JPH05142154A - 穀粒の等級判別装置 - Google Patents
穀粒の等級判別装置Info
- Publication number
- JPH05142154A JPH05142154A JP32946491A JP32946491A JPH05142154A JP H05142154 A JPH05142154 A JP H05142154A JP 32946491 A JP32946491 A JP 32946491A JP 32946491 A JP32946491 A JP 32946491A JP H05142154 A JPH05142154 A JP H05142154A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grain
- value
- transmitted light
- light amount
- grade
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 穀粒に光を照射して透過光量を測定すること
で穀粒の品質を判別し、等級を表示する。 【構成】 １つの穀粒に対して穀粒を横切って所定間隔
毎に透過光量を測定する。透過光量測定時間（ｔ）、透
過光量急激増加回数（ＴＮ）、最大透過光量値（Ｍ
Ｐ）、透過光量急激増加発生位置割合（ＰＲ）、透過光
量平均値（ＭＫＭ）を各別に演算評価して、各評価値を
集計した総合評価値（ＴＶ）に基づいて等級を判別す
る。
で穀粒の品質を判別し、等級を表示する。 【構成】 １つの穀粒に対して穀粒を横切って所定間隔
毎に透過光量を測定する。透過光量測定時間（ｔ）、透
過光量急激増加回数（ＴＮ）、最大透過光量値（Ｍ
Ｐ）、透過光量急激増加発生位置割合（ＰＲ）、透過光
量平均値（ＭＫＭ）を各別に演算評価して、各評価値を
集計した総合評価値（ＴＶ）に基づいて等級を判別す
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、穀粒の等級を判別する
等級判別装置に関する。
等級判別装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】玄米の品質判別装置が特開平２−１４７
８４４号公報や特開平１−１６１１３６号公報に記載さ
れている。この装置に用いられる技術は、試料玄米の各
１粒毎に光を照射し、透過光量と反射光量を測定して、
両光量を演算処理して玄米の品質、つまり、整粒、腹白
粒、乳白粒、青未熟粒、着色粒、青死粒、白死粒を判別
するものである。
８４４号公報や特開平１−１６１１３６号公報に記載さ
れている。この装置に用いられる技術は、試料玄米の各
１粒毎に光を照射し、透過光量と反射光量を測定して、
両光量を演算処理して玄米の品質、つまり、整粒、腹白
粒、乳白粒、青未熟粒、着色粒、青死粒、白死粒を判別
するものである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の玄米品質判別装
置は、反射光量と透過光量の両方を測定しているため、
各玄米の品質が比較的正確に判別できるが、装置の構造
が複雑で高価となる。しかしながら、穀粒の等級は、穀
粒の品質によって決めたものではない。例えば、米粒等
の穀粒は、農産物検査法に基づく農産物規格規定によっ
て等級が決定されるが、これによると、水稲うるち玄米
の場合には、一等標準品は整粒（被害粒、死米、未熟
米、異種粒及び異物を除いた粒をいう）７０％以上、二
等標準品は整粒６０％以上、三等標準品は整粒４５％以
上である。このため、この発明では、透過光量のみを測
定し、その透過光量が整粒の照射部分位置によって変わ
ることを利用して、概略の品質を判別し、等級を決定で
きるようにすることを課題とした。
置は、反射光量と透過光量の両方を測定しているため、
各玄米の品質が比較的正確に判別できるが、装置の構造
が複雑で高価となる。しかしながら、穀粒の等級は、穀
粒の品質によって決めたものではない。例えば、米粒等
の穀粒は、農産物検査法に基づく農産物規格規定によっ
て等級が決定されるが、これによると、水稲うるち玄米
の場合には、一等標準品は整粒（被害粒、死米、未熟
米、異種粒及び異物を除いた粒をいう）７０％以上、二
等標準品は整粒６０％以上、三等標準品は整粒４５％以
