TWI418803B - Display panel module to the burner test equipment - Google Patents

Description

顯示面板模組之多向燒機測試設備

本發明係關於一種燒機測試設備，且特別是有關於一種顯示面板模組之多向燒機測試設備。

環顧目前之電子裝置，特別是具有顯示面板模組之電子裝置，多半具有複雜之電子運算系統，藉以對複雜之系統軟體與應用軟體進行運算。然而，由於運算內容越來越複雜，要求完成運算的時限越來越短，因此，電子裝置的工作負載量也越來越大。

由於電子裝置的工作負載量也越來越大的緣故，其本身各組成構件在工作時的溫度也會越來越高，因而對電子裝置的運算效能造成了不少負面性的影響。為了確認電子裝置在高溫狀態下運作時，仍能發揮一定水準的運作效能。不論是製造商或使用者，多半會對電子裝置之模組(組件)、半成品或成品在較為嚴苛的條件(特別是較為環境溫度較高或運算頻率較高)下進行運作效能測試，藉以判斷該電子裝置是否具備足夠的運作穩定性，此即為一般常見的燒機測試(Burn-In Test)。

就目前的電子裝置而言，由於越來越朝向輕、薄、短、小的趨勢發展，因此越來越便於人們攜行使用，造成電子裝置可能在承置於多種不同承置方向的狀態下被人們常時間使用。以平板式電腦為例，人們可能在縱向直立、橫向直立或平躺狀態下長期使用平板式電腦。

然而，就目前的燒機測試技術而言，特別是就電子裝置之顯示面板模組而言，仍舊停留在只針對將電子裝置之顯示面板模組放置於單一承置方向的狀態下進行燒機測試，並未因應人們的使用習慣而在電子裝置承置於多種不同的承置方向下進行燒機測試。在此情況下，根本無法全面性地確認當顯示面板模組承置於多種不同的承置方向下，是否仍然能夠有效率地運作。由以上敘述可知：在現有對顯示面板模組的燒機測試技術而言，顯然已與使用者的實際使用習慣脫節。

綜合以上所述，由於在習知技術中，只有將電子裝置之顯示面板模組放置於單一承置方向的狀態下進行燒機測試，無法因應使用者的實際使用習慣而全面性地確認當顯示面板模組承置於多種不同的承置方向下，是否仍然能夠有效率地運作。在此前提下，本發明之主要目的在於提供一種新的顯示面板模組之多向燒機測試設備，其係利用適當之方向導引組件與夾具，將至少一待測顯示面板模組依序固定於複數個測試承置方向，藉以進行多方向性之燒機測試。

本發明為解決習知技術之問題所採用之技術手段係提供一種顯示面板模組之多向燒機測試設備(以下簡稱「燒機測試設備」)，其係用以夾持固定至少一待測顯示面板模組，藉以使待測顯示面板模組可選擇性地調整固定於複數個測試承置方向，並在待測顯示面板模組固定於上述複數個測試承置方向時，分別進行一燒機測試。

上述之燒機測試設備包含一溫度調控箱、至少一面板模組承載架與至少一面板夾具。溫度調控箱係具有一測試腔室，藉以將測試腔室中之溫度控制在一測試溫度範圍。面板模組承載架，包含至少一方向導引組件與至少一面板模組承載桿。方向導引組件係開設至少一多向導引溝，並在進行上述之燒機測試時，固定於測試腔室內。面板模組承載桿係穿設於多向導引溝。

面板夾具係固定於面板模組承載桿，並用以夾持固定待測顯示面板模組。上述之燒機測試設備更包含至少一顯示信號測試模組，其係設置於面板模組承載架，並供電性連接於待測顯示面板模組。其中，在進行上述之燒機測試前，係將面板模組承載桿沿該多向導引溝移動，並使面板夾具將待測顯示面板模組夾持固定於上述複數個測試承置方向中之一者。

