TW201523555A - 用於檢測amoled面板的顯示面板檢測裝置及其方法 - Google Patents

用於檢測amoled面板的顯示面板檢測裝置及其方法 Download PDF

Info

Publication number
TW201523555A
TW201523555A TW103121153A TW103121153A TW201523555A TW 201523555 A TW201523555 A TW 201523555A TW 103121153 A TW103121153 A TW 103121153A TW 103121153 A TW103121153 A TW 103121153A TW 201523555 A TW201523555 A TW 201523555A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
display panel
contact
detecting
lever
support
Prior art date
Application number
TW103121153A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI559271B (zh
Inventor
Jae-Hyuk Lee
Yoon-Ki Han
Original Assignee
Elp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to KR1020130150960A priority Critical patent/KR20150066018A/ko
Application filed by Elp Corp filed Critical Elp Corp
Publication of TW201523555A publication Critical patent/TW201523555A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI559271B publication Critical patent/TWI559271B/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07392Multiple probes manipulating each probe element or tip individually
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2360/00Aspects of the architecture of display systems
    • G09G2360/14Detecting light within display terminals, e.g. using a single or a plurality of photosensors
    • G09G2360/145Detecting light within display terminals, e.g. using a single or a plurality of photosensors the light originating from the display screen
    • G09G2360/147Detecting light within display terminals, e.g. using a single or a plurality of photosensors the light originating from the display screen the originated light output being determined for each pixel
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]

Abstract

本發明揭露了一種用於檢測AMOLED顯示面板的顯示面板檢測裝置及其方法。本發明實施例的顯示面板檢測裝置,包括:本體,設置在用於檢測顯示面板的工作臺上;托板,包括多個夾具,該多個夾具沿著支撐件的延伸長度方向依序設置,該支撐件組裝在固定於該本體的底座上,該多個夾具的底部分別安裝有接觸件,槓桿形式的桿件抬起或者放下該夾具,以使該接觸件與對應的顯示面板接觸;桿件按壓單元,設置在移動體上,根據所輸入的信號下降或者上升,以使該桿件動作,該移動體可在該本體上垂直或者水平移動;及控制單元,按連接於多個接觸件的各通道分別施加電信號,以對各顯示面板進行老化及點燈檢測。

