JPH09264850A - 穀粒の評価装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光学系をよりシンプルで安価に構成するとと
もに、光学系のフォーカス調整を不要にして作業の手間
の軽減を図り、さらに、より明るい照明光の下で信号レ
ベルの高い画像情報を得て、穀粒について良好な品質評
価を行う。 【解決手段】 複数個の穀粒ｋが一層状態で平面状に並
んだ穀粒層が支持板１上に保持されている保持予定箇所
Ｓに対して、穀粒の大きさと同じ大きさ又は穀粒の大き
さよりも小さい光透過領域毎に、照明手段２からの照明
光の通過を許容する光通過状態と光の通過を阻止する光
遮断状態とに切り換え自在な複数個の光シャッター部の
うちの１つを光通過状態に且つそれ以外の光シャッター
部を光遮断状態に切り換え、穀粒層を透過した照明光を
受光手段３が受光した透過光量によって穀粒の品質が評
価される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、穀粒を透過する光
の透過光量によって穀粒の品質を評価する穀粒の評価装
置に関する。

【０００２】

【従来の技術】上記穀粒の評価装置では、例えば透明な
ガラス板上の穀粒に対して下側から照明しながら、その
照明された穀粒の透過画像をテレビカメラ等によって上
方側から撮像し、その撮像画像に基づいて穀粒を透過し
た透過光量を検出して、例えば透過光量が設定光量より
も小さい穀粒を不良としたり、異物を検出したり、ある
いは、特定波長の照明光で照明して、その特定波長の光
に対する透過率によって、良品又は不良の穀粒について
より精密な評価等を行っている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術では、テレビカメラ等によって良好な画像を得る
には、穀粒の像を正確に結像させるための複雑・高価な
光学系が必要であるとともに、その光学系のフォーカス
を穀粒の位置に正確に合わせる作業が面倒であり、又、
信号レベルの高い画像情報を得ようとして照明光の明る
さを明るくすると、却って画像のコントラストが低下し
て穀粒の良好な評価ができず、照明光の明るさを限度以
上に明るくすることができないという不具合があった。

【０００４】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であって、その目的は、上記従来技術の不具合を解消す
べく、光学系をよりシンプルで安価に構成するととも
に、光学系のフォーカス調整を不要にして作業の手間の
軽減を図り、さらに、より明るい照明光で照明して信号
レベルの高い画像情報を得て、それに基づいて穀粒の良
好な品質評価を行うようにすることである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】請求項１の構成によれ
ば、評価対象となる種々の個数の穀粒が一層状態で平面
状に並ぶ状態で保持され、その穀粒層に対する保持予定
箇所に投射された照明光に対して、穀粒の大きさと同じ
大きさ又は穀粒の大きさよりも小さい光透過領域毎に光
の通過を許容する光通過状態と通過を阻止する光遮断状
態とに切り換え自在な複数個の光シャッター部のうちの
１つが光通過状態に且つそれ以外の光シャッター部が光
遮断状態に切り換えられるようにして、その複数個の光
シャッター部の夫々が光通過状態にされ、その穀粒層に
対する保持予定箇所において穀粒を透過した光あるいは
穀粒が存在しない箇所を透過した光が受光される。つま
り、穀粒の大きさと同じ大きさ又は穀粒の大きさよりも
小さい範囲を画素として、穀粒の透過光量についての画
像情報が得られる。

【０００６】従って、穀粒層の保持予定箇所を透過した
光が受光手段に受光されるように集光するだけの光学系
でよいので、従来のように、穀粒の像を正確に結像させ
るための複雑・高価な光学系が不要になるとともに、光
学系のフォーカス調整も不要になって作業の手間の軽減
が実現でき、さらに、光は光通過状態の光シャッター部
を通過するが光遮断状態の光シャッター部は通過しない
ので、照明光の明るさを明るくした場合にも、従来のよ
うに画像のコントラストが低下することもなく、信号レ
ベルの高い画像情報を得て穀粒の良好な評価を行うこと
ができる。

【０００７】請求項２の構成によれば、請求項１におい
て、穀粒が穀粒支持用の光透過性の支持面にて支持さ
れ、その支持面における照明手段側に近接させて設けた
光シャッター部が光通過状態と光遮断状態とに切り換え
られ、その光通過状態の光シャッター部及び支持面を通
過した照明光が穀粒を透過した光あるいは穀粒が存在し
ない箇所を透過した光が受光される。