在本發明較佳實施例中，上述之燒機測試設備更包含一活動架，且活動架包含一固定門板與至少一活動桿。固定門板係供方向導引組件固定，並在進行燒機測試時，封閉測試腔室。活動桿係固定於固定門板，並用以在進行該燒機測試時，移動至溫度調控箱內，使面板模組承載架、面板夾具、待測顯示面板模組與顯示信號測試模組位於測試腔室內。較佳者，固定門板之下方更可設有至少一承載輪。

在本發明較佳實施例中，面板模組承載架更可包含一倚托桿，倚托桿係固定於方向導引組件，並且設置於該面板模組承載桿之下方。較佳者，上述之多向導引溝可為一L形導引溝。

在本發明較佳實施例中，面板夾具可包含一固定框、一第一夾具與一第二夾具。固定框包含一框本體、一第一夾具承置鉤與一第二夾具調整框。框本體係固定於面板模組承載桿。第一夾具承置鉤係自框本體沿一第一延伸方向延伸出，並沿一與第一延伸方向相反之第二延伸方向彎折。第二夾具調整框係自框本體朝向第二延伸方向延伸出，並且開設複數對之夾具定位孔。第一夾具係嵌設於該第一夾具承置鉤；且第二夾具係可選擇性地結合於上述複數對之夾具定位孔中之至少一對。較佳者，第一夾具與第二夾具可由塑膠材料所組成。

此外，在本發明較佳實施例中，在進行該燒機測試時，該顯示信號測試模組係將一嵌入式顯示埠(Embedded Display-Port；EDP)信號輸入至待測顯示面板模組。較佳者，上述之溫度調控箱可為一烤箱，且測試溫度範圍係為45℃至60℃。更佳者，燒機測試設備更可包含一驅動裝置，係設置於鄰近方向導引組件處，並且機械性地連結於該面板模組承載桿，藉以驅動面板模組承載桿沿上述之多向導引溝移動。

相較於習知之顯示面板模組燒機技術，由於在本發明所提供之顯示面板模組之多向燒機測試設備(以下簡稱「燒機測試設備」)中，係利用適當之方向導引組件與夾具，將至少一待測顯示面板模組依序固定於各種測試標準或規範所要求之複數個測試承置方向，藉以進行多方向性之燒機測試。顯而易見地，藉由本發明所提供之燒機測試設備，可使燒機測試的執行狀態更逼近於使用者的實際使用習慣，進而使測試結果更具參考價值。

本發明所採用的具體實施例，將藉由以下之實施例及圖式作進一步之說明。

由於本發明所提供之顯示面板模組之多向燒機測試設備，可廣泛運用於測試各種電子裝置之顯示面板模組，其組合實施方式更是不勝枚舉，故在此不再一一贅述，僅列舉其中一個較佳實施例及其操作方式來加以具體說明。

請參閱第一圖至第四圖，第一圖係顯示本發明第一實施例所提供之一種顯示面板模組之多向燒機測試設備結構示意圖；第二圖係顯示面板模組承載架與面板夾具將待測顯示面板模組夾持固定於一縱向直立之測試承置方向；第三圖係顯示第二圖中圈A所示區域之局部放大圖；第四圖係顯示面板夾具與顯示面板模組承載架之面板模組承載桿結合關係示意圖。

如第一圖所示，一顯示面板模組之多向燒機測試設備100(以下簡稱「燒機測試設備100」)係用以夾持固定至少一待測顯示面板模組(在本實施例中，係夾持固定複數個待測顯示面板模組，第一圖僅標示其中兩個待測顯示面板模組200與200a)，藉以使待測顯示面板模組200與200a可選擇性地調整固定於複數個測試承置方向，並在待測顯示面板模組200與200a固定於上述複數個測試承置方向時，分別進行一燒機測試。