Description

用於檢測AMOLED面板的顯示面板檢測裝置及其方法
本發明涉及一種用於檢測AMOLED面板的顯示面板檢測裝置及其方法。
AMOLED面板(Active Mode Organic Light Emitting Diode Panel)是一種透過向以主動矩陣(Active Matrix)形式排列的畫素個別提供依據影像資訊的數據信號來控制畫素,從而能夠顯示所需影像的顯示裝置。
AMOLED面板具有輕、薄、低耗電驅動等特徵,因此應用範圍逐漸變寬,最近作為顯示小型畫面的裝置廣泛應用於便攜式終端,如平板電腦、便攜式音響裝置及智慧型手機等。
一方面,在小型顯示面板的製程中進行面板檢測,向顯示面板施加電信號檢測是否正常工作。此時,所使用的裝置為探針臺。
此探針臺使用一種利用葉片(Blade)接觸件(Contactor)向形成在顯示面板裝置上的電池觸點(Pad)施加電信號,以測試電特性的系統。
然而,以往為了老化檢測,小型顯示面板的一部分 插入卡盒式安裝結構中,以便與該接觸件連接,這導致安裝或者拆卸的過程中顯示面板上產生裂縫(Crack)的問題。
而且,小型顯示面板的生產特性上需要快速生產大量的顯示面板,因此要求速檢,而現有的探針臺一次只能檢測一張顯示面板,所以很難適用於大量生產。
例如,韓國公開專利第2007-0072649號揭露了液晶顯示模組的測試裝置及方法,但不能支持大量顯示面板的檢測,因此很難適用於大量生產。
本發明的實施例提供一種利用與多個AMOLED面板同時接觸的托板,一次性地進行老化(aging)及點燈檢測的顯示面板檢測裝置及其方法。
根據本發明實施例的顯示面板檢測裝置,包括:本體,設置在用於檢測顯示面板的工作臺上;托板,包括多個夾具(Clamp),該多個夾具沿著支撐件(Support)的延伸長度方向依序設置,該支撐件組裝在固定於該本體的底座上,該多個夾具的底部分別安裝有接觸件(Contactor),槓桿形式的桿件抬起或者方下該夾具,以使該接觸件與對應的顯示面板接觸;桿件按壓單元(Lever Push Unit),設置在移動體上,根據所輸入的信號下降或者上升,以使該桿件動作,,該移動體可在該本體上垂直或者水準移動;及控制單元,按連接於多個接觸件的各通道分別施加電信號,以對各顯示面板進行老化及點燈檢測。
該顯示面板檢測裝置,可進一步包括:操作單元,透過多個輸入鍵輸入接觸件的自動接觸(Loading)或者自動脫離(Unloading)命令,該輸入鍵用於輸入檢測顯示面板的動作命令;及拍攝單元,從該托板的下方拍攝處於夾持狀態的該接觸件的位置並提供所拍攝的影像,以便在配置 顯示面板時,對準顯示面板與該接觸件的位置。
而且,該支撐件透過分度銷與該底座結合,可透過一次操作進行拆卸或者組裝。
另外,該支撐件設置在該底座上,並具有“┐”形支撐結構,該支撐件的正面上以長度方向的預定間隔形成有段差空間,用於設置該夾具和桿件。
此外,該夾具具有凸形結構,該夾具的凸部插設於該段差空間內,並且透過在該支撐件與夾具之間垂直移動的LM導向塊結合,以保障該夾具因該桿件的動作而進行升降時的精度。
而且,該LM導向塊包括結合於該支撐件的段差空間內側面的導軌塊和與夾具結合並沿著該導軌塊垂直升降的滑塊,該導軌塊和滑塊可分別利用兩個以上的標準銷(Pin)進行結合。
該桿件為槓桿形式,由鉸接件結合於對視形狀的支座內側而形成,其部分端部透過從該支撐件的背面向該夾具側部分開放的空間卡在設於該夾具上的軸承下方,可使該夾具進行升降。
另外,該夾具的左右側上部設置有彈簧,該彈簧插固於形成在該支撐件底部的第一孔中,可透過彈性在該接觸件和該顯示面板之間施加接觸力。
而且,該支撐件包括用於固定插入該第一孔的該彈簧的彈簧架,該彈簧架插入第二孔,該第二孔形成在該支撐件的正面上與該第一孔直交。
此外,該夾具可包括:多個對準導銷,用於決定安裝在該夾具下方的該接觸件的位置;及鋼制接觸件支架,利用設置於該夾具底部中央的磁鐵的磁力固定該接觸件的安裝位置。
而且,該接觸件可為柔性印刷電路板(Flexible Printed Circuit Board,FPCB)、微電子機械系統的柔性印刷電路板(MEMS FPCB)、葉片接觸件(Blade Contactor)、銷接觸件(Pin Contactor)中的任何一種。
另外,該托板還可以包括:印刷電路板,包括為了與多個接觸件連接由多通道組成的第一接口和與該控制單元連接的第二接口;派熱克斯玻璃(Pyrex),是一種特殊玻璃設置在夾持狀態下的該接觸件的下方,以便能夠利用該拍攝單元拍攝該接觸件的安裝位置;及面板座(panel Stand),形成有指引線,以便能夠對準該顯示面板的位置與接觸件的安裝位置,並且底部設置有墊材。
而且,該桿件按壓單元為雙重結構,在該移動體上設置有多個該桿件按壓單元,可使多個桿件同時動作。
