JP3230209B2 - 穀粒の整粒率判定装置 - Google Patents
穀粒の整粒率判定装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、穀粒の品質を判別して
整粒の割合つまり整粒率を算出する穀粒の整粒率判定装
置に関し、例えば、選別機にこの整粒率判定装置を組み
付けて、整粒率つまり選別率を表示したり、整粒率判定
装置で演算した整粒率を選別率の制御データとして利用
したりする。
整粒の割合つまり整粒率を算出する穀粒の整粒率判定装
置に関し、例えば、選別機にこの整粒率判定装置を組み
付けて、整粒率つまり選別率を表示したり、整粒率判定
装置で演算した整粒率を選別率の制御データとして利用
したりする。
【０００２】
【従来の技術】玄米の品質判別装置としては、特開平６
２−１５０１４１号公報や特開平２−１４７８４４号公
報に記載された構造のものが知られている。これらの品
質判別装置では、各玄米一粒毎に光を照射し、拡散透過
光量及び拡散反射光量を可視光と赤外光など二波長の光
量で測定し、この測定値をデジタル処理し、演算装置で
記憶している品質データと比較して各玄米の品質を判別
するようにしている。
２−１５０１４１号公報や特開平２−１４７８４４号公
報に記載された構造のものが知られている。これらの品
質判別装置では、各玄米一粒毎に光を照射し、拡散透過
光量及び拡散反射光量を可視光と赤外光など二波長の光
量で測定し、この測定値をデジタル処理し、演算装置で
記憶している品質データと比較して各玄米の品質を判別
するようにしている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来の玄米品質判別装
置は、多数の測定データほ読み込んで演算処理するよう
にしているため、測定のためのセンサを多く要し、演算
や記憶のための素子や回路も多く必要としているため、
装置が複雑で高価なものとなっていた。そこで、本発明
では、測定データを少なくしながらも正確に整粒率を演
算する穀粒の整粒率判定装置を供給することを課題す
る。
置は、多数の測定データほ読み込んで演算処理するよう
にしているため、測定のためのセンサを多く要し、演算
や記憶のための素子や回路も多く必要としているため、
装置が複雑で高価なものとなっていた。そこで、本発明
では、測定データを少なくしながらも正確に整粒率を演
算する穀粒の整粒率判定装置を供給することを課題す
る。
【０００４】
【課題を解決するための手段】穀粒の移動径路を挟んで
発光体８と受光量検出センサ９を設け、この受光量検出
センサ９で測定する穀粒の透過光量データを演算装置２
０に読み込んで穀粒の品質を判別して整粒率Ｒを算出す
る穀粒の整粒率判定装置において、穀粒の透明度Ｐと穀
粒の透過光量パターンによって決まる透明度指数ＴＮと
平均透過光量ＰＭ及び穀粒幅ＤＴを加重平均して各穀粒
毎の総合評価点ＴＥＮを一定サンプル数算出するととも
に、予め実験により求める各総合評価点ＴＥＮ毎の整粒
率データを利用して、一定サンプル数の各総合評価点Ｔ
ＥＮから各整粒率を個々に算出し、この平均値を集計演
算してサンプル穀粒群全体の整粒率を判定する構成とし
た。又、穀粒の移動径路を挟んで発光体８と受光量検出
センサ９を設け、この受光量検出センサ９で測定する穀
粒の透過光量データを演算装置２０に読み込んで穀粒の
品質を判別して整粒率Ｒを算出する穀粒の整粒率判定装
置において、穀粒の平均透明度ＤＰＭと穀粒の幅ＤＴか
ら明らかに整粒と判断出来るものの穀粒幅ＤＴを集計し
て平均値ＤＴＭを算出し、以後この穀粒平均幅ＤＴＭを
整粒の評価基準とし、該穀粒平均幅ＤＴＭと同幅以上の
ものの穀粒数とサンプル穀粒数の割合によって整粒率を
判定する構成とした。
発光体８と受光量検出センサ９を設け、この受光量検出
センサ９で測定する穀粒の透過光量データを演算装置２
０に読み込んで穀粒の品質を判別して整粒率Ｒを算出す
る穀粒の整粒率判定装置において、穀粒の透明度Ｐと穀
粒の透過光量パターンによって決まる透明度指数ＴＮと
平均透過光量ＰＭ及び穀粒幅ＤＴを加重平均して各穀粒
毎の総合評価点ＴＥＮを一定サンプル数算出するととも
に、予め実験により求める各総合評価点ＴＥＮ毎の整粒
率データを利用して、一定サンプル数の各総合評価点Ｔ
ＥＮから各整粒率を個々に算出し、この平均値を集計演
算してサンプル穀粒群全体の整粒率を判定する構成とし
た。又、穀粒の移動径路を挟んで発光体８と受光量検出
センサ９を設け、この受光量検出センサ９で測定する穀
粒の透過光量データを演算装置２０に読み込んで穀粒の
品質を判別して整粒率Ｒを算出する穀粒の整粒率判定装
置において、穀粒の平均透明度ＤＰＭと穀粒の幅ＤＴか
ら明らかに整粒と判断出来るものの穀粒幅ＤＴを集計し
て平均値ＤＴＭを算出し、以後この穀粒平均幅ＤＴＭを
整粒の評価基準とし、該穀粒平均幅ＤＴＭと同幅以上の
ものの穀粒数とサンプル穀粒数の割合によって整粒率を
判定する構成とした。
【０００５】
【発明の作用及び効果】前項の構成によれば、穀粒の透
