TWI318532B - Method and apparatus for measuring assembly and alignment errors in sensor assemblies - Google Patents

Description

1318532 玖、發明說明： t發明所之技術領域3 發明領域 本發明大致上係有關於影像輸入掃描。 5 【先前技術】 發明背景 傳統的掃描器利用光源來照射原始物件之—部份 線 透鏡或透鏡陣列將反射自原始物件或穿透原始物件<光 重新導向以便將掃描線之影像投射至一感光元件陣列上。 各個感光元件會產出一與落在該元件上之光線強度相關的 電波信號，而落在該元件上之光線強度則又與原始物件之 10 15 對應部分的反射係數、透射比或濃度相關^這些電波信號 被讀取並給予數值。掃描機制通常會掃射原始物件之掃插 線，以便讀取連續之掃描線。藉由使數值與被掃描之物件 上的對應位置結合，可以使被掃描之物件構成數位呈現。 當該數位呈現被讀取並適當詮釋時，被掃描之物件的影像 就可以再現。 第1圖為一透視圖，例示一使用接觸影像感測器之掃描 器的影像部分。大部分的支樓結構、光線遮蔽和掃播機制 20被省略以求圖示清晰。一接觸影像感測器（CIS)使用一梯度 折射率(GRIN)桿狀透鏡陣列1〇1，該梯度折射率桿狀透鏡陣 列位於一平臺102和一分段之感測器片段陣列1〇3之間，該 感測器片段陣列被置於一印刷電路板1〇4上。該感測器片段 1〇3包含感光元件^ —光源1〇5提供掃描反射原始物件所需 1318532 之光線。該感光元件所產生之電波信號可以絰由電纜106傳 輸至其他電子元件（圖中未示）。各該感測器片段103有時可 以稱之為印模。 第2圖為第1圖所示之CIS組合被用以掃描一反射原始 5物件時的橫斷面圖。該光源105散發光線201以照射原始物 件202。部分光線從該原始物件反射回來並被該gRIN透鏡 ιοί擷取。該grin透鏡將光線重新聚焦於該感光元件1〇3之 上以使該原始物件202形成一影像。雖然所顯示的是包含兩 排交錯列之GRIN透鏡陣列，該透鏡亦可以單排、三排或其 10 他組合作成。 各該感光片段被進一步切割成像素。像素一辭可指該 感測器片段103之可單獨定址之感光元件，或在該部位上被 做成影像之該原始物件皿㈣舰域，或對應至一數 像之位置的各個數位數值。 15 第3圖為—特定之感測器片段103的概略平面圖，該圖 亦顯示各該感測器片段1()3所包含之單獨像素列則。為使 圖示清晰，圖中僅包含少許像素。真正的感測器片段可包 含上百或上千個單獨像素。感測器之每-線性單位所擁有 的像素量可定義掃描器之空間取樣頻率，亦即掃描器之解 析度。—般掃描器具有每英时含扇、_、1細或2400像 素之解析度，但其他解析度也是可行的。 CIS权組之光學放大倍率主要^倍，所以該感測器片 段1〇3上之該像素位⑽丨被映對至該職物件搬上之對 應像素，域縣物件搬上之像素主要與雜素位址則 20 1318532 :有相同的尺寸。第4圖例示一被投射至該原始物件2〇2之 多重二段感測器陣列中之3個感測器片段的像素。理想地， 該片段之若干像素重疊。換句話說，如果對應該片段之長 5的方向，x,定義像素之列，而其橫切方向，Y，橫切該 象素位址之攔’那麼一片段之末端像素或像素群就可能與 另片旱又之末端像素群位在同一攔内。舉例來說，片段402 的像素411大體上與片段4()1中的像素位在同—棚内。 圖不中之X方向有時亦稱為主要掃描方向，而γ方向有 時亦稱為次要掃描方向。 知·1¾時片'^又組在箭頭404所指之次要掃描方向上移 動像素第一次會位在第4圖中以實線表示之位置上並被讀 取。隨後’像素會以對應於連續之掃描線的方式落入以虛 、’复表示之位置上並被讀取。在—後來的特定時點上，該像 豪411所璜取之該原始物件2〇2的位置會與該像素41〇在之 月】所。貝取的位置大致相同。當掃描器或主機從該片段將資 料重組為該原始物件2〇2之最終數位呈現，它可選擇使用來 自該像素41G之較早的讀數或來自該像素411之㈣的讀數 來呈現該特定之原始位置。這是藉由從在不同時間和地點 掃描之片段來組成—完整之最終影像的方法之簡單的範 2〇例。此一方法有時亦稱為再取樣或縫合。 在第4圖所示之理想化範例中，該感測器片段1〇3被完 美地平行配置，以精準之像素的距離重叠並以精準之3 個像素的距離在γ方向上偏移。然而在實際的掃描器中，此 —準破度通常無。像素之位置_度主要由該感測 1318532 器片段103在該電路板l〇4上之定位準確度來決定。各個片 段皆可能脫離其X方向或Y方向之理想位置，或以與其理想 之對準不平行之方式被配置。這些錯誤可能以任何組合式 發生。 σ工 弗5圖為該感測器片段103之誤移的誇張範例„合1固片 段5〇1、502、503皆被錯放於與其標稱位置不同的位置上。 可能的結果之-是，像素510、511以大約5條掃描線，而非 其標稱之3條掃描線之距離被錯放在γ方向。如果縫合構件 10 15 認定它應該使該片段502之像素與先前巳掃描過3條掃描線 之該片段5〇1的像素配對，則該片段5〇1、5〇2所掃描過之影 像部分之間的範圍可能產生-“縫合假象，，。該片段5〇2、加 在X方向以多於其標稱之丨個像素的距離重疊，而類似的縫 合假象可能因而發生。舉例來說，縫合假象可能使該原妒 财之平滑㈣在產丨之_料中變得支 或呈鋸齒狀。 ^ 過去’as模組製造商力圖藉由控制該感測器片段⑽ 板1〇4之放置以使其盡可能地精準之方式來避免 这:縫合假象。由於涉及之幾何非常微小，並不—定能夠 可罪地以足夠低微的錯誤來配置該等片段。傳統上，配置 :一’進—率並增加可接 的解==惡化的趨勢，因為掃描器具有越來越高 ，解析度舉例錢，最誤差為丨個像素 母英吋具__像素讀析度 ' 祕樣 田盎而δ，相當於大約 20 1318532 84微米之配置公差。但是同樣之1個像素規格對於每英吋具 有2400個像素之解析度的掃描器而言，則相當於僅為10微 米的配置公差。 與本申請案具有共同受讓人之申請中的美國專利申請 5 案09/365，112描述一種補償手提式掃描器之印模配置公差 的方法，其中該掃描器包含位置感測器和一位置修正系 統。然而*該申請案只提及一特定的補償方法，而沒有包 含定義片段之對準誤差特性的方法。 我們也許可以利用度量衡儀器來定義印模配置誤差之 10 特性，但這需要相當多的時間與花費，而且會增加資料追 蹤系統在連結量測資料與各個CIS模組時的複雜度。 為使掃描影像之縫合誤差降至最低，有必要設計出一 種價錢低廉且方便之方法以在掃描器光學模組中定義感測 器片段之配置誤差的特性。 15 【發明内容】 發明簡述 本申請案所揭露之標的為用以測量在掃描器感測器總 成中組裝及對準誤差之標靶、方法及裝置。該感測器總成 包含至少兩個感測器片段。該標靶包含由反射係數之變化 20 定義成的邊緣。至少有1個垂直邊緣會對應至各該感測器片 段，而且只能被其對應之片段檢測出來，即使該等片段之 對準誤差已達其配置公差之最大極限。該標靶可選擇性地 包含一橫跨該感測器片段之水平邊緣。該標靶被掃描，且 產出之數位影像被分析，以檢測標靶邊緣之明顯位置。該 1318532 明顯之邊緣位置提供充足的資訊以確定該感測器片段之位 置。該標靶可選擇性地被納入一掃描器，或分離之對準夾 具中。分析動作可以在一掃描器、夾具或連接至一掃描器 或夾具之主機中執行。 5 圖式簡單說明 第1圖為一透視圖，例示一使用接觸影像感測器之掃描 器的影像部分。 第2圖為第1圖所示之CIS組合被用以掃描一反射原始 物件時的橫斷面圖。 10 第3圖為一特定之感測器片段的概略平面圖。 第4圖例示被投射至原始物件之3個感測器片段的像 素。 第5圖為感測器片段之誤移的誇張範例。 第6圖例示一包含對比記號之示範掃描標靶。 15 第7圖例示插值法。 第8圖例示一替代性的示範掃描標靶。 第9圖例示一範例結合標靶901，該標靶可用以量測感 測器片段在X和Y方向上的位置，以及該等片段之角度向 位。 20 【實施方式】 較佳實施例詳述 第6圖例示一包含對比記號602、603、604之示範掃描 標靶6(H。在此一示範實施例中，該標靶之背景呈白色而各 該對比記號則呈黑色，不過其他的顏色或反射係數組合也 10 1318532 是可行的。重疊於第6圖上的還有可以以該感測器片段 501、502、503掃描之像素位址。該記號6〇2、603、604被 一白色區域環繞，該區域之範圍大至足以使掃描機制得以 可靠地將該感測器片段501、502、503完全置放於該白色區 5 域之内’即使該感測器片段5(H、502、503脫離其標稱位置 之程度已達其允許之配置公差的最大極限。由於該感測器 片段501、502、503之對準誤差在第6圖中被誇大顯示，該 標靶601可能大於其實際所需的尺寸。 各該記號602、603、604具有至少1個操作垂直邊緣。 10在此一範例中’邊緣605被選作為該記號602之操作垂直邊 緣，邊緣606被選作為該記號603之操作垂直邊緣，而邊緣 607則被選作為s亥記號604之操作垂直邊緣。圖中所示之該 荨記號具有其他垂直邊緣，而此一選擇可以隨心所欲，只 要該等邊緣之X方向位置對最終掃描影像所需之像素配置 15準確度而言為已知者即可。該標輕601可以以高準確度印刷 方式組裝於一安定材料上’也可以固定於一典型掃抬器之 平臺下。選擇性地，該記號602、603、604可以被打印於掃 描器外蓋之一部份上。 各該感測器片段具有至少1個記號。該等記號以較佳方 20 式配置，以使各該片段之標稱中心得以在所有的零件皆處 於其標稱位置時，掃描其對應之記號。無論如何，該等★己 喊之配置被设§十成’各該S己说只能被其對應之感測器片p 掃描，即使該等片段脫離其標稱位置之程度已達其允許之 公差的最大極限。 1318532 在量測步驟中，該標靶601被掃描。此一步驟在第6圖 中係以虛線顯示該感測器片段5(H、502、503之相對於該標 靶601的連續位置。比方說，在某一特定時點上，該片段502 會位於其以實線表示之位置上。之後，當掃描機制移動⑽ 5像素，該片段502會落入位置502A。再後來，該片段5〇2會 位在位置5〇2B處。在每一個位置上，該感測器片段5〇2所見 之影像會被讀取並轉成數位呈現。舉例來說，對一台可以 呈現2 5 6階之像素亮度且以高數值代表高像素之掃描器而 言，該片段502之該8個感光元件或像素在該片段之首次顯 10現的位置上所讀取的數位影像可能包含8組數位數值，如： 240 241 240 239 241 240 240 239 其中’最左邊的數值對應至像素511。 該片段502在連續位置502A、502B上所讀取的資料可 能近似。然而，當該片段502遇到該記號6〇3時，該片段之 15若干像素會讀取較深之該記號603，繼而產生較低的數位數 值。舉例來說，該片段502在掃描該記號603時所產生的8組 數值可能為： 238 241 211 53 19 120 241 237 其中’最左邊的數值再次對應至像素511。 20 該邊緣6〇6為隨意選出的操作垂直邊緣，用以確定該感 測器片段502之位置。藉由檢查該記號603在掃描後所產出 的資料數值，可以確定該邊緣606在X方向上相對於該片段 502的位置。一個簡易的方法是將邊緣位置歸屬於該片段 502之第1像素，其亮度讀數在該掃描器之全幅讀數的一半 12 1318532 之下。在上述數位數值示範組中，於第6圖中以像素6⑽表 示之第4像素的數值為53 *該數值在此一示範掃描器之全幅 數值256的一半之下。在此一簡單的示範方法_，可以確定 該邊緣606落在像素608，即該片段5〇2之第4像素處。 5 由於該邊緣606之位置已知，該片段502之長度已知， 且該邊緣606與該片段502之間的關係也是已知，我們現在 可以知道該掃描器平臺102的哪些部分即將被該片段5〇2掃 描。其餘的感測器片段也可以類似方式定義其特性。 由於我們隨即知道該掃描器平臺102的哪些部分即將 1〇被各該感測器片段掃描，我們可以決定哪一個感測器片段 像素將掃描該平臺102的任一特定部分，即使該感測器片段 在該印刷電路板1〇4上的配置可能在χ方向上出現大幅的位 置誤差。此一特性定義對藉由後續的影像處理來補償該位 置誤差來說是不可或缺的。 更精準之估算該感測器片段502位置的方法是在該感 測器像素所讀取之數位數值之間作插值。在上述範例中， δ亥片段502之第3像素所讀取之數位數值為211，而其第4像 素(像素608)所讀取之數位數值則為53。透過在這些像素之 間作插值，可以為該感測器片段5〇2之位置取得更精確的估 2〇算，其中該像素所讀取之數位數值將是128(全幅讀數256的 —半）’使該操作垂直邊緣606之位置的估算更為精確。 第7圖例示該插值法。像素位置ρ可以以下列關係式計 算出來： — 3 _ 128 — 211 4-3 ~ 53-211 13 I318532 從此—關係式中，我們可以算出p為3.52。換言之，該 操作垂直邊緣606對準該感測器片段502上一大約離左侧末 % .52像素之點。即使最終的影像處理沒有把資料放在分 s 數像素位置上，對該感測器片段之配置具有更精準的掌握 可以減少該感測器片段之間之不必要的誤差累積。 該掃描器可利用，比方說，微處理器、主機或其組合 來執行任何計算和影像處理。 可使用一類似的技術來定義該感測器片段在γ方向上 的位置以及該片段之角度位置。第8圖例示一可以用來定義 該感測器片段在\和¥方向上之位置的替代性示範掃描標 靶8〇1。該標靶801包含記號802。該記號802具有一操作水 平邊緣803，以及疊置之記號804、805、806，該等疊置之 5己號分別具有操作垂直邊緣807、808、809。該水平邊緣803 了以被視為被該等記號8〇4、8〇5、806中斷。疊置於該標把 15 801上者還有一組被該感測器片段502於掃描中橫跨之位 置。如前所述，該片段502之位置可以在χ方向上，藉由檢 視該片段502在橫跨該記號8〇5時所掃描之連續像素被測 出。欲量測該片段在Υ方向上的位置時，同—谭素之連續讀 數會在該片段橫跨該水平邊緣8〇3時被檢視。舉例來說，該 2〇片段5〇2之左側邊緣的位置可以透過檢視該像素川之連續 讀數被定義。該位置可以被紀錄成該像素511所讀出之數位 數值少於全幅讀數(對範掃㈣而言為娜之_半的掃描 機制位置。選擇性地，該掃描器或主機可以使用如上所述 之插值法來估算Υ方向上的分數位置。 14 1318532 類似地，像素810，即該感測器片段502之最右側像素 的Y方向位置可以被定義成該像素81G橫跨該水平邊緣803 之掃描機制位置。一旦兩端的像素在γ方向上的位置被確 立，該感測器片段的γ方向位置即為已知，使該片段之角度 5位置可從該兩侧像素在Y方向上之位置差異被確認。 舉例來說，假設該水平邊緣803之位置為γ〇，該垂直邊 緣808之位置為XN ’ P為該邊緣808被測得之該片段502中的 像素數目，Y1為該感測器陣列必須從一.參考位置移動以便 以該像素511檢測該水平邊緣803之距離，而Y2為該感測器 10陣列必須從該參考位置移動以便以該像素⑽檢測該水平 邊緣803之距離。在此一範例中，距離係以掃描器像素量測 的，雖然其他單位也可以使用。該片段502之位置可以藉由 確定位在兩端之該像素511、810在X和Y方向上的位置，或 藉由確定該片段502在X和γ方向上之—特定的點並指明該 15片段之相對於該水平邊緣803的坡度，被完整定義。 雖然該標靶之製造精準，灰塵、污物或其他物質可能 影響確立邊緣的結果。這些不受歡迎的結果可以透過各種 統計技術來加以避免。比方說，該感測器可以在幾個位置 上量測該垂直邊緣808的位置，剔除高低讀數，再取其餘讀 2〇數之平均值。其他的統計方法對熟習此項記憶之人士而言 為顯而易見的。

Yl、Y2和p代表該感測器片段所看到的明顯標乾邊緣 位置。由於該標靶打造精準，任何脫離標稱之標靶位置的 誤差都會被歸咎於該感測器片段中的位置誤差。該感測器 15 318532 片段的位置係從該明顯標靶邊緣位置計算而成的。 比方說，如第8圖所示： 像素511之X位置為（xn —p) 像素511之Y位置為γ〇 —γι 5 像素81〇之X位置為XN + (該片段502中之像素數目—

1) - P 像素810之Y位置為Y0-Y2 在此一範例中，我們假設該片段502與該水平邊緣803 呈足夠程度之幾乎平行的關係，以便忽略X方向上的節略。 10為了加入節略的效果，每一個X方向上之與XN之間的誤差 將需要乘以cos(arctan((Y2-Yl)/(該片段502中之像素數 目）)）。 其他感測器片段之位置可以以類似的方法決定之。第9 圖例示組合標靶之替代性的示範實施例。由於該邊緣803之 I5 中斷’該邊緣803可被視為由數個位在同一直線上邊緣片段 組成的。 熟習此項技藝之人士可以對實現本發明之該標靶、掃 描器和方法作各種變化，隨附之申請專利範圍應被詮釋為 包含此等變化。比方說，雖然該標靶被描述成具有黑色的 20 記號和白色的背景609、811 ’其他的組合也可被用來提供 該水平和垂直邊緣。標靶可以在黑色背景上具有白色記 號’或使用其他顏色或反射係數的組合。 上述之各該感測器片段具有單排感光像素。有些感測 器包含多排像素，各排分別對不同組的光線波長產生感 16 1318532 光。通常’波長靈敏度是透過將過濾器置放於該排來完成 的。此種感測器可以用來辨識原始物件之顏色資訊，除了 反射係數、透射比或濃度資訊外。雖然為求解釋方便，本 申請案使用單排感測器，熟習此項技藝之人士應該明白 本發明可以用多排感測器來實作。各排之位置的量測可乂 單獨為之，或量測其中一排再根據他排之標稱相對位置來 計算他排的位置。 上述之該CIS模組採用交錯排列之感測器片段。亦即 交替之片段被錯置於Y方向，並重疊於X方向。有些CIS模 10組緊鄰該感測器片段，形成一單長排之感光像素。非交伊 排列之CIS也會受到位置誤差的影響，熟習此項技藝之人^ 應該明白’本發明也可以非交錯排列之CIS實作。 熟習此項技藝之人士應該明白，本發明可以藉由將一 標靶置於一掃描器中，或將一標靶置於一分離定義夾具中 15來完成。在第1種情況下，該標靶可置於該掃描器平臺下 方，原始物件所涵蓋之區域外的範圍。該掃描器可定期掃 描該標靶，並執行必要的計算以辨識該感測器片段的位 置。計算工作亦可在一連接至該掃描器之主機中進行。在 第2種形況下，該標靶可以是製造該掃描器時所用之分離定 20義夾具的一部份。該掃描器之影像部分可以置於該夾具中 並用以掃描標靶。連接至該夾具之電腦可以分析產出的數 位影像以辨識該感測器片段之配置。配置資訊可以儲存於 該掃描器之影像部分，比方說，承載該感測器片段103之該 電路板104上的非揮發性記憶體。如此，則該掃描器影像部 17 1318532 分與其配置資訊會方便地互。 _ 訊可以透過其他媒介，如電 ^冲值^地，該配置資 兮篇》 電子"面，被傳輸至該掃描器或 :=r便獲知該感_段之位置嗔後 以上提供之本發明的敘述係為例示說明^。它 10 15 =rr拿來當作將本發明限制於所揭示之特定 ^的基礎，其他的修飾及變化在以上教示的範圍内都是 可仃的。比方說’本發明之掃描器可以彻穿透原始物件 之光線來掃描料性原始物件4謂包含之實施例的選 擇和描述是為了㈣佳方式_本判之原料其實際應 用，以使熟習此項技藝之人士可以最佳方式，實施本發明 之各種符合本中請案所提出之特定用法的實施例與修飾。 隨附之巾請專利範圍應被視為包含本發明之除了習知技藝 所涵蓋的其他替代實施例。 【圖式簡單說明】 第1圖為一透視圖，例示一使用接觸影像感測器之掃描 器的影像部分。 田 第2圖為第1圖所示之CIS組合被用以掃描—反射原妒 物件時的橫斷面圖。 1 第3圖為一特定之感測器片段的概略平面圖。 第4圖例示被投射至原始物件之3個感測器片段的像 素0 第5圖為感測器片段之誤移的誇張範例。 第6圖例示一包含對比記號之示範掃描標把。 1318532 第7圖例示插值法。 第8圖例示一替代性的示範掃描標靶。 第9圖例示一範例結合標靶9〇1，該標靶可用以量測感 測器片段在X和Y方向上的位置，以及該等片段之角度向 5 位。 【圖式之主要元件代表符號表】 101…梯度折射率桿狀透鏡陣列 502A、502B…位置 102…平臺 103·..感測器片段陣列 1〇4…印刷電路板 105…光源 106…電纜 201…光線 202…原始物件 301…像素列 401、402、501、502、503... 片段 410、411、510、511、608、 810…像素 404…箭頭 601…示範掃描標把 602、603、604…對比記號 605、606、607…邊緣 609、811…背景 801..·掃描標把 802、804、805、806".記號 803…操作水平邊緣 8〇7、808'809…操作垂直邊緣 9〇1···範例結合標靶 p…像素位置 X…主要掃描方向 Y···次要掃描方向

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Claims (1)

13哪 17833號專利申請案申請專利範圍修正本 修正曰期：98年06月 拾、申請專利範圍：

1. 一種用以測量在多段感測器總成中組裝及對準誤差之 標乾，該標把包含： a) —背景； 5 b)至少二個與該背景成對比之記號，各記號被定位 以致於各記號只能由該多段感測器總成中之一個片段 檢測；以及 c)位於各記號上之一操作垂直邊緣。 2. 如申請專利範圍第1項之標靶，其中，該操作垂直邊緣 10 之定位的準確度至少相當於待測量之片段位置誤差的 強度。 3. —種用以測量在多段感測器總成中組裝及對準誤差之 標把，該標把包含： a) —背景；以及 15 b) —組藉由與該背景成對比之區域所定義的邊 緣，該等邊緣包含： i.至少一個水平邊緣，該邊緣實質上以平行於 一主要掃描方向之方式橫跨該感測器總成所將掃描之 區域；以及 20 ii.至少·一個垂直邊緣以供各感測器總成片段使 用，各垂直邊緣大致與該主要掃描方向垂直，並且該各 垂直邊緣被定位成該各垂直邊緣僅可藉由一個感測器 總成片段檢測。 4. 如申請專利範圍第3項之標靶，其中，該水平邊緣包含 20 1318532 至少兩個實質共線的片段。 5 · —種用以測量在多段感測器總成中級裝及對準誤差之 方法，該方法包含下列步驟： a) 使用一多段感測總成以掃描—標乾，該標把包 5 含至少一個操作垂直邊緣以供各感測器片段使用，該等 操作垂直邊緣係被定位以致於各邊緣僅可藉由一個感 測器片段檢測； b) 製作該標靶之數位影像； c) 分析該數位影像以檢測該等標乾邊緣之明顯位 10 置；以及 d) 從該等明顯標靶邊緣位置計算該等感測器片段 之位置。 6.如申請專利範圍第5項之方法，其中，分析該數位影像 以檢測該等標靶邊緣之明顯位置的步驟進一步包含檢 15 測一操作水平邊緣。 7·如申請專利翻第6項之方法，其中，檢測—操作水平 邊緣包含檢測至少兩個實質共線的水平邊緣片段。 8_如申請專利第5項之方法，進—步包含將該等感測 器片段之位置儲存於一掃描器影像部分之中的步驟。 20 9. 一種掃描器，包含： a) —多段感測器總成； 、b) -標心該縣包含至少_個操作垂直邊緣以供 各感測器片段使用，該等操作垂直邊緣係被定位以致於 各邊緣僅可藉由-個感測器片段檢測；以及 21 1318532 C) 一微處理器，該微處理器被程式化以執行下列方 法： i. 掃描該標靶； ii. 製作該標靶之數位影像； 5 iii.分析該數位影像以檢測該標靶邊緣之明顯位 置；以及 iv.從該等明顯標靶邊緣位置計算該等感測器片 段之位置。 10. —種用以特徵化一多段感測器總成之夾具(fixture)，包 10 含： a) —標乾，該標靶包含至少一個操作垂直邊緣以供 各感測器片段使用，該等操作垂直邊緣係被定位以致於 各邊緣僅可藉由一個感測器片段檢測；以及 b) —電腦，該電腦被程式化以執行下列方法： 15 i.掃描該標把； ii.製作該標靶之數位影像； i i i.分析該數位影像以檢測該標靶邊緣之明顯位 置；以及 iv.從該等明顯標靶邊緣位置計算該等感測器片 20 段之位置。 11. 如申請專利範圍第1〇項之夾具，其中該方法進一步包含 將該等感測器片段之位置儲存於一掃描器影像部分之 中的步驟。 12. —種掃描系統，包含： 22 1318532 a) —掃描器，該掃描器包含： i. 一多段感測器總成；以及 ii. 一標靶，該標靶包含至少一個操作垂直邊緣 以供各感測器片段使用，該等操作垂直邊緣係被定位以 5 致於各邊緣僅可藉由一個感測器片段檢測；以及 b) —電腦； 該系統被程式化以執行下列方法： i. 掃描該標靶； ii. 製作該標靶之數位影像； 10 iii.分析該數位影像以檢測該標靶邊緣之明顯位 置；以及 iv.從該等明顯標靶邊緣位置計算該等感測器片 段之位置。 13.—種掃描器，包含： 15 a) —多段感測器總成； b) —標靶，該標靶包含至少一個操作垂直邊緣以供 該多段感測器總成之各片段使用，各操作垂直邊緣僅可 藉由一個感測器片段檢測； c) 用以使用該多段感測器總成掃描該標靶並製作 20 數位影像的部件； d) 用以分析該數位影像以檢測該等標靶邊緣之明 顯位置的部件；以及 e) 用以從該等標靶邊緣之明顯位置計算該等感測 器片段之位置的部件。 23 1318532 14.如申請專利範圍第13項之掃描器，其中，該標靶進一步 包含一操作水平邊緣。

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