TWI226438B - Probe for physical properties measurement - Google Patents

Description

1226438 五、發明說明（1) [發明所屬之技術領域] 本發明有關於物性測定用之測定塊。更詳而言之，本 發明與物性測定裝置所用測定塊之改良有關，物性測定裝 置，用以測定被測定物之複介電常數，根據所測得之複介 電常數來測定被測定物之含水量所代表的物性值。 [先前技術] 向來，測定被測定物之複介電常數，根據所測得之複 介電常數，來測定被測定物之含水量所代表的物性值，這 種裝置，有利用時域反射計（以下，稱之為TDR法。）的裝 置，例如日本國特許第2 7 4 0 5 2 8號所揭示之物性測定裝 置。 、 該物性測定裝置1 0 1，如第8圓所示，備有：訊號產生 部2，用以產生階躍脈衝以作為激勵訊號，施加於被^定 物1 0 0以及複介電常數已知之未圖示標準物質；檢出邛 130，用以把來自訊號產生部2的激勵訊號分別射双入被測定 物1 0 0以及標準物質，並拾Φ a μ才a & 1 . 干柳負工檢出分別來自破測定物1 00以及標 準物貝的反射波；記錄部4 ’用以按時間經過 檢出部13〇檢出之分別來自被測定物1〇〇以及標準物質于之反 ^皮，及號處理部5，用以對記錄部4所記錄來自標準物 質之反射 >皮以及來“皮測定物100之反射，皮，按帛率成分 ”差=口丄利用已記錄之標準物質的頻率成分所對應的 複；,電¥數求出被測定物100之複介電常數。標準物 選擇具有與被測定物i 00之複介電常數相近的複介電常數

1226438 五、發明說明（2) 者田，常採用由單-物質構成的液體： 氣曱烷、水等。 4 一 檢出部130之構成’包括：測定塊11〇，用以與被 接觸；採樣頭γ，作為訊號產生部2及記錄部4之間 32 '則二LI η轴電貌133，用以把測定塊110連接採樣頭 。測&塊110，如第9圖及第1〇圖所示，： 線；外部導體112，呈圓筒狀，與該内部導· 導體"mi門H緣體114 ’配置於内部導體111與外部 導體ill之二刘二定物100接觸的端面113，係與内部 導體ill之二二仃的平面，換言之，形成於一與内部 V體111之軸方向相垂直的平面上。 該物性測定装置1 〇 ] 接觸被測定物100的狀綠下在;則疋塊110的平面狀端面113 衝射入被測定物100=昭t訊號產生部2產生的階躍脈 定物10。的反射波記錚二間經過順序把來自該被測 的平面狀端面U3接觸。同樣地，在測定塊110 產生的階躍脈衝射入上準：質的狀態了，把訊號產生部2 自標準物質的反射波^物質’並按照時間經過順序把來 反射波的測定以及來ίί於記錄部4。來自被測定物100之 進行均可。然後，在2Ϊ物質之反射波的測定’何者先 標準物質的反射波理部5 ’對記錄部4所記錄來自 率成分求其差與和，^來自被測定物100的反射波’按頻 頻率成分的複介電常^事先記錄好的對應於標準物質之 數。 书數，求得被測定物100之複介電常 圓 2009-5958-PF(N1);Ahddub.ptd 1226438 五、發明說明（3) "" " "—^ 然而’該測定塊1 1 〇，如果被測定物丨〇 〇之表面凹凸不 平，則不容易把端面1 1 3密接於被測定物丨〇 〇上。測定塊 I 1 0之端面1 1 3未與被測定物1 〇 〇密接，則測定係包含了空 隙在内的複介電常數，而無法正確測定被測定物1〇〇之複 介電常數。 而且’被測定物1 〇 〇為食品時，可想見食品表面與食 品内部的水分狀態不同，故為了正確查出食品之鮮度等， 以測疋食品内部之含水量為佳。但，測定塊1 1 0係以平坦 的端面11 3對被測定物1 0 〇之表面作平行接觸，把測定塊 II 0刺向被測定物1 0 0時接觸被測定物丨〇 〇之表面的平面狀 端面11 3，其全體受到一樣的壓力，因而不容易把測定塊 11 0刺入被測定物1 0 0。因此，測定塊11 〇要測定被測定物 100内部的含水量是困難的。而且，會產生的問題是，如 果把測定塊11 0勉強刺入被測定物1 〇 〇，對於含有多量水分 的食品等的被測定物1 0 0，會使得水分流出被測定物1 〇 〇之 外，破壞了被測定物1 0 0的細胞組織。 為了讓測定塊11 0容易刺入被測定物10 0，考慮形成較 細的測定塊11 0直徑以便測定塊11 〇與被測定物1 〇 〇的接觸 面積變小，但弄細測定塊11 0的直徑會使得電極的電氣長 度變小。問題是，電氣長度小，會降低測定塊11 〇的感 度。 而且，由於複介電常數受溫度的影響，故測定複介電 常數時也測定被測定物1 0 0的溫度。向來，複介電常數之 測定與溫度之測定，分別使用專用的不同的測定塊。因

