KR101507160B1 - 영상기기의 패널 테스트 장치 및 이를 이용한 테스트 시스템 - Google Patents

영상기기의 패널 테스트 장치 및 이를 이용한 테스트 시스템 Download PDF

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Abstract

본 발명의 실시예에 따른 영상기기의 패널 테스트 장치는 피검사체인 영상기기의 패널을 테스트하기 위한 장치로서, 상기 패널을 구성하는 적어도 하나 이상의 회로 기판중에서 특정의 회로 기판에 대해서 테스트 환경을 가할 수 있는 테스트 커버;를 포함하고, 상기 테스트 커버는 상기 회로 기판을 덮을 수 있는 형상으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
패널, 테스트 커버

Description

영상기기의 패널 테스트 장치 및 이를 이용한 테스트 시스템{An apparatus and system for testing a panel or module of display}
본 발명은 영상기기에서의 패널 또는 모듈의 동작여부를 테스트 하기 위한 장치에 대한 것으로서, 상기 패널 또는 모듈을 구성하는 복수의 보드중에서 일부 보드에 대해서 전기적인 특성을 검사할 수 있는 장치에 대한 것이다.
영상기기는 LCD, PDP 또는 OLED등 다양한 구동방식에 따라 사용자에게 영상을 보여주기 위한 장치로서, 현재 많은 수요 및 연구개발로 인하여 대형화 및 슬림화가 진행되고 있다.
영상기기가 제조된 후 사용자에게 전달되기 이전에는 영상기기의 제조업자가 상기 영상기기를 테스트 동작시켜, 그 전기적인 동작이 정상적인지 여부를 확인하는 테스트 공정을 진행하고 있다.
예컨대, LCD 모듈이나 PDP 패널(이하에서는, 간단히 패널로 약칭하기로 함)을 제조한 다음에는 상기 패널의 전기적인 동작을 테스트하게 되는데, 이러한 테스트 작업은 가혹한 환경을 조성할 수 있는 챔버내에서 수행될 수 있다.
또한, 패널이 정상적으로 동작하는지 여부를 가혹한 환경조건으로서 높은 온 도 또는 낮은 온도의 환경에서 수행하여, 제조된 패널에 대해서 소비자가 신뢰할 수 있도록 하고 있다.
그러나, 종래에 있어서의 패널 테스트공정은 제조된 하나의 또는 복수의 패널을 밀폐된 챔버내에 위치시킨 다음, 상기 챔버내의 환경을 고온으로 유지시키거나 저온으로 유지시키면서 상기 패널이 정상적으로 동작하는지 여부를 확인하는 것에 불과하였다. 즉, 가혹한 환경을 조성할 수 있는 챔버내에서 제조된 패널의 전기적인 동작을 실현시키면서, 정상적인 동작을 수행하지 못하는 패널만을 선별할 수 있는 정도에 불과하였다.
따라서, 가혹한 환경에서 비정상적으로 동작한 패널들을 구별할 수 있을 뿐이며, 불량품으로 판정되는 패널에서 어느 영역의 보드(board)가 불량인지 여부를 확인하는 것은 챔버 밖의 기술자가 패널을 구성하는 복수의 보드들을 일일이 체크하여 보아야 한다.
불량품으로 판정되는 패널들에 대해서 기술자가 각 보드들의 전기적인 특성을 하나하나 확인하여야만 해당 패널에서 어느 부위의 전기소자가 불량인지를 알 수 있었기 때문에, 오동작된 보드를 선별하는 작업이 까다로울뿐 아니라 정확한 불량품의 판정이 이루어지지 못하는 문제점이 있다.
본 발명의 실시예는 패널의 전기적인 동작을 테스트하는 것 뿐만 아니라 상기 패널을 구성하는 다수의 보드들중에서 특정의 보드 또는 각각의 보드들의 전기적인 동작상태를 확인할 수 있도록 하여, 불량품으로 판정되는 패널에서 오동작된 전자소자 또는 보드를 검사할 수 있는 테스트 장치를 제안하는 것을 목적으로 한다.