燒機測試設備100包含一溫度調控箱1、一活動架2、至少一面板模組承載架(在本實施例中，包含複數個面板模組承載架，第一圖僅標示其中一個面板模組承載架3)、至少一面板夾具(在本實施例中，包含複數個面板夾具，第一圖僅標示其中兩個面板夾具4與4a)以及至少一顯示信號測試模組(在本實施例中，包含複數個顯示信號測試模組，第一圖僅標示其中一個顯示信號測試模組5)。

溫度調控箱1具有一測試腔室11，藉以將測試腔室11中之溫度控制在一測試溫度範圍。較佳者，溫度調控箱1係為一烤箱，在對待測顯示面板模組200與200a進行燒機測試時之較佳測試溫度範圍可為45℃至60℃，且燒機測試的時間約為4小時。

活動架2包含一固定門板21、一固定內板22、至少一活動桿(在本實施例中，包含兩個活動桿23與24)與至少一承載輪(在本實施例中，包含兩個承載輪25與26)。固定門板21係用以在進行燒機測試時，封閉測試腔室11。活動桿23與24之兩端係分別固定於固定門板21與固定內板22，並用以在進行燒機測試時，移動至溫度調控箱1內，使面板模組承載架3、面板夾具4與4a、待測顯示面板模組200與200a以及顯示信號測試模組5位於測試腔室11內。承載輪25與26係設置於固定門板21之下方，藉以承載活動架2、面板模組承載架3、面板夾具4與4a以及顯示信號測試模組5等構件之重量。

面板模組承載架3包含至少一方向導引組件(在本實施例中，包含兩個方向導引組件31與32)、至少一面板模組承載桿(在本實施例中，包含兩個面板模組承載桿33與34)與兩個倚托桿35與36。

方向導引組件31與32係分別固定於固定門板21與固定內板22。方向導引組件31開設至少一多向導引溝(在本實施例中，開設了兩個多向導引溝311與312)，且兩個多向導引溝311與312係為L形導引溝。其中，多向導引溝311係自一定位點P1沿第三圖所示之一(L形)導引路徑GP1延伸至另一定位點P2；且多向導引溝312係自一定位點P1’沿第三圖所示之另一(L形)導引路徑GP2延伸至另一定位點P2’。此外，方向導引組件31還可開設複數個固定孔，在第三圖中，僅標示其中一個固定孔FH，且固定孔FH係在面板模組承載桿34位於定位點P1’處時，用以固定面板模組承載桿34。

面板模組承載桿33係開設一夾具結合槽331，並在兩端分別延伸出一插接桿(在第三圖中，僅標示其中一個插接桿332)。夾具結合槽331係用以供面板夾具4結合(如第四圖所示)，插接桿332則穿設於多向導引溝311，藉以在多向導引溝311可移動調整其與方向導引組件31之間的相對位置與方位。

倚托桿35與36之兩端係分別固定於方向導引組件31與32，並且分別設置於面板模組承載桿33與34下方，藉以在待測顯示面板模組200與200a固定於縱向直立(如第二圖所示)或橫向直立(如第六圖所示)之測試承置方向時對面板夾具4與4a及其所夾持之待測顯示面板模組200與200a提供適當的倚托。

面板夾具4與4a之結構係相似或相同，其主要差異在於分別裝設於不同的兩面板模組承載桿33與34，造成設置的方向與位置稍有不同而已。在此前提下，只針對面板夾具4加以進一步具體說明。

如第四圖所示，面板夾具4包含一固定框41、一第一夾具42、一第二夾具43與一連結定位塊44。固定框41包含一框本體411、一第一夾具承置鉤412與一第二夾具調整框413。框本體411係固定於面板模組承載桿33之夾具結合槽331。第一夾具承置鉤412係自框本體411沿一第一延伸方向I1延伸出，並沿一與該第一延伸方向I1相反之第二延伸方向I2彎折。第二夾具調整框413係自框本體411朝向第二延伸方向I2延伸出，並且開設複數對之夾具定位孔(在本實施例中，係開設兩對夾具定位孔4131與4131a以及4132與4132a)。

第一夾具42係嵌設於第一夾具承置鉤412，並且可由塑膠材料、鐵氟龍(Teflon)或其他稍具剛性但又不至於刮傷待測顯示面板模組200之材料所組成。第二夾具43亦可由塑膠材料、鐵氟龍(Teflon)或其他稍具剛性但又不至於刮傷待測顯示面板模組200之材料所組成，其係可選擇性地對準其中至少一對夾具定位孔，並利用連結定位塊44之凸柱、插銷或螺絲，穿過所對準之夾具定位孔而鎖固於第二夾具43，藉以使第二夾具43可選擇性地結合於其中至少一對夾具定位孔。

在第四圖中，面板夾具4係被操作以夾持待測顯示面板模組200，使待測顯示面板模組200位於上述縱向直立之測試承置方向(如第二圖所示者)。在此情況下，可將待測顯示面板模組200縱向直立放置於第一夾具42與第二夾具43之間，然後使第二夾具43對準位置較高之夾具定位孔4132與4132a，並利用連結定位塊44加以固定，藉此可以有效地將待測顯示面板模組200夾持固定於上述縱向直立之測試承置方向(如第二圖所示者)。

在本實施例中，在一個面板夾具附近，都設置有上述之顯示信號測試模組，在第一圖中，只有標示一個設置於面板夾具4附近的顯示信號測試模組5。顯示信號測試模組5係設置於面板模組承載架3，並供電性連接於對應之待測顯示面板模組200。一般而言，顯示信號測試模組5可由適當的連接器與信號傳輸元件所組成。在進行燒機測試時，顯示信號測試模組5可將適當的顯示信號輸入至待測顯示面板模組，其中，所述之顯示信號可為一嵌入式顯示埠(Embedded Display-Port；EDP)信號。

除了將待測顯示面板模組200夾持固定於上述縱向直立之測試承置方向之外，本發明還提供了可以將待測顯示面板模組200夾持固定於橫向直立、平躺或其他測試承置方向之功能。在本發明較佳實施例中，係特別建議對待測顯示面板模組200位於縱向直立、橫向直立與平躺等三個測試承置方向，進行一系列之燒機測試，燒機測時的時間約為4個小時。

在此前提下，以下將特別針對本發明將待測顯示面板模組200夾持固定於橫向直立與平躺等測試承置方向之技術提出具體之說明。請繼續參閱第五圖與第六圖，第五圖係顯示移動第二夾具，藉以調整第二夾具與第一夾具間之距離的示意圖；第六圖係顯示面板模組承載架與面板夾具將待測顯示面板模組夾持固定於一橫向直立之測試承置方向。

如第五圖所示，在欲將待測顯示面板模組200(標示於第六圖)夾持固定於橫向直立之測試承置方向時，可將待測顯示面板模組200(標示於第六圖)橫向直立放置於第一夾具42與第二夾具43之間；然後，移動第二夾具43，藉以調整第二夾具43與第一夾具42間之距離，直到使第二夾具43對準位置較低之夾具定位孔4131與4131a時，利用連結定位塊44加以固定，藉此可以有效地將待測顯示面板模組200夾持固定於上述橫向直立之測試承置方向(如第六圖所示者)。

接著，請繼續參閱第七圖，其係顯示面板模組承載架與面板夾具將待測顯示面板模組夾持固定於一平躺之測試承置方向。同時，請一併參閱第三圖，在完成將待測顯示面板模組200夾持固定於上述橫向直立之測試承置方向的燒機測試之後，可進一步移動面板模組承載桿33，使面板模組承載桿33之插接桿332在多向導引溝311的導引下，自定位點P1沿第三圖所示之(L形)導引路徑GP1移動至定位點P2，並使面板模組承載桿34之插接桿(未標號)在多向導引溝312的導引下，自定位點P1’沿第三圖所示之(L形)導引路徑GP2移動至定位點P2’。此時，面板夾具4與4a會分別將待測顯示面板模組200與200a夾持固定於平躺之測試承置方向。

由第三圖可知，由於定位點P2與定位點P2’之間存在一高度差ΔH，因此，在將面板模組承載桿33之插接桿332移動至定位點P2，並將面板模組承載桿34之插接桿(未標號)移動至定位點P2’後，會使面板模組承載桿33與面板模組承載桿34之間大約也會存在上述高度差ΔH之距離，據此可使待測顯示面板模組200與200a被夾持固定於平躺之測試承置方向時，存在約等高度差ΔH的垂直錯位(如第三圖結合第七圖所示)。

此外，雖然在本發明所提供之實施例中，並未針對如何驅動面板模組承載桿33之插接桿332在多向導引溝311中移動加以具體揭露，但本發明特別建議可在鄰近方向導引組件31與/或32處設置驅動裝置(圖未示)，並使驅動裝置機械性地連結於面板模組承載桿33與34，藉以驅動面板模組承載桿33與34分別沿多向導引溝311與312之(L形)導引路徑GP1與GP2移動。

綜合以上所述，相信舉凡在所屬技術領域中具有通常知識者，在閱讀以上所揭露之技術內容後，應該更能輕易理解，相較於習知之顯示面板模組之燒機測試技術，由於在本發明所提供之燒機測試設備100中，係利用適當之方向導引組件(如方向導引組件31與32等)以及夾具(如面板夾具4與4a等)，將至少一待測顯示面板模組(如待測顯示面板模組200與200a等)依序固定於各種測試標準或規範所要求之複數個測試承置方向(如縱向直立、橫向直立與平躺等測試承置方向)，藉以進行多方向性之燒機測試。顯而易見地，藉由本發明所提供之燒機測試設備100，可使燒機測試的執行狀態更逼近於使用者的實際使用習慣，進而使測試結果更具參考價值。

藉由上述之本發明實施例可知，本發明確具產業上之利用價值。惟以上之實施例說明，僅為本發明之較佳實施例說明，舉凡所屬技術領域中具有通常知識者當可依據本發明之上述實施例說明而作其它種種之改良及變化。然而這些依據本發明實施例所作的種種改良及變化，當仍屬於本發明之發明精神及界定之專利範圍內。

100．．．燒機測試設備

200、200a．．．待測顯示面板模組

1．．．溫度調控箱

11．．．測試腔室

2．．．活動架

21．．．固定門板

22．．．固定內板

23、24．．．活動桿

25、26．．．承載輪

3．．．面板模組承載架

31、32．．．方向導引組件

311、312．．．多向導引溝

33、34．．．面板模組承載桿

331．．．夾具結合槽

332．．．插接桿

35、36．．．倚托桿

4、4a．．．面板夾具

41．．．固定框

411．．．框本體

412．．．第一夾具承置鉤

413．．．第二夾具調整框

4131、4131a、4132、4132a．．．夾具定位孔

42．．．第一夾具

43．．．第二夾具

44．．．連結定位塊

5．．．顯示信號測試模組

P1、P1’、P2、P2’．．．定位點

GP1、GP2．．．導引路徑

FH．．．固定孔

I1．．．第一延伸方向

I2．．．第二延伸方向

ΔH．．．高度差

第一圖係顯示本發明第一實施例所提供之一種顯示面板模組之多向燒機測試設備結構示意圖；

第二圖係顯示面板模組承載架與面板夾具將待測顯示面板模組夾持固定於一縱向直立之測試承置方向；

第三圖係顯示第二圖中圈A所示區域之局部放大圖；

第四圖係顯示面板夾具與顯示面板模組承載架之面板模組承載桿結合關係示意圖；

第五圖係顯示移動第二夾具，藉以調整第二夾具與第一夾具間之距離的示意圖；

第六圖係顯示面板模組承載架與面板夾具將待測顯示面板模組夾持固定於一橫向直立之測試承置方向；以及

第七圖係顯示面板模組承載架與面板夾具將待測顯示面板模組夾持固定於一平躺之測試承置方向。

200、200a．．．待測顯示面板模組

31．．．方向導引組件

311、312．．．多向導引溝

33、34．．．面板模組承載桿

331．．．夾具結合槽

332．．．插接桿

35、36．．．倚托桿

4、4a．．．面板夾具

5．．．顯示信號測試模組

P1、P1’、P2、P2’．．．定位點

GP1、GP2．．．導引路徑

FH．．．固定孔

ΔH．．．高度差

Claims (11)

1. 一種顯示面板模組之多向燒機測試設備，係用以夾持固定至少一待測顯示面板模組，藉以使該待測顯示面板模組可選擇性地調整固定於複數個測試承置方向，並在該待測顯示面板模組固定於該些測試承置方向時，分別進行一燒機測試，該顯示面板模組之多向燒機測試設備包括：一溫度調控箱，係具有一測試腔室，藉以將該測試腔室中之溫度控制在一測試溫度範圍；至少一面板模組承載架，包含：至少一方向導引組件，係開設至少一多向導引溝，且在進行該燒機測試時，該方向導引組件係固定於該測試腔室內；以及至少一面板模組承載桿，係穿設於該多向導引溝；至少一面板夾具，係固定於該面板模組承載桿，並用以夾持固定該待測顯示面板模組；其中，該面板模組承載桿沿該多向導引溝移動，並使該面板夾具將該待測顯示面板模組夾持固定於該些測試承置方向之一者。
2. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板模組之多向燒機測試設備，更包含一活動架，且該活動架包含：一固定門板，係供該方向導引組件固定，並在進行該燒機測試時，封閉該測試腔室；以及至少一活動桿，係固定於該固定門板，並用以在進行該燒機測試時，移動至該溫度調控箱內，使該面板模組承載架、該面板夾具、該待測顯示面板模組與該顯示信號測試模組位於該測試腔室內。
3. 如申請專利範圍第2項所述之顯示面板模組之多向燒機測試設備，其中，該固定門板之下方更設有至少一承載輪。
4. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板模組之多向燒機測試設備，其中，該面板模組承載架更包含一倚托桿，該倚托桿係固定於該方向導引組件，並且設置於該面板模組承載桿之下方。
5. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板模組之多向燒機測試設備，其中，該面板夾具包含：一固定框，包含：一框本體，係固定於該面板模組承載桿；一第一夾具承置鉤，係自該框本體沿一第一延伸方向延伸出，並沿一與該第一延伸方向相反之第二延伸方向彎折；一第二夾具調整框，係自該框本體朝向該第二延伸方向延伸出，並且開設複數對之夾具定位孔；一第一夾具，係嵌設於該第一夾具承置鉤；一第二夾具，係可選擇性地結合於該些夾具定位孔中之至少一對。
6. 如申請專利範圍第5項所述之顯示面板模組之多向燒機測試設備，其中，該第一夾具與該第二夾具係由塑膠材料所組成。
7. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板模組之多向燒機測試設備，其中，該溫度調控箱係為一烤箱，且該測試溫度範圍係為45℃至60℃。
8. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板模組之多向燒機測試設備，更包含一驅動裝置，係設置於鄰近該方向導引組件處，並且機械性地連結於該面板模組承載桿，藉以驅動該面板模組承載桿沿該多向導引溝移動。
9. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板模組之多向燒機測試設備，其中，該多向導引溝係為一L形導引溝。
10. 如申請專利範圍第1項所述之顯示面板模組之多向燒機測試設備，其中，更包括至少一顯示信號測試模組，係設置於該顯示承載架，並供電性連接於該待測顯示面板模組。
11. 如申請專利範圍第10項所述之顯示面板模組之多向燒機測試設備，其中，在進行該燒機測試時，該顯示信號測試模組係將一嵌入式顯示埠(Embedded Display-Port；EDP)信號輸入至該待測顯示面板模組。