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1226438 五、發明說明（4) 此，同時進行 定位置不得不 差。 常數 定時 程或 束食 溫度 度差 述位 的位 際所 作出 另一 與溫 間誤 冷卻 品移 與週 異變 置誤 置的 測得 正確 方面 度時 差亦 過程 置於 遭溫 大， 差或 溫度 的溫 的複 遠2個物理量之測定時，被測定物丨〇 〇上的測 有所不同，產生測定點誤差亦即位置上的誤 ’在被測定物1 〇 〇上的同一處，測定複介電 ’因一方之測定需先於他方之測定，產生測 即時間上的誤差。被測定物丨〇 〇處於加熱過 時’例如被測定物1 〇 〇為經冷凍之食品該冷 長溫下進行測定時，當被測定物1 0 0本身的 度的差異較大時，被測定物1 0 0各部分的溫 其溫度的時間變化也變大。是以，在產生上 ，時間誤差的習知技術裏，測定複介電常數 或者測定複介電常數的時候的溫度，其與實 產生誤差。因此，問題是，對溫度 ;|電#數的測定是困難的。

[發明内容] 本發明之目的是要提供一換 被測定物表面有無凹Λ尤亚μ初庄劂疋用测疋塊，不淪 電常數，並可測定被測定物內=正確測定被測定物之複介 當的電氣長度。此外，纟“：之物，值’更能夠設定適 索田、目丨丨—祕.,, 本&月之目的是要提供一種物性測 位置近旁的溫度。 冑吊數之同# ’能夠測定出測定 為達成這樣的目的’測定被消μ μ ^ 根據測得之複介電常數來、m、ai : : m電吊數，再 的物性測定裝置，本於明斜认m疋奶t a水里4物性值 ^ 十於用於該物性測定裝置，具有

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外部電 向’形 部電極同軸配置之 於内部電極的轴方 作芯線用之内部電極以及與該内 極的物性測定用測定塊，在相對 成一斜的端面。

因此，測定塊之端面，相當於斜切圓柱所得之剖面， 呈橢圓狀。該橢圓之短軸的長度與測定塊之外徑相同，該 橢圓之長軸的長度由端面對内部電極軸方向的角度所決 定，會大於測定塊之外徑。因此，橢圓狀端面之面積，大 於測定塊橫剖面之面積。在此，電極之電氣長度，隨測定 塊之端面的面積增大而變大。因此，依據本^ ς，不需加 粗測定塊整體的直徑即可加大電氣長度。換之，可設定 適當的電氣長度而且縮小測定塊整體的直徑。甚且，由於 調整端面對内部電極軸方向的角度即可調整橢圓狀端面長 轴的長度’故可以按被測定物之種類調整出實現適當感度 的電氣長度。

