TWI250348B - Thin-film circuit device and its manufacturing method, electro-optical device, and electronic device - Google Patents

Thin-film circuit device and its manufacturing method, electro-optical device, and electronic device Download PDF

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Description

1250348 (1) 玖、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明是在於提供一種三次元形成薄膜電路的薄膜電 ~ 路裝置及供以製作具有三次元的薄膜電路構造的薄膜電路 , 裝置之製造方法。 【先前技術】 在半導體裝置等中,由於在基板上形成所要的層或領 Φ 域來製造積層體時包含高温處理等的過程,因此構成基板 ~ 或積層體的構件選擇會受到限制。例如,樹脂膜或塑膠基 板等不適於高温處理。 在此,例如記載日本特開2002-217391號公報的發明 . 所提案之剝離複製技術,其係於耐熱性的第1基板上隔著 、 分離層來形成薄膜電路,在此薄膜電路接著非耐熱性的第 2基板,破壞分離層來將薄膜電路複製於第2基板側。 〔專利文献〕 特開2002-2 1 7391號公報 【發明內容】 (發明所欲解決的課題) 只要能夠應用上述剝離複製技術來重疊薄膜電路而實 現3次元的電路構造,即可製造半導體裝置或顯示裝置。 但,爲了取得立體的電路構造,而必須進行被剝離複 -4- (2) 1250348 製之上下層的薄膜電路間的配線連接或積層膜之上下方向 的電性連接。在上述基板間電路複製技術中並未提及積層 形成非導電性的剝離層,接着層’保護層等,且進行所被 積層之薄膜電路間的上下方向配線連接。 因此,本發明的目的是在於提供一種薄膜裝置的製造 方法,其係提供可連接薄膜電路相互間而積層的剝離複製 技術。 又,本發明的目的是在於提供一種適於實現3次元的 電路構造之薄膜裝置。 又,本發明的目的是在於提供一種使用如此的薄膜裝 置之電子機器。 (用以解決課題的手段) 爲了達成上述目的,本發明之薄膜電路裝置的特徵包 含: 底層; 薄膜電路層,其係成膜於上述底層上’具有作爲電路 的機能;及 連接電極,其係貫通上述底層的一部份’而以能夠與 上述薄膜電路層呈相反側的面大槪一致之方式來露出於上 述底層,進行外部電路與上述薄膜電路層的連接。 藉此構成,連接電極可露出於外部來連接薄膜電路層 與外部電路,薄膜電路層的積層會形成容易。 又,最好上述薄膜電路裝置更具有: - 5- 1250348 (3) 保護層,其係覆蓋上述薄膜電路層的至少一部份,而 來保護上述薄膜電路層;及 連接電極,其係貫通上述保護層的一部份,而以能夠 與上述薄膜電路層呈相反側的面大槪一致之方式來露出於 上述保護層,進行外部電路與上述薄膜電路層的連接。 藉此,可於薄膜電路層的上面及下面的兩面進行電性 連接。 又,本發明之薄膜電路裝置的特徵包含: 第1基板,其係具有耐熱性; 剝離層,其係形成於上述第1基板上,藉由能量賦予 來產生剝離; 絕緣性的底層,其係形成於上述剝離層上; 薄膜電路層,其係形成於上述底層上; 保護層,其係形成於上述薄膜電路層上;及 連接電極,其係貫通上述底層的一部份,而連接至上 述剝離層,藉由該剝離層的剝離來露出,而進行外部電路 與上述薄膜電路層的連接。 藉此構成,可取得用以構成複數積層的薄膜電路裝置 之基本薄膜電路層。可在基板重複予以剝離複製下來容易 積層薄膜電路層。 又,最好在上述剝離層與上述底層之間更具有保護層 〇 藉此,可迴避剝離複製時之薄膜電路層的破壊,特別 是連接至剝離層之連接電極的破壊。 -6 - 1250348 (4) 又,本發明之薄膜電路裝置的特徵係積層有: 第1薄膜電路層,其係包含:形成於底層與保護層之 間的第1薄膜電路,和連接至上述第1薄膜電路而從上述 底層下面的一部份露出之下部連接電極層;及 第2薄膜電路層,其係包含:形成於底層與保護層之 間的第2薄膜電路,和連接至上述第2薄膜電路,而露出 於上述保護層的上面的一部份之上部連接電極,和連接至 上述第2薄膜電路,而從上述底層下面的一部份露出之下 部連接電極; 上述第1薄膜電路層的下部連接電極與上述第2薄膜 電路層的上部電極會被連接。 藉此構成,可取得複數積層之薄膜電路的基本積層構 造。 又,最好上述下部連接電極及上述上部連接電極相互 間的連接係經由向異性導電材料或導電性接著劑來進行。 藉此,可進行薄膜電路層間的電性連接。 又,最好上述下部連接電極與上述底層大致形成面一 致。藉此,可容易使薄膜電路層的底面形成平坦化來積層 〇 又,最好上述第1及第2薄膜電路層的各層下面會大 致形成平行。藉此,可提高薄膜電路層的積層精度。 又,本發明之光電裝置的特徵係具備上述薄膜電路裝 置。 又,本發明之電子機器的特徵係具備上述光電裝置。 (5) 1250348 本發明之薄膜電路裝置的製造方法的特徵包含: 在形成有剝離層的第1基板上,形成一在至少一面形 成連接電極的第1薄膜電路層之過程; 在形成有剝離層的第2基板上,形成一在一面及另一 面分別形成連接電極的第2薄膜電路層之過程; 由上述第1基板來剝離上述第1薄膜電路層,而複製 於複製端基板側之過程;及 使形成於上述第2基板的第2薄膜電路層的連接電極 與複製於上述複製端基板側的第1薄膜電路層的連接電極 重疊,而來接合上述第1及第2薄膜電路層,由上述第2 基板來剝離上述第2薄膜電路層,而予以複製於上述第1 薄膜電路層後積層之過程。 藉此構成,可製造積層薄膜電路層的薄膜電路裝置。 又,最好上述薄膜電路層係由以下過程所製作: 在上述電路形成基板上的剝離層上形成底層之過程; 在上述底層上形成薄膜電路之過程; 貫通上述底層的一部份,而形成露出上述剝離層的接 觸孔之過程; 在上述接觸孔與上述薄膜電路之間形成電極配線之過 程;及 在上述薄膜電路及上述電極配線上形成保護層之過程 〇 藉此,可取得形成複製單位之具備連接電極的薄膜電 路層。 -8- (6) 1250348 又,最好更包含: 在上述剝離層與上述薄膜電路層之間形成保護層之過 程;及 在剝離上述薄膜電路層而複製之過程後去除上述保護 層之過程。 藉此,可迴避剝離複製時之薄膜電路層的破壊,特別 是連接至剝離層之連接電極的破壊。 又,最好上述保護層是由與薄膜電路的底層相異的材 料,例如,氮化矽,金屬等的成膜所構成。 又,亦可藉由非晶形矽層/絕緣膜(氧化矽,氮化矽 )/非晶形矽層等的三層膜來構成上述保護層。此情況, 下層(電路形成基板側)的非晶形矽層是作爲剝離層,上 層的非晶形矽層是作爲保護層。 【實施方式】 以下,參照圖面來說明本發明的實施形態。 本發明之實施例的薄膜電路裝置具有將薄膜電路複數 積層於上下方向的構造,其中間層的薄膜電路具備由上面 及下面來取出電極的構造。又,本發明之實施例的薄膜電 路裝置會藉由形成露出於薄膜電路背面的電極來容易連接 下層薄膜電路或外部配線。 本實施例的製造方法是在使用剝離複製技術的薄膜電 路裝置的製造過程中包含形成背面電極的過程,其係形成 貫通薄膜電路層的底層之接觸孔’且於該部份形成金屬等 -9- (7) 1250348 的導電膜,而使由底層露出,進行與其他薄膜電路層的連 接。並且,該背面電極與薄膜電路層的底層會形成面一致 ,以薄膜電路層的背面能夠形成平坦之方式來容易積層。 而且,可迴避薄膜電路層的積層所造成的底層凹凸會出現 於上側的薄膜電路層表面。 圖1是表示積層本發明的複數個薄膜電路層而構成三 次元電路的薄膜電路裝置例的剖面圖。 在同圖中,在複製端基板31經由接著劑32來安裝有 第1薄膜電路層21。在此薄膜電路層21經由接著劑33 來安裝有第2薄膜電路層22。又,於薄膜電路層22經由 接著劑34來安裝有第3薄膜電路層23。各薄膜電路層是 由薄膜電晶體,二極體,電阻,電容器,配線,電極的至 少其中之一來形成薄膜電路,而發揮一定的電路機能。 薄膜電路層21及22相互間的電路連接是藉由配置於 薄膜電路層21的下部電極211,薄膜電路層22的上部電 極229,及電極211,229間的向異性導電材料35來連接 。薄膜電路層22及23相互間的電路連接是藉由配置於薄 膜電路層22的下部電極22 1,薄膜電路層23的上部電極 239,及電極221,239間的向異性導電材料35來連接。 向異性導電材料35是具有在被壓縮的方向上導通的性質 。例如,使導電性粒子分布於絕緣性的彈性材料中,藉由 壓縮彈性材料來連接導電性粒子,而於壓縮方向形成電性 通路。 在最下層的薄膜電路層23,下部電極231會露出於 •10- (8) 1250348 其下面。在此下部電極231會藉由可撓性印刷配線,捲帶 自動結合或打線接合等來連接未圖示的外部配線。背負各 薄膜電路層的薄膜電路的底層(後述的212,222,2 3 2 ) 的下面與由該下部電極的底層露出的露出面會形成平坦。 因此’會以其上面形成平坦之方式來塗佈或形成連接薄膜 電路層相互間的接著劑層32,33,34,藉此可使複數個 薄膜電路層(底層基板)的各底面大致平行重疊,而正確 地形成3次元的電路構造。 又,可改變或追加上述向異性導電膜35,而於電極 部份的相互接合使用導電性接著劑。 又,上述實施例中雖上部的薄膜電路層21與下部的 薄膜電路層23是經由薄膜電路層22的薄膜電晶體電路來 連接構成,但亦可僅以電極配線來直接連接薄膜電路層 2 1乃至2 3間。例如,在電源供給配線等時可適用該直接 連接。 藉由如此積層薄膜電路層(在上面及下面露出電極) ,可取得三次元形成電路的薄膜裝置。 其次’參照圖2乃至圖4來說明有關上述三次元的電 路構造的薄膜裝置的製造方法。 爲了積層薄膜電路層,如圖2 ( a )所示,必須形成 露出於薄膜電路21的底層212之下部電極211。 圖3及圖4是用以說明薄膜電路層21的形成過程的 過程圖。 首先’在石英玻璃基板(Si02 )等耐熱性佳的透明電 -11 - 1250348 (9) 路形成基板11上,藉由LP-CVD,濺鍍,或PE-CVD法等 來形成非晶形矽(a-Si)膜,而作爲剝離層12。