JP2008051781A - 基板の外観検査方法および装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】簡単な構成で効率よく基板の外観検査を行う。
【解決手段】カメラ52により撮像された基板Pの撮像画像を、記憶部61に記憶された基準画像データと比較して基板の良否を判定する処理をコントロールユニット60に実行させ、ここで基板Pが不良品と判定されたときに、液晶モニタ4に基板Pの画像を表示して作業者に基板Pを目視判定させ、この目視判定において基板Pが良品と判定された場合に、その良品と判定された基板Pの撮像画像を上記基準画像データとして記憶部61に追加記憶させる。
【選択図】図13
【解決手段】カメラ52により撮像された基板Pの撮像画像を、記憶部61に記憶された基準画像データと比較して基板の良否を判定する処理をコントロールユニット60に実行させ、ここで基板Pが不良品と判定されたときに、液晶モニタ4に基板Pの画像を表示して作業者に基板Pを目視判定させ、この目視判定において基板Pが良品と判定された場合に、その良品と判定された基板Pの撮像画像を上記基準画像データとして記憶部61に追加記憶させる。
【選択図】図13
Description
本発明は、基板に実装された部品の実装状態、基板上のプリント配線パターン、基板上のクリームはんだの印刷パターン等の基板の外観を検査する方法および装置に関するものである。
従来から、基板の外観検査を行う方法の一つとして、基板の撮像画像と、良品基板の基準となる基準画像データ(マスターデータ)とを比較してその一致度合を調べることが行われている(いわゆるパターンマッチング法)。このパターンマッチング法において、上記基準画像データを単一のサンプル画像から構成してしまうと、良品と判定される基板がごく限られたものとなり、作業者の目視検査によって良品と判定されるべき基板までもが不良品として処分されてしまうおそれがある。このため、上記基準画像データの範囲にはある程度の幅をもたせることが望ましいが、この基準画像データの範囲をむやみに広くすると、今度は不良品と判定されるべきものが良品と判定されてしまう。
そこで、下記特許文献1では、1つあるいは複数個のサンプル画像を元として基準画像データを作成する際に、階層型ニューラルネットワーク技術の一種である自己組織化マップ(SOM)に基づいたプログラムを適用することが行われている。この特許文献1に開示された手法によれば、被検査物の特徴(代表的な統計データ)に応じた適正な範囲の基準画像データを得ることができる。
特開2003−044835号公報
しかしながら、上記特許文献1に開示された手法は、自己組織化マップ(SOM)に基づいた高度なプログラム処理を経て基準画像データを得るという構成であるため、ソフトウェアの製作に多大なコストを要するだけでなく、このソフトウェアを動かすためのハードウェア(メモリやCPU)の容量を大きくする必要が生じたり、処理時間が増大したりすることが避けられないという問題がある。
本発明は、上記のような事情に鑑みてなされたものであり、より簡単な構成で効率よく基板の外観検査を行うことを目的とする。
上記課題を解決するためのものとして、本発明は、基板の外観検査を行う方法であって、上記基板を撮像手段によって撮像する撮像工程と、上記撮像工程で得られた基板の撮像画像を、良品基板の基準としてあらかじめ記憶手段に記憶された基準画像データと比較して基板の良否を判定する処理を判定手段に実行させる自動判定工程と、上記自動判定工程において基板が不良品と判定されたときに、その基板の画像を表示手段に表示し、この表示手段に表示された差分画像に基づいて上記基板の良否を作業者に目視判定させる目視判定工程とを含み、上記目視判定工程において基板が良品と判定された場合に、その良品と判定された基板の撮像画像を上記基準画像データとして上記記憶手段に追加記憶させることを特徴とするものである(請求項1)。
本発明によれば、撮像手段により撮像された基板の撮像画像と、記憶手段に記憶された基準画像データとの比較に基づいて判定手段に基板の良否を判定させ、そこで基板が不良品と判定されたときに、さらに作業者に基板の目視判定を行わせるとともに、この目視判定の結果基板が良品と判定された場合に、その良品と判定された基板の撮像画像を上記基準画像データとして記憶手段に追加記憶させるようにしたため、検査が進行するにつれて作業者による目視判定の結果を順次基準画像データに反映させることができ、それによって得られた適正な範囲の基準画像データに基づいて上記判定手段による自動判定をより適正な精度で効率よく行うことができる。しかも、作業者の目視判定により良品と判定された基板の画像を順次記憶手段に追加記憶させるだけの簡単な構成で、上記基準画像データの範囲を適正化することができるため、複雑なプログラム処理を行う必要のあった上記特許文献1記載の手法と異なり、低コスト化や処理時間の短縮等の効果を得ることができる。
上記自動判定工程は、上記基板の撮像画像と基準画像データとを比較して差分をとり、その差分画像に基づいて上記基板の良否を判定する工程であることが好ましい(請求項2)。
このようにすれば、2種類の画像の差分をとるというだけの簡単な構成で、基板の良否判定を効率よく行うことができるという利点がある。
さらに、上記自動判定工程は、上記基板の撮像画像を複数区画に分割することによって得られた各区画の撮像画像と、同様に各区画ごとに記憶された基準画像データとを比較して差分をとり、それによって抽出された各区画の差分画像に基づいて上記基板の良否を判定する工程であることが好ましい(請求項3)。
このように基板の撮像画像と基準画像データとをそれぞれ複数区画に分割し、その各区画ごとに差分画像を抽出して基板の良否判定を行うようにした場合には、基板上に実装される電子部品の寸法が大きく異なる場合等においてもその大きさに応じた適正な精度で各部品の実装状態の良否を判定することができ、実装部品の如何によらず基板の外観検査を適正に行うことができる等の利点がある。
上記目視判定工程では、上記基板の撮像画像と基準画像データとの比較により得られた差分画像が表示手段に表示されるようになっており、この表示手段に表示される差分画像は、差分の特性に応じて異なる色に着色された差分画像であることが好ましい(請求項4)。
このようにすれば、目視判定時の視認性を効果的に向上させることができ、作業者による目視判定の効率化等を図ることができるという利点がある。
また、本発明は、基板の外観検査を行う装置であって、上記基板を撮像する撮像手段と、良品基板の基準となる基準画像データを記憶する記憶手段と、上記撮像手段により撮像された基板の撮像画像を、上記記憶手段にあらかじめ記憶された基準画像データと比較することにより上記基板の良否を判定する判定手段と、上記判定手段が基板を不良品と判定したときに、その基板の画像を表示する表示手段と、この表示手段に表示された画像に基づいて上記基板の良否を目視判定した作業者がその判定結果を入力するための入力手段と、この入力手段から入力された判定結果が良品であった場合に、その良品と判定された基板の撮像画像を上記基準画像データとして上記記憶手段に追加記憶させる制御手段とを備えることを特徴とするものである(請求項5)。
