KR101188347B1 - 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템 및 이를 이용한 에이징 검사 방법 - Google Patents

디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템 및 이를 이용한 에이징 검사 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101188347B1
KR101188347B1 KR1020100115615A KR20100115615A KR101188347B1 KR 101188347 B1 KR101188347 B1 KR 101188347B1 KR 1020100115615 A KR1020100115615 A KR 1020100115615A KR 20100115615 A KR20100115615 A KR 20100115615A KR 101188347 B1 KR101188347 B1 KR 101188347B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
display panel
inspection
aging
display panels
display
Prior art date
Application number
KR1020100115615A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20120054301A (ko
Inventor
신동묵
Original Assignee
주식회사 이안하이텍
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 이안하이텍 filed Critical 주식회사 이안하이텍
Priority to KR1020100115615A priority Critical patent/KR101188347B1/ko
Publication of KR20120054301A publication Critical patent/KR20120054301A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101188347B1 publication Critical patent/KR101188347B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/44—Factory adjustment of completed discharge tubes or lamps to comply with desired tolerances
    • H01J9/445—Aging of tubes or lamps, e.g. by "spot knocking"
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/6773—Conveying cassettes, containers or carriers
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/10—Measuring as part of the manufacturing process
    • H01L22/12—Measuring as part of the manufacturing process for structural parameters, e.g. thickness, line width, refractive index, temperature, warp, bond strength, defects, optical inspection, electrical measurement of structural dimensions, metallurgic measurement of diffusions

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

본 발명은 다수의 디스플레이 패널에 대해 에이징 검사를 수행하는 시스템에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템은, 에이징 검사 환경이 조성된 검사실의 바닥면으로부터 소정의 높이를 갖도록 수평으로 설치된 지지선반; 상기 지지선반에 서로 이격되게 고정 설치되고, 상기 다수의 디스플레이 패널의 에이징 검사를 위한 제어신호를 송출하며 상기 다수의 디스플레이 패널의 출력신호를 수신하여 그 불량 여부를 검사하는 제어부가 각각 구비된 복수의 검사장치; 및 상기 바닥면 상에서 이동가능하게 구비되어 상기 복수의 검사장치 중 어느 하나의 하측에 각각 선택적으로 위치되는 복수의 대차;를 포함하되, 상기 복수의 대차는, 상기 다수의 디스플레이 패널을 탑재하기 위한 다수의 수용부, 및 상기 다수의 디스플레이 패널에 연결되는 연결부를 각각 구비하며, 상기 연결부는, 상기 제어신호를 수신하여 상기 다수의 디스플레이 패널에 인가하며 인가된 상기 제어신호에 대한 다수의 디스플레이 패널로부터의 상기 출력신호를 제어부로 송신하고, 상기 연결부와 상기 제어부는, 상기 제어신호 및 상기 출력신호를 송ㆍ수신할 수 있도록 탈착 가능한 연결부재로써 연결된다.
본 발명에 의하면, 디스플레이 패널에 대해 에이징 검사를 수행하는 검사장치가 다수의 디스플레이 패널을 탑재하는 대차마다 구비되지 않고 대차와는 별도로 지지선반에 고정 설치되며, 대차가 선택적으로 검사장치 하측에 위치되어 연결부재로 연결되게 구비됨으로써, 검사장치가 대차에 다수의 디스플레이 패널을 탑재, 회수 내지 교체하거나 대차를 이송할 때에도 다른 대차에 탑재된 디스플레이 패널에 대한 에이징 검사를 수행할 수 있으므로, 검사장치의 가동 효율을 극대화시킬 수 있고, 대차의 제조단가 및 전체 검사 시스템의 구축 비용을 크게 줄일 수 있을 뿐만 아니라, 대차의 중량도 줄일 수 있어 검사 대상 디스플레이 패널의 크기 변경에 대응되게 대차 구성요소의 위치를 변경하는 작업 및 대차를 이동시키는 작업도 간편 용이하게 이루어질 수 있다.

