TWI275762B - Heat treatment apparatus - Google Patents

Heat treatment apparatus Download PDF

Info

Publication number
TWI275762B
TWI275762B TW094120473A TW94120473A TWI275762B TW I275762 B TWI275762 B TW I275762B TW 094120473 A TW094120473 A TW 094120473A TW 94120473 A TW94120473 A TW 94120473A TW I275762 B TWI275762 B TW I275762B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
heat treatment
gas
hot air
generated
treatment apparatus
Prior art date
Application number
TW094120473A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200604479A (en
Inventor
Masao Yasaka
Original Assignee
Espec Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Espec Corp filed Critical Espec Corp
Publication of TW200604479A publication Critical patent/TW200604479A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI275762B publication Critical patent/TWI275762B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Furnace Details (AREA)
  • Exhaust Gas Treatment By Means Of Catalyst (AREA)
  • Waste-Gas Treatment And Other Accessory Devices For Furnaces (AREA)

Description

1275762 \ 九、發明說明: • 【發明所屬之技術領域】 - 本發明係有關於一種以熱風熱處理基板等被加熱物之熱 處理裝置。 【先前技術】 於過去’被揭露於下列專利文獻1的熱處理裝置被使用於 液日日顯示器(LCD : Liquid Crystal Display)、電漿顯示器 鲁 (PDP ·· Plasma Display)或有機EL顯示器等平面顯示器 (FPD : Flat Panel Display)的製作上。熱處理裝置係將預先 於玻璃板等基板(被加熱物)上塗佈特定溶液並經加熱乾燥 後的基板收容於加熱室内,曝露於被導入至加熱室内的預 定溫度的熱風下進行熱處理(焙燒)之裝置。 專利文獻1:曰本專利第2971771號公報 [發明欲解決之問題] 過去技術的熱處理裝置具有用以讓被加熱物進出的開口 參 或間隙等,無法成為完全的密閉狀態,於前述開口或間隙 的附近容易變得較低溫。因此,塗佈於基板上的特定溶液 等伴隨著熱處理被氣化而產生的生成氣體會於開口或間隙 附近冷卻而固化,成為所謂的昇華物。昇華物成粒子狀或 焦油狀,有污染熱處理裝置内使被加熱物的品質下降或於 被加熱物進出時漏出至熱處理裝置外部之問題。 一般而言,熱處理裝置被設置於較高潔淨度的潔淨室 等。因此,如過去技術的熱處理裝置般,昇華物由熱處理 裝置漏出時,有連潔淨室的潔淨度亦下降之問題。 I02225.doc 1275762 鑑於上述問題,於被揭露於上述專利文獻1的熱處理裝置 中’構造成使熱處理裝置内維持於比熱處理裝置的設置環 境壓力稍低的壓力下,藉此可防止熱處理裝置内的空氣或 生成氣體漏出至外部之問題。藉著該構造,雖然對於昇華 物由熱處理裝置排出至外部的問題有一定的效果,但仍有 因由用以讓被加熱物進出的開口或間隙流入的空氣的影響 而產生一些昇華物之虞。 馨又,被揭露於上述專利文獻丨的熱處理裝置有因流入至襞 置内的空氣的影響而於加熱室内產生,溫度不均勻之可能。 因此,於被揭路於上述專利文獻丨的熱處理裝置中,必須於 用以讓被加熱物進出的開口附近另外設置用以吸引捕集欲 由加熱室側漏出至外部的生成氣體或由外部欲流入加熱室 側的空氣之機構,有裝置構造變複雜化之問題。 【發明内容】 因此,本發明之目的係提供一種構造較簡單,且可抑制 φ P遺著基板的熱處理所產生的生成氣體被冷卻後產生所謂的 昇華物之熱處理裝置。 [解決問題之方法] 因此’為了解決上述問題而被提供的本發明係—種熱處 理裝置,該熱處理裝置具備有:熱風供給機構,係用以供 給熱風者,·及加熱室,係用以被導入於該熱風供給機構產 生的熱風,藉著該熱風加熱被加熱物者;且於伴隨著被加 熱物的加熱而產生的生成氣體所流動的區域,被配置有用 以將前述生成氣體氧化分解的生成氣體分解機構。 102225.doc 1275762 ⑤本發明之熱處理裝置中,藉著熱風供給裝χ供給至加 熱室的熱風加熱被加熱物而產生的生成氣體,大部份於生 成氣體分解機構被氧化分解。因此,於本發明之熱處理裝 置中,流動於生成氣體分解機構的下游侧的大部份的氣體 係藉著生成氣體的分解而產生的分解^,生錢體的濃 度極低。因此,於本發明之熱處理裝置中,可抑制生成氣 體成固體狀或焦油狀之所謂的昇華物的產生。 • 進一步,於本發明之熱處理裝置中’由於於生成氣體分 解機構將生成氣體氧化分解,故會產生反應熱。因此,依 上述構造,已通過生成氣體分解裝置的氣體會藉著前述反 應熱被加熱,而以高溫由加熱室排出。因此,於本發明之 熱處理裝置中,即使萬一一部份的生成氣體於生成氣體分 解機構沒有被分解完全而殘留下來’亦幾乎不會產生該生 成氣體成固體狀或焦油狀之所謂的昇華物。 於此,於本發明之熱處理裝置中,纟成氣體於生成氣體 _分解機構被氧化分解,藉著分解反應時產生的反應熱,被 排出至生成氣體分解機構下游側的氣體會昇溫。因此,於 本發明之熱處理裝置中,有於生成氣體分解機構的上游側 及下游側的環境溫度分佈改變,視情形產生被加熱物加熱 不均勻之可能。 μ 因此,基於上述發現而提供的本發明係一種熱處理裝 置’該熱處理裝f具備有··熱風供給機構,係用以供給熱 風者;及加熱室,係用以被導入於該熱風供給機構產生的 熱風’藉著該熱風加熱被加熱物者;且於加熱室的内部具 102225.doc 1275762 有用以配置被加熱物之被加熱物配置區域,又,於熱風流 動方向的該被加熱物配置區域的下游側、即伴隨著被加熱 物的加熱而產生的生成氣體所流動的區域中,被配置有用 以將前述生成氣體氧化分解的生成氣體分解機構。 依上述構造,可使用以配置被加熱物的被加熱區域的溫 度分佈安定化’可破實地防止被加熱物產生加熱不均勻。 於此’於上述本發明之熱處理裝置中,生成氣體分解機 _ 構可係於觸媒基體擔載有用以促進對生成氣體的氧化分解 反應之觸媒者。 依上述構造,可確實地分解藉著被加熱物的加熱而產生 的生成氣體,可抑制伴隨著生成氣體的冷卻而產生固體物 或焦油狀物質。 於上述本發明之熱處理裝置中,加熱室可藉著與熱風供 給機構相通的上游壁、與該上游壁相對的下游壁及與上游 土及下游壁相父叉的方向上延伸的分隔壁圍出,且下游壁 • 的一部份或全部以生成氣體分解機構構成。 於本發明之熱處理裝置中,由於上游壁與熱風供給機構 相通故於加熱室由上游壁側導入熱風,朝下游壁側流動。 於本發明之熱處理裝置中,由於將下游壁的一部份或全部 以生成氣體分解機構構成,故可有效率地分解伴隨著被加 熱物的加熱處理而產生的生成氣體。 ^此,貴金屬或貴金屬合金相對於各種氣體的氧化活性 車乂问。因此,於上述本發明之熱處理裝置中,生成氣體分 解機構且為於觸媒基體擔載包含貴金屬或貴金屬合金之觸 102225.doc 1275762 媒者。 依上述構造,可確實地分解因被加熱物的加熱而產生的 生成氣體,可確實地防止伴隨著生成氣體的冷卻而產生所 謂的昇華物。 於此,於上述本發明之熱處理裝置中,生成氣體分解機 構宜為於觸媒基體擔載用以促進生成氣體的氧化分解的觸 媒者’觸媒基體宜為經形成多數的生成氣體流路的蜂窩狀 物。 依上述構造,可使生成氣體與觸媒充份地接觸,可有效 率地分解生成氣體。 進而,於本發明中,所謂的「蜂窩狀」係指經形成多數 的流路之多孔構造,前述流路的開口形狀可為三角形或六 角形等多角形、或圓形、橢圓形、波形等彎曲形狀等適當 的形狀。
又,上述本發明之熱處理裝置中,生成氣體分解機構宜 為於觸媒基體擔載用以促進生成氣體的氧化分解的觸媒 者,觸媒基體宜為形成多數的生成氣體流路者,觸媒基體 的厚度宜於30 mm以上、80 mm以下之範圍内。 依上述構造,不僅可充份地氧化分解隨著被加熱物的加 熱,產生的生成氣體,同時可防止生成氣體分解機構對生 成氣體的流動帶來很大的流動阻力。 上述本發明之熱處理裝置, 體分解機構產生的分解氣體送 路之構造。 宜為設置有用以將於生成氣 回至熱風供給機構的循環流 102225.doc !275762 、於本發明之熱處理裝置中,藉著於生成氣體分解機構分 ,解生成氣體時所產生的分解熱的影響,分解氣體或位於生 成氣體分解機構附近的空氣會被加熱。因此,於本發明之 熱處理裝置中,因生成氣體的分解熱而被加熱的分解氣體 或空氣會經由循環流路供給至熱風供給機構。然後,分解 氣體或空氣的混合氣體於熱風供給機構被加熱,作為熱風 導入至加熱室。 • 於本發明之熱處理裝置中,由於於熱風供給機構被供給 預先以分解熱加熱的分解氣體或空氣,故不需要用以將該 等混合氣體加熱至預定溫度的A的加熱能力。目此,依本 發明,可提供一種於被加熱物的加熱上所需的能源消耗量 相當小的熱處理裝置。 化,可將用以 的產生抑制於 本發明之熱處理裝置由於將通過加熱室於生成氣體分解 機構被分解的分解氣體再度加熱後導入加熱室,故可將外 氣的取入量抑制於最小限。因此,依本發明之熱處理裝置, _可使被導入至加熱室的熱風的溫度分佈均勾化 曝露於熱風的被加熱物的位置上的溫度分佈 最小限。 生成氣體分解機構宜被 可能流入外氣部位的上 於上述本發明之熱處理裝置中,生成氣 設置於生成氣體的流動方向上的有可能流 游側。
熱風供給機構宜為可將 102225.doc 1275762 包含於生成氣體分解機構產生的分解氣體及由外部導入的 二氣之混合氣體加熱後供給至加熱室之構造。 於本發明之熱處理裝置中,將於生錢體分解機構產生 的高溫分解氣體及假想比該分解氣體低温的外氣以預先混 合的狀態導入至熱風供給機構。藉此,於本發明之熱處理 裝置中,於導入至熱風供給機構的時點,由分解氣體及外 氣構成的混合氣體幾乎沒有溫度不均。因&,依本發明, 鲁熱風供給機構中的混合氣體不易產生加熱不均,可使供給 至加熱室的熱風的溫度分佈大約均勻化。 上述本發明之熱處理裝置可適合❹於於平板狀的基板 表面塗佈預定液體的被加熱物的加熱上。 發明效果 依本發明,可提供—種熱處理裝置,其構造較簡單且可 將因被加熱物的熱處理時所產生的有機氣體造成的昇華物 的生成量及熱處理所需的消耗電力抑制於最小限。 【實施方式】 &接著’―面參照圖式—面詳細地說明本發明之—實施形 :之熱處理裝置。圖!係顯示本發明之一實施形態之熱處理 哀置之正視圖。圖2係顯示圖丨所示之熱處理裝置的内部構 &的。P伤之解剖立體圖。圖3係顯示圖⑽示之熱處理褒 置的内部構造之概略之平面圖。圖4⑷係概念地顯示圖】所 <、、、處理4置之熱風供給機構與熱處理室的位置關係之 立體圖’圖4(b)係圖4⑷所示之觸媒壁的八部放大圖,圖% 係圖鄭斤示之觸媒壁的重要部份之放大立體圖。圖$係模 102225.doc 1275762 式地顯示圖m示之熱處理裝置中空氣及混合氣體的流動 之概念圖。圖6係顯示I所示之熱處理裝置之變形例之概 念圖。 於圖!中’標^係本實施形態之熱處理裝置。教處理裝 置!於金屬製的箱形的本體殼體2的下方設置機器收容部 3,於其上方設置基板處理部5。機 怵裔收令部3内藏用以供給 電力至基板處理部5之電源裝置(圖中耒 ^且V闕T禾不)或用以控制基板
處理部5之動作的控制裝置(圖中未示)等。 基板處理部5如圖i及圖2所示,具有用以藉著於正面侧未 圖示的機H手臂㈣載裝置搬人或㈣基板^換裝口 6,於背面侧設置用以於維護時使用的門7。於換裝口6被安 裝有用以連動於氣缸8的作動而進行開閉的活動遮板ι〇。 基板處理部5如圖2及圖3所示,構造成於中心具有熱處理 室12(加熱室),其周圍則被空氣調整部^包圍。空氣調整部 11藉著由斷熱材構成的周壁13a〜13d被包圍住四方。空氣調 整部π係用以將空氣加熱至預定溫度後吹入熱處理室 内,同時使由熱處理室12排出的空氣朝上游側循環者。 更具體說明,空氣調整部U如圖2或圖3所示,大致分成 熱風供給機構14、空氣通道17及機器室18。熱風供給機構 14具有用以加熱空氣等的加熱功能及用以將經加熱的空氣 等送入至熱處理室12内的送風功能。又,於熱風供給機構 14與熱處理室12的交界部份設置有用以淨化空氣等的過濾 器21 〇 於熱風供給機構14的附近,於熱處理室12的正面側及背 102225.doc -12 - 1275762 面側具有空氣合流部16、16。空氣合流部16、16分別與空 氣通道1 7相連通。空氣合流部1 6具有用以使由外氣導入口 (圖中未示)導入的空氣與由空氣通道17流入的氣體合流,將 其等混合之作為預混合空間的功能。 空氣通道17係沿著用以形成熱處理室12大部份的下游壁 20b的觸媒壁40(生成氣體分解機構)及分隔壁41、43而形成 的空間。空氣通道17係配置成將熱處理室丨2的周圍包圍的 馨空軋流路’开〉成用以將由熱處理室12排出的空氣送回至空 氣合流部16的空氣流路。 熱處理室12係藉著上游壁2〇a及下游壁2〇b '及與上游壁 20a及下游壁20b相交叉的方向上延伸的分隔壁41、43包圍 住四方的空間。上游壁2〇a、下游壁2〇b及分隔壁41、43皆 具有由基板處理部5的頂面45至底面46的高度。熱處理室12 經由用以構成上游壁20a的過濾器21的開口與熱風供給機 構14相連通。又,下游壁2〇b其—部份或全部由觸媒壁 • 構成,經由設置於觸媒壁4〇的貫通孔47與空氣通道17相通。 觸媒壁40如圖4(b)所示,以經形成多數且連續的開口形 狀略三角形的貫通孔47(流路)的所謂蜂窩狀板體作為觸媒 基體48。貫通孔47係作為生成氣體的流路,如圖4(c)所示, 於用以形成貫通孔47的内壁面47a的表面鑲嵌且擔載有多 數粒子狀的觸媒49。觸媒基體48宜使用以不鐘鋼系的合金 為首的金屬材料或二氧化石夕、氧化銘等陶究材料等即使於 熱處理室12内的環境溫度下亦安定的材質。又,觸媒基體 48宜使用熱傳導性高、熱容量小的材f製作 102225.doc 1275762 於用以形成貫通孔47的内壁面47a的觸媒49的氧化分解反 應順利的開始。 觸媒基體48的開口形狀係考量流路阻力或氣體相對於擔 載的觸媒49的接觸面積等而定,以多角形、圓形、橢圓形、 波形等彎曲形狀取代本實施形態的三角形亦可。觸媒基體 48的厚度(相當於圖4之w),由相對於氧化分解反應的觸媒 作用或通風阻力的觀點來看,宜為30〜8〇 mm。於本實施形 _ 怨中’觸媒基體48的厚度為50 mm。因此,觸媒壁4〇 —面顯 示對熱處理至12產生的生成氣體的充份的觸媒作用,且不 會對流動於熱處理室12内的熱風形成太大的流路阻力。 被擔載於觸媒基體48的觸媒49係用以促進由熱處理室12 排出的生成氣體的氧化分解反應。於本實施形態中,觸媒 49採用鉑(Pt)或鈀(Pd)等貴金屬、或該等貴金屬的合金等對 生成氣體的觸媒作用高者。觸媒49於約150°C〜200 °C的溫度 裱境下對熱處理室12產生的生成氣體顯示觸媒活性,於熱 # 處理室12到達熱處理(焙燒)溫度之230°C〜250°C之狀態中 顯示充份的觸媒活性。 分隔壁41於相當於被設置於基板處理部5的換裝口 6的位 置具有開口 50。開口 50構造成基板W及機器手臂能進出的 最低限所需的尺寸及形狀。開口 5〇藉著將開口 5〇的周圍包 圍地設置的防護壁51與空氣通道17相隔絕,並且與換裝口 6 相連通。因此,流動於空氣通道17内的氣體不會經由開口 5 0侵入熱處理室12内或經由換裝口 6漏出至外部。另_方 面,分隔壁43被固定於相當於門7的位置,構造成於進行維 102225.doc -14- 1275762 瘦等時視需要可拆除狀。 如圖3所示,於熱處理室12的略中央部配置有用以載置基 板的載置架55。載置架55與過去周知的熱處理裝置中所採 用的載置架相@ ’具有於±下方向設置多數的用以將基板 W水平地載置的支持段64。 於熱處理至12如圖2及圖3所示,被設置有用以測量環境 溫度的溫度感測器68。溫度感測器68被配置成其前端位於
熱處理至12的上游側的下方。熱處理裝置靖造成會依照溫 度❹J器68的檢測溫度以圖中未示的控制裝置回授控制加 熱為35的動作,將熱處理室12内的溫度調整至預定溫度(於 本實施形態中為230°C〜250。〇。 本實施形態之熱處理I置1其特徵在於熱處理時的氣體 的流動上。以下,參照圖5之概念圖以熱處理時的氣體流動 為主說明熱處理裝置i的動作。 於…、處理開始之月,j,g處理褒置1的控制裳置(圖中未开 啟動用以構成熱風供給機構14的未圖示的送風機及加I 等,將經加熱的空氣導人至熱處理室12内。藉此,於㈣ 理裝置1内產生空氣流動於熱處理室似空氣通道17,並由 回熱風供給機構14的循環流。 如上所述’於空氣於熱處理裝置1内循環時,空氣於教 慢慢地被加熱,熱處理室12内的環到』 預疋的熱處理溫度(於太告说加…山1 又(於本貝施形恶中為23〇〇c〜25〇 設置於熱處理室12的下游砝砧雜狀时 ’ ^下游知的觸媒壁40受到循環於埶 裝置1的空氣流等的影響,緩缓 、…、 綾、友地幵溫,於熱處理室U内至 102225.doc 1275762 達預定熱處理溫度時,被擔載於用以形成貫通孔47的内壁 面47a的觸媒49到達可充份發揮觸媒作用的溫度。 熱處理室12的環境溫度到達熱處理溫度時,於配置於熱 處理裝置1外部的機器手臂等移載裝置上搭載欲進行熱處 理的基板W。另一方面,熱處理裝置〗令氣缸8作動,將封 閉換裝口 6的活動遮板10打開。活動遮板1〇一打開,基板w 就藉著機器手臂由換裝口 6水平地被插入,載置於各支持段 • 64上。於載置架55的各支持段64被載置基板评時,關閉活 動遮板10。 如上所述,被搭載於載置架55的支持段64的基板w被曝 露於流動於熱處理室12内的熱風,進行熱處理(焙燒)。基板 W進行熱處理時’預先塗佈於表面的溶液會氣化等,而於 高溫下產生有機性的生成氣體。因此,熱處理開始時,包 含生成氣體與空氣的混合氣體會朝熱處理室12的下游側流 動。 • 包含生成氣體的混合氣體到達觸媒壁4〇時,會流入設於 觸媒基體48的多數貫通孔47。如上所述,熱處理室12内已 經預先到達預定的熱處理溫度,被擔載於觸媒基體48的内 壁面47a的觸媒49成為可充份發揮對生成氣體的觸媒作用 的狀態。因此,生成氣體通過觸媒壁40時,會藉著被擔載 於用以形成貫通孔47的内壁面47a的觸媒49被促進生成氣 體的氧化分解反應(CmHn+〇2— COdHzO),生成氣體被分解 成二氧化碳及水。 上述氧化分解反應的發生伴隨著反應熱的產生。因此, 102225.doc •16- 1275762 於熱處理裝置1開始熱處理時,通過觸媒壁40的混合氣體會 藉著伴隨著生成氣體的氧化分解反應而產生的反應熱而以 被加熱的狀態排出至空氣通道17外。被排出至空氣通道17 的混合氣體以維持高溫狀態流動於被形成於基板處理部5 的周壁13b、13d與熱處理室12的分隔壁41、43之間的空氣 通道17、17。 流動於空氣通道17、17的混合氣體以高溫流入經形成於 籲 熱風供給機構14兩側的空氣合流部16,與由熱處理裝置1 外部導入的外氣預先混合。藉此,外氣藉著與混合氣體的 熱父換被某程度的加熱。外氣及混合氣體於熱風供給機構 14被加熱至預定溫度後,導入至熱處理室丨2。熱處理裝置土 依上述順序使已被加熱的混合氣體循環於熱處理室12内, 繼續基板W的熱處理。 如上所述,於本實施形態之熱處理裝置丨中,藉著由熱風 供給機構14供給至熱處理室12内的熱風加熱基板w所產生 參 的生成氣體,大部份會藉著被擔載於觸媒壁40的觸媒49被 氧化分解。於此,於本實施形態之熱處理裝置丨中,將用以 構成熱處理室12的下游壁2〇b的一部份或全部以觸媒壁 形成,並且採用經擔載對有機氣體具有高觸媒活性的=或 鈀等貴金屬或貴金屬合金者作為觸媒壁4〇。進而,觸媒壁 4〇#木用具有夕數的貝通孔47的蜂窩狀者作為觸媒基體^, 且於用以形成各貫通孔47的内壁面47a擔載有觸媒衫。因 此,流入觸媒壁40的大部份的生成氣體會成為因生成氣體 的分解而產生的二氧化碳為主成份的混合氣體,生成氣體 102225.doc 17 1275762 的?農度極低。 々再者’於熱處理裝置1中,藉料觸媒㈣氧化分解生成 乳體時所產生的反應熱’於觸媒壁4〇被分解的以二氧化# :主成份的混合氣體被加熱,成高溫。因此,於熱處理: 置1中,於熱處理動作φ冷知^ ^ ’ 動作中机動於空氣通道17的混合氣體的溫 度為向,縱使例如一邱/八 邛知的生成氣體於生成氣體分解機 沒有被分解完全而殘留,“ 解機構 % W 亦幾乎不會產生昇華物。
於熱處理裝置1中,协總I 於觸媒壁40被氧化分解而成為高溫的 此δ氧體流動於空翁補、皆 乳通道17,於熱風供給機構14與 新導入的外氣混合。又,熱處理裝置!係將通過熱處理室12 於,媒壁40被氧化分解的分解氣體再加熱後使用,大部份 的混合氣體於裝詈肉傲 内循%。因此,熱處理裝置丨僅需要 將供給至熱處理室j 2曰 2的^合氧體加熱至預定溫度上所需的 電力即可,有助於筋 ^ 产 π即嚙此源。又,於熱處理裝置1中,由於 '氣口 Μ 4 16將外氣與混合氣體預先混合後再導 風供給機構14,从山也 、 由”、、風供給機構14被導入至熱處理室12 的熱風幾乎沒有 ^ 有m度不均勻,可將基板W均勻地加熱。 上所述,混合氣體藉著通過觸媒壁40被氧化分解、加 、,剛通過觸媒壁40的混合氣體有因混合氣體的濃 二佈或通過_壁4 G的哪個部位等因素而產生預定的溫 由 可此基於此發現,於本實施形態之熱處理裝置i 構仏成將觸媒壁4〇配置於用以載置基板1的載置架^ 的下游侧。即,為# A ^ …、處理裝置1係於用以進行熱處理區域的混
合氣體的流動方A °下游側的區域配置觸媒壁4〇,且於該區 102225.doc 1275762 域進行氧化分解反應。因此,於本實施形態之熱處理裝μ 中’基板w所曝露的熱風的溫度分佈大約相同,可將基板w 均勻地加熱。 如上所述,熱處理裝置i由於於熱處理室12產生的大部份 的生成氣體都於觸媒壁40被分解,故 產 物。因此,熱處理裝置物續熱處理動作,;產可= 理裝内維持於乾淨’並且可防止將活動遮板1〇或門7打 1寺升華物漏出至熱處理裝置丨的外部,將潔淨室等污染之 事又上述熱處理裝置i係將位於基板料產生的生成氣 體的流動方向下游側的下游壁雇的—部份或全部以觸媒 壁40形成,構造極為簡單。 上述實施形態之熱處理裝置卜雖然係將觸媒壁4〇配置於 用以構成熱處理室12的下游側的壁面的下游壁施,但本發 明不限於此,例如如圖6所示於空氣通道17的途中設置顯示 與觸媒壁4G相同的觸媒作用的生成氣體分解機構7〇亦可。 此時,生成氣體分解機構7G雖然只要是位於空氣通道⑽ 途中,設置於任何地方皆可’但宜設置於混合氣體的流動 方向上的門7等有外氣流入之虞的部位的上游側。 又,於上述實施形態採用的觸媒壁4〇雖然係於蜂窩狀的 觸媒基體48的貫通孔47擔载有觸媒49者,但本發明並不限 於此,採用例如於以具有金網等通風性的材料製作的盒體 内㈣填充粒狀或顆粒狀的觸媒者亦可。依此構造時亦可 確實地將伴隨著基板㈣熱處理而產生的生成氣體氧化分 解。 102225.doc 19· 1275762 .於上述實施形態中’由於採用於熱處理(培燒)溫度之MO °C〜25(TC的環境溫度下顯示對生成氣體充份的觸媒活性之 !白㈣或把㈣等貴金屬或該等貴金屬合金等高價材料作 為觸媒49,故觸媒壁40有趨於高價之傾向。因此,若將用 以擔載於觸媒壁40的冑媒49的擔載量視於熱處理時所產生 的生成氣體濃度調整至最適當化,可抑制觸媒49的擔載 量,可更進一步減低熱處理裝置丨的製造成本。 φ 【圖式簡單說明】 圖1係顯示本發明之一實施形態之熱處理裝置之正視圖。 圖2係顯示Μ所示之熱處理裝置的内部構造的一部份之 解剖立體圖。 圖3係顯示圖!所示之熱處理裝置的内部構造之概略之平 面圖。 圖4⑷係概念地顯示圖工所示之熱處理裝置之熱風供給機 構與熱處理室的位置關係之立體圖,圖4(b)係圖4⑷所示之 •觸媒壁的A部放大圖’圖4⑷係圖叫所示之觸媒壁的重要 部份之放大立體圖。 圖5係模式地顯示圖1所示之熱處理裝置中空氣及混合氣 體的流動之概念圖。 圖6係顯示圖!所示之熱處理裳置之變形例之概念圖。 【主要元件符號說明】 5 基板處理部 11 空氣調整部 12 熱處理室(加熱室) 102225.doc -20- 1275762 14 熱風供給機構 16 空氣合流部 17 空氣通道 40 觸媒壁(生成氣體分解機構) 47 貫通孔(流路) 48 觸媒基體
49 70 觸媒 生成氣體分解機構 102225.doc -21 -

Claims (1)

  1. !275762 十、申請專利範圍: 一種熱處理裝置,具備有: 熱風供給機構,係用以供給熱風者;及 加熱室,係用以被導入於該熱風供給機構產生的熱 風,且藉著該熱風加熱被加熱物者;其特徵在於: 於伴隨著被加熱物的加熱而產生的生成氣體所流動的 區域中,配置有用以將前述生成氣體氧化分解的生成氣 φ 體分解機構。 2· 一種熱處理裝置,具備有·· 熱風供給機構,係用以供給熱風者;及 加熱室,係用以被導入於該熱風供給機構產生的熱 風’且藉著該熱風加熱被加熱物者;其特徵在於: 於加熱室的内部具有用以配置被加熱物之被加熱物配 置區域,又,位於熱風流動方向的該被加熱·物配置區域 的下游側、即伴隨著被加熱物的加熱而產生的生成氣體 _ 所流動的區域中,被配置有用以將前述生成氣體氧化分 解的生成氣體分解機構。 3·如請求項1或2之熱處理裝置,其中加熱室藉著與熱風供 給機構相通的上游壁、與該上游壁相對的下游壁及與上 游壁及下游壁相交叉的方向上延伸的分隔壁包圍,且下 游壁的一部份或全部以生成氣體分解機構構成。 4·如請求項丨或2之熱處理裝置,其中生成氣體分解機構係 於觸媒基體擔載有用以促進生成氣體的氧化分解的觸媒 1〇2225.dOC 1275762 5·如請求項_之熱處理裝置’其中生成氣體分解機構係 於觸媒基體擔載有包含貴金屬或貴金屬合金之觸媒者。 6.如請求項⑷之熱處理裝置,#中生成氣體分解機構係 於觸媒基體擔載有用以促進生成氣體的氧化分解的觸媒 者,且觸媒基體係經形成多數的生成氣體流路的蜂窩狀 物。 7·如請求項1或2之熱處理裝置,其中生成氣體分解機構係 φ 於觸媒基體擔載有用以促進生成氣體的氧化分解的觸媒 者’且觸媒基體係形成多數的生成氣體流路者,其厚产 於30 mm以上、80 mm以下之範圍内。 8·如請求項1或2之熱處理裝置,其中設置有用以將於生成 氣體分解機構產生的分解氣體送回至熱風供給機構之循 環流路。 9·如請求項1或2之熱處理裝置,其中生成氣體分解機構被 設置於生成氣體的流動方向上的有可能流入外氣部位的 ^ 上游側。 10·如請求項1或2之熱處理裝置,其中熱風供給機構可將包 含於生成氣體分解機構產生的分解氣體及由外部導入的 空氣之混合氣體加熱、供給至加熱室。 11 ·如晴求項1或2之熱處理裝置,其中被加熱物係於平板狀 的基板表面經塗佈預定液體者。 102225.doc
TW094120473A 2004-06-30 2005-06-20 Heat treatment apparatus TWI275762B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004194242A JP2006017357A (ja) 2004-06-30 2004-06-30 熱処理装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200604479A TW200604479A (en) 2006-02-01
TWI275762B true TWI275762B (en) 2007-03-11

Family

ID=35791810

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW094120473A TWI275762B (en) 2004-06-30 2005-06-20 Heat treatment apparatus

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP2006017357A (zh)
KR (1) KR101184570B1 (zh)
CN (1) CN100573011C (zh)
TW (1) TWI275762B (zh)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5107528B2 (ja) * 2006-04-24 2012-12-26 光洋サーモシステム株式会社 排出ガス処理ユニット
JP4291832B2 (ja) * 2006-06-23 2009-07-08 株式会社フューチャービジョン 基板焼成炉の給排気システム
JP4372806B2 (ja) * 2006-07-13 2009-11-25 エスペック株式会社 熱処理装置
JP4273145B2 (ja) * 2006-09-13 2009-06-03 エスペック株式会社 熱処理装置
WO2008038880A1 (en) * 2006-09-28 2008-04-03 Korea Pionics Co., Ltd. Annealing apparatus
JP5015541B2 (ja) * 2006-10-07 2012-08-29 昭和鉄工株式会社 熱処理装置
JP4630307B2 (ja) * 2007-05-22 2011-02-09 エスペック株式会社 熱処理装置
JP4589943B2 (ja) * 2007-06-12 2010-12-01 エスペック株式会社 熱処理装置
JP2009047351A (ja) * 2007-08-20 2009-03-05 Tohoku Univ 循環式の基板焼成炉
WO2009088056A1 (ja) * 2008-01-11 2009-07-16 Nikki-Universal Co., Ltd. 熱処理炉排ガスの浄化用触媒、該触媒による熱処理炉排ガスの浄化方法および熱処理炉の汚染防止方法
JP4331784B2 (ja) * 2008-07-22 2009-09-16 株式会社フューチャービジョン 基板焼成炉の給排気方法
US20170032983A1 (en) * 2015-07-29 2017-02-02 Tokyo Electron Limited Substrate processing apparatus, substrate processing method, maintenance method of substrate processing apparatus, and storage medium
JP6855687B2 (ja) * 2015-07-29 2021-04-07 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板処理方法及び基板処理装置のメンテナンス方法及び記憶媒体

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61174464A (ja) * 1985-01-23 1986-08-06 京都機械株式会社 布帛の熱処理装置
JPS6399492A (ja) * 1986-10-14 1988-04-30 株式会社村田製作所 排ガス処理装置
JPH087656Y2 (ja) * 1989-08-15 1996-03-04 千住金属工業株式会社 リフロー炉
US5282880A (en) * 1992-09-15 1994-02-01 Olson Larry K Low pressure plasma metal extraction
JPH11197517A (ja) * 1998-01-08 1999-07-27 Honda Motor Co Ltd 触媒用金属担体
JP3696505B2 (ja) * 2000-12-15 2005-09-21 光洋サーモシステム株式会社 熱処理装置および熱処理方法
JP2003214772A (ja) * 2002-01-21 2003-07-30 Ngk Insulators Ltd 熱処理炉
JP2003247706A (ja) * 2002-02-26 2003-09-05 Japan Steel Works Ltd:The 有機性廃棄物の燃焼方法および燃焼装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR101184570B1 (ko) 2012-09-21
TW200604479A (en) 2006-02-01
JP2006017357A (ja) 2006-01-19
CN100573011C (zh) 2009-12-23
KR20060048613A (ko) 2006-05-18
CN1737478A (zh) 2006-02-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI275762B (en) Heat treatment apparatus
KR101075290B1 (ko) 유리 제조 시스템에서 하나 또는 그 이상의 용기 주위의 환경을 제어하는 시스템 및 방법
JPH05291158A (ja) 熱処理装置
TWI325168B (zh)
TWI400418B (zh) Heat treatment apparatus and heat treatment method
JP4372806B2 (ja) 熱処理装置
US20070062612A1 (en) Carburizing treatment apparatus and method
JP2004103630A (ja) シャワーヘッド及びシャワーヘッドを用いた半導体熱処理装置
JP5288874B2 (ja) 異物検査装置
JP2009243879A (ja) 熱処理装置
TW565924B (en) Substrate heat treatment apparatus and manufacturing method of flat device
JP4630307B2 (ja) 熱処理装置
JP2007313440A (ja) 廃棄物処理方法及び廃棄物処理装置
JP2008298301A (ja) 気体処理ユニット
JPS6341028A (ja) 酸化膜形成方法
JP2009137177A (ja) フィルム熱処理炉およびフィルム熱処理炉のメンテナンス方法
JP2006245491A (ja) 基板熱処理装置および基板熱処理製造方法
JP2007010186A (ja) 熱処理装置
KR20140000776A (ko) 유리 기판의 열처리장치
JP2004193484A (ja) オゾン処理装置
JP4198094B2 (ja) 廃棄物処理装置
JP2006007130A (ja) 廃棄物処理装置
TW202246586A (zh) 金屬氧化物單晶製造裝置
TW200415728A (en) Ozone processing apparatus
JP2000058469A (ja) 基板熱処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees