TW586970B - Apparatus for forming resist layer on conductive board - Google Patents

Apparatus for forming resist layer on conductive board Download PDF

Info

Publication number
TW586970B
TW586970B TW92105551A TW92105551A TW586970B TW 586970 B TW586970 B TW 586970B TW 92105551 A TW92105551 A TW 92105551A TW 92105551 A TW92105551 A TW 92105551A TW 586970 B TW586970 B TW 586970B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
liquid
conductive substrate
viscosity
conductive
resistive
Prior art date
Application number
TW92105551A
Other languages
English (en)
Other versions
TW200305459A (en
Inventor
Ryota Bando
Original Assignee
Kansai Paint Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kansai Paint Co Ltd filed Critical Kansai Paint Co Ltd
Publication of TW200305459A publication Critical patent/TW200305459A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TW586970B publication Critical patent/TW586970B/zh

Links

Landscapes

  • Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)

Description

586970 玖、發明說明 (發明說明應敘明:發明所屬之技術領域、先前技術、內容、實施方式及圖式簡單說明) (一) 發明所屬之技術領域: ~ 本發明係關於在導電性基板上形成阻抗層之裝置。 ' (二) 先前技術: 從來,在製造印刷基板之狀況,係使用噴霧(spray)塗裝 法作液狀阻抗材之塗裝。 以液狀阻抗材在印刷基板上施作噴霧塗裝時,液狀阻抗 材附著於印刷基板上之塗著效率,即使係採用效率最佳之 馨 靜電噴霧法爲之,亦僅約8 0 %而已,剩下之液狀阻抗材則 成爲未塗著(過度噴霧over spray,20%),目前係將之回收 ,之後即予廢棄。 (三) 發明內容: 本案發明人乃針對用以在導電性基板上形成阻抗層之裝 置,如何可提高其塗著效率進行銳意硏究,因而完成了本 發明,雖遂行過度之噴霧,但可將殘餘之液狀阻抗材回收 並予再使用,使其塗著效率獲致實質的提高。 ® 如是,依本發明,於導電性基板上形成阻抗層之裝置中 ,其特徵爲該裝置係具備有:搬送裝置,係用以搬送導電 性基板;噴霧裝置,係用以在搬送裝置所搬送之導電性基 板上塗佈以液狀阻抗材;及回收裝置,係遂行過度噴霧時 ,可回收未塗著於基板上之液狀阻抗材並可予、使用者。 (四) 實施方式: 茲參照第1圖說明本發明在導電性基板上形成阻抗層之 586970 裝置一實施例。 依本發明之裝置,係具備有:搬送裝置9,用以使導電 -性基板g保持移動;在導電性基板上塗佈以液狀阻抗材之_ 噴槍1、2 ;及回收檯(boot h)3,用以回收遂行過度噴霧後 之液狀阻抗材;供給裝置4,係用以調整所回收液狀阻抗 材之黏度,依次的予以過濾、壓送,循環供給至噴霧裝置 ;及相關之控制裝置等。 