並且,在 上面藉由PE-CVD法來形成氧化矽膜(Si02),而作爲薄 膜電路21的底層(絕緣層)212。而且,在上面藉由 CVD法來形成矽層(Si) 213,而作爲半導體層,且施以 雷射照射等的熱處理來使(多)結晶化。又,藉由對該矽 層2 1 3進行圖案形成處理來形成電晶體的活性領域或配線 等(圖 3 ( a ))。 又,在上面藉由熱氧化或例如以TEOS爲材料的PE-CVD法來形成氧化矽膜,形成閘極絕緣膜214 (圖3 ( b ))。 又,在閘極絕緣膜214上例如藉由CVD法來形成植 入雜質的多晶矽層,或藉由濺鍍來形成以鉻,鉬,钽,鋁 等爲主成分的金屬薄膜層,接著進行圖案形成處理,而形 成閘極電極及配線215(圖3(c))。 其次,以阻絕層220及閘極電極215作爲光罩,藉由 離子注入法來對矽層213進行例如磷離子P +的高濃度雜 質注入,形成由N型半導體所構成的源極汲極領域(圖 3 ( d ))。同樣的,以阻絕層22 1及閘極電極2 1 5作爲光 罩,藉由離子注入法來對矽層213進行例如硼離子的高濃 度雜質注入,形成由P型半導體所構成的源極汲極領域 ,且藉由進行熱處理來使源極汲極領域或配線的雜質活 性化(圖3 ( e ))。
又,在閘極電極215及閘極氧化膜214上藉由CVD -12- 1250348 (10) 法來形成氧化矽膜,而作爲層間絕緣膜2 1 6 (圖3 ( f )) 〇 其次,藉由對層間絕緣膜2 1 6進行圖案形成處理來形 成接觸孔。此刻,除了電晶體的源極汲極領域的接觸孔 會進行蝕刻以外,應形成底層2 1 2的上述下部電極2 1 1的 部份也會進行蝕刻(圖3 ( g ))。爲了形成下部電極2 1 1 ,在該部份蝕刻會進行至剝離層1 2爲止。 其次,形成鋁,鉬,鎢,ITO等的金屬膜,或以高濃 度植入雜質的多晶矽膜等,且藉由進行圖案形成處理來形 成下部電極配線源極汲極電極217(圖3(h))。 又,如圖4所示,在上面形成層間絕緣膜(Si02 )或 保護膜(PSG) 218,且因應所需藉由硏磨來使上面平坦 化(圖4(a))。又,亦可在形成有配線等的電路形成 基板1 1上面旋轉塗佈絕緣性的樹脂而成膜,且形成平坦 面,而作爲上述保護膜218。如此來形成薄膜電路層21。 又,於薄膜電路層21的上面均一地塗佈接著劑32, 安裝於複製端基板31(圖4(b))。 由電路形成基板11的下方來將雷射等的強光照射於 剝離層1 2,使產生剝離層1 2的界面剝離或層内剝離。在 此,之所以會在剝離層1 2產生界面剝離及/或層内剝離 ,其原因如特開平1 0- 1 2593 0所示,有可能是在剝離層 12的構成材料產生擦傷,或剝離層12中所含的氣體成分 放出,或者是因爲光照射而造成剝離層12的溶融,蒸散 等的相變態所致。在此,所謂擦傷是意指吸收照射光的固 -13- 1250348 (11) 體材料(在此爲剝離層1 2的構成材料)會被光化學性或 熱性地激勵,其表面或内部的原子或分子的結合會被切斷 而放出,有時剝離層12會被破壊,而導致結合力下降, 或消失(圖4 ( c )。 由電路形成基板11來剝離薄膜電路層21,於複製端 基板3 1側進行複製(圖4 ( d ))。並且,藉由蝕刻來去 除殘存的剝離層12,取得圖2(a)所示具有第1薄膜電 路層21的基板(圖4(e))。 圖2(b)是表示形成於剝離複製前的電路形成基板 11之第2薄膜電路層22。薄膜電路層22包含:底層222 ,半導體層223,閘極絕緣層 224,閘極電極及配線層 225,層間絕緣膜226,源極汲極電極227,保護膜228 ,上部電極229。第2薄膜電路層22亦與上述第1薄膜 電路層21同樣的形成於電路形成基板11及剝離層12上 (參照圖3及圖4) ’但在配置於所被積層的薄膜電路中 間的第2薄膜電路層22除了下部電極221以外還形成有 從保護膜228露出的上部電極229。 上部電極229的形成是在圖4(a)所示的製造過程 中,於保護膜218 (相當於22 8 )形成接觸孔’使配線材 料成膜來進行圖案形成處理而取得者。 圖2(c)是表示形成於剝離複製前的電路形成基板 11之第3薄膜電路層23。薄膜電路層23包含:底層232 ,半導體層2 3 3,閘極絕緣層2 3 4 ’閘極電極及配線層 235,層間絕緣膜236,源極汲極電極237’保護膜238 -14- (12) 1250348 ’上部電極239。第3薄膜電路層亦與上述第1薄膜電路 層21同樣的形成於電路形成基板Π及剝離層12上,但 在配置於所被積層的薄膜電路的最下層之第3薄膜電路層 除了下部電極231以外還形成有從保護膜2 3 8露出的上部 電極239。上部電極239的形成是在圖4(a)所示的製造 過程中,於保護膜218 (相當於2 3 8 )形成接觸孔,使配 線材料成膜來進行圖案形成處理而取得者。 如圖2(d)所示,構成於各電路形成基板上的薄膜 電路層2 1〜23是藉由剝離複製法來積層組合。 亦即,在安裝於圖2(a)所示的複製端基板31的薄 膜電路層21的下面經由向異性導電材料35及接著劑33 來接合圖2(b)所示的薄膜電路層22。