上である。このため、この発明では、透過光量のみを測
定し、その透過光量が整粒の照射部分位置によって変わ
ることを利用して、概略の品質を判別し、等級を決定で
きるようにすることを課題とした。
【０００４】
【課題を解決するための手段】穀粒の移動径路を挟んで
発光体１と受光量検出センサ２を設け、所定時間毎に検
出する穀粒の透過光量データを演算装置３に入力し、各
穀粒の透過光量測定時間（ｔ）、穀粒の透過光量測定中
の光量急激増加回数（ＴＮ）、急激増加時の最大透過光
量値（ＭＰ）、最大透過光量値の発生位置割合（Ｐ
Ｒ）、透過光量平均値（ＭＫＭ）を各別に演算評価し、
各評価値を集計した総合評価値（ＴＶ）に基づいて等級
を判別するようにした。
発光体１と受光量検出センサ２を設け、所定時間毎に検
出する穀粒の透過光量データを演算装置３に入力し、各
穀粒の透過光量測定時間（ｔ）、穀粒の透過光量測定中
の光量急激増加回数（ＴＮ）、急激増加時の最大透過光
量値（ＭＰ）、最大透過光量値の発生位置割合（Ｐ
Ｒ）、透過光量平均値（ＭＫＭ）を各別に演算評価し、
各評価値を集計した総合評価値（ＴＶ）に基づいて等級
を判別するようにした。
【０００５】
【発明の作用及び効果】穀粒は所定速度で移動しながら
発光体１と透過光量検出センサ２との間を通過し、所定
時間毎に検出した透過光量が演算装置３に入力される。
演算装置３では、この測定データが整粒か屑粒かの判定
手段として、穀粒の透過光量を測定していた測定時間
（ｔ）、穀粒の透過光量測定中に急に測定値が増加した
回数（ＴＮ）、最大に増加したときの測定値（ＭＰ）、
全測定値を平均した平均値（ＭＫＭ）、増加最大測定値
（ＭＰ）測定した位置の全体に占める割合（ＰＲ）を演
算評価し、各評価値を集計して総合評価値（ＴＶ）を出
す。その後、事前に演算装置３に入力していた基準値と
この総合評価値（ＴＶ）を比較して等級を判別する。こ
のように、等級の判別が透過光量検出センサ２の測定デ
ータのみを使用して行えるので、構成が簡単で安価とな
る。
発光体１と透過光量検出センサ２との間を通過し、所定
時間毎に検出した透過光量が演算装置３に入力される。
演算装置３では、この測定データが整粒か屑粒かの判定
手段として、穀粒の透過光量を測定していた測定時間
（ｔ）、穀粒の透過光量測定中に急に測定値が増加した
回数（ＴＮ）、最大に増加したときの測定値（ＭＰ）、
全測定値を平均した平均値（ＭＫＭ）、増加最大測定値
（ＭＰ）測定した位置の全体に占める割合（ＰＲ）を演
算評価し、各評価値を集計して総合評価値（ＴＶ）を出
す。その後、事前に演算装置３に入力していた基準値と
この総合評価値（ＴＶ）を比較して等級を判別する。こ
のように、等級の判別が透過光量検出センサ２の測定デ
ータのみを使用して行えるので、構成が簡単で安価とな
る。
【０００６】
【実施例】次に、本発明の一実施例を説明する。等級判
別装置のケース２０の中央には、モータ４で回転する送
り円盤５を水平状態で回転するように設けている。送り
円盤５は透明の板で、外周縁には穀粒の長手方向を放射
方向へ向けるようＶ字状の凹溝６を所定間隔で多数設け
ている。この送り円盤５の周縁を上下から挟み込むよう
に３個の穀粒測定器７，８，９を設けている。
別装置のケース２０の中央には、モータ４で回転する送
り円盤５を水平状態で回転するように設けている。送り
円盤５は透明の板で、外周縁には穀粒の長手方向を放射
方向へ向けるようＶ字状の凹溝６を所定間隔で多数設け
ている。この送り円盤５の周縁を上下から挟み込むよう
に３個の穀粒測定器７，８，９を設けている。
【０００７】各穀粒測定器７，８，９は、下側に発光体
１を設け、光が円盤５を通過して上方へ透過するように
し、上側に設けた受光量検出センサ２で透過した光量を
検出するようにしている。各穀粒測定器７，８，９は、
発光体１と受光量検出センサ２の位置を、凹溝６の中
央、外側、内側にして、穀粒の位置が凹溝６の中央から
乱れた場合にもどれかの穀粒測定器７，８，９が穀粒の
中央部を測定するようにしている。又、送り円盤５の凹
溝６位置には、上側の供給シュート１０の供給口１１が
開口し、穀粒を凹溝６内へ一粒ずつ供給するようにして
いる。さらに、下方の排出シュート１２の排出口１３を
送り円盤５の外周下方に開口し、凹溝６上に摺接するよ
う設けたブラシ１４の回転によって凹溝６内の穀粒を排
出口１３へ向けて掃き出すようにしている。
