JP3165933B2 - 米粒の品質判定装置 - Google Patents
米粒の品質判定装置Info
- Publication number
- JP3165933B2 JP3165933B2 JP35185192A JP35185192A JP3165933B2 JP 3165933 B2 JP3165933 B2 JP 3165933B2 JP 35185192 A JP35185192 A JP 35185192A JP 35185192 A JP35185192 A JP 35185192A JP 3165933 B2 JP3165933 B2 JP 3165933B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grain
- rice
- rice grain
- grains
- data
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Adjustment And Processing Of Grains (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は米粒の品質判定装置に
係り、特に米粒の品質をより精細に判定し得て判定精度
を向上し得て、目視検査による判定に近似する判定をな
し得る米粒の品質判定装置に関する。
係り、特に米粒の品質をより精細に判定し得て判定精度
を向上し得て、目視検査による判定に近似する判定をな
し得る米粒の品質判定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】米粒の品質を判定する品質判定装置に
は、米粒に光を照射して米粒の光の状態を検出し、この
検出値から米粒の品質を判定するものがある。このよう
な品質判定装置としては、この発明の出願人によって既
に出願され、公告されたものがある（特公平３−６０３
８２号）。
は、米粒に光を照射して米粒の光の状態を検出し、この
検出値から米粒の品質を判定するものがある。このよう
な品質判定装置としては、この発明の出願人によって既
に出願され、公告されたものがある（特公平３−６０３
８２号）。
【０００３】この公報に開示される品質判定装置は、米
粒に光を照射して透過光量および反射光量を検出し、こ
れら光量から米粒の透明度データおよび色データを演算
して米粒の品質を判定し、品質を判定された米粒全体の
品位を判定して分類するものである。
粒に光を照射して透過光量および反射光量を検出し、こ
れら光量から米粒の透明度データおよび色データを演算
して米粒の品質を判定し、品質を判定された米粒全体の
品位を判定して分類するものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、米粒の品位
（等級と規格外）決定基準には、１０の品位項目があ
る。この１０の品位項目は、容積重・整粒・形質・水分
・被害粒・死米・着色粒・異種穀粒（もみ及びもみを除
いたものの２種）・異物である。
（等級と規格外）決定基準には、１０の品位項目があ
る。この１０の品位項目は、容積重・整粒・形質・水分
・被害粒・死米・着色粒・異種穀粒（もみ及びもみを除
いたものの２種）・異物である。
【０００５】前記公報に開示される品質判定装置は、米
粒の透明度データおよび色データによって、米粒の品質
を図４に示す如く整粒・被害粒・死米・着色粒・未熟粒
の５つの品質項目に判定し、分類している。
粒の透明度データおよび色データによって、米粒の品質
を図４に示す如く整粒・被害粒・死米・着色粒・未熟粒
の５つの品質項目に判定し、分類している。
【０００６】この場合透明度データおよび色データのみ
によっては、米粒の品質を正しく判定することができな
い不都合があった。
によっては、米粒の品質を正しく判定することができな
い不都合があった。
【０００７】例えば、前記公報に開示される品質判定装
置は、米粒の透明度データおよび色データによって５つ
の品質項目に判定しているため、整粒とその他未熟粒、
青未熟粒と活青粒、砕粒とその他の米粒、を正しく判定
し得ない不都合があった。
置は、米粒の透明度データおよび色データによって５つ
の品質項目に判定しているため、整粒とその他未熟粒、
青未熟粒と活青粒、砕粒とその他の米粒、を正しく判定
し得ない不都合があった。
【０００８】前記整粒とその他未熟粒について、未熟粒
は、乳白粒（心白粒を含む）、青未熟粒、基部未熟粒、
腹白未熟粒（背白未熟粒を含む）、その他未熟粒に細分
される。しかし、その他未熟粒は、図４に示す如く透明
度と色について整粒と同じ領域に入るので、整粒と判定
される場合がある。
は、乳白粒（心白粒を含む）、青未熟粒、基部未熟粒、
腹白未熟粒（背白未熟粒を含む）、その他未熟粒に細分
される。しかし、その他未熟粒は、図４に示す如く透明
度と色について整粒と同じ領域に入るので、整粒と判定
される場合がある。
【０００９】前記青未熟粒と活青（いきあお）粒につい
て、活青粒は、規格では整粒に分類される。しかし、活
青粒は、透明度と色だけで判定すると、図４に示す如く
青未熟粒と同じ領域に入るので、未熟粒と判定される場
合がある。
て、活青粒は、規格では整粒に分類される。しかし、活
青粒は、透明度と色だけで判定すると、図４に示す如く
青未熟粒と同じ領域に入るので、未熟粒と判定される場
合がある。
【００１０】前記砕粒とその他の米粒について、砕粒
は、被害粒である。しかし、砕粒は、図４に示す如く透
明度と色について整粒と同じ領域に入る場合があり、整
粒と判定されることがある。また、砕粒は、移送用孔に
他の米粒と同時に保持される場合がある。この場合に
は、砕粒のデータが他の米粒のデータに隠れてしまい、
砕粒が他の米粒の品質と判定されてその他の米粒に分類
されてしまう不都合がある。
は、被害粒である。しかし、砕粒は、図４に示す如く透
明度と色について整粒と同じ領域に入る場合があり、整
粒と判定されることがある。また、砕粒は、移送用孔に
他の米粒と同時に保持される場合がある。この場合に
は、砕粒のデータが他の米粒のデータに隠れてしまい、
砕粒が他の米粒の品質と判定されてその他の米粒に分類
されてしまう不都合がある。
【００１１】このため、従来の品質判定装置による米粒
の判定は、目視検査による米粒の判定の結果と異なる場
合が惹起される不都合があった。
の判定は、目視検査による米粒の判定の結果と異なる場
合が惹起される不都合があった。
【００１２】また、前記公報に開示される品質判定装置
は、米粒の透明度データおよび色データによって品質を
判定して分類しているが、移送される米粒の姿勢が判定
に影響を及ぼして誤った判定がなされる不都合がある。
は、米粒の透明度データおよび色データによって品質を
判定して分類しているが、移送される米粒の姿勢が判定
に影響を及ぼして誤った判定がなされる不都合がある。
【００１３】例えば、移送手段の移送用孔に複数の米粒
が保持されている場合の透明度データおよび色データ
は、移送用孔に一粒の米粒が正しい姿勢で保持されて移
送されている場合の透明度データおよび色データと大き
く異なることになる。このため、この場合には、誤った
