TW588155B - Method and apparatus for evaluating the quality of a non-washed rice - Google Patents

Description

588155 五、發明說明（l) [發明之背景] 之技術領域 本發明係關於用 行所得之無洗米製品 評估方法及其裝置。 技術說明 以對將精碾後之精白米無洗化處理施 ，進行品質評估之一種無洗米之品質 :乂往，炊煮前未經精碾即予以炊煮之所謂無洗米係為 =知者1種無洗米之製法，係藉由水中精碾以去除 在精碾後之精白米的糠粉及糊粉層（a leurone

於:^) ’或利用黏著性物f吸附去除附著在精白米上的糠 “ tUL由乾式方法研磨精白米以去除糠粉及糊 已為眾所週知。以該種製法獲得之無洗米，除了必 其：呈：ΐ Ϊ無須經過研碾即可炊煮之便利性夕卜’更要求 止二便於保管之進一步附加價…今為 '思合時;ΐ i 10 口貝，係以將製品浸潰於水中並予以振動 水麥P, 4 '心'玄又、製品之潔白度製品之水分脂肪酸度 '泡 ~開粒比率等作為無洗米之評價項目。 士口 ，在 >'淳 無洗米試料20g放入方Λ，係利用τ述方法進行測定：將 皮宾孤入二角燒瓶，並注入2 0 0ml的水後，以橡

SA%nf並以振動機（YAMAT0科學（股）製振動機，型號 ) iAi振動10分鐘（144至丨5〇循環/分，速度刻度3. 5 m，4)測定該：十釋、,野田通訊（股）製濁度計’型號 值，就無洗米Λ Λ:般而/，由濁度計所測定之 。’其理想值最好低於80ppm。

第7頁 588155 五、發明說明（2) 但是，由於上述之混濁度、潔白度、水分、脂肪酸 度、泡水裂開粒率等評估項目係使用與無洗米加工前之精 白米相同的評估項目，因此無法辨別附著於作為製品之無 洗米表面而形成之微量糠成分的種皮層（testa layer)、 果皮層（pericarp)以及糊粉層（aleurone layer)、及胚乳 層（endosperm layer)。如此一來，由於尚未確立可辨別 微量之糠成分的無洗米評價法，因此無洗米專用之評估測 定器必然也不存在。此外，目前，雖考慮藉由普及於精米 工場的風味評估裝置，以對各種無洗米進行點數評估，但 實際上，該種評估僅止於精白米之品種或廠牌及官能性風 味之點數評估，難以對加工良率及表面狀態均不同於精白 米之無洗米進行品質評估。 另一方面，利用螢光發光辨識蛋白質或殿粉質等組成 之方法係過去以來為一般所熟知，舉例而言，在美國專利 4 4 2 1 7 7 2號案中，揭示有可辨識縠粒之外皮層、糊粉層及 澱粉質胚乳成分之一種具可靠性之方法。該種方法係一種 用以同時測定以粉碎製造所得之縠粒製品中的比例的方 法，其特徵係包含：在大約2 5 0至3 0 0 n m的波長範圍中利用 電磁輻射線進行照射，以激發製品中的澱粉質胚乳部分， 並使之產生螢光發光’藉由大約位在3 0 0至37Onm的波長範 圍的電磁輻射線進行照射，以激發製品中的糊粉層部分， 並使之產生螢光發光’此外’再藉由大約位在410至490nm 的波長範圍的電磁輻射線進行照射，以激發製品中的外皮 層部分’並使之產生榮光發光的步驟；以及分析由該最終

313994.ptd 第8頁 588155 五、發明說明（3) 〜' ---- ^製品所放出之營光，同時測定製品中的澱粉糊粉 層以及外皮層的相對比例。 、 另一方面在y專利47m8m案乃揭示粒損 於所選擇之波長範圍之電磁放射線 生视覺性對昭， 、σ刀一非損傷部分之間產 但是，2以辨識損傷部分與非損傷部分。ρ 方法，係一種^ f利442 1 772號案所揭示之縠粒成分辨識 以及外皮展ϊϋΐ照射適於澱粉質胚乳部分、糊粉層部分 其鸯光發光ϋ 4各部分之特有激發波長，再將分別測定 之重複現ίΓ領域與外皮層部分領域重複之處（激發 此外火而有無法進行正確成分分析之缺點。 定系統中，因命國專利471 378 1案中所揭示之榖粒損傷測 成分分析等=法判斷穀粒是否損傷’而無法使用在榖粒 等官能值之間比1除ί之外，兩者在榖粒之各成分與風味 量附著於無洗二…、相β性二且習知之風味評估裝置並未考 因此無法f; f : 2量糠成分對風味所產生之影響， [發明之B…洗米的風味評估行詳細分析。 ^目的及其概要] 本發明+ 其裝置，該』的’在提供一種無洗米之品質評估方法及 性評估之外、置不僅可進打正確之成分分析及風味等官能 為=卜，同時可對無洗米進行等級設定。寻S月匕 、上述目的，本發明乃採取一種技術手段而提

