KR20100067258A

KR20100067258A - 슬라이딩 피씨비 방식의 프로브회로기판의 착탈부를 구비한프로브 유닛

Info

Publication number: KR20100067258A
Application number: KR1020080125735A
Authority: KR
Inventors: 변수룡; 이지홍
Original assignee: 주식회사 크라또
Priority date: 2008-12-11
Filing date: 2008-12-11
Publication date: 2010-06-21
Also published as: KR101003394B1

Abstract

본 발명은 탐침의 미세 위치 조정이 가능한 프로브 유닛에 관한 것이다. 상기 프로브 유닛은, 프로브 스테이지 위에 고정되어 피검사체를 검사하는 것으로서, 본 발명은 유닛베이스부, 상기 유닛베이스부의 전면을 따라 장착된 머니퓰레이터부 및 상기 머니퓰레이터부에 장착되어 피검사체를 검사하는 프로브블록부를 구비하는 프로브 유닛에 관한 것이다. 상기 프로브 유닛은, 상기 프로브블록부와 전기적으로 연동되는 프로브회로기판이 탑재되고, 상기 유닛베이스부에 착탈가능하도록 마련된 회로기판베이스부; 및 상기 회로기판베이스부를 상기 유닛베이스부에 착탈하도록, 상기 유닛베이스부에 설치된 착탈부;를 구비하는 것을 특징으로 한다. 이에 의해, 본 발명은 프로브 스테이지로부터 유닛베이스부 전체를 분해하는 작업없이, 프로브회로기판을 용이하게 점검 및 교체할 수 있다.

프로브 유닛, 유닛베이스부, 프로브회로기판, 회로기판베이스부

Description

슬라이딩 피씨비 방식의 프로브회로기판의 착탈부를 구비한 프로브 유닛{Probe unit including a detachable part using a sliding PCB type}

본 발명은 LCD 패널 등에 신호를 인가하여 패널의 상태를 검사하는 프로브 유닛(Probe Unit)에 관한 것이다.

프로브 유닛은 LCD 패널 등 평판 디스플레이 패널이 정상 작동되는 여부를 확인하기 위한 테스트 장비이다. 프로브 유닛은, 검사모듈로부터 전기적인 신호를 검사의 대상인 패널에 인가하거나 패널로부터 검침된 신호를 검사모듈로 제공하는 기능을 수행한다. 프로브 유닛은 프로브 스테이지에 고정장착되어 사용된다.

그리고 종래의 프로브 유닛은, 프로브패널의 접촉전극과 접촉하기 위한 다수 개의 탐침들이 고정 장착된 프로브블록부, 검사모듈로부터 프로브블록부로 전기적 신호를 출력하거나 탐침으로부터 검침된 전기적 신호를 프로브블록부를 통해 입력받아 검사모듈로 출력하는 프로브회로기판, 이 프로브회로기판을 탑재하여 유닛베이스부의 하부에 설치하는 회로기판베이스부를 구비한다.

그런데, 종래의 프로브 유닛은, 회로기판베이스부에 탑재된 프로브회로기판의 점검을 위해서 유닛베이스부 전체를 프로브 스테이지로부터 분해해야 하는 번거 러움이 발생하며, 유닛베이스부의 분해에 따른 재 조립 및 재 조정에 따른 작업 상의 부담이 발생하는 어려움이 있다.

본 발명은, 상기 문제점을 해결하기 위해, 프로브 스테이지로부터 유닛베이스부 전체를 분해하는 작업없이, 프로브회로기판을 용이하게 점검 및 교체할 수 있는 프로브 유닛을 제공하는 데 목적이 있다.

전술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 특징은, 유닛베이스부, 상기 유닛베이스부의 전면을 따라 장착된 머니퓰레이터부 및 상기 머니퓰레이터부에 장착되어 피검사체를 검사하는 프로브블록부를 구비하는 프로브 유닛에 관한 것으로, 상기 프로브 유닛은 상기 프로브블록부와 전기적으로 연동되는 프로브회로기판이 탑재되고, 상기 유닛베이스부에 착탈가능하도록 마련된 회로기판베이스부; 및 상기 회로기판베이스부를 상기 유닛베이스부에 착탈하도록, 상기 유닛베이스부에 설치된 착탈부;를 구비하는 것을 특징으로 한다.

전술한 본 발명의 회로기판베이스부는, 상기 착탈부에 의해 착탈되도록, 양 측면에 가이드 핀이 형성되고, 상기 착탈부는, 상기 회로기판베이스부를 상기 유닛베이스부에 착탈하기 위해, 상기 가이드 핀과 연결되어 상기 회로기판베이스부를 가이드하는 가이드 레일을 구비한다.

여기서, 상기 착탈부는, 상기 회로기판베이스부의 양 측에 각각 설치되는 것 이 바람직하다.

그리고, 상기 회로기판베이스부에서, 상기 가이드 핀의 각각은 일정 간격 이격되어 2개씩 형성되고, 상기 착탈부에서, 상기 가이드 레일은 상기 가이드 핀의 각각에 대응되어 연결되도록, 2개씩 마련되어 있다.

또한, 상기 착탈부에서, 상기 가이드레일은 상기 회로기판베이스부를 외부로부터 유입하거나 외부로 유출하는 개구부를 포함하는 개구부 레일영역과 상기 개구부 레일영역과 연통되고 상기 개구부 레일영역으로부터 유입된 상기 회로기판베이스부를 사전에 정해진 장착위치로 가이드하는 장착 레일영역을 구비한다. 여기서, 상기 유닛베이스부는, 상기 회로기판베이스부가 상기 착탈부에 의해 착탈되고 상기 회로기판베이스부가 상기 유닛베이스부의 상하측을 통과하면서 착탈되도록, 상기 머니퓰레이터의 후방에 길이 방향으로 형성된 착탈공을 구비하고, 상기 착탈부에서, 상기 장착 레일영역은 상기 회로기판베이스부가 상기 유닛베이스부의 하측에 평행하게 장착되도록 상기 유닛베이스부의 하측에 수평하게 형성되고, 상기 개구부 레일영역은 상기 회로기판베이스부가 상기 착탈공을 통하여 상기 유닛베이스부의 상하부를 왕복하도록 상기 장착 레일영역에 수직으로 형성되는 것이 바람직하다.

이와 같이, 본 발명에 따른 프로브 유닛은, 유닛베이스부에 착탈부와 착탈공을 구비함으로써, 프로브회로기판이 탑재된 회로기판베이스부만을 별도로 독립적으로 분리 및 결합하는 것이 가능하다. 따라서, 본 발명에 따른 프로브 유닛은 유닛베이스부의 전체를 분해해야 하는 작업이 없이도 장착된 프로브회로기판을 용이하 게 점검하거나 피검사체에 대응하여 프로브회로기판의 교체를 용이하게 수행하는 것이 가능하다.

첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 프로브 유닛의 구성 및 동작을 구체적으로 설명한다.

도 1은 본 발명의 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 유닛의 사시도이다.

본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 유닛(1)은, 도 1에 도시된 바와 같이, 프로브 스테이지(도시되지 않음)의 상부에 플레이트 구조를 갖는 유닛베이스부(10), 유닛베이스부(10)의 전면을 따라 장착된 머니퓰레이터부(20), 머니퓰레이터부(20)에 장착되어 피검사체(P)를 검사하는 프로브블록부(25)와 프로브회로기판(도시되지 않음)이 탑재된 회로기판베이스부(30) 및 회로기판베이스부(30)를 유닛베이스부(10)에 착탈하는 착탈부(40);를 구비하고 있다.

유닛베이스부(10)는 프로브 유닛(1)의 지지대로서, 패널 지지테이블(미도시)과 검사모듈(도시되지 않음)에 인접하여 배치된다. 이 패널 지지테이블의 상부에는 LCD 패널, 또는 PDP 등 피검사체(P)가 위치하며, 프로브 유닛(1)은 검사모듈과 연동하여, 검사모듈이 필요한 검사를 할 수 있도록 매개역할을 수행한다. 검사모듈은에 프로브 유닛(1)을 통한 검사를 위해 다양한 측정기와 점등기를 구비할 수 있다.

더불어 유닛베이스부(10)는 회로기판베이스부(30)가 유닛베이스부(10)의 상하측을 통과하면서 착탈되도록, 머니퓰레이터부(20)의 후방에 길이 방향으로 형성된 착탈공(15)을 구비하고 있다. 이러한 착탈공(15)을 통한 회로기판베이스부(30) 의 동작에 대해서는 후술한다.

머니퓰레이터부(20)는 유닛베이스부(10)의 전면 가장자리를 따라 설치되며, 피검사체(P)의 크기 및 피검사체의 전극의 갯수 및 위치에 따라 다양한 위치에 다양한 갯수로 마련될 수 있다.

프로브블록부(25)는 머니퓰레이터부(20)의 전단에 설치되며 피검사체(P)의 전극과 접촉하는 탐침을 구비하고 있다. 프로브블록부(25)는 후술하는 프로브회로기판(도시되지 않음)과 연동되어 피검사체(P)로 사전에 정해진 신호를 인가하거나 피검사체(P)로부터 검출된 신호를 프로브회로기판(도시되지 않음)에 출력하는 기능을 수행한다.