判定がなされる不都合があった。
が保持されている場合の透明度データおよび色データ
は、移送用孔に一粒の米粒が正しい姿勢で保持されて移
送されている場合の透明度データおよび色データと大き
く異なることになる。このため、この場合には、誤った
判定がなされる不都合があった。
【００１４】
【課題を解決するための手段】そこで、この発明は、上
述不都合を除去するために、移送手段により移送される
米粒に光を照射してこの米粒の透過光量および／または
反射光量を検出する光量検出手段を設け、前記移送手段
により移送される米粒の移送方向に対して垂直方向への
変位量を検出する変位量検出手段を設け、前記光量検出
手段の検出する光量から米粒の透明度データおよび／ま
たは色データを演算して得るとともに前記変位量検出手
段の検出する変位量から移送される米粒の姿勢のデータ
である厚さデータを演算して得て、前記透明度データお
よび／または色データと前記厚さデータにより品質を判
定すべく処理する演算処理手段を設けたことを特徴とす
る。
述不都合を除去するために、移送手段により移送される
米粒に光を照射してこの米粒の透過光量および／または
反射光量を検出する光量検出手段を設け、前記移送手段
により移送される米粒の移送方向に対して垂直方向への
変位量を検出する変位量検出手段を設け、前記光量検出
手段の検出する光量から米粒の透明度データおよび／ま
たは色データを演算して得るとともに前記変位量検出手
段の検出する変位量から移送される米粒の姿勢のデータ
である厚さデータを演算して得て、前記透明度データお
よび／または色データと前記厚さデータにより品質を判
定すべく処理する演算処理手段を設けたことを特徴とす
る。
【００１５】
【作用】この発明の構成によれば、この品質判定装置
は、演算処理手段によって、透明度データおよび／また
は色データと厚さデータにより品質を判定すべく処理し
ている。これにより、米粒の透明度データおよび／また
は色データによる品質の判定に併せて、移送される米粒
の姿勢のデータである厚さデータによる品質の判定を行
っているので、誤った判定がなされる不都合を解消する
ことができる。
は、演算処理手段によって、透明度データおよび／また
は色データと厚さデータにより品質を判定すべく処理し
ている。これにより、米粒の透明度データおよび／また
は色データによる品質の判定に併せて、移送される米粒
の姿勢のデータである厚さデータによる品質の判定を行
っているので、誤った判定がなされる不都合を解消する
ことができる。
【００１６】
【実施例】以下図面に基づいてこの発明の実施例を説明
する。
する。
【００１７】図１〜図１８は、この発明の実施例を示す
ものである。図２において、２は品質判定装置である。
品質判定装置２は、米粒Ｓの一粒毎に光を照射して米粒
Ｓの一粒毎の光の状態を検出し、この検出値から米粒Ｓ
の一粒毎の品質を判定するものである。
ものである。図２において、２は品質判定装置である。
品質判定装置２は、米粒Ｓの一粒毎に光を照射して米粒
Ｓの一粒毎の光の状態を検出し、この検出値から米粒Ｓ
の一粒毎の品質を判定するものである。
【００１８】この品質判定装置２は、移送手段４と光量
検出手段６と変位量検出手段８と演算処理手段１０とか
ら構成される。
検出手段６と変位量検出手段８と演算処理手段１０とか
ら構成される。
【００１９】米粒Ｓを一粒毎に検出部位に移送する移送
手段４は、モータ１２により回転される円板１４を設け
ている。この円板１４には、米粒Ｓを検出部位に移送す
る移送用孔１６を設けるとともに、この移送用孔１６の
位置に対応させてタイミング孔１８を設けている。
手段４は、モータ１２により回転される円板１４を設け
ている。この円板１４には、米粒Ｓを検出部位に移送す
る移送用孔１６を設けるとともに、この移送用孔１６の
位置に対応させてタイミング孔１８を設けている。
【００２０】前記光量検出手段６は、円板１４の移送用
孔１６に保持されて移送される米粒Ｓの一粒毎に光を照
射して、この米粒Ｓの透過光量および／または反射光量
を検出する。この実施例においては、米粒Ｓの透過光量
および反射光量を検出する。
孔１６に保持されて移送される米粒Ｓの一粒毎に光を照
射して、この米粒Ｓの透過光量および／または反射光量
を検出する。この実施例においては、米粒Ｓの透過光量
および反射光量を検出する。
【００２１】前記変位量検出手段８は、円板１４の移送
用孔１６に保持されて移送される米粒Ｓの移送方向（矢
印Ａ方向）に対して垂直方向（矢印Ｂ方向）への変位量
を検出する。
用孔１６に保持されて移送される米粒Ｓの移送方向（矢
印Ａ方向）に対して垂直方向（矢印Ｂ方向）への変位量
を検出する。
【００２２】前記演算処理手段１０は、前記光量検出手
段６の検出する光量から米粒Ｓの透明度データおよび色
データを演算して得るとともに、変位量検出手段８の検
出する変位量から米粒Ｓの厚さデータを演算して得て、
得られた透明度データおよび色データにより品質を判定
された米粒について、厚さデータにより品質をさらに詳
細に判定すべく処理する。
段６の検出する光量から米粒Ｓの透明度データおよび色
データを演算して得るとともに、変位量検出手段８の検
出する変位量から米粒Ｓの厚さデータを演算して得て、
得られた透明度データおよび色データにより品質を判定
された米粒について、厚さデータにより品質をさらに詳
細に判定すべく処理する。
【００２３】品質判定装置２は、図１に示す如く、回路
構成される。光量検出手段６は、第１ヘッド２０と第２
ヘッド２２とから構成される。
構成される。光量検出手段６は、第１ヘッド２０と第２
ヘッド２２とから構成される。
【００２４】第１ヘッド２０は、ランプ等の発光具２４
と赤外線カットフィルタ２６と集光レンズ２８とによ
り、米粒Ｓに光を照射する。照射された光の拡散透過光
量および拡散反射光量は、フォトダイオード等よりなる
透過光受光素子３０および反射光受光素子３２により電
気量に変換して検出され、次段に出力される。
と赤外線カットフィルタ２６と集光レンズ２８とによ
り、米粒Ｓに光を照射する。照射された光の拡散透過光
量および拡散反射光量は、フォトダイオード等よりなる
透過光受光素子３０および反射光受光素子３２により電
気量に変換して検出され、次段に出力される。
【００２５】また、拡散反射光の一部は、集光レンズ３
４で集光した後にハーフミラー３６で二分割する。一方
の光は、６６０ｎｍバンドパルスフィルタ３８と赤外線
カットフィルタ４０とにより赤色光を通過させ、赤色光
受素子４２によりその光量を電気量に変換して検出さ
れ、次段に出力される。他方の光は、５５０ｎｍバンド
パスフィルタ４４と赤外線カットフィルタ４６とにより
緑色光を通過させ、緑色光受光素子４８によりその光量
を電気的に変換して検出され、次段に出力される。これ
ら発光具２４〜緑色光受光素子４８により、第１ヘッド
１０は構成されている。
４で集光した後にハーフミラー３６で二分割する。一方
の光は、６６０ｎｍバンドパルスフィルタ３８と赤外線
カットフィルタ４０とにより赤色光を通過させ、赤色光
受素子４２によりその光量を電気量に変換して検出さ
れ、次段に出力される。他方の光は、５５０ｎｍバンド
