TWI283756B - Probe contact terminal of covered lead wire in printed wiring board inspection jig - Google Patents
Probe contact terminal of covered lead wire in printed wiring board inspection jig Download PDFInfo
- Publication number
- TWI283756B TWI283756B TW91119295A TW91119295A TWI283756B TW I283756 B TWI283756 B TW I283756B TW 91119295 A TW91119295 A TW 91119295A TW 91119295 A TW91119295 A TW 91119295A TW I283756 B TWI283756 B TW I283756B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- probe
- contact terminal
- wire
- wiring board
- probe contact
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
1283756 五、發明說明（1) 【本發明所屬技術領域 本發明係有關設置 板拉出之包覆導線的探 是關於印刷電路配線板 係做為導電接觸用之探
於從印刷電路配線板檢查治具檢杳 針旁一端上的探針接觸端子，特別 上與晶片接觸用的兩端可動端子， 針接觸端子。 【習式技術】 如第三圖、第四圖所揭示 線（1 1 )的探針接觸端子是 零件（1 4 a ) 、( 1 4 b ) 線（1 1 )的探針旁的芯線（ (1 6 )上，與兩端可動探針 狀態。 ’在以往過去，此種包覆導 由附有突緣之中空針形端子. ，焊接或壓附固定在包覆導 1 3 )上所形成，在檢查板 (1 5 )保持導線相接觸的 但是這種以由附有突緣之中空針形端子零件（i 4 a 、f 1 4 b ) ’焊接或壓附固定在包覆導線（丄丄）的 ^針方的芯線（1 3 )上所形成之方式，在端子零件（ι 白a ) 、 （1 4 b )與芯線（1 3 )之間，會因為固定不 良造成傳導不良〔接觸不良〕或固定的強度不足而發生分 開中斷的情形，同時端子零件（丄4 a )、（丄4 b )的 固定作業也需要本身製作上的作業，因此造成整體成本提 高之問題。 【本發明所欲解決之課題】 本發明鑑於前述之問題，因此有以下欲解決之課題：
【解決課題之方法】 本發明之包覆導線探針接 鄰末端從一端或側面（軸的方向 學（加壓」，形成由突緣頭狀 導線探針接觸端子。 "
端子，包覆導線探針的相 或與軸垂直方向）經過沖 是扁平頭狀所構成的包覆 【發明實施形態】 第圖與第一圖為本發明6 實施形態形成狀態概略圖。,〈包覆導線探針接觸端子的 之探針旁如箭頭A所示，從二，為，在包覆導線（11 ) 成突緣頭狀探針接觸端子（鸲朝軸的方向以沖壓方式形 包覆導線（1 1 )之探針旁如f a )的狀態；後者為，在 垂直方向以沖壓方式形成扁^前頭B所示，從側面朝軸的 )的狀態。 碩狀探針接觸端子（1 2 b 1283756 五、發明說明（3) 如以上所說明的，本發明之包覆導線探針接觸端子， 是在包覆導線一端以沖壓加工所形成，因此可以以低廉價 格作業，同時該結構是由包覆導線本身所形成，因此在傳 導與強度上完全沒有問題，具有實用的經濟性效果。
第6頁 1283756 圖式簡單說明 【圖式簡單說明】 第一圖：為本發明之包覆導線探針接觸端子的一個實施形 態的形成狀態簡圖。 第二圖：為其他實施形態的形成狀態簡圖。 第三圖：為習式之探針接觸端子的一種實施形態與其使用 狀態的簡圖。 第四圖：為習式之其他實施形態簡圖。 明 說 Jgb # 符 a b 2 2 ab 4 4 6 包覆導線 探針接觸端子 探針接觸端子 芯線 端子零件 端子零件 兩端可動探針 檢查板
Claims (1)
1283756 六、申請專利範圍 1、一 接觸端子， 沖壓，形成 針接觸端子 種印刷電路配線板檢查治具上包覆導纟 包覆導線探針的相鄰末端從—‘端气 t的彳采針 由突緣頭狀或是扁平頭狀所構成=T面，經過 。 、匕覆導線探 2、如申績專利範圍第1項所述之印刷電 查治具上包覆導線的探針接觸端子，在突緣頭狀t線板檢 狀的端面經過電鍍處理所構成。 或扁平頭
第8頁
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002078772A JP4009122B2 (ja) | 2002-03-20 | 2002-03-20 | プリント配線板検査治具における被覆リード線のプローブ接触端子 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TWI283756B true TWI283756B (en) | 2007-07-11 |
Family
ID=28035604
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW91119295A TWI283756B (en) | 2002-03-20 | 2002-08-26 | Probe contact terminal of covered lead wire in printed wiring board inspection jig |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4009122B2 (zh) |
| CN (1) | CN100363744C (zh) |
| TW (1) | TWI283756B (zh) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100430734C (zh) * | 2006-01-25 | 2008-11-05 | 段超毅 | 集成电路测试用组合探针 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6400167B1 (en) * | 2000-08-21 | 2002-06-04 | Tektronix, Inc. | Probe tip adapter for a measurement probe |
-
2002
- 2002-03-20 JP JP2002078772A patent/JP4009122B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2002-08-26 TW TW91119295A patent/TWI283756B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-08-30 CN CNB02129075XA patent/CN100363744C/zh not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN1445551A (zh) | 2003-10-01 |
| CN100363744C (zh) | 2008-01-23 |
| JP4009122B2 (ja) | 2007-11-14 |
| JP2003283100A (ja) | 2003-10-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101582432B1 (ko) | 프로브 유닛 | |
| JP2000338175A (ja) | Ｉｃソケット | |
| JP2009128218A (ja) | 電気接触子およびそれを備える検査冶具 | |
| TWI243244B (en) | Conductive contact member | |
| TWI283756B (en) | Probe contact terminal of covered lead wire in printed wiring board inspection jig | |
| JPH11273819A (ja) | 電子部品用接触子 | |
| JP2013156275A (ja) | 検査治具及び接触子 | |
| JP2012073213A5 (zh) | ||
| JPH1010191A (ja) | コネクタおよびそれを用いる半導体検査方法ならびに装置 | |
| JP2790074B2 (ja) | プローブ装置 | |
| CN211236170U (zh) | 电路板 | |
| JP3099951B2 (ja) | 分割型プローブカード | |
| JPH03245600A (ja) | プリント基板の検査方法および検査装置 | |
| JP3841663B2 (ja) | 計測用端子 | |
| JP5052394B2 (ja) | 電子部品取り付け方法 | |
| JPH04206752A (ja) | 面実装形ｉｃの検査装置 | |
| JP5480075B2 (ja) | 検査治具及び接触子 | |
| JP4417192B2 (ja) | 接続治具の製造方法 | |
| JP3079901U (ja) | 導電式回路板測定用治具 | |
| JPH1026646A (ja) | コンタクト装置 | |
| JP3094351U (ja) | ワニ口クリップを使用した基板検査構造 | |
| JPH011252A (ja) | 半導体素子試験用治具 | |
| JPS6241246Y2 (zh) | ||
| JP3268283B2 (ja) | Ｂｇａパッケージ用測定装置 | |
| JPH0212070A (ja) | 検査装置の製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees |