TW539862B - Inspection apparatus for display apparatus, driving signal supplying apparatus, and inspection system for display apparatus - Google Patents

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TW539862B TW090133159A TW90133159A TW539862B TW 539862 B TW539862 B TW 539862B TW 090133159 A TW090133159 A TW 090133159A TW 90133159 A TW90133159 A TW 90133159A TW 539862 B TW539862 B TW 539862B
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Description

539862 五、發明說明(1) 登明之領域 本發明和顯示裝置之檢查裝置相關,具體而言,就是 和將驅動信號輸入顯示裝置且執行顯示裝置之目視檢查的 顯示裝置之檢查裝置、驅動信號供應裝置、以及顯示裝置 之檢查系統相關。 先前技術 FPD(FLAT PANEL DISPLAY)上經常會發生製造缺陷造 成之點不良或線不良。此不良在常溫之檢查中有時不易察 覺,通常在6 0 °C前後之高溫下,會顯示可以發現不良之$ 圖案(顯示形態),利用目視來檢查細微之不良時十分有 效。 所以,以往在FPD模組之生產線的最終步驟(檢品步驟 )中,會實施篩選試驗,對顯示裝置施加比動作條件更高 之高溫及高電壓,加速故障發生,實施短時間内去除不良 品之老化測試。 利用圖1 1及圖1 2來針對F P D模組之恒溫目視檢查 裝置的老化裝置進行說明。 通常,FPD模組之老化裝置的高溫槽内可以收納1 6 片至8 0片的FPD模組’並可以在高溫下通電及顯示測試❶ 形態下’放置一定時間(老化)。然後,可以從高溫槽之觀 察窗觀察FPD模組之顯示狀態’並可以目視判斷其經時變 化。 '
五、發明說明(2) 加驅動#號的方法,一八 式(圖1 2)。分配方式心有:以(圖? 1)及1對1方 器,從該處將驅動信號分配並輸 二置1台#號發生 ,1對1方式時,在各P PD模組。另一方面 輸入至各FPD模組。 、、、且设置信號發生器,將信號 如圖1 1所示,合 熱材包住之高溫槽i 2 〇,::=置1 0 0中,以斷 之高溫槽控制器i i丄:丨 於電裝盤110内 ,電裝盤1 1 〇内設置】:工|而維持於高溫狀態。另外 器…發生2動=:=1 ",信號發生 FPD模組D…。此時,/ a輸入/兩溫槽1 2 0内之複數 分配至高溫槽i 2 〇内°之;生丄^3發生之信號,會 Si 模組D之信號波形進行整形。老 ==巧:主控11來執行。 〇 〇時,以斷熱材包住之高斤;槽以方f之老化裝置2 離2 : 制器212的控㈣,而維持於高 狐狀Β另外,兩溫槽2 2 0内,針對複數之各FpD禮相 D...分別設置信號發生写? ? 1 τ 丁複數之各FPD杈組 發生之信號會分別輸入至2二:,各, 然而,FPD之製造工程的篩選試 入各色(RGB)之BETA影像等汽易够勤f :對FPD模組輸 )。其次,為了瑞L 易 戒(簡易檢查用信號 、 — ^師、试驗中發現缺陷之FPD模組的不良 五、發明說明(3) — 内谷,輸入十子游標等解析用驅動信。 行詳細檢查。然後,依據解析結果;斷b =,執 FPD模組缺陷,經過修理、再度檢查後出貨為另了乂修理之 所獲得的資料,應進行收华i 、 卜,解析 W、+、!料,: 將其回饋至製造工程上。 右在則述1對1方式上採用施加 ^ 圖1 2),μ必㈣收納於高溫槽2析用^^方法( 設置信號發生器2 2 1 ...,因Α丄 D模組]).·. 十分昂貴,故老化襄置2 Q Q也合變/號發生〶的價格 斗 ^匕u U也會變得非常昂貴。 $方w _方右ί則述分配方式上採用施加解析用信號 圖1 1) ’雖然對複數之FPD模多且D只需設台 生器1 1 3 ’但信號發生器1 1 3發生故障時,則 :法對全部FPD权組D ...施加解析用信號。另外,信號發 生益1 1 3發生之高速信號必須分配給高溫槽丄2 〇内分 f^FPD模組D ...,而因為以分配為目的之分配電路(圖上 未標不)的價格十分昂貴,故老化裝置工〇 〇會變得較為 昂貴。 如上面所述,前述傳統構造無法以較便宜的價格,提 供可以確實利用解析用信號來進行檢查之裝置。 簡述 本發明之目的’係在於針對顯示裝置之目視檢查,提 ,可分別供應BETA影像等簡易檢查用信號、以及十字游標 ,解析用驅動化號,之便宜顯示裝置的檢查裝置、驅動信 號供應裝置、以及顯示裝置之檢查系統。
第6頁
述目的 示裝置 置,具 述各顯 、以及 或藉由 前述顯 構造, 號發生 狀態。 部第2 因為顯 1驅動 。亦即 之第1 相關之顯 信號並提 1驅動信 備可以從 第1驅動 器輸入之 切換電路 示裝置之 之第1驅 示裝置之 輸入至顯 檢查裝置 述第2驅 述顯示裝 及前述第 裝置中, 果,來自 ,同時, 成之第1 信號的切 因為可以 1台生成 因為不必 五、發明說明(4) 為了達到前 置’為對複數顯 示裝置的檢查裝 號生成器,且前 動信號之連接器 之第1驅動信號 其中之一並輸入 依據前述之 内部第1驅動信 裝置並提示顯示 藉由連接器之外 示狀態。其次, 可以選擇前述第 一輸入顯示裝置 可以對顯示裝置 入切換。 所以,前述 置前述連接器前 k號的輪入會對 實施内部第1驅 外部藉由連接器 第2驅動信 執行,故複數之 驅動信號供應裝 ’本發明 輸入驅動 有生成第 示裝置具 選擇前述 前述連接 示裝置的 首先,顯 器所生成 此外,顯 驅動信號 示裝置之 信號及前 ’利用前 驅動信號 顯示裝置之檢查 述切換電路。結 各顯示裝置實施 動信號發生器生 輸入之第2驅動 號之供應方面, 顯示裝置只需要 置即可。此外, 示裝置的檢查裝 供顯示裝態之顯 5虎之第1驅動信 外部輸入第2驅 信號發生器生成 第2驅動信號的 〇 檢查裝置可以# 動信號輸入顯f 檢查裝置可以g 示裝置並提示I負 具備切換電, 動信號之其中t 置之檢查裝f, 2驅動信號的輪 對各顯示裝i < 外部之第2驅2 各顯示裝置也t 驅動信號、胃 Μ及 換。 選擇顯7F襄f $ 第2驅動信考走 將來自1台:之 539862 五、發明說明(5) “號供應裝置之輸入信號分配至複數顯示裝置,可以省略 分配電路及波形成形電路。同時,因為前述驅動信號供應 裝置可以和前述顯示裝置之檢查裝置分別設置,在發生故 P早時,比較容易更換。 因此,利用前述顯示裝置之檢查裝置,可以分別確實 提供第1驅動信號及第2驅動信號。因而,可以較低成本 實現利用内部生成之驅動信號來進行確實檢查、以及利用 外部生成之驅動信號來進行確實檢查之顯示裝置的目視檢 查裝置。 例如,前述顯示裝置之檢查裝置的構成上,除了可以, 利用第1驅動信號發生器生成顯示顯示裝置之生產線檢品 步驟上必要之最低限顯示形態的第1驅動信號以外,還可 以為了調查第1驅動信號所發現之缺陷的不良内容,從外 部驅動信號供應裝置輸入顯示必要顯示形態之第2驅動信 號。 另外, 。首先,在 動信號,可 而發現缺陷 2驅動信號 不良内容。
利用此顯示裝置之檢查裝置也可實施下列檢查 顯示裝置之生產線的檢品步驟中,利用第1驅 以顯示各色(RGB)之BETA影像等簡易顯示形態 。接著,只針對發現缺陷之顯示裝置,利用第 ’可以顯示十字游標等之精細顯示形態而確認 發明說明(6) 明1本發月之其他目的、特徵、以及優點方面,由下面說 由τ 77 。另外,本發明之益處,可參照附錄圖面並 由下面說明來了解。 依據 所示。 首先 置1進行 方塊圖。 前述老化 明圖。圖 的說明圖 如圖 為具備收 包圍之高 1之電装 、觸摸面 前述 執行。另 做為作業 信號利用 此外 控制來維 體實施 圖1至圖6來說明本發明之一實施形態,則如下 >、利用圖2〜圖5針對本實施形態相關之老化裝 0兒明、。圖2為前述老化裝置1之構成概要的系統 圖3為前述老化裝置1之外觀的斜視圖。圖4為 裝置1之高溫槽2 0内收納FPD模組D狀態時之說 5為前述fpd模組D及驅動元件2 1之連接狀態 〇 2所示,前述老化裝置(顯示裝置之檢查裝置)丄 納複數FPD模組(顯示裝置)D…、外面以斷熱材料 溫槽2 0的恒溫目視檢查裝置。此外,老化裝置 盤1 0上設有主控制器i、高溫槽控制器12 板1 3、以及無線受信機1 4。 σ i 老化裝置1之全體的控制,利用主控制器丄 外’。老化裝置1具有觸摸面板i 3及遙控裝R 者操作之使用者介面。來自遙控器裝 前述無線受信機1 4接收。 ° " 之"、、線 ’前述高溫槽2 0利用前述高溫槽控制器 持高溫。同時,前述高溫槽2 〇内 ,2之 μ針對各FPD模
539862 五、發明說明(7) 組D设有驅動元件2丄。以將來自立 置(驅動信號供應裝置)5丄之解 析用信號供應裝 輸入至驅動元件2 1之切換電^旒(第2驅動信號) ,器(輸入手段)24,以Π二換化手=3為目的之 式來设置。另外,前述驅動 11 t外部的方 此外,主控制器!丄、和高溫明。 板1 3、及無線受信機i 4 槽3制益1 2、觸摸面 2 C來埶轩s + ^ 4 ^通^ ’可以利用如RS - ? ? 信,可以在%動元件制器1 1及各驅動元件2 1的通 執行’也^:^丄上’⑽並以⑽-…等來 。 ^不叹置咖而只執行接點及爪等之控制信^虎 如圖4所示,恒溫槽之莴、、田描9 η 土 實例中,模組架30之正在圖4之 片5段共計20片之胸模1側y’分別可以載置4 於二圖ρΛ所*,前述模組架3 0,將驅動元件2 1配f ; 模組D之後方。FPD模組D則以各種連接嶝飨^ 巧元件21。此外,_組二= i 2 〇ΡΠι、底邊則頂住止滑條3 2的狀態載置於高溫 内。利用角度調整尺變更停止位置,丨卜备存Μ Μ ^ :以調整FPD模組D之顯示面的角 心周? 卿模組,之顯示面。圖5中,省: 之切換電路2 3及連接器2 4的連接纜線。 圖3所示,為了可以不打開高溫槽2 〇卻可以觀察
第10頁 539862 五、發明說明(8) FP"莫組D之顯示® ’前述老 門15。利用此方式,因八 上设有拉門式玻璃 FPD模組D…的顯示狀態可王—面都^坡蹲門1 5 ,故多數之 設置於最靠近玻璃;;;=位^2〇 之不良都可以目視來確認。 ^ 〇之位置,連細微 另外,此玻璃門;[5上,&、斤ρ 〇 ,各FPD模、组D配設著連接器D模組D之正面,針 24連接於高溫槽2〇内對應之驅^)。而且,連接器 2 3(圖2 )上。 心 ' 几件2 1的切換電路 前述老化裝置1上,設有供作 板1 3(圖2)。此外,前述老;匕裝:T執行操作之觸摸面 :;八作業者可以利用遙控㈣圖玄)還觸線摸受信 板1 3之位置上執行操作。 )在離開觸摈面 ,業者利用觸摸面板1 3或前述遙控考勃— 可以藉由主控制器1 i將控制作卢工σ執仃之操作, 處。利用此方式,作業者可執=裝置1之各 咖模組D之亮燈/熄燈;2)顯示所有FPD= · 1)所有 =:3)形態切換(前送/後退);4 能’之動署值色顯 T傳送機能的切換;6 )只亮起背光動專握機:’手 】可以針對各FPD模組D實施電源控制條件、 ’、、及老化溫度/時間等之詳細設定及確認。’ /圖
,著’參閱圖i ’說明對收納於高溫槽2 〇 挺、、且D供應驅動信號之構成。 PD 539862 五、發明說明(9) …=如圖2所示之針對各FPD模組!)設置之驅動元件2 田t之一個連接器2 4、及解析用信號供應裝置5 1 、接器5 3進行連接,圖1就是此連接狀態之方塊圖。 路^ Ϊ —,驅動元件2 1之構成上,具有簡易檢查用信號 %裔(第1驅動信號供應手段)2 2及切換電路2 3。 ,述簡易檢查用信號發生器2 2之構成上,具有形態 發生器4 1、驅動電路4 2、時計信號發生器4 3、及^ 源4 4 〇 岫述形態發生器4 1會對應來自主控制器丄丄(圖2 ) 之控制信號,依據前述時計信號發生器4 3所發生之時計 1號的時序,生成以前述控制信號指定之顯示形態的影像 信號,並輸出至前述驅動電路4 2。 前述驅動電路4 2會依據從前述形態發生器4 i輸入 之影像信號,依據前述時計信號發生器4 3發生之時計作 號的時序,使用電源4 4之電壓,生成FPD模組d之驅動" k號(間易檢查用#號(第1驅動信號)),並輸出至前述切 換電路2 3。 此時,前述形態發生器4 1内,應事先儲存FPD模板 D之生產線檢品步驟用之各色(rgb)BETA影像等簡易顯'八'\ 態。 .、、、不形 第二’解析用信號供應裝置5 1至少應具備解析 丄 號發生器5 2。此外,前述解析用信號發生器5 2之用^ 上,應具備CPU (central processing unit) 6 1 、a集成 體6 2、形態發生器6 3、形態發生用記憶體6 4 ^ ^ 、馬區動
第12頁 W9862 五、發明說明(10) —-- 電路6 5、時計信號發生器6 6、分頻器6 7、及電源6 8 ° 别述解析用信號供應裝置5 1則是利用CPU 6 1執行 舌己憾f 6 2上展開之特定程式來控制。此外,Cpu 6 1是 依據4迷時計信號發生器6 6發生之時計信號的時序來動 作0
二述形態發生器6 3會對應來自CPU 6丄之控制信號 ,以刖述時計信號發生器6 6發生之時計信號為基礎,依 據前述分頻器6 7發生之時序信號,生成以前述控制信號 指定之顯示形態的影像信號,並輸出至前述驅動電路6 5 =驅動電路6 4會以從前述形態發生器6 3輸入之 ΓΠί 2礎:依據前述分頻器6 7發生之時序信號, )之電壓,生成FPD模組D之驅動信號(解析用 信唬),並輸出至連接器5 3。 驟所i事先儲存以特定fpd模組d之生產線檢品步 原因為目的之十字游標等精細顯示形態。 儲存於形態發生記憶體6顯示形態之影像信號並 用吃情⑽R Z1 “隐體6 4輸出時,也可以從形態發生 用。己隐體6 4❹並輸出影像信號。 器心=:=:21:切換電路23在未從連接 易檢查用信號輪出;F;、,曰將從驅動電路4 2輸入之簡 2 4輸入解析用信於日±,HD,另一方面,若從連接器
° JU ^則5將此解析用信號輸出至FPD