並且,由薄膜電 路層22的電路形成基板1 1的下面來照射雷射,而使剝離 層12分離,從薄膜電路22來脫離電路形成基板11。而 且,因應所需進行蝕刻來去除殘留的剝離層1 2。 又,在安裝於複製端基板31側的薄膜電路層22的下 面經由向異性導電材料3 5及接著劑3 4來接合圖2 ( c ) 所示的薄膜電路層23。並且,由薄膜電路層23的電路形 成基板11的下面來照射雷射,而使剝離層12分離,從薄 膜電路23來脫離電路形成基板11。而且,因應所需進行 蝕刻來去除殘留的剝離層1 2。 如此來取得圖1所示三次元配置薄膜電路的薄膜裝置 。往薄膜裝置之外部配線的連接是在露出於下面的下部電 極23 1藉由焊錫凸起,可撓性配線基板(帶),打線接合 -15- 1250348 (13) 等來進行。 又,雖是以非晶形矽的例子來説明剝離層1 2,但此 非晶形矽中亦可含有Η (氫)。若含有氫,則可藉由光的 照射來放出氫,藉此於剝離層產生内壓,促進剝離。氫的 含量是根據成膜條件,例如在使用CVD法時,可藉由適 當設定其氣體組成,氣體壓力,氣體環境,氣體流量,氣 體温度,基板温度,及投入的光的功率等條件來予以調整 。又,剝離層可適當使用氧化矽或矽氧化合物,氧化鈦或 鈦氧化合物,有機高分子材料,金屬等。 如上述,藉由剝離複製法來三次元的積層薄膜電路時 ,最好是在薄膜電路層的下面形成連接用的電極。圖5及 圖6是表示在薄膜電路層的下面形成電極之其他的薄膜電 路層例。 就圖5 ( a )乃至同圖(f)所示的例子而言,是在剝 離層12與底層212及下部電極211之間形成底層保護層 1 3。對該圖中與圖4對應的部份賦予同樣的符號,且省略 該部份的説明。 底層保護層13是例如與底層212的材質相異的氮化 矽(SiN)層或金屬層,可防止不要的成份由剝離層12侵 入至下部電極211及底層212側,或在剝離複製時防止熱 往剝離層12,以及破壊能量波及下部電極211及底層212 。如圖5(e)及同圖(f)所不,底層保護層13是在薄膜 電路層2 1的剝離複製後藉由蝕刻來去除。 此刻,最好是以底層保護層13與底層212及/或下 -16- (14) 1250348 部電極211的選擇比充分大的手法來蝕刻底層保護層13 。例如,在底層保護層1 3使用氮化矽時,可利用磷酸, 硝酸,醋酸,或該等的混合溶液(混酸)來蝕刻底層保護 層1 3。此刻,例如以矽氧化物構成之底層2 1 2的蝕刻速 率小,因此可對底層保護層13進行過分蝕刻(overetching) 來完 全去除 。並且 ,可藉 由在下 部電極 211 的下 表面設置鉻,鈦,ITO等的導電性保護層來防止底層保護 層13的蝕刻時之下部電極211的腐蝕。 就圖6 ( a )乃至同圖(f)所示的例子而言,是在剝 離層12與底層212及下部電極211之間形成保護層13及 1 4。對該圖中與圖4對應的部份賦予同樣的符號,且省略 該部份的説明。 保護層1 3例如爲氧化矽層,氮化矽層等的絕緣膜, 保護層1 4例如爲非晶形矽層。在形成兩層的非晶形矽層 1 2及1 4中下側爲剝離層,上側爲保護層。如圖6 ( e )及 同圖(f)所示,底層保護層13及14是在薄膜電路層21 的剝離複製後藉由蝕刻來去除。 此刻,最好還是以底層保護層13與14,或底層保護 層14與底層212及/或下部電極211的選擇比充分大的 手法來蝕刻底層保護層1 3。例如,在底層保護層1 3使用 矽氧化物,在底層保護層14使用非晶形矽層時,可在蝕 刻底層保護層1 3時例如使用含氟酸的溶液。此刻,由於 底層保護層14的蝕刻速率小,因此可對底層保護層13進 行過分蝕刻來完全去除。並且,在蝕刻底層保護層1 4時 -17- (15) 1250348 ,例如可利用使用含cf4的氣體之乾蝕刻。此刻 矽氧化物構成之底層2 1 2的蝕刻速率小,因此可 護層14進行過分蝕刻來完全去除。而且,可藉 電極2 1 1的下表面設置鉻,鈦,ITO等的導電性 防止底層保護層13的蝕刻時之下部電極211的廢 圖7是表示薄膜電路層的具體例,在第1薄 形成倒立型有機EL顯示元件。在未圖示的電路 上隔著剝離層來形成薄膜電晶體3 1 1,配線3 313,間隔壁314,發光層315,陰極316等,而 製於複製端基板31。薄膜電路層21會被複製於 板31,藉此下部電極317會從下面的底層來露出 又,如圖7所示,可藉由在薄膜電路層21 成外部連接電極3 1 7來由外部供給信號。藉由對 板3 1的1次剝離複製,可以薄膜電路層2 1對複 31而言爲保持上下反轉的構造來作爲有機EL畫 電路使用。此情況,與使用暫時複製基板來進行 離複製而形成上下非反轉的情況時相較之下,具 製程數的優點。 因此,薄膜電路的積層可隨著積層場所或電 程度來改變積層數。例如,可在第1薄膜電路層 積層第2薄膜電路層,在此第2薄膜電路的一部 3薄膜電路層。又,亦可在第1薄膜電路層積層 2薄膜電路層,跨越此第2薄膜電路層來形成第 路層。 ,例如以 對底層保 由在下部 保護層來 【蝕。 