588155 五、發明說明（4) 供將精碾後之精白米施以無洗化方式處理所得之無洗米製 品進行品質評估之方法，根據在被測定物上照射激發光而 獲得之自有螢光之亮度之不同，同時辨識附著於其表面之 外皮層（種皮層與果皮層）、糊粉層及胚乳層之各部分的 份量比例以評估品質。 藉此，可同時將精碾後之精白米施以無洗化方式處理 所得之無洗米製品，進行附著於其表面之外皮層、糊粉層 及胚乳層之各部分之份量比例的辨識，並將作為被測定物 之無洗米區分為：例如為求美味，而在炊煮前需清洗2至3 次之輕處理無洗米；為求美味，在炊煮前需清洗1次之中 處理無洗米；以及炊煮前無需清洗之重處理無洗米等三大 種類以進行品質評估。 此外，前述自有螢光亮度之取得，係利用對被測定物 照射激發光而獲得之透過光或反射光，而僅以反射光或是 透過光進行測定，因此除了被測定物之表面狀態外，其内 部狀態同樣可利用光學方式進行評估。 此外，將大約位於5 6 0至5 7 0 nm左右之綠色領域之波長 作為激發光照射在前述被測定物，同時由前述被測定物取 得大約5 9 0 nm以上之紅色領域之波長以作為自有螢光，藉 此，可取得可見光線領域之自有螢光，並藉由顯示器等簡 易的影像裝置，即使使用目測法，亦能把握附著於表面之 外皮層、糊粉層以及胚乳層等各部分之份量比例。 此外，除了可同時辨識前述外皮層、糊粉層以及胚乳 層之各部分之份量比例外，可由評估並顯示該無洗米之風

313994.ptd 第10頁 588155 五、發明説明（5) 味，使各部分之份量比例與風味值等官能值之間具有相關 性，以對無洗米進行詳細的風味評估。 由於該無洗米製品之品質評估裝置，具備有：對前述 被測定物照射激發光之激發用光源；將被測定物保持在測 定位置的被測定物保持裝置；取得由來自前述被測定物之 透過光或反射光所產生之自有螢光之亮度的受光裝置；用 以計算附著於鈾述被測定物之表面之外皮層、糊粉層及胚 乳層之各部分之份量比例，並算出無洗米之品質及風味值 的運算控制裝置；將該運算控制裝置所運算之值予以的顯 示裝置；因此可提供一種藉由簡便之光學裝置進行無洗米 之品質評估的裝置。 此外，由於係使用發光二極體作為前述激發用光源， 並使用CCD線狀感測器或CM〇s線狀感測器 x / 置，因此可提供-種藉由小型且廉價之光:為：述受光/ 米之品質評估的裝置。 予破置進行無洗 作為前述激發用光源之發光二極體， 數發光元件所形成之環型光源，因此^ ’由於係使用由複 照射在保持於前述被測定铷位从& 可岣勻地將激發光 此外，前述被 ’前述被測定物

保持裝置供給被測定物、

測定物整體。 ^成可使被測定物 $動的滑動板構

進行對被測定物 以及從被測定 五 物 物 層 發明說明（β) 保持裝置排出被測定物等動 取 之表部與背部，而進行正確之，同時可藉由測定被測定 狀態下排列被測定物，以避务：質評估，外，可於單 得清晰之書像。 ^成兩粒重璺現象，以便 此外’由於前述顯示裝置且 粉層及胚乳層等各部分比例心，有：可顯示外皮層、糊 或排名顯示該無洗米之品質與顯示部；f及可以點數 因此，相較於單以點數或排名值之品質评估顯示部， 之裂置’由於可顯示外皮層、糊Z無洗米之品f與風味值 比例之故，更能夠精確掌握無=層及胚乳層等各部分之 [最佳實施形態之詳細說明]、之品質評估。 首先，說明無洗米之製法，$如 ^ Α 圖所示之藉由水中精碾，將附著；製法係適用：例如第6 或糊粉層予以去除之無洗米f ^精碾後之精白米的糠粉 質將附著於精白米之糠粉或糊於j置A;或利用黏著性物 米製造裝置B。 71層予以吸附•去除之無洗 參照第6圖可知，無洗米盤j、& 11-42 0 5 6號公報）係由：分別^裝置A(參照特開平 101，而在另一端設置排出部丨〇 、汉置精白米供給部 103,於離心脫水部104形成該二以形成精白米之連通部 而在精碾部1〇5形成位於前述、部103之排出部102側， 1 〇4之間的前述連通部i 、、、、、a部1 〇 1與前述離心脫水部 加裝置1 0 6之精碾裝置’並於該精碾部1 〇 5連接水分添 排出部1 0 2相連通，並上〇 7 ’以及與該精礙裝置1 0 7之前述 ”。周签(moisture conditioning)該精