另一方面,根據本發明實施例的顯示面板檢測裝置的顯示面板檢測方法,該裝置包括托板,該托板包括多個夾具,該多個夾具沿著支撐件的延伸長度方向依序設置,該支撐件組裝在固定於該本體的底座上,該多個夾具的底部分別安裝有接觸件,槓桿形式的桿件抬起或者方下該夾具,以使該接觸件與對應的顯示面板接觸,該方法包括:a)在該接觸件與設置在該底座上的派熱克斯玻璃(Pyrex)接觸的夾持(clamping)狀態下,利用拍攝單元拍攝該接觸件的位置;b)設置在移動體的桿件按壓單元下降使得該桿件動作,以使一體地安裝有該接觸件的該夾具上升;c)在該夾具上升而形成的空間內,並參照所拍攝的該接觸件的位置影像來配置該顯示面板;d)透過使該桿件按壓單元上升解除對該桿件的按壓,以使該夾具下降,讓該接觸件與該顯示面板的電池觸點接觸;e)向連接於該接觸件的通道施加電信號,以對該顯示面板進行老化及點燈檢測。
另外,在該步驟d)之後,若檢測對象顯示面板還存在,則將該桿件按壓單元移向下一個通道的桿件上方,並重複進行該步驟b)至步驟e)。
根據本發明的實施例,用於檢測小型顯示面板的托板,根據檢測對象的大小可採用多個通道,因此具有減少檢測時間,並可適用於批量生產的效果。
而且,利用設在夾具底部的導銷和磁鐵來安裝接觸件,可將接觸件安裝在正確的位置上,並具有受測面板型號變更時可簡單替換接觸件的效果。
另外,與習知的卡盒式安裝結構不同,在沒有物理接觸的情況下,將顯示面板置放於面板座內,並從上方使接觸件接觸,因而具有防止檢測過程中顯示面板產生裂縫的效果。
1‧‧‧顯示面板檢測裝置
100‧‧‧本體
200‧‧‧托板
210‧‧‧底座
220‧‧‧支撐件
221‧‧‧段差空間
230‧‧‧夾具
231‧‧‧彈簧
232‧‧‧彈簧架
233‧‧‧對準導銷
234‧‧‧磁鐵
235‧‧‧接觸件支架
236‧‧‧墊材
240‧‧‧接觸件
250‧‧‧桿件
251‧‧‧支座
252‧‧‧鉸接件
253‧‧‧彈簧
260‧‧‧LM導向塊
261‧‧‧導軌塊
262‧‧‧滑塊
270‧‧‧印刷電路板
271‧‧‧第一接口
272‧‧‧第二接口
280‧‧‧派熱克斯玻璃
290‧‧‧面板座
300‧‧‧桿件按壓單元
310‧‧‧移動體
400‧‧‧操作單元
500‧‧‧拍攝單元
600‧‧‧控制單元
S101~S109‧‧‧步驟
圖1為顯示本發明實施例的顯示面板檢測裝置的立體圖。
圖2為顯示本發明實施例的托板組裝結構的正面立體圖。
圖3為顯示本發明實施例的托板組裝結構的分解立體圖。
圖4為顯示本發明實施例的夾具上安裝接觸件的結構立體圖。
圖5為顯示本發明實施例的桿件結構的分解立體圖。
圖6為顯示本發明實施例的顯示面板檢測方法的流程圖。
下面,參照附圖詳細說明本發明的實施例,以使所屬領域的技術人員能夠容易實施。然而,本發明能夠以各種不同方式實施,並不侷限於下述實施例。而且,為了清楚地說明本發明,圖中省略了與說明無關的部分,並且在整篇說明書中,對於類似的部分採用了類似的圖式符號。
在整篇說明書中,在某部分“包括”某些構件時,只要沒有特別相反的記載,“包括”表示不排除其他構件,可進一步包含其他構件。而且,說明書中記載的“…單元”,“…件”,“模組”等用語表示處理至少一個功能或者動作的單位,這可以透過硬件或軟件、或者硬件及軟件的結合來實現。
在整篇說明書中,將顯示面板檢測裝置作為檢測AMOLED面板的裝置進行了描述,然而檢測對象不限於AMOLED面板,可以是各種顯示面板(Display panel)。
接下來,參照附圖詳細說明根據本發明實施例的用於檢測AMOLED面板的顯示面板檢測裝置及其方法。圖1為顯示本發明實施例的顯示面板檢測裝置的立體圖。
請參見圖1,本發明實施例的顯示面板檢測裝置1,包括:本體100、托板200、桿件按壓單元300、操作單元400、拍攝單元500以及控制單元600。
本體100設置在用於檢測AMOLED面板的工作臺(未圖示)上,且本體100的外部設置有托板200、桿件按壓單元300及操作單元400,本體100的內部設置有拍攝單元500和控制單元600。
托板200包括多個夾具230,該多個夾具230沿著支撐件220的延伸長度方向依序設置,該支撐件220組裝在固定於該本體100的底座210上,並且該多個夾具230的下方分別安裝接觸件240,透過槓桿形式的桿件250抬起或者放下接觸件240的動作來夾住作為檢測對象的AMOLED面板。下面,詳細說明桿件250。
桿件按壓單元(Lever Push Unit)300設置在可垂直(z)及水平(x)移動的移動體310上,並根據所輸入的信號下降或者上升,從而使桿件250動作。
具體地,桿件按壓單元300透過下降動作按壓桿件250,使得與接觸件240安裝成一體的夾具230上升,由此形成用於配置AMOLED面板的進入空間。
反之,桿件按壓單元300透過上升動作解除對桿件250的按壓,使得夾具230下降。此時,該空間中配置有AMOLED面板時,分別安裝在夾具230的下方的接觸件240與對應的AMOLED面板的電池觸點(Pad)接觸,從而可以形成電性連接。
操作單元400被輸入根據本發明實施例的用於檢測AMOLED面板的啟動命令。
操作單元400可透過多個輸入鍵輸入接觸件240的自動接觸(Loading)或者自動脫離(Unloading)命令。透過這種動作,可在受測面板模型變更時,容易更換接觸件。
拍攝單元500從托板(Pallet)下方拍攝(Capture)處於夾持狀態的接觸件240的位置並提供所拍攝的影像,以在配置AMOLED面板時,能夠對準該接觸件的位置進行配置。
控制單元600控制本發明實施例的用於檢測AMOLED面板的該各單元的動作,並儲存用於控制的程式。
