 側相反側； 上述保護層與上述基板之厚度大致相同。 11 ·如請求項8之複合光記錄媒體，其中包含： 保護層’其配置於上述第1記錄層之上述光束入射之 ^ 側；及 基板’其配置於上述第2記錄層之與上述光束入射之 側相反側； 上述保護層與上述基板之厚度大致相同。 .12. 一種光拾波器，其特徵在於： 其係用以對如請求項丨至4中任一項之複合光記錄媒體 記錄或者再生資訊者，且包含： 光源，其射出具有上述第丨波長之光束； • 光源，其射出具有上述第2波長之光束；及 物鏡，其將具有上述第丨波長之光束及具有上述第2 波長之光束進行聚光； 上述物鏡中相對於上述第1波長而使球面像差為最 小之保°蔓層之厚纟大於上述複合光記錄媒Μ中自光束 射之面至上述第1記錄層之距離，且小於上述複合 光記錄媒體巾ό t A、 自先束入射之面至上述第2記錄層之距 離； 上述物鏡中相脅* ;上逑弟2波長而使球面像差為最 112152-981214.doc ^10 J之保>1層之厚度大於上述複合光記錄媒體中自光束 入射之面至上述第!記錄層之距離，且小於上述複合 光記錄媒體中自光束入射之面至上述第2記錄層之距 月长項12之光拾波器，其中上述物鏡係如下物鏡：相 對於上述第1波長而使球面像差為最小之保護層之厚度 與相對於上述第2波長而使球面像差為最小之保護層之 厚度大致相同； 上述物鏡中使球面像差為最小之保護層之厚度盘上述 複合光記㈣體中自光束人射之面至第3記錄層之距離 大致相同。 14. 一種光拾波器，其特徵在於： 八係用以對如6月求項5至8中任一項之複合光記錄媒體 記錄或者再生資訊者，且包含： 光源，其射出具有上述第丨波長之光束； 光源’其射出具有上述第2波長之光束；及 物鏡，其將具有上述第1波長之光束及具有上述第2 波長之光束進行聚光； 上述物鏡中相對於上述第1波長而將使球面像差為 最小之保護層之厚度大於上述複合光記錄媒體中自光 束入射之面至上述第丨記錄層之距離，且小於上述複 合光記錄媒體中自光束入射之面至上述第2記錄層之 距離； 上述物鏡中相對於上述第2波長而使球面像差為最 112152-981214.doc 1329316 μ之保護層之厚度大於上述複合光記錄媒體中自光束 入射之面至上述第3記錄層之距離，且小於上述複合 光。己錄媒體中自光束入射之面至上述第4記錄層之距 離。 月求項14之光拾波益，其中·上述物鏡中相對於上述第 1波長而使球面像差為最小之保護層之厚度大於上述複 Τ光記錄媒體中自光束入射之面至上述第3記錄層之距 離，且小於上述複合光記錄媒體中自光束入射之面至上 述第4記錄層之距離。 '月求項14之光拾波器，其中上述物鏡係如下物鏡：相 對於上述第1波長而使球面像差為最小之保護層之厚度 與相對於上述第2波長而使球面像差為最小之保護層之 厚度大致相同； 上述物鏡中使球面像差為最小之保護層之厚度盥上述 複合光記錄媒體中自光束入射之面至第3記錄層之距離 及上述複合光記錄媒體_自光束人射之面至㈣己錄層 之距離的平均值大致相同。 1 7. —種光拾波器，其特徵在於·· 其係藉由具有上述第1波長之光束及具有上述第2波長 之光束’而對如請求項…中任一項之複合光記錄媒體 進行寅βίΐ之记錄或者再生者，且 ★包含物鏡，其將具有上述第“皮長之光束及具有上述 第2波長之光束進行聚光； 上述物鏡中相對於h # Μ ,、士 耵於上述弟1波長而使球面像差為最小 112152-9S1214.doc 保沒層之厚度大於上述複合光記錄媒體中自光束入射 之面至上述第1 ^ 布1 S己錄層之距離，且小於上述複合光記錄 媒體中自光束入射之面至上述第2記錄層之距離； 上述物鏡中相對於上述第2波長而使球面像差為最小 之保濩層之厚度大於上述複合光記錄媒體中自光束入射 之面至上述第丨^»议a 乐1 #錄層之距離，且小於上述複合光記錄 媒體中自光束入射之面至上述第2記錄層之距離。 H 一種光拾波器，其特徵在於： 二系藉由具有上述第丨波長之光束及具有上述第2波長 光束而對如凊求項5至8中任一項之複合光記錄媒體 進行貧訊之記錄或者再生者，且 物鏡，其將具有上述第1波長之光束及具有上述 第2波長之光束進行聚光； 上>述物鏡中相對於上述第1波長而使球面像差為最小 之保濩層之厚度大於上述複合光記錄媒體中自光束入射 之面至上述第！記錄層之距離’且小於上述複合光記錄 媒體中自光束入射之面至上述第2記錄層之距離；並且 上述物鏡中相對於上述第2波長而使球面像差為最小 之保護層之厚度大於上述複合光記錄媒體中自光束入射 之面至上述第3記錄層之距離’且小於上述複合光記錄 媒體中自光束入射之面至上述第4記錄層之距離。 19. 一種光記錄再生裝置，其特徵在於：包含如請求項a至 18中任一項之光拾波器。 20. 如請求項19之光記錄再生裝置，其中安裝有光記錄媒體 112152-981214.doc 丄灿316 時’使用第1波長之光束產生遍及該光記錄媒體整個厚 度方向上的聚焦誤差訊號； 對上述聚焦誤差訊號中訊號之峰值位準達到某臨限值 =上之，數及達到臨限值以τ之錢進料數，根據雙 否為、-人否句為1以上’而判定所安骏之光記錄媒體是 是s光記錄媒體。

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