이러한 기술의 과제는 본 실시예에 따라 제안되는 테스트 장치에 의하여 실현될 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 영상기기의 패널 테스트 장치는 피검사체인 영상기기의 패널을 테스트하기 위한 장치로서, 상기 패널을 구성하는 적어도 하나 이상의 회로 기판중에서 특정의 회로 기판에 대해서 테스트 환경을 가할 수 있는 테스트 커버;를 포함하고, 상기 테스트 커버는 상기 회로 기판을 덮을 수 있는 형상으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 영상기기의 패널 테스트 시스템은 패널을 구성하는 회로 기판중 특정의 회로 기판에 대하여 테스트 환경을 가할 수 있는 테스트 커버; 상기 테스트 커버 내측으로 소정의 열기 또는 냉기가 가해지도록 히팅장치 또는 쿨링장치를 제어하기 위한 컨트롤러; 상기 테스트 커버 내측에 수용된 회로 기판의 전기적인 동작을 측정하기 위한 장치로서, 상기 회로 기판상에 장착된 센서와 연결되는 측정장치; 및 상기 컨트롤러 및 측정장치와 네트워크 연결되어, 상기 회로 기판의 전기적인 동작을 모니터링하기 위한 메인 컴퓨터;를 포함한다.
제안되는 바와 같은 실시예에 의해서, 제조된 패널의 전기적인 동작을 테스트할 수 있을 뿐만 아니라 상기 패널을 구성하는 보드로서 서로 구획될 수 있는 보드들에 대해서는 개별적으로 그 전기적 동작을 검사할 수 있는 장점이 있다.
또한, 상기 패널내의 각 전기보드를 구성하는 각 회로 소자의 동작에 대해서도 모니터링할 수 있어, 불량품으로 판정되는 패널에 대해서는 정확한 원인을 규명할 수 있게 되는 장점이 있다.
이하에서는, 본 실시예에 대하여 첨부되는 도면을 참조하여 상세하게 살펴보도록 한다. 다만, 본 실시예가 개시하는 사항으로부터 본 실시예가 갖는 발명의 사상의 범위가 정해질 수 있을 것이며, 본 실시예가 갖는 발명의 사상은 제안되는 실시예에 대하여 구성요소의 추가, 삭제, 변경등의 실시변형을 포함한다고 할 것이다.
그리고, 이하의 설명에서, 단어 '포함하는'은 열거된 것과 다른 구성요소들 또는 단계들의 존재를 배제하지 않는다.
도 1은 본 발명의 실시예에서 사용되는 패널의 구성을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 1에는 LCD, PDP 또는 OLED등 영상기기의 다양한 패널이 간략히 도시되어 있으며, 본 발명의 실시예의 적용을 위하여 상기 패널(100)은 구획이 가능한 적어도 하나 이상의 보드(board)를 포함한다.
상기 패널(100)은 회로기판으로서 영상 및 음성의 신호를 처리하기 위한 메인 보드와, 영상기기의 전원을 공급하기 위한 전원 관련 보드등 다양한 종류의 기판을 포함할 수 있다. 일례로, 도면에는 제 1 회로기판(110)과, 제 2 회로기판(120)과, 제 3 회로기판(130)이 도시되고 있다. 패널을 구성하는 회로기판을 보드로 표현할 수도 있으니, 이 점 참조하여야 한다.
결국, 제조된 패널(100)은 적어도 하나 이상의 회로 기판을 포함하고 있으며, 각각의 회로 기판들은 완전한 단일의 보드상에 형성되지 않으므로 각각의 회로 기판들은 어느 정도 구획될 수 있다고 할 수 있다. 즉, 각 회로 기판들은 동일의 보드상에 형성되는지 여부 또는 위치적으로 소정 간격을 갖고 있는지 여부등에 따라 어느 정도 구획할 수 있다.
이러한 경우, 상기 패널(100)을 구성하는 회로 기판중에서 적어도 어느 하나를 덮을 수 있는 테스트 커버가 개시되며, 상기 테스트 커버는 작업자에 의해 선택되는 어느 하나의 회로 기판에 대해서 사용될 수 있으며, 또한 상기 패널(100)을 구성하는 각각의 회로 기판에 대해서 사용될 수 있다.
상기 테스트 커버에 대한 상세한 설명은 첨부되는 도면을 참조하여 상세히 살펴보기로 한다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따라 제조된 패널을 검사하기 위한 장치의 구성을 보여주는 도면이다.
도 2를 참조하면, 제조된 영상기기의 패널을 수용할 수 있는 챔버(10)가 도시되며, 상기 챔버(10)내에는 피검사체인 패널(100)이 안착된다.
상기 패널(100)은 앞서 설명한 바와 같이 적어도 하나 이상의 회로 기판을 포함하고 있으며, 도 2에는 다수의 전기소자들(121)이 구비된 회로 기판(120, 예컨대 메인 보드)이 예시된다.
상기 챔버(10)내에는 상기 패널(100)들을 복수개 검사할 수 있는 정도의 공간을 제공할 수 있으며, 공지의 테스트 챔버와 같이 밀폐된 공간을 형성하는 것이다.
또한, 상기 패널(100)을 구성하는 회로 기판중 어느 하나의 회로 기판(120)에 대하여 그 전기적인 동작을 검사하기 위한 테스트 커버(200)가 제안되며, 상기 테스트 커버(200)는 작업자의 설계에 따라 다양한 크기를 갖는 여러 종류가 사용될 수 있다.
상기 테스트 커버(200)는 상기 패널을 구성하는 회로 기판 중 어느 하나를 덮을 수 있는 크기로 이루어지며, 상기 테스트 커버(200)는 해당 회로 기판에 대해서 가혹한 환경을 조성해주는 역할을 수행한다.
그리고, 상기 테스트 커버(200)내에는 피검사체의 회로 기판(120)의 각 전기소자의 온도 또는 전류/전압을 측정할 수 있는 센서들이 장착되며, 상기 센서들에 의하여 측정된 결과 데이터는 메인 컴퓨터로 전달되어, 해당 회로 기판의 전기적인 동작 및 상기 회로 기판을 구성하는 전기 소자의 동작이 모니터링된다.
상세히, 상기 테스트 커버(200)는 피검사체의 회로 기판(120)을 덮어 소정의 밀폐된 공간을 제공하는 메인 커버(210)와, 상기 메인 커버(210)를 감싸도록 상기 메인 커버(210) 보다 큰 사이즈로 제공되는 서브 커버(220)와, 상기 서브 커버(220) 상측에서 상기 서브 커버(220)와 메인 커버(210)의 손상을 방지하도록 하기 위한 보호 덮개(230)를 포함하고, 상기 보호 덮개(230)는 상기 서브 커버(220)에 대하여 연결부재(231)를 개재하고 있다.
여기서, 상기 서브 커버(220)와 보호 덮개(23)가 반드시 구비되지 않더라도, 피검사체의 회로 기판에 대해 소정의 밀폐된 공간을 제공할 수 있다.
상기 메인 커버(210) 및 서브 커버(220)는 상기 회로 기판(120)을 덮을 수 있도록 박스 형상으로 이루어지고, 상기 메인 커버(210) 및 서브 커버(220)의 상측면 일부에는 작업자가 상기 메인 커버(210)의 내부를 볼 수 있도록 투명한 재질의 모니터 윈도우(211, 221)가 형성될 수 있다.
또한, 상기 메인 커버(210)의 내측에는 상기 회로 기판(120)측으로 고온의 열을 가할 수 있는 히팅장치 또는 저온의 냉기를 가할 수 있는 쿨링장치가 형성되어 있으며, 일례로 히터(230)가 구비되어 있다.
다만, 상기 메인 커버(210)내부에 위치한 회로 기판에 소정의 테스트 환경을 가하기 위하여 상기의 히팅장치 또는 쿨링장치가 상기 메인 커버(210) 내측에 구비되는 것이 실시예로서 도시되어 있으나, 상기 메인 커버(210)의 일부에 열기 또는 냉기가 출입할 수 있는 홀을 형성하는 구성 역시 가능하다.
즉, 상기 메인 커버(210)에 형성되는 홀을 통하여 외부에서 만들어진 열기 또는 냉기를 상기 회로 기판측으로 가함으로써, 상기 회로 기판에 테스트 환경을 가할 수도 있다.
상기 테스트 커버(200)가 사용되는 실시예에 대하여 설명하여 보면, 제조되는 패널을 구성하는 각각의 회로 기판에 대응되도록 설계된 복수의 테스트 커버를 이용하여 패널의 각 회로 기판에 대해서 테스트 환경을 제공할 수 있다. 그리고, 각 회로 기판을 덮어주는 상기 테스트 커버내의 센서에 의하여 각 회로 기판의 각 전기소자들의 전기적인 특성을 모니터링할 수 있다.
여기서, 상기 테스트 커버를 이용한 각 전기소자의 모니터링 구현방법에 대해서는 후술하기로 한다.
한편, 상기 패널에서의 회로 기판중 불량률이 높게 발생되는 회로 기판에 대해서 상기 테스트 커버를 이용하여 국부적으로 가혹한 환경을 조성하여 전기적인 동작을 모니터링할 수 있으며, 이러한 경우 패널의 특정 부위에 대해 집중적으로 전기적인 동작의 모니터링이 수행된다.
상기와 같이 구성된 테스트 커버에 의해서는, 패널을 구성하는 각각의 회로 기판에 대하여 가혹한 환경을 조성 및 각 회로 기판의 전기적인 동작을 개별적으로 모니터링할 수 있어, 오동작 회로 기판 및 그의 전기소자에 대해 보다 정확하고 신속히 판별할 수 있다.
도 3은 복수의 패널들에 대하여 전기적인 동작을 모니터링하는 구성을 모식적으로 도시한 도면이다.
도 3에는 둘 이상의 패널(101,107)이 도시되어 있으며, 상기 패널들(101,107)은 동일한 챔버내에 위치하거나 서로 다른 챔버내에 위치할 수도 있다. 그리고, 도 3에 개시되는 테스트 장치에 의하여 복수의 패널들의 테스트와 함께 패널을 구성하는 복수의 회로 기판에 대해서 전기적인 동작의 모니터링이 가능해진다.
상세히, 제 1 패널(101) 및 제 2 패널(107)에는 복수 개의 테스트 커버(200)가 사용되고 있으며, 상기 테스트 커버(200)에 연결된 프로브(미도시)를 이용해서는, 회로 기판 내의 전기소자의 전류 또는 전압을 측정하기 위한 것이다. 따라서, 상기 회로 기판 내의 전기소자의 온도등을 측정하기 위하여 상기 전기소자에 센서를 설치함으로써 상기 전기소자들의 발열온도를 측정할 수 있게 되며, 외부의 전류/전압 측정장비와 연결되는 프로브를 이용하여서 상기 전기소자의 전류 또는 전압을 측정할 수 있다.
상기 테스트 커버(200)를 이용하여 패널의 일부 영역 즉, 특정 회로 기판에 대해 국부적으로 가혹한 환경을 조성할 수 있을 뿐만 아니라, 상기 테스트 커버(200)에 의해 덮어지는 회로 기판내의 전기 소자에 온도 또는 전류/전압을 측정할 수 있는 센서(212,213)를 형성하여 해당 전기 소자의 전기적인 동작을 모니터링할 수 있다.
즉, 전기 소자에 구비된 센서들을 연결하는 프로브를 통하여 측정장치(310)는 해당 센서에 의하여 센싱되는 온도나 전류/전압값을 읽어들인다.
그리고, 상기 테스트 커버(200) 내측으로 고온의 열을 가하기 위한 히팅장치 또는 저온의 냉기를 가하기 위한 쿨링장치와 같은 온도 컨트롤러(300)가 상기 테스트 커버(200)와 연결된다.
상기 온도 컨트롤러(300)와 측정장치(310)는 소정의 통신 컨버터(400)에 의하여 네트워크 연결된 메인 컴퓨터(500)와 연결되고, 상기 온도 컨트롤러(300)에 의하여 상기 테스트 커버(200)내에 가해지는 환경의 제어는 상기 메인 컴퓨터(500)에 의하여 수행될 수 있다.
그리고, 상기 측정장치(310)를 통하여 측정되는 회로 기판의 온도, 회로 기판의 전기 소자의 온도 또는 상기 전기 소자의 전류나 전압 역시 네트워크 연결된 메인 컴퓨터(500)에 의해서 모니터링되며, 작업자는 상기 메인 컴퓨터(500)를 제어 및 관찰하는 것에 의하여 다수의 패널에 대하여 다수의 회로 기판들을 테스트할 수 있게 된다.
따라서, 제안되는 바와 같은 본 발명의 실시예에 의해서, 하나의 패널에 대해서 다수의 회로 기판(보드) 각각에 대하여 가혹한 환경을 조성하거나 각 회로 기판의 전기적인 동작을 모니터링할 수 있으며, 나아가 복수의 패널에 대해서도 함께 이러한 모니터링이 가능하게 되는 장점이 있다.
결국, 작업자는 보다 간편히 패널의 전기적인 동작을 테스트할 수 있으며, 불량품으로 판정되는 패널에 대해서도 오동작된 회로 기판을 정확히 판별할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에서 사용되는 패널의 구성을 개략적으로 도시한 도면.
도 2는 본 발명의 실시예에 따라 제조된 패널을 검사하기 위한 장치의 구성을 보여주는 도면.
도 3은 복수의 패널들에 대하여 전기적인 동작을 모니터링하는 구성을 모식적으로 도시한 도면.

Claims (9)

  1. 피검사체인 영상기기의 패널을 테스트하기 위한 장치로서,
    상기 패널을 구성하는 복수의 회로 기판 중 테스트 대상이 되는 하나의 회로 기판인 테스트 회로 기판에 대해서 테스트 환경을 가하는 테스트 커버를 포함하고,
    상기 테스트 커버는
    상기 테스트 대상 회로 기판을 구성하는 하나 이상의 전기 소자의 온도, 전류, 전압 중 하나 이상을 측정하기 위한 하나 이상의 센서를 포함하고,
    상기 테스트 대상 회로 기판을 덮을 수 있는 형상으로 이루어지는
    영상기기의 패널 테스트 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 테스트 커버는
    상기 테스트 대상 회로 기판의 주변부를 덮을 수 있도록 형성되는 메인 커버와, 상기 메인 커버 내측으로 소정의 열기를 가하기 위한 히팅장치 또는 소정의 냉기를 가하기 위한 쿨링장치를 포함하는
    영상기기의 패널 테스트 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 테스트 커버는
    상기 테스트 대상 회로 기판에 대하여 밀폐된 공간을 제공하는 메인 커버와, 상기 메인 커버 주변부를 덮는 서브 커버와, 상기 서브 커버의 상측에 위치하여 상기 메인 커버와 서브 커버를 보호하기 위한 보호 덮개를 포함하는
    영상기기의 패널 테스트 장치.
  4. 삭제
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 테스트 커버는
    상기 테스트 커버의 외주면 일측에 투명 재질로 이루어진 모니터 윈도우를 구비하는
    영상기기의 패널 테스트 장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 테스트 커버에 연결되어, 상기 테스트 대상 회로 기판을 구성하는 하나 이상의 전기 소자의 전류, 전압 중 하나 이상을 측정하는 프로브를 더 포함하는
    영상기기의 패널 테스트 장치.
  7. 패널을 구성하는 복수의 회로 기판 중 테스트 대상이 되는 하나의 회로 기판인 테스트 대상 회로 기판에 대하여 테스트 환경을 가하고, 상기 테스트 대상 회로 기판을 구성하는 하나 이상의 전기 소자의 온도, 전류, 전압 중 하나 이상을 측정하는 센서를 포함하는 테스트 커버;
    상기 테스트 커버 내측에 소정의 열기를 가하는 히팅장치 또는 냉기가 가하는 쿨링장치를 제어하기 위한 컨트롤러;
    상기 센서에 연결되어, 상기 테스트 대상 회로 기판의 전기적인 동작을 측정하는 측정장치; 및
    상기 컨트롤러 및 측정장치와 네트워크 연결되어, 상기 테스트 대상 회로 기판의 전기적인 동작을 모니터링하기 위한 메인 컴퓨터를 포함하는
    영상기기의 패널 테스트 시스템.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 테스트 커버가 복수로 구비되고,
    상기 복수의 테스트 커버 각각은
    복수의 패널에 포함된 복수의 테스트 대상 회로 기판 각각에 대해 테스트 환경을 가하는
    영상기기의 패널 테스트 시스템.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 측정장치는
    상기 복수의 테스트 커버 각각에 포함된 센서에 연결되고,
    상기 메인 컴퓨터는
    상기 측정장치를 이용하여, 상기 복수의 패널에 포함된 복수의 테스트 대상 회로 기판 각각에 모니터링을 수행하는
    영상기기의 패널 테스트 시스템.
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