【０００８】従って、例えば、穀粒支持用の支持面にお
ける照明手段とは反対側に光シャッター部を設ける場合
には、先に穀粒を透過した光が光シャッター部に入射す
ることになるので、光遮断状態の光シャッター部に位置
する照明光が、穀粒を透過するときに広がって隣接する
光通過状態の光シャッター部に入射するおそれがあるの
に比べて、そのような不利を確実に回避させることがで
き、もって、請求項１の好適な手段が得られる。

【０００９】請求項３の構成によれば、請求項１又は２
において、穀粒の大きさと同じ大きさ又は穀粒の大きさ
よりも小さい範囲において、光シャッター部の光透過領
域の大きさが変更できる。

【００１０】従って、例えば高い精度を要求される場合
には、光透過領域の大きさを穀粒の大きさに比べて小さ
く（例えば穀粒の大きさの１／１０程度に）して細かい
画素の画像情報を得る一方、高い精度は必要でなく迅速
に評価したい場合には、光透過領域の大きさを大きく
（例えば穀粒の大きさと同程度に）する等、種々の評価
条件に対応でき、もって、請求項１又は２の好適な手段
が得られる。

【００１１】請求項４の構成によれば、請求項１、２又
は３において、液晶式の光シャッター部によって、穀粒
の大きさと同じ大きさ又は穀粒の大きさよりも小さい光
透過領域毎に、光通過状態と光遮断状態とに切り換えら
れる。

【００１２】従って、広く使われて安価であり、しかも
薄型構造の液晶式の光シャッターを使用することによっ
て、装置費用が高価にならず、且つ小型に製作すること
ができ、もって、請求項１、２又は３の好適な手段が得
られる。

【００１３】請求項５の構成によれば、請求項１、２、
３又は４において、受光手段の受光情報、つまり、穀粒
の大きさと同じ大きさ又は穀粒の大きさよりも小さい範
囲を画素とする穀粒層の透過光量についての画像情報に
基づいて、穀粒層における穀粒の品質が評価される。

【００１４】従って、例えば、穀粒層の透過光量につい
ての画像を表示装置に表示させ、その表示画像を作業者
が見て穀粒の評価を行うように、作業者が受光手段の受
光情報に基づいて穀粒の品質を目視評価するのに比べ
て、作業ミス等を生じさせることなく且つ作業の手間を
少なくしながら的確な評価を行うことができ、もって、
請求項１、２、３又は４の好適な手段が得られる。

【００１５】請求項６の構成によれば、請求項５におい
て、光通過状態の光シャッター部の位置に対応する穀粒
層の保持予定箇所からの透過光が受光され、その受光量
が設定光量よりも小さい位置には穀粒が存在し、受光量
が設定光量よりも大きい位置には穀粒が存在しないとし
て、穀粒層における各穀粒夫々についての保持予定箇所
上の存在位置が判別され、その存在位置が判別された各
穀粒について、受光情報つまり透過光量に基づいて品質
が評価される。

【００１６】従って、各穀粒毎に位置を特定して、例え
ば保持予定箇所における穀粒の全数に対する不良の穀粒
数（不良率）を求める等の評価ができるので、各穀粒の
位置を特定せずに保持予定箇所の穀粒層の全体として評
価するのに比べて、より的確な穀粒の評価ができ、もっ
て、請求項５の好適な手段が得られる。

【００１７】請求項７の構成によれば、請求項５又は６
において、広い範囲の波長の光を発光する照明手段とし
ての広波長光源からの光が、その広波長光源から受光手
段までの間に設けたフィルター手段によって特定波長成
分の光のみが通過し、その特定波長成分の光が、照明光
として穀粒層の保持予定箇所に投射され、その特定波長
成分についての受光手段の受光情報に基づいて、前記穀
粒層における各穀粒の品質が評価される。

【００１８】従って、例えば、フィルター手段を通過さ
せないで、広い範囲の波長の光をそのまま照明光とした
ときの透過光量に基づいて穀粒の評価を行うことを可能
にしながら、フィルター手段を通過させた特定波長成分
の光の透過光量に基づいて、例えば整粒、未熟粒、被害
粒等の形態的な評価や、含有水分、澱粉量等の内部的な
品質について、より一層の細かい評価を行うことがで
き、もって、請求項５又は６の好適な手段が得られる。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の穀粒の評価装置の
実施形態を、米粒を対象として評価する場合について図
面に基づいて説明する。

【００２０】図１及び図２に示すように、複数個の米粒
ｋを載置させるための矩形状の支持板１が設けられ、そ
の支持板１の下方側に照明光を上向きに投射する照明光
源２が設けられ、支持板１の上方側に、単一のフォトダ
イオード等からなる光検出素子３ｂを内蔵した受光器３
が設けられている。受光器３には、支持板１及びその上
の米粒ｋを透過した照明光源２からの照明光を集めて光
検出素子３ｂに導くための集光レンズ３ａが取り付けて
ある。

【００２１】前記照明光源２は、広い範囲の波長の光を
発光する広波長光源としての白色ランプ２ａにて構成さ
れている。そして、その白色ランプ２ａの発光波長のう
ちの特定波長成分の光のみを通過させるフィルター手段
としての色フィルタ８が、前記受光器３の集光レンズ３
ａの直面位置に設けられている。色フィルタ８は、図３
にも示すように、例えば、Ｒ，Ｇ，Ｂの三原色の各色を
透過するフィルタ部８ａを備えた円板がフィルタ切換用
モータ７によって回転されて、その各フィルタ部８ａを
切り換えることができるようになっている。但し、白色
ランプ２ａからの光をそのまま使用するときは、フィル
タ部８ａが形成されていない切欠部分が集光レンズ３ａ
の前に位置する。

【００２２】前記支持板１は、図４に示すように、ガラ
ス板を支持用の基板とする液晶シャッター１Ａに構成さ
れ、その上面が穀粒支持用の光透過性の支持面１ｂに形
成されている。ここで、複数個の光シャッター部が、液
晶シャッター１Ａにて構成されている。液晶シャッター
１Ａは、図５に示すように、水平面内で縦横方向夫々に
沿って米粒ｋの大きさよりも小さい間隔（例えば米粒ｋ
の大きさの１０分の１程度）で区分された最小単位の光
透過部ｐを米粒ｋの保持予定箇所Ｓ（図１参照）の全範
囲に亘って備えている。尚、この最小単位の光透過部ｐ
を図５のように１個だけ光通過状態にしたり、図６のよ
うに縦横方向に２個づつ合計４個を光通過状態にした
り、その他適宜個数を変更することによって、光シャッ
ター部１Ａの光透過領域の大きさが変更自在に構成され
る。

【００２３】以上より、複数個の米粒が一層状態で平面
状に並んだ穀粒層を保持することができ、その穀粒層に
対する保持予定箇所Ｓに対して米粒ｋの大きさよりも小
さい光透過領域毎に光の通過を許容する光通過状態と光
の通過を阻止する光遮断状態とに切り換え自在な複数個
の光シャッター部１Ａを備えた穀粒保持手段Ｈが、支持
板１にて構成され，又、その穀粒保持手段Ｈの穀粒層に
対する保持予定箇所Ｓに対して照明光を投射する照明手
段が、前記照明光源２にて構成され、又、その照明光源
２による照明光の投射状態において、前記穀粒保持手段
Ｈからの光を受光する受光手段３が、前記受光器３にて
構成され、そして、前記穀粒保持手段Ｈが、穀粒支持用
の光透過性の支持面１ｂを備え、その支持面１ｂにおけ
る前記照明光源２側に近接させて前記光シャッター部１
Ａを設けていることになる。

【００２４】制御構成について説明すると、図７に示す
ように、マイクロコンピュータ利用の制御装置５が設け
られ、この制御装置５に、前記受光器３の光検出信号が
入力されている。一方、制御装置５からは、前記液晶シ
ャッター１Ａを駆動する液晶駆動回路６に対する制御信
号と、前記フィルタ切換用モータ７に対する駆動信号
と、後述のように各種の情報を表示するためのテレビモ
ニター９に対する画像信号とが出力されている。