過光量データを処理して得られる各穀粒の総合評価点Ｔ
ＥＮによって、直ちに整粒とか未熟米とかに判断せずに
統計的に求めた各評価点ＴＥＮ毎の整粒率データを用い
て各穀粒毎の整粒率を集計して全体の整粒率Ｒとして演
算したので、より正確な整粒率Ｒを求めることができ、
選別機の選別率制御用データとして信頼できる。後項の
構成によれば、整粒の評価基準とする穀粒幅ＤＭＴを所
定の一定値とすることなく、実際に測定中の穀粒幅ＤＴ
のデータから平均透明度ＤＰＭと穀粒幅ＤＴを見て明ら
かに整粒と判断できるものの穀粒幅ＤＴを集計平均して
基準穀粒幅ＤＭＴとしているので、穀粒の種別等による
基準値の違いを修正してより正確な整粒率Ｒを演算で
き、得られた整粒率Ｒが選別機の選別率制御用データと
して信頼できる。
過光量データを処理して得られる各穀粒の総合評価点Ｔ
ＥＮによって、直ちに整粒とか未熟米とかに判断せずに
統計的に求めた各評価点ＴＥＮ毎の整粒率データを用い
て各穀粒毎の整粒率を集計して全体の整粒率Ｒとして演
算したので、より正確な整粒率Ｒを求めることができ、
選別機の選別率制御用データとして信頼できる。後項の
構成によれば、整粒の評価基準とする穀粒幅ＤＭＴを所
定の一定値とすることなく、実際に測定中の穀粒幅ＤＴ
のデータから平均透明度ＤＰＭと穀粒幅ＤＴを見て明ら
かに整粒と判断できるものの穀粒幅ＤＴを集計平均して
基準穀粒幅ＤＭＴとしているので、穀粒の種別等による
基準値の違いを修正してより正確な整粒率Ｒを演算で
き、得られた整粒率Ｒが選別機の選別率制御用データと
して信頼できる。
【０００６】
【実施例】本実施例に示す整粒率判定装置は、図６と図
７に示す如く、直方体状のケース１を四本の支脚２で支
持していて、上部にはサンプル穀粒を供給するホッパー
３を設け、下部から側方へ向けて測定済の穀粒を排出す
る取出シュート４を設けている。
７に示す如く、直方体状のケース１を四本の支脚２で支
持していて、上部にはサンプル穀粒を供給するホッパー
３を設け、下部から側方へ向けて測定済の穀粒を排出す
る取出シュート４を設けている。
【０００７】ケース１の内部中央には、モータ５で回転
する送り円盤６を水平状態で回転するように設けてい
る。送り円盤６は透明の板で、外周縁には穀粒の長手方
向を放射方向へ向けるようＶ字状の凹溝７を所定間隔で
全周にわたって設けている。又、この送り円盤６の周縁
には、凹溝７を上下から挾み込むように４個の穀粒測定
器Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４を設けている。
する送り円盤６を水平状態で回転するように設けてい
る。送り円盤６は透明の板で、外周縁には穀粒の長手方
向を放射方向へ向けるようＶ字状の凹溝７を所定間隔で
全周にわたって設けている。又、この送り円盤６の周縁
には、凹溝７を上下から挾み込むように４個の穀粒測定
器Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４を設けている。
【０００８】穀粒測定器Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４は図８
に示すように、下側に発光体８を設け、この発光体８か
ら出た光が送り円盤６の凹溝７を上方へ透過するように
し、上側に設けた受光量検出センサ９で透過した光量を
測定するようにしている。各穀粒測定器Ｓ１，Ｓ２，Ｓ
３，Ｓ４は、発光体８と受光量検出センサ９を円盤６の
回転方向に向かって順次凹溝７の中央、中央、外側、内
側にして穀粒の位置が凹溝７の中央から外側あるいは内
側にずれた場合にも、どれかの穀粒測定器が穀粒の中央
部を測定できるようにしている。
に示すように、下側に発光体８を設け、この発光体８か
ら出た光が送り円盤６の凹溝７を上方へ透過するように
し、上側に設けた受光量検出センサ９で透過した光量を
測定するようにしている。各穀粒測定器Ｓ１，Ｓ２，Ｓ
３，Ｓ４は、発光体８と受光量検出センサ９を円盤６の
回転方向に向かって順次凹溝７の中央、中央、外側、内
側にして穀粒の位置が凹溝７の中央から外側あるいは内
側にずれた場合にも、どれかの穀粒測定器が穀粒の中央
部を測定できるようにしている。
【０００９】又、送り円盤６の凹溝７上方位置には前記
サンプル粒の供給ホッパー３の供給口１０が開口し、穀
粒を凹溝７内へ一粒ずつ供給するようにしている。さら
に、取出シュート４の受口１１が送り円盤６の外周下方
に開口し、この近くで送り円盤６の凹溝７を掃くように
回転させるブラシ１２で凹溝７内の穀粒を取出シュート
４の受口１１内へ落下させて外部へ排出するようにして
いる。各穀粒測定器Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４で測定する
透過光量は、図９に示す如く電圧変化として測定され
る。Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３等同一符号を付した波形が同一穀
粒を測定したものである。この測定値は、穀粒が存在し