313994.ptd 第12頁 588155 五、發明說明（7) 碾裝置1 0 7所排出之精白米水分之調整裝置1 〇 8所構成。當 精白米由供給部1 〇 1供給至精碾部1 0 5時，來自水分添加裝 置1 0 6的水分亦同時被供給至精碾部1 0 5，此時的水份添加 量，對精白米之添加比例為5至2 0重量％ ，而最好比例為 1 5重量％ 。精白米與水係同時藉由精碾部1 〇 5内的螺旋輸 送器1 0 9、1 1 〇、1 1 1進行搬送，及攪拌-精碾。藉此，使精 白米之附著糠浮游於水中，並持續進行精碾，此時對精白 米之精碾度為〇 . 5至2 · 0% ，通過精碾部1 〇 5之米粒係被供 給至下一步驟的離心脫水部1 0 4。 在離心脫水部1 〇 4中，米粒與水藉由螺旋輸送器π 2而 搬送至更下方處，並由多孔壁1 1 3排出含有糠粉及糊粉層 的水分。接著，米粒從離心脫水部1 0 4經排出部1 0 2排出， 並在調整裝置1 0 8中進行乾燥處理。 在調整裝置1 0 8中，將米粒分佈在網1 1 4上，透過風的 通風作用進行調整並予以乾燥，當將米粒調製成適當水分 後，再以無洗米製品形態由排米口 Π 5排出。 另一方面，參照第7圖說明無洗米製造裝置B (參照曰 本專利第3 2 0 6 7 5 2號公報），無洗米製造裝置B，由其上部 依序具備有：濕式加工部2 0 0、粒狀物混合部2 0 1以及分離 乾燥部2 0 2，精白米依序通過濕式加工部2 0 0，粒狀物混合 部2 0 1以及分離乾燥部2 0 2，藉此以形成米粒表面幾乎完全 無附著糠粉之無洗米。 將精白米投入連接在濕式加工部2 0 0的供給筒2 0 3的螺 旋筒2 0 4内，並由位於供給筒2 〇 3附近的喷霧口 2 0 5添加米

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588155 五、發明說明（8) 粒重量比約5%的霧狀水分，再藉由每分鐘旋轉5 0 0次的供 給用螺旋板2 0 6搬送至搬送終端側，同時以攪拌翼2 0 7進行 攪拌。藉由該攪拌動作，使霧狀水分均勻地附著於米粒表 面，並軟化米粒表面凹部的糠。 接著，在粒狀物混合部2 0 1中，由濕式加工部2 0 0的排 出口 2 0 8經排出筒2 0 9而供給至粒狀物混合部2 0 1的螺旋筒 2 1 0内的米粒，藉由每分鐘旋轉6 0次的供給用螺旋板2 1 1及 攪拌翼2 1 2—面攪拌一面搬送至搬送終端側，此時，粒狀 物供給漏斗2 1 3内的粒狀物將被供給至螺旋筒2 1 0内。將粒 狀物α化並乾燥成例如木薯澱粉等之澱粉質，使之形成硬 度為2至5kgf/cm乏大略球狀體，並作成比米粒粒度小之 具有一定粒度的顆粒（例如將粒度作成丨丨· 7mm)，然 後在7 0°C至1 0 0°C的高溫狀態下進行供給並與米粒混合。 該混合比係相對於米粒大約5 0重量％ (重量比）。 於前一步驟中，吸收水分而附著於軟質化之精白米上 的糠粉等，與高溫之粒狀物接觸的瞬間被α化，並由粒狀 物所吸附-去除，而使糠不再附著於精白米之表面。此 外，在此同時，藉由蒸發潛熱可達到降低米粒表面溫 作用。 此外，在分離乾燥部2 0 2中，由粒狀物混合部2 〇丨經排 出筒21 4流下之米粒，被供給至最終步驟之分離乾燥部2〇2 的螺旋筒21 5内，並藉由每分鐘旋轉28〇次的供給用螺旋板 2 1 6移送至搬送終端側，同時藉由攪拌翼2丨7進行攪拌。此 時，藉由從送風口 218以每分鐘60m的速度流入的約4〇t