再者，依據本發明，把端面斜對内部電極的軸方向使 測定塊之尖端變得銳利，測定塊刺入被測定物時，由於壓 力集中作用在最先接觸到被測定物表面的測定塊的尖端， 使得測定塊易於刺入被測定物。把測定塊刺入被測定物， 不論被測定物表面的形狀如何亦即不論有無凹凸，因測定 塊之端面密接於被測定物，故可正確測定被測定物之複介 電$數。尚且’測定塊之尖端銳利且能夠縮小測定塊之直 徑，故能夠降低測定塊刺入所造成的被測定物的損傷。本 本發明有關的測定塊，例如傾斜地切斷現有的半剛性電纜 的前端部分，是很容易製造的。

2009-5958-PF(N1);Ahddub.ptd 第9頁 1226438 玉、發明說明（6) 又，本發明之物性測定用測 装置之具柔軟性之測定塊安裝鬼，斟裝設於物性測定 自由拆裝地予以安裝。該情^下電旧’最好是用連結裴置 變形的緣故，測定塊在操^ 1 _因具有柔軟性的電纜會 因測定塊對該電纜呈著脫自如之由度得以提高。此外， 取換測定塊。例如，必要時換冓，，必要時能夠容易地 必要時換成適合接觸被測、、電氣長度不同的測定塊， 能。 面的測定塊，等等均為可 又，測定塊對連結裝置 造。該情況下，能夠便宜又文攻，最好是採用螺旋構 纜，並且在電纜不至於扭轉=拆裝地組構測定塊與電 方向旋轉或逆轉即可調整；t之下只要把測定塊往螺旋 又，測定塊之端面之二;2鬼之端面的方向。 該情況下，把測定塊刺入被二ΐ:是，7溫度感測器。 時，亦可測定該冑定處$的=以1定複介電常數之同 處於加熱或冷卻之過程，山的k度。據此，即使被測定物 常數。 也能夠對溫度測得正確的複介電 [實施方式] 以下’根據圖面所示 成。 之最佳形態詳細說明本發明之構 者，而物性測定襄置i/用測疋塊31係用於物性測定裝置1 ’、用以测定被測定物1Q0之複介電常 2009-5958-PF(N1);Ahddub.ptd 第10頁 1226438 五、發明說明（7) 數’再根據該測得之複介電常數來測定被測定物1 0 0之含 水量等物性值。 物性測定裝置1，係採用例如TDR法的裝置。該物性測 定裝置1 ，如第3圖所示，包括：訊號產生部2，用以產生 階躍脈衝作為激勵訊號以分開施加於被測定物1 〇 〇以及複 介電常數為已知之未圖示標準物質；檢出部3，用以把來 自訊號產生部2的激勵訊號分開射入被測定物1 0 0以及標準 物質，以檢出來自被測定物1 0 0以及標準物質的個別的反 射波，記錄部4，用以把透過檢出部3檢出的來自被測定物 1 〇 〇以及標準物質的個別的反射波，按照時間經過順序予 以記錄下來；及訊號處理部5，對記錄部4所記錄之來自標 準物質的反射波以及來自被測定物1 0 0的反射波，按頻率 成义求其差與和’再用事先記錄好的對應於標準物質之頻 率成分的複介電常數來求出被測定物1 〇 〇之複介電常數。 該物性測定裝置1之基本構成與第8圖所示之既有裝置丨〇 i 相同’對於與該既有裝置1 〇 i相同的構成要素賦予相同的 符號而省略其詳細說明。 物性測定用測疋塊31，其構成係具有：内部電極 3 11，是為芯線；及外部電極3丨2，係與内部電極3丨i作同 軸配置；並相對於内部電極311之軸方向傾斜地形成一端 面313。内部電極311與外部電極312，係使用例如具 性的導電性材料銅。内部電極3丨i與外部電極3 1 2 & 置一絕緣體3 1 4。絕緣體3丨4的材料則使用例如聚四 -己 烯。該測定塊31，例如把既有的半剛性電繞的前端部分斜