パスフィルタ４４と赤外線カットフィルタ４６とにより
緑色光を通過させ、緑色光受光素子４８によりその光量
を電気的に変換して検出され、次段に出力される。これ
ら発光具２４〜緑色光受光素子４８により、第１ヘッド
１０は構成されている。
【００２６】前記第２ヘッド２２は、ＬＥＤなどの発光
素子５０と照射用光ファイバ５２とにより、米粒Ｓに光
を照射する。移送される米粒Ｓに照射された光の米粒長
軸方向の前部透過光および後部透過光は、それぞれ前部
透過光用光ファイバ５４および後部透過光用光ファイバ
５６により前部透過光受光素子５８および後部透過光受
光素子６０に導かれる。これにより、照射された光の米
粒長軸方向の前部透過光量および後部透過光量は、夫々
前部透過光受光素子５８および後部透過光受光素子６０
により電気量に変換して検出され、次段に出力される。
素子５０と照射用光ファイバ５２とにより、米粒Ｓに光
を照射する。移送される米粒Ｓに照射された光の米粒長
軸方向の前部透過光および後部透過光は、それぞれ前部
透過光用光ファイバ５４および後部透過光用光ファイバ
５６により前部透過光受光素子５８および後部透過光受
光素子６０に導かれる。これにより、照射された光の米
粒長軸方向の前部透過光量および後部透過光量は、夫々
前部透過光受光素子５８および後部透過光受光素子６０
により電気量に変換して検出され、次段に出力される。
【００２７】また、第２ヘッド２２には、円板１４のタ
イミング孔１８を検出するために、このタイミング孔１
８に向って光を照射する発光素子６２を設け、固定孔６
４とタイミング孔１８が一致した時に光を検出する受光
素子６６を設けている。この受光素子６６の検出した光
は、電気量に変換して波形成形した後に、タイミング孔
１８を検出した信号として次段に出力される。これら発
光素子５０〜受光素子６６により、第２ヘッド１２は構
成されている。
イミング孔１８を検出するために、このタイミング孔１
８に向って光を照射する発光素子６２を設け、固定孔６
４とタイミング孔１８が一致した時に光を検出する受光
素子６６を設けている。この受光素子６６の検出した光
は、電気量に変換して波形成形した後に、タイミング孔
１８を検出した信号として次段に出力される。これら発
光素子５０〜受光素子６６により、第２ヘッド１２は構
成されている。
【００２８】前記変位量検出手段８は、レーザーダイオ
ードからなる照射部６８を設け、この照射部６８により
光を照射される米粒Ｓからの反射光の変化を米粒Ｓの移
送方向（矢印Ａ方向）に対して垂直方向（矢印Ｂ方向）
への変位量として検出する半導体素子からなる受光部７
０を設けている。受光部７０の検出した変位量は、電気
量として次段に出力される。
ードからなる照射部６８を設け、この照射部６８により
光を照射される米粒Ｓからの反射光の変化を米粒Ｓの移
送方向（矢印Ａ方向）に対して垂直方向（矢印Ｂ方向）
への変位量として検出する半導体素子からなる受光部７
０を設けている。受光部７０の検出した変位量は、電気
量として次段に出力される。
【００２９】前記光量検出手段６及び変位量検出手段８
の出力する信号は、演算処理手段１０に入力される。演
算処理手段１０は、入力回路７２とマイクロコンピュー
タ等のＣＰＵからなる演算処理回路７４とから構成され
る。
の出力する信号は、演算処理手段１０に入力される。演
算処理手段１０は、入力回路７２とマイクロコンピュー
タ等のＣＰＵからなる演算処理回路７４とから構成され
る。
【００３０】前記光量検出手段６及び変位量検出手段８
の信号は、入力回路７２のマルチプレクサ７６に入力す
る。入力した信号は、Ａ／Ｄコンバータ７８によりＡ／
Ｄ変換され、演算処理回路７４に出力される。一方、第
２ヘッド２２の受光素子６６から入力するタイミング孔
１８を検出した信号は、割込みコントローラ８０を介し
てコントローラ８２に入力する。コントローラ８２は、
タイミング孔１８を検出した信号によりマルチプレクサ
７６及びＡ／Ｄコンバータ７８を制御するために演算処
理回路７４と接続される。
の信号は、入力回路７２のマルチプレクサ７６に入力す
る。入力した信号は、Ａ／Ｄコンバータ７８によりＡ／
Ｄ変換され、演算処理回路７４に出力される。一方、第
２ヘッド２２の受光素子６６から入力するタイミング孔
１８を検出した信号は、割込みコントローラ８０を介し
てコントローラ８２に入力する。コントローラ８２は、
タイミング孔１８を検出した信号によりマルチプレクサ
７６及びＡ／Ｄコンバータ７８を制御するために演算処
理回路７４と接続される。
【００３１】前記演算および処理を行う演算処理回路７
４は、入力回路７２から入力する前記各光量及び変位量
の信号をメモリ（図示せず）に記憶し、この信号から各
光量の比より透明度データおよび色データと変位量とを
演算し、判定すべく処理する。
４は、入力回路７２から入力する前記各光量及び変位量
の信号をメモリ（図示せず）に記憶し、この信号から各
光量の比より透明度データおよび色データと変位量とを
演算し、判定すべく処理する。
【００３２】即ち、演算処理回路７４は、メモリ内の拡
散透過光量および拡散反射光量から透過反射比により透
明度データを演算するとともに、拡散反射光中の６６０
ｎｍの赤色光量および５５０ｎｍの緑色光量から分光比
により色データを演算する。また、各米粒一粒毎の米粒
長軸方向の前部透過光量および後部透過光量から前後透
過比により透明度データを演算する。次いで、前記各米
粒一粒毎の品質を図４の如く分類するように演算で得ら
れた各光量の比による透明度データおよび色データを判
定処理する。
散透過光量および拡散反射光量から透過反射比により透
明度データを演算するとともに、拡散反射光中の６６０
ｎｍの赤色光量および５５０ｎｍの緑色光量から分光比
により色データを演算する。また、各米粒一粒毎の米粒
長軸方向の前部透過光量および後部透過光量から前後透
過比により透明度データを演算する。次いで、前記各米
粒一粒毎の品質を図４の如く分類するように演算で得ら
れた各光量の比による透明度データおよび色データを判
定処理する。
【００３３】また、演算処理回路７４は、前記各米粒一
粒毎の品質を図４の如く分類するように透過反射比と分
光比と前後透過比とによる透明度データ及び色データを
判定処理し、さらに、前記試料米粒の品位を規格（図示
せず）に照し、等級を分類するように品質を分類した各
米粒Ｓの試料米粒への混入率を判定処理する。
粒毎の品質を図４の如く分類するように透過反射比と分
光比と前後透過比とによる透明度データ及び色データを
判定処理し、さらに、前記試料米粒の品位を規格（図示
せず）に照し、等級を分類するように品質を分類した各
米粒Ｓの試料米粒への混入率を判定処理する。
【００３４】また、演算処理手段１０の演算処理回路７
４は、前記光量検出手段６の検出する光量から米粒Ｓの
透明度データおよび色データを演算して得るとともに前
記変位量検出手段８の検出する変位量から米粒Ｓの厚さ
データを演算して得て、前記透明度データおよび色デー
タにより品質を判定された米粒Ｓについて、図３に示す
如く、前記厚さデータにより品質をさらに詳細に判定す
べく処理する。
４は、前記光量検出手段６の検出する光量から米粒Ｓの
透明度データおよび色データを演算して得るとともに前
記変位量検出手段８の検出する変位量から米粒Ｓの厚さ
データを演算して得て、前記透明度データおよび色デー
タにより品質を判定された米粒Ｓについて、図３に示す
如く、前記厚さデータにより品質をさらに詳細に判定す
べく処理する。
【００３５】即ち、移送手段４の円板１４の移送用孔１
６に保持されて移送される米粒Ｓの姿勢は、図７〜図１
２に示す如く、各種の態様がある。図７は、一粒の米粒
Ｓが横方向の正しい姿勢で移送用孔１６に保持されてい
る態様である。図８は、一粒の米粒Ｓが正しい姿勢で保
持されている移送用孔１６に砕粒が入っている態様であ
る。図９は、移送用孔１６に砕粒が入っている態様であ
る。図１０は、一粒の米粒Ｓが立ち上がった不正な姿勢
で移送用孔１６に保持されている態様である。図１１
は、二粒の米粒Ｓが立ち上がった不正な姿勢で移送用孔
１６に保持されている態様である。図１２は、青未熟粒
あるいはその他未熟粒が移送用孔１６に保持されている
態様である。
６に保持されて移送される米粒Ｓの姿勢は、図７〜図１
２に示す如く、各種の態様がある。図７は、一粒の米粒
Ｓが横方向の正しい姿勢で移送用孔１６に保持されてい
る態様である。図８は、一粒の米粒Ｓが正しい姿勢で保
持されている移送用孔１６に砕粒が入っている態様であ
る。図９は、移送用孔１６に砕粒が入っている態様であ
る。図１０は、一粒の米粒Ｓが立ち上がった不正な姿勢
で移送用孔１６に保持されている態様である。図１１
は、二粒の米粒Ｓが立ち上がった不正な姿勢で移送用孔
１６に保持されている態様である。図１２は、青未熟粒
あるいはその他未熟粒が移送用孔１６に保持されている
態様である。
【００３６】このように、移送用孔１６に保持されて移
送される米粒Ｓの姿勢は、各種の態様がある。したがっ
て、同種の米粒Ｓであっても、移送される際の姿勢によ
っては、透明度データおよ色データが大きく異なること
になる。このため、米粒Ｓの姿勢は、判定に影響を及ぼ
して、誤った判定がなされる不都合がある。
送される米粒Ｓの姿勢は、各種の態様がある。したがっ
て、同種の米粒Ｓであっても、移送される際の姿勢によ
っては、透明度データおよ色データが大きく異なること
になる。このため、米粒Ｓの姿勢は、判定に影響を及ぼ
して、誤った判定がなされる不都合がある。
【００３７】そこで、演算処理回路７４は、前記光量検
出手段６の検出する光量から米粒Ｓの透明度データおよ
び色データを演算して得るとともに前記変位量検出手段
８の検出する変位量から移送される米粒Ｓの姿勢のデー
タである厚さデータを演算して得て、前記透明度データ
および色データにより品質を判定された米粒Ｓについ
て、前記厚さデータにより品質をさらに詳細に判定すべ
く処理するものである。
出手段６の検出する光量から米粒Ｓの透明度データおよ
び色データを演算して得るとともに前記変位量検出手段
８の検出する変位量から移送される米粒Ｓの姿勢のデー
タである厚さデータを演算して得て、前記透明度データ
および色データにより品質を判定された米粒Ｓについ
て、前記厚さデータにより品質をさらに詳細に判定すべ
く処理するものである。
【００３８】次にこの発明の作用について説明する。
【００３９】品質判定装置２の光量検出手段６は、回転
する円板１４のタイミング孔１８を第２ヘッド２２の発
光素子６２〜受光素子６６により検出し、タイミング孔
１８を検出した信号に対応する一粒毎の各米粒Ｓの拡散
透過光量、拡散反射光量、６６０ｎｍの赤色光量、５５
０ｎｍの緑色光量を第１ヘッド２０の発光具２４〜受光
素子３２により検出し、演算処理手段１０の入力回路７
２により演算処理回路７４に入力してメモリに記憶す
る。
する円板１４のタイミング孔１８を第２ヘッド２２の発
光素子６２〜受光素子６６により検出し、タイミング孔
１８を検出した信号に対応する一粒毎の各米粒Ｓの拡散
透過光量、拡散反射光量、６６０ｎｍの赤色光量、５５
０ｎｍの緑色光量を第１ヘッド２０の発光具２４〜受光
素子３２により検出し、演算処理手段１０の入力回路７
２により演算処理回路７４に入力してメモリに記憶す
る。
【００４０】また、光量検出手段６は、各米粒Ｓ一粒毎
の米粒長軸方向の前部透過光量および後部透過光量を第
２ヘッド２２の発光素子５０〜受光素子６０により検出
し、前記タイミング孔１８を検出した信号とともに入力
回路７２により演算処理回路７４に入力してメモリに記
憶する。
の米粒長軸方向の前部透過光量および後部透過光量を第
２ヘッド２２の発光素子５０〜受光素子６０により検出
し、前記タイミング孔１８を検出した信号とともに入力
回路７２により演算処理回路７４に入力してメモリに記
憶する。
【００４１】さらに、変位量検出手段８は、米粒Ｓから
の反射光の変化を照射部６８及び受光部７０により検出
し、入力回路７２により演算処理回路７４に入力してメ
モリに記憶する。
の反射光の変化を照射部６８及び受光部７０により検出
し、入力回路７２により演算処理回路７４に入力してメ
モリに記憶する。
【００４２】演算処理手段１０の演算処理回路７４は、
前記光量検出手段６及び変位量検出手段８の検出する光
量及び変位量から、図３・図４に示す如く、米粒Ｓの品
質を判定すべく処理する。
前記光量検出手段６及び変位量検出手段８の検出する光
量及び変位量から、図３・図４に示す如く、米粒Ｓの品
質を判定すべく処理する。
【００４３】演算処理手段１０は、図５・図６に示す如
く、処理を開始（１００）すると、変位量検出手段８か
ら入力する変位量をＡ／Ｄ変換して米粒Ｓの姿勢を示す
データである厚さデータに変換（１０２）し、得られた
厚さデータが米粒有無判定基準値を越えているか否かを
判断（１０４）する。
く、処理を開始（１００）すると、変位量検出手段８か
ら入力する変位量をＡ／Ｄ変換して米粒Ｓの姿勢を示す
データである厚さデータに変換（１０２）し、得られた
厚さデータが米粒有無判定基準値を越えているか否かを
判断（１０４）する。
【００４４】厚さデータは、図１３〜図１８に示す如
く、移送手段４の円板１４の移送用孔１６に保持されて
移送される米粒Ｓの姿勢の各種の態様を示すデータであ
る。厚さデータと比較される基準値としては、３つの基
準値がある。第１の基準値は、米粒Ｓの有無を判定する
ための米粒有無判定基準値で、通常の米粒Ｓの厚さより
もかなり小なる値である。第２の基準値は、米粒Ｓの姿
勢を判定するための米粒姿勢判定基準値であり、通常の
米粒Ｓの厚さよりも少し大なる値である。第３の基準値
は、整粒と未熟粒とを判定するための整粒未熟粒判定基
準値であり、通常の米粒Ｓの厚さよりもわずかに小なる
値である。
く、移送手段４の円板１４の移送用孔１６に保持されて
移送される米粒Ｓの姿勢の各種の態様を示すデータであ
る。厚さデータと比較される基準値としては、３つの基
準値がある。第１の基準値は、米粒Ｓの有無を判定する
ための米粒有無判定基準値で、通常の米粒Ｓの厚さより
もかなり小なる値である。第２の基準値は、米粒Ｓの姿
勢を判定するための米粒姿勢判定基準値であり、通常の
米粒Ｓの厚さよりも少し大なる値である。第３の基準値
