WO2004040282A1 - 物性測定用プローブ - Google Patents

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WO2004040282A1
WO2004040282A1 PCT/JP2003/013703 JP0313703W WO2004040282A1 WO 2004040282 A1 WO2004040282 A1 WO 2004040282A1 JP 0313703 W JP0313703 W JP 0313703W WO 2004040282 A1 WO2004040282 A1 WO 2004040282A1
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WO
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probe
physical property
measured
complex permittivity
face
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PCT/JP2003/013703
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English (en)
French (fr)
Inventor
Toshifumi Inoue
Shin Yagihara
Naoki Shinyashiki
Original Assignee
Nichirei Corporation
Tokai University
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Priority to EP03758935A priority patent/EP1562039A4/en
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N22/00—Investigating or analysing materials by the use of microwaves or radio waves, i.e. electromagnetic waves with a wavelength of one millimetre or more
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/02—Food

Definitions

  • the present invention relates to a probe for measuring physical properties. More specifically, the present invention is applied to a physical property measuring device that measures a complex dielectric constant of an object to be measured and measures a physical property value represented by a water content of the object to be measured based on the measured complex dielectric constant. The improvement of the probe used.
  • TDR time domain reflection method
  • the physical property measuring device 101 generates a step pulse as an excitation signal to be applied to the device under test 100 and a reference material (not shown) having a known complex permittivity, respectively.
  • the signal generator 2 and the excitation signal from the signal generator 2 are incident on the DUT 100 and the reference material, respectively, and the respective reflected waves from the DUT 100 and the reference material are detected.
  • Detecting unit 130 recording unit 4 that captures and records the respective reflected waves from DUT 100 and reference material detected via detecting unit 130 in order of lapse of time, and records them in recording unit 4
  • the difference and the sum of the reflected wave from the standard material and the reflected wave from the device under test 100 are calculated according to the frequency component, and the complex permittivity according to the frequency component of the pre-recorded standard material is used.
  • the standard substance a substance having a complex permittivity close to the complex permittivity of the DUT 100 is selected, and a liquid consisting of a single substance, such as acetone, benzene, liquid form, or water, is usually used.
  • the detection unit 130 includes a probe 110 that contacts the device under test 100, a sampling head 32 that interfaces with the signal generation unit 2 and the recording unit 4, and a probe 110 that performs sampling. And a coaxial cable 1 33 connected to the cable 3 2.
  • the probe 110 has an inner conductor 1 1 1 as a core wire and a cylindrical outer conductor 1 1 2 arranged coaxially with the inner conductor 1 1 1.
  • an insulator 1 1 4 disposed between the inner conductor 1 1 1 and the outer conductor 1 1 2, and the end face 1 1 3 which is in contact with the device under test 100 is formed by the inner conductor 1 1 1 Are formed on a plane parallel to the cross section of the conductor, in other words, a plane perpendicular to the axial direction of the inner conductor 111.
  • a step pulse generated by the signal generator 2 is generated while the flat end surface 113 of the probe 110 is in contact with the device under test 100. And the reflected wave from the device under test 100 is taken in order of elapse of time and recorded in the recording unit 4.
  • the step pulse generated by the signal generator 2 is applied to the reference material and the reflected wave from the reference material elapses over time. Recorded in the recording unit 4 in order. Either the measurement of the reflected wave from the device under test 100 or the measurement of the reflected wave from the standard material may be performed first.
  • the signal processor 5 obtains the difference and the sum of the reflected wave from the reference material recorded in the recording unit 4 and the reflected wave from the device under test 100 according to the frequency component, and records the difference and the sum in advance.
  • the complex permittivity of the device under test 100 is determined using the complex permittivity corresponding to the frequency component of the standard material.
  • the probe 110 is of a type in which the flat end surface 113 is brought into parallel contact with the surface of the device under test 100, and when the probe 110 is inserted into the device under test 100 Since the pressing force uniformly acts on the entire flat end surface 113 contacting the surface of the object 100, it is difficult for the probe 110 to pierce the object 100 to be measured. For this reason, it is difficult for the probe 110 to measure the water content inside the object 100 to be measured.
  • the probe 110 is forcibly pierced into the device under test 100, moisture will flow out of the device under test 100, especially in foods containing a large amount of water. And the tissue of the object under test 100 is broken. There is also the problem of being destroyed.
  • the diameter of the probe 110 so as to reduce the contact area between the probe 110 and the object under test 100.
  • the electrical length of the electrode is reduced. As the electrical length decreases, the sensitivity of the probe 110 decreases.
  • the temperature of the device under test 100 is also measured when measuring the complex permittivity.
  • Conventionally, separate dedicated probes are used for measuring the complex permittivity and measuring the temperature. Therefore, when measuring these two physical quantities at the same time, the measurement position on the object to be measured 100 must be different, and a measurement point shift, that is, a positional shift occurs.
  • the measurement time A shift ie, a time shift occurs.
  • the DUT 100 is in the process of being heated or cooled, for example, if the DUT 100 is a frozen food, the frozen food is moved to room temperature and the measurement is performed. If the difference between the temperature of the DUT 100 itself and the temperature of the atmosphere is large, as in the case where the measurement is performed, the difference in the temperature of each part of the DUT 100 becomes large, and the time of that temperature The change is also greater. Therefore, in the prior art that causes either the above positional deviation or the temporal deviation, the temperature at the location where the complex permittivity was measured or the temperature at the time when the complex permittivity was measured and the temperature actually measured were different. There is a gap between the two. Therefore, there is a problem that it is difficult to accurately measure the complex permittivity with respect to temperature.
  • the present invention enables accurate measurement of the complex permittivity of an object to be measured irrespective of the presence or absence of unevenness on the surface of the object to be measured, and also enables measurement of physical properties inside the object to be measured. It is an object of the present invention to provide a probe for measuring physical properties which can be set to an electrical length. Another object of the present invention is to provide a physical property measurement probe capable of measuring a temperature near a measurement point simultaneously with measurement of a complex permittivity.
  • the present invention measures and measures the complex permittivity of an object to be measured. It is used for a physical property measuring device for measuring physical properties such as water content of an object to be measured based on the obtained complex permittivity, and has an internal electrode serving as a core wire and an external electrode arranged coaxially with the internal electrode. In the probe for measuring physical properties, an end face is formed obliquely to the axial direction of the internal electrode.
  • the end face of the probe corresponds to a cross section obtained by diagonally cutting a cylinder, and becomes elliptical.
  • the length of the minor axis of this ellipse is the same as the outer diameter of the probe, and the length of the major axis of the ellipse is determined by the angle of the end face with respect to the axial direction of the internal electrode and is equal to or greater than the outer diameter of the probe. Therefore, the area of the elliptical end face is larger than the area of the cross section of the probe.
  • the electrical length of the electrode increases as the area of the end face of the probe increases. Therefore, according to the present invention, the electrical length can be increased without increasing the diameter of the entire probe.
  • the length of the long axis at the elliptical end face can be adjusted, so that appropriate sensitivity is realized according to the type of the object to be measured. It can be adjusted to the electrical length.
  • the tip of the probe is sharpened by making the end face be inclined with respect to the axial direction of the internal electrode, and when the probe is pierced into the object to be measured, the probe first contacts the surface of the object to be measured. Since the pressing force concentrates on the sharp tip of the probe to be measured, the probe can be easily pierced into the measured object. By piercing the probe into the DUT, the end surface of the probe is in close contact with the DUT, regardless of the shape of the DUT surface, that is, with or without irregularities, so that the complex dielectric constant of the DUT can be accurately measured. It becomes possible.
  • the probe according to the present invention can be manufactured very easily, for example, by diagonally cutting the tip of an existing semi-rigid cable.
  • the physical property measurement probe of the present invention is preferably detachably attached to a flexible probe attachment cable provided in the physical property measurement device using a connecting means.
  • a connecting means since the flexible cable is deformed, the degree of freedom for operating the probe is improved. Also, attach the probe to this cable.
  • the probe can be easily replaced as needed. For example, it is possible to replace the probe with a probe having a different electrical length if necessary, or to replace the probe with a probe that comes into contact with the surface of the device under test as necessary. It is preferable to use a screw structure for attaching the probe to the connecting means.
  • the probe can be configured to be attachable to and detachable from the cable at low cost, and it is also possible to adjust the direction of the probe end face by rotating or reversing the probe in the screw direction without imparting twisting deformation to the cable. Become.
  • a temperature sensor near the end face of the probe.
  • FIG. 1 is a central sectional view showing an embodiment of the physical property measuring probe of the present invention.
  • Fig. 2 is a diagram showing the end face of the probe viewed from the arrow A in Fig. 1 in a direction perpendicular to the end face of the probe.
  • Fig. 3 is a block diagram showing an example of the configuration of the physical property measuring device.
  • Fig. 4 is a graph showing the results of measuring the complex permittivity of an apple as an object to be measured using the physical property measurement device of the present invention and an impedance analyzer using the physical property measurement probe of the present invention.
  • the vertical axis shows the real part and the imaginary part ⁇ "of the complex permittivity.
  • the vertical axis shows the real part and the imaginary part ⁇ " of the complex permittivity.
  • FIG. 6 is a graph showing the results of measuring the complex permittivity of beef as an object to be measured using a TDR physical property measuring device and an impedance analyzer using the physical property measuring probe of the present invention, and the horizontal axis represents the frequency.
  • the logarithm 1 ogf H z is shown, and the vertical axis shows the real part ⁇ ′ and the imaginary part ⁇ ′′ of the complex permittivity.
  • FIG. 7 is a central cross-section showing another embodiment of the physical property measurement probe of the present invention.
  • Fig. 8 is a block diagram showing an example of the configuration of a conventional physical property measuring device, and
  • Fig. 9 is a conventional physical property measuring device. It is a center sectional view showing a lobe.
  • Fig. 10 is a front view showing a conventional physical property measurement probe.
  • Fig.:! Fig. 3 to Fig. 3 show an embodiment of the physical property measuring probe of the present invention.
  • the physical property measurement probe 31 measures the complex permittivity of the DUT 100 and measures physical properties such as the water content of the DUT 100 based on the measured complex permittivity. It is used for the physical property measuring device 1.
  • the physical property measuring apparatus 1 is an apparatus employing, for example, the TDR method. As shown in Fig. 3, this physical property measurement device 1 generates a signal that generates a step pulse as an excitation signal to be applied to the device under test 100 and a reference material whose complex permittivity is not shown. Part 2 and the excitation signal from the signal generator 2 are incident on the DUT 100 and the reference material, respectively, and detect the reflected waves from the DUT 100 and the reference material, respectively.
  • Unit 3 a recording unit 4 that captures and records the respective reflected waves from the DUT 100 and the standard material detected via the detection unit 3 in the order of time, and a standard material recorded in the recording unit 4.
  • this physical property measuring device 1 is the same as that of the existing device 101 shown in Fig. 8, and the same components as those of the existing device 101 are denoted by the same reference numerals and detailed description thereof is given. Description is omitted.
  • the physical property measurement probe 31 has an internal electrode 3 1 1 serving as a core wire, and an external electrode 3 12 arranged coaxially with the internal electrode 3 1 1. End faces 3 13 are formed obliquely to the direction.
  • the internal electrode 311 and the external electrode 312 for example, copper, which is a typical conductive material, is used.
  • An insulator 314 is disposed between the internal electrode 311 and the external electrode 312.
  • polytetrafluoroethylene is used as a material of the insulator 314.
  • the probe 31 can be easily obtained by, for example, obliquely cutting the tip of an existing semi-rigid cable.
  • the internal electrode 3 1 1 and the external electrode 3 1 2 For this purpose, it is preferable to apply gold plating or platinum plating to the metal portion of the end face 3 13 and the peripheral surface of the external electrode 3 12 inserted into the device under test 100.
  • the outer diameter d 1 and inner diameter d 2 of the outer electrode 3 1 2 shown in Fig. 2, the diameter d 3 of the inner electrode 3 1 1, and the angle 0 of the end face 3 1 3 of the inner electrode 3 1 1 with respect to the axial direction are the probe.
  • 3 1 is set to be thin and sharp, and the electrical length ⁇ d is set to an appropriate value.
  • the end face 3 13 of the probe 31 corresponds to a cross section obtained by diagonally cutting a cylinder, and has an elliptical shape as shown in FIG.
  • the length of the minor axis of the ellipse is the same as the diameter of the probe 31 and, in the present embodiment, the same as the length of the outer diameter d1 of the external electrode 312.
  • the electrical length yd suitable for the device under test 100 can be adjusted. Since the sensitivity of the probe 31 is increased by increasing the electrical length Td, accurate measurement can be performed by selecting an appropriate electrical length yd according to the type of the DUT 100 and the like.
  • the probe 31 of the present embodiment is electrically connected to a coaxial cable 33 provided as a probe attachment cable provided in the physical property measuring device 1.
  • the probe 31 is electrically connected to the signal generator 2 and the recorder 4.
  • the coaxial cable 33 is deformed as the probe 31 moves, and the direction and position of the probe 31 can be adjusted independently.
  • the coaxial cable 33 includes an inner conductor 3311 serving as a core wire, an insulator 3332 surrounding the inner conductor 331, an outer conductor 3333 further surrounding the insulator 3332, and an outer conductor 3331. And an insulator that further covers the conductor.
  • the inner electrode 3 1 1 is electrically connected to the inner conductor 3 3 1 of the coaxial cable 3 3
  • the outer electrode 3 1 2 of the probe 3 1 is electrically connected to the outer conductor 3 3 3 of the coaxial cable 3 3 .
  • a sampling head 32 serving as an interface with the signal generating unit 2 and the recording unit 4 is connected to an end of the coaxial cable 33 opposite to the end connected to the probe 31.
  • the probe 31 and the coaxial cable 33 are connected by, for example, the connecting means 6.
  • the connecting means 6 of the present embodiment has a screw structure for mechanically connecting the probe 31 and the coaxial cable 33, and specifically, a nut for linearly connecting the probe 31 and the coaxial cable 33. It is formed as.
  • male threads which mesh with the female threads of the connecting means 6.
  • the connecting means 6 is attached to the coaxial cable 33 by a screw structure, but the connecting means 6 may be attached to the coaxial cable 33 so as not to be detached. In this case, the connecting means 6 may be fixed to the coaxial cable 33 by press fitting, bonding, soldering, or the like.1
  • the connecting means 6 is attached to the coaxial cable 33 so as to be rotatable around the axis of the coaxial cable 33. Is also good.
  • a groove is provided on the periphery of the coaxial cable 33, and an annular projection is provided on the inner periphery of the hole of the connecting means 6 into which the coaxial cable 33 is fitted, so that the annular projection of the connecting means 6 is attached to the periphery of the coaxial cable 33.
  • the connecting means 6 is attached to the coaxial cable 33 so as to be rotatable around the axis of the coaxial cable 33 by fitting into the groove of the coaxial cable 33. In this case, it is possible to attach the probe 31 to the coaxial cable 33 by rotating only the connecting means 6 without imparting torsional deformation to the coaxial cable 33 and without rotating the probe 31 in the screw direction. it can.
  • connection means 6 rotates around the axis of the coaxial cable 33, the orientation of the end face 3 13 can be adjusted to a desired one without giving the coaxial cable 33 a torsional deformation.
  • the connecting means 6 uses a screw structure Any means that can electrically connect the probe 31 to the coaxial cable 33 and attach the probe 31 to the coaxial cable 33 can be applied as necessary. You can
  • the measurement is performed as follows. That is, the probe 31 is pierced into the food as the object to be measured 100. Irrespective of the presence or absence of unevenness on the food surface, the end face 313 of the probe 31 is in close contact with the food, so that the complex permittivity of the food can be accurately measured. In addition, since the tip of the probe 31 is sharp and the diameter can be reduced, it is possible to suppress damage to food as the object 100 to be measured. The amount of water contained in the food can be determined based on the measured complex permittivity of the food.
  • a complex dielectric at room temperature was measured for apples, potatoes, and beef using a TDR-type physical property measurement device equipped with a probe 31 and an impedance analyzer equipped with a probe 31. The rate was measured.
  • the temperature of the DUT at the time of measurement was the same as room temperature. Room temperature was around 26 ° C to 27 ° C.
  • the electrical length ⁇ d in this experiment was 0.315 mm.
  • the measurement of the complex permittivity was performed by piercing each probe with the probe 31.
  • the measurement conditions by the TDR physical property measuring device were as follows: the frequency range was 10 OMHz to 10 GHz, and air was used as a standard substance.
  • the measurement conditions of the impedance analyzer were set to a frequency range of 1 MHz to 1.8 GHz.
  • Fig. 4 shows the measurement results for apples
  • Fig. 5 shows the measurement results for braids
  • Fig. 6 shows the measurement results for beef.
  • the horizontal axis shows the logarithm of frequency 1 og f Hz
  • the vertical axis shows the real part ⁇ and the imaginary part ⁇ "of the complex permittivity.
  • Table 1 shows the relaxation parameters obtained by performing a curve fit using Equation 1 for the above relaxation process.
  • the dielectric constant E on the high frequency side was fixed at 5.0.
  • the piercing probe according to the present invention may be configured to simultaneously measure not only the complex permittivity but also other physical properties of the DUT.
  • the piercing-type probe according to the present invention is configured to also have a detecting unit for physical properties other than the complex permittivity.
  • the piercing probe according to the present invention is configured to add a detection unit for detecting a physical property value other than the complex dielectric constant.
  • a temperature sensor 72 is arranged near the end face 3 13.
  • the temperature sensor is, for example, a thermocouple 72.
  • the temperature sensor is not limited to a thermocouple, and may be a well-known temperature sensor using, for example, a platinum resistance wire thermistor, which is a temperature measuring resistor.
  • the thermocouple 72 is used as the temperature sensor, the measuring contact 74 of the thermocouple 72 is arranged near the end face 313 of the probe 31.
  • the thermocouple 72 may be attached to the outer periphery of the external electrode 31 with an adhesive or the like.
  • a groove 75 is provided in the longitudinal direction of the external electrode 3 12 so as not to reach the insulator 3 14, and the thermocouple 72 is fitted into the groove 75 and fixed with an adhesive or the like. May be.
  • the thermocouple 72 does not protrude from the external electrode 3112 compared to the former.
  • the positional relationship between the end face 3 13 of the probe 31 and the thermocouple 72 is such that, for example, the probe 31 and the thermocouple 72 do not disturb the detection signal with each other, that is, one is the other. It is preferable to set so as not to cause disturbance.
  • thermocouple 72 is a well-known thermocouple made of two different types of conductors joined at both ends.
  • the thermocouple 72 is connected to temperature measuring means (not shown).
  • the temperature measuring means uses a thermoelectromotive force generated by the Seebeck effect to generate a thermal voltage generated between two contacts of the thermocouple 72. This is a well-known device that measures the temperature of the measurement contact 74 by measuring the temperature of the contact.
  • the complex permittivity of the object to be measured is measured, and It becomes possible to measure the temperature near the measurement point. As a result, even when the device under test is in the process of heating or cooling, it is possible to accurately measure the complex permittivity with respect to temperature.
  • the area of the end face can be adjusted to obtain a desired electric length.
  • the desired electric length depends on the shape of the cross section of the probe. May be obtained.
  • the end face of the probe may be a plane parallel to the cross section of the probe, and the cross section of the probe may have an elliptical shape to obtain a desired electrical length.
  • the physical property measuring device using the probe of the present invention may be used for measuring not only foods but also, for example, all water-containing substances whose water content needs to be checked.
  • the physical property measuring device using the probe of the present invention is not limited to a device employing the TDR method.
  • a method of measuring the complex permittivity of the device under test in addition to the TDR method, for example, a frequency domain measurement method is known, and the probe of the present invention is also applied to a physical property measuring device employing these measurement methods. It is possible to do.

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Abstract

本発明は、被測定物の複素誘電率を測定し、測定された複素誘電率に基づいて被測定物の含水量に代表される物性値を測定する物性測定装置に用いられ、内部電極（３１１）と外部電極（３１２）とを有するプローブ（３１）に関し、被測定物表面の凹凸の有無にかかわらず正確に複素誘電率の測定を行うと共に適切な電気長に設定するために、内部電極（３１１）の軸方向に対して斜めに端面（３１３）を形成している。

Description

明 細 書
物性測定用プローブ
技術分野
本発明は、 物性測定用プローブに関する。 さらに詳述すると、 本発明は、 被測 定物の複素誘電率を測定し、 測定された複素誘電率に基づいて被測定物の含水量 に代表される物性値を測定する物性測定装置に用いられるプローブの改良に関す る。
背景技術
従来、 被測定物の複素誘電率を測定し、 測定された複素誘電率に基づいて、 被 測定物の含水量に代表される物性値を測定する装置として、 時間領域反射法 （以 下、 T D R法と呼ぶ。 ） を利用した装置、 例えば日本国特許第 2 7 4 0 5 2 8号 に開示された物性測定装置がある。
この物性測定装置 1 0 1は、 Fig. 8に示すように、 被測定物 1 0 0及び複素誘 電率が既知の図示していない標準物質とにそれぞれ与える励起信号としてのステ ップパルスを発生する信号発生部 2と、 信号発生部 2からの励起信号を被測定物 1 0 0と標準物質とにそれぞれ入射し、 被測定物 1 0 0及び標準物質からのそれ ぞれの反射波を検出する検出部 1 3 0と、 検出部 1 3 0を介して検出した被測定 物 1 0 0及び標準物質からのそれぞれの反射波を時間経過順に取り込み記録する 記録部 4と、 記録部 4に記録された標準物質からの反射波と被測定物 1 0 0から の反射波とについて周波数成分に応じて差と和とを求め、 予め記録された標準物 質の周波数成分に応じた複素誘電率を用いて被測定物 1 0 0の複素誘電率を求め る信号処理部 5とを備えている。 標準物質には、 被測定物 1 0 0の複素誘電率に 近い複素誘電率を持つものが選択され、 単一の物質からなる液体、 例えばァセト ン、 ベンゼン、 クロ口ホルム、 水などが通常用いられる。
検出部 1 3 0は、 被測定物 1 0 0と接触するプローブ 1 1 0と、 信号発生部 2 および記録部 4とのインタフェースとなるサンプリングへッド 3 2と、 プローブ 1 1 0をサンプリングへッド 3 2に接続する同軸ケーブル 1 3 3とで構成されて いる。 プローブ 1 1 0は、 Fig. 9および Fig. 1 0に示すように、 芯線となる内部 導体 1 1 1と、 この内部導体 1 1 1と同軸に配置される円筒状の外部導体 1 1 2 と、 内部導体 1 1 1と外部導体 1 1 2との間に配置される絶縁体 1 1 4とを有し、 被測定物 1 0 0と接触する端面 1 1 3が、 内部導体 1 1 1の横断面と平行な平面、 換言すれば内部導体 1 1 1の軸方向と垂直な平面に形成されている。
この物性測定装置 1 0 1では、 プローブ 1 1 0の平面状端面 1 1 3を被測定物 1 0 0に接触させた状態で、 信号発生部 2が発生するステツプパルスを被測定物 1 0 0に入射して当該被測定物 1 0 0からの反射波を時間経過順に取り込み記録 部 4に記録する。 同様に、 プローブ 1 1 0の平面状端面 1 1 3を標準物質に接触 させた状態で、 信号発生部 2が発生するステップパルスを標準物質に入射して標 準物質からの反射波を時間経過順に取り込み記録部 4に記録する。 尚、 被測定物 1 0 0からの反射波の測定と標準物質からの反射波の測定とはいずれを先に行つ ても構わない。 そして、 信号処理部 5により、 記録部 4に記録された標準物質か らの反射波と被測定物 1 0 0からの反射波とについて周波数成分に応じて差と和 とを求め、 予め記録された標準物質の周波数成分に応じた複素誘電率を用いて、 被測定物 1 0 0の複素誘電率を求めるようにしている。
しかしながら、 このプローブ 1 1 0では、 被測定物 1 0 0の表面に凹凸がある と、 端面 1 1 3を被測定物 1 0 0に密着させることが難しい。 プローブ 1 1 0の 端面 1 1 3が被測定物 1 0 0に密着していないと、 空隙を含んだ複素誘電率を測 定してしまうことになり、 被測定物 1 0 0の複素誘電率を正確に測定することが できない。
また、 被測定物 1 0 0が食品である場合、 食品表面と食品内部とでは水分の状 態が異なることが予想されるため、 食品の鮮度等を正確に調べるためには食品内 部の含水量を測定することが望ましい。 ところが、 プローブ 1 1 0は平坦な端面 1 1 3を被測定物 1 0 0の表面に対し平行に接触させるタイプであり、 プローブ 1 1 0を被測定物 1 0 0に突き刺す際には被測定物 1 0 0の表面に接触した平面 状端面 1 1 3の全体に押圧力が一様に作用するため、 プローブ 1 1 0を被測定物 1 0 0に突き刺し難い。 このため、 プローブ 1 1 0では被測定物 1 0 0内部の含 水量を測定することが困難である。 また、 プローブ 1 1 0を被測定物 1 0 0に無 理に突き刺してしまうと、 特に水分を多く含んだ食品などの被測定物 1 0 0では 水分が被測定物 1 0 0の外に流れ出てしまうし、 被測定物 1 0 0の細胞組織が破 壊されてしまう問題も生じる。
プローブ 1 1 0を被測定物 1 0 0に突き刺し易くするため、 プローブ 1 1 0と 被測定物 1 0 0との接触面積を小さくするべくプローブ 1 1 0の径を細く形成す る事が考えられるが、 プローブ 1 1 0の径を細くすると電極の電気長が小さくな つてしまう。 電気長が小さくなると、 プローブ 1 1 0の感度が低下してしまう問 題がある。 ，
また、 複素誘電率は温度の影響を受けるため、 複素誘電率の測定の際には被測 定物 1 0 0の温度の測定も行なわれる。 従来は、 複素誘電率の測定と温度の測定 とに、 それぞれ専用の別個のプローブを用いている。 このため、 これら 2つの物 理量の測定を同時に行う場合には、 被測定物 1 0 0における測定位置を異なるも のとせざるを得ず、 測定点のずれ即ち位置的ずれを生じる。 一方、 被測定物 1 0 0における同一箇所にて、 複素誘電率と温度の測定を行なう場合には、 一方の測 定を他方の測定に先行して行なわざるを得ないために、 測定時間のずれ即ち時間 的ずれを生じる。 被測定物 1 0 0が加熱される過程や冷却される過程に置かれて いる場合、 例えば被測定物 1 0 0が冷凍された食品であってこの冷凍食品が常温 下に移されて測定が行なわれる場合などのように被測定物 1 0 0自体の温度と雰 囲気の温度との差が大きい場合には、 被測定物 1 0 0の各部における温度の違い は大きくなり、 その温度の時間変化も大きくなる。 従って、 上記の位置的ずれ又 は時間的ずれのいずれかを生じる従来技術では、 複素誘電率を測定した箇所にお ける温度または複素誘電率を測定した時間における温度と、 実際に測定された温 度との間に、 ずれが生じてしまう。 このため、 温度に対する正確な複素誘電率の 測定が困難であるという問題がある。
発明の開示
本発明は、 被測定物表面の凹凸の有無にかかわらず被測定物の複素誘電率の正 確な測定が可能であり、 且つ被測定物内部の物性値の測定が可能であり、 更に適 切な電気長に設定できる物性測定用プロ一ブを提供することを目的とする。 また、 本発明は、 複素誘電率の測定と同時に、 測定個所の近傍の温度を測定できる物性 測定用プローブを提供することを目的とする。
かかる目的を達成するため、 本発明は、 被測定物の複素誘電率を測定して測定 された複素誘電率に基づいて被測定物の含水量等の物性値を測定する物性測定装 置に用いられ、 芯線となる内部電極と、 該内部電極と同軸に配置される外部電極 とを有する物性測定用プローブにおいて、 内部電極の軸方向に対して斜めに端面 を形成するようにしている。
したがって、 プローブの端面は、 円柱を斜めに切った断面に相当し、 楕円状と なる。 この楕円の短軸の長さはプローブの外径と同じであり、 当該楕円の長軸の 長さは内部電極の軸方向に対する端面の角度により定まりプローブの外径以上と なる。 したがって、 楕円状端面の面積は、 プローブの横断面の面積よりも大きく なる。 ここで、 電極の電気長は、 プローブの端面の面積が大きくなるに従って大 きくなる。 したがって、 本発明によれば、 プローブ全体の径を太くすることなく 電気長を大きくすることが可能となる。 換言すれば、 適切な電気長に設定して尚 且つプローブ全体の径を細くすることが可能となる。 さらに、 内部電極の軸方向 に対する端面の角度を調整することで、 楕円状端面における長軸の長さを調整す ることができるので、 被測定物の種類等に応じて適切な感度を実現する電気長に 調整することが可能となる。
さらに本発明によれば、 端面を内部電極の軸方向に対して斜めとすることによ りプローブの先端が鋭利となり、 プローブを被測定物に突き刺す際には被測定物 の表面に最初に接触するプローブの尖った先端に押圧力が集中して作用するため、 被測定物にプローブを突き刺し易くなる。 被測定物にプローブを突き刺すことで、 被測定物表面の形状即ち凹凸の有無にかかわらず、 プローブの端面が被測定物に 密着するため、 被測定物の複素誘電率を正確に測定することが可能となる。 加え て、 プローブの先端が鋭利であり且つプローブの径を細くできるため、 プローブ を突き刺すことによる被測定物の損傷を抑えることができる。 この本発明に係る プローブは、 例えば既存のセミリジッドケーブルの先端部分を斜めに切断するこ とで極めて容易に製造できる。
また、 本発明の物性測定用プローブは、 物性測定装置に設けられた柔軟性を有 するプローブ取付用ケーブルに対し、 連結手段を用いて着脱自在に取り付けられ ることが好ましい。 この場合、 柔軟性を有するケーブルが変形するので、 プロ一 ブの操作に対する自由度が向上する。 また、 プローブをこのケーブルに対して着 脱自在に構成することで、 必要に応じてプローブを容易に交換することができる。 例えば、 必要に応じて電気長の異なるプローブに交換する、 必要に応じて被測定 物の表面に接触するタイプのプローブに交換する、 といったことが可能となる。 また、 プローブの連結手段への取り付けにはねじ構造を用いることが好ましい。 この場合、 安価にプローブをケーブルに対して着脱自在に構成でき、 またケープ ルに捻り変形を与えること無くプローブだけをねじ方向に回転又は逆転させてプ ローブ端面の向きを調整することも可能になる。
また、 プローブの端面の近傍に温度センサを配置することが好ましい。 この場 合、 プローブを被測定物に刺し込んで複素誘電率を測定すると同時に、 当該測定 個所の近傍の温度を測定することが可能となる。 これにより、 被測定物が加熱や 冷却の過程にある場合であっても、 温度に対する正確な複素誘電率を測定するこ とができる。
図面の簡単な説明
Fig. 1は本発明の物性測定用プローブの実施の一形態を示す中央断面図である。 Fig. 2はプロープの端面と垂直な方向である Fig. 1中の矢示 Aから見たプローブ の端面を示す図である。 Fig. 3は物性測定装置の構成の一例を示すブロック図で ある。 Fig. 4は本発明の物性測定用プローブを用いて T D R式物性測定装置およ ぴィンピーダンスアナライザにより被測定物としてのりんごの複素誘電率を測定 した結果を示すグラフであり、 横軸は周波数の対数 l o g f H zを、 縦軸は複 素誘電率の実部 と虚部 ε " をそれぞれ示す。 Fig. 5は本発明の物性測定用プ ローブを用いて T D R式物性測定装置およびインピーダンスアナライザにより被 測定物としてのじやがいもの複素誘電率を測定した結果を示すグラフであり、 横 軸は周波数の対数 1 o g f H zを、 縦軸は複素誘電率の実部 ε ' と虚部 ε " を それぞれ示す。 Fig. 6は本発明の物性測定用プローブを用いて T D R式物性測定 装置おょぴインピーダンスアナライザにより被測定物としての牛肉の複素誘電率 を測定した結果を示すグラフであり、 横軸は周波数の対数 1 o g f H zを、 縦 軸は複素誘電率の実部 ε ' と虚部 ε " をそれぞれ示す。 Fig. 7は本発明の物性測 定用プローブの他の実施の一形態を示す中央断面図である。 Fig. 8は従来ある物 性測定装置の構成の一例を示すブロック図である。 Fig. 9は従来の物性測定用プ ローブを示す中央断面図である。 Fig. 1 0は従来の物性測定用プローブを示す正 面図である。
発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明の構成を図面に示す最良の形態に基づいて詳細に説明する。 Fig. ：！〜 Fig. 3に本発明の物性測定用プローブの実施の一形態を示す。 この物 性測定用プローブ 3 1は、 被測定物 1 0 0の複素誘電率を測定して当該測定され た複素誘電率に基づいて被測定物 1 0 0の含水量等の物性値を測定する物性測定 装置 1に用いられるものである。
物性測定装置 1は、 例えば T D R法を採用した装置である。 この物性測定装置 1は、 Fig. 3に示すように、 被測定物 1 0 0及び複素誘電率が既知の図示してい ない標準物質とにそれぞれ与える励起信号としてのステップパルスを発生する信 号発生部 2と、 信号発生部 2からの励起信号を被測定物 1 0 0と標準物質とにそ れぞれ入射し、 被測定物 1 0 0及び標準物質からのそれぞれの反射波を検出する 検出部 3と、 検出部 3を介して検出した被測定物 1 0 0及び標準物質からのそれ ぞれの反射波を時間経過順に取り込み記録する記録部 4と、 記録部 4に記録され た標準物質からの反射波と被測定物 1 0 0からの反射波とについて周波数成分に 応じて差と和とを求め、 予め記録された標準物質の周波数成分に応じた複素誘電 率を用いて被測定物 1 0 0の複素誘電率を求める信号処理部 5とを備えるもので ある。 この物性測定装置 1の基本的な構成は Fig. 8に示した既存の装置 1 0 1と 同じであり、 この既存装置 1 0 1と同一の構成要素については同一符号を付して その詳細な説明を省略する。
物性測定用プローブ 3 1は、 芯線となる内部電極 3 1 1と、 この内部電極 3 1 1と同軸に配置される外部電極 3 1 2とを有して構成され、 内部電極 3 1 1の軸 方向に対して斜めに端面 3 1 3が形成されている。 内部電極 3 1 1および外部電 極 3 1 2には、 例えば代表的な導電性材料である銅を用いている。 内部電極 3 1 1と外部電極 3 1 2との間には、 絶縁体 3 1 4が配置されている。 絶縁体 3 1 4 の材料には例えばポリテトラフルォロエチレンを用いている。 このプローブ 3 1 は、 例えば既存のセミリジッドケーブルの先端部分を斜めに切断することで容易 に得ることができる。 尚、 内部電極 3 1 1および外部電極 3 1 2の腐食防止のた めに、 端面 3 1 3の金属部分おょぴ被測定物 1 0 0に揷入される外部電極 3 1 2 の周面には金メツキまたは白金メツキを施すことが好ましい。
Fig. 2に示す外部電極 3 1 2の外径 d 1および内径 d 2、 内部電極 3 1 1の直 径 d 3、 内部電極 3 1 1の軸方向に対する端面 3 1 3の角度 0は、 プローブ 3 1 が細く且つ鋭利となるように、 且つ電気長 γ dが適切なものとなるように設定さ れる。
電気長 T/ dと、 端面 3 1 3の面積との間には相関関係がある。 即ち、 電気長 γ dは、 端面 3 1 3の面積が大きくなるに従って大きくなり、 当該面積が小さくな るに従って小さくなる。 プローブ 3 1の端面 3 1 3は、 円柱を斜めに切った断面 に相当し、 Fig. 2に示すように楕円形状となる。 当該楕円の短軸の長さは、 プロ ープ 3 1の径と同じであり、 本実施形態においては外部電極 3 1 2の外径 d 1の 長さと同じである。 当該楕円の長軸 d 1 ' の長さは、 内部電極 3 1 1の軸方向に 対する端面 3 1 3の角度 Θにより定まり、 d 1 ' = d 1 / s i n 0で表され、 プ ローブ 3 1の径 d 1の長さ以上となる。 従って、 当該楕円状の端面 3 1 3の面積 は、 プローブ 3 1の横断面の面積よりも大きく、 且つ楕円の長軸 d l ' が長くな るほど大きくなる。 従って、 内部電極 3 1 1の軸方向に対する端面 3 1 3の角度 0を調整することで、 楕円状端面 3 1 3における長軸 d 1 ' の長さを調整し、 こ れにより端面 3 1 3の面積を調整し、 この結果、 被測定物 1 0 0に適した電気長 y dに調整することが可能となる。 電気長 T dを大きくすることでプローブ 3 1 の感度が上がるため、 被測定物 1 0 0の種類等に応じた適切な電気長 y dを選択 することで、 精度の良い測定が可能となる。
また、 本実施形態のプローブ 3 1は、 物性測定装置 1に設けられたプローブ取 付用ケーブルとしての同軸ケーブル 3 3に、 電気的に接続される。 これによりプ ローブ 3 1が信号発生部 2と記録部 4とに電気的に接続される。 この同軸ケープ ル 3 3には柔軟性を有するものを採用する事が好ましい。 この場合、 プローブ 3 1の移動に従って同軸ケーブル 3 3が変形して、 プローブ 3 1の向きや位置を自 在に調整できる。 この同軸ケーブル 3 3は、 芯線となる内部導体 3 3 1と、 この 内部導体 3 3 1を囲う絶縁体 3 3 2と、 この絶縁体 3 3 2を更に囲う外部導体 3 3 3と、 この外部導体 3 3 3を更に被覆する絶縁体 3 3 4とを有する。 プローブ 3 1の内部電極 3 1 1は同軸ケーブル 3 3の内部導体 3 3 1に、 プローブ 3 1の 外部電極 3 1 2は同軸ケーブル 3 3の外部導体 3 3 3に、 それぞれ電気的に接続 される。 尚、 同軸ケーブル 3 3におけるプローブ 3 1に接続する端部と逆側の端 部には、 信号発生部 2および記録部 4とのインタフェースとなるサンプリングへ ッド 3 2が接続される。
プローブ 3 1と同軸ケーブル 3 3とは、 例えば連結手段 6によって接続される。 本実施形態の連結手段 6は、 プローブ 3 1と同軸ケーブル 3 3とを機械的に接続 するねじ構造を有し、 具体的にはプローブ 3 1と同軸ケーブル 3 3とを直線状に 連結するナットとして形成されている。 一方、 連結手段 6に捻じ込まれるプロ一 ブ 3 1と同軸ケーブル 3 3の端部には、 連結手段 6の雌ねじと嚙み合う雄ねじが 設けられている。 連結手段 6にねじ構造を採用することにより、 プローブ 3 1ま たは同軸ケーブル 3 3を、 必要に応じて連結手段 6から取り外すことができる。 これにより、 プローブ 3 1は同軸ケーブル 3 3と着脱自在に構成される。 また、 連結手段 6にねじ構造を採用することにより、 同軸ケーブル 3 3に捻り変形を与 えること無くプローブ 3 1だけをねじ方向に回転又は逆転させて端面 3 1 3の向 きを所望のものに調整できる利点もある。
尚、 上記の例では、 連結手段 6を同軸ケーブル 3 3にねじ構造により取り付け たが、 連結手段 6を同軸ケーブル 3 3に離脱不能に取り付けても良い。 この場合、 連結手段 6を圧入や接着又ははんだ付け等で同軸ケーブル 3 3に固定しても良い 1 同軸ケーブル 3 3の軸回りに回転可能に連結手段 6を同軸ケーブル 3 3に取 り付けても良い。 例えば同軸ケーブル 3 3の周縁に溝を設けると共に、 連結手段 6の同軸ケーブル 3 3が嵌め込まれる孔の内周縁に環状の突起を設けて、 連結手 段 6の環状突起を同軸ケーブル 3 3の周縁の溝に嵌め込むことにより、 同軸ケー ブル 3 3の軸回りに回転可能に連結手段 6を同軸ケーブル 3 3に取り付ける。 こ の場合、 同軸ケーブル 3 3に捻り変形を与えること無く且つプローブ 3 1をねじ 方向に回転させること無く、 連結手段 6だけを回転させてプローブ 3 1を同軸ケ 一ブル 3 3に取り付けることができる。 また、 連結手段 6が同軸ケーブル 3 3の 軸回りに回転するので、 同軸ケーブル 3 3に捻り変形を与えること無く端面 3 1 3の向きを適宜所望のものに調整できる。 伹し、 連結手段 6は、 ねじ構造を利用 したものに限定されず、 プローブ 3 1と同軸ケーブル 3 3とを電気的に接続する と共に、 プローブ 3 1を同軸ケーブル 3 3に対して着脱自在に構成できるあらゆ る手段を必要に応じて適用して良い。
被測定物 1 0 0を食品として、 当該食品に含まれる水分量を物性測定装置 1に より測定する場合には、 次のように行う。 即ち、 プローブ 3 1を被測定物 1 0 0 としての食品に突き刺す。 食品表面の凹凸の有無にかかわらず、 プローブ 3 1の 端面 3 1 3が食品に密着するため、 食品の複素誘電率を正確に測定することが可 能となる。 また、 プローブ 3 1の先端が鋭利であり且つ径を細くできるため、 被 測定物 1 0 0としての食品の損傷を抑えることができる。 測定された食品の複素 誘電率に基づいて、 当該食品に含まれる水分量を求めることができる。
<実施例〉
次に、 本発明の効果を確認するための実験及びその結果を実施例として説明す る。 ただし、 以下の実施例は本発明を何ら限定するものではない。
本実験では、 被測定物としてりんご、 じやがいも、 牛肉について、 プローブ 3 1を備えた T D R式物性測定装置と、 プローブ 3 1を備えたインピーダンスアナ ライザとを用いて、 室温での複素誘電率の測定を行った。 測定時の被測定物の温 度は室温と同じとした。 室温は 2 6 °C〜2 7 °C程度であった。 また、 本実験での 電気長 γ dは 0 . 3 1 5 mmであった。 複素誘電率の測定は、 各被測定物にプロ ーブ 3 1を突き刺して行った。 T D R式物性測定装置による測定条件は、 周波数 範囲を 1 0 O MH z〜 1 0 G H zとし、 標準物質として空気を用いた。 インピー ダンスアナライザによる測定条件は、 周波数範囲を 1 MH z〜1 . 8 G H zとし た。 Fig. 4にりんごについての測定結果を、 Fig. 5にじやがいもついての測定結 果を、 Fig. 6に牛肉についての測定結果をそれぞれ示す。 Fig. 4から Fig. 6にお いて、 横軸は周波数の対数 1 o g f H zを、 縦軸は複素誘電率の実部 ε， と虚 部 ε " をそれぞれ示す。
りんご、 じやがいも、 牛肉で観測された緩和曲線は 2 ~ 3つの緩和過程を仮定 することによって記述された。 それぞれの被測定物で高周波側に水の回転拡散運 動による緩和過程が 1つ観測された。
また、 低周波側にも主に電極分極と考えられる緩和過程が 1つ観測された。 さ らに複素誘電率の虚部には直流電気伝導成分による誘電損失が見られた。 牛肉に 関しては、 高周波側の水の緩和と低周波側の電極分極による緩和だけでは複素誘 電率の実部を記述することはできず、 これらの緩和の中間周波数領域に D e b y e型の緩和過程を 1つ仮定した。 高周波側の緩和過程を h、 低周波側の緩和過程 を 1、 中間周波数領域の緩和過程を mとする。
これらの緩和過程と導電率によって、 複素誘電率は、 下記に示す数式 （1 ) に より記述された。 .
2 ~ 3 .
j ω ε ο f 1 + ( j ω τ /) ^十 f ∞ 但し、
ε *；複素誘電率 （但し、 ε * = ε ' — j ε " )
σ ；導電率
ε。；低周波側の誘電率
ε∞；高周波側の誘電率
Δ ε ■ ；緩和強度
ω ；角振動数
て i ；緩和時間
β i ；緩和曲線の広がりを表すパラメータ （j3 i = l ； D e b y e型） 上記の緩和過程について、 数式 1によりカーブフィットを行って得られた緩和 パラメータを表 1に示す。 但し、 本実験では、 高周波側の誘電率 E ま 5 . 0に固 定した。
表 1 被測定物 h [sec] PH τ( [sec] Δε] β, σ [S'nr1] m Oec]
りんご 1細- 11 5.63E+01 0.90 2.38E-07 5.81E+02 0.91 1.25E-01 一 一 一
；·やがいも 1.08E-11 5.63E+01 0.90 2.38E-07 8 3E+03 0.91 1.25E-01 一 一 - 牛肉 1.15E-11 5.47E+01 0.81 2.73E-07 5.81E+02 0.72 5.88E-01 2.88E-09 1.72E+01 1.00 以上の実験結果より、 本発明のプローブ 3 1を既存の T D R式物性測定装置お よびインピーダンスアナライザに用い、 プローブ 3 1を固体試料に突き刺して、 当該固体試料の複素誘電率を測定することが可能であることが確認された。
さらに本発明に係る突き刺し型のプローブを用いて、 被測定物について、 複素 誘電率のみならず他の物性値を同時に測定するように構成しても良い。 この場合、 本発明に係る突き刺し型のプローブが、 複素誘電率以外の物性値の検出部を兼ね 備えるように構成する。 または、 本発明に係る突き刺し型のプローブに、 複素誘 電率以外の物性値の検出部を付加するように構成する。
例えば Fig. 7に示すように、 端面 3 1 3の近傍に温度センサ 7 2を配置するよ うにする。 温度センサは、 例えば熱電対 7 2である。 但し、 温度センサは、 熱電 対に限定されるものではなく、 例えば測温抵抗体である白金抵抗線ゃサーミスタ などを使用した周知の温度センサであっても良い。 温度センサとして熱電対 7 2 を採用する場合、 熱電対 7 2の測定接点 7 4をプローブ 3 1の端面 3 1 3の近傍 に配置するように構成する。 熱電対 7 2のプローブ 3 1への取り付け方法として は、 例えば外部電極 3 1 2の外周に熱電対 7 2を接着剤等で貼り付けても良い。 若しくは、 外部電極 3 1 2の長手方向に絶縁体 3 1 4に達しない程度の深さの溝 7 5を設けて、 当該溝 7 5に熱電対 7 2を嵌め込むと共に接着剤などで固着して も良い。 後者の場合、 前者と比較して、 熱電対 7 2が外部電極 3 1 2から出っ張 らないために、 プローブ 3 1を被測定物に突き刺す際に、 熱電対 7 2がプローブ 3 1から外れてしまい難いという利点がある。 ここで、 プローブ 3 1の端面 3 1 3と熱電対 7 2との位置関係は、 例えばプローブ 3 1と熱電対 7 2とが互いに検 出信号を乱すことの無いように、 即ち一方が他方の外乱とならないように、 設定 することが好ましい。 このために、 例えば熱電対 7 2の測定接点 7 4を、 Fig. 7 中の Lで示すように、 プローブ 3 1の先端から若干装置本体側に引き込んだ位置 に配置することが好ましい。 尚、 複素誘電率の測定手段には、 例えば T D R法を 採用した周知の装置を用いて良い。 熱電対 7 2は、 両端を接合した 2種の異なつ た導体からなる周知のものである。 熱電対 7 2は、 図示しない温度測定手段に接 続されており、 この温度測定手段は、 ゼーベック効果による熱起電力を利用して、 熱電対 7 2の二つの接点の間で発生する熱電圧を測定することにより、 測定接点 7 4の温度を測定する周知の装置である。 以上の構成によって、 プローブ 3 1を 被測定物に刺し込むことで、 当該被測定物の複素誘電率を測定すると同時に、 当 該測定個所の近傍の温度を測定することが可能となる。 これにより、 被測定物が 加熱や冷却の過程などにある場合であっても、 温度に対する正確な複素誘電率を 測定することができる。
さらに、 プローブの端面を斜めとなるように形成することで、 端面の面積を調 整し、 所望の電気長を得ることができるが、 場合によっては、 プローブの横断面 の形状によって所望の電気長を得るようにしてもよい。 例えば、 プローブの端面 をプローブの横断面と平行な平面とし、 且つプローブの横断面の形状を楕円形状 として、 所望の電気長を得るようにしても良い。
なお、 上述の実施形態は本発明の好適な実施の一例ではあるがこれに限定され るものではなく、 本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々変形実施可能であ る。 例えば、 本発明のプローブを用いた物性測定装置の測定対象としては食品の みならず、 例えば含水量を調べる必要性がある含水物質全般を対象として良い。 また、 本発明のプローブを用いる物性測定装置は、 T D R法を採用した装置には 限られない。 被測定物の複素誘電率を測定する方法としては、 T D R法の他に、 例えば周波数領域測定法などが知られており、 これらの測定方法を採用した物性 測定装置にも本発明のプローブを適用することが可能である。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 被測定物の複素誘電率を測定して当該測定された複素誘電率に基づいて前 記被測定物の含水量等の物性値を測定する物性測定装置に用いられ、 芯線となる 内部電極と、 該内部電極と同軸に配置される外部電極とを有する物性測定用プロ ーブにおいて、 前記内部電極の軸方向に対して斜めに端面を形成したことを特徴 とする物性測定用プローブ。
2 . 前記物性測定装置に設けられた柔軟性を有するプローブ取付用ケ一プルに 対し、 連結手段を用いて着脱自在に取り付けられることを特徴とする請求の範囲 第 1記載の物性測定用プローブ。
3 . 前記連結手段に対しねじ構造により取り付けられることを特徴とする請求 の範囲第 2記載の物性測定用プローブ。
4 . 前記端面の近傍に温度センサを配置したことを特徴とする請求の範囲第 1 記載の物性測定用プローブ。
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