膜電路層 形成基板 12,陽極 來剝離複 複製端基 〇 的下面形 複製端基 製端基板 素的薄膜 2次的剝 有可減少 路的複雜 的一部份 再積層第 複數個第 3薄膜電 -18- (16) 1250348 如此’薄膜電路電路層的積層形態可爲各種的形態, 因應所需來適宜地選擇。 圖8是用以說明使用具備本發明的各種薄膜電路裝置 的光電裝置之電子機器的例子。上述薄膜電路裝置是例如 適用於光電裝置,驅動裝置,控制裝置等。在此,所謂光 電裝置是意指一般具備光電元件的裝置,該光電元件是藉 由電性作用來發光或使來自外部的光狀態變化,包括自我 發光者及控制來自外部的光通過者。就光電元件而言,例 如有液晶元件’電泳元件(具有分散電泳粒子的分散媒體 ),上述EL (有機電致發光)元件,及電子放出元件( 使藉由電場的施加來產生的電子觸及發光板而發光),將 具備該等的顯示裝置稱爲光電裝置。 就電子機器而言,例如有使用積層的薄膜電路裝置之 光電裝置來作爲顯示部用的電子機器,在此,電子機器包 含攝影機,電視,大型螢幕,行動電話,個人電腦,攜帶 型資訊機器(所謂的PDA),及其他各種電子機。 圖8 ( a )爲行動電話的適用例,行動電話5 1 0具備 天線部511,聲音輸出部512,聲音輸入部513,操作部 514,及包含積層薄膜電路裝置的光電裝置51。藉此’本 發明的積層薄膜電路裝置可作爲行動電話510的顯示部使 用。同圖(b)爲攝影機的適用例,攝影機520具備:受 像部521,操作部522’聲音輸入部5 23’及包含積層薄 膜電路裝置的光電裝置51。藉此’本發明的積層薄膜電 路裝置可作爲取景器或顯示部使用。同圖(c)爲攜帶型 -19- 1250348 (17) 個人電腦的適用例,電腦5 3 0具備:攝影部5 3 1,操作部 5 3 2,及包含積層薄膜電路裝置的光電裝置51。藉此,本 發明的積層薄膜電路裝置可作爲顯示部使用。 同圖(d )爲頭戴式顯示器的適用例,頭戴式顯示器 540具備:帶子541,光學系収納部542及包含積層薄膜 電路裝置的光電裝置51。藉此,本發明的積層薄膜電路 裝置可作爲畫像顯示器使用。同圖(e)爲後置型投影機 的適用例,投影機5 5 0是在框體551中具備··光源5 52 ’ 合成光.學系553,反射鏡554,反射鏡555,螢幕556,及 包含積層薄膜電路裝置的光電裝置51。藉此,本發明的 積層薄膜電路裝置可作爲畫像顯示器使用。同圖(f)爲 前置型投影機的適用例,投影機560是在框體562中具備 光學系561及包含積層薄膜電路裝置的光電裝置51,可 將畫像顯示於螢幕5 63。藉此,本發明的光電裝置可作爲 畫像顯示器使用。 本發明的積層薄膜電路裝置並非限於上述例,亦可實 施其他各種的電子機器。例如,可活用於附顯示機能傳真 裝置,數位相機的取景器,攜帶型TV,DSP裝置,PDA ,電子記事本,電光掲示盤,宣傳公告用顯示器等。 如以上所述,若利用本發明,則可藉由剝離複製法來 複數積層薄膜電路層,而構成薄膜電路裝置。並且,在使 用積層的薄膜電路層之下,與直接將各電路形成於基板上 時相較之下,可減少在基板上電路所消耗的面積。而且, 在彼此積層薄膜電路之下,可縮短電路間的信號傳達距離 -20- 1250348 (18) 【圖式簡單說明】 圖1是用以說明積層本發明的薄膜電路層而構成的薄 膜電路裝置。 圖2(a)〜(d)是用以說明薄膜電路層的製造過程 之過程圖。 圖3(a)〜(h)是用以說明薄膜電路層的製造過程 之過程圖。 圖4(a)〜(e)是用以說明具有薄膜電路層間的連 接電極之薄膜電路層的形成過程例的過程圖。 圖5(a)〜(f)是用以說明具有薄膜電路層間的連 接電極之薄膜電路層的形成過程例的其他例的過程圖。 圖6(a)〜(f)是用以說明具有薄膜電路層間的連 接電極之薄膜電路層的形成過程例的另外其他例的過程圖 〇 圖7是用以說明薄膜電路裝置的具體例(有機EL顯 示裝置)的説明圖。 圖8(a)〜(f)是表示使用積層本發明的薄膜電路 層而成的薄膜電路裝置之電子機器例的説明圖。 【主要元件符號說明】 21,22,23…薄膜電路層 31...複製端基板 -21 - (19) 1250348 32,33,3 4...接著劑 3 5...向異性導電材料 211,221,231…下部電極 229,2 3 9…上部電極 -22·

Claims (1)

  1. ^ νΛ*· ·ν *TJl Θ >ι 月22日修正 具有作爲電路 ,而以能夠與 式來露出於上 建接。 置,其中更具 少一部份,而 份,而以能夠 方式來露出於 罾的連接。 藉由能量賦予 拾、申請專利範圍 第93 1 14508號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民國94年 1· 一種薄膜電路裝置,其特徵包含: 底層; 薄膜電路層,其係成膜於上述底層上, 的機能;及 連接電極,其係貫通上述底層的一部份 上述薄膜電路層呈相反側的面大槪一致之方 述底層,進行外部電路與上述薄膜電路層的 2 ·如申請專利範圍第1項之薄膜電路裝 有: 保護層,其係覆蓋上述薄膜電路層的至 來保護上述薄膜電路層;及 連接電極,其係貫通上述保護層的一部 與上述薄膜電路層呈相反側的面大槪一致之 上述保護層,進行外部電路與上述薄膜電路 3.