Description

디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템 및 이를 이용한 에이징 검사 방법 {Aging test system for display panel and aging test method using the same}
본 발명은 디스플레이 패널용 에이징 검사 장치 및 이를 이용한 에이징 검사 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 에이징 검사를 수행하는 검사장치의 가동 효율을 극대화시킬 수 있고, 디스플레이 패널을 탑재하는 대차의 제조단가 및 전체 검사 시스템의 구축 비용을 크게 줄일 수 있으며, 검사 대상 디스플레이 패널의 크기 변경에 대응되게 대차 구성요소의 위치를 변경하는 작업이나 대차를 이동시키는 작업도 간편 용이하게 이루어질 수 있는 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템 및 이를 이용한 에이징 검사 방법에 관한 것이다.
일반적으로 디스플레이 패널 중 대표적인 것으로 LCD(Liquid Crystal Display) 패널은 기판과 기판 사이에 액정이 주입된 패널과, 이 패널을 구동하기 위한 구동부 및 백라이트 등을 포함하여 이루어지는 디스플레이 소자로서, 모니터, 노트북, TV 등에 널리 사용된다. 이러한 디스플레이 패널은 정밀한 반도체 기술을 바탕으로 제작되며, 많은 전기소자들을 포함하고 있는 복잡한 장치이기에 제조과정에서 정밀한 시험을 필요로 한다.
특히, 디스플레이 패널은 제조가 완료되면 공정 검사를 거친 후, 소정의 시간 이상 고온, 저온 등의 가혹한 환경 조건하에서 디스플레이 특성을 검사하는 에이징(Aging) 검사를 거친 후 이를 통과하는 제품만 양품으로서 출하된다.
이와 같은 디스플레이 패널에 대한 에이징 검사는 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템에 의해 수행된다.
종래의 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템은, 폐쇄된 형태로써 에이징 검사 환경이 조성되는 챔버가 구비되어, 다수의 디스플레이 패널을 이 챔버의 내부에 탑재한 상태로 디스플레이 패널에 대한 에이징 검사를 수행하는 형태이다.
그러나 이러한 종래의 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템은, 다량의 디스플레이 패널에 대한 에이징 검사를 수행하기 위해서는 디스플레이 패널이 탑재될 수 있는 챔버의 크기, 곧 장비의 크기가 커져야 하므로 장비의 단가도 크게 상승하는 문제점이 있다.
따라서 이 같은 문제점을 해결하기 위해, 넓은 검사실 내부 전체에 대해 에이징 검사 환경을 조성한 후, 이 검사실 내부로 이송될 수 있게 구비되어 다수의 디스플레이 패널을 탑재할 수 있는 대차를 포함하는 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템이 개발되어 사용된다.
도 1은 전술된 바와 같은 종래의 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템의 대차를 도시한 사시도이다.
이러한 종래의 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템의 대차는, 대차구조체(10), 대차구조체(10)의 하면에 구비되어 대차가 이동 가능하게 하는 복수의 휠(20), 디스플레이 패널(DP)이 탑재되는 다수의 수용부(30), 수용부(30)에 탑재된 디스플레이 패널(DP)의 측면을 고정하는 고정로드(미도시)의 위치를 안내 고정하도록 수평으로 설치되는 제1안내로드(40), 수용부(30)의 상측에 승강 가능하게 설치되어 수용부(30)에 탑재된 디스플레이 패널(DP)의 상면을 고정하는 승강플레이트(50), 이 승강플레이트(50)의 승강 위치를 안내 고정하도록 수직으로 설치되는 제2안내로드(60) 및 승강플레이트(50) 상에 설치되어 디스플레이 패널(DP)에 대한 에이징 검사를 수행하는 검사장치(70)로 구성된다.
이러한 검사 시스템을 이용한 종래의 디스플레이 패널용 에이징 검사 방법은, 상기 다수의 수용부(30)에 다수의 검사 대상 디스플레이 패널(DP)을 탑재하고 개폐부재(31)를 닫은 후, 각 디스플레이 패널(DP)의 커넥터를 검사장치(70)의 커넥터 단자(71)에 연결한 후, 해당 대차를 이송하여 에이징 검사 환경이 조성된 검사실 내부에 위치시킨 후, 검사장치(70)가 디스플레이 패널(DP)에 대한 에이징 검사를 수행한다.
그리고 에이징 검사가 종료되면 해당 대차를 검사실 외부로 이송한 후, 검사가 완료된 디스플레이 패널(DP)을 새로운 검사 대상 디스플레이 패널(DP)로 교체하게 된다.
그러나 이와 같은 종래의 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템 및 에이징 검사 방법은, 대차를 이송하는 중과 디스플레이 패널(DP)의 탑재, 회수 내지 교체 작업 중에는 검사장치(70)가 가동되지 못하므로 검사장치(70)의 가동 효율이 낮은 문제점이 있다.
이에 따라, 소정의 개수의 디스플레이 패널(DP)에 대한 에이징 검사를 일정 시간 내에 완료해야 하는 경우, 각 검사장치(70)가 단위시간당 에이징 검사를 수행할 수 있는 디스플레이 패널(DP)의 개수를 감안하여 산출된 검사장치(70)의 필요 개수보다 훨씬 많은 수의 검사장치(70)가 필요하게 되므로, 비효율적이고 시스템의 구축 비용이 상승하게 된다.
또한, 각 대차마다 고가인 하나 이상의 검사장치(70)가 승강플레이트(50)에 설치되므로, 대차의 제조단가가 높을 뿐만 아니라, 중량도 커서 대차를 이송하는 데에 많은 힘이 필요한 단점이 있다.
한편, 종래의 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템에 구비되는 대차는 다양한 크기의 디스플레이 패널(DP)을 장착할 수 있도록 고정로드와 승강플레이트(50)의 위치가 조절될 수 있게 구비되는데, 승강플레이트(50)의 위치를 조절할 때에는 승강플레이트(50) 및 이에 설치된 검사장치(70)의 무게로 인해 두 사람의 작업자가 협력 작업으로써 승강플레이트(50)의 양측을 파지하여 승강시켜야 한다.
