TWI305360B - Sensing circuit, biosensor, and method of operating a sensing circuit - Google Patents
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Description
1305360 ⑴ 玖、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關感測電路。 【先前技術】 形式通常爲感測放大器的感測電路正被廣泛地使用。 感測放大器被認爲是隨機存取記憶體(Random Access Memory ;簡稱 R A Μ )系統的一極重要組件’而 RAM 系統的功能是對一記憶單元矩陣內的一記憶位元中儲存的 用來代表數位資訊的電壓位準提供辨識及放大。 可將該記憶單元矩陣視爲一儲存電容矩陣,且大部分 現有的感測放大器係基於對該等儲存電容中儲存的電荷之 電壓感測。任何儲存電容兩端的電壓位準對應於電容中儲 存的邏輯狀態或資訊(‘ 0 ’或‘ 1 ’)。在最簡單的感測電 路形式中,係將儲存電容兩端的電壓與一中間値比較,並 將差異放大,以便指示是邏輯狀態‘ 〇 ’或‘ 1 ’儲存在 電容中。然而,當將該資訊傳送到記憶單元時,儲存電容 中只發生小量的電荷重分配,因而記憶單元陣列的任何儲 存電容中儲存在電壓位準是非常低的。因此,感測放大器 很難區分任何記憶單元中儲存的邏輯‘ 0’及邏輯‘ Γ, 且因而必須使用極敏感的高增益放大器,但此時又伴隨著 成本的提高。 也已有人提出一種改良形式的感測電路,其中係比較 以互補形式儲存數位資訊的一對記憶單元,並利用正回授 .-4 - (2) 1305360 來放大這對記憶單元之間發生的微小電壓差。然而,因爲 該電壓差是微小的,所以仍然必須使用極敏感的高增益感 測放大器。 也已知道將 RAM 電路配置爲一鐵電記憶體,其中 係以鐵電電容構成記憶單元的傳統電容。在此種鐵電 RAM 中,邏輯狀態‘ 0 ’或 ‘ 1 ’對應於施加到鐵電電容 兩端的電壓爲零時的電容之極化狀態。 一鐵電電容的一典型特性曲線係示於圖 1。如圖 1 所示,鐵電電容具有兩個極化狀態,且亦呈現介電滞後現 象。如要將此種鐵電電容自一極化狀態切換到另一極化狀 態,則根據該電容的目前極化狀態,必須將量比一電壓 -V〇更負的一負電壓脈波或量比一電壓 Ve更正的一正電 壓脈波施加到記憶單元。因此,若要將諸如邏輯狀態 “ 1 ” 等的資訊寫到該記憶單元,則施加比電壓 -V。更負的量 Vw 之一負寫入脈波,且造成一電荷 Q,!,被儲存在該 記憶單元。係施加量比電壓 Ve更正的一正讀取脈波 VR ,並檢查記憶單元的極化狀態是否有任何切換,而執行對 記億單元的極化狀態的偵測(亦即,儲存了 一電荷 Q,^, 或Q,cr。例如,假設開始時係將邏輯狀態 ‘ 1 ’儲存在記 憶單元中。如圖 1所示,鐵電電容中儲存的電荷因而是 Q,r。施加讀取脈波 VR時,將使該鐵電電容切換極化狀 態,因而.在該讀取脈波停止之後將造成一電荷 Q,<r。電 荷 Q,;,- Q,cr的改變指示了先前在該記憶單元中儲存的 資訊是邏輯狀態‘ 1’。然而,如果開始時係將邏輯狀態 (3) 1305360 ‘ (Γ 儲存在記憶單元中,則施加正讀取脈波 VR時,將 不會使該鐵電電容改變極化狀態。因此,因爲並未發生極 化狀態的改變,所以電荷的改變是極小的,且此種現象指 示先前在該記憶單元中儲存了邏輯狀態‘ 〇 ’。 極化狀態的切換將引起電荷的流出,而一感測放大器 將偵測到電荷的流出。然而,如圖1所示,當施加讀取 脈波 Vr且發生極化狀態的改變時,該鐵電電容中之電 荷已自 Q,!,改變爲 Q,〇,;除非施加量至少比-Vc更負 的一負脈波,否則電荷不會回到 Q ^,。因此,當發生極 化狀態的改變時,開始儲存的邏輯狀態被抹除了,且失掉 了所儲存的資料,且如果後來爲了另一目的而需要該資料 ,則必須再準備該資料。因爲失掉了所儲存的邏輯狀態, 所以此種對記憶單元中的資訊之讀取被稱爲破壞性讀出。 已有人提出將電壓感測感測放大器修改成可感測自鐵 電電容流出的任何電荷,且此種電路係示於圖2之示意 圖° 一般而言,一鐵電動態 Ram記憶單元包含:一位 元線 BL,當自該記憶單元讀取資訊時,該位元線 BL 上的電壓指示了該記憶單元中儲存的邏輯狀態;以及一字 線 WL,用以將讀取信號同時施加到一列的鐵電電容,而 圖 2所不的鐵電電容 Cfe是該列電容中之一個電容。 一放大器(2 )被稱合到位元線 BL,以便回應在讀取記 憶單元_時因極化狀態的任何改變而引起的自鐵電電容流出 的任何電荷,而提供一輸出信號 o/p。提供了被連接到 該位兀線 BL的一位元線基準電容 cBL,且因鐵電電容 (4) 1305360 極化狀態的切換而引起的電荷之改變係反映爲該基準電容 CBL兩端的電壓之改變。該電壓出現在位元線 BL上, 且被放大器(2 )放大,以便提供輸出信號 o/p。 爲了提供輸出信號 Ο/P的有合理量之一擺動,必須 使基準電容 CBL的値保持得較小。此種感測技術的問題 在於:如果鐵電電容 CFE的極化有一切換,則基準電容 Cbl中儲存的電壓將降低字線 WL與位元線 BL 間之 有效電壓。因而將很難如圖1所示之方式使用一較小的 激發或讀取電壓 VR來查詢記憶單元以減少記憶單元陣 列的整體電力消耗。可減小儲存單元的尺寸,而減少基準 電容 CBL的尺寸,但是如果極化狀態的確改變了,則所 儲存的電荷也減少,因而放大器(2 )輸出端上的電壓也 降低,此即意指必須將放大器(2 )作得更敏感,以便使 輸出信號 Ο/P隨著極化狀態的改變而有足夠的改變。 此外,我們知道動態 RAM記憶單元具有記億單元 佈局所固有的且無法降低的位元線電容。當以減小記億單 元的尺寸來減小基準電容 CBL的値,以便在每一位元線 中能獲得較多的記憶單元且獲得較大的整體記憶體容量時 ,可能易於達到記憶體容量的一限制,這是因爲當與基準 電容 CBL比較時,該位元線電容變得較大,且將處於支 配的地位。因而將在讀出期間造成位元線電壓的擺動大幅 減少,因而需要使用極敏感且極高增益的放大器,才能獲 致可靠的讀取,如此又會伴隨著產生較局的成本。 (5) 1305360 【發明內容】 因此,本發明嘗試提供一種改良形式的感測電路,而 在一較佳應用中,該感測電路可增加—RAM系統的記 憶體容量,且亦可減少記憶單元及系統的電力消耗。本發 明亦嘗試提供了一種操作一感測電路的改良式方法。 根據本發明的一第一觀點,提供了一種用來感測一電 容元件中儲存的電荷之感測電路’該感測電路包含被配置 成自一電容元件接收電荷之一電荷積分電路、以及以與該 電荷積分電路串聯之方式耦合的一鑑別電路,該鑑別電路 具有被配置成自該積分電路接收一輸出信號之一第一輸入 端、以及被配置成接收一基準電壓信號之一第二輸入端。 該電荷積分電路可包含:一放大器;被耦合於該放大 器的一輸入端與一輸出端間之一回授電容,用以儲存自該 電容元件接收的電荷;被耦合到該回授電容的一端之第一 切換裝置,用以將該一端連接到一第一電源;以及被耦合 到該回授電容的另一端之第二切換裝置,用以將該另一端 連接到一另外的電源。 在一替代配置中,該鑑別電路包含一反相電路,該反 相電路被配置成:當來自該積分電路的一輸出信號之量超 過一基準値時,提供自一第—位準改變至不同於該第一位 準的一第二位準之一輸出信號。 根據本發明的一第二觀點,提供了一種操作一感測電 路之方法’該感測電路包含一電荷積分電路,該電荷積分 電路係以串聯之方式與一鑑別電路耦合,且被配置成接收 (6) 1305360 分別係用來儲存一電荷的—陣列的電容元件的一電容元件 中儲存的一電荷,該方法包含‘下列步驟··將—第—脈波信 號施加到該陣列中之該電容元件及所選擇之其他電容元件 •’將一第二脈波信號施加到該陣列中之該電容元件及所選 擇之其他電容元件;以及將第三及第四脈波信號施加到該 陣列中之所選擇之其他電容元件;其中該第一、第二、第 三、及第四脈波信號被配置成使該電容元件中儲存的電荷 被傳輸到該電荷積分電路但並不會使該等其他電容元件中 儲存的電荷被傳輸到該電荷積分電路。 本發明亦提供了一種設有根據本發明的該第一觀點的 一感測電路或根據本發明的該第二觀點的一方法而操作之 隨機存取記憶體電路、或諸如一 DNA感測器或一指紋 感測器等的一生物感測器(b i 〇 s e n s 〇 r )、或諸如一相機或 顯微鏡等的一電荷耦合裝置。 【實施方式】 請參閱圖3 ’根據本發明的—感測電路包含一積分 電路(4),該積分電路(4)係以串聯之方式與一鑑別電 路(6)耦合。積分電路(4)包含一放大器(8),該放 大器(8)具有一回授電容(10)、以及以並聯方式與該 回授電容(10 )連接之切換裝置SAS。 放大器(8 )具有可經由第一切換裝置B L S而被親 α到一鐵電R A Μ目己憶單兀(1 2 )之一第一反相輸入端 、以及被連接到接地點之一第二非反相輸入端。 -9- (7) 1305360 在所示的實施例中,鑑別電路(6 )包含一比較器’ 該比較器具有被耦合到電荷積分器(4 )的輸出端之一第 —輸入端、以及被連接到一基準電壓源 VREF之一第二 輸入端。鑑別器(6 )的輸出端係經.由一起動電路(1 4 ) 及一緩衝電路(1 6 )而耦合到一設有輸出邏輯的輸出端( 18) 〇 起動電路(14)的形式爲一邏輯“及”電路,該邏 輯“及”電路具有被連接成自鑑別器(6)接收一輸出信 號之一輸入端、以及被耦合成接收一起動信號SEN之一 第二輸入端。 RAM ( 12)包含一矩陣陣列的被配置成若干列及若干 行之記憶單元,且可沿著選擇性地連接到該陣列的記憶單 元之若干字線及位元線而施加適當的信號,而選擇性地定 址到該陣列的任何記憶單元。爲了簡化圖式,圖 3中只 示出一列的此種記憶單元。由此圖可看出,在本質上,該 陣列的每一列包含被連接到一位元線 B L的若干鐵電電 容 CFE,且由於記憶單元的固有佈局,所以該陣列的每一 列亦包含一位元線電容 C !。該列的每一記憶單元也被連 接到一各別的字線 WL。可以一種循序之方式查詢 RAM (1 2 )的每一記憶單元,以便決定每一記憶單元中儲存的 邏輯狀態,且因而在使用上’於任何時點上可將 Ram ( 12 )視爲包含一現用記憶單元(20 )、以及諸如圖3所 示該列的記憶單元中之非現用記億單元(2 2 )等的若干非 現用記憶單元。 -10 - (8) 1305360 如圖4所示’現用記憶單元(2 0 )的字線WL被 連接到一丨g號源(2 4 ) ’ is號源(24 )可供應‘‘字現用讀 取 W A R及“子現用易入” w A W信號。該等非現用記 1思單兀(2 2 )被其各別的字線連接到—信號源(2 6 ),信 號源(2 6 )可將“字非現用讀取” w〗R及“字非現用寫 入” WIW信號供應到該等非現用記憶單元(22 )的字線 〇 切換裝置BLS與RAM ( 12 )間之—節點(28 )係 經由另一切換裝置B L S而被耦合到形式爲—信號源(3 〇 )的一位元線驅動電路’係將該信號源(3 0 )用來預充電 或將資料寫到RAM ( 1 2 )的記憶單元。信號源(3 〇 )可 選擇性地將“位元非現用讀取” B I R、“位元非現用寫入” BIW、“位元現用讀取’’ BAR、及“位元現用寫入,,BAW 信號經由切換裝置 BLD而供應到該 ram的位元線 BL。 圖 3之示意圖中係將切換裝置 SAS、BLS、及 BLD示爲接觸開關,但是實際上係由諸如 MOSFET或 薄膜電晶體等的任何適用的固態切換裝置構成這些開關。 本發明之感測電路係基於將自現用記憶單元(20 )接 收的電荷積分之一運算放大器。因爲該運算放大器的輸入 端是被耦合到接地點,所以也有效地將位元線電壓箝位在 虛擬接地電壓。此種方式將鐵電電容兩端上的電壓擺動最 大化,且因而當現用記憶單元的極化有一切換時,會自現 用記憶單元(2 0 )輸出電荷。由於位元線 B L上的電壓被 -11 - (9) 13〇5360 有效地固定在虛擬接地電壓,所以位元線電容的效應降低 了,且不再處於支配的地位。因此,可將電荷積分器(4 )的回授電容(1 0 )選擇成具有極小的電容値,因而將電 荷增加到電壓轉換增益,並提供了良好的電路敏感度。 在作業中,首先該切換裝置 B L S將開啓,且該切換 裝置 BLD將閉合,而且位元現用寫入 BAW信號將自 信號源(3 0 )而被傳送到位元線 B L。在此同時,信號源 (26 )將字非現用寫入 WIW信號傳送到非現用記憶單 元(22 )的字線,且將字現用寫入 WAW信號傳送到現 用記憶單元(20 )的字線。在現用記憶單元(20 )的字線 與位元線之間施加的兩個寫入信號 BAW與 WAW的組 合之電壓量比圖1所示之電壓-Vc更負,因而係以一 電荷 Q,1,之形式將資料儲存在該現用記憶單元中,且在 信號 BAW及 WAW停止時係將零電壓施加到該現用記 億單元兩端。 一典型讀取週期的一時序圖係示於圖 4。爲了要讀 取所儲存的資料,首先將切換裝置 SAS閉合而進行放電 ,因而重定電荷積分器(4)的回授電容(1〇)。該切換 裝置 SAS保持閉合,直到圖 4所示之時間 A及圖 4 所示之長間長度 A至 B是開啓切換裝置 SAS所需之 時間長度爲止。在時間 A不久之前的時間 C上,先前 閉合而將信號源(3 0 )耦合到 RAM ( 12 )的切換裝置 B LD現在開啓了,而使該位元線自信號源(3 0 )斷開, 且現在切換裝置 BLS閉合,而將放大器(8)的第一或 -12- (10) 1305360 非反相輸入端耦合到 R a Μ ( 1 2 )的位元線 B L,且因而 耦I合到現用記億單元(2 0 )。圖 4中不出切換裝置 SAS、BLS'及 BLD的作業之這些時序。 電荷積分可自切換裝置 SAS開啓的時間 Β開始,. 且持續下去,直到切換裝置 SAS再度閉合而重定電容( 1 〇 )的時間爲止。圖 4中係以時間 D之形式示出切換 裝置 S A S的閉合時序。然而’考慮到圖 1所示的鐵電 電容 CFE的特性曲線時,必須要激發該鐵電電容,以便 決定是否有極化狀態的一切換。將信號 WAR及 BAR 施加到現用記憶單元(20),並將信號 WIR及 BIR施 加到非現用記憶單元(22 ),即可達到上述的目的。這些 信號的波形及時序亦係示於圖 4。 該 RAM實際上包含一矩陣陣列的記憶單元,且圖 3 中實際上只示出該矩陣陣列的一列。因此,當在任何 特定時點上使該陣列的一位元線及一字線成爲現用時,該 RAM將在本質上包含一現用記憶單元及三種形式的非現 用記憶單元。 在現用位元線與字線間之交越點上之記憶單元變成一 現用記億單元。一個例子是圖3所示的該列記憶單元之 現用記憶單元(2 0 )’該現用記憶單元(2 0 )是在現用字 線 WL與現用位元線 BL的交越點上。然而,該 RAM 亦包含在該現用位元線上保持非現用狀態的記憶單元’這 是因爲該等位元線的各別字線是非現用的(在一非現用位 元線與現用字線間之接越點上的非現用記億單元),例如 -13- (11) 1305360 圖 3所示之非現用記憶單元(22 )。此外,該 RAM 將包含被耦合到現用字線的非現用記億單元,這是因爲該 等記億單元的位元線是非現用的(在一現用字線與非現用 位元線間之接越點上的非現用記憶單元),例如該陣列的 另一列中被耦合到字線 WL之記憶單元(圖 3中未示 出)。此外’該 RAM將包含在一非現用字線與一非現 用位元線的交越點上之非現用記憶單元,例如該陣列的另 一列中並未被耦合到現用字線 W L 之記憶單元(圖 3 中未7Γ:出)。 對於該 RAM中在一現用位元線與一非現用字線的 交越點上之非現用記憶單元而言,例如對於圖 3所示的 該列記憶單元之非現用記憶單元(22 )而言,係將信號 BAR及 WIR分別施加到這些記憶單元的位元線及字線 〇 對於該 RAM 中在一非現用位元線與一非現用字線 的交越點上之非現用記憶單元而言,係將信號 BIR及 WIR分別施加到這些記憶單元的位元線及字線。 對於該 RAM 中在一非現用位元線與一現用字線的 交越點上之非現用記憶單元而言,係將信號 BIR 及 WAR分別施加到這些記憶單元的位元線及字線。 如圖 4所示,信號 W1R是在整個感測週期中被施 加的一固定位準之信號。信號 BIR是在電荷積分的整個 期間(亦即,在切換裝置 S A S保持開啓狀態的期間,而 在圖 4中係示爲期間 B至 D )中被施加到非現用記憶 -14 * (12) (12)l3〇S360 韋元(22 )的一脈波。在圖4所示之例子中,信號 BIR 具有大約 1 〇〇微秒的一持續時間,該持續時間係自感測 週期開始之後的大約 30微秒直到感測週期終止之前的 大約 2 0微秒。在電荷積分期間結束之前不久,即施加 該信號 BIR,且在電荷積分期間結束之後不久,即終止 該信號 BI,而在整個感測週期中,非現用記憶單元的位 元線與字線間之電壓是穩定的。如圖 4 所示,信號 BAR-WIR、BIR-WAR、及 BIR-WIR 的組合分別提供了 在整個電荷積分期間於所有非現用記憶單元的位元線與字 線間之量爲 X的一電壓’且該値 X係小於圖1所示 的電壓 v e,因而這些記憶單元在電荷積分期間 B至 D 的持續時間中都保持在非現用狀態。 信號 BAR與信號 BIR類似,也是一脈波信號, 且該脈波信號在同時且在與脈波信號 BIR被施加到非現 用記憶單元(22 )的位元線的相同持續時間中被施加到現 用記憶單元的位元線。然而,脈波信號 BAR與脈波信 號 BIR有相反的極性。因爲同時且在相同的持續時間中· 施加脈波信號 BIR及 BAR,所以此即意指:可方便地 自共同的信號源(3 0 )供應這些脈波信號,且係經由一反 相器而傳送其中一個脈波信號,以便提供相反極性的兩個 脈波信號。此種方式有助於儘量減少對該感測電路的信號 源之電路需求。 對於圖 3所示之位於一現用位元線 BL及一現用 字線 W L的交越點上之現用記憶單元(2 0 )而言’係將 (13) 1305360 脈波信號BAR自信號源(3 0 )施加到該位元線,並將 脈波信號 WAR自信號源(24 )施加到該字線。信號 BAR是在整個電荷積分期間(亦即,在至少爲切換裝置 SAS保持開啓狀態的期間,且圖4中示爲期間B至 D )被施加到現用記憶單元(2 0 )的持續時間大約爲! 〇 〇 微秒的一脈波。在圖 4所示之例子中,信號 WAR具 有大約 5 0微秒的一期間。 在切換裝置 SAS開啓之後(亦即,實際上在電荷積 分期間開始時),幾乎立即將脈波信號 WAR施加到現 用記憶單元(20 )的字線。信號脈波 WAR被配置成具 有大約 5 0微秒的一持續時間,且在切換裝置 S A S開 啓之前’信號脈波 W A R係出現在位元線 B L上。信號 脈波 WAR-BAR 的組合因而在感測週期的信號脈波 W A R之持續時間中,使圖 4所示的一電壓 Y被施加 到現用記憶單元(2 0 )。電壓 Y超過圖 1所示之電壓 Vc,且因而足以激發該現用記憶單元的鐵電電容,並使該 電容改變極化狀態。因爲幾乎係在電荷積分期間開始的同 時將信號 WAR施加到該現用記憶單元,所以可在足夠 長的一期間中激發該鐵電電容,以便確保可完成電荷的轉 移。在所示的例子中,脈波信號 WAR具有 5 0微秒的 一持續時間,因而在感測週期中留有足夠的時間將一感測 起動脈波 SEN施加到起動電路(1 4 ),且有足夠的時間 以爲下一週期準備好之方式來操作切換裝置IAS、BLS、 及 BLD。然而,我們當了解,雖然圖 4中示出某些特 (14) 1305360 定的時序及脈波持續時間,但是這些只是舉例,且可能獲 致更快速的時序’並且因而可獲致一更簡潔的感測週期。 此外,亦可使用電荷積分電路(4 )中之一較快速的放大 器及(或)具有一較快速的響應時序之一鐵電材料。 至於各脈波時序’圖4中示出感測脈波S EN係發 生在信號脈波WAR停止之後不久的一時序N。因爲極 化有一改變’所以等於圖1所示電荷Q,〇,- Q,,,的改 變的電荷Q之一淨量流進了積分電路(4)的電容(10 )中。當電荷轉移完成了,且電荷積分電路(4 )的輸出 端(32 )上之電壓V0UT已達到了 一穩定狀態之情況時 ,係由下列公式表示該電壓 VOUT: 其中 是在放大器(8 )的非反相輸入端上的輸入補償 電壓’且 Cfb是回授電容(1 〇 )的値。如前文所述,可 將 保持在虛擬接地電壓,且固有的位元線電容的値 並不處於支配的地位,因而可將回授電容(10)的値 Cfb作得非常小。因此,對於較小的 Q値而言,可在 輸出電壓 ν〇υτ中得到一較大的擺動。圖 4 中亦示出 發生在電荷積分器(4)的輸出端(32)上之電壓 V0UT 的改變。在電荷積分期間開始時,電壓 V0UT係處於虛 擬接地電壓’且自現用記憶單元(2 0 )傳送出並流入電容 (]0 )的電荷之改變使電荷積分器的輸出電壓變爲負値。 -17- (15) 1305360 電荷積分器輸出電壓_變爲負値的程度係取決於現用記憶單 元(2 0 )中儲存的是〜邏輯‘〗,或一邏輯‘ 0,。如果一 邏輯‘ 1 ’被儲存’則電壓 V 〇 υ τ變得比一邏輯1 (T被 儲存時的電壓更負’這是因爲在邏輯 Μ,的情形中現用 記憶單元的極化狀態有一改變,且因而有一較大淨量的電 荷流到電容(10)並將電容(10)充電。然而,在任何一 種情形中,在感測週期中較快速地完成電荷轉移,且如圖 4所示,輸出電壓 νουι·根據一儲存的邏輯‘(Γ 或一 邏輯‘ 1 ’而採用兩個穩態負値中之一負値。因此,可在 完成電荷轉移之後的任何時間上施加感測脈波 S EN,且 輸出電壓 V0Ut已採用這些穩態値中之一·値或另一値。 因此,亦可在信號脈波 WAR終止之前(如圖 4 中之 時序 Μ所示)施加該信號脈波,因而可使感測週期的時 間長度有一整體的縮短。在鑑別器(6 )的比較電路中將 輸出電壓 V0Ut與電壓 VREF比較,且鑑別器(6 )的 輸出端(34)上之電壓被配置成:當輸出端(32)上的電 壓超過電壓 VREF時爲 +V伏’且當輸出端(32 )上 的電壓低於電壓 VREF時爲-V伏。因此’當發生極化 狀態的一改變時,縱使針對自現用記億單元傳送的電荷 Q之較小値,也會得到在輸出端(34)上的一極正之擺 動。 輸出端(34)上的 +V電壓被傳送到形式爲一邏輯 “及”電路的起動電路(〗4 )之一輸入端。該邏輯“及” 電路的另一輸入端自電壓源 SEN接收一信號’且該信號_ (16) 1305360 的形式爲在積分期間發生的一短脈波。因此,量爲 +V 的一脈波發生在起動電路(]4 )的輸出端,且該脈波係經 由緩衝電路(]6 )而被傳送到輸出端(;ι 8 ) ^ 雖然圖 3中示出一邏輯“及”電路,但是亦可以諸 如邏輯“反或”電路及反相器的一組合等的其他電路組 態來提供邏輯“及”的功能。 自前文中的說明將可了解,縱使針對極小的 Q 値, 也會在輸出端(1 8 )上提供現用記憶單元的極性改變及現 用記憶單元的邏輯狀態改變之一極正的指示。此外,因爲 使用了基於電荷積分的一感測放大器,所以當發生極性改 變時,現用記憶單元的字線與位元線間之有效電壓並不會 降低,且因而可使用一較低的激發電壓,而可降低電力消 耗。此外,因爲位元線電壓被有效地箝位在虛擬接地電壓 ,所以當發生極性切換時,可將鐵電電容兩端上的電壓擺 動最大化,並因而將輸出電荷最大化。此外,當位元線電 壓是固定的時,減小了固有的位元線電容之效應,此即意 指:可將積分感測放大器的回授電容之値作得小許多’以 便也將電荷至電壓之轉換增益最大化。 在圖 3所示之實施例中,當發生電荷積分時,電荷 積分器(4 )的輸出電壓變爲負値’因而必須將鑑別電路 (6 )設計成可處理負輸入電壓。必須也以一負電壓之方 式提供基準電壓 VREF,因而增加了整體電路設計的複雜 性。圖 5示出電荷積分器(4 )的一替代實施例’該電 荷積分器(4 )提供了將在該電荷積分器的輸出端上提供 -19 - (17) 1305360 的一正電壓 ν〇υτ,因而確保必然會將一正電壓施加到鑑 別電路(6 )。此種方式也能夠以一正電壓之方式提供基 準電壓 VREp,而簡化了整體電路的設計。 圖5所示之電荷積分器(4 )包含放大器(8 )及回 授電容(1 〇 )。放大器(8 )係以與圖3所示實施例相 同之方式被耦合到該電路的字線及位元線。然而’在此實 施例中’並未設有重定切換裝置 S A S,而是代之以將電 容(1 0 )的每—端經由各別的預充電切換裝置 V p R E 1及 V p R e 2而耦合到適當的供應電壓源’該等供應電壓源可將 電荷積分器的輸出端及鑑別器(6 )的非反相輸入端預充 電至一正電壓。可方便地將 VpREl及 VPRE2分別輔合 到虛擬接地端及該感測電路的正供應電壓 VDD。 在作業中,當在一感測週期開始之前即先重定圖 5 所示之電荷積分器(4)時’切.換裝置 VPRE1及 VpRE2 都閉合。電容(10)的一端經由切換裝置 VPRE)而連接 到虛擬接地端,且該電容的另一端及該電荷積分器的輸出 端係被耦合到該正供應電壓 v D D。在該實施例中,輸出 電壓因而被預充電至供應電壓 VDD。 圖6示出在本實施例的一感測週期中的電荷積分器 輸出端上之電壓 ν〇υτ。當切換裝置 VPREi及 vPRE2開 啓且電荷積分週期開始時’將電容(1 0 )充電的現用記憶 單元的電荷之改變造成電荷積分器(4)的輸出電壓 V0UT之一負擺動。然而’因爲已將電壓V0UT預充電至 正供應電壓 V D D,所以輸出電壓 V Ο U T如圖 6所示 (18) 1305360 的在整個感測週期中都保持正値。本實施例被視爲特別有 $女益’這是因爲該實施例可讓感測電路單獨在正電壓信號 T作業,因而大幅簡化了整體電路的設計。 . 已參照一 RAM陣列的一單一位元線而說明了本發 明。然而’我們當了解,亦可將該積分感測放大器連接到 一組位元線,且係由一多工器電路控制對任何位元線的選 擇。因而可配合高容量的非揮發性記憶體電路而使用本發 明’並同時提供低電力消耗。因此,特別適合配合諸如膝 · 上型電腦等利用整合式電壓源來操作的可攜式輕量設備而 使用本發明。此外,亦可配合主動式或被動式矩陣鐵電 RAM而使用積分感測放大器。 _ 因爲本發明提供了極有效率的電荷至電壓轉換,所以 亦可將本發明用於諸如其中包括偵測係基於將一電荷儲存 在一電極的這類指紋感測器及 DNA感測器的生物感測 器、以及諸如 CCD相機及顯微鏡等的電荷耦合裝置等 需要感測電荷位準的極小改變之任何應用。 φ 係以舉例之方式提供前文中之說明,且熟習此項技術 者當可了解,在不脫離本發明的範圍下,可作出各種修改 。例如’在所述之實施例中,該鑑別器包含一比較器電路 。然而,亦可使用一反相器電路,此時係將反相器的輸出 配置成··當自電荷積分器電路接收一超過一基準値的輸出 柄號時’該輸出係在兩個位準之間切換。可將_該反相器的 輸出配置成:當超過該基準値時,該輸出係自一高位準切 換到一低位準,反之亦然。 -21 - (19) 1305360 【圖式簡單說明〕 前文中已參照僅供舉例的各附圖而說明了本發明’這 些附圖有: 圖 1 示出一鐵電電容的一典型特性曲線; 圖 2示出配合一鐵電記憶體而使用的一電壓感測式 感測放大器;
圖 3示出用來偵測一鐵電記憶體中儲存的資料之一 電路,且該電路設有根據本發明的一感測電路; 圖4示出根據本發明的一感測電路的作業之波形時 序圖; 圖 5不出用於圖3所示電路的一電荷積分器電路 之一替代實施例;以及 圖 6不出在一感測週期中的圖 5所示電荷積分器 之輸出電壓。
【主要元件對照表】 2,8 放大器 4 積分電路 6 鑑別電路 1 0 回授電容 12 鐵電 RA 14 起動電路 1 6 緩衝電路 記憶單元 -22 - 1305360 (20) 1 8,32,34 輸出端 20 現用記憶單元 22 非現用記憶單元 24,26,3 0 信號源 28 節點
-23 -
Claims (1)
1305360 _____ 受月日修正替換頁 拾、申請專利範圍 附件4A 第92 1 1 7456號專利申請案 中文申請專利範圍替換本: 民國97年7月21日修正 1. 一種用來感測一電容元件中儲存的電荷之感測電 路’包含被配置成自一電容元件接收電荷之一電荷積分電 路、以及以與該電荷積分電路串聯之方式耦合的一鑑別電 路’該鑑別電路具有被配置成自該積分電路接收一輸出信 號之一第一輸入端、以及被配置成接收一基準電壓信號之 一第二輸入端。 2. 如申請專利範圍第 1項之感測電路,其中該電 荷積分電路包含:一放大器;被親合於該放大器的一輸入 端與一輸出端間之一回授電容,用以儲存自該電容元件接 收的電荷;被耦合到該回授電容的一端之第_切換裝置, 用以將該一端連接到一第一供應電源;以及被耦合到該回 授電容的另一端之第二切換裝置,’用以將該另一端連接到 一另外的供應電源。 3. 如申請專利範圍第 1項之感測電路,其中該鑑 別電路包含一比較電路,該比較電路具有被配置成自該積 分電路接收該輸出信號之一第一輸入端、以及被配置成接 收該基準電壓信號之一第二輸入端。 4.如申請專利範圍第 1項之感測電路,其中該鑑 1305360 年月曰修 _^7, 7. ---J 別電路包含一反相電路,該反相電路被配置成:當來自該 積分電路的該輸出信號之量超過該基準電壓信號時,提供 自一第一位準改變至不同於該第一位準的一第二位準之一 輸出信號。 5. 如申請專利範圍第 1項之感測電路,包含一起 動電路,該起動電路被配置成:在一第一輸入端上接收來 自該鑑別電路的一輸出信號,並回應在一第二輸入端上接 收的另一信號,而提供一用來指示該電容元件上的電荷之 ~輸出信號。 6. 如申請專利範圍第 1項之感測電路,其中該電 容兀件包含一鐵電電容、一鐵電鬧極電晶體、一電荷親合 裝置、或一用來儲存電荷之電極。 7. 一種生物感測器,其中當電容元件包含一用來儲 存電荷的電極時,該生物感測器包含一根據申請專利範圍 第 1至 6項中之任一項的感測電路。 8. 如申請專利範圍第 7項之生物感測器,包含一 DNA感測器。 9. 如申請專利範圍第 7項之生物感測器,包含一 指紋感測器。 1 0 . —種操作一感測電路之方法,該感測電路包含一 電荷積分電路,該電荷積分電路係以串聯之方式與一鑑別 電路耦合,且被配置成接收分別係用來儲存電荷的一電容 元件陣列的一電容元件中儲存的一電荷,該方法包含下列 步驟:將一第一脈波信號施加到該陣列中之該電容元件及 -2- 1305360 if.;:]日妗.「L暫埯頁ϊ 191». 7^_2.L…一^一—」 所選擇之其他電容元件;將一第二脈波信號施加到該陣列 中之該電容元件及所選擇之其他電容元件;以及將第三及 第四脈波信號施加到該陣列中之所選擇之其他電容元件; 其中該第一、第二、第三、及第四脈波信號被配置成使該 電容元件中儲存的電荷被傳輸到該電荷積分電路但並不會 使該等其他電容元件中儲存的電荷被傳輸到該電荷積分電 路。 1 1.如申請專利範圍第 10項之方法,其中係自一 共同的信號源提供該第二及第三脈波信號’且係經由—反 相電路而提供其中一個信號。 12.如申請專利範圍第 10項之方法,其中該第一 脈波信號具有比該第二脈波信號短的一持續時間。 i 3 .如申請專利範圍第 1 0項之方法,其中該等電 容元件被選擇成包含鐵電電容兀件’且該第一及弟一脈波 信號被配置成使該電容元件自一第一極化狀態改變至一第 二極化狀態,以便將電荷傳送到該電荷積分電路。 14.如申請專利範圍第10項之方法,其中該電荷 積分電路被選擇成包含一放大器’該放大器具有被耦合於 該放大器的一輸入端與一輸出端間之一回授電容’且其中 提供了用來將該回授電容的一端耦合到一第一供應電源之 第一切換裝置、以及用來將該回授電容的另一端稱合到一 另外的供應電源之第二切換裝置。 1 5 .如申請專利範圍第1 4項之方法,其中該第一 供應電源被選擇成係爲虛擬接地端,且該另外的供應電源 -3- 1305360 年月曰修正替換頁 Q7. 7. 2,1..…〜」 被選擇成係爲一正供應電壓,且其中該方法包含下列步驟 :在開始一感測週期之前,先閉合該第一及第二切換裝置 ,以便將該電荷積分電路的一輸出端預充電至該正供應電 壓。 1 6 ·如申請專利範圍第1 〇項之方法,其中該鑑別 電路被選擇成包含一比較電路,該比較電路具有被配置成 自該積分電路接收一輸出信號之一第一輸入端、以及被配 置成接收一基準電壓信號之一第二輸入端。 17.如申請專利範圍第10項之方法,其中該鑑別 電路被選擇成包含一反相電路,該反相電路被配置成:當 來自該積分電路的一輸出信號之量超過一基準値時,提供 自一第一位準改變至小於該第一位準的一第二位準之一輸 出信號。 1 8 ·如申請專利範圍第丨〇項之方法,包含下列步 驟:提供第一切換裝置,用以將該電荷積分電路的一輸入 端選擇性地稱合到該電容元件。 1 9.如申請專利範圍第1 〇項之方法,包含下列步 驟:提供另外的切換裝置,用以將該第一切換裝置耦合到 一位元線驅動電路。 20.如申請專利範圍第 1〇項之方法,包含下列步 驟:將一輸出信號自該鑑別電路傳送到一起動電路的一第 一輸入端’並將一另外的信號提供到該起動電路的一第二 輸入端’因而回應該另外的信號而提供用來指示該電容元 件上的電荷之一輸出信號。 -4- 1305360 年月曰修 21.如申請專利範圍第 20項之方法,包含下列步 驟:在將電壓脈波施加到鐵電電容兩端的期間,將該另外 的信號提供到該起動電路。
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Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US7154768B2 (en) * | 2004-02-18 | 2006-12-26 | Symetrix Corporation | Non-destructive readout of ferroelectric memories |
US7110311B2 (en) * | 2004-06-15 | 2006-09-19 | Atmel Corporation | Sense amplifier for reduced sense delay in low power mode |
US7176719B2 (en) * | 2004-08-31 | 2007-02-13 | Micron Technology, Inc. | Capacitively-coupled level restore circuits for low voltage swing logic circuits |
US7221605B2 (en) * | 2004-08-31 | 2007-05-22 | Micron Technology, Inc. | Switched capacitor DRAM sense amplifier with immunity to mismatch and offsets |
US7236415B2 (en) * | 2004-09-01 | 2007-06-26 | Micron Technology, Inc. | Sample and hold memory sense amplifier |
NO324029B1 (no) * | 2004-09-23 | 2007-07-30 | Thin Film Electronics Asa | Lesemetode og deteksjonsanordning |
US20060227639A1 (en) * | 2005-03-30 | 2006-10-12 | Rico Srowik | Current sensing circuit and method of operation |
JP2007141399A (ja) * | 2005-11-21 | 2007-06-07 | Renesas Technology Corp | 半導体装置 |
JP4374549B2 (ja) * | 2005-12-20 | 2009-12-02 | セイコーエプソン株式会社 | 強誘電体メモリ装置、電子機器および強誘電体メモリ装置の駆動方法 |
EP1944763A1 (en) * | 2007-01-12 | 2008-07-16 | STMicroelectronics S.r.l. | Reading circuit and method for data storage system |
US7848166B2 (en) * | 2008-03-11 | 2010-12-07 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Circuit and method for a Vdd level memory sense amplifier |
CN102081959B (zh) * | 2009-11-26 | 2013-06-12 | 中国科学院微电子研究所 | 一种存储器读出电路以及存储器 |
KR102072407B1 (ko) * | 2013-05-03 | 2020-02-03 | 삼성전자 주식회사 | 메모리 장치 및 그 구동 방법 |
TWI569211B (zh) * | 2014-12-26 | 2017-02-01 | 義隆電子股份有限公司 | 指紋感測器的感測方法及電路 |
US9786346B2 (en) | 2015-05-20 | 2017-10-10 | Micron Technology, Inc. | Virtual ground sensing circuitry and related devices, systems, and methods for crosspoint ferroelectric memory |
US10229726B2 (en) * | 2015-06-23 | 2019-03-12 | Palo Alto Research Center Incorporated | Memory circuit for reading ferroeletric memory having gain element including feedback capacitor |
TWI588726B (zh) * | 2016-03-21 | 2017-06-21 | 財團法人工業技術研究院 | 電容感測器的讀取電路與其操作方法 |
US10090057B2 (en) * | 2017-02-23 | 2018-10-02 | Sandisk Technologies Llc | Dynamic strobe timing |
EP3724814A4 (en) * | 2017-12-11 | 2021-02-24 | Fingerprint Cards AB | FINGERPRINT DETECTION ARRANGEMENT |
US10446232B2 (en) * | 2017-12-19 | 2019-10-15 | Micron Technology, Inc. | Charge separation for memory sensing |
US10388361B1 (en) * | 2018-03-13 | 2019-08-20 | Micron Technology, Inc. | Differential amplifier schemes for sensing memory cells |
US10446220B1 (en) * | 2018-04-19 | 2019-10-15 | Micron Technology, Inc. | Sense amplifier with lower offset and increased speed |
US11133047B2 (en) | 2019-06-24 | 2021-09-28 | Micron Technology, Inc. | Digit line management for a ferroelectric memory array |
CN110619108B (zh) * | 2019-08-15 | 2021-04-30 | 北京大学 | 一种基于铁电存储器的神经网络电路及其控制方法 |
CN118038941A (zh) * | 2024-03-20 | 2024-05-14 | 北京超弦存储器研究院 | 感应放大器及其感测方法、存储装置及其数据读取方法、电子设备 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2509004B2 (ja) * | 1991-03-04 | 1996-06-19 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
US5274583A (en) * | 1992-01-02 | 1993-12-28 | National Semiconductor Corporation | Charge-integrating preamplifier for ferroelectric memory |
DE19506134B4 (de) * | 1994-03-04 | 2005-08-25 | Volkswagen Ag | Ladungsverstärker |
JPH0991970A (ja) * | 1995-09-26 | 1997-04-04 | Olympus Optical Co Ltd | 非破壊型強誘電体メモリ及びその駆動方法 |
US6351283B1 (en) * | 1995-10-03 | 2002-02-26 | Omnivision Technologies, Inc. | Charge amplifier for MOS imaging array |
US6128039A (en) * | 1999-01-11 | 2000-10-03 | Omnivision Technologies, Inc. | Column amplifier for high fixed pattern noise reduction |
KR100546102B1 (ko) * | 1999-06-30 | 2006-01-24 | 주식회사 하이닉스반도체 | 셀 누설전류 감시 회로 |
KR100335133B1 (ko) * | 2000-01-28 | 2002-05-04 | 박종섭 | 불휘발성 강유전체 메모리 장치 및 그에 따른 구동방법 |
DE10010457A1 (de) * | 2000-03-03 | 2001-09-20 | Infineon Technologies Ag | Integrierter Speicher mit Speicherzellen mit magnetoresistivem Speichereffekt |
NO312699B1 (no) * | 2000-07-07 | 2002-06-17 | Thin Film Electronics Asa | Adressering av minnematrise |
NO20004237L (no) * | 2000-08-24 | 2002-02-25 | Thin Film Electronics Asa | Integrert deteksjonsforsterker |
US6466473B2 (en) * | 2001-03-30 | 2002-10-15 | Intel Corporation | Method and apparatus for increasing signal to sneak ratio in polarizable cross-point matrix memory arrays |
US6522568B1 (en) * | 2001-07-24 | 2003-02-18 | Intel Corporation | Ferroelectric memory and method for reading the same |
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