搬送裝置9係以該控制裝置(圖中未示)作控制,並具有 φ 驅動馬達、及結合於搬送裝置9之吊具(hanger) 6。 吊具6具有可抓握導電性基板8之保持部7。回收檯3 之內部具有噴槍1、2,用以在導電性基板上塗佈以液狀阻 抗材;往復裝置1 〇、U,用以使噴槍在導電性基板之高度 方向中作上下運動等,因之,爲了導電性基板,以遂行噴 槍1、2之ON、OFF,亦具有圖中未示之感知裝置。 阻抗材供給裝置4具有;調整裝置,用以調整所回收液 狀阻抗材之黏度;過濾裝置,用以過濾液狀阻抗材,及供 φ 給裝置,用以壓送供給過濾後之液狀阻抗材。 控制該等設施之裝置,具體而言,其內部係內藏有黏度 計、流量計、及氣體濃度計等,而就回收液狀阻抗材之量 ,黏度,及預先登錄、回收液狀阻抗材中之各種稀釋劑 (t h i η n e r )的組成等加以監視(m ο n i t 〇 r ),因噴霧而氣化之稀 釋劑即予補給之,乃對黏度進行調整,故不致使稀釋劑之 組成產生變化。 又者,可依氣溫的變化而改變稀釋劑組成及黏度,以獲 586970 得最適宜的噴霧塗佈。 以下,說明阻抗層形成裝置之動作。 - 保持於吊具6上,藉搬送裝置搬送之導電性基板8到達_ 回收檯3之入口時,依圖中未示之感知器的感知,往復裝 置1 0及1 1即作動,於基板之高度方向;同時,噴槍1及 2乃上下運動,且液狀阻抗材亦同時的自噴槍1及2噴出。 導電性基板兩面中之一面,例如A面,係以噴槍1塗佈 液狀之阻抗材,另一面,例如B面,則以噴槍2塗佈液狀 0 之阻抗材。 而導電性基板在抵達回收檯3之出口時,藉圖中未示感 知器之感知,則噴霧、往復裝置1 〇、1 1均停止動作。 未附著於導電性基板上之液狀阻抗材係流落於回收檯3 之下方,藉設於回收檯下方之管5,送往液狀阻抗材供給 裝置4,於調整裝置遂行黏度調整,經過濾裝置後,藉壓 送裝置壓往噴槍1、2再使用之。 茲以第2圖詳細說明回收未塗著之液狀阻抗材並予再使 φ 用之裝置。 以第1圖之回收檯3所回收之液狀阻抗材,係在過濾器 3 2加以過瀘,回收於液狀阻抗材回收筒3 1中。此時,以 流量計2 1測定回收量。 回收之液狀阻抗材係以攪拌裝置攪拌,且以氣體分析 (g a s c h 1· 〇 m a t 〇 g r a p h y )裝置2 8經常監視稀釋劑組成,並藉 黏度計2 6經常監視黏度。 將該等數據資料送於演算裝置2 4計算稀釋劑之補給量 586970 ,接著,定量泵2 2即動作,由稀釋劑筒3 0內將所計算量 之稀釋劑投入液狀阻抗材回收筒3 1中,調整黏度。 液狀阻抗材回收筒3 1之液面,係藉液面計2 5經常監視. ,回收量減少時,由補給液狀阻抗材筒2 9補給新的阻抗材 。此時,藉流量計2 3測定補給量,數據資料則送於演算裝 置2 4,計算稀釋劑之投入量。 調整終了後,以流量計2 7測定流量之後,經過濾器3 4 之過濾,送於塗佈阻抗材筒(圖中未示),則可再使用。 於上述實施例中,無空氣式之噴槍(a i 1· 1 e s s s ρ 1· a y g u η )、 空氣噴槍(air spray)等均可作爲噴槍。 導電性基板8之搬送速度係取決於生產量,而考量液狀 阻抗材之逸流性,以〇. 1〜1 〇m/m in爲佳,最好則爲0.5〜 5 m / m i η 〇 噴槍1、2之上下速度則視導電性基板8之大小而定,最 好爲0 . 1〜2 0 m / m i η。又,液狀阻抗材之黏度以0 . 1〜1 P a · s 爲佳。 另者,以下乃就使用本發明之裝置形成阻抗膜之形成方 法說明之。 所稱塗裝以液狀阻抗材之導電性基板,係一種在表面形 成以導電性被膜之基板者。舉一具體例言之,係在例如電 氣絕緣性之玻璃-環氧樹脂板等之塑膠膜(P 1 a s t i c f i 1 m )的 基材表面,藉接著銅、鋁等金屬箔之方法;或在基材表面 ,使用真空蒸鍍方法以將銅等金屬或氧化銦(i n d i u m )-錫 (ITO)等代表性導電性氧化物之化合·物的導電性披覆膜形 586970 成於其上,而表面爲導電性之基材再設以通孔,於通孔內 部以例如銅鍍等方法形成導電性披覆膜;等之基板。又, 在形成有金屬等導電體圖型(pat tern)之基板上,設以絕緣 性樹脂層,於該樹脂層上,以雷射加工或照相法等遂行非 貫通穴之開設,接著,藉銅鍍等方法,在非貫通穴部內面 ,於其含絕緣性樹脂層表面形成導電性披覆膜,依此所作 成之基板上再以照相法等方式形成導電性電路圖型等。 使用本發明之裝置係塗佈前述之液狀阻抗材,該液狀阻 抗材係同時塗佈於兩面。該等噴槍可使用習知者。依此, 乃在基板上形成阻抗層。 製造印刷配線基板時,使用本發明之裝置形成阻抗層後 ,即藉曝光、顯影等方式形成阻抗圖型(re gist pattern), 如有必要,可使用蝕刻方法除去殘存之阻抗層。 又,在形成用以築構(built-up)基板用層間之絕緣層時, 絕緣材料係光硬化性,而如熱硬化性者亦佳,倘爲後者, 則可使用雷射加工機械形成非貫通穴而達成之。 基板上所塗裝之阻抗層,以活性光線予以曝光而具所須 之圖型狀態,接著施行顯影,乃在基板上形成阻抗圖型。 而在圖型狀態上以活性光線照射之方法,例如可爲:介由 負(negative)型或正型(positive)之光罩(photo mask)照射 活性光線之方法;或藉雷射掃瞄之直接描畫法等遂行之。 得使用作曝光之活性光線,舉例而言,可爲紫外線、可 視光線、雷射光(例如可視光雷射、紫外線雷射)等,其照 射量通常爲0.5〜2 0 0 0 0j/m2,而最好爲1〜1 0 0 0 0j/m2之範 586970 圍內較適當。又,上述活性光線之照射源,亦可使用與習 用者相同;爲了對光硬化性阻抗材作光照射之照射源,諸. 如超高壓水銀燈、高壓水銀燈、氬氣雷射、準分子雷射 _ ' (e X i m e 1· 1 a s e r )等照射源。
藉上述之曝光,如阻抗層爲負型之狀況時,曝光部即硬 化,未曝光量則以顯像而除去之。另一方面,阻抗層如爲 正型之狀況時,曝光部係分解,藉離子形成之顯像液可容 易的作溶解,藉顯像而除去曝光部。 I 顯像係以:將曝光後之阻抗材予以浸漬於例如酸性顯像 液、鹼性顯像液、水或有機溶劑等之顯像液中的方法;或 以該等顯像液噴灑於阻抗材之方法等;對阻抗材加以洗淨 而達成之。顯像條件並無特別限制,通常實用之方式爲在 1 5〜4 0 °C 、1 5秒〜5分之範圍內施行較佳。而依上述方式 形成以阻抗層之基板,之後,接著須對未形成阻抗之露出 部的導電性被膜以蝕刻方式形成電路圖型。此種蝕刻方式 可依基板上之導電性被膜的種類而選擇適當的蝕刻液爲之 φ 。例如,倘導電性被膜爲銅時,可使用氯化二次銅等之酸 性蝕刻液、氨系蝕刻液等爲之。藉該蝕刻之顯像過程,即 可除去露出部分之導電性被膜。本發明中,因通孔內部之 銅並未被溶解,是以不致造成斷線。 施作上述蝕刻過程後,隨之即須除去殘存的阻抗層。殘 存阻抗膜之除去法係溶解阻抗膜者,其係使用例如鹼性或 酸性之水溶液暨各種之有機溶劑的溶劑,以不實質的侵犯 基板及基板表面上屬電路圖型之導電性被膜的方式爲之。 -10- 586970 發 明 之 效 果 依 本 發 明 之 裝 置 5 係 將 習 用 技 阻 抗 材 予 以 回 收 再 使 用 , 則 可 使 除 可 減 少 液 狀 阻 抗 材 之 使 用 量 貢 獻 〇 (五)圖 式 簡 單 說E : 第 1 圖 爲 本 發 明 裝 置 之 斜 視 圖 第 2 圖 爲 本 發 明 中 用 以 說 明 裝 置 槪 圖 〇 主 要 部 分 之 代 表 符 號 說 明 ; 1 5: 2 噴 槍 3 回 收 檯 4 阻 抗 材 供 給 裝 置 5 管 6 吊 具 7 保 持 部 8 導 電 性 基 板 9 搬 送 裝 置 10 ,1 1 往 復 裝 置 12 搬 送 方 向 2 1 ,2 3,: 2 7 流 量 計 22 定 量 泵 24 演 算 裝 置 2 5 液 面 計 -π- 586970 2 6 黏 度 計 2 8 氣 體 分 析 裝 置 2 9 補 給 液 狀 阻 抗 材 筒 3 0 稀 釋 液 筒 3 1 液 狀 阻 抗 材 回 收 筒 32,34 過 濾 器 3 3 攪 拌 裝 置
-12-

Claims (1)

  1. 586970 拾、申請專利範圍 1 . 一種在導電性基板上形成阻抗層的裝置,其特徵爲該裝- 置具備有: . 搬送裝置,用以搬送導電性基板; 噴霧裝置,用以在該搬送裝置所搬送之導電性基板上 塗佈以液狀阻抗材;及 回收再使用裝置,係遂行過度噴霧時,可將未塗著於 基板上之液狀阻抗材予以回收再使用。 _ 2 .如申請專利範圍第1項在導電性基板上形成阻抗層的裝 置,其中該回收再使用裝置係具備有:用以回收未塗著 液狀阻抗材之回收檯;可調整所回收液狀阻抗材之黏度 、依序的予以過濾、壓送、並往噴霧裝置作循環供給之 供給裝置;及用以控制上述該等機能之控制裝置。 3 .如申請專利範圍第2項在導電性基板上形成阻抗層的裝 置,其中該控制裝置對黏度之調整係藉內藏於控制裝置 之黏度計、流量計及氣體濃度計,對回收液狀阻抗材之 · 量、黏度、及預先登錄之回收液狀阻抗材中數種稀釋劑 的組成等加以監視,可補給因噴霧而氣化之稀釋劑者。
TW92105551A 2002-03-14 2003-03-14 Apparatus for forming resist layer on conductive board TW586970B (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002070934 2002-03-14

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW200305459A TW200305459A (en) 2003-11-01
TW586970B true TW586970B (en) 2004-05-11

Family

ID=29227672

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW92105551A TW586970B (en) 2002-03-14 2003-03-14 Apparatus for forming resist layer on conductive board

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN1451483A (zh)
TW (1) TW586970B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015108085A1 (ja) * 2014-01-14 2015-07-23 太陽インキ製造株式会社 立体回路基板およびこれに用いるソルダーレジスト組成物

Also Published As

Publication number Publication date
CN1451483A (zh) 2003-10-29
TW200305459A (en) 2003-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5498886B2 (ja) ドライフィルムレジストの薄膜化処理方法
JP6418435B2 (ja) 積層体、導電性パターン及び電子回路
TW586970B (en) Apparatus for forming resist layer on conductive board
TW498110B (en) Fluid delivery systems for electronic device manufacture
US5843621A (en) Process and apparatus for coating printed circuit boards
JP2003338675A (ja) 導電性基板上にレジスト層を形成する装置
US5236746A (en) Curtain coating process for producing thin photoimageable coatings
JP3326531B2 (ja) 金属層を設けた基材上に薄い光画像化可能な塗膜を形成するための方法及び装置
TW201320180A (zh) 連續濕式蝕刻圖案化基材之方法
TWI700559B (zh) 阻擋層的薄膜化裝置
CN208188581U (zh) 抗蚀剂层的薄膜化装置
JP2012059755A (ja) ドライフィルムレジストの薄膜化処理方法
JP3202621U (ja) レジスト層の薄膜化装置
JPH1085655A (ja) 感光性レジストの塗布処理方法および塗布処理装置
JPS62280751A (ja) 印刷配線板の現像方法
US11540397B2 (en) Printed substrate forming method
CN205067962U (zh) 抗蚀剂层的薄膜化装置
EP0442196A2 (en) Method for applying liquid photoresist to planar substrate surfaces
JP2000340929A (ja) 導電性基板上にレジスト層を形成する装置
JP2007119871A (ja) 金属被膜形成方法及び金属被膜による電極パターン形成方法
JP2000156556A (ja) スルーホール部を有する基板へのレジスト層形成方法及びプリント配線基板の製造方法
JP2003131394A (ja) レジスト回収装置
TWM620419U (zh) 阻焊劑層的薄膜化裝置
JP3186721U (ja) ドライフィルムレジストの薄膜化処理装置
JP2006202879A (ja) 導体パターンの形成装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Annulment or lapse of patent due to non-payment of fees