따라서 검사 대상 디스플레이 패널(DP)의 크기가 변경되는 경우에 이에 대응되게 승강플레이트(50)의 위치를 변경하기 위해서는 적어도 두 사람의 작업자가 반드시 필요한 번거로움이 있고, 중량물인 승강플레이트(50)와 검사장치(70)를 반복적으로 승강시키는 작업은 작업자에게 근골격계 질환을 초래하기도 하는 단점이 있다.
또한, 검사 대상 디스플레이 패널(DP)의 크기가 변경되는 경우, 상술한 승강플레이트(50)의 위치 변경 작업과는 별도로 고정로드에 대한 위치 변경 작업도 함께 수행해야 하는 번거로움도 있다.
상기한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 본 발명은, 검사장치가 대차에서 이루어지는 디스플레이 패널의 탑재, 회수 내지 교체 작업과는 별개로 디스플레이 패널에 대한 에이징 검사를 수행할 수 있고, 검사 대상 디스플레이 패널의 크기에 대응될 수 있도록 조절되는 대차 구성요소가 그 조작이 간편 용이한 구조를 갖는 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템 및 이를 이용한 에이징 검사 방법을 제공하고자 한다.
상기한 바와 같은 과제를 해결하기 위해, 본 발명에 따른 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템은, 다수의 디스플레이 패널에 대해 에이징 검사를 수행하는 시스템으로서, 에이징 검사 환경이 조성된 검사실의 바닥면으로부터 소정의 높이를 갖도록 수평으로 설치된 지지선반; 상기 지지선반에 서로 이격되게 고정 설치되고, 상기 다수의 디스플레이 패널의 에이징 검사를 위한 제어신호를 송출하며 상기 다수의 디스플레이 패널의 출력신호를 수신하여 그 불량 여부를 검사하는 제어부가 각각 구비된 복수의 검사장치; 및 상기 바닥면 상에서 이동가능하게 구비되어 상기 복수의 검사장치 중 어느 하나의 하측에 각각 선택적으로 위치되는 복수의 대차;를 포함하되, 상기 복수의 대차는, 상기 다수의 디스플레이 패널을 탑재하기 위한 다수의 수용부, 및 상기 다수의 디스플레이 패널에 연결되는 연결부를 각각 구비하며, 상기 연결부는, 상기 제어신호를 수신하여 상기 다수의 디스플레이 패널에 인가하며 인가된 상기 제어신호에 대한 다수의 디스플레이 패널로부터의 상기 출력신호를 제어부로 송신하고, 상기 연결부와 상기 제어부는, 상기 제어신호 및 상기 출력신호를 송ㆍ수신할 수 있도록 탈착 가능한 연결부재로써 연결된다.
상기 다수의 수용부는, 상기 디스플레이 패널 두께에 대응하는 폭으로 서로 이격되도록 상기 대차의 외형을 이루는 대차구조체에 나란하게 설치되는 다수의 지지로드를 구비하여 형성될 수 있다.
상기 대차는, 상기 디스플레이 패널이 상기 수용부에 삽입되는 방향을 기준으로 상기 디스플레이 패널의 상기 수용부 내측에 위치한 측면에 접촉되어 상기 디스플레이 패널의 삽입 위치를 안내 고정하는 고정로드; 및 상기 수용부의 내측으로 갈수록 높아지는 경사를 갖도록 각각 설치되고, 그 길이 방향을 따라 장홈이 각각 형성되며, 그 장홈의 내주면에는 상기 고정로드의 양단을 고정하는 복수의 고정홈이 형성되어, 다양한 크기의 상기 디스플레이 패널이 상기 수용부에 탑재될 수 있도록 이동될 수 있게 구비된 상기 고정로드의 위치를 안내 고정하는 한 쌍의 안내로드;를 더 포함할 수 있다.
상기 연결부는, 상기 복수의 검사장치와 인접한 높이에 위치하도록 상기 대차의 외형을 이루는 대차구조체의 상부에 설치될 수 있다.
본 발명에 따른 디스플레이 패널용 에이징 검사방법은, 상기 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템의 상기 대차에 구비된 상기 다수의 수용부에 에이징 검사 대상의 상기 다수의 디스플레이 패널을 각각 삽입 탑재하는 단계; 상기 대차를 이동시켜 상기 복수의 검사장치 중 어느 하나의 하측에 위치시키는 단계; 상기 대차의 상기 연결부 및 그 상측에 위치한 상기 검사장치의 상기 제어부를 상기 연결부재로 연결하는 단계; 및 상기 연결부와 상기 제어부가 상기 제어신호 및 상기 출력신호를 송ㆍ수신하며 상기 대차에 탑재된 상기 다수의 디스플레이 패널에 대한 에이징 검사를 수행하는 단계;를 포함한다.
상기 디스플레이 패널용 에이징 검사방법은, 상기 다수의 디스플레이 패널에 대한 에이징 검사가 완료되면, 상기 연결부와 상기 제어부를 연결하는 상기 연결부재를 분리하는 단계; 및 에이징 검사가 완료된 상기 다수의 디스플레이 패널을 탑재한 상기 대차를 에이징 검사 대상의 상기 다수의 디스플레이 패널을 탑재한 새로운 상기 대차로 교체하는 단계;를 더 포함할 수 있다.
이러한 본 발명의 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템 및 이를 이용한 에이징 검사 방법에 의하면, 디스플레이 패널에 대해 에이징 검사를 수행하는 검사장치가 다수의 디스플레이 패널을 탑재하는 대차마다 구비되지 않고 대차와는 별도로 지지선반에 고정 설치되며, 대차가 선택적으로 검사장치 하측에 위치되어 연결부재로 연결되게 구비됨으로써, 검사장치가 대차에 다수의 디스플레이 패널을 탑재, 회수 내지 교체하거나 대차를 이송할 때에도 다른 대차에 탑재된 디스플레이 패널에 대한 에이징 검사를 수행할 수 있다.
이에 따라 검사장치의 가동 효율이 극대화될 수 있고, 단위시간당 처리해야 하는 디스플레이 패널의 최대 개수에 대응되게 최소한의 검사장치만 구비함으로써, 에이징 검사 시스템의 구축 비용을 최소화할 수 있다.
그리고 검사장치가 대차에 설치되지 않고 별도의 지지선반에 설치되므로 대차의 제조단가를 크게 줄일 수 있을 뿐만 아니라, 대차의 중량을 줄일 수 있으므로 작업자의 대차 이송 작업이 용이해질 수 있다.
또한, 디스플레이 패널을 세워진 상태로 지지하는 다수의 지지로드가 구비됨에 따라 디스플레이 패널의 측면을 고정하는 고정로드만 조절함으로써, 다양한 크기의 디스플레이 패널에 대응될 수 있게 대차를 조절하는 작업이 마무리될 수 있어 간편하다.