—種薄膜電路裝置,其特徵包含: 第1基板,其係具有耐熱性; 剝離層,其係形成於上述第1基板上, 來產生剝離; 絕緣性的底層,其係形成於上述剝離層上; (2) 1250348 薄膜電路層’其係形成於上述底層上; 保護層’其係形成於上述薄膜電路層上;及 連接電極,其係貫通上述底層的一部份,而連接至上 述剝離層’藉由該剝離層的剝離來露出,而進行外部電路 與上述薄膜電路層的連接。 4 ·如申請專利範圍第3項之薄膜電路裝置,其中在上 述剝離層與上述底層之間更具有保護層。 5·—種薄膜電路裝置,其特徵係積層有: 第1薄膜電路層,其係包含:形成於底層與保護層之 間的第1薄膜電路,和連接至上述第1薄膜電路而從上述 底層下面的一部份露出之下部連接電極層;及 第2薄膜電路層,其係包含:形成於底層與保護層之 間的第2薄膜電路,和連接至上述第2薄膜電路,而露出 於上述保護層的上面的一部份之上部連接電極,和連接至 上述第2薄膜電路,而從上述底層下面的一部份露出之下 部連接電極; 上述第1薄膜電路層的下部連接電極與上述第2薄膜 電路層的上部電極會被連接。 6 .如申請專利範圍第5項之薄膜電路裝置,其中上述 下部連接電極及上述上部連接電極相互間的連接係經由向 異性導電材料或導電性接著劑來進行。 7 . —種光電裝置,其特徵係具備申請專利範圍第1〜6 項的其中任一項所記載之薄膜電路裝置。 8 . —種薄膜電路裝置的製造方法,其特徵包含: -2 - (3) 1250348 在形成有剝離層的第1基板上,形成一在至少一面形 成連接電極的第1薄膜電路層之過程; 在形成有剝離層的第2基板上,形成一在一面及另一 面分別形成連接電極的第2薄膜電路層之過程; 由上述第1基板來剝離上述第1薄膜電路層,而複製 於複製端基板側之過程;及 使形成於上述第2基板的第2薄膜電路層的連接電極 與複製於上述複製端基板側的第1薄膜電路層的連接電極 重疊,而來接合上述第1及第2薄膜電路層,由上述第2 基板來剝離上述第2薄膜電路層,而予以複製於上述第1 薄膜電路層後積層之過程。 9.如申請專利範圍第8項之薄膜電路裝置的製造方法 ,其中上述薄膜電路層係由以下過程所製作: 在上述電路形成基板上的剝離層上形成底層之過程; 在上述底層上形成薄膜電路之過程; 貫通上述底層的一部份,而形成露出上述剝離層的接 觸孔之過程; 在上述接觸孔與上述薄膜電路之間形成電極配線之過 程;及 在上述薄膜電路及上述電極配線上形成保護層之過程 〇 1 〇 .如申請專利範圍第8項之薄膜電路裝置的製造方 法,其中更包含: 在上述剝離層與上述薄膜電路層之間形成保護層之過 (4) 1250348 程;及 在剝離上述薄膜電路層而複製之過程後去除上述保護 層之過程。
    -4-
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Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8415208B2 (en) 2001-07-16 2013-04-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and peeling off method and method of manufacturing semiconductor device
US7229900B2 (en) 2003-10-28 2007-06-12 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, method of manufacturing thereof, and method of manufacturing base material
KR100685239B1 (ko) * 2004-01-29 2007-02-22 가시오게산키 가부시키가이샤 트랜지스터어레이 및 그 제조방법 및 화상처리장치
US7863188B2 (en) 2005-07-29 2011-01-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP5127178B2 (ja) * 2005-07-29 2013-01-23 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
JP5344360B2 (ja) * 2006-01-24 2013-11-20 セイコーエプソン株式会社 薄膜回路装置、電子機器及び製造方法
KR20070112954A (ko) * 2006-05-24 2007-11-28 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Tft 어레이 기판 및 그 제조방법
FR2903228A1 (fr) * 2006-07-03 2008-01-04 Commissariat Energie Atomique Procede ameliore de realisation d'un dispositif d'affichage sur un support souple