控制單元600連接於多通道印刷電路板(Printed Circuit Board,PCB),並按各通道分別連接的接觸件240施加電信號,以對各AMOLED面板進行老化及點燈檢測。
在本發明的實施例中,如圖1所示,配置有10個AMOLED面板並可連接到10個通道,但該AMOLED面板的配置和通道的數量並不侷限於此。
下面,透過圖2及圖3說明本發明實施例的托板200的具體結構。
圖2為顯示本發明實施例的托板組裝結構的正面立體圖。
圖3為顯示本發明實施例的托板組裝結構的分解立體圖。
請參見圖2及3,本發明實施例的托板200,包括:底座210、支撐件220、夾具230、接觸件240、桿件250、LM導向塊260、印刷電路板270、派熱克斯玻璃280及面板座290。
底座210透過螺絲或者螺栓等結合部件固定於本體100的上面。
支撐件220具有設置在底座210上的“┐”形支撐結構,且正面上以長度方向的預定間隔形成有段差空間221,用於設置夾具230、桿件250及LM導向塊260。
此時,支撐件220透過分度銷(Indexing Plungers,未圖示)與底座210結合,從而可透過一次操作(One Touch)進行拆卸和組裝。
夾具230具有“凸”形結構,其中凸部插設於支撐件220的段差空間221內,並透過在支撐件220與夾具230之間垂直移動的LM導向塊260結合,以保障垂直升降時的重複精度。
即,如圖3所示,LM導向塊260的導軌塊261結合在支撐件220的段差空間221的內側面上,而沿著導軌塊261垂直升降的滑塊262結合在夾具230上。為了便於組裝,該導軌塊261和滑塊262分別可利用兩個標準銷(Pin)來結合。
而且,在夾具230的左右側上部分別設置彈簧231,並插固於形成在支撐件220的底部的孔中,以透過彈性確保接觸件240和AMOLED面板之間的接觸力。此時,支撐件220在底部兩側具有插入彈簧231的孔(未圖示),並且在支撐件的正面可形成與彈簧231的插入孔直交的孔,用於插入彈簧架232。
圖4為顯示本發明實施例的夾具上安裝有接觸件的結構立 體圖。
請參見圖4,本發明實施例的夾具230設置有多個對準導銷(Align Guide Pin)233,用於決定安裝到夾具下方的接觸件240的位置。
而且,夾具230的底部中央設置有磁鐵234,其上依序設置接觸件和利用磁力使接觸件240定位的鋼制接觸件支架235。
即,對準導銷233在並排貫穿接觸件240和接觸件支架235的狀態下,透過磁鐵234與接觸件支架235之間發生的磁力,可將接觸件固定在正確的安裝位置上。
如此,根據本發明實施例的夾具230與接觸件240的結合結構,利用對準導銷233使安裝於夾具230的下方的接觸件240定位,並利用磁鐵234將接觸件240固定在夾具230的下方,因此可提高替換接觸件的方便性。
接觸件240可採用各種各樣的接觸件,例如柔性印刷電路板(Flexible Printed Circuit Board,FPCB)、微電子機械系統的柔性印刷電路板(MEMS FPCB)、葉片接觸件(Blade Contactor)、銷接觸件(Pin Contactor)等。
習知的探針臺(Probe Station)裝置儘管使用高價裝備,但是存在只能使用一種接觸件(Contactor)的缺點。然而,各企業對檢測對象的老化(Aging)檢測條件不同,而根據本發明的實施例可使用各種相應的接觸件240。
例如,對面板進行老化檢測時,採用點燈並利用加熱器從外部加熱的方式的情況下,由於加熱器所產生的熱,不能將柔性印刷電路板用作接觸件。即,柔性印刷電路板不耐熱,會產生嚴重的熱變形,因此需要採用加熱方式來進行老化檢測時,可採用葉片或者銷型接觸件。
而且,現批量生產的面板(Panel)的焊墊間距(Pad Pitch)為300μm,焊墊寬度為150μm,而高解析度面板的焊墊寬度和間距(Pitch)更 細小。為此,作為接觸件可採用微電子機械系統的柔性印刷電路板。
只是,假設本發明實施例中作為接觸件240利用柔性印刷電路板,而採用柔性材質的柔性印刷電路板型接觸件240時,在接觸件的接觸端所處的夾具230的底部插設矽或者胺甲酸乙酯等墊材236,可提高與AMOLED面板的接觸(Contact)性。
桿件250設置在支撐件220的段差空間221的背面,並且透過向夾具230側部分開放的空間,桿件250的部分端部卡在設於夾具230上的軸承233的下方,從而使夾具230上下移動。
軸承233最大限度地減小桿件250的重複動作所導致的與夾具230的摩擦,從而減少疲勞度,預防機械損傷。
圖5為顯示本發明實施例的桿件結構的分解立體圖。
請參見圖5,本發明實施例的桿件250為槓桿形式,由對視形狀的支座251和結合於支座內側的鉸接件252組成。此時,在支座251的後端,可設置頂推桿件250底部的彈簧253。
此外,如圖2所示,印刷電路板270包括為了與多個接觸件240連接由多個通道組成的第一接口271和與控制單元600連接的第二接口272。
派熱克斯玻璃280是一種特殊玻璃設置在夾持狀態下的接觸件240的下方,以便能夠利用拍攝單元500拍攝接觸件240的安裝位置,從而支援自動對準(Auto Align)。此時,採用機械性能優於鋼化玻璃的派熱克斯玻璃280,即便長時間使用也不會影響自動對準。
面板座290上形成有引導線,以便能夠對準AMOLED面板的位置與接觸件240的安裝位置,並且可在面板座底部設置墊材,以預防面板被夾時發生物理損傷。
下面,說明本發明實施例的顯示面板檢測裝置1基於上述結 構檢測AMOLED面板的方法。
圖6為顯示本發明實施例的顯示面板檢測方法的流程圖。
請參見圖6,本發明實施例的顯示面板檢測方法,包括以下步驟。步驟101,顯示面板檢測裝置1在底座210上垂直設置具有“┐”形截面的支撐件220,並在沿支撐件220的長度方向設置的多個夾具230的底部分別安裝接觸件240。
即,在檢測AMOLED面板時,初始狀態是在夾具230的底部安裝有接觸件240的狀態下,接觸件240與設在底座210上的派熱克斯玻璃(Pyrex)接觸的夾持(Clamping)狀態。
步驟102,顯示面板檢測裝置1利用拍攝單元500,從托板下方透過派熱克斯玻璃280拍攝(Capture)處於夾持狀態的接觸件240的位置。
步驟103,顯示面板檢測裝置1使桿件按壓單元300下降讓桿件250動作,藉此使一體地安裝有接觸件240的夾具230上升,以配置AMOLED面板。此時,透過夾具230的上升形成可在面板座上置放AMOLED面板的空間。
步驟104,顯示面板檢測裝置1將AMOLED面板配置在所形成的空間內,並根據所拍攝的接觸件影像(Image),將形成於所配置的AMOLED面板上的電池觸點(Pad)自動對準。
雖然未圖示,但AMOLED面板透過額外的自動對準臺(Auto Align Stage)逐個通道地個別移送到面板座290。該自動對準臺通常由沿軌道向X、Y、Z軸移動的機構或者具有移送操縱器的機器人系統組成,因此省略其詳細說明。
只是,移送並配置AMOLED面板時,應與對應的接觸件240的觸點一致,因此重點要考慮接觸件240的安裝位置,而根據本發明實施 例的顯示面板檢測裝置1能夠支援自動對準,參照拍攝單元500所拍攝的影像和預設的自動對準臺的移動資訊配置AMOLED面板。
步驟105,顯示面板檢測裝置1在該自動對準結束後,使桿件按壓單元300上升而解除對桿件250的按壓。步驟106,由此處於提升狀態的夾具230下降,使得接觸件240與AMOLED面板的電池觸點(Pad)接觸。
此時,安裝於夾具230的接觸件240與對應的AMOLED面板的電池觸點接觸而電性連接。
步驟107,顯示面板檢測裝置1透過接觸件240向AMOLED面板施加電信號,以進行老化及點燈檢測。
步驟108,顯示面板檢測裝置1查看還有沒有檢測對象AMOLED面板,若有檢測對象則進行步驟109,將桿件按壓單元300移向下一個通道(下一個桿件250的上方),並依序重複該步驟102至步驟107,對AMOLED面板進行檢測。
反之,若顯示面板檢測裝置1查出沒有要進一步檢測的AMOLED面板或者接收到結束命令,就結束檢測。
如此,根據本發明的實施例,用於檢測小型AMOLED面板的托板200根據檢測對象的大小可採用多個通道,因此具有減小檢測時間,並可適用於批量生產的效果。
而且,利用設在夾具230的底部的導銷安裝接觸件240,從而可將接觸件240安裝在正確的位置上,並具有受測面板型號變更時可簡單替換接觸件240的效果。
另外,與習知的卡盒式安裝結構不同,在沒有物理接觸的情況下,將AMOLED面板置放於面板座290內,並從上方使接觸件240接觸,因而具有防止檢測過程中AMOLED面板產生裂縫的效果。
以上,對本發明的實施例進行了說明,但本發明並不侷限於上述實施例,可進行各種變更。
例如,雖然在圖1所示的本發明的實施例中,針對由一個桿件按壓單元組成並按通道依序檢測所配置的AMOLED面板的顯示面板檢測裝置進行了說明,但不限於此,也可由多個桿件按壓單元300組成,併進行雙重檢測。
假設有10個通道結構,則由第一桿件按壓單元300-1檢測第一通道至第5通道,同時由第二桿件按壓單元300-2檢測第6通道至第10通道,從而具有檢測時間可減半的優點。
另外,在圖1所示的本發明實施例中,桿件按壓單元300只能使一個桿件250動作,但不限於此,也可將桿件按壓單元300構成為橫向延伸的壓桿(Push bar)形狀,該壓桿下降並使多個桿件250同時動作。
此時,桿件按壓單元300沿著橫向延伸的長度,可使兩個以上的桿件250同時動作,因此可同時檢測多個AMOLED面板,從而具有能夠縮短檢測時間的優點。
本發明的實施例不只是透過以上說明的裝置及/或者方法才能實現,也可透過用於實現對應於本發明實施例之構成的功能的程式、記錄有該程式的記錄媒介等實現,而且只要是所屬技術領域中具有通常知識者就能由前述實施例的記載容易實現。
上面,詳細說明了本發明的實施例,但本發明的申請專利範圍並不侷限於此,所屬技術領域中具有通常知識者利用申請專利範圍中所定義的本發明的基本概念進行的各種變更及改進也屬於本發明的申請專利範圍。
1‧‧‧顯示面板檢測裝置
100‧‧‧本體
200‧‧‧托板
210‧‧‧底座
220‧‧‧支撐件
230‧‧‧夾具
240‧‧‧接觸件
250‧‧‧桿件
300‧‧‧桿件按壓單元
310‧‧‧移動體
400‧‧‧操作單元
500‧‧‧拍攝單元
600‧‧‧控制單元

Claims (16)

  1. 一種顯示面板檢測裝置,包括:本體,設置在用於檢測顯示面板的工作臺上;托板,包括多個夾具,該多個夾具沿著支撐件的延伸長度方向依序設置,該支撐件組裝在固定於該本體的底座上,該多個夾具的底部分別安裝有接觸件,槓桿形式的桿件抬起或者放下該夾具,以使該接觸件與對應的顯示面板接觸;桿件按壓單元,設置在移動體上,根據所輸入的信號下降或者上升,以使該桿件動作,該移動體可在該本體上垂直或者水平移動;及控制單元,按連接於多個接觸件的各通道分別施加電信號,以對各顯示面板進行老化及點燈檢測。
  2. 申請專利範圍第1項所述的顯示面板檢測裝置,進一步包括:操作單元,透過多個輸入鍵輸入接觸件的自動接觸或者自動脫離命令,該輸入鍵用於輸入檢測顯示面板的操作命令;及拍攝單元,從該托板的下方拍攝處於夾持狀態的該接觸件的位置並提供所拍攝的影像,以便在配置顯示面板時,對準顯示面板與該接觸件的位置。
  3. 申請專利範圍第1項所述的顯示面板檢測裝置,其中,該支撐件透過分度銷與該底座結合,可透過一次操作進行拆卸或者組裝。
  4. 申請專利範圍第1項所述的顯示面板檢測裝置,其中,該支撐件設置在該底座上,並具有“┐”形支撐結構,該支撐件的正面上以長度方向的預定間隔形成有段差空間,用於設置該夾具和桿件。
  5. 申請專利範圍第4項所述的顯示面板檢測裝置,其中,該夾具具有凸形結構,該夾具的凸部插設於該段差空間內,並且透過 在該支撐件與夾具之間垂直移動的LM導向塊結合,以保障該夾具因該桿件的動作而進行升降時的精度。
  6. 申請專利範圍第5項所述的顯示面板的檢測裝置,其中,該LM導向塊包括結合於該支撐件的段差空間內側面的導軌塊和與夾具結合併沿著該導軌塊垂直升降的滑塊,該導軌塊和滑塊分別利用兩個以上的標準銷進行結合。
  7. 申請專利範圍第4項所述的顯示面板的檢測裝置,其中,該桿件為槓桿形式,由鉸接件結合於對視形狀的支座內側而形成,其部分端部透過從該支撐件的背面向該夾具側部分開放的空間卡在設於該夾具上的軸承下方,從而使該夾具進行升降。
  8. 申請專利範圍第1項所述的顯示面板的檢測裝置,其中,該夾具的左右側上部設置有彈簧,該彈簧插固於形成在該支撐件底部的第一孔中,以透過彈性在該接觸件和該顯示面板之間施加接觸力。
  9. 申請專利範圍第8項所述的顯示面板的檢測裝置,其中,該支撐件包括用於固定插入該第一孔的該彈簧的彈簧架,該彈簧架插入第二孔,該第二孔形成在該支撐件的正面上與該第一孔直交。
  10. 申請專利範圍第1項所述的顯示面板的檢測裝置,其中,該夾具包括:多個對準導銷,用於決定安裝在該夾具下方的該接觸件的位置;及鋼製接觸件支架,利用設置於該夾具底部中央的磁鐵的磁力固定該接觸件的安裝位置。
  11. 申請專利範圍第1項所述的顯示面板的檢測裝置,其中,該接觸件為柔性印刷電路板、微電子機械系統的柔性印刷電路板、葉片接觸件、銷接觸件中的任何一種。
  12. 申請專利範圍第1項所述的顯示面板的檢測裝置,其中, 該托板還包括,印刷電路板,包括為了與多個接觸件連接由多通道組成的第一接口和與該控制單元連接的第二接口;派熱克斯玻璃,是一種特殊玻璃設置在夾持狀態下的該接觸件的下方,以便能夠利用該拍攝單元拍攝該接觸件的安裝位置;及面板座,形成有引導線,以便能夠對準該顯示面板的位置與接觸件的安裝位置,並且底部設置有墊材。
  13. 申請專利範圍第1項所述的顯示面板的檢測裝置,其中,該桿件按壓單元為雙重結構,在該移動體上設置有多個該桿件按壓單元,以使多個桿件同時動作。
  14. 申請專利範圍第1項所述的顯示面板的檢測裝置,其中,該桿件按壓單元為沿著設置有多個桿件的長度方向延伸的壓桿形狀,以使該壓桿讓多個桿同時動作。
  15. 一種顯示面板檢測裝置的顯示面板檢測方法,該裝置包括托板,該托板包括多個夾具,該多個夾具沿著支撐件的延伸長度方向依序設置,該支撐件組裝在固定於該本體的底座上,該多個夾具的底部分別安裝有接觸件,槓桿形式的桿件抬起或者放下該夾具,以使該接觸件與對應的顯示面板接觸,該方法包括:a)在該接觸件與設置在該底座上的派熱克斯玻璃接觸的夾持狀態下,利用拍攝單元拍攝該接觸件的位置;b)設置在移動體的桿件按壓單元下降使得該桿件動作,以使一體地安裝有該接觸件的該夾具上升;c)在該夾具上升而形成的空間內,並參照所拍攝的該接觸件的位置影像來配置該顯示面板;d)透過使該桿件按壓單元上升解除對該桿件的按壓,以使該夾具下降, 讓該接觸件與該顯示面板的電池觸點接觸;e)向連接於該接觸件的通道施加電信號,以對該顯示面板進行老化及點燈檢測。
  16. 申請專利範圍第15項所述的顯示面板檢測方法,其中,在該步驟d)之後,若檢測對象顯示面板還存在,則將該桿件按壓單元移向下一個通道的桿件上方,並重複進行該步驟b)至步驟e)。
TW103121153A 2013-12-05 2014-06-19 用於檢測amoled面板的顯示面板檢測裝置及其方法 TWI559271B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130150960A KR20150066018A (ko) 2013-12-05 2013-12-05 Amoled 패널 검사를 위한 표시 패널 검사 장치 및 그 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201523555A true TW201523555A (zh) 2015-06-16
TWI559271B TWI559271B (zh) 2016-11-21

Family

ID=53273599

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW103121153A TWI559271B (zh) 2013-12-05 2014-06-19 用於檢測amoled面板的顯示面板檢測裝置及其方法

Country Status (4)

Country Link
KR (1) KR20150066018A (zh)
CN (1) CN105247373B (zh)
TW (1) TWI559271B (zh)
WO (1) WO2015083858A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI647446B (zh) * 2018-04-25 2019-01-11 南韓商De&T股份有限公司 柔性顯示板檢查用夾具及利用其的檢查裝置

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105898665A (zh) * 2016-04-29 2016-08-24 梧州恒声电子科技有限公司 一种用于车间内喇叭包络曲线测试平台及其操作方法
CN105954672B (zh) * 2016-06-18 2018-07-10 东莞华贝电子科技有限公司 一种主板联测机及其测试方法
CN107025871B (zh) * 2017-06-13 2021-01-26 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板检测装置及检测方法
KR102021599B1 (ko) * 2018-01-12 2019-09-16 주식회사 제다온 디스플레이패널 검사용 콘택터 마운트 조립체
CN109212436A (zh) * 2018-09-03 2019-01-15 刘宾 一种便于调节的led灯老化测试装置
KR102099653B1 (ko) * 2018-11-12 2020-04-10 주시회사 머신앤피플 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛
KR102137630B1 (ko) * 2019-02-22 2020-07-24 주식회사 제다온 디스플레이패널 검사용 콘택터 마운트 조립체
CN109916595B (zh) * 2019-03-27 2021-01-22 京东方科技集团股份有限公司 一种点亮夹具及大视角光学测试装置
KR102149703B1 (ko) * 2019-04-09 2020-08-31 주식회사 이엘피 디스플레이 패널의 사이즈에 따른 간격 가변 검사장치
CN110940876A (zh) * 2019-11-27 2020-03-31 苏州精濑光电有限公司 一种显示面板老化检测设备