이에 따라, 다양한 크기의 디스플레이 패널에 대응될 수 있게 대차를 조절하는 작업은 한 사람의 작업자가 고정로드의 위치만 간단히 변경하는 방식으로 간소하게 이루어질 수 있다.
게다가 이러한 고정로드의 위치 변경은, 경사지게 구비된 안내로드에 의해 큰 크기의 디스플레이 패널에 대응되게 위치가 변경될수록 고정로드의 높이가 높아지게 이루어짐으로써, 디스프레이 패널에 대한 고정 안정성이 더 향상될 수 있다.
도 1은 종래의 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템의 대차를 도시한 사시도,
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템의 정면도,
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템의 측면도,
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템에 구비되는 대차를 도시한 측면도,
도 5a 및 도 5b는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템에 구비되는 대차에 다양한 크기의 디스플레이 패널이 탑재되는 상태를 보여주는 측면도,
도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디스플레이 패널용 에이징 검사 방법을 보여주는 순서도,
도 7a 내지 도 7c는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디스플레이 패널용 에이징 검사 방법을 설명하기 위한 도면들이다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자(이하, '당업자'라 한다)가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며, 그 범위가 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.
본 발명에 따른 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템 및 이를 이용한 에이징 검사 방법은, LCD 패널과 같은 디스플레이 패널에 대해 고온, 저온 등의 가혹한 환경 조건하에서 그 디스플레이 특성을 검사하는 에이징 검사를 수행하는 시스템 및 방법에 관한 것이다.
이하, 첨부된 도 2 내지 도 5b를 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템(이하, 줄여서 '에이징 검사 시스템'이라고 한다)의 구성 및 작용효과를 구체적으로 설명한다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 에이징 검사 시스템은, 지지선반(100), 검사장치(200) 및 대차(300)를 포함하여 이루어진다.
상기 지지선반(100)은 에이징 검사 환경이 조성된 검사실의 바닥면(BS)으로부터 소정의 높이를 갖도록 수평으로 설치되어 검사장치(200)의 설치 장소를 제공하고, 검사장치(200)를 지지하는 역할을 한다.
상기 지지선반(100)이 설치되는 높이는 공간의 활용도를 높이고, 후술되는 검사장치(200)의 제어부(210)와 대차(300)의 연결부(330)를 연결하는 연결부재(미도시)가 길게 늘어지지 않도록 대차(300)의 높이에 대응되는 높이로 설치되는 것이 바람직하지만, 그 설치 높이가 이에 한정되는 것은 아니다.
그리고 상기 지지선반(100)은, 도면에 도시된 바와 같이 선반지지대(110)를 통해 설치될 수도 있고, 검사실의 벽면에 직접 설치되거나 검사실 내부에 위치된 별도의 다른 구조물에 설치될 수도 있다.
뿐만 아니라, 상기 지지선반(100)은 대차(300)의 높이보다 더 높게 구비되어 그 하측에 대차(300)가 위치될 수 있게 구비되는 것이 공간 활용의 측면에서 바람직하나, 이에 한정되는 것은 아니며, 대차(300)의 전방이나 후방, 또는 측방에 나란하게 위치될 수 있게 구비될 수도 있다.
상기 검사장치(200)는 지지선반(100)에 대차(300)의 폭에 대응되는 일정한 너비로 고정 설치되고, 대차(300)에 탑재된 다수의 디스플레이 패널(DP)의 에이징 검사를 위한 제어신호를 송출하며 다수의 디스플레이 패널(DP)의 출력신호를 수신하여 그 디스플레이 특성의 불량 여부를 검사하는 제어부(210)가 구비된다.
상기 제어부(210)는 해당 검사장치(200)의 하측에 위치되는 대차(300)의 연결부(330)와 탈착 가능한 연결부재를 통해 연결됨으로써, 상기 제어신호와 출력신호를 송ㆍ수신하며 해당 대차(300)에 탑재된 다수의 디스플레이 패널(DP)에 대한 에이징 검사를 수행한다.
상기 제어부(210)는 하나의 대차(300)에 탑재된 다수의 디스플레이 패널(DP)에 대한 에이징 검사를 수행할 수 있는 검사회로가 구비됨으로써, 하나의 검사장치(200)에 하나가 구비될 수도 있고, 하나의 디스플레이 패널(DP)에 대한 에이징 검사를 수행할 수 있는 간소한 검사회로가 구비됨으로써, 하나의 검사장치(200)에 다수개가 구비될 수도 있다.
상기 대차(300)는 다수의 디스플레이 패널(DP)을 한 번에 탑재하며, 검사실의 바닥면(BS) 상에서 이송 가능하게 구비되어, 지지선반(100)에 설치된 다수의 검사장치(200) 중 어느 하나의 하측에 선택적으로 위치됨으로써, 해당 검사장치(200)의 제어부(210)가 탑재한 다수의 디스플레이 패널(DP)에 대해 에이징 검사를 수행할 수 있도록 한다.
이를 위해, 상기 대차(300)는 도 2 내지 4에 도시된 바와 같이, 대차구조체(310), 다수의 지지로드(320), 연결부(330), 복수의 휠(340), 고정로드(350), 한 쌍의 안내로드(360), 개폐부재(370) 및 연결부재 걸이(380)를 포함하여 이루어진다.
상기 대차구조체(310)는 내부에 공간이 형성된 프레임 박스 형상으로 구비되어 대차(300)의 기본 골격을 이루며, 그 하면에는 복수의 휠(340)이 설치되어 바닥면(BS) 상에서 이송 가능하게 구비된다.