【００２５】そして、前記穀粒保持手段Ｈは、この制御
装置５及び液晶駆動回路６を利用して、前記複数個の液
晶シャッター部１Ａのうちの１つを光通過状態に且つそ
れ以外の液晶シャッター部１Ａを光遮断状態に切り換え
ることを複数個の液晶シャッター部１Ａの夫々について
実行するように構成される。具体的には、図５に示すよ
うに、横方向Ｘに沿って隣接して並んでいる各液晶シャ
ッター部１Ａ（図は最小単位の光透過部ｐを光透過領域
とする例）を矢印Ｊのように順番に光通過状態に駆動し
て各液晶シャッター部１Ａを１回だけ光通過状態にす
る。

【００２６】これにより、図８に示すように、前記保持
予定箇所Ｓの横方向Ｘに沿って並ぶ各シャッター部１Ａ
を順次光通過状態にしたときの受光器３の出力波形が得
られる。図８において、ｘ０は米粒ｋの存在しない箇所
からの透過光量のレベル（通常は、フォトダイオード等
の飽和レベルになる）を示し、ｘ１は、これより透過光
量が少なくなると米粒ｋが存在すると判断される穀粒存
否の判断レベルを示し、ｘ２は、これより透過光量が少
なくなると正常な米粒ｋではなく着色米や異物等のよう
な不良物が存在すると判断される不良物存在の判断レベ
ルを示している。尚、縦方向Ｙに沿って各液晶シャッタ
ー部１Ａを順番に光通過状態に駆動しても同様の出力波
形が得られ、図中のｙ０はｘ０と、ｙ１はｘ１と、ｙ２
はｘ２と夫々同じ意味である。

【００２７】又、前記制御装置５を利用して、前記受光
器３の受光情報に基づいて、前記穀粒層における米粒ｋ
の品質を評価する品質評価手段２００が構成されてい
る。具体的には、例えば、評価すべき米粒群ｋからサン
プルした所定個数の米粒ｋを保持予定箇所Ｓに載せ、液
晶シャッター部１Ａの光透過領域の大きさを米粒ｋと同
程度にして横方向Ｘに沿って各液晶シャッター部１Ａを
順番に光通過状態にしながら、その保持予定箇所Ｓの全
体において透過光量が上記不良物の判断レベルｘ２を下
回った回数を計数して、その計数値が大きい場合は不良
物が多く、計数値が小さい場合は不良物が少ないことを
段階に分けて判断するように、その米粒群ｋの第１次の
品質評価を行うようにする。そして、透過光量が不良物
の判断レベルｘ２を下回った箇所の位置、その計数値、
及び、評価の段階等を前記テレビモニター９に表示す
る。

【００２８】又、前記制御装置５を利用して、前記光通
過状態の液晶シャッター部１Ａの位置情報及び前記受光
器３の受光情報に基づいて、前記受光器３の受光量が設
定光量（つまり前記ｘ１又はｙ１に対応するレベル）よ
りも小さいときに米粒ｋの存在を検出して、前記穀粒層
における各米粒ｋ夫々についての前記保持予定箇所Ｓ上
の存在位置を判別する位置判別手段１００が構成されて
いる。具体的には、図５に示すように、液晶シャッター
部１Ａの光透過領域の大きさを前記光透過部の大きさｐ
にして各シャッター部１Ａを順番に光通過状態に駆動す
ると、その光通過状態のシャッター部１Ａの位置が駆動
位置（ＸＹ座標での位置）として判るので、受光器３の
出力電圧が前記穀粒の判断レベルｘ１よりも小さく且つ
不良物の判断レベルｘ２よりも大きいシャッター部位置
の集まりとして各米粒ｋの存在位置が判別される。尚、
図９に例示するように、米粒ｋの存在位置として判別さ
れた領域の面積が、平均的な米粒ｋの面積（つまり前記
大きさｐの個数）よりもかなり大きい（図では２倍程
度）場合は、その米粒ｋ’は、１個ではなく２個以上の
粒が接近してその端部において一部重なっていると判断
される。そして、位置判別した各米粒ｋの位置、及び、
重なっている米粒の位置等を前記テレビモニター９に表
示する。