１を設け、光が円盤５を通過して上方へ透過するように
し、上側に設けた受光量検出センサ２で透過した光量を
検出するようにしている。各穀粒測定器７，８，９は、
発光体１と受光量検出センサ２の位置を、凹溝６の中
央、外側、内側にして、穀粒の位置が凹溝６の中央から
乱れた場合にもどれかの穀粒測定器７，８，９が穀粒の
中央部を測定するようにしている。又、送り円盤５の凹
溝６位置には、上側の供給シュート１０の供給口１１が
開口し、穀粒を凹溝６内へ一粒ずつ供給するようにして
いる。さらに、下方の排出シュート１２の排出口１３を
送り円盤５の外周下方に開口し、凹溝６上に摺接するよ
う設けたブラシ１４の回転によって凹溝６内の穀粒を排
出口１３へ向けて掃き出すようにしている。
【０００８】穀粒測定器７，８，９では、図４に示され
る如き透過光量データが演算装置５に順次入力される。
この測定データは１粒の穀粒について３個の測定データ
が検出されるが、一番測定時間の長いもの、つまり穀粒
の中央部を測定したと推測されるデータを採用する。こ
のデータでの透過光量（Ｖ）は、透過光量が少なくなる
と高い値が出るように処理していて、図示の例では、穀
粒の中央部が透過光量（Ｖ）が多く半透明となっている
ことを示し、整粒の場合に多く見られる傾向である。
る如き透過光量データが演算装置５に順次入力される。
この測定データは１粒の穀粒について３個の測定データ
が検出されるが、一番測定時間の長いもの、つまり穀粒
の中央部を測定したと推測されるデータを採用する。こ
のデータでの透過光量（Ｖ）は、透過光量が少なくなる
と高い値が出るように処理していて、図示の例では、穀
粒の中央部が透過光量（Ｖ）が多く半透明となっている
ことを示し、整粒の場合に多く見られる傾向である。
【０００９】乳白粒とか青未熟粒、着色粒とかの屑粒は
図４の如く中央の部分が凹む状態つまり透過光量が多く
なることがなく、全体が平たい丘状になる傾向がある。
透過光量のデータは、次の如く処理して評価する。図４
において、谷の部分の数つまり透過光量が急激に増加し
た回数が２以上ならば整粒の可能性が高く、（ＴＮ）＝
０とし、谷の数が１ならばＴＮ＝３とし、谷が無い場合
にはＴＮ＝７とする。谷の最も低い位置つまり最大透過
光量値（ＭＰ）は、 ＭＰ＝０．６×Ｖ（Ｖ：透過光量を電圧値で表した値） とする。
図４の如く中央の部分が凹む状態つまり透過光量が多く
なることがなく、全体が平たい丘状になる傾向がある。
透過光量のデータは、次の如く処理して評価する。図４
において、谷の部分の数つまり透過光量が急激に増加し
た回数が２以上ならば整粒の可能性が高く、（ＴＮ）＝
０とし、谷の数が１ならばＴＮ＝３とし、谷が無い場合
にはＴＮ＝７とする。谷の最も低い位置つまり最大透過
光量値（ＭＰ）は、 ＭＰ＝０．６×Ｖ（Ｖ：透過光量を電圧値で表した値） とする。
【００１０】透過光量測定時間（ｔ）の評価値（ＭＴ）
は、 ＭＴ＝４×ｔ／Ｔ（Ｔ：最大値で入力設定） とする。透過光量平均値（ＭＫＭ）の評価値（ＭＫＭ
Ｔ）は、 ＭＫＭＴ＝１．２×ＭＫＭ とする。図４における一端から谷までの時間長さと他端
から谷までの時間長さの割合つまり透過光量増加位置
（ＰＲ）の評価値（ＰＲＴ）は、 ＰＲＴ＝０．４×ｂ／ａ ｏｒ ０．４×ａ／ｂ（大き
な値の方を採用） とする。（但し、ＰＲＴ＞４はＰＲＴ＝４とする。） 以上の評価値を集計して総合評価値（ＴＶ）を求める。 ＴＶ＝ＴＮ＋ＭＰ＋ＭＴ＋ＭＫＭＴ＋ＰＲＴ この総合評価（ＴＶ）と玄米の品質は表１のとおりとな
る。
は、 ＭＴ＝４×ｔ／Ｔ（Ｔ：最大値で入力設定） とする。透過光量平均値（ＭＫＭ）の評価値（ＭＫＭ
Ｔ）は、 ＭＫＭＴ＝１．２×ＭＫＭ とする。図４における一端から谷までの時間長さと他端
から谷までの時間長さの割合つまり透過光量増加位置
（ＰＲ）の評価値（ＰＲＴ）は、 ＰＲＴ＝０．４×ｂ／ａ ｏｒ ０．４×ａ／ｂ（大き
な値の方を採用） とする。（但し、ＰＲＴ＞４はＰＲＴ＝４とする。） 以上の評価値を集計して総合評価値（ＴＶ）を求める。 ＴＶ＝ＴＮ＋ＭＰ＋ＭＴ＋ＭＫＭＴ＋ＰＲＴ この総合評価（ＴＶ）と玄米の品質は表１のとおりとな
る。
【００１１】
【表１】
【００１２】従って、総合評価（ＴＶ）が８以上ものは
（白死、青死）であると推測でき屑粒として粒数を集計
し、総合評価値（ＴＶ）が８未満のものは整粒とみなし