상기 다수의 지지로드(320)는 직선 또는 곡선의 막대 형상으로 구비되며, 디스플레이 패널(DP)의 두께에 대응되는 폭으로 서로 나란히 이격되게 대차구조체(310)에 설치되어, 그 사이마다 각각 디스플레이 패널(DP)이 삽입 탑재될 수 있는 수용부(321)를 형성한다.
상기 다수의 지지로드(320)는 다수의 수용부(321)에 각각 디스플레이 패널(DP)이 삽입 탑재되면, 이 디스플레이 패널(DP)이 쓰러지지 않도록 세워진 상태로 그 전면과 후면을 지지하는 역할을 한다. 이러한 다수의 지지로드(320)에 의해 디스플레이 패널(DP)의 상면을 고정하지 않더라도 디스플레이 패널(DP)이 쓰러지지 않고 세워진 상태를 유지하게 된다.
본 발명의 바람직한 실시예에 있어서, 상기 수용부(321)는 다수의 지지로드(320)에 의해 형성되는 사이 공간의 형태로 구현되었으나, 그 구현 방식이 이에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 상기 수용부(321)는 디스플레이 패널(DP)이 세워진 상태로 삽입될 수 있는 카세트 형태로써 나란하게 대차구조체(310)에 고정되는 형태 등의 다양한 형태로 구현될 수도 있다.
상기 연결부(330)는 검사장치(200)에 구비된 제어부(210)와 탈착 가능한 케이블 등과 같은 연결부재를 통해 연결됨으로써, 제어부(210)의 제어신호를 수신하여 다수의 디스플레이 패널(DP)에 인가하고, 디스플레이 패널(DP)의 디스플레이 특성을 포함하는 출력신호를 수신하여 제어부(210)로 전달하는 역할을 한다.
이를 위해, 상기 연결부(330)에는 디스플레이 패널(DP)의 커넥터가 연결되는 커넥터 단자가 구비되고, 검사장치(200)의 제어부(210)와 근접되게 대차구조체(310)의 상단부에 설치된다. 물론, 상기 연결부(330)의 위치가 이에 한정되는 것은 아님을 밝혀둔다.
상기 복수의 휠(340)은 대차구조체(310)의 하면에 설치되어 대차구조체(310)가 바닥면(BS) 상에서 이송 가능하게 하며, 대차(300)가 검사장치(200)의 하측에 위치되어 에이징 검사가 수행될 때에는 이동되지 않도록 그 위치를 고정하는 휠 고정레버(341)를 포함한다.
상기 고정로드(350)는 디스플레이 패널(DP)이 수용부(321)에 삽입되는 방향을 기준으로 디스플레이 패널(DP)의 수용부(321) 내측에 위치한 측면에 접촉되어 디스플레이 패널(DP)의 삽입 위치를 안내하고, 디스플레이 패널(DP)을 고정하는 역할을 한다. 상기 고정로드(350)는 그 양단이 한 쌍의 안내로드(360)에 의해 각각 고정 지지되도록 구비된다.
상기 한 쌍의 안내로드(360)는 전술된 바와 같이 고정로드(350)의 양단을 각각 고정 지지하는 역할을 하는데, 이와 동시에 고정로드(350)의 위치가 검사 대상 디스플레이 패널(DP)의 크기 변경에 대응되게 변경될 수 있도록 고정로드(350)의 위치 변경을 안내하는 역할도 한다.
이를 위해, 상기 한 쌍의 안내로드(360)는 대차구조체(310)의 양측 끝단에 서로 마주보게 설치되며, 수용부(321)의 내측으로 갈수록 높아지는 경사를 갖도록 동일하게 기울어지게 각각 설치되고, 그 길이 방향을 따라 고정로드(350)의 양단이 이송될 수 있도록 장홈(361)이 형성되며, 이 장홈(361)의 하측 내주면에는 고정로드(350)의 양단이 삽입 고정될 수 있도록 복수의 고정홈(362)이 형성된다.
즉, 상기 고정로드(350)의 양단이 한 쌍의 안내로드(360)의 장홈(361)을 따라 이송되면서 그 위치가 조절되고, 복수의 고정홈(362) 중 어느 하나의 고정홈(362)에 삽입되면서 그 위치가 고정된다.
도 5a는 60인치의 대형 디스플레이 패널(DP)이 탑재된 상태를 도시한 도면이고, 도 5b는 32인치의 소형 디스플레이 패널(DP')이 탑재된 상태를 도시한 도면이다.
도 5a에 도시된 바와 같이, 고정로드(350)가 수용부(321)의 입구측에서 멀게 고정될수록 큰 크기의 디스플레이 패널(DP)이 수용부(321)에 삽입 탑재될 수 있고, 도 5b에 도시된 바와 같이, 고정로드(350)가 수용부(321)의 입구측에 가깝게 고정될수록 작은 크기의 디스플레이 패널(DP)이 수용부(321)에 삽입 탑재될 수 있다.
그리고 상기 고정로드(350)는 수용부(321)의 입구측에서 멀게 고정될수록 경사지게 구비된 한 쌍의 안내로드(360)에 의해 그 높이가 높아지게 구비됨으로써, 수용부(321)에 삽입 탑재되는 디스플레이 패널(DP)의 크기가 서로 상이하더라도 해당 디스플레이 패널(DP)의 높이에 대해 중심보다 다소 높은 비율적으로 유사한 높이에서 디스플레이 패널(DP)과 접촉된다. 이에 따라, 상기 고정로드(350)는 다양한 크기의 디스플레이 패널(DP)을 모두 안정적으로 고정할 수 있다.
한편, 상기 개폐부재(370)는 도 4에 도시된 바와 같이, 디스플레이 패널(DP)이 수용부(321)에 삽입되는 방향을 기준으로, 수용부(321)의 입구부에 회동될 수 있게 회동축(371)을 통해 설치되는데, 개폐부재(370)가 회동됨에 따라 수용부(321)의 입구가 디스플레이 패널(DP)이 삽입될 수 있도록 개방되거나, 디스플레이 패널(DP)을 고정하도록 폐쇄된다.
상기 개폐부재(370)는 수용부(321)에 삽입 탑재된 디스플레이 패널(DP)이 대차(300)가 이송되는 충격 및 관성에 의해 수용부(321)에서 이탈되는 것을 방지한다. 즉, 상기 개폐부재(370)는 전술된 고정로드(350)와 함께 디스프레이 패널(DP)의 양측을 고정하게 된다.
상기 연결부재 걸이(380)는 검사장치(200)의 제어부(210)와 대차(300)의 연결부(330)를 연결하는 연결부재의 정리를 도울 수 있도록 연결부재를 걸어둘 수 있게 연결부(330)의 인근에 구비된다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 에이징 검사 시스템에 구비된 대차(300)를 설명함에 있어서, 상기 대차(300)는 회동되는 개폐부재(370) 및 연결부재 걸이(380)가 구비된 것으로 설명하였으나, 이들은 본 발명에 있어서 필수적인 구성요소가 아님을 밝혀둔다. 즉, 전술된 고정로드(350)가 한 쌍이 구비되어 디스플레이 패널(DP)을 고정하게 구비될 수 있고, 상기 연결부재 걸이(380)는 구비되지 않거나 지지선반(100)에 구비될 수도 있다.
이하, 도 6 내지 도 7c를 참조하여, 상술한 바와 같은 에이징 검사 시스템을 이용한, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 디스플레이 패널용 에이징 검사 방법(이하, 줄여서 '에이징 검사 방법'이라 한다)을 구체적으로 설명한다.
먼저, 도 7a에 도시된 바와 같이, 대차(300)가 검사실 외부에 위치된 상태에서 개폐부재(370)를 전방측으로 회동시켜 수용부(321)의 입구측을 개방한다(s100).
그리고 검사 대상 디스플레이 패널(DP)의 크기에 맞게 고정로드(350)의 위치를 조절한다(s150). 즉, 고정로드(350)의 양단을 한 쌍의 안내로드(360)의 장홈(361)을 따라 이송한 후, 목적한 위치의 고정홈(362)에 고정로드(350)의 양단을 삽입 고정함으로써, 고정로드(350)가 위치 변경된 상태로 안정적으로 고정된다.
이러한 개폐부재(370)를 회동시켜 수용부(321)의 입구측을 개방하는 작업과 고정로드(350)의 위치를 조절하는 작업은 어느 것이 먼저 이루어져도 무관하며, 동시에 이루어질 수도 있다.
다음, 도 7b에 도시된 바와 같이, 다수의 디스플레이 패널(DP)을 다수의 수용부(321)에 각각 삽입 탑재한다(s200). 그리고 탑재된 디스플레이 패널(DP)의 커넥터를 연결부(330)의 커넥터 단자에 삽입 연결한다(s250). 이 커넥터를 통해 연결부(330)가 검사장치(200)의 제어부(210)로부터 수신한 제어신호를 디스플레이 패널(DP)에 인가하고, 디스플레이 패널(DP)의 출력신호가 연결부(330)에 전달될 수 있다.
이후, 개폐부재(370)를 상측으로 회동시켜 수용부(321)에 탑재된 디스플레이 패널(DP)을 고정함과 동시에 수용부(321)의 입구측을 폐쇄한다(s300).
이렇게 디스플레이 패널(DP)의 커넥터를 연결부(330)에 연결하는 작업과 개폐부재(3770)를 회동시켜 수용부(321)의 입구측을 폐쇄하는 작업은 어느 것이 먼저 이루어져도 무관하며, 동시에 이루어질 수도 있다.
그 다음, 도 7c에 도시된 바와 같이, 검사 대상 디스플레이 패널(DP)을 탑재한 대차(300)를 에이징 검사 환경이 조성된 검사실 내부로 이송하여 지지선반(100)에 고정 설치된 복수의 검사장치(200) 중 어느 하나의 하측에 위치되게 공급한다(s350).
그리고 해당 검사장치(200)의 제어부(210)와 대차(300)의 연결부(330)를 탈착 가능한 연결부재로 연결한다(s400). 이에 따라, 제어부(210)와 연결부(330) 간에 제어신호 및 출력신호의 송ㆍ수신이 가능해진다.
그 후, 검사장치(200)의 제어부(210)가 연결부(330)를 통해 디스플레이 패널(DP)에 디스플레이 특성 확인을 위한 제어신호를 인가하고, 디스플레이 패널(DP)로부터 출력신호를 수신하여 그 디스플레이 특성의 불량 여부를 확인하는 에이징 검사를 수행한다(s450).
다음, 이러한 에이징 검사가 종료되면, 검사장치(200)의 제어부(210)와 대차(300)의 연결부(330)를 연결하는 연결부재를 분리한다(s500). 그리고 검사가 완료된 디스플레이 패널(DP)을 탑재한 대차(300)를 검사장치(200)의 하측에서 회수하여 검사실 외부로 이송한 후(s550), 별도의 장소에서 전술된 대차(300)에 디스플레이 패널(DP)을 삽입 탑재하는 방법의 역순으로 디스플레이 패널(DP)을 대차(300)에서 회수한다.
한편, 이렇게 검사가 완료된 디스플레이 패널(DP)을 탑재한 대차(300)를 검사장치(200)의 하측에서 회수할 때에 검사 대상 디스플레이 패널(DP)이 탑재된 새로운 대차(300)가 후속하여 해당 검사장치(200)의 하측에 위치 공급되고 연결부재가 연결됨에 따라, 검사장치(200)는 거의 연속적으로 에이징 검사의 수행이 가능하다. 즉, 이처럼 검사가 완료된 디스플레이 패널(DP)이 탑재된 대차(300)를 검사 대상 디스플레이 패널(DP)이 탑재된 새로운 대차(300)와 교체하는 방식으로 검사장치(200)의 가동 효율을 극대화할 수 있는 것이다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 에이징 검사 시스템 및 에이징 검사 방법에 의하면, 디스플레이 패널(DP)에 대해 에이징 검사를 수행하는 검사장치(200)가 다수의 디스플레이 패널(DP)을 탑재하는 대차(300)마다 구비되지 않고 대차(300)와는 별도로 지지선반(100)에 고정 설치되며, 대차(300)가 선택적으로 검사장치(200) 하측에 위치되어 연결부재로 연결되게 구비됨으로써, 검사장치(200)가 대차(300)에 다수의 디스플레이 패널(DP)을 탑재, 회수 내지 교체하거나 대차(300)를 이송할 때에도 다른 대차(300)에 탑재된 디스플레이 패널(DP)에 대한 에이징 검사를 수행할 수 있으므로, 검사장치(200)의 가동 효율을 극대화시킬 수 있고, 대차(300)의 제조단가 및 전체 검사 시스템의 구축 비용을 크게 줄일 수 있을 뿐만 아니라, 대차(300)의 중량도 줄일 수 있어 검사 대상 디스플레이 패널(DP)의 크기 변경에 대응되게 대차(300)의 구성요소의 위치를 변경하는 작업 및 대차(300)를 이동시키는 작업도 간편 용이하게 이루어질 수 있다.
이상에서 본 발명은 기재된 구체예에 대해서만 상세히 설명되었지만, 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부되어 있는 특허청구범위에 속함은 당연한 것이다.
＊ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ＊
100 : 지지선반 110 : 선반지지대
200 : 검사장치 210 : 제어부
300 : 대차 310 : 대차구조체
311 : 슬라이딩 부재 320 : 지지로드
321 : 수용부 330 : 연결부
340 : 휠 341 : 휠 고정레버
350 : 고정로드 360 : 안내로드
361 : 장홈 362 : 고정홈
370 : 개폐부재 371 : 회동축
380 : 연결부재 걸이 BS : 바닥면
DP, DP' : 디스플레이 패널