は、整粒と未熟粒とを判定するための整粒未熟粒判定基
準値であり、通常の米粒Ｓの厚さよりもわずかに小なる
値である。
【００４５】厚さデータが米粒有無判定基準値を越えて
いるか否かの判断（１０４）において、以下の場合は、
厚さデータの変換（１０２）にリターンする。厚さデー
タが米粒有無判定基準値を越えているか否かの判断（１
０４）において、越えている場合は、時間カウントを開
始（１０６）する。この時間カウントは、試料用孔１６
が変位量の検出開始点を越えてから試料用孔１６が検出
開始点を通過するまでの間に、厚さデータが米粒有無判
定基準値を越えている時間をカウントする。
いるか否かの判断（１０４）において、以下の場合は、
厚さデータの変換（１０２）にリターンする。厚さデー
タが米粒有無判定基準値を越えているか否かの判断（１
０４）において、越えている場合は、時間カウントを開
始（１０６）する。この時間カウントは、試料用孔１６
が変位量の検出開始点を越えてから試料用孔１６が検出
開始点を通過するまでの間に、厚さデータが米粒有無判
定基準値を越えている時間をカウントする。
【００４６】時間カウントを開始（１０６）すると、変
位量検出手段８から入力する変位量をＡ／Ｄ変換して厚
さデータに変換（１０８）し、得られた厚さデータが米
粒姿勢判定基準値を越えているか否かを判断（１１０）
する。
位量検出手段８から入力する変位量をＡ／Ｄ変換して厚
さデータに変換（１０８）し、得られた厚さデータが米
粒姿勢判定基準値を越えているか否かを判断（１１０）
する。
【００４７】厚さデータが米粒姿勢判定基準値を越えて
いるか否かの判断（１１０）において、越えている場合
は、判定を無効（１４２）にして終了（１４６）する。
いるか否かの判断（１１０）において、越えている場合
は、判定を無効（１４２）にして終了（１４６）する。
【００４８】つまり、演算処理手段１０は、光量検出手
段６の検出する光量から演算して得られる透明度データ
および色データによる判定に先だって、変位量検出手段
８の検出する変位量から演算して得られた厚さデータが
米粒姿勢判定基準値を越えている場合は、米粒Ｓが図１
４・図１６・図１７に示す姿勢となっていることにより
誤った判定がなされるので、前記透明度データおよび色
データによる米粒の判定を無効にすべく処理する。ま
た、演算処理手段１０は、前記透明度データおよび色デ
ータによる米粒の判定を無効にされた場合は、無効判定
された米粒Ｓの分類作業を停止すべく処理する。
段６の検出する光量から演算して得られる透明度データ
および色データによる判定に先だって、変位量検出手段
８の検出する変位量から演算して得られた厚さデータが
米粒姿勢判定基準値を越えている場合は、米粒Ｓが図１
４・図１６・図１７に示す姿勢となっていることにより
誤った判定がなされるので、前記透明度データおよび色
データによる米粒の判定を無効にすべく処理する。ま
た、演算処理手段１０は、前記透明度データおよび色デ
ータによる米粒の判定を無効にされた場合は、無効判定
された米粒Ｓの分類作業を停止すべく処理する。
【００４９】前記厚さデータが米粒姿勢判定基準値を越
えているか否かの判断（１１０）において、以下の場合
は、試料用孔１６が検出開始点を通過したか否かを判断
（１１２）する。
えているか否かの判断（１１０）において、以下の場合
は、試料用孔１６が検出開始点を通過したか否かを判断
（１１２）する。
【００５０】試料用孔１６が検出開始点を通過したか否
かの判断（１１２）において、通過していない場合は、
厚さデータに変換（１０８）にリターンする。試料用孔
１６が検出開始点を通過したか否かの判断（１１２）に
おいて、通過した場合は、時間カウントを終了（１１
４）し、カウント時間が時間基準値を越えているか否か
を判断（１１６）する。
かの判断（１１２）において、通過していない場合は、
厚さデータに変換（１０８）にリターンする。試料用孔
１６が検出開始点を通過したか否かの判断（１１２）に
おいて、通過した場合は、時間カウントを終了（１１
４）し、カウント時間が時間基準値を越えているか否か
を判断（１１６）する。
【００５１】カウント時間が時間基準値を越えているか
否かの判断（１１６）において、以下の場合は、米粒Ｓ
を砕粒と判定（１４４）して終了（１４６）する。
否かの判断（１１６）において、以下の場合は、米粒Ｓ
を砕粒と判定（１４４）して終了（１４６）する。
【００５２】つまり、演算処理手段１０は、光量検出手
段６の検出する光量から演算して得られる透明度データ
および色データによる判定に先立って、変位量検出手段
８の検出する変位量から演算して得られた厚さデータの
米粒有無判定基準値を越えている時間が時間基準値より
も短い場合は、米粒Ｓが図１５に示す如く砕粒であるの
で、砕粒と判定するとともにこの砕粒の判定を前記透明
度データおよび色データによる米粒の判定に対して優先
すべく処理する。
段６の検出する光量から演算して得られる透明度データ
および色データによる判定に先立って、変位量検出手段
８の検出する変位量から演算して得られた厚さデータの
米粒有無判定基準値を越えている時間が時間基準値より
も短い場合は、米粒Ｓが図１５に示す如く砕粒であるの
で、砕粒と判定するとともにこの砕粒の判定を前記透明
度データおよび色データによる米粒の判定に対して優先
すべく処理する。
【００５３】前記カウント時間が時間基準値を越えてい
るか否かの判断（１１６）において、越えている場合
は、ピークホールドしている光量及び変位量をＡ／Ｄ変
換（１１８）し、透明度データ・色データを算出（１２
０）し、厚さデータを算出（１２２）し、透明度データ
・色データから米粒Ｓを判定（１２４）し、判定された
米粒Ｓが整粒であるか否かを判断（１２６）する。
るか否かの判断（１１６）において、越えている場合
は、ピークホールドしている光量及び変位量をＡ／Ｄ変
換（１１８）し、透明度データ・色データを算出（１２
０）し、厚さデータを算出（１２２）し、透明度データ
・色データから米粒Ｓを判定（１２４）し、判定された
米粒Ｓが整粒であるか否かを判断（１２６）する。
【００５４】米粒Ｓが整粒であるか否かの判断（１２
６）において、整粒の場合は、厚さデータが整粒未熟粒
判定基準値を越えているか否かを判断（１２８）する。
６）において、整粒の場合は、厚さデータが整粒未熟粒
判定基準値を越えているか否かを判断（１２８）する。
【００５５】厚さデータが整粒未熟粒判定基準値を越え
ているか否かの判断（１２８）において、越えている場
合は、整粒と判定（１３０）して終了（１４６）する。
厚さデータが整粒未熟粒判定基準値を越えているか否か
の判断（１２８）において、以下の場合は、その他未熟
粒と判定（１３２）して終了（１４６）する。
ているか否かの判断（１２８）において、越えている場
合は、整粒と判定（１３０）して終了（１４６）する。
厚さデータが整粒未熟粒判定基準値を越えているか否か
の判断（１２８）において、以下の場合は、その他未熟
粒と判定（１３２）して終了（１４６）する。
【００５６】つまり、演算処理手段１０は、光量検出手
段６の検出する光量から演算して得られた透明度データ
および色データにより品質を整粒と判定された米粒Ｓに