【００２９】そして、前記品質評価手段２００は、前記
位置判別手段１００の判別情報及び前記受光器３の受光
情報に基づいて、前記穀粒層における存在位置が判別さ
れた各米粒ｋの品質を評価するように構成されている。
具体的には、上記各米粒ｋの位置に対応する液晶シャッ
ター部１Ａ（例えば米粒ｋの中央部付近の液晶シャッタ
ー部１Ａ）を光透過状態にして、そのときの受光器３の
出力レベルを設定値と比較して、その設定値よりも大で
あれば良米、小であれば不良米と判断する。尚、前述の
ように、重なっている粒については、評価の対象から除
くか、あるいは、各粒に対応する部分を判別してその各
部分毎に評価する等の処理を行う。そして、良米と不良
米の各位置を色分け等にて区別して前記テレビモニター
９に表示する。

【００３０】又、前記品質評価手段２００は、前記色フ
ィルタ８を通過した特定波長成分についての前記受光器
３の受光情報に基づいて、前記穀粒層における各米粒の
品質を評価するように構成されている。具体的には、例
えば、赤色Ｒの光を照明光にした状態、及び、緑色Ｇの
光を照明光にした状態の夫々において、前記各米粒ｋの
中央部付近の液晶シャッター部１Ａを光透過状態にした
ときの受光器３の出力レベルから透過率を求めて、その
各色Ｒ，Ｇでの透過率によって、良米や不良米における
整粒、未熟粒、被害粒等を区別するような形態的な評価
や、含有水分、澱粉量等の内部的な品質について評価す
る。そして、それらの評価結果をテレビモニター９に表
示する。

【００３１】〔別実施形態〕上記実施例では、受光手段
３の情報に基づいて判別した各穀粒の位置や、各穀粒に
ついて良否等の品質を評価した結果を、テレビモニター
９に表示させるように評価装置を構成したが、これに限
るものではなく、例えば、受光手段３の受光情報そのも
の、つまり、穀粒層に対する保持予定箇所Ｓを透過した
透過光の画像をテレビモニター９に表示させ、その画像
表示を作業者が見て判断するようにしてもよい。尚、上
記実施例では、穀粒として米粒を評価の対象にしたが、
米粒以外の穀粒であってもよい。

【００３２】上記実施例では、光シャッター部１Ａを液
晶式に構成したが、液晶以外の、例えば光学結晶を素子
にした各種の電気光学的な手段が使用できる。

【００３３】上記実施例では、複数個の光シャッター部
１Ａを並んでいる順番でそのうちの１つを順次光透過状
態に残りの光シャッター部１Ａを光遮断状態にするよう
に駆動したが、並んでいる順番通りにする必要はなく、
ランダムな位置で光遮断状態に駆動するようにしてもよ
い。

【００３４】上記実施例では、穀粒保持手段Ｈが、穀粒
支持用の光透過性の支持面１ｂを備え、その支持面１ｂ
における照明手段２側に近接させて光シャッター部１Ａ
を設けたが、逆に、支持面１ｂにおける照明手段２とは
反対側に光シャッター部１Ａを設けてもよい。

【００３５】上記実施例では、照明手段２を広い範囲の
波長の光を発光する広波長光源２ａにて構成するととも
に、その広波長光源２ａの発光波長のうちの特定波長成
分の光のみをフィルター手段８によって通過させて特定
波長成分の照明光を生成したが、これ以外に、特定波長
成分の光を発光するＬＥＤ等の単波長光源を使用するこ
ともできる。また、上記フィルター手段８による場合
に、Ｒ，Ｇ，Ｂの３原色の色フィルタを切り換えるよう
にしたが、これに限らず、Ｒ，Ｇ，Ｂ以外の波長成分の
光を透過させる色フィルタや、穀粒の評価に最適な波長
成分の光を透過させるバンドパスフィルタ等を備えるも
のでもよい。又、フィルター手段８の設置位置は、上記
実施例のように、受光手段３の直前位置以外に、例え
ば、照明手段２の光投射側位置や、光シャッター部１Ａ
の前側位置（支持板１の下側）に設ける等、照明手段２
から受光手段３までの間で適宜設定できる。尚、特定波
長成分の光による穀粒の評価を行わない（白色光による
透過光量による評価だけを行う）場合には、フィルター
手段８は省略することができる。