第14頁 588155 五、發明說明（9) 的風，將微濕的米粒表面乾燥，同時促使與粒狀物間的分 離。 通過螺旋筒2 1 5的米粒，由製品排出口 2 1 9排出至機 外，而形成精白米凹部内的糠完全去除的無洗米。 以上係說明作為被測定物之無洗米之製造法之其中一 例。此外，為暸解該等無洗米之品質，在本發明中，係以 激發光照射在無洗米，利用所得之自有螢光之亮度的不 同，同時辨識附著於該粒表面之外皮層、糊粉層及胚乳層 之各部分的份量比例，以評估其品質。 第1圖為本發明之無洗米品質評估裝置之概略說明 圖。該評估裝置1係具備有：貯留被測定物之漏斗2 ;由該 漏斗2取出預定量之被測定物之附有旋轉閥的貯槽3 ;藉由 振動搬送來自該附有旋轉閥之貯槽3之被測定物的振動饋 料器4 ;由該振動饋料器4排列被檢查物並使之保持於測定 位置之被測定物保持裝置5 ;位於該被測定物保持裝置5之 上方以及下方，對被測定物照射激發光之激發用光源6 ( 6 A 及6 B);用以取得由來自被測定物之透過光或是反射光所 得之自有螢光亮度之受光裝置7 ( 7A及7B);將經排列之被 測定物從被測定物保持裝置5刮落去除之去除裝置8 ;接收 由該去除裝置8去除之被測定物的漏斗9 ;連接於該漏斗9 之托盤1 0以及計量托盤1 0内之被測定物的測量單元11。 前述受光裝置7，如第2圖所示係藉由影像處理部1 2連 接有運算控制裝置1 3，而該運算控制裝置1 3則與顯示裝置 1 4相連接。此外，該運算控制裝置1 3，係由所得之自有螢

313994.ptd 第15頁 588155 五、發明說明（ίο) 光之党度算出附著於前述被測定物表 及胚乳層等各部分的份量比例。顯示卜，層、糊粉層 顯示由運算控制裝置13所運算之盔ς。所4中，具備有可 示器15。該顯示器15至少具備有：二二2風味值的顯 胚乳層等各部分比例之成分顯示部15Α;皮θ 、糊粉層及 顯示該無洗米之品質或是風味值之σ _’以點數或排名 此外，可與成分測定機器相互連匕 置有：終酸成分顯示部1 5 C ;可溶性| & 士 _ 可。又 硬度顯示部15Ε;及糊粉壁殘留度顯示部15|。顯示部15D; 此外，參照第1圖及第3圖詳細說明前述品質評估裝置 1之結構。前述被測定物保持裝置5係為可藉由適者^ (未圖示）使被測定物依照圖示之A方向或是昉:在供給 位置、測定位置19與排出位置之間移動的滑動板構造，並 以例如玻璃板或壓克力樹脂板可透過來自前述激發用光源 6之光線的透明材料而形成。此外，排列設置複數個溝部μ 1 6 ’使被測定物可在單層狀態下以複數列排列，因此，相 較於雜亂且排列不整之被測定物，更容易取得清晰影像。 符號1 7為設置在光源6與被測定物保持裝置5之間的淚、 光器，藉由使激發用光源6通過該渡光器1 7，可利用大約 5 6 0至5 7 0 nm左右的綠色領域的波長作為激發光照射。該渡 光器1 7可藉由馬達1 8操作旋轉（參照第3圖），並可選擇 使用各種濾光器1 7。 此外，前述激發用光源6，係使用一般的鹵素燈、鎢 燈、氙燈等，雖可使光線通過濾光器1 7並以約5 6 0至5 7 0 nm

Μ

313994.ptd 第16頁 588155 五、發明說明（11) 左右的綠色領域的波長作為激發光照射，但該種燈管卻具 有使用壽命短、消耗電力大且容易發熱的缺點。另—方 面，雖考慮使用光量較大之雷射光作為激發用光源6，以 取得鮮明的影像，但由於另需設置附屬機器而有價格昂貴 之缺點。在考量上述各點後，乃以使用壽命長且電力消耗 較少之LED等發光二極體來作為激發用光源6最為理想。發 光二極體雖具有光量較小的缺點，為解決該項缺點，在本 實施形態中，係使用由複數發光元件所形成之環型光源 (參照第3圖），藉由該種照明，可均勻照射在被測定物 保持裝置5的整面。而若在該LFD環型光源6之中央部配設 受光裝置7，即可取得鮮明之影像。此外，被測定物保持 裝置5係以透明材料而形成，例如’若將光源6與受光裝置 7配設於上方側與下方側，即可測定米粒之背部（表部） 與腹部（背部），以進行更準確之品質評估。

前述受光裝置7，由於必須根據自有螢光亮度之不 同’同時辨識粒表面之各層’因此最好使用可瞬時把握寬 闊領域之C C D線狀感測裔（或是區域感測器）或p ς綠此 感測器（或是區域感測器）。 V 以下說明上述構造之作用 物之無洗米後，可由該附有旋 轉閥3a取出測定用量之無洗米 送無洗米，而供給並排列於被 米被供給至被測疋物保持筆置 移動至測定位置1 9並開始進行 。由漏斗2投入作為被測定 轉閥3 a之貯槽3底部經由旋 ，同時藉由振動饋料器4搬 測定物保持裝置5。當無洗 5後，被測定物保持裝置5將 測定。