ついて、変位量検出手段８の検出する変位量から演算し
て得られた厚さデータが整粒未熟粒判定基準値を越えて
いる場合は、米粒Ｓが図１３に示す如く整粒であるの
で、整粒と判定すべく処理する。また、演算処理手段１
０は、整粒と判定された米粒Ｓについて、前記厚さデー
タが整粒未熟粒判定基準値以下の場合は、米粒Ｓが図１
８に示す如くその他未熟粒であるので、その他未熟粒と
判定すべく処理する。
段６の検出する光量から演算して得られた透明度データ
および色データにより品質を整粒と判定された米粒Ｓに
ついて、変位量検出手段８の検出する変位量から演算し
て得られた厚さデータが整粒未熟粒判定基準値を越えて
いる場合は、米粒Ｓが図１３に示す如く整粒であるの
で、整粒と判定すべく処理する。また、演算処理手段１
０は、整粒と判定された米粒Ｓについて、前記厚さデー
タが整粒未熟粒判定基準値以下の場合は、米粒Ｓが図１
８に示す如くその他未熟粒であるので、その他未熟粒と
判定すべく処理する。
【００５７】前記米粒Ｓが整粒であるか否かの判断（１
２６）において、整粒でない場合は、青未熟粒であるか
否かを判断（１３４）する。この判断（１３４）におい
て、青未熟粒である場合は、厚さデータが整粒未熟粒判
定基準値を越えているか否かを判断（１３６）する。
２６）において、整粒でない場合は、青未熟粒であるか
否かを判断（１３４）する。この判断（１３４）におい
て、青未熟粒である場合は、厚さデータが整粒未熟粒判
定基準値を越えているか否かを判断（１３６）する。
【００５８】厚さデータが整粒未熟粒判定基準値を越え
ているか否かの判断（１３６）において、越えている場
合は、活青粒と判定（１３８）して終了（１４６）す
る。厚さデータが整粒未熟粒判定基準値を越えているか
否かの判断（１３６）において、以下の場合は、青未熟
粒と判定（１４０）して終了（１４６）する。
ているか否かの判断（１３６）において、越えている場
合は、活青粒と判定（１３８）して終了（１４６）す
る。厚さデータが整粒未熟粒判定基準値を越えているか
否かの判断（１３６）において、以下の場合は、青未熟
粒と判定（１４０）して終了（１４６）する。
【００５９】つまり、演算処理手段１０は、光量検出手
段６の検出する光量から演算して得られた透明度データ
および色データにより品質を青未熟粒と判定された米粒
Ｓについて、変位量検出手段８の検出する変位量から演
算して得られた厚さデータが整粒未熟粒判定基準値を越
えている場合は、活青粒と判定すべく処理する。また、
演算処理手段１０は、青未熟粒と判定された米粒Ｓにつ
いて、前記厚さデータが整粒未熟粒判定基準値以下の場
合は、青未熟粒と判定すべく処理する。
段６の検出する光量から演算して得られた透明度データ
および色データにより品質を青未熟粒と判定された米粒
Ｓについて、変位量検出手段８の検出する変位量から演
算して得られた厚さデータが整粒未熟粒判定基準値を越
えている場合は、活青粒と判定すべく処理する。また、
演算処理手段１０は、青未熟粒と判定された米粒Ｓにつ
いて、前記厚さデータが整粒未熟粒判定基準値以下の場
合は、青未熟粒と判定すべく処理する。
【００６０】このように、品質判定装置２は、米粒Ｓの
透明度データおよび色データによる品質の判定に併せ
て、移送される米粒Ｓの姿勢のデータである厚さデータ
による品質の判定を行っているので、誤った判定がなさ
れる不都合を解消することができる。
透明度データおよび色データによる品質の判定に併せ
て、移送される米粒Ｓの姿勢のデータである厚さデータ
による品質の判定を行っているので、誤った判定がなさ
れる不都合を解消することができる。
【００６１】このため、米粒Ｓの品質をより精細に判定
し得て、判定精度を向上することができ、目視検査によ
る判定に近似する判定をなすことができる。
し得て、判定精度を向上することができ、目視検査によ
る判定に近似する判定をなすことができる。
【００６２】例えば、整粒とその他未熟粒、青未熟粒と
活青粒、砕粒とその他の米粒、を正しく判定することが
できる。また、米粒Ｓが移送用孔１６内に立った状態で
移送される場合や移送用孔１６に複数の米粒Ｓが保持さ
れて移送される場合であっても、米粒Ｓの姿勢のデータ
である厚さデータによる品質の判定を行うため、誤った
判定がなされることがない。
活青粒、砕粒とその他の米粒、を正しく判定することが
できる。また、米粒Ｓが移送用孔１６内に立った状態で
移送される場合や移送用孔１６に複数の米粒Ｓが保持さ
れて移送される場合であっても、米粒Ｓの姿勢のデータ
である厚さデータによる品質の判定を行うため、誤った
判定がなされることがない。
【００６３】また、米粒Ｓの品質判定基準には、１０の
品位項目中に形質（粒ぞろい、充実度、異物等９つの要
素を含む）がある。形質について、粒ぞろい、充実度、
粒径等は、米粒Ｓの厚さデータから断面形状を計測でき
るので、検出できる。この場合に、一粒毎の米粒Ｓの厚
さデータから厚さの分布状態を算出することにより、試
料米粒Ｓの粒厚さのそろい具合いや全体の充実具合い、
また、粒径の推測が可能になり、形質を数量化すること
ができる。このため、経験豊富な検査官の目視により総
合判断されていた米粒の判定を、この発明の装置によっ
て代替し得て、熟練者以外の初心者でも容易に且つ正確
な判定が可能である。
品位項目中に形質（粒ぞろい、充実度、異物等９つの要
素を含む）がある。形質について、粒ぞろい、充実度、
粒径等は、米粒Ｓの厚さデータから断面形状を計測でき
るので、検出できる。この場合に、一粒毎の米粒Ｓの厚
さデータから厚さの分布状態を算出することにより、試
料米粒Ｓの粒厚さのそろい具合いや全体の充実具合い、
また、粒径の推測が可能になり、形質を数量化すること
ができる。このため、経験豊富な検査官の目視により総
合判断されていた米粒の判定を、この発明の装置によっ
て代替し得て、熟練者以外の初心者でも容易に且つ正確
な判定が可能である。
【００６４】さらに、品位項目中の異種穀粒、異物につ
いては、米粒Ｓの厚さデータから計測される断面形状が
概ね類似していることにより、米粒Ｓの断面形状と大き
く異なるものである。このため、米粒Ｓとそれ以外の異
種穀粒、異物との判別が可能となり、誤った判定を排除
することができる。
いては、米粒Ｓの厚さデータから計測される断面形状が
概ね類似していることにより、米粒Ｓの断面形状と大き
く異なるものである。このため、米粒Ｓとそれ以外の異
種穀粒、異物との判別が可能となり、誤った判定を排除
することができる。
【００６５】さらにまた、一粒毎の米粒Ｓの厚さデータ
から、米粒Ｓの厚さの分布状態を算出することができ
る。これにより、試料米粒Ｓの性状を判別し得て、厚さ
による分類が可能になる。
から、米粒Ｓの厚さの分布状態を算出することができ
る。これにより、試料米粒Ｓの性状を判別し得て、厚さ
による分類が可能になる。
【００６６】なお、この実施例においては、光量検出手
段６の検出する光量から演算して得られた透明度データ
および色データにより品質を判定したが、透明度データ
または色データにより品質を判定することもできる。
段６の検出する光量から演算して得られた透明度データ
および色データにより品質を判定したが、透明度データ
または色データにより品質を判定することもできる。
【００６７】また、変位量検出手段８としては、レーザ
ーダイオードからなる照射部６８を設け、米粒Ｓからの
反射光の変化を変位量として検出する半導体素子からな
る受光部７０を設けたが、移送手段４の移送用孔１６に
保持された米粒Ｓに当接されるローラ部を米粒Ｓに当接
するように米粒Ｓの移送軌跡上に配設し、このローラ部
の移動量を米粒の移送方向に対して垂直方向への変位量
として検出するポテンショメータを設けることもでき
る。
ーダイオードからなる照射部６８を設け、米粒Ｓからの
反射光の変化を変位量として検出する半導体素子からな
る受光部７０を設けたが、移送手段４の移送用孔１６に
保持された米粒Ｓに当接されるローラ部を米粒Ｓに当接
するように米粒Ｓの移送軌跡上に配設し、このローラ部
の移動量を米粒の移送方向に対して垂直方向への変位量
として検出するポテンショメータを設けることもでき
る。
【００６８】
【発明の効果】このように、この発明によれば、品質判
定装置は、米粒の透明度データおよび／または色データ
による品質の判定に併せて、移送される米粒の姿勢のデ
ータである厚さデータによる品質の判定を行っているの
で、誤った判定がなされる不都合を解消することができ
る。
定装置は、米粒の透明度データおよび／または色データ
による品質の判定に併せて、移送される米粒の姿勢のデ
ータである厚さデータによる品質の判定を行っているの
で、誤った判定がなされる不都合を解消することができ
る。
【００６９】このため、米粒の品質をより精細に判定し
得て、判定精度を向上することができ、目視検査による
判定に近似する判定をなすことができる。また、経験豊
富な検査官の目視により総合判断されていた米粒の判定
を、この発明の装置によって代替し得て、熟練者以外の
初心者でも容易に且つ正確な判定が可能である。さら
に、米粒とそれ以外の異種穀粒、異物との判別が可能と
なり、誤った判定を排除することができる。さらにま
た、試料米粒の性状を判別し得て、厚さによる分類が可
能になる。
得て、判定精度を向上することができ、目視検査による
判定に近似する判定をなすことができる。また、経験豊
富な検査官の目視により総合判断されていた米粒の判定
を、この発明の装置によって代替し得て、熟練者以外の
初心者でも容易に且つ正確な判定が可能である。さら
に、米粒とそれ以外の異種穀粒、異物との判別が可能と
なり、誤った判定を排除することができる。さらにま
た、試料米粒の性状を判別し得て、厚さによる分類が可
能になる。
【図１】この発明の実施例を示す品質判定装置の回路構
成図である。
成図である。
【図２】品質判定装置の概略構成図である。
【図３】米粒の厚さデータと分布状態の関係を示す図で
ある。
ある。
【図４】米粒の透明度データ及び色データと分布状態と
の関係を示す図である。
の関係を示す図である。
【図５】判定のフローチャートである。
【図６】図５に続く判定のフローチャートである。
【図７】一粒の米粒が横方向の正しい姿勢で移送用孔に
保持されている態様の円板の断面図である。
保持されている態様の円板の断面図である。
【図８】一粒の米粒が正しい姿勢で保持されている移送
用孔に砕粒が入っている態様の円板の断面図である。
用孔に砕粒が入っている態様の円板の断面図である。
【図９】移送用孔に砕粒が入っている態様の円板の断面
図である。
図である。
【図１０】一粒の米粒が立ち上がった不正な姿勢で移送
用孔に保持されている態様の円板の断面図である。
用孔に保持されている態様の円板の断面図である。
【図１１】二粒の米粒が立ち上がった不正な姿勢で移送
用孔に保持されている態様の円板の断面図である。
用孔に保持されている態様の円板の断面図である。
【図１２】青未熟粒あるいはその他未熟粒が移送用孔に
保持されている態様の円板の断面図である。
保持されている態様の円板の断面図である。
【図１３】一粒の米粒が横方向の正しい姿勢で移送用孔
に保持されている態様の円板の厚さデータ検出時の断面
図である。
に保持されている態様の円板の厚さデータ検出時の断面
図である。
【図１４一粒の米粒が正しい姿勢で保持され
ている移送用孔に砕粒が入っている態様の円板の厚さデ
ータ検出時の断面図である。 【図１５】移送用孔に砕粒が入っている態様の円板の厚
さデータ検出時の断面図である。
ている移送用孔に砕粒が入っている態様の円板の厚さデ
ータ検出時の断面図である。 【図１５】移送用孔に砕粒が入っている態様の円板の厚
さデータ検出時の断面図である。
【図１６】一粒の米粒が立ち上がった不正な姿勢で移送
用孔に保持されている態様の円板の厚さデータ検出時の
断面図である。
用孔に保持されている態様の円板の厚さデータ検出時の
断面図である。
【図１７】二粒の米粒が立ち上がった不正な姿勢で移送
用孔に保持されている態様の円板の厚さデータ検出時の
断面図である。
用孔に保持されている態様の円板の厚さデータ検出時の
断面図である。
【図１８】青未熟粒あるいはその他未熟粒が移送用孔に
保持されている態様の円板の厚さデータ検出時の断面図
である。
保持されている態様の円板の厚さデータ検出時の断面図
である。
２ 品質判定装置 ４ 移送手段 ６ 光量検出手段 ８ 変位量検出手段 １０ 演算処理手段 １４ 円板 １６ 移送用孔 ２０ 第１ヘッド ２２ 第２ヘッド ６８ 照射部 ７０ 受光部 ７２ 入力回路 ７４ 演算処理回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/85 B02B 7/00 G06T 1/00
Claims (8)
- 【請求項１】 移送手段により移送される米粒に光を照
射してこの米粒の透過光量および／または反射光量を検
出する光量検出手段を設け、前記移送手段により移送さ
れる米粒の移送方向に対して垂直方向への変位量を検出
する変位量検出手段を設け、前記光量検出手段の検出す
る光量から米粒の透明度データおよび／または色データ
を演算して得るとともに前記変位量検出手段の検出する
変位量から移送される米粒の姿勢のデータである厚さデ
ータを演算して得て、前記透明度データおよび／または
色データと前記厚さデータにより品質を判定すべく処理
する演算処理手段を設けたことを特徴とする米粒の品質
判定装置。 - 【請求項２】 前記演算処理手段は、前記光量検出手段
の検出する光量から演算して得られた透明度データおよ
び／または色データにより品質を整粒と判定された米粒
について、前記変位量検出手段の検出する変位量から演
算して得られた厚さデータが整粒未熟粒判定基準値を越
えている場合は整粒と判定すべく処理するとともに前記
厚さデータが整粒未熟粒判定基準値以下の場合はその他
未熟粒と判定すべく処理する演算処理手段である請求項
１に記載の米粒の品質判定装置。 - 【請求項３】 前記演算処理手段は、前記光量検出手段
の検出する光量から演算して得られた透明度データおよ
び／または色データにより品質を青未熟粒と判定された
米粒について、前記変位量検出手段の検出する変位量か
ら演算して得られた厚さデータが整粒未熟粒判定基準値
を越えている場合は活青粒と判定すべく処理するととも
に前記厚さデータが整粒未熟粒判定基準値以下の場合は
青未熟粒と判定すべく処理する演算処理手段である請求
項１に記載の米粒の品質判定装置。 - 【請求項４】 前記演算処理手段は前記変位量検出手段
の検出する変位量から演算して得られた厚さデータの米
粒有無判定基準値を越えている時間が時間基準値よりも
短い場合は砕粒と判定するとともにこの砕粒の判定を透
明度データおよび／または色データによる米粒の判定に
対して優先すべく処理する演算処理手段である請求項１
に記載の米粒の品質判定装置。 - 【請求項５】 前記演算処理手段は前記変位量検出手段
の検出する変位量から演算して得られた厚さデータが米
粒姿勢判定基準値を越えている場合は透明度データおよ
び／または色データによる米粒の判定を無効にすべく処
理する演算処理手段である請求項１に記載の米粒の品質
判定装置。 - 【請求項６】 前記演算処理手段は、前記米粒が判定を
無効にされた場合は無効判定された米粒の分類作業を停
止すべく処理する演算処理手段である請求項５に記載の
米粒の品質判定装置。 - 【請求項７】 前記変位量検出手段は、レーザーダイオ
ードからなる光の照射部を設け、この照射部により光を
照射される米粒からの反射光の変化を前記米粒の移送方
向に対して垂直方向への変位量として検出する半導体素
子からなる受光部を設けた変位量検出手段である請求項
１〜請求項５に記載の米粒の品質判定装置。 - 【請求項８】 前記変位量検出手段は、前記移送手段に
より移送される米粒に当接されるローラ部をこの米粒の
移送軌跡上に配設し、このローラ部の移動を前記米粒の
移送方向に対して垂直方向への変位量として検出するポ
テンショメータを設けた変位量検出手段である請求項１
〜請求項５に記載の米粒の品質判定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35185192A JP3165933B2 (ja) | 1992-12-08 | 1992-12-08 | 米粒の品質判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35185192A JP3165933B2 (ja) | 1992-12-08 | 1992-12-08 | 米粒の品質判定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06174647A JPH06174647A (ja) | 1994-06-24 |
| JP3165933B2 true JP3165933B2 (ja) | 2001-05-14 |
Family
ID=18420042
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35185192A Expired - Fee Related JP3165933B2 (ja) | 1992-12-08 | 1992-12-08 | 米粒の品質判定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3165933B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4902121B2 (ja) * | 2005-01-21 | 2012-03-21 | ヤンマー株式会社 | 粒状物色彩選別機 |
| JP5716234B2 (ja) * | 2010-12-28 | 2015-05-13 | 独立行政法人農業・食品産業技術総合研究機構 | 収穫予定米の断面撮像画像を用いた収穫時品質予測システム及び収穫時品質予測方法 |
-
1992
- 1992-12-08 JP JP35185192A patent/JP3165933B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06174647A (ja) | 1994-06-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6567159B1 (en) | System for recognizing a gaming chip and method of use | |
| US4650326A (en) | Apparatus for inspecting bottles | |
| JPS5973087A (ja) | 果物および類似物を処理するための方法および装置 | |
| US20030201384A1 (en) | Inspecting method and apparatus for foreign matter | |
| JPS6058813B2 (ja) | 米粒の不良検出方法 | |
| JP3642106B2 (ja) | 米粒品位判別装置 | |
| JP2000180369A (ja) | 穀粒品位測定方法及びその装置 | |
| JP4260985B2 (ja) | 茶葉の品質測定方法、品質測定装置及び格付処理装置 | |
| JP3165933B2 (ja) | 米粒の品質判定装置 | |
| Wang et al. | Determining wheat vitreousness using image processing and a neural network | |
| JP2001521168A (ja) | 繊維品質監視装置 | |
| JP2004132773A (ja) | 青果物の光沢検査装置 | |
| JP2001116701A (ja) | 非破壊果実選別機 | |
| JP3495212B2 (ja) | 電縫管のシーム部検出装置 | |
| JPH0360382B2 (ja) | ||
| KR20020006856A (ko) | 비파괴 과일 선별장치 | |
| JP2003251282A (ja) | 苺用等階級計測判定装置 | |
| JP2729391B2 (ja) | 米粒品位判別方法 | |
| JP2642107B2 (ja) | 青果物の自動等級判定方法と装置 | |
| JP3230209B2 (ja) | 穀粒の整粒率判定装置 | |
| JPH0618284Y2 (ja) | 穀粒の品質判定装置 | |
| CN218481439U (zh) | 一种眼镜光学镜片缺陷检测装置 | |
| JPH10206341A (ja) | 非金属介在物測定における異物検出装置 | |
| JPH06229913A (ja) | 穀物等の成分含有量測定方法 | |
| JP2559606B2 (ja) | 玄米の品質判定装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090309 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090309 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100309 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |