JP3079901U - 導電式回路板測定用治具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】異なる種類の回路に対応ができ、短時間で測定
が行え、且つ正確に測定ができる導電式回路測定用治具
を提供する。 【解決手段】導電式回路板測定用治具は、測定板４が片
面のソフトタイプのプリント回路板実施であり、主に測
定治具２と、圧制板３と、測定板４と、加圧導電ラバー
５とから構成されている。測定板４は、前記測定を受け
る回路板６上の測定が必要な点に相対した突起物４１が
設けらるとともに、測定定位孔と導電線及び交錯式測定
針接触点を有している。測定治具２と回路板６は、圧制
板３が前記測定板４とＰＣＲ５に対して圧力を施すこと
で導電させることができる。また測定針２１は予め規格
したもので、異なる回路に対しては測定板４の導電線４
２を編成することで対応する。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【考案の属する技術分野】

本考案は回路板の電路を測定を行う導電式回路板測定用治具に係り、特に種類 の異なる回路板に対して測定を行う場合に好適な導電式回路板測定用治具に関す る。

【０００２】

【従来の技術】

図１は従来の回路板測定用治具を示す斜視図である。

【０００３】 図１に示すように、従来の回路板測定用治具は、主に回路測定器に設置されて おり、定位孔１１１を有し上板１２１の測定を受ける回路板１１を取り付け可能 で、測定基座１２、複数の測定針１２８、並びに一つ以上の導引塊１２７を含む 。

【０００４】 前記測定基座１２は、上板１２１、底板１２２、及び前記上板１２１と底板１ ２２の間に固定されている側面板１２３より構成され、前記底板１２２はねじに よって前記側面板１２３に固定されている。また前記上板１２１は前記測定を受 ける回路板１１の配線パターンに対応した管状の測定針１２４を有し、前記上板 １２１上には前記定位孔１１１に相対した測定定位ピン１２５が設けられている 他、前記測定面１２３には上述の回路測定器と電気の相通を行う連結部１２６が 設けられている。

【０００５】 測定針１２８は、伸縮するタイプであり、カバーとなる前記測定針１２４に挿 通されて設けられるとともに、導線によって前記連結部１２６と電気が相通して いる。前記測定針１２８の先端は、前記測定針１２４の外に突出しており、測定 定位ピン１２５及び測定を受ける定位孔１１１によって位置決めされて回路板１ １に接触する。これにより、前記測定を受ける回路板１１と上述の回路測定器の 間には電気が相通し、回路測定器が回路板１１の測定を行うようになっている。

【０００６】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、上述の回路板測定用治具では、対応する測定針の位置が異なる 回路板に合わせて再度設計し直さなければならなく、製造コストと製造時間の無 駄が生じ、また回路板に加える圧力が均一でないと回路板が定位ピンに引っ掛か り、オートメーション作業に影響が出る。また、ねじを側面板に設置することで 修理やメンテナンスの際に手間がかかり、大量のピッチライン製品に対して測定 を行うには伸縮するタイプの測定針や測定針のカバーの価格が高価であり業者の 負担となっていること等が上げられる。

【０００７】 そこで、異なる種類の回路に対応ができて、またオートメーション作業に合わ せて短時間で測定が行え、且つピッチライン製品に対しても正確に測定ができる 本考案の導電式回路測定用治具を提供する。

【０００８】

【課題を解決するための手段】

上記問題を解決するため、請求項１に記載の導電式回路板測定用治具は、測定 点が固定された複数の測定針が設けられ、測定を受ける各種回路板によって、測 定板上の導電線を編成し、交錯式測定針接触点が前記測定針と接触して測定を行 う導電式回路板測定用治具において、前記測定板と前記測定を受ける回路板の間 に位置し、シリコン内に厚さの方向にて配列された金属微粒子のラバー連結器で あり、表面が圧力を受けた区域はその電路が相通した状態となり、上部には前記 測定を受ける回路板上に相対した測定定位孔を有する加圧導電ラバーと、前記測 定板上に位置し、前記測定板と前記加圧導電ラバーに対して圧力を施し、前記測 定を受ける回路板上の測定が必要な点と前記交錯式測定針接触点との電路が相通 している状態にする圧制板と、前記加圧導電ラバー上に位置し、前記測定を受け る回路板上の測定が必要な点に相対したの突起物を有し、また前記測定を受ける 回路板上の測定定位孔に相対した測定定位孔を有し、前記突起物と前記交錯式測 定針接触点とが連結される導電線の配置により前記交錯式測定針接触点が両側に 集中しており、且つ前記両側の内の片側で電流を受ける測定板と、を具備し、測 定時は、前記測定定位孔で前記測定板、加圧導電ラバー及び測定を受ける回路板 を定位取り付け後、前記圧制板を下方に移動させて圧力を施し、前記測定板上の 突起物が前記加圧導電ラバー及び回路板を圧し、このとき前記回路板上の測定が 必要な点が、前記加圧導電ラバー、突起物及び導電線を通して前記交錯式探測針 接触点と電路が相通した状態となり、電流導入端より電流を導入すると同時に、 電流受け端で電流を受けて電路を測定することを特徴とする。

【０００９】 請求項２に記載の導電式回路板測定用治具は、請求項１に記載の導電式回路板 測定用治具であって、前記測定板は片面のソフトタイプのプリント回路板で、前 記交錯式測定針接触点、導電線及び突起物を前記測定板の同一表面に設け、使用 時に前記測定板の両端を前記圧制板上にまで折り曲げて、前記交錯式測定針接触 点を前記測定針と接触させることを特徴とする。

【００１０】 請求項３に記載の導電式回路板測定用治具は、請求項１または２に記載の導電 式回路板測定用治具であって、前記導電線は一層のポリイミド、及び一層の銅箔 、並びに一層の感光性保護膜で形成されていることを特徴とする。

【００１１】 請求項４に記載の導電式回路板測定用治具は、請求項１に記載の導電式回路板 測定用治具であって、前記測定板は両面のプリント回路板であり、前記交錯式測 定針接触点と突起物がそれぞれ別れて前記測定板の上表面と下表面に設けられ、 前記導電線は通孔にて前記交錯式測定接触点と前記突起物とが連結されているこ とを特徴とする。

【００１２】 請求項５に記載の導電式回路板測定用治具は、請求項１乃至３のいずれか一記 載の導電式回路板測定用治具であって、前記突起物は電気めっきにより銅で形成 されていることを特徴とする。

【００１３】 請求項６に記載の導電式回路板測定用治具は、請求項３に記載の導電式回路板 測定用治具であって、前記導電線の銅箔は電気めっきにより銅で形成されている ことを特徴とする。

【００１４】 このような構成によれば、プリント回路板による測定板を交換するだれで、異 なる種類の回路に対応ができて、またオートメーション作業に合わせて短時間で 測定が行え、且つピッチライン製品に対しても正確に測定ができる。

【００１５】

【考案の実施の形態】

以下、本考案を図面を参照して説明する。 図２乃至図５は本考案に係る導電式回路板測定用治具の第１の実施の形態を示 し、図２は断面図、図３は図２の測定板４の平面図、図４は図３の導電線４２の 拡大図及びＡ−Ａ線断面図、図５は図２の測定板４と回路板６の平面図である。

【００１６】 図２に示すように、本実施の形態の導電式回路板測定用治具は、測定板４が片 面のソフトタイプのプリント回路板実施（ＦＰＣ）であることより、この方式は 「ＦＰＣ測定板方式」と呼ばれ、図中に示すように、主に測定治具２と、圧制板 ３と、測定板４と、加圧導電ラバー（プレッシャーセンシティブコンダクティブ ラバー、以下ＰＣＲ）５とから構成されている。

【００１７】 前記測定治具２には測定針２１が設けられてる。この場合、測定治具２は測定 板４に対応している設計であるため、前記測定針２１は前記測定治具２の両側に 集中している。測定治具２は、片側に電流導入端２２を、もう一方に電流受け端 ２３を有している。導電式回路板測定用治具は、測定治具２が一般に使用されて いる電気測定針と同様の形状を呈している他、前記測定針２１の位置を先に規格 した後、種類の異なる様々な測定を受ける回路板６によって図３に示す前記測定 板４上の導電線４２を編成するもので、図３に示す交錯式測定針接触点４３を前 記測定針２１と接触させるだけで、各種異なるタイプの回路板６の測定を行う目 的を達成する。

【００１８】 図２、図３及び図５に示すように、前記圧制板３は前記測定板４上に位置し、 前記測定板４とＰＣＲ５とに対して加圧すると、前記測定を受ける回路板６上の 測定が必要な点６１と交錯式測定針接触点４３の電路が相通する状態となる。

【００１９】 前記測定板４は前記ＰＣＲ５上に位置し、前記測定を受ける回路板６上の測定 が必要な点６１に相対した突起物４１が設けられており、本実施の形態中では、 前記測定板４は片面のソフトタイプのプリント回路板（ＦＰＣ）を採用しており 、前記交錯式測定針接触点４３、導電線４２、突起物４１を前記測定板４の同一 表面に設置し、使用時には前記測定板４の両端を圧制板３の上にまで折り曲げて 、前記測定板４３を測定針２１に接触させる。また前記交錯式測定針接触点４３ を前記測定板４の両側に集中した状態に設計することも可能で、その内片側は電 流導入端２２の測定針２１に電流を導入し、もう片側は電流受け端２３の測定針 ２１で電流を受ける。

【００２０】 前記ＰＣＲ５は前記測定板４と前記測定を受ける回路板６の間に位置し、これ はシリコン内で厚さの方向に金属微粒子を配列したラバー連結器であり、小区域 が圧力を受けるのと同時に前記小区域は電路が相通している状態となり、また前 記ＰＣＲ５には前記測定を受ける回路板６上の測定定位孔６３に相対した孔（図 中無し）が設けられている。

【００２１】 測定時は図５に示す測定定位孔４４，６３を利用し、前記測定板４、ＰＣＲ５ 、測定を受ける回路板６の定位を完成した後、前記圧制板３を下方に移動させて 圧力を掛け、測定板上の突起物４１を前記ＰＣＲ５及び前記測定を受ける回路板 ６にきつく押し当てる。このとき、前記回路板６上の測定が必要な点６１は前記 ＰＣＲ５、突起物４１、導電線４２を通して前記交錯式測定針接触点４３と電路 が相通している状態を形成し、前記本考案の測定治具２上の電流導入端２２で電 流を導入し、同時に前記測定治具２上の電流受け端２３の測定針２１が電流を受 けて、電路を測定する目的を達成する。

【００２２】 図３に示すように、前記測定板４には突起物４１、及び前記突起物４１と前記 交錯式測定針接触点４３を連結する導電線４２、並びに前記測定針２１が接触す る交錯式測定針接触点４３を有し、前記導電線４２の配置を利用して前記交錯式 測定針接触点４３を前記測定板４の両側に集中させることができる。その内、片 側の電流導入端２２の測定針２１で電流を導入し、もう一方の電流導入端２３の 測定針２１で電流を受ける。

【００２３】 図４に示すように、ポリイミド（以下ＰＩ）４２３と銅箔４２２は測定板４の 基材であり、前記導電線４２が形成された測定板４に一層の感光性保護膜（phot oimageable coverlay 、以下ＰＳＣ）４２１を貼付し、更に図５に示す測定を受 ける回路板６の測定が必要な点６１に相対して前記ＰＳＣ４２１上に孔を開設し 、銅を電気めっきを用いて突起物４１を形成する。

【００２４】 図５に示すように、測定板４は測定を受ける回路板６の測定が必要な点６１に 対応して突起物４１が設けられ、また前記測定を受ける回路板６の測定定位孔６ ３に対応した測定定位孔４４が設けられ、更に前記突起物４１と交錯式測定針接 触点４３とを連結する導電線４２を有する。よって前記導電線４２で交錯式測定 針接触点４３が測定板４の両側に集中するよう配置し、前記測定板４の片側には 電流導入端２２の測定針２１で電流を導入し、もう一方は即ち前記電流受け端２ ３の測定針２１で電流を受けて、前記回路板６上の回路６２が正常であるかどう かを測定する。

【００２５】 以上、説明したように、本実施の形態によれば、片面のソフトタイプのプリン ト回路板による測定板の導電線の編成に変更するだけで、異なる種類の回路に対 応ができるとともに、加圧導電ラバーの応用により、またオートメーション作業 に合わせて短時間で測定が行え、且つピッチライン製品に対しても正確に測定が でき、大量の測定が迅速且つ正確になり、製造コストと製造時間の削減も同時に 達成できる。

【００２６】 図６は本考案に係る導電式回路板測定用治具の第２の実施の形態を示す断面図 である。

【００２７】 図６に示すように、本実施の形態の導電式回路板測定用治具では、両面のハー ドタイプのプリント回路板（ＰＣＢ）を測定板７としており、この種の方法を「 ＰＣＢ測定板法」と呼ぶ。本実施の形態の導電式回路板測定用治具では、交錯式 測定針接触点（図示せず）と突起物７１がそれぞれ別れて前記測定物７の上表面 と下表面に設けられ、導電線（図示せず）は通孔によって、前記交錯式測定針接 触点と突起物７１とを連結している。これ以外の構成要素と測定法は図２乃至図 ５に記した実施の形態と同様であり、この「ＰＣＢ測定板法」による導電式回路 板測定用治具では、先に述べた「ＦＰＣ測定板法」の、測定板が捲れ上がること や測定漏れ等の問題を改善することができる。

【００２８】

【考案の効果】

本考案によれば、プリント回路板による測定板の導電線の編成に変更するだけ で、異なる種類の回路に対応ができるとともに、加圧導電ラバーの応用により、 またオートメーション作業に合わせて短時間で測定が行え、且つピッチライン製 品に対しても正確に測定ができ、大量の測定が迅速且つ正確になり、製造コスト と製造時間の削減も同時に達成できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】従来の回路板測定用治具を示す斜視図。

【図２】本考案に係る導電式回路板測定用治具の第１の
実施の形態を示す断面図。

【図３】図２の測定板の平面図。

【図４】図３の導電線の拡大図及び断面図。

【図５】図２の測定板と回路板の平面図。

【図６】本考案に係る導電式回路板測定用治具の第２の
実施の形態を示す断面図。

【符号の説明】

１１ 回路板 １１１ 定位孔 １２ 測定基座 １２１ 上板 １２２ 底板 １２３ 側面板 １２４ 測定針カバー １２５ 測定定位ピン １２６ 連結部 １２７ 導引塊 １２８ 測定針 ２ 測定治具 ２１ 測定針 ２２ 電流導入端 ２３ 電流受け端 ３ 圧制板 ４ 測定板 ４１ 突起物 ４２ 導電線 ４２１ 感光性保護膜（ＰＳＣ） ４２２ 銅箔 ４２３ ポリイミド（ＰＩ） ４３ 交錯式測定針接触点 ４４ 測定定位孔 ５ 加圧導電ラバー（ＰＣＲ） ６ 測定を受ける回路板 ６１ 測定が必要な点 ６２ 回路 ６３ 測定定位孔 ７ 測定板 ７１ 突起物

Claims (6)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 測定点が固定された複数の測定針が設け
   られ、測定を受ける各種回路板によって、測定板上の導
   電線を編成し、交錯式測定針接触点が前記測定針と接触
   して測定を行う導電式回路板測定用治具において、 前記測定板と前記測定を受ける回路板の間に位置し、シ
   リコン内に厚さの方向にて配列された金属微粒子のラバ
   ー連結器であり、表面が圧力を受けた区域はその電路が
   相通した状態となり、上部には前記測定を受ける回路板
   上に相対した測定定位孔を有する加圧導電ラバーと、 前記測定板上に位置し、前記測定板と前記加圧導電ラバ
   ーに対して圧力を施し、前記測定を受ける回路板上の測
   定が必要な点と前記交錯式測定針接触点との電路が相通
   している状態にする圧制板と、 前記加圧導電ラバー上に位置し、前記測定を受ける回路
   板上の測定が必要な点に相対したの突起物を有し、また
   前記測定を受ける回路板上の測定定位孔に相対した測定
   定位孔を有し、前記突起物と前記交錯式測定針接触点と
   が連結される導電線の配置により前記交錯式測定針接触
   点が両側に集中しており、且つ前記両側の内の片側で電
   流を受ける測定板と、 を具備し、測定時は、前記測定定位孔で前記測定板、加
   圧導電ラバー及び測定を受ける回路板を定位取り付け
   後、前記圧制板を下方に移動させて圧力を施し、前記測
   定板上の突起物が前記加圧導電ラバー及び回路板を圧
   し、このとき前記回路板上の測定が必要な点が、前記加
   圧導電ラバー、突起物及び導電線を通して前記交錯式探
   測針接触点と電路が相通した状態となり、電流導入端よ
   り電流を導入すると同時に、電流受け端で電流を受けて
   電路を測定することを特徴とする導電式回路板測定用治
   具。
2. 【請求項２】 前記測定板は片面のソフトタイプのプリ
   ント回路板で、前記交錯式測定針接触点、導電線及び突
   起物を前記測定板の同一表面に設け、使用時に前記測定
   板の両端を前記圧制板上にまで折り曲げて、前記交錯式
   測定針接触点を前記測定針と接触させることを特徴とす
   る請求項１に記載の導電式回路板測定用治具。
3. 【請求項３】 前記導電線は一層のポリイミド、及び一
   層の銅箔、並びに一層の感光性保護膜で形成されている
   ことを特徴とする請求項１または２に記載の導電式回路
   板測定用治具。
4. 【請求項４】 前記測定板は両面のプリント回路板であ
   り、前記交錯式測定針接触点と突起物がそれぞれ別れて
   前記測定板の上表面と下表面に設けられ、前記導電線は
   通孔にて前記交錯式測定接触点と前記突起物とが連結さ
   れていることを特徴とする請求項１に記載の導電式回路
   板測定用治具。
5. 【請求項５】 前記突起物は電気めっきにより銅で形成
   されていることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか
   一記載の導電式回路板測定用治具。
6. 【請求項６】 前記導電線の銅箔は電気めっきにより銅
   で形成されていることを特徴とする請求項３に記載の導
   電式回路板測定用治具。