TWI324680B - Polarizing film inspecting apparatus and method - Google Patents

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TWI324680B TW095144950A TW95144950A TWI324680B TW I324680 B TWI324680 B TW I324680B TW 095144950 A TW095144950 A TW 095144950A TW 95144950 A TW95144950 A TW 95144950A TW I324680 B TWI324680 B TW I324680B
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Description

九、發明說明: 【發明所屬之技術領域J 技術領域 本發明係有關於偏光膜檢查裝置及方法,特別係有關 於可在檢查使祕LCD之偏光膜有無瑕糾,改善檢查作 業之生產性的偏光膜檢查褒置及方法。 【先前技術】 習知技術 因L C D (液晶顯示器)係利用液晶雙折射特性故使用偏 光膜以調節射入液晶分子之光的振動方向。偏光膜具有使 沿複數方向振動且射入之自然光成為只沿單一方向振動之 偏光的機能,其種類有碘系、染料系、相位差、半穿透及 反射型等偏光膜。其中,碘系偏光膜係具有高穿透及高偏 光特性的尚精細LCD用偏光膜,而在透明pva(聚乙稀醇) 膜使用碘可吸收可見光區域的光。 概略來說,偏光膜的構造係依序積層TAC(三醋酸纖維 素)膜、接著劑、偏光元件、接著劑及TAC膜構成。在使用 滾筒等以製造具有此種結構之偏光膜時,在偏光膜的製造 過程中’會因滾筒的摩擦力而產生細微刮痕。另外,在偏 光膜的製造過程中,由於PVA膜層會有細微變形或損傷等 而喪失偏光機能,故會產生光直接通過的光直通現象。如 此’在因偏光膜有細微變形或損傷等而喪失偏光機能或產 生如刮痕等瑕疵時驅動LCD畫面,會產生畫面色度不均的 致命瑕疵。 以往’作業者係直接以目财認來進行檢查,以檢查 偏光膜有無會使LCD畫面產生致命瑕疲的缺陷並加以除 去。即,作業者係以目視確認偏光膜,來檢查偏光膜是否 有產生光直通現象、刮痕、氣泡或異物之瑕症。 【發明内容】 發明揭示 發明所欲解決之問題 然而,以往在作業者直接檢查偏光膜時,會由於作業 者的熟練度使檢查精度及生產性降低。例如,當作業者的 熟練度低時,有可能會產生檢查作業的失誤,即使是熟練 者,也有可能會由於作業者疲勞而使檢查作業的生產性降 低的問題點。 因此,本發明係有鐘於前述問題點而作成者且其目 的在於提供偏光膜檢查裝置及方法,係可自動地檢查使用 於LCD之偏光膜有無瑕疵,且設有複數個檢查部以改善 偏光膜的檢查作業生產性者。 用以解決問題之手段 為達成此種目的,本發明之偏光膜檢查裝置包含有: 第1檢查部,係、設於主框且可檢查固持於載具移送之偏光膜 有無瑕疵者;第2檢查部,係與第丨檢查部呈水平排列地設 於主框,且可檢查固持於載具移送之偏光膜有無瑕疵者; 第1運膜機,係設於主框且位於第丨及第2檢查部之一側,可 使經過洗淨部洗淨、排列後之偏光膜選擇性地裝載於第1及 第2檢查部者;及第2運膜機,係設於主框且位於第丨及第2 檢查部之另—側,可使在第1及第2檢查部檢查完之偏光膜 卸載至分類部者。 ' 而本發明之偏光膜檢查方法包含有以下步驟:藉由第1 運模機將完成洗淨和排列之偏光膜選擇性地裝載於第α 5第2檢查部之載具;藉由第ι運膜機將偏光膜裝載於第i及第 2檢查部之載具後’藉由第1及第2載具運送機將載具移送至 第1及第2檢查冑,對偏光膜進行線及區域掃描檢查,在檢 查完後移送載具,以使第2運膜機可固持偏光膜;在移送栽 具’使第2運膜機可固持偏光膜後,藉由前述第2運膜機, 10使固持於載具之偏光膜依移送順序卸載至分類部;及藉由 第1及第2載具運送機,使已由第2運膜機卸載偏光膜後之空 載具返回,以使第〖運膜機可將偏光膜選擇性地裝載於空載 具上。 【實施方式】 15實施發明之最佳形態 以下,利用添附圖式說明本發明之實施例如下。 第1圖係本發明之偏光膜檢查裝置的平面圖,第2圖係 第1圖所不之第1及第2運膜機的正面圖第3圖係第丨圖所示 之第1及第2檢查部的正面圖。 20 如圖所示’本發明之偏紐檢查裝置包含有:第1檢查 部(3〇),係設於主框(1) ’且可檢查固持於載具(2)移送之偏 光膜(3)有無瑕疵者;第2檢查部(4〇),係與第丨檢查部(3〇) 鄰接-又於主框⑴,可檢查固持於載具(2)移送之偏光膜⑺ 有無瑕疵者,第1運膜機(2〇),係設於主框(丨)且位於第 數個吸附墊(27)構成。 複數個支撐構件(21)係分別固定設置於主框(1)之7方 向兩側端,第1滑動引導構件(22)係設於複數個支撐構件(21) 之間。而第2滑動引導構件(23)係可沿第1滑動引導構件(22) 在y軸方向上移動地設於第1滑動引導構件(22),移動體(24) 係可沿第2滑動引導構件(23)在X軸方向上移動地設於第2滑 動引導構件(23)。 固定體(25)係固定設置於移動體(24),複數個缸體移送 機構(26)係分別設於固定體(25)兩侧,複數個吸附墊(27)係 可在z軸方向上移動地分別設於缸體移送機構(26)。 第2運膜機(50)係設於主框⑴且位於第丨及第2檢查部 (3〇、40)之另一側,以使在第1及第2檢查部(3〇 4〇)檢查完 之偏光膜(3)卸載至分類部(60),其詳細結構和第1運膜機(2〇) 的結構相同。例如,第2運膜機(5〇)和由支撐構件(21)、第工 滑動引導構件(22)及第2滑動引導構件(23)構成之扪運膜 機(2〇)—樣’設有支撐構件(51)、滑動引導構件(52)及第 2滑動引導構件(53)’因作用與第!運膜機(2〇)相同,故省略 詳細說明。 第1檢查部(30)係設於主框⑴正中央的部分,以檢查固 持於載具(2)移送之偏光膜(3)有無瑕疫,且係由第i載具運 送機(31)、第1LM軌(32)及第丨觀察部(33)構成。 第1載具運送機⑼係設於主框⑴的中央部分,以在由 第1運膜機(20)裝載之偏錢(3)_於載具(2)時可使該載 具(2)移送至第1觀察部⑼,她觀察部⑼檢查完時,使 1324680 檢查完之偏光膜(3)移送第2運膜機(50)可固持的位置。 設於主框(1)正中央之第1載具運送機(31)係使用線性 馬達移送機構,以使載具(2)線形或分段移動。與第1載具運 送機(31)相對的方向還設有第1LM軌(32),以在移送載具(2) 5 時進行引導。 第1觀察部(33)係設於主框(1)中央’且係由線掃描照相 機部(34)和區域掃描照相機部(35)構成,以檢查被第1載具 運送機(31)和第1LM軌(32)引導移動之載具(2)固持的偏光 膜(3) 〇 1〇 線掃描照相機部(34)係設於主框(1),可在藉由前記第1 及第2載具運送機(3卜41)分段移送固持有偏光膜(3)之載具 (2)時’對固持於載具(2)之偏光膜(3)進行線掃描檢查。在進 行完偏光膜(3)之線掃描檢查時,再藉由區域掃描照相機部 (35)對偏光膜(3)進行區域掃描檢查。此時,線掃描檢查可 15用於檢查偏光膜(3)所含有之細微缺陷’而區域掃描檢查可 用於廣範圍地檢查偏光膜(3)所含有之較大缺陷。 進行區域掃描檢查之區域掃描照相機部(35)係位於線 掃描照相機部(34)之一側地設於主框(1),以在藉由第丨及第 2載具運送機(31、41)線形移送固持有線掃描檢查完之偏光 2〇膜的栽具(2)時,對固持於載具(2)之偏光膜(3)進行區域 掃描檢查。 對偏光膜(3)進行線檢查之線掃描照相機部(34)之第i 照相機(34a)和第1照明部(34b)係以預定角度傾斜設於上侧 主框(1),而下側主框(1)則設有第2照相機(34e)和第2照明部 10 1324680 (34f),上/下側主框(1)設有垂直z轴方向之第3照相機(34c) 和第3照明部(34d)。此時,第1照相機(34a)、第1照明部(34b)、 第2照相機(34e)及第2照明部(34f)的傾斜角度為2〇至7〇度, 最好是45度。另外,對偏光膜(3)進行區域檢查之區域掃描 5 照相機部(35)在上/下侧主框(1)設有垂直z軸方向之第4照相 機(35a)和第4照明部(35b)。 第2檢查部(40)係與第1檢查部(3〇)隣接地設於主框 ⑴’以檢查由第1運膜機(20)裝載之偏光膜(3),且係由第2 載具運送機(41)、第2LM軌(42)及第2觀察部(圖未示)構成。 10 因構成第2檢查部(4〇)之第2載具運送機(41)、第2LM轨 (42)及第2觀察部(圖未示)和第1檢查部(3〇)之第丨載具運送 機(31)、第1LM轨(32)及第1觀察部(33)的結構和作用相同, 故省略其詳細說明。而且,因第2觀察部和第3圖所示之第ι 檢查部(30)之第1觀察部(33)的結構及作用相同,故除詳細 15 說明外,亦省略圖式。 分類部(60)係設於主框〇)另一側,以藉由第2運膜機 (50)卸載檢查完之偏光膜(3) ’其結構係由第i至第4卸載構 件(61、62、63、64)構成,在第1至第4卸載構件(61、62、 63 64)中,第1至第3卸載構件(61、62、63)可積載所卸載 之偏光膜(3)的檢查結果為良好者,而第4卸載構件㈣則可 積載所卸載之偏光膜(3)的檢查結果為有瑕疯者。 利用添附之第4圖說明使用具有此種結構之本發明之 偏光膜檢查裝置的檢查方法如下。 首先’使在洗淨部(1G··如第1®所示)完成洗淨和排列 11 1324680 之偏光膜(3)在第4(A)圖所圖示之箭頭(ai)方向藉由第1運膜 機(20)選擇性地裝載於第1及第2檢查部(30、40)之載具(2) 的步驟,以檢查偏光膜(3)。在第4(A)圖中,雖係圖示第1 運膜機(20)使偏光膜(3)裝載於第1檢查部(30)之載具(2)上 5 之實施例,但亦可使偏光膜(3)先裝載於第2檢查部(40)之栽 具(2)上。 在藉由第1運膜機(20)將偏光膜(3)裝載於第1及第2檢 查部(30、40)之載具(2)後,進行藉由第1及第2載具運送機 (31、41)使載具(2)朝第4(B)及(C)圖所示之箭頭(a2、a3、a4、 10 a5、a6)的方向移送,對偏光膜(3)進行線及區域掃描檢查, 在檢查完後移送載具(2) ’以使第2運膜機(50)可固持偏光膜 (3)的步驟。 更具體而言’係在將偏光膜(3)選擇性地裝載於第丨及第 2檢查部(30、40)之載具(2)後,進行第1及第2檢查部(30、40) 15之第1及第2載具運送機(3卜41)使載具(2)移送至第1觀察部 (33)及第2觀察部(圖未示)’對固持於載具(2)之偏光膜(3)進 行線及區域掃描檢查的步驟。 之後’在第1觀察部(33)及第2觀察部進行完偏光膜(3) 之線及區域掃描檢查後,進行藉由第1及第2載具運送機 20 (31、41)移送固持有檢查完之偏光膜(3)的載具(2),以使第2 運膜機(50)可固持偏光膜(3)的步驟。 在移送載具(2),使第2運膜機(50)可固持偏光膜(3)後, 進行藉由第2運膜機(50)依移送順序使固持於載具(2)之偏 光膜(3)卸載至分類部(6〇)的步驟。此時,在將偏光膜(3)卸 12 載至分類部(60)時,係依偏光膜(3)之線及區域掃描檢查的 、'°果將偏光膜(3)分類成有瑕疵者及正常者,再藉由第2運膜 機(50)卸載至分類部(6〇),完成檢查作業。 在第1及第2檢查部(30、40)完成偏光膜(3)之檢查作業 5後,進行藉由第1及第2載具運送機(31、41)使已藉由第2運 膜機(50)卸載偏光膜(3)之空載具(2)朝第4(c)圖所示之箭頭 (a7)的方向返回’以使第丨運祺機(2〇)可選擇性地將偏光膜(3) 裝載於空載具(2)上的步驟,而可連續進行偏光膜⑺之檢查 作業。 10 發明效果 如以上說明,藉由在設置複數個第丨及第2檢查部後, 各別進行偏光膜之檢查作業,可提供可自動地判別偏光膜 有無瑕疵並加以分類,且可改善檢查作業之生產性的優點。 【圖式簡單說明】 15 第1圖係本發明之偏光祺檢查裝置的平面圖。 第2圖係第1圖所示之第1及第2運膜機的正面圖。 第3圖係第1圖所示之第1及第2檢查部的正面圖。 第4(A)、(B)及(C)圖係顯示本發明之偏光膜檢查方法的 動作狀態圖。 13 1324680 【主要元件符號說明】
1.. .主框 2.. .載具 3…偏光膜 10.. .洗淨部 11…分離部 12…緩衝部 13.. .排列部 14.. .傳送帶 20·.·第1運膜機 21,51…支撐構件 22.52.. .第1滑動引導構件 23,53…第2滑動引導;溝件 24.. .移動體 25.. .固定體 26…缸體移送麟 27.. .吸附墊 30…第1檢查部 31…第1載具運送機 32.. .第 1LM軌 33."第1觀察部 34.. .線掃描照相機部 34a...第1照相機 34b...第1照明部 34c...第3照相機 34d...第3照明部 34e...第2照相機 34f...第2照明部 35…區域掃描照相機部 35a...第4照相機 35b…第4照明部 40…第2檢查部 41…第2載具運送機 42··.第 1LM軌 43.. .第1觀察部 50…第2運膜機 60…分類部 61…第1卸載構件 62···第2卸載構件 63…第3卸載構件 64.. .第4卸載構件 14

Claims (1)

1324680 月to日修正本 修正曰期:98年10月 固持於載具移送 第95144950號專利申請案申請專利範圍替換本 十、申請專利範圍: 1. 一種偏光膜檢查裝置,包含有: 第1檢查部,係設於主框且可檢查 之偏光膜有無瑕疵者; 月'J述主框 者 第2檢查部,係與前述第1檢查部呈水平排列地設於 ’且可檢《胁魅料^_有無喊 第1運膜機,係設於前述主框且位於前述第2及第2 ι〇 檢查部之—側,可使經過洗淨部洗淨、排列後之偏光膜 10 選擇性地裝載於前述第1及第2檢查部者,·及 、 第2運膜機,係設於前述主框且位於前述第1及第2 檢查部之另一側,可使在前述第1及第2檢查部檢查完之 偏光膜卸載至分類部者。 2.如申請專利範圍第1項之偏光膜檢查裝置,其中前述第j 檢查部包含有: 第1載具運送機,係可移送固持有前述偏光膜之前 述載具者;及 第1觀察部,係可檢查固持於由前述第1載具運送機 移送之前述載具的前述偏光膜有無瑕疵者。 2〇 如申請專利範圍第1項之偏光膜檢查裝置,其中前述第2 檢查部包含有: 第2载具運送機,係可移送固持有前述偏光膜之前 述栽具者;及 第2觀察部,係可檢查固持於由前述第2載具運送機 15 1324680 移送之前述載具的前述偏光膜有無瑕疫者。 4. 如申請專利範圍第2項之偏光膜檢查裝置,其中前述第1 載具運送機使用線性馬達。 5. 如申請專利範圍第3項之偏光膜檢查裝置,其中前述第2 5 載具運送機使用線性馬達。 6. 如申請專利範圍第2項之偏光膜檢查裝置,其中前述第1 觀察部包含有: 線掃描照相機部,係可在藉由前述第1載具運送機 分段移送固持有前述偏光膜之前述載具時,對固持於前 10 述載具之前述偏光膜進行線掃描者;及 區域掃描照相機部,係可在藉由第1載具運送機線 形移送固持有在前述線掃描照相機部檢查完之前述偏 光膜的前述載具時,對固持於前述載具之前述偏光膜進 行區域掃描者。 15 7.如申請專利範圍第3項之偏光膜檢查裝置,其中前述第2 觀察部包含有: 線掃描照相機部,係可在藉由前述第2載具運送機 分段移送固持有前述偏光膜之前述載具時,對固持於前 述載具之前述偏光膜進行線掃描者;及 20 區域掃描照相機部,係可在藉由第2載具運送機線 形移送固持有在前述線掃描照相機部檢查完之前述偏 光膜的前述載具時,對固持於前述載具之前述偏光膜進 行區域掃描者。 8.如申請專利範圍第1項之偏光膜檢查裝置,其中前述第1 16 1324680 及第2運膜機包含有: 複數個支撐構件,係固定設置於前述主框者; 第1滑動引導構件,係設置於前述複數個支撐構件 之間者; 5 第2滑動引導構件,係設成可沿前述第1滑動引導構 件移動者; 移動體,係設成可沿前述第2滑動引導構件移動者; 固定體,係固定設置於前述移動體者; 複數個缸體移送機構,係分別設於前述固定體兩側 10 者;及 複數個吸附墊,係分別設於前述缸體移送機構,且 可固持及釋放前述偏光膜者。 9. 一種偏光膜檢查方法,包含有以下步驟: 藉由第1運膜機將完成洗淨和排列之偏光膜選擇性 15 地裝載於前述第1及第2檢查部之載具; 藉由前述第1運膜機將前述偏光膜裝載於前述第1 及第2檢查部之前述載具後,藉由第1及第2載具運送機 將前述載具移送至前述第1及第2檢查部,對前述偏光膜 進行線及區域掃描檢查,在檢查完後移送前述載具,以 20 使第2運膜機可固持前述偏光膜; 在移送前述載具,使前述第2運膜機可固持前述偏 光膜後,藉由前述第2運膜機,使固持於前述載具之前 述偏光膜依移送順序卸載至分類部;及 藉由前述第1及第2載具運送機,使已由前述第2運 17 1324680 膜機卸載前述偏光膜後之空載具返回,以使前述第}運 模機可將偏光膜選擇性地裝載於前述空栽具上。 10.如申請專利範圍第9項之偏光膜檢查方法,係藉由前述 第1及第2載具運送機,使前述載具移送至前述第1及第2 5 檢查部,並對前述偏光膜進行線及區域掃描檢查,且在 檢查完後移送前述載具,使前述第2運暝機可固持前述 偏光膜的前述步驟包含以下步驟: 在選擇性地將前述偏光膜裝載於前述第丨及第2檢 查部之前述栽具後,使前述第1及第2載具運送機將前述 10 載具移送至前述第1觀察部及第2觀察部,對固持於前述 載具之前述偏光膜進行線及區域掃描檢查;及 在前述第1觀察部及第2觀察部對前述偏光膜進行 完線及區域掃描檢查後,移送固持有檢查完之偏光膜的 載具,使前述第2運膜機可固持前述偏光膜。 15 U·如申請專利範圍第9項之偏光膜檢查方法,係在移送前 述載具’使前述第2運膜機可固持前述偏光膜後,藉由 前述第2運膜機使固持於前述載具之前述偏光膜依移送 順序卸載至分類部的前述步驟中,依檢查結果將前述偏 光膜分類成有瑕疵及正常者,再藉由前述第2運膜機卸 20 載至分類部。 18 1324680 日修正替換頁
被 95144950 鹑 璐滌 蟓铱础 磙 JLm维:98^10^ ¢00^α.画 1324680 cr ..........— 丨 . ^月>1«修正替換頁 第95144950號專利申請案圖式替換頁 修正日期:98年10月
第4(A)圖
第4(C)圖 30 50
64 63 62 61
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