て光をさえぎると高い電圧値を示すようにしている。同
一穀粒を測定した透過光量の波形では、幅が最も広いも
のが穀粒の中央を測定したものと判断できる。
サンプル粒の供給ホッパー３の供給口１０が開口し、穀
粒を凹溝７内へ一粒ずつ供給するようにしている。さら
に、取出シュート４の受口１１が送り円盤６の外周下方
に開口し、この近くで送り円盤６の凹溝７を掃くように
回転させるブラシ１２で凹溝７内の穀粒を取出シュート
４の受口１１内へ落下させて外部へ排出するようにして
いる。各穀粒測定器Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４で測定する
透過光量は、図９に示す如く電圧変化として測定され
る。Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３等同一符号を付した波形が同一穀
粒を測定したものである。この測定値は、穀粒が存在し
て光をさえぎると高い電圧値を示すようにしている。同
一穀粒を測定した透過光量の波形では、幅が最も広いも
のが穀粒の中央を測定したものと判断できる。
【００１０】穀粒の透過光量の波形を拡大したものが図
１０である。整粒は穀粒の中央部が半透明となっている
ため、中央が凹んだ波形となる。穀粒の波形の代表的な
ものと透明度指数ＴＮとの関係は図１１に示す如く演算
によって決定する。透過光量の波形が台形あるいは山型
のものは、穀粒の中央部が白濁あるいは着色したもの
で、乳白米、青米、着色米等の場合にこのようになる。
このとき透明度指数ＴＮは０とする。透過光量Ｄの波形
が中央に１つの谷を形成した形状の場合には、穀粒の中
央部が透明となっているもので整粒の可能性が高く、透
明度指数ＴＮを１とする。透過光量Ｄの波形が谷を２つ
形成した形状の場合には、穀粒の中央部は全体的に透明
であるが一部に白濁した部分がある状態で、これも整粒
の可能性が高く、透明度指数ＴＮを２とする。
１０である。整粒は穀粒の中央部が半透明となっている
ため、中央が凹んだ波形となる。穀粒の波形の代表的な
ものと透明度指数ＴＮとの関係は図１１に示す如く演算
によって決定する。透過光量の波形が台形あるいは山型
のものは、穀粒の中央部が白濁あるいは着色したもの
で、乳白米、青米、着色米等の場合にこのようになる。
このとき透明度指数ＴＮは０とする。透過光量Ｄの波形
が中央に１つの谷を形成した形状の場合には、穀粒の中
央部が透明となっているもので整粒の可能性が高く、透
明度指数ＴＮを１とする。透過光量Ｄの波形が谷を２つ
形成した形状の場合には、穀粒の中央部は全体的に透明
であるが一部に白濁した部分がある状態で、これも整粒
の可能性が高く、透明度指数ＴＮを２とする。
【００１１】制御関係のブロック図と概略のフローチャ
ート図は、図１と図２に示す如くしている。まず図１の
ブロック図で、中央演算装置２０には、電源スイッチ２
１のＯＮ・ＯＦＦ信号が入り、穀粒品種設定スイッチ２
２から例えばうるち玄米、酒米、麦等の選択信号が入
り、穀粒測定器Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４から測定した透
過光量Ｄが入る。中央演算装置２０では、各種演算が行
われて、そのデータが大容量記憶装置ＳＲＡＭ２３に入
力され、別の記憶装置ＲＯＭ２４に記憶された判別デー
タや等級データから必要データが取り出され、整粒率表
示部２５に演算した結果が表示される。
ート図は、図１と図２に示す如くしている。まず図１の
ブロック図で、中央演算装置２０には、電源スイッチ２
１のＯＮ・ＯＦＦ信号が入り、穀粒品種設定スイッチ２
２から例えばうるち玄米、酒米、麦等の選択信号が入
り、穀粒測定器Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４から測定した透
過光量Ｄが入る。中央演算装置２０では、各種演算が行
われて、そのデータが大容量記憶装置ＳＲＡＭ２３に入
力され、別の記憶装置ＲＯＭ２４に記憶された判別デー
タや等級データから必要データが取り出され、整粒率表
示部２５に演算した結果が表示される。
【００１２】制御の概略は、図２のフローチャート図に
示す如く、各穀粒について穀粒横断各位置における透過
光量Ｄを読み込み、この穀粒横断測定に要する時間Ｔを
積算し、透過光量Ｄを積算して、各穀粒の測定が終了す
る毎に、透明度指数ＴＮと透明度Ｐを決定し、透過光量
平均値ＰＭを算出して、ＳＲＡＭ２３にその値を記憶す
る。この処理が穀粒５００個について終了すると、整粒
率Ｒを算出し、ＲＯＭ２４の等級基準と比較して整粒率
と等級が表示される。次に、図３，図４，図５のフロー
チャート図で制御の詳細を説明する。１つの穀粒に対し
て、透明度Ｐと透明度指数ＴＮと平均透過光量ＰＭ及び
穀粒幅ＤＴのデータを取り出すのであるが、その制御は
次の如く行う。制御を開始すると、まず、穀粒の透過光
量Ｄを測定中か否かを示すインプットモードＩＭを０と
する。（ステップ１０１）ＩＭ＝０ならば、穀粒を測定