1226438 五、發明說明（8) 切即可容易獲得。+ &，么& u + a兩 極3 1 2腐钱，最紅 内邛電極311以及外部電 找 竣奸是對端面3 1 3的金屬部分以万林 ^ 物100的外部電極μ闲、，f屬口丨刀以及插入被測定 黛9岡& - 312的周面加以鍍金或鍍白金。 圖斤不外部電極312之外徑dl及内和d? 311之直徑d3、端&Q1 Q ^ + 汉鬥仏d2、内部電極 %面313對内部電極311軸方&々么— d其設定使得測定一尖銳，且有適7之^^

長度^氣，1遺度端=與端面313面積之間有相關。亦即，電氣 少。測定塊3 13面積之增大而增大，隨該面積之減少 ^如篦？岡#鬼之端面313，相當於斜切圓柱所得之剖 面^第2圖所示呈橢圓狀。該橢圓之短軸的長度，盥測 定塊之直徑同，本實施形態裏，與外部電極31 2之外徑 di的長度相同。該橢圓之長轴^的長度，由端面313對 内部電極3U軸方向的角度0所決定，以dl ^dl/sin 0表 示，長度大於測定塊31之直徑dl。因此，該橢圓狀端面 31 3的/面積’大於測定塊31橫剖面之面積，而且橢圓之長 軸dl —愈長則愈大。因此，調整端面313對内部電極311輕

方向的角度0 ，即可調整橢圓狀端面313之長軸dl /的長 度’跟著調整端面3 1 3的面積，結果，可調整出適合被别 定物10 0的電氣長度r d。由於電氣長度7 d大則測定塊31 之感度跟著提高，選擇按被測定物丨0 0之種類等適合的電 氣長度r d，可得精度良好的測定。 奸篆 此外，本實施形態之測定塊3 1，與設於物性測疋於。 1作測定塊安裝用電纜用途的同軸電纜33，有電性接觸°

1226438_ 五、發明說明（9) 據此’測疋塊3 1與訊號產生部2及記錄部4有電性接觸。古亥 同轴電纜33最好是採用具柔軟性之物。該情況下，同轴^ 纜33隨測定塊31之移動而變形，可自由調整測定塊31之方 向及位置。該同軸電纜3 3，具有：内部導體3 3 1，是為< 線，絕緣體3 3 2，包覆該内部導體3 3 1 ;外部導體3 3 3 :包 覆該絕緣體332 ;及絕緣體334，更被覆該外部導體3 33。 測定塊31之内部電極311與同軸電纜33之内部導體331，測 定塊31之外部電極312與同軸電纜33之外部導體333，分別 有電性接觸。而且，同軸電纜33上與連接測定塊3丨之端部 的另一側端部，連接一採樣頭3 2，作為訊號產生部2與記 錄部4之間的介面。 〃 ° 測定塊31與同軸電纜33，係利用例如連結裝置6而連 接。本實施型態之連結裝置6，具有機械式連接測定 與同軸電纜33的螺旋構造，|體而言，係形成一螺帽把測 定塊3 1與同軸電纜33作直線狀之連結。另外，在扭 裝置6裏的測定塊31以及同軸電镜33的端部，設有與結° 裝置6之内螺紋相咬合的外螺紋。由於連結裝置6採用螺°旋 構造，1要時，能夠從連結裝置6卸下測定塊31或同轴電 瘦33。據此，測定塊31即自由拆裝地

尚有如下優點，由於連钍护媳田诉从 千电、見W 33 , 或逆轉，即能夠把端面313的方向調白疋 又，上述例子裏，藉螺旋構造把連 2 轴電纜33，惟亦可不能脫籬从如4从叫衣直^女裝於同 +此脫離地把連結裝置6安裝於同軸電

1226438 五、發明說明（10) 1 、纜33。該情況下，可以用壓入或黏接或焊接等把連结裝置 6固定於同軸電纜33，也可以繞著同軸電纜33之軸身可旋 轉地把連結裝置6安裝於同軸電纜3 3。例如，在同軸電鏡 33的周緣設溝，同時在同軸電纜33嵌入孔連結裝置6的内 周緣設一環狀突起，藉由把連結裝置6的環狀突起嵌入同 軸電纜33周緣的溝，即可繞著同軸電欖33之軸身可旋轉地 把連結裝置6安裝於同轴電纜33。該情況下，不使同軸電 纜33扭轉變形也不需把測定塊31往螺旋方向旋轉，只要旋 轉連結裝置6即可把測定塊31安裝於同軸電纜33上。/此 外，由於連結裝置6可繞著同軸電纜33旋轉，在不使同軸 電纜3 3扭轉變形之下即能夠適當調整端面3 1 3的方向為所 要的方向。但，連結裝置6，並不限於利用螺旋構造，只 要測定塊31與同軸電纜33有電性接觸，同時測定塊Μ能夠 自由拆裝地組構於同軸電纜33的任何裝置，視需要均^適 用0 以物性測定裝置1測定該食品 設被測定物1 〇 〇為食品 所含之水分量時，可如下進行。亦即，把測定塊二； 為被測定物100的食品。不論食品表面有無凹凸， 塊3 1之端面3 1 3與食品密接，故可正確地測定食品的^介 電常數。而且，測定塊3丨的尖端銳利又能夠縮小'^，；| 能夠降低作為被測定物丨00之食品的損傷。根據/ 食品的複介電常數，能夠求出該食品所含之水八旦付（ 〈實施例〉 刀里° 以下，舉實施例說明用以確認本發明之效果的實驗及

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五、發明說明（11) 其結：二不過，以下之實施例對本發明 本K驗中，對被測定物之蘋果、 、制。 有測定塊31之TDR式物性測定裝置，及借> 、牛肉，用備 抗^析器，測定其室溫下之複介置電常及/二二定广巧且 之度與室溫相同。室溫約2 6它〜2 7它、可被測疋物 氣長度rd為〇.315mm。複介電常數之定又二本實驗中電 刺入各被測定物。TDR式物性測定裝 ^將測定塊31 Φ …，用；=:;::質其： ί/Λ 測定條件，其頻率範圍在1MHz〜um U。 第4圖顯不頻果的測定結果’第5圖顯示 =】 果，第6圖則顯示牛肉的測定結果。第4圖至^^測疋、，口 軸表不頻率的對數1〇g f Hz，縱軸表示 尹數 部〆與虛數部ε 〃。 是，丨電吊數之貫數 定2〜薯 '牛肉所觀察到的鬆他曲線，係由假 :到-:Γ: 所述。各被測定物均可在高頻側觀 ①到個由水之旋轉擴散運動所致之鬆弛過程。 弛過ί外、隹在低頻側也可觀察到一個主因電極之極化的鬆 而在複介電^數之虛數部可看到直流f & 介質損耗。關於牛肉，，是高頻側水== 低頻側電極之極化之鬆弛上不足以描述複介電常數之實數 部’。在，等鬆弛的中間頻率領域另假定丨個以卜6型的鬆弛 過程。咼頻侧的鬆弛過程為h，低頻側的鬆弛過程， 間頻率領域的鬆弛過程為m。 由該等鬆弛過程以及導電率，依下列數學式（丨）求出