Claims (6)

  1. 다수의 디스플레이 패널에 대해 에이징 검사를 수행하는 시스템에 있어서,
    에이징 검사 환경이 조성된 검사실의 바닥면으로부터 소정의 높이를 갖도록 수평으로 설치된 지지선반;
    상기 지지선반에 서로 이격되게 고정 설치되고, 상기 다수의 디스플레이 패널의 에이징 검사를 위한 제어신호를 송출하며 상기 다수의 디스플레이 패널의 출력신호를 수신하여 그 불량 여부를 검사하는 제어부가 각각 구비된 복수의 검사장치; 및
    상기 바닥면 상에서 이동가능하게 구비되어 상기 복수의 검사장치 중 어느 하나의 하측에 각각 선택적으로 위치되는 복수의 대차;를 포함하되,
    상기 복수의 대차는, 상기 다수의 디스플레이 패널을 탑재하기 위한 다수의 수용부, 및 상기 다수의 디스플레이 패널에 연결되는 연결부를 각각 구비하며,
    상기 연결부는, 상기 제어신호를 수신하여 상기 다수의 디스플레이 패널에 인가하며 인가된 상기 제어신호에 대한 다수의 디스플레이 패널로부터의 상기 출력신호를 제어부로 송신하고,
    상기 연결부와 상기 제어부는, 상기 제어신호 및 상기 출력신호를 송ㆍ수신할 수 있도록 탈착 가능한 연결부재로써 연결되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 수용부는,
    상기 디스플레이 패널 두께에 대응하는 폭으로 서로 이격되도록 상기 대차의 외형을 이루는 대차구조체에 나란하게 설치되는 다수의 지지로드를 구비하여 형성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 대차는,
    상기 디스플레이 패널이 상기 수용부에 삽입되는 방향을 기준으로 상기 디스플레이 패널의 상기 수용부 내측에 위치한 측면에 접촉되어 상기 디스플레이 패널의 삽입 위치를 안내 고정하는 고정로드; 및
    상기 수용부의 내측으로 갈수록 높아지는 경사를 갖도록 각각 설치되고, 그 길이 방향을 따라 장홈이 각각 형성되며, 그 장홈의 내주면에는 상기 고정로드의 양단을 고정하는 복수의 고정홈이 형성되어, 다양한 크기의 상기 디스플레이 패널이 상기 수용부에 탑재될 수 있도록 이동될 수 있게 구비된 상기 고정로드의 위치를 안내 고정하는 한 쌍의 안내로드;
    를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 연결부는,
    상기 복수의 검사장치와 인접한 높이에 위치하도록 상기 대차의 외형을 이루는 대차구조체의 상부에 설치되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 기재된 상기 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템의 상기 대차에 구비된 상기 다수의 수용부에 에이징 검사 대상의 상기 다수의 디스플레이 패널을 각각 삽입 탑재하는 단계;
    상기 대차를 이동시켜 상기 복수의 검사장치 중 어느 하나의 하측에 위치시키는 단계;
    상기 대차의 상기 연결부 및 그 상측에 위치한 상기 검사장치의 상기 제어부를 상기 연결부재로 연결하는 단계; 및
    상기 연결부와 상기 제어부가 상기 제어신호 및 상기 출력신호를 송ㆍ수신하며 상기 대차에 탑재된 상기 다수의 디스플레이 패널에 대한 에이징 검사를 수행하는 단계;
    를 포함하는 디스플레이 패널용 에이징 검사 방법.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 다수의 디스플레이 패널에 대한 에이징 검사가 완료되면, 상기 연결부와 상기 제어부를 연결하는 상기 연결부재를 분리하는 단계; 및
    에이징 검사가 완료된 상기 다수의 디스플레이 패널을 탑재한 상기 대차를 에이징 검사 대상의 상기 다수의 디스플레이 패널을 탑재한 새로운 상기 대차로 교체하는 단계;
    를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널용 에이징 검사 방법.
KR1020100115615A 2010-11-19 2010-11-19 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템 및 이를 이용한 에이징 검사 방법 KR101188347B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100115615A KR101188347B1 (ko) 2010-11-19 2010-11-19 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템 및 이를 이용한 에이징 검사 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100115615A KR101188347B1 (ko) 2010-11-19 2010-11-19 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템 및 이를 이용한 에이징 검사 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120054301A KR20120054301A (ko) 2012-05-30
KR101188347B1 true KR101188347B1 (ko) 2012-10-05

Family

ID=46270192

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100115615A KR101188347B1 (ko) 2010-11-19 2010-11-19 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템 및 이를 이용한 에이징 검사 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101188347B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200082394A (ko) 2018-12-28 2020-07-08 인베니아 주식회사 비전 검사 시스템

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106876230B (zh) * 2017-04-17 2018-06-29 昆山优吉欣智能装备有限公司 一种自动老练机设备
CN107416448A (zh) * 2017-08-24 2017-12-01 苏州优备精密智能装备股份有限公司 液晶面板自动老化设备
CN110189703B (zh) * 2019-06-28 2022-02-18 武汉天马微电子有限公司 一种显示面板和显示装置
CN111710579B (zh) * 2020-06-29 2021-06-29 浙江尧亮照明科技有限公司 一种自动化灯具加工用生产设备
CN113467116B (zh) * 2021-05-28 2023-09-12 深圳市华立诺显示技术有限公司 一种液晶显示器面板检测装置
CN116437074B (zh) * 2023-06-14 2023-08-18 深圳市康意数码科技有限公司 一种电视机高温老化测试装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100910355B1 (ko) 2004-07-23 2009-08-04 가부시키가이샤 아드반테스트 전자 부품 시험 장치

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100910355B1 (ko) 2004-07-23 2009-08-04 가부시키가이샤 아드반테스트 전자 부품 시험 장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200082394A (ko) 2018-12-28 2020-07-08 인베니아 주식회사 비전 검사 시스템

Also Published As

Publication number Publication date
KR20120054301A (ko) 2012-05-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101188347B1 (ko) 디스플레이 패널용 에이징 검사 시스템 및 이를 이용한 에이징 검사 방법
US11567123B2 (en) Wafer inspection system
US8513962B2 (en) Wafer tray and test apparatus
US20120212247A1 (en) Test apparatus and test method
CN109814285A (zh) 检测显示面板缺陷的装置及系统
JP4365391B2 (ja) ディスプレイパネルの検査装置とこれを利用したディスプレイパネル検査方法
KR20110083988A (ko) 렌즈 검사 시스템 및 이를 이용한 렌즈 검사 방법
KR102097456B1 (ko) 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 블록 조립체, 이의 제어 방법 및 디스플레이 패널 검사 장치
KR100943722B1 (ko) 디스플레이 패널용 팔레트
JP2003511852A (ja) 総合検査セル
CN105927004A (zh) 一种用于车库的可拆卸钢构架
TWI418803B (zh) Display panel module to the burner test equipment
CN109693941A (zh) 液晶面板的传输设备
KR20080013560A (ko) 기판 반송장치 및 그 반송방법
KR101435750B1 (ko) Ｌｃｄ 패널의 이동 및 검사시간을 단축시키기 위한 자동 비젼 검사 장치
KR102097455B1 (ko) 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 블록 조립체, 이의 제어 방법 및 디스플레이 패널 검사 장치
CN105818842A (zh) 一种电子装置测试台车
KR101174861B1 (ko) 디스플레이 글래스 테스트기판의 교체장치
KR20140000500A (ko) 자동점등장치 및 그 구동방법
CN213180106U (zh) 一种医疗耗材出厂检测装置
KR200469263Y1 (ko) 유리 기판 운송 장치
KR102240751B1 (ko) 이송 장치 및 이를 포함한 외관 검사 시스템
KR100526118B1 (ko) 평면디스플레이용 작업 스테이지 시스템 및 이 시스템을이용한 평면디스플레이 작업 방법
KR100622409B1 (ko) 티에프티-엘시디 판넬 로딩장치
JP4042046B2 (ja) 液晶基板検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20171026

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180927

Year of fee payment: 7