TWI308333B - Memory device with pre-fetch circuit and pre-fetch method - Google Patents

Memory device with pre-fetch circuit and pre-fetch method Download PDF

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TWI308333B
TWI308333B TW094129629A TW94129629A TWI308333B TW I308333 B TWI308333 B TW I308333B TW 094129629 A TW094129629 A TW 094129629A TW 94129629 A TW94129629 A TW 94129629A TW I308333 B TWI308333 B TW I308333B
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Description

1308333
五、發明說明(1) 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於_ circuit)的記憶體裝置 及s己憶體更新率的記憶 【先前技術】 種具有預取電路(pre-fetch ’特別是有關於一種降低電流損 體裝置及預取方法。 耗 Μ習=態:機存取記憶體⑻議1。Ra — “-eSS Memory,DRAM)裝置包冬每夕―& — 右砵少妇tm ^ 3弄多圮憶方塊,每一記憶方塊具 ,° ^ ^ 以儲存資料。記憶胞可能以陣列方式排 列而成。同一列的記憶胞耦接至同一字元線(w〇rdiine), _而同一行的記憶胞耦接至同一位元線組(bitUne Mh)。 位元線組具有二條資料線,其中一條資料線用以傳送位元 育料,而另一條資料線用以傳輪反相的位元資料。透過字 凡線及位元線組便可讀寫每一記憶胞。 . 當§己憶體執行讀取動作時,需先選擇一字元線,並且 -透過一位元線組讀取該字元線所對應之記憶胞的資料。該 .位元線組耦接一第一偵測放大器。該第一偵測放大器用= 偵測該位元線組間的電壓差,並放大所偵測到的電犀差。 接著再利用第二偵測放大器’放大第一偵測放大器二輸出 ⑩信號,並將被放大兩次的資料輸出予一輸出線,例如^叫 输入/輪出匯流排(i n p u t / 〇 u t p u t b u s )。而在記憶體執行 寫入動作時’其步驟恰好與執行讀取動作的步驟颠倒。在 上述的結構之下,一次的資料存取所能讀出的資料量往往 受限於第二偵測放大器的數量。 除了讀取及寫入動作之外,DRAM裝置藉由週期性地選
0492-A40515TWF(N2);93-023;JOANNE.ptd 第 6 頁 1308333
取字元線以維持記憶胞内的資料。然而,由於在相同記憶 ^塊中的字元線係使用相同的第一偵測放大器,故在同一 %間内,同一記憶區塊中,只能有一個字元線被選取。舉 例而言,在執行讀取動作時,若一記憶區塊中的第一字元 、線被選取% ’則無法選取同一記憶區塊中的第二字元線, 以維持其所對應的記憶胞的資料。因此,必須在第一字元 線為禁選取狀態時,才能對第二字元線進行更新 ref resh)。然後,再次選取第一字元線,以繼續讀取動 作。故若欲維持記憶胞中的資料時,則必須週期性地進行 .更新的動作,因而造成同一字元線不斷地被選取、禁選 取。當字元線不斷地被選取、禁選取時,則造成電流的損 耗’。亚且會增加鄰近記憶胞的漏電流,並影響鄰近記憶胞 • !喿作口而將驾知的控制方式應用在低功率記憶裝置。 • 一般可在第二偵測放大器之後設置一缓衡器,以預先 •擷取(pre-fetch)資料,使得資料的輸入及輪出的速度變 •快。因而形成所謂的兩階、四階、或是更高階數之預擷取 電路(re, f^etch circuit)。然而,不論任何預擷取電路的 尺寸i單子元線為讀取或寫入操作時,該字元線仍會 被重覆地選取或禁選取,使用以對其它字元線進行更新的 動作。. 〇π因此,需要在記憶裝置進行讀取或寫入操作時,降低 單一字元線被重覆地選取或禁選取的次數,可節 並降低漏電流。 【發明内容】
1308333 五、發明說明(3) 本發明提供―種記 器、放大器群纽、、 〇 f 包括弟一記憶區塊、選擇 記憶胞以及複數列^ ϋ衝态。第一記憶區塊具有複數行 以選取列記憶跑中1遠擇态耦接第一記憶區塊,用 憶區塊,用以從胞二放大器群_第-記 至少-資料寫入該:;二’躓取至少-資料、或是將 幸馬接至放大器群組,並;二問鎖群組當作緩衝器, 胞的資料。 有足夠的能力以維持住該列記憶 本發明提供一種資料讀取 η二先,選取列記憶胞中二;r記憶區 在一早一刼作時’將儲存在該^憶胞.然後 .鎖群組。最後,維持該等問鎖群料傳送至1 .本發明另提供-種資料寫入方法,二: 产憶區塊。1*先,選取該等列記憶胞中之,貪料寫入一 :接:貧:。維持由該列記憶胞所讀取之資:記憶胞,用 :1入,辑送至_⑽群組中的至少二;:資料可能 後’在-次的操作下,將儲存在問鎖器。最 該列記憶胞。 ,' 、、、 的資料傳送至 為讓本發明之上述和其他目的、特徵 顯易懂’下文特舉出較佳實 ,優點能更 細說明如下: σ所附圖式,作。 【實施方式】 平 第1圖顯示本發明之記憶裳 ’ S己憶裝置1 0 0具有記憶區 置之一可能實施 塊 102-1 〜1〇2'3 例。如圖 其各自具
所示 1308333 五、發明說明(4) •有以陣列方式排列的記憶胞。第j、3圖的列記憶胞係為垂 直方向,而行s己憶胞係為水平方向。字元線用以控制列記 憶胞,而位元線用以控制行記憶胞。位元線組】〇3可耦接 至記憶區塊102-:!〜102-3的每一記憶單元。每一位元線組 1 〇 3具有二條位元線,用以提供資料予記憶胞,其中位元 線103-1與103-2所提供的資料信號互為反相。因此’在檢 測時作為差異點。舉例而言,記憶胞的極性會被存取,位 元線1〇3-1與103-2其中之—將為高電壓位準,而另一為低 ,£位準。每一位元線組丨〇 3耦接至—第一偵測放大器。 -第偵測放大器包括左側第一偵測放大器群組1 〇 4 -1以及 .右侧第偵測放大益群組1 〇 4 - 2,其分別設置在記憶區域 1 0 2 2»的左側及右側。左側第—偵測放大器群組1 〇 4 —工以及 右侧第一偵測放大器群組104_2輪流耦接位元線組1〇3。由 •閂鎖群組所構成的緩衝器耦接在左侧第一偵測放大器群組 1 〇 4 1以及右側第一偵測放大器群組1 〇 4 — 2之間。舉例而 .吕,,鎖群組106-1耦接在記憶區塊1〇2_2的左側第一偵測 ,大器群組104-1以及記憶區塊102-1的右侧第一偵測放大 2之間。同樣地,關群組iG6-2_接在記憶區 (.塊2~3的左側第一偵測放大器群組1 〇4-1以及記憶區塊 1 0 2 — 2的右侧第一偵測放大器群組1 0 4 - 2之間。 “ 左側開關群組108-1耦接在記憶區域丨〇2 —1的右側第— 器广組1〇4~2與閃鎖群組1 〇6_1之間’ *左側開關 爷、且10 8-2耦接在記憶區域丨〇2_2的左側第一偵測放大器 、、’且1 0 4 1與閂鎖群組丨〇 6 _ j之間。同樣地,右側開關群^
Ϊ308333 ^-- 五、發明說明(5) '〇 8 3轉接在記憶區域1 〇 2 — 2的;彳貞,丨笸 U4-2與問鎖群組1〇6一2之間,===二偵測放大器群組 在記憶區域1〇2-3的左侧Λ _而^ ^關群組輕接 用以控制左侧開關群組1 08-〗以及丨〇 刀換控剎偽號’ ^ 〇-2 „ ^ „ flJ ,f f, , ^ 1 ^ "J 1 1〇8-3以及1。8_4。如第1圖所示:當:二$ :開關群組 左侧開關群組1 08-2時,則可將門二,::工益U 〇- 1導通 佶、·目丨丨从丄 』」將問鎖群组1 06-1與左側第一 偵測放大器群組104-1輕接在—起;备 、左側弟 丨通右侧開關群組108 —3時,則可5門:;關控制器110-2導 —众 」將問鎖群组1 0 6 - ?盥亡你丨笸 ~偵測放大器群組1 04-2耦接在一起。 ”右側弟 每-記憶區塊具有一字元線選、擇器。# 崦取某一字元線時,則可對該字元 、、泉k擇加 -八”次寫 舉 ’字元線選擇器112-1〜u 2-3俜 刀別述取記憶區塊102-卜1〇2_3的字元 ^ ,擇器112-2係藉由選擇記憶區塊1〇2_2 ::二子: =所示),因而選擇到記憶細(如=== i t器群ί1〇4_1及1〇4 —2均•接位元線組,位元線組依 -二妾至被遙擇的字凡線11 4的記憶胞11 6。如上所述,位 :線.1及1〇3-2被設計成,在檢測時,作為差=。: :;不論鄰近未被選擇的字元線所對應的記憶胞;的資料 ^可,圮憶區塊102-2的位元線組將會提供被選擇的字元 線(如字元線U4)所對應的各個記憶胞不同的讀取。輸入 及輪出線(如局部的DQ線Local DQ Hne ;LDQ、以及主要