て粒数を集計し、測定した穀粒が所定数になる毎に整粒
率を算出すると共に、等級基準入力手段１５から入力済
の等級基準の整粒率とこの整粒率を比較判断して、表示
部１６にそれぞれ表示することになる。又、演算装置３
には、透過光量測定時間（ｔ）を計時するためにタイマ
ー１７からのデータも入力している。
（白死、青死）であると推測でき屑粒として粒数を集計
し、総合評価値（ＴＶ）が８未満のものは整粒とみなし
て粒数を集計し、測定した穀粒が所定数になる毎に整粒
率を算出すると共に、等級基準入力手段１５から入力済
の等級基準の整粒率とこの整粒率を比較判断して、表示
部１６にそれぞれ表示することになる。又、演算装置３
には、透過光量測定時間（ｔ）を計時するためにタイマ
ー１７からのデータも入力している。
【図１】平断面図である。
【図２】正面図である。
【図３】部分拡大側断面図である。
【図４】透過光量の測定データグラフである。
【図５】制御のブロック図である。
１ 発光体 ２ 受光量検出センサ ３ 演算装置 ｔ 透過光量測定時間 ＴＮ 透過光量急激増加回数 ＭＰ 最大透過光量値 ＰＲ 最大透過光量値の発生位置割合 ＭＫＭ 透過光量平均値 ＴＶ 総合評価値
Claims (1)
- 【請求項１】 穀粒の移動径路を挟んで発光体（１）と
受光量検出センサ（２）を設け、所定時間毎に検出する
穀粒の透過光量データを演算装置（３）に入力し、各穀
粒の透過光量測定時間（ｔ）、穀粒の透過光量測定中の
光量急激増加回数（ＴＮ）、急激増加時の最大透過光量
値（ＭＰ）、最大透過光量値の発生位置割合（ＰＲ）、
透過光量平均値（ＭＫＭ）を各別に演算評価し、各評価
値を集計した総合評価値（ＴＶ）に基づいて等級を判別
する穀粒の等級判別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32946491A JPH05142154A (ja) | 1991-11-18 | 1991-11-18 | 穀粒の等級判別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32946491A JPH05142154A (ja) | 1991-11-18 | 1991-11-18 | 穀粒の等級判別装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05142154A true JPH05142154A (ja) | 1993-06-08 |
Family
ID=18221674
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32946491A Pending JPH05142154A (ja) | 1991-11-18 | 1991-11-18 | 穀粒の等級判別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05142154A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030036031A (ko) * | 2001-10-31 | 2003-05-09 | 가부시끼가이샤 사따께 | 무세미의 품질평가방법 및 그 장치 |
| JP2012208107A (ja) * | 2011-03-28 | 2012-10-25 | Youngtek Electronics Corp | 複数の電子素子の外観を検出するためのマルチチャンネル検出システム |
-
1991
- 1991-11-18 JP JP32946491A patent/JPH05142154A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030036031A (ko) * | 2001-10-31 | 2003-05-09 | 가부시끼가이샤 사따께 | 무세미의 품질평가방법 및 그 장치 |
| JP2012208107A (ja) * | 2011-03-28 | 2012-10-25 | Youngtek Electronics Corp | 複数の電子素子の外観を検出するためのマルチチャンネル検出システム |
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