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3258098B2 (ja) * 1992-11-18 2002-02-18 シャープ株式会社 ディスプレイパネル検査装置
JP2001318116A (ja) * 2000-05-11 2001-11-16 Micronics Japan Co Ltd 表示用パネル基板の検査装置
JP4313565B2 (ja) * 2002-12-06 2009-08-12 株式会社日本マイクロニクス プローブ装置
JP2005084190A (ja) * 2003-09-05 2005-03-31 Deisukuroodo Group:Kk 液晶ガラス基板の検査冶具
CN100445807C (zh) * 2004-06-25 2008-12-24 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 Lcd面板检测系统及方法
KR20060044032A (ko) * 2004-11-11 2006-05-16 삼성전자주식회사 표시패널용 검사 장치 및 이의 검사 방법
JP2006194858A (ja) * 2004-12-17 2006-07-27 Micronics Japan Co Ltd 表示用パネルの検査装置
KR100611608B1 (ko) * 2005-11-15 2006-08-11 주식회사 코디에스 평판형 디스플레이 검사 방법 및 평판형 디스플레이 검사용유닛
KR20070072649A (ko) * 2006-01-02 2007-07-05 삼성전자주식회사 액정 표시 모듈의 테스트 장치 및 방법
KR200420181Y1 (ko) * 2006-04-21 2006-06-28 장재륜 휴대폰 엘씨디 검사용 지그
TW200819721A (en) * 2006-10-27 2008-05-01 Foxsemicon Integrated Tech Inc Apparatus for testing a panel and method for testing a panel using the apparatus
KR101093646B1 (ko) * 2009-05-01 2011-12-15 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 평판형상 피검사체의 시험장치
JP2011021999A (ja) * 2009-07-15 2011-02-03 Kyodo Design & Planning Corp 基板検査装置
CN201796208U (zh) * 2010-09-06 2011-04-13 均豪精密工业股份有限公司 液晶面板点灯检测机的探针组定位装置
TWI444959B (zh) * 2011-10-05 2014-07-11 Hannstar Display Corp 用於三閘型畫素結構之面板測試方法
TWM449958U (zh) * 2012-10-30 2013-04-01 Favite Inc 具有翻轉機構之面板檢測裝置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI647446B (zh) * 2018-04-25 2019-01-11 南韓商De&T股份有限公司 柔性顯示板檢查用夾具及利用其的檢查裝置
CN110398198A (zh) * 2018-04-25 2019-11-01 De&T株式会社 柔性显示板检查用夹具及利用其的检查装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN105247373A (zh) 2016-01-13
WO2015083858A1 (ko) 2015-06-11
TWI559271B (zh) 2016-11-21
CN105247373B (zh) 2017-12-29
KR20150066018A (ko) 2015-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI559271B (zh) 用於檢測amoled面板的顯示面板檢測裝置及其方法
KR101346952B1 (ko) Amoled 패널 검사를 위한 표시 패널 검사 장치 및 그 방법
JP4570930B2 (ja) パネルの検査装置に用いられる電気的接続装置
KR102229364B1 (ko) 표시장치의 테스트 장치 및 그 장치를 이용한 테스트 방법
KR101346895B1 (ko) Amoled 패널 검사를 위한 표시 패널 검사 장치 및 그 모델 교체 방법
KR20180083731A (ko) 표시 패널 검사 장치
US20120212247A1 (en) Test apparatus and test method
KR101147573B1 (ko) 반도체 시험 장치
CN105705955A (zh) 电气检测装置
KR101579090B1 (ko) 디스플레이 패널 검사 장치
KR20080025518A (ko) 기울어짐방지수단을 구비한 인쇄회로기판 검사장치
CN202836549U (zh) 平整度测试装置
KR101378506B1 (ko) 디스플레이 패널 검사장치
KR102153910B1 (ko) 디스플레이 패널의 양측 얼라인 및 검사장치
KR102149703B1 (ko) 디스플레이 패널의 사이즈에 따른 간격 가변 검사장치
KR102149698B1 (ko) 디스플레이 패널의 양변 검사장치
KR102021599B1 (ko) 디스플레이패널 검사용 콘택터 마운트 조립체
TWI632373B (zh) 治具平台
KR101212649B1 (ko) 프로브 유닛 및 검사장치
CN211740387U (zh) 一种热管工作时异音检测设备
JP2005055368A (ja) 基板検査用治具及びこれを用いた基板検査装置
KR101924853B1 (ko) 디스플레이패널의 열화상 검사장치
JPH10333597A (ja) 表示パネル検査装置
JP3285465B2 (ja) 表示パネル検査用ソケット
KR101377537B1 (ko) 회로기판 기능검사장치