第10頁 1308333 五、發明說明(6) ’資料線Main Data Line ; MDL ’均顯示於第3圖中)可能透 過閂鎖群組1 0 6的其它接點而耦接到位元線組丨〇 3,用以在 記憶胞與DQ輪入輪出匯流排之間’傳輪資料 '以下將在第 3圖中’詳細說明LDQ線、MDL線、以及DQ輸入輸出匯流排 的結構及操作。 弟2圖為弟1圖中的閃鎖群組中的單—閃鎖器的·一可能 實施例。如圖所示’閂鎖器2 〇 〇具有反相器2 〇 2 _}、2 〇 2 _ 2 以及對應位元線組的接點2 0 4 - 1、2 0 4 - 2。節點2 〇 4 -1及 2 04-2對應閂鎖器20 0的每一端。接點2 04-1搞接至反相器 2 0 2 - 1的輸入端以及反相器202-2的輪出端。接點204 — 2 _ 接至反相器2 02- 1的輸出端以及反相器202-2的輸入端。舉 例而言,假設閂鎖器200對應至第1圖中的閂鎖群組】on 中的某一閃鎖器’則第2圖中的接點204-1、204-2選擇性 的轉接至右側開關群組1 〇 8 - 2、以及左侧開關群組1 〇 8 -1。 -閂鎖器2 0 0亦可應用至第1圖所示的記憶區域1 〇 2 - 2或是 Ί02-1 ° 第3圖顯示記憶裝置1 〇 〇的讀取及寫入路徑。記憶裝置 1 〇〇 具有LDQ 對302、MDL 對304、以及MOS 開關 30 6、3 0 8。雖 4然位元線組103、LDQ對3 02以及MDL對304各自具有兩條 線’其中的一條線係代表位元資料’而另一條線代表反相 的位元資料,但為了簡化圖示’故將位元線組〗〇3、LDq對 3 0 2以及M D L對3 0 4以單一條線表示,並且亦纟會製少量的閃 鎖群組1 06及第一偵測放大器1〇4。LDQ對3 0 2透過MOS開關 3 0 6而麵接至閃鎖群組。μ D L對3 0 4搞接第二偵測放大器
0492-A40515TWF(N2);93-023;JOANNE.ptd 第 11 頁 1308333 五、發明說明(7) -- 310,並透過M0S開關3 0 8而耦接至ldq對3〇2。第二偵測放 大器3 1 0耦接至DQ輸入輸出匯流排3〗2。如圖所示,㈧輸入 輪出匯流排312係由十六條線所組成,故共有十六個第二 偵測放大器31 0以及十六個MDL對3 〇 4,因此在單一操作 中,十六個閂鎖群組可將資料輸出至DQ輸入輸出匯流排 312。 在讀取操作時,記憶區塊102_2的一字元線會被選 取,因^,資料將透過左側第一偵測放大器群組 及右側第偵測放大器群組1 0 4 - 2而被讀取至閂鎖群組 _1 06-1及106-2。然後禁選取該字元線。接著儲存在閂鎖群 组106-1、1〇6-2中的部份資料會透過第二偵測放大界31〇 而輸出至DQ輸入輸出匯流排312。 為了將部份資料擷取至第二積測放大器3〇1,M〇s開關 _ 06可能會將貧料由四個閂鎖器(兩個閂鎖器丨06 —工以及兩 '個問鎖器1()6_2)中’傳輪至四個LDQ對302。而四個M0S開 -^ 308可g能接著將四個LDQ對3〇2連接至四個〇[對3〇4。可 藉由行選擇線(未顯示)來控制M〇s開關3〇6、3〇8的導通盥 否1儿對304接著將資料傳送至第二摘測放大器31〇。^ =偵測放大器310再將資料傳送至㈧輸入輪出匯流排。?。 精由一條被選取的字元線,便能將資料由四個閂鎖器中, 傳送至DQ輸入輸出匯流排312。為了讀取儲存在閂鎖°。器’ 10 6 1 1 〇 6 2中的任何部份被指定的資料,在閂鎖哭 1 〇 6 — 1、1 〇 6 - 2與D Q輸入輸出匯流排3 i 2之間的資料傳輪 序可能需不斷的重覆。由於資料首先被傳送至閂鎖器王