회로기판베이스부(30)는 전술한 프로브블록부(25)와 전기적 및 기계적으로 연결된 프로브회로기판(도시되지 않음)을 탑재하고 있으며, 유닛베이스부(10)의 사전에 정해진 장착위치에 장착되어 있거나, 유닛베이스부(10)의 장착위치로부터 탈거되어 유닛베이스부(10)와 분리되어 독립적으로 다룰 수 있도록 설계되어 있다. 이러한 착탈은 후술하는 착탈부(40)에 의해 구현될 수 있다. 도 2에 도시된 바와 같이, 회로기판베이스부(30)는 후술하는 착탈부(40)에 대응하여 회로기판베이스부(30)의 착탈을 수행하기 위한 가이드 핀(32)을 형성하고 있다. 즉 양 측면에 각각 가이드 핀(32)이 한 쌍씩이 형성되어 있다.

착탈부(40)는 회로기판베이스부(30)를 유닛베이스부(10)의 장착위치로 가이드하여 장착하거나, 장착위치로부터 외부로 가이드하여 탈거하는 기능을 수행한다. 도 2의 확대 사시도 및 도 3의 분해 사시도에 도시된 바와 같이, 착탈부(40)는 회 로기판베이스부(30)의 양 측에 상기 회로기판베이스부(30)와 수직한 방향으로 배치되어 있다.

도 2는 착탈부(40)에 대한 확대 사시도 및 분해도이다. 이하에서는, 도 2를 참조하여 착탈부(40)에 대해 설명한다. 회로기판베이스부(30)의 양 측에 각각 설치되어 있고, 회로기판베이스부(30)가 양 측면에 각각 설치된 한 쌍의 가이드 핀(32)에 의해 정해진 장착위치에 장착되거나, 장착위치로부터 외부로 탈거되도록 인도하는 가이드 레일(42)을 구비하고 있다. 착탈부(40)는 한 쌍의 가이드 핀(32)에 대응되도록 한 쌍의 가이드 레일(42)을 각 구비하고 있다.

여기서, 가이드 레일(42)은 도 3에 도시된 바와 같이, 회로기판베이스부(30)를 외부로부터 유입하거나 외부로 유출하는 개구부(g)를 포함하는 개구부 레일영역(422)과 개구부 레일영역(422)과 연통되고 개구부 레일영역(422)으로부터 유입된 회로기판베이스부(30)를 장착위치로 가이드하는 장착 레일영역(424)으로 구분할 수 있다.

그리고, 착탈부(40)에서, 전술한 장착 레일영역(424)은 도 2에 도시된 바와 같이, 유닛베이스부(10)의 하측에 형성된다. 즉, 도 2에 도시된 바와 같이, 착탈부(40)의 측면과 유닛베이스부(10)의 하부면을 고정격자(44)와 볼트를 이용하여 연결 고정시킴으로써, 착탈부(40)를 유닛베이스부()에 결합한다. 그리고, 회로기판베이스부(30)가 사전에 정해진 장착위치에 도달한 경우, 도 2 및 3에 도시된 바와 같이, 볼트와 같은 고정부재(46)를 이용하여 회로기판베이스부(30)의 측면에 착탈부(40)를 고정시킨다.

또한, 회로기판베이스부(30)는 전술한 가이드 레일(42)의 개구부 레일영역(422)에 의해, 유닛베이스부(10)에 형성된 착탈공(15)을 통하여, 유닛베이스부(10)의 상하부를 이동하도록 장착 레일영역(424)에 대하여 수직하게 형성되어 있다.

이하에서는, 도 4를 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 유닛(1)의 회로기판베이스부(30)의 착탈동작 중 장착 동작만을 설명한다. 탈거 동작은 장착 동작의 역순으로 진행된다.

도 4에 도시된 장착 동작은 회로기판베이스부(30)가 착탈부(40)에 의해 외부로부터 유입되어 유닛베이스부(10)의 정해진 장착위치에 도달하는 데 까지를 도시한 것이다.

도 4의 (a)는, 교체할 회로기판베이스부(30)를 유닛베이스부(10)의 위쪽에서 유입시키는 과정을 도시한 것으로, 회로기판베이스부(30)에는 프로브회로기판(도시되지 않음)이 탑재되어 있다. 도 4의 (b) 및 (c)는 회로기판베이스부(30)가 착탈부(40)에 의해 가이드되어 유닛베이스부(10)의 사전에 정해진 장착위치로 접근하는 과정을 도시한 것으로, 회로기판베이스부(30)의 양 측면에 형성된 가이드 핀(32)이 착탈부(40)의 가이드 레일(42)을 따라 장착위치로 접근한다.

도 4의 (d)는, 전술한 도 4의 (a), (b) 및 (c)과정에 의해 회로기판베이스부(30)가 사전에 정해진 장착위치에 도달한 경우, 도 3에 도시된 고정부재(46)를 이용하여 착탈부(40)에 회로기판베이스부(30)를 고정한다. 도 4의 (a) 내지 (c) 도면에서도 고정부재(46)가 도시되어 있으나, 고정부재(46)는 회로기판베이스부(30) 가 장착위치에 도달한 경우 외부로부터 제공되어도 무방하다. 이러한 회로기판베이스부(30)의 장착 과정은 회로기판베이스부(30)가 도 1에 도시된 착탈공(15)을 통해 유닛베이스부(10)의 상·하를 통과하면서 이루어진다. 탈거 과정은 이와는 역순으로 유닛베이스부(10)의 하측에서 상측으로 이루어진다.

이와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 유닛(1)은 프로브회로기판(도시되지 않음)을 점검하거나 피검사체(P)의 용도에 따라 프로브회로기판(도시되지 않음)을 교체하기 위해, 종래와 같이 유닛베이스부(10)의 전체를 분해하여야 하는 번거러운 작업없이, 프로브회로기판(도시되지 않음)이 탑재된 회로기판베이스부(30)만을 독립적으로 분리 및 결합하는 것에 의해 가능하다.

상기한 바와 같은 본 발명은 도면 및 발명의 상세한 설명에 기재된 실시예를 통하여 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다. 따라서 본 발명의 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위에 의해 정해져야 할 것이다.

본 발명은 LCD 패널 등 평판 디스플레이 패널이 정상 작동되는 여부를 검사하는 장비로서, 반도체 및 평판 디스플레이 패널의 검사와 관련된 전자분야에서 유용하게 사용될 수 있다.

도 1은, 본 발명의 일 실시예에 프로브 유닛의 사시도이다.

도 2는, 도 1의 'A'에 대한 확대도이다.

도 3은, 도 2에 대한 분해 사시도이다.

도 4는, 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 유닛에서 회로기판베이스부를 장착하는 과정을 도시한 도면이다.

Claims

유닛베이스부, 상기 유닛베이스부의 전면을 따라 장착된 머니퓰레이터부 및 상기 머니퓰레이터부에 장착되어 피검사체를 검사하는 프로브블록부를 구비하는 프로브 유닛에 있어서,

상기 프로브블록부와 전기적으로 연동되는 프로브회로기판이 탑재되고, 상기 유닛베이스부에 착탈가능하도록 마련된 회로기판베이스부; 및

상기 회로기판베이스부를 상기 유닛베이스부에 착탈하도록, 상기 유닛베이스부에 설치된 착탈부;를

구비하는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.
제1항에 있어서,

상기 회로기판베이스부는, 상기 착탈부에 의해 착탈되도록, 양 측면에 가이드 핀이 형성되고,

상기 착탈부는, 상기 회로기판베이스부를 상기 유닛베이스부에 착탈하기 위해, 상기 가이드 핀과 연결되어 상기 회로기판베이스부를 가이드하는 가이드 레일을 구비하는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.
제2항에 있어서,

상기 착탈부는, 상기 회로기판베이스부의 양 측에 각각 설치된 것을 특징으 로 하는 프로브 유닛.
제2항에 있어서,

상기 회로기판베이스부에서, 상기 가이드 핀의 각각은 일정 간격 이격되어 2개씩 형성되고,

상기 착탈부에서, 상기 가이드 레일은 상기 가이드 핀의 각각에 대응되어 연결되도록, 2개씩 마련되는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.
제2항 내지 제4항 중 어느 하나의 항에 있어서,

상기 착탈부에서, 상기 가이드레일은 상기 회로기판베이스부를 외부로부터 유입하거나 외부로 유출하는 개구부를 포함하는 개구부 레일영역과 상기 개구부 레일영역과 연통되고 상기 개구부 레일영역으로부터 유입된 상기 회로기판베이스부를 사전에 정해진 장착위치로 가이드하는 장착 레일영역을 구비하는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.
제5항에 있어서,

상기 유닛베이스부는, 상기 회로기판베이스부가 상기 착탈부에 의해 착탈되고 상기 회로기판베이스부가 상기 유닛베이스부의 상하측을 통과하면서 착탈되도록, 상기 머니퓰레이터의 후방에 길이 방향으로 형성된 착탈공을 구비하고,

상기 착탈부에서, 상기 장착 레일영역은 상기 회로기판베이스부가 상기 유닛 베이스부의 하측에 평행하게 장착되도록 상기 유닛베이스부의 하측에 수평하게 형성되고, 상기 개구부 레일영역은 상기 회로기판베이스부가 상기 착탈공을 통하여 상기 유닛베이스부의 상하부를 왕복하도록 상기 장착 레일영역에 수직으로 형성된 것을 특징으로 하는 프로브 유닛.