1226438 五、發明說明（12) 複介電常數 σ £ ίύ ε

St Δ £ + ( j ω τ i) (1) 其中， ε* :複介電常數= σ :導電率 〇 ε 0 :低頻側之介電常數 ε 〇〇 :高頻側之介電常數 △ ε i :鬆弛強度 ω :角震動數 r i :鬆弛時間 y5i :代表鬆弛曲線擴展之參數（冷i = l ;Debye型） 上述鬆弛過程，依數學式（1 )進行曲線配適所得之鬆 弛參數示於表1。其中，本實驗高頻側之介電常數ε〇〇固 定為5. 0。 表1 彼測定物 τ h[sec] Δ ch τ l[sec] Δί：Ι β\ alS-m'1] r m[sec] Δ cm 耪果 馬鈴荖 牛肉 1.08E-11 1.08E-11 1.15E-11 5.63E+01 5.63E+01 5.47E+01 0.90 0.90 0.81 2.38Ε-07 2.38Ε-07 2.73Ε-07 5.81 Ε+02 8.43Ε+03 5.81 Ε+02 0.91 0.91 0.72 1.25Ε-01 1.25Ε-01 5.88Ε-01 2.88Ε-09 1.72Ε+01 1.00 由以上實驗結果可以確認，使用本發明之測定塊3 1於 現有之TDR式物性測定裝置以及阻抗分析器，把測定塊3 1 刺入固體試料，可測定該固體試料之複介電常數。 進一步，使用本發明刺入型測定塊，對於被測定物， 不僅複介電常數也可同時測定其他物性值。該情況下，本

2009-5958-PF(Nl);Ahddub.ptd 第16頁 1226438 五、發明說明（13^ " f明刺入型測定塊之構成，兼備複介電常數以外物性值之 檢f部。或者，本發明刺入型測定塊之構成，附加一複介 電常數以外物性值之檢出部。 例如第7圖所示，在端面3 1 3近旁配置一溫度感測器 72⑽度感測器，例如熱電偶72。但溫度感測器並不限於 :，偶，也可以是使用例如測溫電阻之白金電阻線及熱阻 1寻週知之溫度感測器。採用熱電偶72作為溫度感測哭 日了 ’係將熱電偶72之測定接點74配置於測定塊31之端面 313之近旁。熱電偶72對測定塊31的安裝方法，例如可以 用黏著劑把熱電偶72黏在外部電極312的外周。或者，也 2在外部電極312的長手方向在不到絕緣體川的深 f 5 ^巴熱電偶72嵌入該溝75並用黏著劑等予以固定 者的h況下，與前者比較，優點是，由於熱電偶Μ广 =〔卜部電極312，當測定塊31刺入被测定物時，埶電又偶”大 1易脫離測定塊31。&處’測定塊31之端面3 之位置關係設定’最好是，例如測定塊31，偶電 之間不會互相授亂檢出訊號’亦即—方不 *另、一= :此’最好是’例如把熱電偶72之測定接二4， 。 中L所示，配置於從測定塊31之尖端往 第7圖 些的位置。又，複介電常數之測定纟體側進來-TDR法之周知裝置。熱電偶72，係由兩端接可二用2 例如 導體所構成的周知之物。熱電偶72 Q 、_種不同的 定裝置，該溫度測定裝置係週知之裝置=未圖不之溫度測 所引起的熱電勢，測定熱電偶72兩^ ’利用赛貝克效應 构以兩個接點之間產生的熱電

1226438 五、發明說明（14) 壓’以測出測定接點7 4之γ 31刺入被測定物，在測定；J、。,由以上之構成’把測定塊 時，也可測定該測測定物之複介電常數之同 物處於加熱或冷卻等之過/之溫度。據即使被測定 介電常數。 ° ^，也能夠對溫度測出正確的複 :且，由於把測定塊之端面形成一斜面，以調整端面 可以佑m以獲得所要的電氣長度，但是根據情況，也 剖面之形狀來獲得所要的電氣長度。例 * ’ °曰以丨ί測1塊之端面作成與測定塊之橫剖面平行的平 長度。屑疋塊k剖面之形狀為橢圓狀’以獲得所要的電氣 又，上述貫施例為本發明好的實施例，但不限於此， ;不脫離本發明之要旨的範圍，是有種種變化實施之可 2 :t i!用本發明之測定塊的物性測定裝置的測定對 盔引1、疋&品，例如需查驗含水量的全部含水物質均可竹 ^定對象。此外’使用本發明之測定塊的物性測3作 於採讚法之襞置。…測定物 放 ，除TDR法之外，還有例如頻域測定 ^ 5亥4測疋方法的物性測定裝置上也可以適 彳木用 塊。 + 1 <剛定 <1 1226438 圖式簡單說明 - 第1圖係中央剖面圖，顯示本發明之物性測定用測定 塊的一個實施型態。 第2圖顯示從第1圖中測定塊之端面的垂直方向的箭頭 標示A所見之測定塊之端面。 第3圖係方塊圖，顯示物性測定裝置之構成例。 第4圖係使用本發明之物性測定用測定塊，以TDR式物 性測定裝置以及阻抗分析器測定被測定物蘋果之複介電常 數的結果，橫軸表示頻率的對數1 〇 g f Η z，縱軸分開表示 複介電常數的實數部ε >及虛數部ε "。 第5圖係使用本發明之物性測定用測定塊，以TDR式物 性測定裝置以及阻抗分析器測定被測定物馬鈴薯之複介電 常數的結果，橫軸表示頻率的對數log f Hz，縱軸分開表 示複介電常數的實數部ε >及虛數部ε "。 第6圖係使用本發明之物性測定用測定塊，以TDR式物 性測定裝置以及阻抗分析器測定被測定物牛肉之複介電常 數的結果，橫軸表示頻率的對數1 〇 g f Η ζ，縱軸分開表示 複介電常數的實數部ε /及虛數部ε "。 第7圖係中央剖面圖，顯示本發明之物性測定用測定 塊的另一種實施型態。 第8圖顯示習知物性測定裝置之構成例。 第9圖係顯示習知物性測定用測定塊的中央剖面圖。 第1 0圖係顯示習知物性測定用測定塊的正面圖。 符號說明

2009-5958-PF(Nl);Ahddub.ptd 第19頁 1226438 圖式簡單說明

1〜 物性測定裝置； 2〜 訊號產生部 3〜 檢出部， 記錄部； 5〜 訊號處理部； 6〜 連結裝置； 32 - -採樣頭； 33， ^同軸電纜 72 - -熱電偶、溫度感測器 ；74， i測定接點 7 5〜溝； 100 〜被測定物 101 〜物性測定裝置； 110 〜測定塊； 111 〜内部導體； 112 〜外部導體 113 〜端面； 114 〜絕緣體； 130 〜檢出部； 133 〜同軸電繞 311 〜内部電極； 312 〜外部電極 313 〜端面； 314 〜絕緣體； 331 〜内部導體； 332 〜絕緣體； 333 〜外部導體； 334 〜絕緣體； 31 - -物性測定用測定塊、 測定塊。 2009-5958-PF(N1);Ahddub.p t d 第20頁

Claims (1)

1226438 六、申請專利範圍 1. 而物性 據該測 性值， 成；及 其 對 2. 中，物 裝設在 纜。 3. 中，物 裝置上 中，在 測定裝置 得之複介 該物性測 外部電極 特徵在於 前述内部 如申請專 性測定用 前述物性 如申請專 性測定用 種物性測定用測定塊，使用於物性測定裝置上， ，係用以測定被測定物之複介電常數再根 電常數來測定前述被測定物之含水量等物 定用測定塊，包括：内部電極，由芯線構 ，與該内部電極同軸配置； 電極之軸方向傾斜地形成一端面。 利範圍第1項之物性測定用測定塊，其 測定塊係使用連結裝置自由拆裝地安裝於 測定裝置之具有柔軟性的測定塊安裝用電 利範圍第2項之物性測定用測定塊，其 測定塊係利用螺旋構造來安裝於前述連結 4.如申請專 前述端面 利範圍第1項之物性測定用測定塊，其 之近旁配置一溫度感測器。

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