313994.ptd 第17頁 588155 五、發明說明（12) 接著，來自激發用光源6之光線通過濾光器1 7，並以 約5 6 0至5 7 0 nm左右的綠色領域的波長作為激發光照射在無 洗米。如此一來，受光裝置7可由來自無洗米之透過光或 反射光取得約5 9 0 nm以上的紅色領域波長作為自有螢光。 該受光裝置7係用以接收將激發光照射於被測定物而 獲得之自有螢光，因此相較於只藉由反射光或透過光進行 測定的裝置，除了被測定物之表面狀態之外，即使内部狀 態亦可藉由光學方式進行評估。例如，第4圖係顯示米粒 之内部狀態與亮度間的關係圖，根據該圖，得知自有螢光 之亮度係依據米粒表面之深度而有所不同。參照第4圖， 可知果皮層及種皮層（〜約1 2// m)之亮度約在4 0至5 0之 範圍，糊粉層（約1 2至2 5// m)之亮度約在1 5至2 5之範 圍，而胚乳層（約2 5// m〜）的亮度約為5至1 0之範圍。 如上所述，以各層的亮度的不同作為基準，將作為被 測定物之無洗米分類以評估品質。例如，第5圖係顯示外 皮層之附著比例，並根據無洗米之處理程度，區分為：A · 炊煮前需將製品清洗2至3次才能獲得美味之輕處理無洗 米；B.炊煮前需將製品清洗1次才能獲得美味之中處理無 洗米；以及C.炊煮前無需清洗之重處理無洗米等三種類以 進行品質評估。 【表1】 依無洗米處理程度之米粒表面之露出比例與風味之關 係 (〇記號愈多者表示外皮層之露出比例愈高。•記號

313994.ptd 第18頁 588155 五、發明說明（13) 愈多者表示胚乳層之露出比例愈高。☆記號愈多者表示風 味值愈佳。） 精白米 無洗米 輕處理型 無洗米 中處理型 無洗米 重處理型 外皮層（亮度高） 〇〇〇〇〇 〇〇〇〇 〇〇〇 〇〇 胚乳層（亮度低） ·· ··· ···· ····· 風味值 ☆☆☆☆☆ ☆☆ ☆☆☆☆ ☆☆☆ 表1係顯示依無洗米處理程度所致之米粒表面露出比 例與風味之關係。無洗米處理程度輕，係指因外皮層附著 較厚，故高亮度比例較高，此外，因胚乳層之露出比例較 低，故低亮度比例低。反之，無洗米處理程度重，係指因 外皮層較薄，故高亮度比例較低，此外，因胚乳層之露出 比例高，故低亮度比例較高。 另一方面，在無洗米之處理程度上，重處理並不代表 風味值必佳。將表1的米粒，藉由實際的官能實驗，綜合 評估其外觀、香味、味道、黏度、硬度等評估項目，可知 風味值良好度係依照精白米、無洗米中處理型、無洗米重 處理型、無洗米輕處理型之順序排列。 因此，由第2圖所示之輸入於運算控制裝置1 3之亮度 的高低比例，判斷與無洗米之外皮層、糊粉層及胚乳層之 各成分比例的關連性，以把握無洗米處理程度，再將該無 洗米處理程度與事先藉由官能實驗所記錄之風味值之相關 性予以結合，於詳細分析無洗米之風味評等時是必要的。

313994.ptd 第19頁 發明說明（14) 五 以上述方式所算出 --^^ 之各成分比例，择 _二冼米外皮層、μ 米處理程度等之二:於，2圖之成分盈貝：’月粉層及胚乳層 干从 口口負或風味侑，3丨 •肩不部15 A，二‘ 的品質評估顯示部15B。 則顯示於以點數或：無洗 藉由顯示裳置14顯 或排名標 :後：由被測定物保持裝置水之品質教完 :二將第m之被測定物以予以去丄的側 返回B方向時，佶X咚姑进 攻置5朝^人 狹s 持奘番ς ^丄吏去除破置8之突出部方向移動，並於 列ίΐ:乎被測定物保持裝“刮落Ϊ觸於被測定物、保 …、冼未，错此進行去除動作。姐^由該突出部^所j …、洗米經由漏斗9而由托盤所承接，、AX去除裝置8去除 ;盤10内之無洗米。該測量值係心由測量單“i 亦可利用在無洗米品質之統計上。於運算控制裝置j 3 以下，藉由實施例更進—步地1 、 ’ 第1實施例 /、題說明本發明。 使用「新瀉越光」糙米作為試料 使用A社製法所加工之無洗米、B社製^將該糙米精碾 C社製法所加工之無洗米、D社製法所加^加工之無洗米、’ 製法所加工之無洗米、F社製法所加工之無之無洗米、版 品，於激發波長5 6 0 nm、螢光波長5 9 〇㈣之7米等8種樣 評估。 件下進行品暂 【表2】 ' 條件：

588155 五、發明說明（15) 激發波長：5 6 0 n m (綠） 螢光波長：590nm(紅） 無洗米 (A社製法) 無洗米 (B社製法) 無洗米 (C社製法) 無洗米 (D社製法) 無洗米 (E社製法) 無洗米 (F社製法) 外皮層 (高亮度） 6% 2°/〇 18% 33% 21% 17% 糊粉層 (中亮度） 36°/〇 32°/〇 44% 45% 60% 47% 胚減 (低亮度） 58% 66% 38°/〇 22% 19% 35% 合計 100% 100% 100% 100% 100% 100% 風味值 (順位） 2 1 3 5 6 4 品質評估結果，在風味值方面，基於外皮層薄而胚乳 層厚之理由，以B社製法之無洗米為第1名，A社製法之無 洗米為第2名，C社製法之無洗米為第3名。 第2實施例 使用「北海道星之夢」糙米作為試料，並以與第1實 施例相同之條件進行品質評估。 【表3】 條件： 材料品質：北海道星之夢 激發波長：5 6 0 n m (綠）

313994.ptd 第21頁 588155 五、發明說明（16) 螢光波長：590nm(紅） 無洗米 (A社製法) 無洗米 (B社製法) 無洗米 (C社製法) 無洗米 (D社製法) 無洗米 (E社製法) 無洗米 (F社製法) 外皮層 (高亮度） 12°/〇 5°/〇 12% 44% 34% 33% 糊粉層 (中亮度） 46% 40% 46% 42% 57% 52% 胚等U# (低亮度） 42% 55% 42% 14% 9% 15% 合計 100% 100% 100% 100% 100% 100% 風味值 (順位） 2 1 2 6 5 4 品質評估結果，在風味值方面，基於外皮層薄且胚乳 層厚之理由，而以B社製法之無洗米為第1名，A社製法之 與C社製法之無洗米則以相同比率同為第2名。 根據本發明，係一種對以無洗化方式處理精碾後之精 白米而形成之無洗米製品進行品質評估之方法，根據在被 測定物上照射激發光而獲得之自有螢光亮度之差異，同時 辨別附著於其表面之外皮層、糊粉層及胚乳層等各部分的 份量比例，以進行品質評估，因此可對以無洗化處理精碾 後之精白米而形成之無洗米製品，同時辨別附著於其表面 之外皮層、糊粉層及胚乳層等各部分的份量比例，並將作 為被測定物之無洗米，區分為：例如在炊煮前需清洗2至3

313994.ptd 第22頁 588155 五、發明說明（17) 次才能獲得美味之輕處理無洗米；炊煮前需清洗1次才能 獲得美味之中處理無洗米；以及煮飯前無需清洗之重處理 無洗米等三大種類，以進行品質評估。 此外，進行被測定物之品質評估所使用之光源，係在 被測定物照射激發光而獲得之自有螢光，因此相較於僅以 反射光或透過光進行測定之方法，除了被測定物之表面狀 態之外，其内部狀態同樣可藉由光學方式進行評估。 於被測定物（米）照射激發光而獲得之亮度，在第4圖 的例子中，如前所述，種皮層之亮度約為4 0至5 0，糊粉層 之亮度約為1 2至2 5，胚乳層之亮度約為5至1 0。但是，當 糊粉層之亮度與胚乳層之亮度（比第4圖所示之例更為） 接近時，將會使第2圖所示之運算控制裝置1 3不易判斷所 輸入之自有螢光究竟為糊粉層亮度或是胚乳層亮度。 因此，改採用下列方法，以正確測量米表面之糊粉層 比例，並根據該值（B)、由第2圖所示之運算控制裝置1 3 所得之外皮比例（A)、以及根據1 0 0— (A+ B )= C之計算 公式所得之胚乳層比例（C)來評估米之品質。 [糊粉層測定] 1. 將米收納於金屬網中。 2. 將米連同上述網浸潰於加入有酒精類或丙酮等有機 溶劑之燒杯中5秒鐘。 3. 將米從燒杯中取出並放置於去液盤（wiper)上使之 風乾。 於本階段，米之表面藉由有機溶劑脫脂，並使糊粉層

313994.ptd 第23頁 心155 五、發明說明^ ^ --- ΐ i化。但是，米之外皮層以及肱乳層則保有其原色，而 曰白色化。 八4.以彩色CCD相機拍攝該米，並藉由影像處理測定 二，米表面之白色化部分之面積率，以取得糊粉成 刀比例B。 =上述所述，根據上述方法，可藉由對米表面進行有 脫脂處理，而僅使糊粉層白色化。換言《，可藉此 :織糊粉層及其他層。目此’藉由以彩色 ^拍；ΐΐ:::行影像處理’而測定白色化部… 、 並了求出糊粉層之成分比例。 此外，以約5 6 0至5 70nm左右之綠多鸬敁凊旦、从技 光，對前述被測定物進行昭射，同拄二$ / 、作為激毛 約州峨上之^領^/以隸測定物取得 僅可取得可見光線領域之自、有螢光為自门有主螢光，藉此，不 簡單之爭傻_ # ^ ^之自有螢先，同時可利用顯示器等 糊粉層及胚乳層等各部分的份者於表面之外皮層、 μ等t::八m同時辨識前述外皮層、糊粉層以及胚乳 例外，且評估並顯示該無洗米之風 風味π i & > ί 忐值之間具有相關性，俾可對無洗米之 风禾汗估進仃更詳細之分析。 m :ί無洗米製品之品質評估装置，具備冑：對前述 :二卩、、、射激發光之激發用光源；將被測定物保持在測 的被測定物保持裝置；取得由前述被測定物之透過 、3 Μ光所產生之自有螢光之亮度的受光裝f ;用以計

313994.ptd 第24頁 588155 五、發明說明（19) 算附著於前述被測定物表面之外皮層、糊# ^ 各部分之份量比例，並算出無洗米之品質Z層及胚乳層等 控制裝置；以及顯示由該運算控制裝置所運，味值的運算 裝置。因此可提供一種藉由簡便之光學梦 算之值的顯示 品質評估的裝置。 、進行無洗米之 此外，由於係使用發光二極體作為前述 並使用CCD線狀感測器或CMOS線狀感測器作灸激^發用光源， 置，因此可提供一種藉由小型且廉價之 —前述受光裝 米之品質評估的裝置。 予裝置進行無洗 作為前述激發用光源而使用之發光一 用由複數發光元件所形成之環型光源，:極體，由於係使 激發光照射在料於前述被測定物 ^可均勻地將 整體。 装置上之被測定物 此外，前述被測定物保持裝 ，給位置、㈣定位置、排出位置之以=物 =成，並設置複數列之溝= : = = = 態下以複數列排列，因&，不？侍以在早層狀 持裝置供給被測定物、朝測欽仃對被測定物保 物保持裴置排出被測定物等 動、以及由被測定 物之表部與背部而進行正d】：可藉由測定被測定 層狀態下排列被測定物以避二n ’此外，又可於單 清晰之晝像。 充形成2粒重疊現象，以取得 此外，由於前述顯示裝I . 置具備#.可顯示外皮層、糊 588155 五、發明說明（20) 粉層及胚乳層等各部分之比例的成分顯示部；以及可以點 數或排名顯示該無洗米之品質與風味值之品質評估顯示 部；因此，相較於單以點數或排名顯示無洗米之品質與風 味值之裝置，因顯示有外皮層、糊粉層及胚乳層等各部分 之比例之故，因而更能夠精確掌握無洗米之品質評估。

第26頁 588155 圖式簡單說明 [圖面之簡單說明] 第1圖為本發明之無洗米品質評估裝置之概略說明 圖。 第 2圖為顯示受光 裝 置 運 算控制裝 置 以 及 顯 示 裝 置 之連 接 狀態之概略圖。 第 3圖為顯示粒狀 物 保 持 裝 置與受光 裝 置 之 概 略 斜 視 圖。 第 4圖為顯示米粒 之 内 部 狀 態與亮度 之 關 係 圖 〇 第 5圖為依照外皮 層 之 附 著 比例將無 洗 米 分 類 之 說 明 圖。 第 6圖為顯示無洗 米 製 造 裝 置之概略 構 造 之 縱 剖 視 圖。 第 7圖為顯示無洗 米 製 造 裝 置之概略 構 造 之 縱 剖 視 圖。 [元件符號說明] 1 評估裝置 9 漏 斗 3 貯槽 3a 旋 轉 閥 4 振動饋料器 5 被 測 定 物 保 持 裝 置 6(6A、 6 B )激發用光源 7(7A、 ‘ 7B) 受 光 裝 置 8 去除裝置 8A 突 出 部 10 托盤 11 測 量 單 元 12 影像處理部 13 運 算 控 制 裝 置 14 顯示裝置 15 顯 示 器 17 濾光器 19 測 定 位 置

313994.ptd 第27頁 588155 圖式簡單說明 101 白米供給部 103 連通部 105 精碾部 10 7 精礙裝置 1 0 9、1 1 0、1 1 1、1 1 2 螺旋 1 14 網 2 0 0 濕式加工部 2 0 2 分離乾燥部 2 0 4、2 1 0、2 1 5 螺旋筒 2 0 6、2 1 1、2 1 6 螺旋板 208 排出口 213 粒狀物供給漏斗 219 製品排出口 102 排出部 104 離心脫水部 106 添加裝置 108 調整裝置 113 多孔壁 115 排米口 201 粒狀物混合部 2 0 3 供給筒 2 0 5 喷霧口 2 0 7、2 1 2、2 1 7 攪拌翼 2 0 9、 2 1 4排出筒 218 送風口 A、B 無洗米製造裝置

313994.ptd 第28頁

Claims (1)

1. 588155 5· 申5月專利範圍 —種無洗米 然洗化方式 方法，其特 得之自有螢 皮層、糊粉 品質者。 如申請專利 前述自有螢 測定物時所 如申請專利 中，係以大 作為激發光 物取得大約 如申請專利 質評估方法 層以及胚乳 $該無洗米 一種無洗米 以無洗化方 裝置，其特 之激發用光 物保持裝置 光所產生之 著於前述被 修正丨

   j^J1120553 彡年日 之品質評估方法，係將精碾後精^;7T 處理而獲得之無洗米製品進行品^ :卡施以 徵為：根據在被測定物上照射：：：估之 光之亮度不同，以辨識附著於龙^先而獲 層及胚乳層等各部分之份量比例，、：： 範圍第1項之無洗米品質評 光之亮度取得，係“將？發方光法昭仏 獲得之透過光或是反射光而形成者。破 範圍第2項之無洗米之品質評估方 約位於Γ0至570n岐右之綠色領域之波長 照射在刚述被測定物’同時由前述被 59〇nm#上之紅色領域波長作為自有螢疋。 範圍第1項至第3項中任一項之無洗米之。 ，其中，係在同時辨識前述外皮層、糊粉 層等各部分之份量比例的同時，評估 之風味者。 之品質評估裝置，係將精碾後之精白米施 式處理而得之無洗米製品進行品質評估之 徵在具備有·對前述被測定物照射激發光 源；將被測定物保持在測定位置的被測定 ;取得來自前述被測定物之透 自有榮光之亮度的受光裝置；用 測定物表面之外皮層、糊粉層及胚乳層等

   588155 案號 9Π20553 年,月 曰 修正 的Mi 六、申請專利範圍 各部分之份 運算控制裝 值的顯示裝 6. 如申請專利 ，係使用發 線狀感測器 7. 如申請專利 ，作為前述 由複數發光 8. 如申請專利 質評估裝置 使被測定物 動的滑動板 光線透過之 部，俾使被 9. 如申請專利 質評估裝置 外皮層、糊 部；以及可 值之品質評 1 0 . —種無洗米 以無洗化方 方法，包含 根據在 補无 量比例，並算出無洗米之品質及風味值的 置；以及顯示由該運算控制裝置所運算之 置。 範圍第5項之無洗米之品質評估裝置，其中 光二極體作為前述激發用光源，並使用CCD 或CMOS線狀感測器作為前述受光裝置。 範圍第6項之無洗米之品質評估裝置，其中 激發用光源而使用之發光二極體，係使用 元件所形成之環型光源。 範圍第5項至第7項中任一項之無洗米之品 ，其中，前述被測定物保持裝置係形成可 在供給位置、測定位置、排出位置之間移 構造，並以可供前述激發用光源所產生之 透明材料而形成，且設置有複數列之溝 測定物得以在單層狀態下以複數列排列。 範圍第5項至第7項中任一項之無洗米之品 ，其中，前述顯示裝置係具備有：可顯示 粉層及胚乳層等各部分之比例的成分顯示 以點數或排名顯示該無洗米之品質與風味 估顯示部。 之品質評估方法，係將精碾後之精白米施 式處理而得之無洗米製品進行品質評估之 有： 上述無洗米上照射激發光而獲得之自有螢

   313994修正版.ptc 第30頁 2004. 02.11.030 588155 案號 91120553 IV 曰 33· L修正修正年月曰 六 申請專利範圍 光之亮度，求出附著於無洗米表面之外皮層之份量比 例； 對上述無洗米施以有機溶媒之脫脂處理後，藉由 攝影及影像處理，求出糊粉層之成分比例； 根據上述所求出之外皮層以及糊粉層之份量比例 ，求出胚乳層之份量比例； 根據上述所求出之外皮層、糊粉層以及胚乳之份 量比例，進行無洗米之品質評估等處理步驟。

   313994修正版ptc 第31頁 2004. 02.11.031