していない状態で、ＩＭ＝１ならば測定中であることを
示す。
示す如く、各穀粒について穀粒横断各位置における透過
光量Ｄを読み込み、この穀粒横断測定に要する時間Ｔを
積算し、透過光量Ｄを積算して、各穀粒の測定が終了す
る毎に、透明度指数ＴＮと透明度Ｐを決定し、透過光量
平均値ＰＭを算出して、ＳＲＡＭ２３にその値を記憶す
る。この処理が穀粒５００個について終了すると、整粒
率Ｒを算出し、ＲＯＭ２４の等級基準と比較して整粒率
と等級が表示される。次に、図３，図４，図５のフロー
チャート図で制御の詳細を説明する。１つの穀粒に対し
て、透明度Ｐと透明度指数ＴＮと平均透過光量ＰＭ及び
穀粒幅ＤＴのデータを取り出すのであるが、その制御は
次の如く行う。制御を開始すると、まず、穀粒の透過光
量Ｄを測定中か否かを示すインプットモードＩＭを０と
する。（ステップ１０１）ＩＭ＝０ならば、穀粒を測定
していない状態で、ＩＭ＝１ならば測定中であることを
示す。
【００１３】次に、透過光量Ｄを読み込む。（ステップ
１０２）透過光量ＤとインプットモードＩＭの判断（ス
テップ１０３，１０４）で、凹溝７内の穀粒が穀粒測定
器Ｓ１に達するまでは穀粒の透過光量Ｄを計測していな
いので、Ｄ＝０ ＩＭ＝０で、透過光量Ｄの読み込みに
戻る。ＩＭ＝１、つまり穀粒の透過光量Ｄを計測中なら
ば、例えＤ＝０となっても次の処理に移行する。最初に
Ｄ≠０となれば、穀粒の透過光量Ｄの計測開始と判断し
てＩＭ＝１とした（ステップ１０８）後にこの時間をデ
ータ取り開始時間として記憶し（ステップ１０９）、変
数カウントを初期条件に設定する。（ステップ１１０）
変数カウントの初期化は、まず透過光量Ｄが増加中か減
少中かを表す山・谷数Ｍ・Ｖを０とする。この山・谷数
Ｍ・Ｖは偶数であれば透過光量Ｄが増加中であり、奇数
であれば減少中であることを表す。次に、最高値ＤＴと
最低値ＤＢとを０とし、透過光量Ｄの集積値ΣＤを０と
する。さらに、透明度Ｐは無限大としておく。インプッ
トモードＩＭが１の場合には、この変数カウントを初期
化するステップを飛ばすことになる。
１０２）透過光量ＤとインプットモードＩＭの判断（ス
テップ１０３，１０４）で、凹溝７内の穀粒が穀粒測定
器Ｓ１に達するまでは穀粒の透過光量Ｄを計測していな
いので、Ｄ＝０ ＩＭ＝０で、透過光量Ｄの読み込みに
戻る。ＩＭ＝１、つまり穀粒の透過光量Ｄを計測中なら
ば、例えＤ＝０となっても次の処理に移行する。最初に
Ｄ≠０となれば、穀粒の透過光量Ｄの計測開始と判断し
てＩＭ＝１とした（ステップ１０８）後にこの時間をデ
ータ取り開始時間として記憶し（ステップ１０９）、変
数カウントを初期条件に設定する。（ステップ１１０）
変数カウントの初期化は、まず透過光量Ｄが増加中か減
少中かを表す山・谷数Ｍ・Ｖを０とする。この山・谷数
Ｍ・Ｖは偶数であれば透過光量Ｄが増加中であり、奇数
であれば減少中であることを表す。次に、最高値ＤＴと
最低値ＤＢとを０とし、透過光量Ｄの集積値ΣＤを０と
する。さらに、透明度Ｐは無限大としておく。インプッ
トモードＩＭが１の場合には、この変数カウントを初期
化するステップを飛ばすことになる。
【００１４】次のステップ（１１１）では、透過光量集
積値ΣＤに現在読み込んでいる透過光量Ｄを加算してい
く。その後、現在時間をデータ最終時間として記憶す
る。（ステップ１１２）次のステップ（１１３）では山
・谷数Ｍ・Ｖが偶数か奇数かの判断を行う。最初はＭ・
Ｖ＝０としていたので偶数と判断される。この山・谷数
Ｍ・Ｖが偶数の場合には、透過光量Ｄが増加中の場合
で、前回最高値ＤＴとして貯えた値と読み込んだ透過光
量Ｄを比較して（ステップ１１４）、ＤＴ＜Ｄの判断が
ＹＥＳとなってやはり増加中であればＤＴに今回の読み
込み値Ｄを置き換えて（ステップ１１５）最初の透過光
量Ｄの読み込みステップに戻り、ＤＴ＜Ｄの判断がＮＯ
となって減少に転じていれば山・谷数Ｍ・Ｖに１を加え
て奇数とした（ステップ１１７）後、前回の読み込み値
ＤＴを最低値ＤＢに貯えて（ステップ１１８）最初の透
過光量Ｄの読み込み（ステップ１０２）に戻る。
積値ΣＤに現在読み込んでいる透過光量Ｄを加算してい
く。その後、現在時間をデータ最終時間として記憶す
る。（ステップ１１２）次のステップ（１１３）では山
・谷数Ｍ・Ｖが偶数か奇数かの判断を行う。最初はＭ・
Ｖ＝０としていたので偶数と判断される。この山・谷数
Ｍ・Ｖが偶数の場合には、透過光量Ｄが増加中の場合
で、前回最高値ＤＴとして貯えた値と読み込んだ透過光
量Ｄを比較して（ステップ１１４）、ＤＴ＜Ｄの判断が
ＹＥＳとなってやはり増加中であればＤＴに今回の読み
込み値Ｄを置き換えて（ステップ１１５）最初の透過光
量Ｄの読み込みステップに戻り、ＤＴ＜Ｄの判断がＮＯ
となって減少に転じていれば山・谷数Ｍ・Ｖに１を加え
て奇数とした（ステップ１１７）後、前回の読み込み値
ＤＴを最低値ＤＢに貯えて（ステップ１１８）最初の透
過光量Ｄの読み込み（ステップ１０２）に戻る。
【００１５】山・谷数Ｍ・Ｖが偶数かどうかの判断（ス
テップ１１３）で奇数と判断されれば、透過光量Ｄが減
少中の場合で、前回に最低値ＤＢへ貯えた値と読み込ん
だ透過光量Ｄを比較（ステップ１１９）して、ＤＢ＞Ｄ
の判断でＹＥＳとなってやはり減少中であれば最低値Ｄ
Ｂに今回の読み込み値Ｄを置き換えて（ステップ１２
０）最初の透過光量Ｄの読み込み（ステップ１０２）に
戻り、ＤＢ＜Ｄの判断がＮＯで増加に転じていれば山・
谷数Ｍ・Ｖに１を加えて偶数とし、最高値ＤＴを読み込
み値Ｄにする。（ステップ１２２）さらに前回の最低値
ＤＢに貯えた値が透明度Ｐの値よりも小さければ、その
最低値ＤＢの値を透明度Ｐに置き換えた（ステップ１２
３，１２４）後に、最初の透過光量Ｄの読み込み（ステ
ップ１０２）に戻ることになる。透過光量Ｄを読み込ん
だ後に現在時間からデータ取り開始時間を減算して計測
時間Ｔを算出し（ステップ１０５）その計測時間Ｔが所
定の範囲内であることを確認した（ステップ１０６）後
に、山・谷数Ｍ・Ｖが偶数かどうかの判断（ステップ１
１３）に進む。
テップ１１３）で奇数と判断されれば、透過光量Ｄが減
少中の場合で、前回に最低値ＤＢへ貯えた値と読み込ん
だ透過光量Ｄを比較（ステップ１１９）して、ＤＢ＞Ｄ
の判断でＹＥＳとなってやはり減少中であれば最低値Ｄ
Ｂに今回の読み込み値Ｄを置き換えて（ステップ１２
０）最初の透過光量Ｄの読み込み（ステップ１０２）に
戻り、ＤＢ＜Ｄの判断がＮＯで増加に転じていれば山・
谷数Ｍ・Ｖに１を加えて偶数とし、最高値ＤＴを読み込
み値Ｄにする。（ステップ１２２）さらに前回の最低値
ＤＢに貯えた値が透明度Ｐの値よりも小さければ、その
最低値ＤＢの値を透明度Ｐに置き換えた（ステップ１２
３，１２４）後に、最初の透過光量Ｄの読み込み（ステ
ップ１０２）に戻ることになる。透過光量Ｄを読み込ん
だ後に現在時間からデータ取り開始時間を減算して計測
時間Ｔを算出し（ステップ１０５）その計測時間Ｔが所
定の範囲内であることを確認した（ステップ１０６）後
に、山・谷数Ｍ・Ｖが偶数かどうかの判断（ステップ１
１３）に進む。
【００１６】以上のデータ処理ステップを継続して穀粒
の計測時間Ｔが最高値ＴＭＡＸを越えると１つの穀粒の
データ取込処理が終了したものと判断して最後のデータ
処理ステップへ進むことになる。（ステップ１０６）ま
ず、山・谷数Ｍ・Ｖを用いて透明度指数ＴＮを次式で算
出する。（ステップ１２５） ＴＮ＝Ｍ・Ｖ／２（少数点以下切り捨て） 次の判断（ステップ１２６）でＴＮ＝０の場合、つまり
谷が無い場合には、最高値ＤＴの値を透明度Ｐとし（ス
テップ１２７）、ＴＮ≠０の場合には、最低値ＤＢの値
を透明度Ｐとする。（ステップ１３０）
の計測時間Ｔが最高値ＴＭＡＸを越えると１つの穀粒の
データ取込処理が終了したものと判断して最後のデータ
処理ステップへ進むことになる。（ステップ１０６）ま
ず、山・谷数Ｍ・Ｖを用いて透明度指数ＴＮを次式で算
出する。（ステップ１２５） ＴＮ＝Ｍ・Ｖ／２（少数点以下切り捨て） 次の判断（ステップ１２６）でＴＮ＝０の場合、つまり
谷が無い場合には、最高値ＤＴの値を透明度Ｐとし（ス
テップ１２７）、ＴＮ≠０の場合には、最低値ＤＢの値
を透明度Ｐとする。（ステップ１３０）
【００１７】次に、データ最終時間からデータ取り開始
時間を差し引いて穀粒の計測時間Ｔを算出（ステップ１
２８）し、透過光量集積値ΣＤをこの穀粒の計測時間Ｔ
で割って平均透過光量ＰＭを算出する。（ステップ１２
９） ＰＭ＝ΣＤ／Ｔ 以上のデータ処理によって、各穀粒測定器Ｓ１，Ｓ２，
Ｓ３，Ｓ４から透明度Ｐ、透明度指数ＴＮ、平均透過光
量ＰＭ及び穀粒計測時間Ｔの４種類のデータが得られ
る。穀粒測定器Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４は４個あるが、
最初に穀粒を測定する穀粒測定器Ｓ１は穀粒の存在を確
認するために使用し、残りの穀粒測定器Ｓ２，Ｓ３，Ｓ
４から得られる１つの穀粒に対して合計１２種類のデー
タを穀粒５００粒について集めた（ステップ１３０）後
に、次の如く処理して整粒率Ｒを算出する。
時間を差し引いて穀粒の計測時間Ｔを算出（ステップ１
２８）し、透過光量集積値ΣＤをこの穀粒の計測時間Ｔ
で割って平均透過光量ＰＭを算出する。（ステップ１２
９） ＰＭ＝ΣＤ／Ｔ 以上のデータ処理によって、各穀粒測定器Ｓ１，Ｓ２，
Ｓ３，Ｓ４から透明度Ｐ、透明度指数ＴＮ、平均透過光
量ＰＭ及び穀粒計測時間Ｔの４種類のデータが得られ
る。穀粒測定器Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４は４個あるが、
最初に穀粒を測定する穀粒測定器Ｓ１は穀粒の存在を確
認するために使用し、残りの穀粒測定器Ｓ２，Ｓ３，Ｓ
４から得られる１つの穀粒に対して合計１２種類のデー
タを穀粒５００粒について集めた（ステップ１３０）後
に、次の如く処理して整粒率Ｒを算出する。
【００１８】まず、穀粒の透明部分の特徴から決まる透
明度指数ＴＮと透明度Ｐを用いて補正透明値ＤＴＮを決
定する。 ＤＴＮ＝１５ （ＴＮ≧２のとき） ＤＴＮ＝６０＋（Ｐ−１００）×0.6 （ＴＮ＝１のとき） ＤＴＮ＝１２０ （ＴＮ＝０のとき） 次に、平均透過光量ＰＭを用いて、補正平均透過光量Ｄ
ＰＭを算出する。 ＤＰＭ＝ＰＭ×0.63 さらに、波形の測定時間Ｔを穀粒の幅としてデジタル化
し、その値を穀粒幅ＤＴとする。（ステップ１３１） ＤＴ＝Ｔ 以上の補正により、１つの穀粒に対して３つの穀粒測定
器Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４から次の如く合計９種類のデータが
得られることになる。 Ｓ２−−−ＤＴＮＳ２，ＤＰＭＳ２，ＤＴＳ２ Ｓ３−−−ＤＴＮＳ３，ＤＰＭＳ３，ＤＴＳ３ Ｓ４−−−ＤＴＮＳ４，ＤＰＭＳ４，ＤＴＳ４
明度指数ＴＮと透明度Ｐを用いて補正透明値ＤＴＮを決
定する。 ＤＴＮ＝１５ （ＴＮ≧２のとき） ＤＴＮ＝６０＋（Ｐ−１００）×0.6 （ＴＮ＝１のとき） ＤＴＮ＝１２０ （ＴＮ＝０のとき） 次に、平均透過光量ＰＭを用いて、補正平均透過光量Ｄ
ＰＭを算出する。 ＤＰＭ＝ＰＭ×0.63 さらに、波形の測定時間Ｔを穀粒の幅としてデジタル化
し、その値を穀粒幅ＤＴとする。（ステップ１３１） ＤＴ＝Ｔ 以上の補正により、１つの穀粒に対して３つの穀粒測定
器Ｓ２，Ｓ３，Ｓ４から次の如く合計９種類のデータが
得られることになる。 Ｓ２−−−ＤＴＮＳ２，ＤＰＭＳ２，ＤＴＳ２ Ｓ３−−−ＤＴＮＳ３，ＤＰＭＳ３，ＤＴＳ３ Ｓ４−−−ＤＴＮＳ４，ＤＰＭＳ４，ＤＴＳ４
【００１９】次に、穀粒幅ＤＴが最も大きな値となるデ
ータが穀粒の中央部を測定している穀粒測定器Ｓ２で測
定された場合には、データを次の如くさらに絞り込む。
つまり、 ＤＴＳ２≧ＤＴＳ３，ＤＴＳ２≧ＤＴＳ４，ＤＴＳ２≧２５ ＤＴＳ３≧２５ AND ＤＴＳ３≧ＤＴＳ２×0.6 ＤＴＳ４≧２５ AND ＤＴＳ４≧ＤＴＳ２×0.6 の場合には、 ＤＴＮ＝（ＤＴＮＳ３−ＤＴＮＳ２）×（ＤＴＳ３／ＤＴＳ２）2 ／２＋ （ＤＴＮＳ４−ＤＴＮＳ２）×（ＤＴＳ４／ＤＴＳ２）2 ／２ ＋ＤＴＮＳ２ ＤＰＭ＝（ＤＰＭＳ３−ＤＰＭＳ２）×（ＤＴＳ３／ＤＴＳ２）2 ／２＋ （ＤＰＭＳ４−ＤＰＭＳ２）×（ＤＴＳ４／ＤＴＳ２）2 ／２ ＋ＤＰＭＳ２ ＤＴ＝ＤＴＳ２ とする。
ータが穀粒の中央部を測定している穀粒測定器Ｓ２で測
定された場合には、データを次の如くさらに絞り込む。
つまり、 ＤＴＳ２≧ＤＴＳ３，ＤＴＳ２≧ＤＴＳ４，ＤＴＳ２≧２５ ＤＴＳ３≧２５ AND ＤＴＳ３≧ＤＴＳ２×0.6 ＤＴＳ４≧２５ AND ＤＴＳ４≧ＤＴＳ２×0.6 の場合には、 ＤＴＮ＝（ＤＴＮＳ３−ＤＴＮＳ２）×（ＤＴＳ３／ＤＴＳ２）2 ／２＋ （ＤＴＮＳ４−ＤＴＮＳ２）×（ＤＴＳ４／ＤＴＳ２）2 ／２ ＋ＤＴＮＳ２ ＤＰＭ＝（ＤＰＭＳ３−ＤＰＭＳ２）×（ＤＴＳ３／ＤＴＳ２）2 ／２＋ （ＤＰＭＳ４−ＤＰＭＳ２）×（ＤＴＳ４／ＤＴＳ２）2 ／２ ＋ＤＰＭＳ２ ＤＴ＝ＤＴＳ２ とする。
【００２０】凹溝７の外側あるいは内側の一方で穀粒が
測定されなかった状態で例えば、内側を測定する穀粒測
定器Ｓ４の出力が零か僅かの場合、つまり、 ＤＴＳ２≧ＤＴＳ３，ＤＴＳ２≧ＤＴＳ４，ＤＴＳ２≧２５ ＤＴＳ３≧２５ AND ＤＴＳ３≧ＤＴＳ２×0.6 ＤＴＳ４＜２５ OR ＤＴＳ４＜ＤＴＳ２×0.6 の場合には、 ＤＴＮ＝（ＤＴＮＳ３−ＤＴＮＳ２）×（ＤＴＳ３／ＰＴＳ２）2 ／２ ＋ＤＴＮＳ２ ＤＰＭ＝（ＤＰＭＳ３−ＤＰＭＳ２）×（ＤＴＳ３／ＰＴＳ２）2 ／２ ＋ＤＰＭＳ２ ＤＴ＝ＤＴＳ２ とする。
測定されなかった状態で例えば、内側を測定する穀粒測
定器Ｓ４の出力が零か僅かの場合、つまり、 ＤＴＳ２≧ＤＴＳ３，ＤＴＳ２≧ＤＴＳ４，ＤＴＳ２≧２５ ＤＴＳ３≧２５ AND ＤＴＳ３≧ＤＴＳ２×0.6 ＤＴＳ４＜２５ OR ＤＴＳ４＜ＤＴＳ２×0.6 の場合には、 ＤＴＮ＝（ＤＴＮＳ３−ＤＴＮＳ２）×（ＤＴＳ３／ＰＴＳ２）2 ／２ ＋ＤＴＮＳ２ ＤＰＭ＝（ＤＰＭＳ３−ＤＰＭＳ２）×（ＤＴＳ３／ＰＴＳ２）2 ／２ ＋ＤＰＭＳ２ ＤＴ＝ＤＴＳ２ とする。
【００２１】凹溝７の内側と外側の両方で穀粒をほとん
ど検出できない場合、つまり、 ＤＴＳ２≧ＤＴＳ３，ＤＴＳ２≧ＤＴＳ４，ＤＴＳ２≧２５ ＤＴＳ３＜２５ OR ＳＴＳ３＜ＤＴＳ２×0.6 ＤＴＳ４＜２５ OR ＳＴＳ４＜ＤＴＳ２×0.6 の場合には、 ＤＴＮ＝ＤＴＮＳ２ ＤＰＭ＝ＤＴＭＳ２ ＤＴ＝ＤＴＳ２ とする。以上は、凹溝７の中央を測定している穀粒測定
器Ｓ２が穀粒幅ＤＴの最大を測定した場合であるが、内
側あるいは外側の穀粒測定器Ｓ３，Ｓ４が穀粒幅ＤＴの
最大値を測定した場合にも同様にデータを絞り込む。
ど検出できない場合、つまり、 ＤＴＳ２≧ＤＴＳ３，ＤＴＳ２≧ＤＴＳ４，ＤＴＳ２≧２５ ＤＴＳ３＜２５ OR ＳＴＳ３＜ＤＴＳ２×0.6 ＤＴＳ４＜２５ OR ＳＴＳ４＜ＤＴＳ２×0.6 の場合には、 ＤＴＮ＝ＤＴＮＳ２ ＤＰＭ＝ＤＴＭＳ２ ＤＴ＝ＤＴＳ２ とする。以上は、凹溝７の中央を測定している穀粒測定
器Ｓ２が穀粒幅ＤＴの最大を測定した場合であるが、内