539862 五、發明說明(11) 模組D。亦即,切 入時,會將該第2 所以,如圖1 連接狀態時’前述 解析用信號發生器 D〇 另外,在切換 時,例如,也可以 指定信號切換之特 言之,檢測解析用 是以眾所皆知之技 利用此方式, 就可以簡易檢查用 來取代,並將外部 號供應給FPD模組: 接著,參閱圖 換電路 驅動信 所示, 切換電 5 2輪 電路2 利用連 別信號 信號並 術來實 只要將 信號發 解析用 驅動信號之榦 D。 ·』 接器5 3處於 槽2 〇外部之 出至FPD模組 至解析用信號 的短路等,讓 内來實施。換 換電路2 3 ,、 連接器2 4, 易檢查用信號 成之解析用信 2 3在檢測到第2 號輪入至FPD模組 在連接器24及連 路2 3會將從高溫 入之解析用信號輪 3將輸出信號切換 接器5 3之特定銷 含於解析用信號之 切換輸出信號之切 現各種機能。 連接器5 3連接於 生器2 2生成之簡 信號發生器5 2生 進一步說明前述解析用信號供應裝置 〇 後^述解析用信號供應裝置51可以影像儲存格·副參 像儲存格單位控制解析用信號發生器5 2 顯 ::具體而言’例如,顯示十字游標時,彳以將交又點: A才不顯不於顯不面板5 4上,並利用操作按鈕5 5移動交 又點之位置。 另外,為了執行複數種(SVGA、XGA、SXGA、UXGA等) 之FPD模組D的解析’也可預先將晝面尺寸、驅動時計、
W9862 五、發明說明(12) 及顯示形態等之設定儲存於前述解^ 工。 鮮析用化號供應裝置5 如圖6所示’前述解析用信號供應 ,也可以將其和DC電源裝置5 6 罝5 1之構成上 有聊輪之架58上,使其成為可搬=7=載於附 前述DC電源裝置5 6提供驅 /置5 0。 備可以對應複數FPD模組之容量。Μ模組D之電源,具 前述電腦5 7可以執行··丄) 編輯、作成;2)解析用信號供應 Τ態(圖案) 5 6之設定的變更;3)檢測出FPD: 及DCt源裝置 良位置、不良内容等)的輸入、模/且:之不良情報(不 5 7編輯及作成之顯示形態,可二此外’以前述電腦 器5 2上。 、利用於解析用信號發生 利用此方式,採用含有前
供應裝置51之顯示裝置之檢=裝二1及解析用信號 模組D收納於高溫槽2 〇, ^、、先可以將複數之FPD f分布下,將驅動4:入ί:二 態,並可透過玻璃門丄5 _ :、 颃不顯不形 0 以利用内部簡易檢杳用Γ,狢二不狀態。前述驅動信號可 信號、以及外部= =器22生成之簡易檢查用 5 3 . 2 4輸人之解析用信號。 成並糟由連接器 前述之老化裂置丄的各 切換電路2 3,可以對久又有連接為2 4及 及解析用信號之切換。 果、、且實施簡易檢查用信號
IM 第15頁 539862 五、發明說明(13)
利用此方式,可以只針對篩選試驗中發現缺陷之FpD 模組,輸入以確認不良内容為目的之解析用信號並執行詳 細檢查。 如上面所述’前述顯示裝置之檢查系統為可以彌補傳 統分配方式缺點之1對1方式,且利用只針對以簡易檢查 用信號發現缺陷之FPD模組選擇性地輸入解析用信號的方 式’解決傳統1對1方式之缺點。故,以低成本實現可以 對恒溫槽内之FPD模組施加簡易檢查用信號及解析用信號 的恒溫目視裝置。 同時,在 針對可以在高 信號的恒溫目 非限定本發明 各種變化,例 檢查對象 (cathode ray 外,也可以利 控制在低溫、 加信號時,除 以監視輸出信 另外,簡 FPD模組D之前 也可以將解析 易檢查用信號 本實施形態中,是以FPI)模組為檢查對象, 溫之南溫槽内施加簡易檢查用信號及解析用 視,查裝置進行說明。然而,本實施形態並 之乾圍,只要在本發明之範圍内,可以實施 如,可以為下列所示構成。 =:,為FPD㈣組,τ以廣泛地應用於含CRT u^e在内之全部顯示裝置的目視檢查。另 =溫:控制器12將高溫槽2〇内之環境 问濕、及振動篝;^、、w , 了可以執行顯示;::外之狀態。同時,施 號波形。“之目視檢查以外’還可 易檢查用k號及解析 來執行…在驅動㊁:唬之切ί ’可以在 用信號輸入形態發生% 4 2之刖來執行, 來執行。 知生盗4 1使其停止發生簡
之構成,作士析用信號供應裝置5 1雖然採用可以搬運 者)之位詈一,:κ可以固>定解析用信號供應裝置5 1 (及作業 解柄用e啼也木取將高溫槽2 〇 —亦即,將FPD模組D移至 解析唬供應裝置5丄之位置的構成。 故I Ϊ而言、,老化裝置因為使用於生產線之檢查步驟,
曰δ日、使用複數台。因為前述解析用信號發生器5 2是 木夕邛連接,故1台或2台左右之解析用信號發生器5 2 / :針對收納於老化裝置i之全部FpD模組D的解析用信 旎實施檢查。當然,解析用信號發生器5 2之台數必須對 2以老化裝置1確認之不良發生數來進行檢討。此外,工 口解析用信號發生器5 2具有複數解析用信號發生器5 2 且分別對複數FPD模組D…輸入解析用信號的構成亦可。 同時’外部解析用信號發生器5 2及切換電路2 3之 連接’只要不會攪亂高溫槽2 0内之環境的構成即可,故 也可以採用圖7〜圖1 〇所示之構成。圖7〜圖1 0之構 成為其一之實例,並非限定FPD模組D及連接器2 4之數量 、位置、及玻璃門1 5之形狀等。
在圖7中,老化裝置1(參考圖3)之玻璃門1 5採用 橫長形狀,可以針對橫向載置之每4片FPD模組D實施顯 示狀態的同時觀察。此玻璃門1 5之旋轉軸設定下端邊, 利用配設於上端部之開關用把手1 5 a,將上端邊朝操作 者侧打開。而對應各FPD模組D之連接器2 4則配設於玻 璃門15之下端邊的下方位置,和玻璃門15相鄰。 圖8中,老化裝置1(參考圖3)之玻璃門1 5採用縱
第17頁 ^39862 五、發明說明(15) 長形狀,可以針璧+攸a # @ p ^ 仙处a η 士 s T對縱向載置之母5片FPD模組D實施顯示 田心、5日士 °察。此玻璃門1 5之旋轉轴設定右端邊,利 用配設於左端部之開關用把手1 5 a,將左端邊朝操作者 側打開1¾對應各FPD模、组D之連接器2 4則配設於玻璃 門1 5之右鳊邊的右方位置,和玻璃門1 5相鄰。 如上面所述,在圖7及圖8之構成實例當中,連接器 2 4,置於其對應之FPD模組D的附近。利用此方式,可 以很容易1用簡易檢查用信號觀察顯示狀態,確認必須輸 入解析用信號之FPD模組D,確實將解析用信號供應裝置 5 1之連接器5 3連接於對應該特定FPD模組D之連接器2 4 〇 ,圖9中,老化裝置i (參考圖3 )之玻璃門i 5採用縱 長=狀,可以橫向2片、5段載置之1 〇片FPD模組β為單 位實施1 0片之顯示狀態的同時觀察。此玻璃門丄5是由 以相鄰2片為1組之左右拉門所構成。所以,各玻璃門丄 5上會沿著右端或左端配設開關用拉把1 5 b。其次,對 應各FPD模組D之連接器2 4,會配設於由1組玻璃門工5 • 1 5所構成之拉門的額緣。亦即,圖9中,對應收納在 右側群組拉門9 1内之FPD模組D的2 0個連接器2 4 ···配 没於右方額緣9 3,對應收納在左側群組拉門9 2内之 FPD模組d的2 0個連接器2 4…配設於左方額緣g 4。 圖1 0中之老化裝置1的玻璃門1 5和圖9 一樣,是 由相鄰之2片一組的左右向拉向所構成。同時,每_由_ 組玻璃門1 5 · 1 5構成之拉門的額緣,各配置著連接器 I麵
第18頁
539862 五、發明說明(16) D的切換開關2 4:連:;2二:二::信號之FPD模組 的,: 配置著對應收納;Ja ’而左方額緣9 4 ’則 it#lf 2 4 > 4a^V/7iM ^ 4a可以採機械式或電氣式之信2 4二】外J換開關2 D共用連接器2 4,則依連接哭Ϊ f換。而多少FPD模組 的限度來決定。 σ 2 4至FPD模組D之信號線 〇 如上面所述,在圖9及圖 數FPD模、㈣之連接器2 4可0^之構_成實例中,對應複 。利用此方式,換接艇把田〃匯正於一處的方式來設置 3時,作業:沒有^ "號供應裝置5 1之連接器5 號之顯示狀態的同時,參另卜觀察間易檢查用信 D,換接連接写5 輸入解析用信號之FPD模組 型老化裝置^時,此種連接器24之配置適用於小 接器I ί以:了 :露出高溫槽2 〇之外部的方式來配設連 ^ 也可以在高溫槽20之外壁(含玻璃門·! 5在内)設置可以自由開 1 1 41 之手可插入的間隙。線可穿過的孔、及作業者 =外,雖然以簡易檢查用信號及解信 入卿模組〇之驅動信號,但這^ 信號:=二,,檢查用信號發生器22生成之 匕裝置(a向溫槽)内設置信號發生器會比在老 第19頁 539862
化裝置外部對應複數FPD模組設置1個信號發生器為佳, 只要是期待之#號即可。另一方面,解析用信號發生器5 2生成之信號’在老化裝置外部對應複數FPD模組設置1 個信號發生器會比在老化裝置内設置信號發生器會為佳, 只要是期待之信號即可。 如上面 數顯示裝置 查裝置,其 號供應手段 信號之輸入 之第1驅動 號選擇其中 利用前 内部第1驅 裝置,並提 藉由輸入手 並提示顯示 段,從前述 並輸入至顯 ,可以切換 置執行輸入 所述, 輸驅 構成上 ,且, 手段、 信號、 之 並 述之構 動信號 示顯示 段將來 狀態。 第1驅 示裝置 第1驅 本發明 動信號 ,具備 前述顯 以及從 及藉由 輸入前 成,首 供應手 狀態。 自外部 同時, 動信號 。亦即 動信號 並提示 生成第 示裝置 前述第 前述輸 述顯示 先,顯 段生成 此外, 之第2 顯示農 及前述 ’利用 及前述 裝£之檢查裝置,為對複 顯示狀態之顯示裝置的檢 1驅動信號之第1驅動信 具有從外部輸入第2驅動 1驅動信號供應手段生成 入手段輪入之第2驅動信 裝置之切換手段。 示裝置之檢查裝置會將以 之第1驅動信號輸入顯示 顯示裝置之檢查裝置會將 驅動信號輸入顯示裝置, 置之檢查裝置具有切換手 第2驅動信號中選取其一 前述顯示裝置之檢查裝置 第2驅動信號並對顯示裝 此時, 前述輸入手 示裝置實施 前述顯示裝 段及前述切 來自外部之 置之檢杳获 換手段:ΐ 第2 .1區動作 置中,各顯 用此方式, 號的輸入, 示裝置設有 可以對各顯 同時,也可 539862 五、發明說明(18) 對各顯示裝置 1驅動信號、 切換。 所以,第 實施,複數顯 信號供應裝置 置之輸入信號 配電路及波形 置可以和前述 時,比較容易 因此’利 提供第1驅動 實現利用内部 外部生成之驅 查裝置。 例如,前 利用第1驅動 步驟上必要之 以為了調查第 4驅動信號供 號。 進行以 及外部 2驅g 示裝置 即可。 沒有必 成形電 顯示裝 更換。 用前述 信號及 生成之 動信號 述顯示 信號發 最低限 1驅動 應裝置 内部第1驅動信號供應手段生成之第 藉由輸入手段輪入之第2驅動信號的 信號之供應因為可以選擇顯示裝置來 只需要1台生成第2驅動信號之驅動 另外,因為來自1台驅動信號供應裝 要分配給複數顯示裝置,可以省略分 路。同時,因為前述驅動信號供應裝 置之檢查裝置分別設置,在發生故障 顯示裝置之檢查裝置,可以分別確實 第2驅動信號。因而,可以較低成本 驅動信號來進行確實檢查、以及利用 來進行確貫檢查之顯示裝置的目視檢 裝置之檢查裝置的構成上,除了可以 生器生^顯示顯示裝置之生產線檢品 顯示形悲的第1驅動信號以外,還可 信號所發現之缺陷的不良内容,從外 輸入顯示必要顯示形態之第2驅動信 另外,利 。首先,在顯 動信號,可以 用此顯示裝置之檢查裝置也可實施下列檢杳 示裝置之生產線的檢品步驟中,利用第1辱區 顯示各色(RGB)之BETA影像等簡易顯示形態
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=么現缺陷。接著,只針對發現缺陷之顯示裝置,利用 動信號,可以顯示十字游標等之精細顯示形態而 不良内容。 ^ 如上面所述’矛丨J用前述之構成,可以對顯示裝置 :加簡易檢查用驅動信號及解析用驅動信號之恒溫 : 置’就可以較低之成本來實現。 衣 此外,本發明之顯示裝置的檢查裝置, 述切換手段檢測到前述第2驅動信號之輸入 驅動信號輸入前述顯示裝置者。 利用前述之構成,前述切 由則述輸入手段輸入時,會將 手段輪入之第1驅動信號輸出 藉由前述輸入手段輸入第2驅 動信號輸出至顯示裝置。 也可以為在前 時,將該第2 換手段在第2驅動信號未藉 利用前述第1驅動信號供應 至顯示裝置,另一方面,若 動信號時,則會將此第2驅
所以,利用前述顯示裝 動信號輸入至輸入手段,就 動h號切換至外部生成之 不裝置。 置之檢查裝置,只要將第2驅 可以自動從内部生成之第1驅 2驅動信號,並將其供應給顯 控制=卜前示裝f的檢查裝置,除了具備可以 槽外部方式來設置前述輸入手段。 置輸入手段,可,為以露在高溫槽外部之方式來設 之第2驅動信*。且:^高溫槽内之狀態下’輸入外部 ,、體而δ ’就是可以在不必開啟高溫槽
539862 驅動信號供 將高溫槽内 之狀態。 裝置之檢查 高溫下通電 驟的熱處理 陷情報為目 驅動信號供 第2驅動信 述顯示裝置 號供應裝置 故1台驅動 裝置。所以 式來執行作 構成,前述 裝置分開搬 至以第1驅 驅動信號之 顯示裝置之 檢查裝置、 五、發明說明(20) 的情形下’實施外部 連接。而且,也可以 、及振動專南溫以外 此外’前述顯示 高溫狀態,然後進行 一定時間(老化)之步 收集老化中發生之缺 同時,本發明之 之檢查裝置提供前述 其構成上’可以和前 因為前述驅動信 置是採用外部連接, 複數顯示裝置之檢查 示裝置之檢查裝置方 因為採用前述之 前述顯示裝置之檢查 動信號供應裝置移動 置的位置來執行第2 此外,本發明之 含有前述顯示裝置之 置。 應裝置及前述切換手段之 之壤境控制在低溫、高濕 裝置可以 及形態顯 步驟。此 的向度目 應裝置為 號的驅動 之檢查裝 對前述顯 信號供應 ’作業者 業。 驅動信號 運,故很 動信號發 檢查。 檢查系統 及前述驅 使高溫 不,應 時,可 視檢查 對前述 信號供 置分開 示裝置 裝置可 可以巡 槽内處於 用於放置 以進行以 〇 顯示裝置 應裝置, 搬運。 之檢查裝 以使用於 視複數顯 供應裝置可以和 容易就可以將驅 現缺陷之顯示裝 的構成上,也可 動信號供應裝 號供“ 之ί成,前述顯示裝置之檢查裝置及驅動 ψ " ΖΓ可以7刀別確實供應第1驅動信號及第2驅動 儿 以,以低成本實現可確實獲得利用顯示裝置之檢
539862 五、發明說明(21) 裝置生成的驅動信號來進行檢查、以及利用驅動信號供應 裝置生成之驅動信號來進行檢查的顯示裝置目視檢查系統 。另外,因為驅動信號供應裝置可以和顯示裝置之檢查裝 置分開搬運,故很容易就可以將驅動信號供應裝置移動至 以第1驅動信號發現缺陷之顯示裝置的位置來執行第2驅 動信號之檢查。故,本發明堪稱具創作性與進步性,符合 發明專利之法定要件,爰依法提出發明專利申請。 雖本發明以一較佳實施例揭露如上,但並非用以限定 本發明實施之範圍。任何熟習此項技藝者,在不脫離本發 明之精神和範圍内,當可作些許之更動與潤飾,即凡依本 發明所做的均等變化與修飾,應為本發明專利範圍所涵蓋 ,其界定應以申請專利範圍為準。
第24頁 539862 圖式簡單說明 圖1為圖2所示之老匕# f咕止裝置及解析用信號供應裝置々 ^ 5虎生成電路構成之方塊圖。 夏之驅動 圖2為本發明之一實施形態相關之老化裝置及解 供應裝置之構成概要的方塊圖。 ^號 圖3為圖3所示之老化裝置外觀的斜視圖。 圖4為圖2所示之老化裝置高溫槽内收納!^!)模組之狀態 的說明圖。 & 圖5為圖2所示之老化裝置咼溫槽内的f p d模組及驅動元 件連接狀態之說明圖。 圖6為配備圖2所示之解析用信號供應裝置的解析裝置概Ο 要之說明圖。 圖7為圖3所示老化裝置之玻璃門及連接器構成實例的說 明圖。 圖8為圖3所示老化装置之玻璃門及連接器的另一構成實 例之說明圖。 圖9為圖3所示老化裝置之玻璃門及連接器的另一其他構 成實例之說明圖。 圖1 0為圖3所示老化裝置之玻璃門及連接器的另一其他 構成實例之說明圖。 圖1 1為傳統技術相關之分配方式老化裝置概略的方塊圖 圖。 圖1 2為傳統技術相關之1對1方式老化裝置概略的方塊 圖。
第25頁 539862 圖式簡單說明 圖號簡單說明: 15b 2 1 2 3 2 4a 3 1 3 4 4 2 4 4 7 7 3 FPD模組 •老化裝置 •主控制器 •觸摸面板 • •玻璃門 • · •拉把 •驅動元件 •切換電路 •切換開關 角度調節棒 • ••纟覽線 •驅動電路 • · •電源 信號供應裝置 • •連接器 •操作按鈕 • ••電腦 • · · CPU 形態發生器 •驅動電路 • •分頻器 • ••拉門 • · •額緣 R.....遙控裝置 10.....電裝盤 12· •高溫槽控制器 14·· •無線受信機 15a.....把手 2 0.....而溫槽 2 2 · · ·信號發生器 2 4.....連接器 3 0.....模組架 3 2.....止滑條 4 1·· •形態發生器 4 3 ·時計信號發生器 5 0· · · •解析裝置 5 2 · · ·信號發生器 5 4 · · · ·顯示面板 5 6· · · •電源裝置 58··附有腳輪之架 6 2.....記憶體 6 4.....記憶體 6 6 · · ·信號發生器 6 8......電源 9 2......拉門 9 4......額緣
第26頁 539862 圖式簡單說明
T—I CO T-H CD 00 IX IX IX IX IX CO
1± 1± 1± 1X CXI • •老化裝置 I I 0 · • · •電裝盤 • •主控制器 I I 2 · 高溫槽控制器 •信號發生器 I 2 0 · • · •高溫槽 波形成形電路 2 0 0 · • •老化裝置 • · ·電裝盤 2 I I · • •主控制器 高溫槽控制器 •信號發生器 2 2 0 · • · •南溫槽 〇
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Claims (1)

  1. 2 4 一種顯示裝 入複數之顯 驅動信號之 置具備從外 前述第1驅 藉由前述輸 並輸入前述 如申請專利 ’前述切換 將該第2驅 如申請專利 ’具有可控 時’前述輸 來設置。 種驅動信 1項或第2 動信號之驅 之檢查裝置 一種驅動信 3項之顯示 且可以和前 一種顯示裝 圍第1項或 述之顯示裝 置之檢查 示裝置並 第1驅動 部輸入第 動信號供 入手段輸 顯示裝置 範圍第1 手段檢測 動信號輸 範圍第2 制收納前 入手段以 號供應裝 項之顯示 動信號供 分開搬運 號供應裝 裝置的檢 述顯示裝 置之檢查 第2項之 置的檢查 裝置, 提示顯 信號供 2驅動 應手段 入之第 之切換 項之顯 到前述 入至前 項之顯 述顯示 露出於 其特徵 示狀態 應手段 信號之 生成之 2驅動 手段。 示裝置 第2驅 述顯示 示裝置 裝置之 前述高 置,其特徵為 裝置的檢查敦應裝置,且可 〇 置,其特徵為 查裝置供應前 置之檢查裝置 系統,其特徵 顯示裝置的檢 裝置供應前述 竹驅動信號 ,且具備生+輪 ,且前:t成第1 ^則述各顯示f 輸入手段、以另f 第1驅會ϊ & 破 不丄·^動信號、 信號選擇其中之j 的撿查裝置,其 動信號之輪入時 裝置。 守’ 的檢查裝置, IS£ ^ # 中 ^丨兄的高溫槽, 溫槽之外部的方^ 對申請專利範園第 置供應前述第2驅 以和前述顯示裳置 對申清專利範圍第 述第2驅動信號, 分開搬運。 為具有申請專利範 查裝置、以及對前 第2驅動信號,並 6 539862 六、申請專利範圍 可以和前述顯示裝置之檢查裝置分開搬運的驅動信號 供應裝置。 7 · —種顯示裝置之檢查系統,其特徵為具有申請專利範 圍第2項之顯示裝置的檢查裝置、以及對前述之顯示 裝置的檢查裝置供應前述第2驅動信號,並可以和前 述顯示裝置之檢查裝置分開搬運的驅動信號供應裝置 « i
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005173299A (ja) * 2003-12-12 2005-06-30 Optrex Corp 有機el表示装置および有機el表示装置の基板
CN100412558C (zh) * 2005-01-07 2008-08-20 统宝光电股份有限公司 显示面板的高温老化测试装置
KR100766946B1 (ko) * 2006-07-14 2007-10-17 삼성에스디아이 주식회사 유기 발광셀의 검사장치 및 그 방법
JP2008145226A (ja) * 2006-12-08 2008-06-26 Olympus Corp 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
KR101507160B1 (ko) * 2008-09-04 2015-03-30 엘지전자 주식회사 영상기기의 패널 테스트 장치 및 이를 이용한 테스트 시스템
TWI399554B (zh) * 2009-03-20 2013-06-21 Sun Well Solar Corp 線路短路缺陷線段之檢測及修復方法與檢測及修復裝置
TWI418803B (zh) * 2011-06-24 2013-12-11 Chroma Ate Inc Display panel module to the burner test equipment
CN105632383B (zh) 2016-01-11 2018-09-11 京东方科技集团股份有限公司 一种测试电路、测试方法、显示面板及显示装置
WO2018225182A1 (ja) * 2017-06-07 2018-12-13 シャープ株式会社 エージング装置
JP7122236B2 (ja) * 2018-11-28 2022-08-19 東京エレクトロン株式会社 検査装置、メンテナンス方法、及びプログラム
CN109443712A (zh) * 2018-12-26 2019-03-08 成都晶砂科技有限公司 硅基显示器件的自测试装置、自测试方法及硅基显示器件

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05288799A (ja) * 1992-04-10 1993-11-02 Tabai Espec Corp ドライバ設置用常温室付き環境試験装置
JPH0712752A (ja) * 1993-06-25 1995-01-17 Sony Corp 液晶パネルの試験方法および試験装置
JP3107359B2 (ja) * 1995-10-13 2000-11-06 株式会社アドバンテスト 液晶表示パネル試験用パターン発生装置
JPH09127470A (ja) * 1995-10-26 1997-05-16 Sharp Corp 液晶パネルの検査装置および検査方法
US6265889B1 (en) * 1997-09-30 2001-07-24 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor test circuit and a method for testing a semiconductor liquid crystal display circuit
KR100430096B1 (ko) * 1997-12-11 2004-07-15 엘지.필립스 엘시디 주식회사 구동회로검사방법및그장치
JPH11266467A (ja) * 1998-03-17 1999-09-28 Sanyo Electric Co Ltd 画像表示装置のテストパターン発生装置
KR100299681B1 (ko) * 1998-09-03 2001-10-27 윤종용 액정표시장치
KR20000046767A (ko) * 1998-12-31 2000-07-25 구자홍 액정 디스플레이 모듈의 검사장치

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