【００３６】尚、特許請求の範囲の項に図面との対照を
便利にするために符号を記すが、該記入により本発明は
添付図面の構成に限定されるものではない。

【図面の簡単な説明】

【図１】穀粒の評価装置の概略斜視図

【図２】同概略側面図

【図３】色フィルターを示す平面図

【図４】穀粒保持手段の構成を示す断面側面図

【図５】光シャッター部の構成を示す平面図

【図６】光シャッター部の光透過領域を示す平面図

【図７】制御構成のブロック図

【図８】穀粒の位置判別及び品質評価の内容を示す説明
図

【図９】穀粒位置判別の説明図

【符号の説明】

１Ａ 光シャッター部 Ｈ 穀粒保持手段 ２ 照明手段 ２ａ 広波長光源 ３ 受光手段 １ｂ 支持面 １００ 位置判別手段 ２００ 品質評価手段 ８ フィルター手段

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 穀粒を透過する光の透過光量によって穀
   粒の品質を評価する穀粒の評価装置であって、 複数個の穀粒が一層状態で平面状に並んだ穀粒層を保持
   することができ、その穀粒層に対する保持予定箇所に対
   して穀粒の大きさと同じ大きさ又は穀粒の大きさよりも
   小さい光透過領域毎に光の通過を許容する光通過状態と
   光の通過を阻止する光遮断状態とに切り換え自在な複数
   個の光シャッター部（１Ａ）を備え、その複数個の光シ
   ャッター部（１Ａ）のうちの１つを光通過状態に且つそ
   れ以外の光シャッター部（１Ａ）を光遮断状態に切り換
   えることを前記複数個の光シャッター部（１Ａ）の夫々
   について実行する穀粒保持手段（Ｈ）と、 その穀粒保持手段（Ｈ）の前記穀粒層に対する保持予定
   箇所に対して照明光を投射する照明手段（２）と、 前記照明手段（２）による照明光の投射状態において、
   前記穀粒保持手段（Ｈ）からの光を受光する受光手段
   （３）とが設けられている穀粒の評価装置。
2. 【請求項２】 前記穀粒保持手段（Ｈ）が、前記保持予
   定箇所に穀粒支持用の光透過性の支持面（１ｂ）を備
   え、その支持面（１ｂ）における前記照明手段（２）側
   に近接させて前記光シャッター部（１Ａ）を設けている
   請求項１記載の穀粒の評価装置。
3. 【請求項３】 前記光シャッター部（１Ａ）の光透過領
   域の大きさが変更自在に構成されている請求項１又は２
   記載の穀粒の評価装置。
4. 【請求項４】 前記光シャッター部（１Ａ）が、液晶式
   の光シャッターにて構成されている請求項１、２又は３
   記載の穀粒の評価装置。
5. 【請求項５】 前記受光手段（３）の受光情報に基づい
   て、前記穀粒層における穀粒の品質を評価する品質評価
   手段（２００）が設けられている請求項１、２、３又は
   ４記載の穀粒の評価装置。
6. 【請求項６】 前記光通過状態の光シャッター部（１
   Ａ）の位置情報及び前記受光手段（３）の受光情報に基
   づいて、前記受光手段（３）の受光量が設定光量よりも
   小さいときに穀粒の存在を検出して、前記穀粒層におけ
   る各穀粒夫々についての前記保持予定箇所上の存在位置
   を判別する位置判別手段（１００）が設けられ、 前記品質評価手段（２００）は、前記位置判別手段（１
   ００）の判別情報及び前記受光手段（３）の受光情報に
   基づいて、前記穀粒層における存在位置が判別された各
   穀粒の品質を評価するように構成されている請求項５記
   載の穀粒の評価装置。
7. 【請求項７】 前記照明手段（２）が、広い範囲の波長
   の光を発光する広波長光源（２ａ）にて構成され、 前記広波長光源（２ａ）の発光波長のうちの特定波長成
   分の光のみを通過させるフィルター手段（８）が、前記
   照明手段（２）から前記受光手段（３）までの間に設け
   られ、 前記品質評価手段（２００）は、前記フィルター手段
   （８）を通過した特定波長成分についての前記受光手段
   （３）の受光情報に基づいて、前記穀粒層における各穀
   粒の品質を評価するように構成されている請求項５又は
   ６記載の穀粒の評価装置。