側あるいは外側の穀粒測定器Ｓ３，Ｓ４が穀粒幅ＤＴの
最大値を測定した場合にも同様にデータを絞り込む。
【００２２】このようにして１つの穀粒に対して、補正
透明値ＤＴＮ、補正平均透過光量ＤＰＭ、穀粒幅ＤＴの
３種類のデータが得られることになる。次に、このよう
にして得られた穀粒５００粒の内で明らかに整粒である
ものの穀粒幅ＤＴの平均値ＤＴＭを求める。（ステップ
１３２）ここで整粒とは、 ＤＰＭ≦３０ AND ２５≦ＤＴ＜１００ の条件を満たすものを言う。 ＤＴＭ＝Σ穀粒幅ＤＴ／整粒数 この整粒の平均幅ＤＴＭを用いて、各穀粒の総合評価点
ＴＥＮを次式で求める。（ステップ１３３）
透明値ＤＴＮ、補正平均透過光量ＤＰＭ、穀粒幅ＤＴの
３種類のデータが得られることになる。次に、このよう
にして得られた穀粒５００粒の内で明らかに整粒である
ものの穀粒幅ＤＴの平均値ＤＴＭを求める。（ステップ
１３２）ここで整粒とは、 ＤＰＭ≦３０ AND ２５≦ＤＴ＜１００ の条件を満たすものを言う。 ＤＴＭ＝Σ穀粒幅ＤＴ／整粒数 この整粒の平均幅ＤＴＭを用いて、各穀粒の総合評価点
ＴＥＮを次式で求める。（ステップ１３３）
【００２３】ＴＥＮ＝｛ＤＴＮ＋ＤＰＭ＋（ＤＴＭ／Ｄ
Ｔ−0.6 ）×８０｝／３図１２は横軸に示す総合評価点に対して、上記サンプル
５００粒の各粒の総合評価点の粒数を縦軸に表示し、更
に、この各評価点毎の各穀粒を目視によって整粒と未熟
粒と死米とに判別して整粒を白地で未熟粒を粗い斜線で
死米を密な斜線で表示したものである。 この図１２のデ
ータから、図１３を求める。即ち、横軸に示す総合評価
点毎の整粒率と未熟粒率とを夫々縦軸に表示し折線グラ
フで表示してあり、実験値を処理した整粒率データとな
るものである。 この図１３において例えば総合評価点Ｔ
ＥＮ＜１７．５の評価のものは整粒率１００％を指示
し、ＴＥＮ＝２９ならば、整粒５０％、未熟粒５０％を
示す。 この図１３に示す評価点と整粒率・未熟粒率の関
係を整粒率データとしてＲＯＭ２４に記憶しておき、前
記までの処理によって得た各穀粒の総合評価点ＴＥＮを
から次の如く整粒率Ｒ・未熟粒率を算出する。（ステッ
プ１３４） 整粒率Ｒ＝Σ各穀粒の整粒率／穀粒数 未熟粒率＝Σ各穀粒の未熟粒率／穀粒数 以上の演算処理によって得られた整粒率ＲをＲＯＭ２４
に記憶した等級基準と比較して等級判断を行い、整粒率
表示部２５へ整粒率とともに等級を表示する。（ステッ
プ１３５）
Ｔ−0.6 ）×８０｝／３図１２は横軸に示す総合評価点に対して、上記サンプル
５００粒の各粒の総合評価点の粒数を縦軸に表示し、更
に、この各評価点毎の各穀粒を目視によって整粒と未熟
粒と死米とに判別して整粒を白地で未熟粒を粗い斜線で
死米を密な斜線で表示したものである。 この図１２のデ
ータから、図１３を求める。即ち、横軸に示す総合評価
点毎の整粒率と未熟粒率とを夫々縦軸に表示し折線グラ
フで表示してあり、実験値を処理した整粒率データとな
るものである。 この図１３において例えば総合評価点Ｔ
ＥＮ＜１７．５の評価のものは整粒率１００％を指示
し、ＴＥＮ＝２９ならば、整粒５０％、未熟粒５０％を
示す。 この図１３に示す評価点と整粒率・未熟粒率の関
係を整粒率データとしてＲＯＭ２４に記憶しておき、前
記までの処理によって得た各穀粒の総合評価点ＴＥＮを
から次の如く整粒率Ｒ・未熟粒率を算出する。（ステッ
プ１３４） 整粒率Ｒ＝Σ各穀粒の整粒率／穀粒数 未熟粒率＝Σ各穀粒の未熟粒率／穀粒数 以上の演算処理によって得られた整粒率ＲをＲＯＭ２４
に記憶した等級基準と比較して等級判断を行い、整粒率
表示部２５へ整粒率とともに等級を表示する。（ステッ
プ１３５）
【００２４】尚、図１３の評価点と整粒率、未熟粒率の
関係は、穀粒の品種によって異なったものとなるので、
それぞれのデータを記憶しておいて穀粒品種設定スイッ
チ２２の選択によって、ＲＯＭ２４からのデータ取り出
しを品種によって変えて整粒率を求める。
関係は、穀粒の品種によって異なったものとなるので、
それぞれのデータを記憶しておいて穀粒品種設定スイッ
チ２２の選択によって、ＲＯＭ２４からのデータ取り出
しを品種によって変えて整粒率を求める。
【図１】制御のブロック図である。
【図２】制御の概略フローチャート図である。
【図３】制御の詳細フローチャート図である。
【図４】制御の詳細フローチャート図である。
【図５】制御の詳細フローチャート図である。
【図６】装置の平断面図である。
【図７】装置の正面図である。
【図８】一部の拡大側断面図である。
【図９】穀粒測定器の出力信号を示す図である。
【図１０】穀粒測定器の出力信号の拡大図である。
【図１１】穀粒測定器の出力信号を分類した図である。
【図１２】穀粒の総合評価点と品質割合の関係を示す図
である。
である。
【図１３】穀粒の総合評価点と整粒率あるいは未熟粒率
との関係を示す図である。
との関係を示す図である。
８ 発光体 ９ 受光量検出センサ ２０ 演算装置 Ｒ 整粒率 Ｐ 透明度 ＴＮ 透明度指数 ＰＭ 平均透過光量 ＤＴ 穀粒幅 ＴＥＮ 総合評価 ＤＰＭ 平均透明度 ＤＴＭ 穀粒平均幅
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01N 21/84 - 21/958 B02B 7/00 - 7/02 G01N 21/17 - 21/61
Claims (2)
- 【請求項１】 穀粒の移動径路を挟んで発光体（８）と
受光量検出センサ（９）を設け、この受光量検出センサ
（９）で測定する穀粒の透過光量データを演算装置（２
０）に読み込んで穀粒の品質を判別して整粒率（Ｒ）を
算出する穀粒の整粒率判定装置において、穀粒の透明度
（Ｐ）と穀粒の透過光量パターンによって決まる透明度
指数（ＴＮ）と平均透過光量（ＰＭ）及び穀粒幅（Ｄ
Ｔ）を加重平均して各穀粒毎の総合評価点（ＴＥＮ）を
一定サンプル数算出するとともに、予め実験により求め
る各総合評価点（ＴＥＮ）毎の整粒率データを利用し
て、一定サンプル数の各総合評価点（ＴＥＮ）から各整
粒率を個々に算出し、この平均値を集計演算してサンプ
ル穀粒群全体の整粒率を判定することを特徴とする穀粒
の整粒率判定装置 - 【請求項２】 穀粒の移動径路を挟んで発光体（８）と
受光量検出センサ（９）を設け、この受光量検出センサ
（９）で測定する穀粒の透過光量データを演算装置（２
０）に読み込んで穀粒の品質を判別して整粒率（Ｒ）を
算出する穀粒の整粒率判定装置において、穀粒の平均透
明度（ＤＰＭ）と穀粒の幅（ＤＴ）から明らかに整粒と
判断出来るものの穀粒幅（ＤＴ）を集計して平均値（Ｄ
ＴＭ）を算出し、以後この穀粒平均幅（ＤＴＭ）を整粒
の評価基準とし、該穀粒平均幅（ＤＴＭ）と同幅以上の
ものの穀粒数とサンプル穀粒数の割合によって整粒率を
判定することを特徴とする穀粒の整粒率判定装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30960092A JP3230209B2 (ja) | 1992-10-23 | 1992-10-23 | 穀粒の整粒率判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30960092A JP3230209B2 (ja) | 1992-10-23 | 1992-10-23 | 穀粒の整粒率判定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06138043A JPH06138043A (ja) | 1994-05-20 |
| JP3230209B2 true JP3230209B2 (ja) | 2001-11-19 |
Family
ID=17994986
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30960092A Expired - Fee Related JP3230209B2 (ja) | 1992-10-23 | 1992-10-23 | 穀粒の整粒率判定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3230209B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6424416B1 (en) | 1999-10-25 | 2002-07-23 | Textron Systems Corporation | Integrated optics probe for spectral analysis |
| US6836325B2 (en) | 1999-07-16 | 2004-12-28 | Textron Systems Corporation | Optical probes and methods for spectral analysis |
| CA2402230C (en) | 2000-03-10 | 2009-02-03 | Textron Systems Corporation | Optical probes and methods for spectral analysis |
| US9014434B2 (en) * | 2012-11-26 | 2015-04-21 | Frito-Lay North America, Inc. | Method for scoring and controlling quality of food products in a dynamic production line |
-
1992
- 1992-10-23 JP JP30960092A patent/JP3230209B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06138043A (ja) | 1994-05-20 |
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Legal Events
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