FR2906078B1 (fr) * 2006-09-19 2009-02-13 Commissariat Energie Atomique Procede de fabrication d'une structure micro-technologique mixte et une structure ainsi obtenue
US8232598B2 (en) 2007-09-20 2012-07-31 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and method for manufacturing the same
US8062961B1 (en) * 2008-03-28 2011-11-22 Renesas Electronics Corporation Method for manufacturing a semiconductor device
JP5309672B2 (ja) * 2008-04-21 2013-10-09 カシオ計算機株式会社 薄膜素子およびその製造方法
KR101802137B1 (ko) 2008-07-10 2017-11-28 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 발광 장치 및 전자 기기
DE102008033395B3 (de) * 2008-07-16 2010-02-04 Austriamicrosystems Ag Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelementes und Halbleiterbauelement
US8610482B2 (en) * 2011-05-27 2013-12-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Trimming circuit and method for driving trimming circuit
US9496255B2 (en) 2011-11-16 2016-11-15 Qualcomm Incorporated Stacked CMOS chipset having an insulating layer and a secondary layer and method of forming same
CN104684469B (zh) * 2012-10-02 2016-12-07 独立行政法人科学技术振兴机构 信号检测装置以及信号检测方法
WO2014129519A1 (en) 2013-02-20 2014-08-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Peeling method, semiconductor device, and peeling apparatus
JP6490901B2 (ja) * 2013-03-14 2019-03-27 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置の作製方法
CN104058363B (zh) * 2013-03-22 2016-01-20 上海丽恒光微电子科技有限公司 基于mems透射光阀的显示装置及其形成方法
WO2015087192A1 (en) 2013-12-12 2015-06-18 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Peeling method and peeling apparatus
US10978489B2 (en) * 2015-07-24 2021-04-13 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device, display panel, method for manufacturing semiconductor device, method for manufacturing display panel, and information processing device
KR102388701B1 (ko) * 2016-04-12 2022-04-19 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 박리 방법 및 플렉시블 디바이스의 제작 방법
US10170600B2 (en) * 2017-01-12 2019-01-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing semiconductor device

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0642494B2 (ja) * 1988-01-12 1994-06-01 日本電気株式会社 薄膜トランジスタの製造方法
JPH04255268A (ja) * 1991-02-07 1992-09-10 Seiko Instr Inc 半導体装置とその製造方法
JPH05326960A (ja) * 1992-05-20 1993-12-10 Seiko Epson Corp 薄膜トランジスタを備えた固体装置およびその製造方法
US5793115A (en) * 1993-09-30 1998-08-11 Kopin Corporation Three dimensional processor using transferred thin film circuits
US6107213A (en) * 1996-02-01 2000-08-22 Sony Corporation Method for making thin film semiconductor
JP3364081B2 (ja) * 1995-02-16 2003-01-08 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
US5675185A (en) * 1995-09-29 1997-10-07 International Business Machines Corporation Semiconductor structure incorporating thin film transistors with undoped cap oxide layers
US5986729A (en) 1996-07-10 1999-11-16 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Liquid crystal display device and method of manufacturing the same
JP4619461B2 (ja) * 1996-08-27 2011-01-26 セイコーエプソン株式会社 薄膜デバイスの転写方法、及びデバイスの製造方法
JP3738799B2 (ja) * 1996-11-22 2006-01-25 セイコーエプソン株式会社 アクティブマトリクス基板の製造方法,アクティブマトリクス基板および液晶表示装置
JP4126747B2 (ja) * 1998-02-27 2008-07-30 セイコーエプソン株式会社 3次元デバイスの製造方法
JP4085459B2 (ja) * 1998-03-02 2008-05-14 セイコーエプソン株式会社 3次元デバイスの製造方法
JP2000133809A (ja) 1998-10-27 2000-05-12 Seiko Epson Corp 剥離方法
JP3809739B2 (ja) 1999-02-17 2006-08-16 セイコーエプソン株式会社 フィルタ付き表示装置の製造方法
JP3804349B2 (ja) * 1999-08-06 2006-08-02 セイコーエプソン株式会社 薄膜デバイス装置の製造方法、アクティブマトリクス基板の製造方法、および電気光学装置
CN1186683C (zh) * 1999-09-08 2005-01-26 松下电器产业株式会社 显示装置及其制造方法
JP3911929B2 (ja) 1999-10-25 2007-05-09 セイコーエプソン株式会社 液晶表示装置の製造方法
JP2001166301A (ja) 1999-12-06 2001-06-22 Seiko Epson Corp バックライト内蔵型液晶表示装置及びその製造方法
JP3755573B2 (ja) 1999-12-06 2006-03-15 セイコーエプソン株式会社 バックライト内蔵型液晶表示装置及びその製造方法
JP4712198B2 (ja) * 2000-02-01 2011-06-29 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置の作製方法
JP2002184993A (ja) * 2000-12-11 2002-06-28 Sony Corp 半導体装置
JP2002217391A (ja) * 2001-01-23 2002-08-02 Seiko Epson Corp 積層体の製造方法及び半導体装置
JP4244120B2 (ja) * 2001-06-20 2009-03-25 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置及びその作製方法
JP4019305B2 (ja) * 2001-07-13 2007-12-12 セイコーエプソン株式会社 薄膜装置の製造方法

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