本発明によれば、簡単な構成で効率よく基板の外観検査を行うことができる。
上記構成においては、基板の着脱が行われるホームポジションと、上記撮像手段による基板の撮像が行われる検査ポジションとの間で基板を移動させる基板保持機構をさらに備え、この基板保持機構と上記各手段とが一体的に組み付けられて持ち運び可能とされていることが好ましい(請求項6)。
このように、ホームポジションと検査ポジションとの間で基板を移動させる基板保持機構を設けた場合には、基板をホームポジションにセットするだけで、その後の一連の動作、すなわち、基板の検査ポジションへの移動や基板撮像後のホームポジションへの復帰等の動作が自動的に実行されるため、外観検査装置の使い勝手を効果的に向上させることができる。しかも、この基板保持機構や上記各手段が一体的に組み付けられて持ち運び可能とされているため、装置の省スペース化等を図ることができるとともに、特に場所を問わずに様々な場所で外観検査装置を使用できるという利点がある。
また、本発明は、上記外観検査装置を複数台用いて基板の外観検査を行う方法であって、上記複数の外観検査装置の間で共用の記憶手段を設け、この共用の記憶手段に上記基準画像データをまとめて記憶させることを特徴とするものである(請求項7)。
本発明によれば、各外観検査装置で検査される基板を、共通の基準画像データに基づいて良否判定できるため、外観検査装置ごとに判定基準がばらつくことを回避しつつ効率よく基板の検査を行うことができるという利点がある。
以上説明したように、本発明によれば、より簡単な構成で効率よく基板の外観検査を行うことができる。
図1および図2は、本発明の一実施形態に係る基板の外観検査装置1を概略的に示している。これらの図に示すように、外観検査装置1は、全体が箱形を成し、その後方側を構成する後側部分2Aと、この後側部分2Aの前端下部から前方に延びる前側部分2Bとを具備した側面視A字型の外観形状を有している。このような外観検査装置1の外形は、後述する検査ユニット50等の内部部品を覆うケーシングCaにより形成されている。
この外観検査装置1のうち上記前側部分2Bには、プリント基板Pを装置内に出し入れするための出し入れ口6が設けられている。この出し入れ口6は、ケーシングCaに形成される開口部からなり、外観検査装置1の幅方向中央(図2では左右方向における中央)に設けられている。
上記出し入れ口6の上方であって後側部分2Aの前面部分には、液晶モニタ4(本発明にかかる表示手段に相当)が配置されている。この液晶モニタ4は、いわゆるタッチパネル型液晶表示器からなり、検査結果等の各種情報がこの液晶モニタ4上に表示されるとともに、モニタ表示に作業者が指先で触れることにより外観検査装置1に対して各種操作入力を行えるようになっている。
上記前側部分2Bのうち液晶モニタ4に並ぶ部分にはメンテナンス用の扉9が設けられている。この扉9は、上記ケーシングCaの一部が開閉可能に構成されたもので、必要に応じてこの扉9を開くことにより作業者が外観検査装置1の内部にアクセスして後述するチェックペン56の交換等を行えるようになっている。また、上記ケーシングCaのうち上面カバーCa1は取り外し可能とされており、この上面カバーCa1を取り外した状態で後述する撮像ユニット51のメンテナンス等を行えるようになっている。
図1に示すように、上記ケーシングCaには、その後側部分2Aの左右両側部に、凹部からなる取手部3が設けられており、この取手部3を手に掛けた状態で外観検査装置1を持ち運べるようになっている。なお、図1および図2において符号8は非常停止用ボタンである。
外観検査装置1は、その幅が装置後側から前側に向かって先細りに形成されている。詳しくは、上記ケーシングCaにより構成される外観検査装置1の側面のうち前側部分2Bの一方側の側面(図2では左側の側面)が前後方向に対して所定角度αだけ傾斜して設けられることにより外観検査装置1の幅が先細りに形成されている。これは複数台の外観検査装置1をコンパクトに設置して作業性を高めるための工夫であって、この点については後に詳述する。
図3および図4は、外観検査装置1の具体的な内部構成を示すための図である。本図に示すように、外観検査装置1の内部にはベースフレーム10が設けられており、このベースフレーム10には、プリント基板Pを保持してこれを移動させる基板保持機構24と、この基板保持機構24に保持された基板Pを撮像するための検査ユニット50等が組み付けられている。
上記ベースフレーム10は、前方側(液晶モニタ4が設置されている側)に至るほど高さが低くなる前下がりの傾斜面12aを有した基台部12と、この基台部12の左右両端からそれぞれ立ち上がる側壁部14とを一体に備えた構造を有しており、例えばアルミダイカスト等の鋳造品により構成されている。
上記基板保持機構24は、上記基台部12の傾斜面12a上に固定され、当該斜面12aに沿ってスライダ22を前後方向(以下、この方向をY軸方向という)に移動させるリニアモータ式の単軸ロボット20と、上記スライダ22に固定されるテーブル30とから構成されている。
上記テーブル30は、プリント基板Pを保持するもので、上記単軸ロボット20の作動に応じて、上記出し入れ口6に対向するホームポジション(図3の実線で示す位置)と、後述する撮像ユニット51に対向する検査ポジション(図3の二点鎖線で示す位置)とに亘ってY軸方向に移動可能に構成されている。そして、上記ホームポジションにおいてテーブル30に対するプリント基板Pの着脱が行われるとともに、そこから検査ポジションまでテーブル30が移動した状態で、撮像ユニット51によるプリント基板Pの撮像が行われるようになっている。
このテーブル30は、上記スライダ22の上面部に固定されたプレート32と、このプレート32に組み付けられて左右方向に延びる前後一対の基板保持フレーム36,38(以下、前側フレーム36,後側フレーム38ということがある)とを有しており、これらフレーム36,38の間にプリント基板Pが挟持されるようになっている。具体的には、両フレーム36,38のうちの後側フレーム38に、Y軸方向に変位可能でかつ圧縮コイルバネ等の弾性部材により前方側に付勢される可動部39が設けられ、この可動部39と前側フレーム36との対向する部分に、それぞれ階段状の基板受部が形成されている。そして、これら基板受部にプリント基板Pの前後縁部を載せ、当該基板Pを前側フレーム36と可動部39との間に嵌め込むと(図3参照)、圧縮コイルバネ等の弾性力により基板Pが両フレーム36,38の間に弾性的に挟み込まれ、これに応じてプリント基板Pが前側フレーム36を基準としてY軸方向に位置決めされた状態でテーブル30に保持されるようになっている。また、前側フレーム36の左右方向の一端側には、位置決めプレート36aが設けられており、このプレート36aにプリント基板Pの一端(左右方向の一端)が当接することにより、当該基板Pが左右方向(以下、X軸方向という)に位置決めされるようになっている。
なお、上記前側および後側フレーム36,38の間隔は基板サイズに応じて可変となっている。具体的には、上記プレート32の後端にエンドプレート34が固定され、このエンドプレート34と上記前側フレーム36とに亘って互いに平行な左右一対のガイドバー35が固定されている。そして、これらガイドバー35に対して上記後側フレーム38がスライド可能に装着されるとともに、上記ガイドバー35に対して後側フレーム38を任意の位置でロックできる図外のロック手段が設けられている。つまり、前側フレーム36を基準として後側フレーム38をスライドさせ、上記ロック手段により後側フレーム38を所望の位置でロックすることによって両フレーム36,38の間隔を変更できる構成となっている。
上記検査ユニット50は、スライダ42をX軸方向に移動させる単軸ロボット40と、この単軸ロボット40に上記スライダ42を介して組み付けられる撮像ユニット51とを備えている。
上記単軸ロボット40は、テーブル30駆動用の上記単軸ロボット20と同様に、リニアモータ式の単軸ロボットからなり、上記両側壁部14に亘って横架された状態でベースフレーム10に固定されている。
上記撮像ユニット51は、CCDあるいはCMOSイメージセンサ等のエリアセンサからなるカメラ52(本発明にかかる撮像手段に相当)と、被写体であるプリント基板Pに照明光を照射する照明装置54とを備えており、上記テーブル30に保持されたプリント基板Pを、その表面に対して直交する方向からカメラ52が撮像するように構成されている。この撮像ユニット51は、上記スライダ42のX軸方向の移動に伴い、基板供給ユニット24の単軸ロボット20上方にあたる撮像位置や、図4において二点鎖線および実線で示す位置に移動可能とされている。そして、撮像ユニット51は、通常時において上記撮像位置に保持されているとともに、後述するようなマーキングユニット55の交換時等に図4の二点鎖線で示す位置に移動したり、上面カバーCa1を取り外しての撮像ユニット51のメンテナンス時等に図4の実線で示す位置に移動したりする。
上記検査ユニット50には、検査結果等に応じてプリント基板Pに所定のマークを記入するマーキングユニット55が取り付けられている。このマーキングユニット55は、マークを記入するためのチェックペン56と、このチェックペン56を進退駆動する駆動機構とから構成されており、この駆動機構の作動に応じて、上記チェックペン56が、テーブル30に保持されたプリント基板Pに当接する作業位置(図3において二点鎖線で示す位置)と、この位置から上方に退避する退避位置(図3において実線で示す位置)とに亘って進退移動するようになっている。
上記マーキングユニット55は、図3および図4に示すように、連結アーム58を介して撮像ユニット51に固定されることにより、この撮像ユニット51と一体的にX軸方向に移動するように構成されている。なお、マーキングユニット55は、その左右方向の可動領域のうちの一端側(図4において二点鎖線で示す位置)において、図1および図2に示した扉9の裏側(後方側)に位置するようになっている。つまり、この位置にマーキングユニット55を配置した状態で扉9を開くことによって作業者が容易にチェックペン56の交換等を行えるようになっている。
上記ベースフレーム10の上方には、前後方向に延びるビーム19がさらに設けられている。このビーム19は、図5に示すように、ベースフレーム10の両側壁部14に亘って固定された前後一対の門型のサブフレーム16,18に固定されている。そして、このビーム19の先端に上記液晶パネル4がチルト可能に支持されている。具体的には、上記ビーム19の前端部に、X軸方向に延びる支軸45を支点に回動可能な状態でジョイント46が連結され、このジョイント46に上記液晶モニタ4が組み付けられることにより、この液晶モニタ4の鉛直軸に対する傾斜角が可変(前後方向に姿勢変更可能)となるように構成されている。
また、図3に示すように、上記基板保持機構24の設置部の上方であってかつ上記検査ユニット50の後方側のスペースには、検査ユニット50における上記単軸ロボット40の駆動制御を行うドライバ66が配置されている。具体的には、ベースフレーム10の両側壁部14およびサブフレーム18に左右一対の側板67が固定されるとともにこれら側板67間に支持プレート68が横架され、この支持プレート68上に上記ドライバ66が固定されている。
一方、上記ベースフレーム10における基台部12の内部には、外観検査装置1を統括的に制御するコントロールユニット60や、上記基板保持機構24の単軸ロボット20用のドライバ62等が配設されている。すなわち、図6に示すように、上記基台部12の内部には下方および後方に開口する断面略三角形状の空間15が形成されており、この空間15に上記コントロールユニット60やドライバ62が配設されている。なお、図3および図6において符号64は、上記コントロールユニット60等を冷却するための冷却ファンである。
上記コントロールユニット60、ドライバ62、および冷却ファン64は、外観検査装置1の下面部および後面部を主に覆うアンダカバー65に一体的に固定されており、このアンダカバー65がベースフレーム10の基台部12に対して下側から組み付けられた状態で、上記各デバイス60,62,64がこの基台部12における上記空間15に収容されるようになっている。
上記コントロールユニット60は、論理演算を実行するCPU、そのCPUを制御する種々のプログラムなどを記憶するROM、装置動作中に種々のデータを一時的に記憶するRAM、各種データやソフトを記憶するHDD等から構成されている。そして、図7のブロック図に示すように、このコントロールユニット60には、基板保持機構24および検査ユニット50用の各単軸ロボット20,40、撮像ユニット51(カメラ52および照明装置54)、マーキングユニット55、および液晶モニタ4、その他図外の各種センサ類等が電気的に接続されている。なお、このうち単軸ロボット20,40は、上記ドライバ62,66を介してそれぞれコントロールユニット60に接続されている。そして、コントロールユニット60は、予め記憶された動作プログラムに従ってプリント基板Pに対する一連の検査作業を進めるべく、上記単軸ロボット20,40や撮像ユニット51等の動作を統括的に制御するとともに、上記カメラ52により撮像された画像に基づいてプリント基板Pの良否を判定したり、その判定結果に応じて上記液晶モニタ4の表示内容を制御したりする等の動作を行うように構成されている。
以上のように構成された外観検査装置1では、例えば以下のようにしてプリント基板Pの検査が実行される。
外観検査装置1が起動されると、試験が開始されるまで装置1はスタンバイ状態に保たれる。このスタンバイ状態では、上記テーブル30がホームポジションにセットされるとともに、液晶パネル4に所定のメニュー画面が表示される。
この状態で、作業者が検査対象のプリント基板Pをテーブル30にセットし、さらに液晶パネル4に触れて上記メニュー画面から「検査開始」を選択すると、当該基板Pの検査が開始される。なお、上記テーブル30へのプリント基板Pのセットは、プリント基板Pをその被検査面(部品が実装された側の面)を上向きにした状態で基板保持フレーム36,38の間に嵌め込むことにより行う。この際、位置決めプレート36aにプリント基板Pが当接することによりその位置決めがなされる。
そして、検査が開始されると、単軸ロボット20の作動によりテーブル30がY軸方向に移動するとともに、もう一方の単軸ロボット40の作動により撮像ユニット51がX軸方向に移動し、これに応じて撮像ユニット51のカメラ52がプリント基板Pに対向する位置に位置決めされ、上記照明装置54による照明光の下、このカメラ52によるプリント基板Pの撮像が行われる。
このようにしてカメラ52によるプリント基板Pの撮像が完了すると、その撮像画像に基づいて上記コントロールユニット60がプリント基板Pの外観(より具体的にはプリント基板P上の部品の実装状態)の良否を判定する。そして、ここでの判定結果が不良品であると、コントロールユニット60は、その基板Pの画像を液晶パネル4に表示させ、この液晶パネル4に表示された基板Pの画像に基づいて作業者に目視判定を行わせる。そしてさらに、ここでの目視判定で再度不良品と判定された場合、すなわち、上記コントロールユニット60による自動判定と作業者による目視判定との両方でプリント基板Pが不良品と判定された場合に、プリント基板Pがはじめて不良品として処理されることになる。なお、上記コントロールユニット60によるプリント基板Pの良否判定動作の具体的内容については後で詳述する。
このようにしてプリント基板Pの良否判定動作が完了すると、テーブル30がホームポジションに戻されるとともに、作業者の手によりプリント基板Pがテーブル30から取り出され、このプリント基板Pに対する検査が終了する。そして、以上のような検査手順が繰り返し行われることにより、複数のプリント基板Pに対して次々と外観検査が実行される。なお、検査終了後、作業者が液晶パネル4に対して所定のタッチ操作を行うと、当該液晶パネル4の表示がメニュー画面に戻り、外観検査装置1が上記のスタンバイ状態にリセットされるようになっている。
次に、上記コントロールユニット60による良否判定動作等の具体的内容について説明する。上記カメラ52によりプリント基板Pの被検査面が撮像されると、コントロールユニット60は、まず、上記基板Pの撮像画像を、良品基板の基準となる基準画像データと比較する処理を行う。具体的に、コントロールユニット60は、その内部に設けられた記憶部61(図7)に上記基準画像データを記憶しており、この基準画像データと、上記カメラ52によるプリント基板Pの撮像画像とを比較して差分をとり、その差分画像に基づいてプリント基板Pの良否を判定する。すなわち、プリント基板Pの撮像画像と基準画像データとを比較することによってプリント基板Pの良否を判定する判定手段が、上記コントロールユニット60により構成されている。なお、上記差分画像の抽出は、例えばプリント基板Pの上面(被実装面)の複数個所に離間して設けられた位置合わせ用のフィデューシャルマークを、プリント基板Pの撮像画像と基準画像データとの間で一致させ、それによって両画像を位置合わせした状態で実行される。
上記記憶部61に記憶されている基準画像データは、最初は一つまたは複数の良品基板のサンプル画像からなるが、後述するように、検査が進行するにつれてその検査結果を反映して適宜追加されるようになっている。すなわち、基準画像データは、少なくともある程度の数のプリント基板Pが検査された状態において複数のデータを有するように構成されている。そして、このように基準画像データが複数である場合、プリント基板Pは、このうちのいずれかの基準画像データとの比較において良品と判定できる状態であれば良品として扱われる。したがって、基準画像データの数(範囲)が多いほど、良品と判定されるプリント基板Pの範囲は広くなる。
図8は、上記のような画像処理の内容を模式的に説明するための図であり、同図(a)はカメラ52により撮像されたプリント基板Pの撮像画像、同図(b)は基準画像データ、同図(c)はコントロールユニット60による画像処理を経て得られた差分画像を示している。これらの図に示すように、プリント基板P上には各種電子部品が実装されており、この電子部品の実装位置や種類等が、図8(a)の撮像画像と同図(b)の基準画像データとの間で相違した場合に、これに応じた差分要素が図8(c)の差分画像に表示されるようになっている。例えば、図8(a)における電子部品aと、同図(b)における電子部品a’とは、その実装位置にずれが存在するため、同図(c)の差分画像には、各電子部品a,a’の位置ずれに応じた差分要素αが表示されることになる。また、図8(a)における電子部品bと、同図(b)における電子部品b’とは、その部品の種類が異なっているため、同図(c)の差分画像には、各電子部品b,b’の表面色の相違等に応じた差分要素βが表示されることになる。なお、図8(c)の差分画像には、上記のような差分要素α,β以外にも、符号εで示すような微小な差分要素も表示されている。
所定の画像処理を経て上記図8(c)に示すような差分画像を抽出したコントロールユニット60は、次いで、上記各差分要素(α,βなど)の面積があらかじめ定められた上限値以下であるか否かを判定し、上限値以下であった場合にはプリント基板Pを良品と判定するとともに、上限値よりも大きかった場合には不良品と判定する。以後、当実施形態では、上記差分要素の面積の上限値を上限差分面積Aと称する。
そして、以上のような画像処理によるプリント基板Pの外観検査の結果、プリント基板Pが不良品と判定されると、そのプリント基板Pの画像が液晶モニタ4に表示され、最終的な判断が作業者の目視判定に委ねられることになる。
図9は、作業者の目視判定のための画像として上記液晶モニタ4に表示されるプリント基板Pの画像を示している。本図に示すように、液晶モニタ4には、図8(a)に示したプリント基板Pの撮像画像に、図8(c)の差分画像を足し合わせた画像が表示される。この際、面積が上記上限差分面積A以下であった差分要素(図8(c)のε)は省略されるとともに、上限差分面積Aよりも大きい差分要素α,βについては、その差分の特性に応じて異なる色に着色された状態で表示される。これは、作業者の目視判定をより容易化するための措置であり、例えば、電子部品の位置ずれにより生じた差分要素αについては青色、電子部品の種類が異なるために生じた差分要素βについては赤色、などのようにして着色される。
そして、作業者は、このような液晶モニタ4の表示画面を見ながら、プリント基板Pの目視判定を行うとともに、その結果を液晶モニタ4のタッチ操作を通じて入力する。すなわち、作業者が目視判定の結果を入力する入力手段が、上記液晶モニタ4によって構成されている。
上記目視判定の結果プリント基板Pが再度不良品と判定された場合には、上記マーキングユニット55が作動してプリント基板PにNGマークが付与されるとともに、警告用のアラームが発せられる。一方、上記目視判定によってプリント基板Pが良品と判定された場合には、コントロールユニット60が、このプリント基板Pの撮像画像を、上記基準画像データとして記憶手段61に追加記憶させる。すなわち、作業者による目視判定によって良品と判定されたプリント基板Pの撮像画像を上記基準画像データに追加する制御手段が、上記コントロールユニット60によって構成されている。これにより、以後の検査において、同じような部品実装状態にあるプリント基板Pは、この追加された基準画像データに基づいたコントロールユニット60による自動判定によって良品と判定されることとなり、同様の基板Pに対して作業員は目視判定をいちいち実施する必要がなくなる。そして、プリント基板Pを数多く検査するほど、上記のように基準画像データとして追加されるプリント基板Pの画像が増えるため、これに伴って作業員が目視判定を行う頻度が低下することになる。
ここで、以上のようなプリント基板Pの良否判定において、図8および図9の例では、プリント基板Pの全体画像を用いて判定を行ったが、例えば以下のように、プリント基板Pの画像を複数の区画に分割した上で良否判定を行うことも可能である。以後は、そのような例に沿って当実施形態を説明する。ここでは、まずコントロールユニット60による自動判定において、プリント基板Pの撮像画像が、図10に示すような複数の区画p1,p2・・に分割される。一方、これに対応して、上記基準画像データは、各区画p1,p2・・ごとの基準画像としてそれぞれ独立して記憶部61に記憶されている。そして、上記分割された撮像画像の1つ1つの区画画像と、対応する区画の基準画像データとがそれぞれ比較されることにより、各区画p1,p2・・ごとの差分画像が抽出されてその差分要素の面積が算出され、この面積があらかじめ定められた上限差分面積A以下であるか否かによってプリント基板Pの良否判定が行われる。なお、上記撮像画像の分割は、プリント基板P上の複数個所に離間して設けられた位置合わせ用のフィデューシャルマークを読み取り、このフィデューシャルマークを基準に位置設定された各区画p1,p2・・の画像を上記撮像画像から切り出すことにより行う。そして、このようにして得られた各区画の撮像画像と、対応する区画の基準画像データとをそれぞれ位置合わせした状態で(例えば区画の対角の隅位置をそれぞれ一致させた状態で)比較することにより、各区画p1,p2・・ごとに差分画像を抽出する。
上記各区画p1,p2・・の数(画像の分割数)やその大きさは、プリント基板Pのサイズやその上の部品の実装状態等に応じて適宜設定されるようになっている。例えば、図10の例では略同じサイズの部品が実装されているために、プリント基板Pの撮像画像はほぼ一様な大きさの区画(p1〜pn)に分割されたが、プリント基板P上にサイズの大きく異なる部品が実装されている場合には、大きいサイズの部品が実装された箇所の画像ほど大まかに分割され、小さいサイズの部品が実装された箇所の画像ほど細かく分割されるようになっている。そして、これに応じて上記上限差分面積Aの値が、大部品の場合ほど大きく、小部品の場合ほど小さく設定される。すなわち、一般に大部品についてはそれほど高い実装精度が求められない一方、小部品については相対的に高い実装精度が求められるため、小部品の画像ほど細分化して差分を厳密に評価するものである。
そして、上記のような画像処理による良否判定において、コントロールユニット60は、各区画p1,p2・・のうちのいずれかの区画において上記上限差分面積Aよりも大きい差分要素を確認した場合に、プリント基板Pを不良品と判定する。すると、次に行われる作業者による目視判定において、液晶モニタ4には、上限差分面積Aよりも大きい差分要素が確認された区画の画像(その区画の撮像画像に、対応する区画の差分画像を足し合わせたもの)が表示され、作業者はその画像を見ながら目視判定を行う。このとき、液晶モニタ4には、細かく分割された区画の画像ほど拡大して表示される。これにより、目視判定時の視認性が良好に確保される。
次に、以上のように構成された外観検査装置1におけるコントロールユニット60の制御動作を、図11〜図13に示すフローチャートに基づいて説明する。この制御動作がスタートすると、コントロールユニット60は、基板保持機構24のテーブル30にプリント基板Pがセットされかつ液晶パネル4に検査開始の指示が入力されるのを待ってから(ステップS1,S3)、上記プリント基板Pを検査ポジションに移動させる制御を実行する(ステップS5)。具体的には、ホームポジションにあるテーブル30(図3の実線参照)にプリント基板Pが出し入れ口6を通じてセットされ、かつ液晶パネル4がタッチ操作されてそのメニュー画面から「検査開始」が選択されたことが確認されたときに、単軸ロボット20を作動させて上記テーブル30をY軸方向に移動させ、これに応じてプリント基板Pを図3の二点鎖線で示す検査ポジションに移動させる。
次いで、コントロールユニット60は、撮像ユニット51のカメラ62によりプリント基板Pを撮像する制御を実行する(ステップS7)。具体的には、単軸ロボット40を作動させて上記検査ポジションにあるプリント基板Pの上方に撮像ユニット51を位置決めするとともに、照明装置54に照明光を照射させてプリント基板Pを照らし、その状態でカメラ52に制御信号を出力してプリント基板Pの撮像を行わせる。
そして、このプリント基板Pの撮像画像を後のステップで分割する際の分割数として画像分割数nを決定するとともに(ステップS9)、その分割画像からプリント基板Pの良否を判定する際の基準となる上限差分面積Aを決定する制御を実行する(ステップS11)。これらの値は、プリント基板Pの大きさや部品の実装状態等に応じて分類されたプリント基板Pの種類ごとにあらかじめ定められて記憶部61に記憶されている。なお、上記上限差分面積Aの値については、一定値に設定されたり、部品の実装状態によっては部品ごとあるいは区画ごとに増減設定されたりする。その後、コントロールユニット60は、上記ステップS9で決定された画像分割数nに応じて、上記カメラ52により撮像されたプリント基板Pの撮像画像を分割する制御を実行する(ステップS13)。この処理により、撮像画像が例えば図10のように分割され、1番目〜n番目までの区画(p1,p2・・,pn)の画像が形成される。そして、後のステップで行われる差分面積の判定処理を最初に行うべき区画の番号としてi=1がセットされる(ステップS15)。
次いで、コントロールユニット60は、その記憶部61からi番目の区画の基準画像データを読み出すとともに(ステップS17)、この基準画像データと、上記ステップS13で分割されたプリント基板Pの各区画の撮像画像とを比較して差分をとることにより、各区画(p1,p2・・)内の差分要素の面積sを算出する制御を実行する(ステップS19)。そして、この面積sが、上記ステップS11で求めた上限差分面積A以下である否かを判定する(ステップS21)。
このステップS21でYESと判定されて対象区画内の差分要素の面積sが上記上限差分面積A以下であることが確認された場合、すなわち、その区画内の電子部品に大きな位置ずれ等の不具合が存在しないことが確認された場合には、次のステップS23に移行し、全ての区画について上記ステップS21における差分面積の判定処理が実行されたかどうかを判定する。具体的には、これまでに差分面積の判定処理を行った区画の数が、上記ステップS9で決定した画像分割数nに達したか否か(つまりi=nであるか否か)を判定する。そして、このステップS23でNOと判定されて未だ全ての区画について差分面積の判定処理が行われていないことが確認された場合には、当該判定処理の対象を次の区画に移し(ステップS25)、全ての区画について差分面積の判定処理が行われるまで当該処理を繰り返す。
上記ステップS21でNOと判定されて対象区画内の差分要素の面積sが上記上限差分面積Aよりも大きいことが確認された場合、すなわち、その区画内の電子部品の実装位置が大きくずれている等の不具合が存在する可能性が確認された場合には、次のステップS27に移行し、対応する区画の基準画像データが他に存在するか否かを判定する。そして、ここでYESと判定されて他の基準画像データが存在することが確認された場合には、上記ステップS15に戻って、その新たな基準画像データを基準として上記のような差分面積の判定処理を繰り返す。一方、上記ステップS27でNOと判定されて他の基準画像データが存在しないことが確認された場合には、その区画に対応するNG発生フラグFi(そのデフォルト値は0)に「1」を入力する制御を実行し(ステップS29)、上記ステップS23に戻る。すなわち、ここでNG発生フラグFi=1であるということは、プリント基板Pのi番目の区画の撮像画像と、同じくi番目の区画の基準画像データとして記憶部61に記憶されている全てのデータとの比較において、ことごとく上記上限差分面積Aよりも大きい差分要素が存在したということであり、このi番目の区画の差分画像に基づくプリント基板Pの判定結果(自動判定結果)が不良品であるということを表している。
また、上記ステップS23でYESと判定されて全区画について差分面積の判定処理が終了したことが確認された場合には、次のステップS31に移行して区画の番号をi=1にリセットし、その1番目の区画(p1)からn番目の区画(pn)まで順番に、各区画に対応するNG発生フラグFiが1であるか否かが判定される(ステップS31)。そして、ここでNO(Fi=0)と判定されると、ステップS32に移行してi<nであることを確認した後に(ステップS32でYES)、区画番号iに1を加え(ステップS33)、その新たな区画に対して上記ステップS31からの処理を繰り返す。一方、上記ステップS31でYESと判定されてFi=1であることが確認された場合、すなわち、上限差分面積Aよりも大きい差分要素を有する区画が存在することが確認された場合には、そのFi=1であった区画について、液晶モニタ4に目視判定用の画像を表示させる制御を実行する(ステップS34)。具体的には、プリント基板Pのi番目の区画の撮像画像に、上記ステップS19で抽出したi番目の区画の差分画像を足し合わせ、さらに上述したような着色処理(差分の特性に応じた色に差分要素を着色する処理)等を施したものを、液晶モニタ4に表示させる。そして、この液晶モニタ4に表示されたi番目の区画の画像に基づいて行われた目視判定の結果がOK(良)であったか否かを判定する(ステップS35)。具体的には、作業者による液晶パネル4のタッチ操作を通じて判定結果がOKであることを示す操作信号が液晶パネル4から入力されたか否かを判定する。
このステップS35でNOと判定されて上記区画に関し作業者による目視判定の結果がNG(不良)であることが確認された場合には、警報用のアラームを発するとともに(ステップS41)、上記マーキングユニット55を作動させてプリント基板PにNGマークを付与する制御を実行する(ステップS42)。そして、液晶モニタ4にプリント基板Pが不良品である旨を表示した後に(ステップS43)、プリント基板Pの着脱が可能なホームポジションに上記テーブル30を復帰させる制御を実行する(ステップS44)。
一方、上記ステップS35でYESと判定されて作業者による目視判定の結果がOKであることが確認された場合には、このOKと判定された区画の撮像画像を、その区画の基準画像データとして記憶部61に区画番号と対応付けて追加記憶させる制御を実行する(ステップ37)。その後、上記ステップS32に移行し、以上の処理が全ての区画について実行されたか否かを判定する。
そして、上記ステップS32でYES(i<n)と判定されて未処理の区画が未だ残っていることが確認された場合には、区画番号iに1を加え(ステップS33)、その新たな区画について上記ステップS31以降の処理を繰り返す。
一方、上記ステップS32でNOと判定されてi=nであることが確認された場合、すなわち、i=1〜nの全ての区画についてNG発生フラグFi=0であったか、もしくは、Fi=1の区画(NGの区画)が存在したとしても作業者の目視判定の結果OKとされたということが確認された場合には、液晶パネル4にプリント基板Pが良品である旨を表示した後に(ステップS38)、上記ステップS44に移行してプリント基板Pをホームポジションに復帰させる。
なお、以上のフローチャートでは、プリント基板Pの画像を複数の区画p1,p2・・に分割して各区画ごとに差分面積の判定等の処理を行ったが、先にも述べた通り、プリント基板P全体の撮像画像と、これに対応したプリント基板P全体の基準画像データとを比較して差分画像を抽出し、その差分要素の面積が上限値以下であるか否かを判定することにより、プリント基板Pの良否を判定するようにしてもよい。そして、上記差分面積が上限値以上であれば、上記プリント基板P全体の撮像画像に、上記差分画像を加えたものを液晶モニタ4に表示して作業者に目視判定を行わせ、この目視判定の結果プリント基板Pが良品と判定されたときに、その良品とされたプリント基板P全体の撮像画像を、新たな基準画像データとして記憶部61に追加記憶させる。
以上説明したような制御動作により行われるプリント基板Pの外観検査には、ある程度の時間を要するため、通常は、上記外観検査装置1を複数台並べて設置し、各外観検査装置1に時間差を持たせて基板Pの検査を行うようにする。これにより、一人の作業者でプリント基板Pの検査を効率的に進めることができる。この場合、図14に示すように、複数台(図例では5台)の外観検査装置1,1・・を扇形状に並べて配置することにより、作業者はより効率よく検査を行うことが可能になる。すなわち、外観検査装置1は、上記の通り前側部分2Bの幅が先窄まりに形成されているため、この部分を互いに当接させた状態で各外観検査装置1,1・・を並べることにより、作業者の立ち位置を中心とした扇形状に複数の外観検査装置1,1・・を配置することができる。
そして、上記のように外観検査装置1を複数台用いてプリント基板Pの検査を行う場合には、これら複数の外観検査装置1,1・・を互いにネットワークケーブル等で接続し、このうちの1台の外観検査装置1に共用の記憶部61を設け、この共用の記憶部61に、良品基板の基準となる上記基準画像データをまとめて記憶させるようにするとよい。このようにすれば、各外観検査装置1,1・・で検査されるプリント基板Pを、共通の基準画像データに基づいて良否判定できるため、外観検査装置1ごとに判定基準がばらつくことを回避しつつ効率よくプリント基板Pの検査を行うことができるという利点がある。
以上説明したように、上記実施形態によれば、カメラ52により撮像されたプリント基板Pの撮像画像と、記憶部61に記憶された基準画像データとの比較に基づいてコントロールユニット60にプリント基板Pの良否を判定させ、そこで基板Pが不良品と判定されたときに、さらに液晶モニタ4にその基板Pの画像を表示して作業者に目視判定を行わせるとともに、この目視判定の結果プリント基板Pが良品と判定された場合に、その良品と判定されたプリント基板Pの撮像画像を上記基準画像データとして記憶部61に追加記憶させるようにしたため、検査が進行するにつれて作業者による目視判定の結果を順次基準画像データに反映させることができ、それによって得られた適正な範囲の基準画像データに基づいて上記コントロールユニット60による自動判定をより適正な精度で効率よく行うことができる。
すなわち、上記実施形態では、最初のうちは少ない基準画像データに基づいてコントロールユニット60がプリント基板Pの良否を判定するため、このコントロールユニット60により良品と判定されるプリント基板Pの範囲は比較的狭いものとなるが、ある程度の数の基板Pが検査されると、作業者による目視判定により良品と判定された(コントロールユニット60での判定結果が作業者による目視判定で覆されて良品とされた)プリント基板Pの画像が、順次基準画像データとして追加されることとなるため、それ以後は、上記目視判定による判定結果が反映された適正な範囲の基準画像データに基づいてコントロールユニット60が基板Pの良否を自動判定するようになり、作業者が実際に目視判定するのと変わらない適正な精度で効率よくプリント基板Pを検査することが可能になる。
しかも、上記実施形態によれば、作業者の目視判定により良品と判定されたプリント基板Pの画像を順次記憶部61に追加記憶させるだけの簡単な構成で、上記基準画像データの範囲を適正化することができるため、複雑なプログラム処理を行う必要のあった従来技術と異なり、装置1の低コスト化や処理時間の短縮等の効果を得ることができる。
また、上記実施形態のように、プリント基板Pの撮像画像と基準画像データとの比較により得られた差分画像に基づいてプリント基板Pの良否を判定するようにした場合には、2種類の画像の差分をとるというだけの簡単な構成で、プリント基板Pの良否判定を効率よく行うことができるという利点がある。
また、上記実施形態のように、プリント基板Pの撮像画像を複数区画に分割し、この分割された各区画の撮像画像と、これに対応して各区画ごとに記憶された基準画像データとを比較することにより、各区画ごとに差分画像を抽出してプリント基板Pの良否判定を行うようにした場合には、プリント基板P上に実装される電子部品の寸法が大きく異なる場合等においてもその大きさに応じた適正な精度で各部品の実装状態の良否を判定することができ、実装部品の如何によらずプリント基板Pの外観検査を適正に行うことができる等の利点がある。
また、上記実施形態のように、作業者による目視判定用の画像として上記差分画像を液晶モニタ4に表示させる際に、差分の特性に応じて(例えばプリント基板P上の実装部品の位置ずれにより生じた差分であるのか、部品の種類が異なるために生じた差分であるのかなどに応じて)その差分要素を異なる色に着色するようにした場合には、目視判定時の視認性を効果的に向上させることができ、作業者による目視判定の効率化等を図ることができるという利点がある。
また、上記実施形態のように、プリント基板Pの着脱が行われるホームポジションと、カメラ52によるプリント基板Pの撮像が行われる検査ポジションとの間で基板Pを移動させる基板保持機構24を外観検査装置1の内部に設けた場合には、プリント基板Pをホームポジションにセットするだけで、その後の一連の動作、すなわち、プリント基板Pの検査ポジションへの移動や撮像後のホームポジションへの復帰等の動作が自動的に実行されるため、外観検査装置1の使い勝手を効果的に向上させることができる。しかも、この基板保持機構24や上記カメラ52、コントロールユニット60等の各種機器が共通のベースフレーム10を介して一体的に組み付けられて持ち運び可能とされているため、装置の省スペース化等を図ることができるとともに、特に場所を問わずに様々な場所で外観検査装置1を使用できるという利点がある。
なお、上記実施形態では、作業者による目視判定により良品と判定されたプリント基板Pの撮像画像を、基準画像データとして記憶部61に順次追加記憶させるようにしたが、ある程度の数(例えば100とか200)の撮像画像が追加された時点で、それ以降のデータの追加を実行しないように構成してもよい。このようにすれば、むやみに基準画像データが増大するのを防止して効率のよい検査を継続することができる。
また、上記実施形態では、作業者による目視判定の結果を液晶モニタ4に対する作業者のタッチ操作により判断するようにしたが、所定の時間が経過するまでの間作業者による操作がなかった場合には、その時点でプリント基板Pを不良品と判定して次の処理に移るようにしてもよい。
また、上記実施形態では、液晶モニタ4をタッチパネル型の液晶表示器とすることにより、画像を表示する表示手段と作業者の操作を受け付ける入力手段とを同じ液晶モニタ4によって構成したが、入力手段として上記液晶モニタ4とは別のキーボード等を設けることにより、入力手段と表示手段とを別々に構成するようにしてもよい。
また、上記実施形態では、カメラ52によりプリント基板P全体の撮像画像を得てからこれを各区画p1,p2・・に分割するようにしたが、撮像ユニット51をX方向に順次移動させながらテーブル30をY方向に移動させ、これに応じてカメラ52を各区画p1,p2・・に対向する位置に順次位置決めしながら撮像を行うことにより、上記各区画p1,p2・・の撮像画像を得るようにしてもよい。このようにすれば、より優れた解像度の画像を得ることができるため、特に小さい部品が実装されたプリント基板Pに対しても精度よく外観検査を行うことが可能になる。
なお、本発明の検査方法および装置において検査対象となる基板は、プリント基板に限らず、例えばリードフレームに回路が形成された基板等であってもよい。
4 液晶モニタ(表示手段、入力手段)
24 基板保持機構
52 カメラ(撮像手段)
60 コントロールユニット(判定手段、制御手段)
61 記憶部(記憶手段)
P プリント基板(基板)
24 基板保持機構
52 カメラ(撮像手段)
60 コントロールユニット(判定手段、制御手段)
61 記憶部(記憶手段)
P プリント基板(基板)
Claims (7)
- 基板の外観検査を行う方法であって、
上記基板を撮像手段によって撮像する撮像工程と、
上記撮像工程で得られた基板の撮像画像を、良品基板の基準としてあらかじめ記憶手段に記憶された基準画像データと比較して基板の良否を判定する処理を判定手段に実行させる自動判定工程と、
上記自動判定工程において基板が不良品と判定されたときに、その基板の画像を表示手段に表示し、この表示手段に表示された画像に基づいて上記基板の良否を作業者に目視判定させる目視判定工程とを含み、
上記目視判定工程において基板が良品と判定された場合に、その良品と判定された基板の撮像画像を上記基準画像データとして上記記憶手段に追加記憶させることを特徴とする基板の外観検査方法。 - 請求項1記載の基板の外観検査方法において、
上記自動判定工程は、上記基板の撮像画像と基準画像データとを比較して差分をとり、その差分画像に基づいて上記基板の良否を判定する工程であることを特徴とする基板の外観検査方法。 - 請求項2記載の基板の外観検査方法において、
上記自動判定工程は、上記基板の撮像画像を複数区画に分割することによって得られた各区画の撮像画像と、同様に各区画ごとに記憶された基準画像データとを比較して差分をとり、それによって抽出された各区画の差分画像に基づいて上記基板の良否を判定する工程であることを特徴とする基板の外観検査方法。 - 請求項2または3記載の基板の外観検査方法において、
上記目視判定工程では、上記基板の撮像画像と基準画像データとの比較により得られた差分画像が表示手段に表示されるようになっており、
この表示手段に表示される差分画像は、差分の特性に応じて異なる色に着色された差分画像であることを特徴とする基板の外観検査方法。 - 基板の外観検査を行う装置であって、
上記基板を撮像する撮像手段と、
良品基板の基準となる基準画像データを記憶する記憶手段と、
上記撮像手段により撮像された基板の撮像画像を、上記記憶手段にあらかじめ記憶された基準画像データと比較することにより上記基板の良否を判定する判定手段と、
上記判定手段が基板を不良品と判定したときに、その基板の画像を表示する表示手段と、
この表示手段に表示された画像に基づいて上記基板の良否を目視判定した作業者がその判定結果を入力するための入力手段と、
この入力手段から入力された判定結果が良品であった場合に、その良品と判定された基板の撮像画像を上記基準画像データとして上記記憶手段に追加記憶させる制御手段とを備えることを特徴とする基板の外観検査装置。 - 請求項5記載の基板の外観検査装置において、
基板の着脱が行われるホームポジションと、上記撮像手段による基板の撮像が行われる検査ポジションとの間で基板を移動させる基板保持機構をさらに備え、
この基板保持機構と上記各手段とが一体的に組み付けられて持ち運び可能とされていることを特徴とする基板の外観検査装置。 - 請求項5または6記載の外観検査装置を複数台用いて基板の外観検査を行う方法であって、
上記複数の外観検査装置の間で共用の記憶手段を設け、この共用の記憶手段に上記基準画像データをまとめて記憶させることを特徴とする基板の外観検査方法。
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101826289A (zh) * | 2010-05-11 | 2010-09-08 | 友达光电股份有限公司 | 测试装置 |
JP2011232303A (ja) * | 2010-04-30 | 2011-11-17 | Ricoh Elemex Corp | 画像検査方法及び画像検査装置 |
JP2013044663A (ja) * | 2011-08-25 | 2013-03-04 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 基板検査用マスタデータ作成方法 |
CN105025228A (zh) * | 2015-07-22 | 2015-11-04 | 深圳市万姓宗祠网络科技股份有限公司 | 一种根据画面状态连续记录视频、影像的方法 |
JP2017150927A (ja) * | 2016-02-24 | 2017-08-31 | Juki株式会社 | 検査装置、実装装置、検査方法及びプログラム |
WO2018066576A1 (ja) * | 2016-10-06 | 2018-04-12 | 川崎重工業株式会社 | 外観検査方法 |
JP2019039727A (ja) * | 2017-08-23 | 2019-03-14 | 富士通株式会社 | 画像検査装置、画像検査方法および画像検査プログラム |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5190433B2 (ja) | 2009-10-27 | 2013-04-24 | 日東電工株式会社 | 配線回路基板の検査方法、配線回路基板の製造方法および配線回路基板の検査装置 |
CN102901445B (zh) * | 2012-09-28 | 2015-06-10 | 华中科技大学 | 基于光热成像的微电子封装工艺质量检测装置及方法 |
JP6303352B2 (ja) * | 2013-09-18 | 2018-04-04 | 株式会社デンソーウェーブ | 外観検査システム |
CN109411396B (zh) * | 2018-11-29 | 2024-06-04 | 天津中环领先材料技术有限公司 | 一种六轴机器人辅助目检硅片装置及辅助检测方法 |
CN112449495B (zh) * | 2019-08-27 | 2021-11-30 | 南通深南电路有限公司 | 一种钻孔检测方法以及钻孔检测设备 |
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2006
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-
2007
- 2007-08-28 CN CNA2007800323858A patent/CN101512325A/zh active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011232303A (ja) * | 2010-04-30 | 2011-11-17 | Ricoh Elemex Corp | 画像検査方法及び画像検査装置 |
CN101826289A (zh) * | 2010-05-11 | 2010-09-08 | 友达光电股份有限公司 | 测试装置 |
JP2013044663A (ja) * | 2011-08-25 | 2013-03-04 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | 基板検査用マスタデータ作成方法 |
CN105025228A (zh) * | 2015-07-22 | 2015-11-04 | 深圳市万姓宗祠网络科技股份有限公司 | 一种根据画面状态连续记录视频、影像的方法 |
JP2017150927A (ja) * | 2016-02-24 | 2017-08-31 | Juki株式会社 | 検査装置、実装装置、検査方法及びプログラム |
WO2018066576A1 (ja) * | 2016-10-06 | 2018-04-12 | 川崎重工業株式会社 | 外観検査方法 |
CN109844504A (zh) * | 2016-10-06 | 2019-06-04 | 川崎重工业株式会社 | 外观检查方法 |
JP2019039727A (ja) * | 2017-08-23 | 2019-03-14 | 富士通株式会社 | 画像検査装置、画像検査方法および画像検査プログラム |
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CN101512325A (zh) | 2009-08-19 |
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