Ptd 0492-A40515TWF(N2);93-023;J〇ANNE. 1308333 五、發明說明(8) _ ___ 】06~]、]06-2,故若不斷她為/ 礙或尹斯讀取動作。因此本Γ的動作時,並不會妨 被操取出來時,被選取的〜負π 閂鎖态1 0 6 -1、1 0 6 - 2 鄰近的記億區德(如記憶區記憶區塊^2與 會被選取,用以執行更新動作)中的其它字兀線,將 而在寫入操作時,則县,v + ^ 操作步驟。然而,只需在=相反的順序執行上述的讀取 上,便可執行寫入操:在=區,2的預定字元線 料由記憶區塊1〇2-2傳送到門:/君在二操作時’會先將資 的預讀取操作可保證維持 取:、,且」〇6」、106-2。上述 入動作所影響。 隹持被4取的字元線上的資料不被寫 在將資料由記憶區塊1 〇 P 9搜、、,u .2後,資料會寫入至:―鎖群組1〇6-1、 ‘及右側閃鎖群組1〇6-2内;門^的左!^問鎖群組i〇h以 ,輸入輸出匯流測的=;=产3圖為例’蝴 μ〇6-2Λ^ πρ" ? 姑扣〜AA — U b 2内的六個閃鎖群組。為了寓入 重;:Η料,資料寫入閃鎖群組⑽-1、106-2的動:需 >10^1二06二的二旦被指定的資料被傳送到至問鎖群組 會被選取,用問鎖器時’記憶區塊1〇2_2的字元線 的負料。於是資料在一次的 ^ 大器心1|2,由閃鎖群更乂 = 二的字=所對應的記憶胞。在傳送資料予問鎖=被選 、1〇6-2時,閂鎖群組、1〇6_2内的部份閂鎖器
0492-A40515TWF(N2);93-023;J〇anne. ptd 第13頁 1308333 五、發明說明(9) ‘並不會接收到資料,而 組106-1、1〇6 —2 頂s買取操作時,便可讀取閂鎖群 此,本發明之優點在於刀^鎖器所重新被寫入的資料。因 在記憶區塊可允許選取相同的字元線、或是 其它字元線,用以的、記憶區塊(如記億區塊1 02-3)的 時,執行更新動作。貝;'' 被傳送至閂鎖群組10 6 — 1、106-2 弟4圖·顯示記,降p· @ n 〇。i 取週期信號400代取人週的時序圖。讀 器㈣在讀取週期時,輸出控圖用 ,區塊102-2之一字开綠敁在丨^上 甩以選取§己fe %102-2 ό^ι ^ ^ 控制仏號4 04 一開始先導通記憶區 塊?2 2的左側苐一偵測放大器1〇㈠以及右側 H04用2:控制信號406則開始控制開關控制器11 ο:1、 / w用以將左側第—偵測放大器104-1以及右侧第一偵 -測放大器104-2分別耦接至閂鎖群組以及ι〇6 —2。栌 -制信號408控制閂鎖群組106 — }以及1〇6_2,使其在讀取^ -期時,儲存資料。在時間七丨與^之間’閂鎖群組106 —工以 及W6-2將資料傳送至Dq輸入輸出匯流排312。根據被讀取 的資料的數量’資料可連續地由閂鎖群组丨〇 6 _ i以及丨〇 6 _ 2 _被讀出。當資料連續被讀出時,藉由控制信號41〇、412, 可驅動左側第一偵測放大器1 04-1以及右側第一側測放大 器104-2,並且令字元線選擇器112-2選取記憶區塊1〇2_2 中的其它字元線、或是相同的字元線,用以執行更新動 作。 弟5圖顯不§己憶區塊1 0 2 _ 2在寫入週期時的時序圖。寫
0492-A40515TWF(N2);93-023;JOANNE.pId 第14頁 1308333 五、發明說明(10) •入週期信號50 0代表窝人调i日 .^ 送至門# Μ 4 1 π e ,· ^ 為了將記憶胞中的資料傳 作可、i〇H ’如第3圖所說明的預讀取操 門1匕:在時之前而先被執行。而在時間tl到t2之 ^記憶體的新資料會由㈧輪入輸出匯流排312輸 二中巧存在閃鎖群組Li、1〇6〜2其中之一。由㈧輸入 =出匯k排312所輸出的新資料將取代閃鎖群組、 入眘2其中之一原先所儲存的資料。因此,在新資料未完 王寫入所有閃鎖群組^卜丨或丨⑽^時,問鎖群組丨⑽^或 106-2所維持的資料不會被寫入對應之記憶胞。當資料連 _續地被儲存在閃鎖群組^卜丄、1〇6_2其中之一時,字元線 選擇器112-2可選取記憶區塊102 — 2中的一字元線,用以執 行更新動作,如控制信號5 0 2、5〇4所示(在時間u到以之 =)。當閂鎖群組1〇6-1、106-2接收完所有新資料時(如在 %間1:2後)’字元選擇器112-2可以選取記憶區塊1〇2_2的 -某一字元線,用以接收資料,如控制信號5 〇 6所示。該被 -選取的字元線可能同於被更新的字元線或是其它字元線。 控制信號5 0 8開始控制開關控制器1 1 〇 _ 1、1丨〇 _ 2,用以將 左側第一偵測放大器1 〇 4 - 1以及右側第一偵測放大器1 〇 4 一 2 1#分別搞接至閂鎖群組1 06 _ 1以及1 0 6 — 2。接著控制信號5 1 0 導通記憶區域1 02-2的左侧第一偵測放大器1 〇4-1以及右側 第一偵測放大器1 〇 4 - 2。在單一操作時,資料可能由閂鎖 群組1 0 6 -1以及1 〇 6 - 2寫入至記憶區域1 〇 2 - 2的字元線。為 了選取其它字元線使其接收相同的資料,在時間12後的信 號可以重覆出現’以降低不必要的記憶體測試時間。
0492-A405l5TWF(N2);93-023;JOANNE.ptd 第15頁 1308333 五、發明說明(11) —- ________ 第6圖係為本發明之記憶^ 圖。在讀取資料時’記憶區塊°°中束、在取資料時的流程 (步驟6 0 0 )。對應第一字元線的“的也第一子元線會被選取 資料輸出至閂鎖群組(步驟6〇、記憶胞,會同時將本身的 到的資料,並依序輪出至 J。閂鎖群組維持住所接收 字元線’並選取第二字_ μ出線(步驟6 0 4 )。禁選取第一 6 0 6 )。另外,為了執行以執行更新動作(步驟 次選取。當第-及第二字元:作,第一字元線可能會被再 後,在閂鎖群組上的資 %泉所對應的記憶胞均被更 他6〇8)。 、’會被輪出至一輸出線(步驟, 弟7圖係為本發明 •圖。為了寫入資料到記5 區塊在寫入資料時的流程 選取(步驟700 )。第〜字胞’記憶區塊的第一字元線會被 至閂鎖群組(步驟7 〇 2)。元線的記憶胞内的資料會被讀取 -線所對應的記憶胞期間在連續寫入資料到被選取的字元 •字元線會被禁選取,迷 可同時更新記憶胞。因此,第— 二字元線會被選取,用且在記憶區塊中的相同字元線或第 7〇4)。當記憶胞的第二=更新所對應的記憶胞(步驟 φ更新後,資料會由一輪予几線(或也可以是第一字元線)被 閂鎖器中(步驟7 0 6 )。" |入線被傳送至閂鎖群組中的至少一 字元線會再次被選取,二字元線會被禁選取,並且第一 (步驟708 );此時第二〜用以將資料寫入相對應的記憶胞 儲存於閂鎖器旳資料备Έ元線所對應的記憶胞已被更新。 線所對應的記憶胞(步胃同步地被傳送至被選取的第—字元 夕〃 7 1 0 )。最後再禁選取第一字元線
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0492-A40515TWF(N2);93-023;JOANNE.ptd 第17頁 1308333 圖式簡單說明 ‘【圖示簡單說明】 第1圖為本發明之記憶裝置。 第2圖顯示如第1圖所示之閂鎖群組中之一閂鎖器。 第3圖係為第1圖所示之記憶裝置之另一示意圖。 第4圖係為本發明之記憶裝置之讀取時序圖。 第5圖係為本發明之記憶裝置之寫入時序圖。 第6圖係為本發明之記憶裝置之讀取流程圖。 第7圖係為本發明之記憶裝置之寫入流程圖。 【主要元件符號說明】 1 1 0 0 :記憶裝置; 102_1~102-3:記憶區塊, 1 0 3 :位元線組; 1 04-1 :左侧第一偵測放大器群組; 1 0 4-2 ··右侧第一偵測放大器群組; _ 106-1、106-2 :閂鎖群組; - 108-1、108-2 :左側開關群組; 108-3、108-4 :右側開關群組; 110-1、110-2 :開關控制器; f 112-1〜112-3 :字元線選擇器; 2 0 0 :閂鎖器; 202-1 、 202-2 :反相器; 204- 1、204-2 :接點; 302 : LDQ 對; 304 : MDL 對;
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Claims (1)

  1. ,1308333 ---案號 94129629六、申請專利範圍 1. 一種記憶裝置,包括 一第一記憶區塊以及一第 憶胞以及複數列記憶胞; 一第一選擇器,耦接該第 列記憶胞中之一列記憶胞; 複數放大器,耦接該第一記化 胞中,讀取至少-資料、或是將】:、h 1以從該列最 胞中; 肝至少—資料寫入該列§己u
    記憶區塊 記憶區塊 具有複數行言己 該等 用以選取 記憶 硬W蝨 wN ^八盗,且士 > 該等 以及 2夠的能力以維持住該列記憶胞數】::份 問編接該第-記憶區塊與該第二記憶區塊:』; 了弟二選擇器,用以選擇性選取複數開關之i數第〆開關 或是複數第二開關,使得部份該等問鎖器盘該 及第; 記憶區塊之一者相關。 /、以 2.如申请專利範圍苐1項所述之記憶裝置,其中該第 一選擇器在該列記憶胞執行一讀取操作、1或是一/寫入操作 時,僅選取該列記憶胞。 3. 如申請專利範圍第1項所述之記憶裝置,其中該等 •閂鎖器具有一第一部份及—第二部份,該第—部份用以閂 鎖該等記憶胞所對應的資料,而該第二部份所閂鎖的資料 係為該第一部份所傳送的資料的反相信號。 4. 如申請專利範圍第3項所述之記憶裝置,其中該等 閂鎖器包括一第一反相器及〆第二反相器,該第一部份應 用於該第一反相器的一輪入端以及該第二反相器的一輸出
    0492-A40515TWFl(N2);93-023;JOANNE.ptc 第2〇頁 修正 曰 1308333 _ 案號.9412%?q 六、申請專利範圍 ""反:Ϊ =部份應用於該第-反相器的-輸出端 用於該第二反相。。2,及該第—反相器的該輸 反相盗的該輸入端以及該第一部份。 放大哭ί』申ff專利範圍第1項所述之記憶裝置,另 器勺二^括稷數第—放大器及複數第二放大器, K八獲數第一問鎖器以及複數第二問鎖器;該: 別轉接該等第一閃鎖器,爾二放 問鎖器;料第_、第二放大器輪 &塊中的該等行記憶胞。 \二如申請專利範圍第1項所述之記憶裝置,其 及該等放…數量係根據該第-記憶 要t 3而。 7 · 種§己憶裝置,包括: -^ H,第一記憶區塊以及一第二記憶區塊,具有 憶胞以及複數行記憶胞; 笙石丨:ΐ —放ί器群組,耦接該等列記憶胞,用 ' 〇思胞的貝料或是寫入資料至該等列記憶胞 。。二緩衝器,㈣該第—放大器群組,具有複 : 2持該等列記憶胞中的-列記憶胞的資 。嶋:閃鎖器耦接在該第—及第二記憶區之間 放大器群組’叙接該緩衝器,用以將 衝u:或是寫入資料至該緩衝器;以及 數第-用以選取複數開關的複數第一開 數弟一開關,使得部份該等閃鎖器將該第一記憶 以及該第 出端係應 -中該等 该等閂鎖 察第一放 >別耦接 妾該記憶 •中該等 區塊的行 複數列記 以讀取該 9 數閂鎖 料,其中 讀取該緩 關或是複 區塊或該
    0492-A40515TWFl(N2);93-023;J〇ANNE.ptc
    第21胃 1308333 Θ_修正 案號9412恥妁 六、申請專利範圍 第二記憶區塊連接在—起。 8.如申請專利範圍第7項所述之記憶裝置,其中該第 一放大器群組具有複數第—及第二放大器;該等閂鎖器包 含複數第一及第二閂鎖器;該等第一閂鎖器耦接該等第一 放大器;該等第二閂鎖器耦接該等第二放大器;該等第一 及第二放大器輪流耦接該等行記憶胞。 9 ·如申請專利範圍第7項所述之記憶裝置,其中該等 閂鎖器以及該第一放大器群組内的放大器的數量對應於該 第一記憶區塊的該等行記憶胞的數量。 Φ 1 〇. —種資料讀取方法,用以從—第一記憶區域以及 '一弟一 s己憶區塊讀取資料,該第及第一記憶區域均具有 -複數列記憶胞以及一輸出線,該等列記憶胞用以儲存資 料,該資料讀取方法,包括下列少驟: 選取該等列記憶胞中的一第/列記憶胞; ' 選擇性地選取複數開關的複數第一開關或是複數第 -開關,使得一閂鎖群組的部分與該第一記憶區塊或該第 記憶區塊有關; 在—單一操作時,將儲存在該第一列記憶胞中的資料 鲁經由複數放大器傳送至該閂鎖群組;以及 維持該等閂鎖群組中的資料。 11.如申請專利範圍第1 0項所述之資料讀取方法,更 包括: 禁選取該第一列記憶胞;以及 將維持在該等閂鎖群組中的資料傳送至該輸出線
    0492-A40515TWFl(N2);93-〇23;JOANNE.ptc 第22頁 1308333 ----案號 9412%叩 _生月日______ 六、申請專利範圍 ' " ' '一~ 1 2.如申請專利範圍第1 1項所述之資料讀取方法,f 包括: 選取該等列記憶胞中之一第二列記憶胞;以及 在將該等閂鎖群組中的資料傳送至該輸出線時,更新 第二列記憶胞所對應之記憶胞。 1 3 ·如申請專利範圍第1 2項所述之資料讀取方法,其 中忒第二列記憶胞係為該第一列記憶胞。 1 4 .如申清專利範圍第1 〇項所述之資料讀取方法,其 中儲存在該第一列記憶胞中的資料係同時地被傳兮、 瞻閂鎖群組。 ^ 4 ^ 1 5. 一種資料寫入方法,用以寫入資料至一第一記情 ,塊以及一第二記憶區塊,該第一及第二記憶區塊均具有 複數列記憶胞以及—輪入線,該等列記憶胞用以儲存次 料,該資料讀取方法,包括下列步驟: 、 &、、選取該等列記憶胞中之一第一列記憶胞,用以接收該
    選擇性地選取複數開關的複數第一 開關,使得一閂鎖群組的部分與該第一 δ己憶區塊有關; 開關或是複數第二 記憶區塊或該第二 將儲存於該第—列記憶胞中的資料讀取至該閂鎖群 ⑽將該輪入線的資料傳送至該閂鎖群纽的至少一閂鎖 〇§ ?以及 操作時I儲存於該閃鎖群組中的資料經由複數
    1308333 _案號94129629_年月曰 修正_ 六、申請專利範圍 放大器寫入至該第一列記憶胞。 1 6.如申請專利範圍第1 5項所述之資料寫入方法,更 包括禁選取該第一列記憶胞。 1 7.如申請專利範圍第1 6項所述之資料寫入方法,其 中更包括: 選取該等列記憶胞中之一第二列記憶胞;以及 當該資料由該輸入線傳送至該閂鎖群組時,更新該第 二列記憶胞。 1 8.如申請專利範圍第1 7項所述之資料寫入方法,其 中該第二列記憶胞係為該第一列記憶胞。 1 9.如申請專利範圍第1 5項所述之資料寫入方法,其 •中儲存在該閂鎖群組中的該資料係同時傳送至該第一列記 憶胞。 2 0,如申請專利範圍第1 5項所述之資料寫入方法,其 -中’由記憶胞Ί買取至該閃鎖群組的部分貧料係被該問鎖器 _所儲存的資料所取代。
    0492-A40515TWF1(N2);93-023;JOANNE.pt c 第24頁
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8090374B2 (en) * 2005-12-01 2012-01-03 Quantenna Communications, Inc Wireless multimedia handset
US9922695B2 (en) 2015-03-25 2018-03-20 Intel Corporation Apparatus and method for page copying within sections of a memory
US9881659B2 (en) 2015-09-25 2018-01-30 Intel Corporation Technologies for clearing a page of memory
TWI648737B (zh) 2015-11-19 2019-01-21 鈺創科技股份有限公司 能夠快速寫入資料的記憶體電路
US9804793B2 (en) 2016-03-04 2017-10-31 Intel Corporation Techniques for a write zero operation
US10249351B2 (en) 2016-11-06 2019-04-02 Intel Corporation Memory device with flexible internal data write control circuitry
US10490239B2 (en) 2016-12-27 2019-11-26 Intel Corporation Programmable data pattern for repeated writes to memory
CN109979502B (zh) * 2017-12-27 2021-03-16 华邦电子股份有限公司 动态随机存取存储器

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04318391A (ja) * 1991-04-16 1992-11-09 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
KR0154726B1 (ko) * 1995-09-19 1998-12-01 김광호 프리페치방식의 컬럼디코더 및 이를 구비한 반도체 메모리 장치
EP0935252B1 (en) * 1996-10-28 2004-04-21 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Memory integrated circuit device with structure compatible with logic
US6014759A (en) * 1997-06-13 2000-01-11 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for transferring test data from a memory array
US5940329A (en) * 1997-12-17 1999-08-17 Silicon Aquarius, Inc. Memory architecture and systems and methods using the same
US6005818A (en) * 1998-01-20 1999-12-21 Stmicroelectronics, Inc. Dynamic random access memory device with a latching mechanism that permits hidden refresh operations
FR2776819B1 (fr) * 1998-03-26 2001-11-02 Sgs Thomson Microelectronics Dram a structure rapide
JP3248617B2 (ja) * 1998-07-14 2002-01-21 日本電気株式会社 半導体記憶装置
US6075740A (en) * 1998-10-27 2000-06-13 Monolithic System Technology, Inc. Method and apparatus for increasing the time available for refresh for 1-t SRAM compatible devices
JP2000163956A (ja) * 1998-11-24 2000-06-16 Sharp Corp 半導体記憶装置
US6198682B1 (en) * 1999-02-13 2001-03-06 Integrated Device Technology, Inc. Hierarchical dynamic memory array architecture using read amplifiers separate from bit line sense amplifiers
JP2001118395A (ja) * 1999-10-18 2001-04-27 Nec Corp 半導体記憶装置及びデータの読み出し方法
KR100372247B1 (ko) * 2000-05-22 2003-02-17 삼성전자주식회사 프리페치 동작모드를 가지는 반도체 메모리 장치 및 메인데이터 라인수를 줄이기 위한 데이터 전송방법
US6876567B2 (en) * 2001-12-21 2005-04-05 Intel Corporation Ferroelectric memory device and method of reading a ferroelectric memory
US7123542B2 (en) * 2004-12-22 2006-10-17 Infineon Technologies Ag Memory having internal column counter for compression test mode

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